JPH033178B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は実質上円筒型の物体を連続的に給送し
て、それらの種々の物理的特性を所定の基準と比
較して検査するための方法及びその自動化装置に
関するものである。

原子炉に用いられる燃料棒は通常母体材料内に
結合された二酸化ウランを含む円筒型ペレツトか
らなつている。それらのペレツトを最終形状に研
磨した後、燃料棒として束ねる前にそれらのペレ
ツトはき裂や異常点を含んでいないか、また正常
な長さ及び円筒形状を有するかどうかを光学的に
検査されなければならない。

従来の装置において、ペレツトをそのように光
学的に検査するために用いられてきた１つの試み
は、多数のペレツトの流れからそれらを個々に取
り出して検査ステーシヨンまで移送するメカニカ
ルハンドを用いることである。この検査ステーシ
ヨンにおいて各ペレツトは光学的監視のため、そ
れを完全に露出すべく回転させられ、次いで他の
メタニカルハンドがそれを前記多数のペレツトの
流れまで返送し、そこでペレツトを選択された位
置に分配するように仕分けを行なう。

このような従来型の装置はメカニカルハンドを
操作するための複雑なリンク機構を必要とし、ま
た検査速度はペレツトを前記ペレツトの流れから
取り出し、及びそれに戻るためのメカニカルハン
ドの動作速度により規制されることになる。さら
にペレツトは高品質の研磨材料を含んでいるた
め、その面上においてそれらのペレツトを回転さ
せるためのローラ支持体が急速に摩滅し、各有効
寿命が制限されることになる。ローラはしばしば
不均一に研磨され、表面のうね状隆起を発展させ
ることになる。これらの隆起はペレツトを回転時
においてがたつかせ、その結果検査設備が明確な
ペレツト像を形成してそれを正確に測定する上で
の障害となる。

このような装置はペレツト識別の上でも問題が
多いといえる。すなわち特定ペレツトの現実の物
理的配置に関する情報を、検査設備により得られ
る同一ペレツトに関する測定情報と関連づけるこ
とが困難なことである。このような状況はメカニ
カルハンドを搬送手段の静止部に関して調製する
上での困難を生じ、したがつてペレツトの観察及
び分類を遅延させることになる。

ペレツトを光学的に検査すべく従来技術によつ
て用いられたいま一つの試みは、複数のペレツト
の回転列を支持するローラの上方において、トラ
ツクに沿つて移動するカメラを採用することであ
る。このような装置はまた、ローラを不均一に摩
擦させ、その結果、回転中のペレツトに望ましく
ない大きな振動やがたつきを与える場合がある。

上述した２つの型の設備に共通する欠点は空気
中にダストを放出し、この結果生じた気中ダスト
は前記２つの型の光学検査装置に一定の関数補正
を要求することになる。移動カメラまたはメカニ
カルハンドにおける連結機構に滞留したダスト粒
子は検査における種々の変動や障害の原因とな
る。

チエツクされる特性の数が多い場合、各ペレツ
トの光学的検査からは大量のデータが引き出さ
れ、ストア及び処理されなければならない。検査
工程において、高度のスループツト特性を得るた
めにはデータを迅速に処理し、ペレツトに連続し
た仕分けをそれらの検査とほぼ同時に実施できる
ようにしなければならい。当該技術分野の現状に
おいて、このようなデータ処理能力を得ようとす
ればきわめて高価な出費を覚悟しなければならな
い。

したがつて本発明の目的は実質碇円筒型の物体
を従来の検査システムにおけるような不利益を回
避して自動的に検査するための新規にして改良さ
れた方法及び装置を提供するものである。

本発明の第１の様相によれば、自動検査システ
ムにおいて実質上円筒型の物体をほぼ連続した通
路に沿つて給送することにより、この物体を検査
ステーシヨンにおいて監視すべく露出するように
した次の構成を有する装置が提供される。すなわ
ちこの装置は、前記物体を前記通路に沿つて相互
に間隔を置いて移動させるための手段と、前記間
隔を置いた複数の物体のグループを同軸的に端面
接触関係において束ねるための手段と、前記束ね
られた複数の物体をその共通軸の周りに制御され
た角速度において回転させるために前記通路の一
部に収納された手段と、前記束ねられた複数の物
体を前記検査ステーシヨンを過ぎた前記通路部分
に沿つて軸方向に制御される線速度で並進させる
ための手段、及び前記束ねられた物体を分離して
相互に間隔させるために、前記通路部分の下流側
に配置された手段を備え、これにより前記束ねら
れた物体が前記検査ステーシヨンを過ぎてらせん
状に進行して、監視可能に露出し、さらに前記束
ねられた物体の端面接触関係が検査中の物体の振
動及びがたつきを最小化する機械的安定機能を発
揮するようにしたものである。

本発明の前記第１の様相によれば、自動検査シ
ステムにおいて自質上円筒型の物体の列を実質上
連続した通路に沿つて給送することにより検査ス
テーシヨンにおける監視のために露出させるよう
にした次の諸段階からなる方法が提供される。す
なわちこの方法は前記物体を前記通路の第１の部
分に沿つて互いに間隔を置いて移動させる段階
と、前記互いに隔たつた複数の物体のループを前
記通路における前記第１の部分及び第２の部分の
間で同軸的に端面接触関係で束ねる段階と、前記
積み重ねられた物体を前記第２の通路部分におい
てその共通軸の周りに制御された角速度で回転さ
せる段階と、前記束ねられた物体を前記検査ステ
ーシヨンを過ぎた前記第２通路部分に沿つて制御
された線速度において軸方向に並進させる段階、
並びに前記束ねられた物体を前記第２部分の下流
側における第３の通路部分において互いに間隔さ
せるべく分離する段階からなり、これによつて前
記束ねられた物体をらせん状に進行させて、前記
検査ステーシヨンを通過させるとき光学的監視の
ために露出させ、前記物体の前記端面接触関係が
前記検査中における物体の振動及びがたつきを最
小化するための機械的安定機能を発揮するように
したものである。

本発明の第２の様相によれば、実質上円筒型の
物体の列を限られた通路に沿つて給送するための
装置が提供される。この装置は前記物体を前記通
路に沿つて軸方向に並進させるための手段、及び
前記並進中の物体を前記通路の一部においてペレ
ツト軸の周りに同時に回転させるための手段を備
え、これにより前記物体が前記通路部分に沿つて
実質上らせん運動を伴ないながら前進するように
したものである。

本発明の前記第２の様相によれば実質上円筒型
の物体の列を限られた通路に沿つて搬送するため
の新規の方法が提供される。この方法は前記物体
を前記通路に沿つて軸方向に並進させる段階、並
びに前記並進中の物体を前記通路の一部において
その物体の軸心の周りに回転させる段階とからな
り、これによつて前記物体が前記通路部分に沿つ
て実質上らせん運動を伴ないながら前進するよう
にしたものである。

本発明の第３の様相によれば、実質上円筒型の
物体の不連続な列を所定の基準と比較することに
より検査するためのシステムが提供される。この
システムは実質上同軸で端面接触関係において配
置した前記物体の束を制御された線速度及び制御
された角速においてその物体束の軸の周りにらせ
ん運動させながら進行させて光学検査ステーシヨ
ンに出現させるための搬送手段を備え、前記検査
ステーシヨンには前記物体の領域を照明するとと
もに、固定した観察領域の限度内で移動させるた
めの手段を含むようにしたものである。前記シス
テムはさらに前記照明された物体から反射されて
くる光強度の関数としての出力信号を発生すべく
配置された光検出素子の直線配列と、前記出力信
号を周期的に走査させ、検査中の各物体の選択さ
れた特性をあらわすビデオ信号を引き出すための
手段とを備え、これにより物体表面の異常が他の
物体表面から識別されるようにしたものである。

本発明の前記第３の様相によれば、実質上円筒
型の物体の不連続な列を光学検査ステーシヨンに
おいて所定の基準と比較することにより検査する
ための方法が提供される。そして前記検査ステー
シヨンは反射光の強度の関数である出力信号を発
生すべく配置された光検出素子の直線配列を含ん
でいる。この第３の様相による方法は同軸かつ端
面接触関係で配置された前記物体の束を前記検査
ステーシヨンに出現させるために所定の通路に沿
つて移動させ、前記検査ステーシヨンを通り過ぎ
る際、その束の軸心の周りに制御された線速度及
び制御された角速度においてらせん運動させる段
階と、前記らせん運動する物体の束のある領域を
照射する段階と、前記出力信号を周期的に走査さ
せ、検査中の各物体の選択された表面特性をあら
わすビデオ信号を引き出す段階、並びに前記ビデ
オ信号から検査中の物体の前記所定の基準との一
致具合を指示するデータを注出する段階からな
り、これにより物体表面の異常が残りの物体表面
から識別されるようにしたものである。

要約すれば、本発明は実質上円筒形を有するペ
レツトを実質上同軸かつ端面接触関係において縦
列配置したものを、個々に所定の長さを含む基準
値と比較するための連続検査システムであつて、 前記ペレツトの縦列を制御された線速度及び角
速度において、前記縦列の軸に関する螺線運動を
与えることにより光学検査ステーシヨンに送るよ
うに、所定の通路に沿つて前進させるための搬送
手段と、 前記光学検査ステーシヨン中に含まれ、前記ペ
レツトが所定の静止観察領域の視界内を進行する
とき、前記通路内における少くとも１個のペレツ
ト長より長い細長検査範囲を光照射するための手
段と、 前記静止観察領域内に配置され、前記光照射さ
れたペレツトから反射した光強度の関数としての
出力信号を各々発生するための複数の光検出装置
の直線的アレーと、 前記出力信号を周期的に走査して連続走査から
得られた各ペレツトの選択的な特性を現わすビデ
オ信号を引き出すための手段と、 前記ビデオ信号の前処理回路とを備え、前記前
処理回路が、 前記ビデオ信号から前記検査中ペレツトの前記
基準値に対する一致状態を示すデータを抽出する
ための手段と、 前記抽出データを圧縮してさらなるデータ処理
のために前処理データを提供する割合を少くする
ための手段と、 前記ビデオ信号を標準化し、前記ペレツトの検
査において前記基準値と一致しない因子により生
じた信号を変動を補償するための手段と、 前記ビデオ信号に応答して、複数回の走査中の
選択的な同一アレー位置において各々発生する複
数の減衰されたビデオ信号の振幅より、前記端面
接触部分の各々を検出するための手段と、 前記検出信号に応答して１群の連続したアレー
素子に対応する複数の信号を選択し、その出力信
号が単一のペレツトから受光した光信号に対応す
るようにしたトラツクゲートを発生するための手
段と、 前記単一のペレツトの線速度に応答して前記ト
ラツクゲートを前進させるための手段とを含むこ
とにより、 前記トラツクゲートが前記直線的に移動する単
一ペレツトの端面接触部を追跡するとともに、ト
ラツクゲートの前縁及び後縁により前記ペレツト
に対応する信号を連続的に一括把握するようにし
たことを特徴とするものである。

第２７図に示す通り、截頭円錐、すなわち角そ
ぎ端面型の円筒ペレツト５０からなる物体は、実
質上連した通路中を駆動される。これらの円筒ペ
レツトは図示しないが適宜の供給源から供給さ
れ、グラインダーホイール５１及び５２により研
磨整形される。それらは次にエンドレスベルト５
３などのような第１の搬送手段の上に互いに間隔
して配置される。このエンドレスベルト５３は互
いに間隔したペレツト５０の列を束ね装置５４に
向かつて移送すものである。この束ね装置はベル
ト５３の両側に位置する一対のエンドレスベルト
からなり、各々図において垂直面内に位置する把
持面を有している。ペレツトは一対のベルト間に
おいて挾圧され、これにより把持面はそれらのペ
レツトを点５５に示す固定支持部に搬送すること
ができる。ペレツトがこの固定支持部に到達する
と、それらは互いに束ねられる。各ペレツトが順
次到達すると、それらの束は一対の回転ローラ５
６及び５７に向かつて付勢される。ペレツト束が
所定数のペレツトを含むようになると、プツシヤ
５８がペレツト束５９の背景に降下する。このプ
ツシヤはレール６０及び６１に支持された走行機
構台５９Ａにより支持されている。モータ６２は
スプロケツト６４と噛み合う穿孔スチールテープ
６３を介して走行機構台５９Ａ及びプツシヤ５８
を駆動する。

回転ローラ５６及び５７はペレツト束に回転運
動を与え、これによりペレツトは軸方向に並進し
て検査ステーシヨン６６を通るところでらせん運
動を行なう。検査ステーシヨン６６はすべてのペ
レツトが観察域６６Ａを通過する際に光学的に検
査するものである。かくしてペレツトがこの観察
域を横切る際には、円筒ペレツトの表面全体が検
査ステーシヨンに対して露出される。次にプツシ
ヤ５８はペレツト束５９を一対のローラ５６及び
５７から押し出して第２の搬送手段、すなわちエ
ンドレスベルト６７に載せる。このベルト６７は
プツシヤ５８より早い線速度で移動し、したがつ
て連続したペレツトの間に所定の空間が形成され
ることになる。ベルトはこれら間隔したペレツト
を通路６８を経由してタレツト仕分け器に送り込
む。

仕分け器の仕分けホイール６９は本発明に従つ
て検査ステーシヨン６６によるペレツトの光学的
検出から得られた情報に応答して動作するもので
ある。仕分けホイール６９の回転は最下部の通路
６８に出現したペレツトをこのホイールの回転方
向に応じていずれかのシユート７０または７１に
向かつて打ち込むように作用する。ホイールが回
転しない場合、ベルト６７は進路を妨げられなか
つたペレツトを最下部の通路６８から一対のエン
ドレスベルト７２及び７３に向かつて搬送する。
これらのベルト７２及び７３はペレツトの両側を
把持してそれらをトレイローダ機構７４などのよ
うな収集ステーシヨンに送り込む。

ペレツトはそれらが検査ステーシヨンをらせん
状に通過するとき、光学的に検査される。第２の
プツシヤ８１は第１のプツシヤ５８と交互に動作
し、したがつて第１のプツシヤがペレツト束５９
をローラ５６及び５７に沿つて押動した後、位置
８２に復帰したとき、この第２のプツシヤ８１が
検査ステーシヨン６６を過ぎたペレツト束を押動
する。したがつてペレツト処理時間は比較的短時
間に維持される。

検査ステーシヨン６６は第２８及び２９図によ
り詳細に示すような光学走査及び検出装置を備え
ている。第２８図を参照すると、好ましくは多モ
ードレーザーからなる光源３００が光ビーム３０
６を提供するようになつている。このビームは反
射器３０８及びプリズム３０により反射され、発
散用レンズ３１２に入射して発散する。その結
果、ビーム３０６は反射器３１４に反射されてコ
リメートレンズ３１６に入射し、発散度を縮小す
る。集束レンズ３１８は光ビームを前記監察域６
６Ａ内の第１入射領域３２０に細長い光ビームと
して投射するために、発散方向とは異なつた方向
に光ビームを集束する。ローラ５６及び５７に支
持されて前記第１入射領域にあらわれたペレツト
束５０はこの入射領域をらせん状に通過する。

ペレツトの表面から反射した光はレンズ３２２
により集束されて１×1024個のフオトダイオード
アレー３２４上に結像する。アレー中の各ダイオ
ードは第１入射領域における既知部分域に対応
し、フオトダイオードに入射した光はその部分域
におけるペレツトの表面特性を示す情報を含んで
いる。フオトダイオードの信号は、データ予備処
理回路（図示せず）に供給され、ここで後段のデ
ータ処理装置に処理される前のデータが評価さ
れ、かつ圧縮される。光ビーム３０６Ａを発生す
る第２の光源３００Ａも同様に配置され、その光
は光ビーム３０６の場合と対象的な方法で反射さ
れ、かつ集束される。

第２９図に示す通り、観察域にはさらに第２の
入射手段が配置される。この入射手段は光ビーム
３５３を発生する多モードレーサー３５０からな
つている。ビーム３５３は反射器３５５及び３５
７により反射され、発散用レンズ３５９によつて
発散させられる。コリメーシヨンレンズ３６１は
発散量を縮小するとともに、そのビームを反射器
３６３に向け、さらにローラ５６及び５７に向か
わせる。

各ローラはスリツト３６８を有している。ペレ
ツト３６９などの物体がこの領域にあらわれる
と、それはこの光ビームの一部を遮断する。した
がつて遮断部分３７１は光ビームのこの領域にあ
らわれ、２本の線部分３７３及び３７４はそれぞ
れペレツトの上方及び下方を通過する光からなる
である。反射器３７６はレンズ３７８にこの通過
部分を導き、レンズ３７８はこの光ビーム部分を
フオトダイオードアレー３８０の部分に集束及び
結像させる。ペレツト３６９の断面高さ、すなわ
ちその直経径は光遮断部３７１の高さによつて示
される。この情報はフオトダイオードアレー３８
０の個々のフオトダイオードにより生成された信
号から引き出されたデータに含まれており、この
ようなデータの引き出しはデータ予備処理回路
（図示せず）により達成される。

実施例の説明 記 号 図において信号、たとえば信号CPXの論理反
転はとして示される。この信号を伝送する
リード線も同様に指示される。しかしながら反転
信号及びそれを伝送するリード線はCPX☆ で指
示される。この約束はすべての信号及びリード線
について適用されるものとする。

図において用いられた記号は次の通りである。

３状態又はTRI−ST ３状態バツフア STB ストローブパルス信号 RAM ランダムアクセスメモリー EPROM プログラム消去可能な読出し専用メモ
リー FF フリツプフロツプ CTR カウンタ COMP又は比較 コンパレータ SHIFT シフトレジスタ DCDR デコーダ Ｄ／Ａ デジタル／アナログ変換器 Ａ／Ｄ アナログ／デジタル変換器 MPLXR マルチプレクサ 7Segment ７セグメントデイスプレイ FIFO 先入−先出シフトレジスタ タイミングパルスの発生 第１６図はタイミングパルス及び他の同期パル
スを発生する回路を示している。第１６図に示す
回路は差動ラインドライバ２７１の出力がステツ
プモータ（図示せず）に接続されたものであり、
次の通り動作する。

ストローブSTB３１はここに、ラツチ２００
及び２０３の入力に現れた“パルス周波数制御
数”と称する二進数を、ビツト率掛算器２１８に
供給する。ビツト率掛算器２１８はパルス周波数
制御数を64で割算するとともに、その商にリード
線CPX☆ にあらわれたパルス列の周波数を掛け
るものである。このパルス列の周波数は10MHz程
度であり、後述の回路により発生する。この乗除
の信号はカウンタ２３５に供給されて、さらに16
で割られた上、差動ラインドライバ２７１に供給
される。この差動ラインドライバ２７１はステツ
プモータにドライブ信号を供給するものである。
このドライブ信号はパルス周波数制御数により最
初に決定される周波数を有する。

ビツト率換算器２１８の出力はインバータ２５
０により反転され、カウンタ２５３をクロツク付
勢し、このカウンタ２５３はそのクロツク周波数
を１６で割算する。このカウンタ出力はさらにク
ロツクカウンタ２５６に供給されて２５６で割算
されるとともに、クロツクカウンタ２５９により
８で割算される。カウンタ２５３，２５６及び２
５９の出力はNANDゲート２６２に供給され、
さらにフリツプフロツプに供給される。フリツプ
フロツプ２６５は、ワンシヨツトマルチバイプレ
ータ２６８をトリガーしてPCOUNTとマークさ
れたリード線上に既知周波数のタイミングパルス
列を発生する。それはまたバツフア２７４を介し
てDIAPOS COUNTとマークされたリード線上
にもタイミングパルス列を提供する。

ストローブSTB３２はラツチ２０６及び２０
９を介してそれぞれカウンタ２２１及び２２４に
ABバスのリード線ABO〜AB７に現れた二進数
を供給するものである。ストローブSTB３３は
同様にラツチ２１２及び２１５を介してそれぞれ
カウンタ２２７及び２３０にリード線ABO〜AB
７に現れた二進数を供給するものである。これら
のカウンタはビツト率掛算器２１８により生成さ
れたパルス列の周波数をラツチ２０６，２０９，
２１２及び２１５から対応するカウンタに供給さ
れた数により割算するものである。これによつて
発生した既知周波数のパルス列はNANDゲート
２３７の出力６にあらわれる。

ストローブSTBDはフリツプフロツプ２４６の
クロツク入力に接続されて、フリツプフロツプ２
６４を反転し、リード線VELP上のパルスを消去
する役目を果たす。したがつてリード線VELDに
あらわれた信号の周波数は減少する。

ストローブSTBCはフリツプフロツプ２４３を
反転するフリツプフロツプ２４９の入力に接続さ
れる。この反転動作はリード線VELPにパルスを
加えて、そのリード線にあらわれるパルス列の周
波数を増大する役目を果たすものである。リード
線STBC及びSTBDにあらわれる信号は後述する
マイクロプロセツサにより制御される。したがつ
て第１６図の回路はリード線VELP、PCOUNT、
DIA POS COUNT及び差動ラインドライバ２７
１の出力に制御可能な周波数のタイミングパルス
を発生するものである。

基準ペレツトデータの処理 第２５図は入力フオトダイオード信号を処理す
べく用いられる回路を示している。バツフア増幅
器２９０の入力は抵抗２９３，２９６及び２９９
に接続される。ダイオードアレーにおける各フオ
トダイオードの出力は図示しないが所定の回路に
より抵抗２９９に逐次的に提供される。

RAM３２０は個別RAM３２０ａ〜３２０ｈ
を含んでおり、これらは並列に接続されたリード
線２〜１３からなるアドレス入力ラインを有し、
したがつて個々にアドレス指定される。

ダイオードアレーが走査されると、第２５図に
おいて抵抗２９９に印加される各ダイオードのア
ナログ電圧は３個のバツフア増幅器２９０，３０
１及び３０４により緩衝増幅される。発生したダ
イオード電圧信号の列は、ビデオ信号を形成する
ものである。このアナログ電圧はフラツシユコン
バータ３０７によりアナログ型からデイジタル型
に変換される。変換された電圧はラツチ３１０に
保持され、６ピツト数としてリード線AD０〜
AD５に書き込まれ、一対の３状態バツフア３２
３及び３２６により選択されたアドレスにおいて
RAM３２０に入れられる。このアドレスはリー
ド線Ｒ０〜Ｒ９によりこれらの３状態バツフアに
供給される。リード線Ｒ０〜Ｒ９上のアドレスは
フリツプフロツプ３５０，３５３及び３５９を反
転するストローブSTN６の効果により選択され
る。この作用はRAM３０にリード線AD０〜AD
５上のデータをロードする。その際のアドレスは
AR０〜AR９によるものではなく、Ｒ０〜Ｒ９
により与えられるものである。第２５図のリード
線EOSは選択された間隔においてフリツプフロ
ツプ３１６を反転し、これによつてスイツチ３１
９を駆動してコンデンサ３０８を放電させるもの
である。

RAM３２０がデイジタル信号データをロード
した後、ストローブSTB７はフリツプフロツプ
３５０，３５３及び３５９を反転して３状態バツ
フア３２９及び３３２を付勢するとともに、３状
態バツフア３２３及び３２６を消勢する。さらに
それはリード線AR０〜AR９により指定された
アドレスでRAM３２０内にストアされたデータ
がラツチ３３８及び３４１内に読み出され、そこ
から３状態バツフア３４４及び３４７に供給さ
れ、これらのバツフアがリード線DB０〜DB７
にデイジタルデータを供給することを許容する。
RAM３２０内にストアされるとともに、DB６
及びDB７にそれぞれ読み出されるVIVIDEO及
びTKVCORRLとマークされたリード線上のデ
ータは次のような機能を有する。

第２２図はダイオード重み係数をストアすべく
用いられるランダムアクセスメモリー（RAM）
４００を示している。RAM４００は数個の個別
RAM４００ａ〜４００ｈを含んでおり、これら
のアドレスリード線は並列に接続されている。

リード線DF０〜DF７（DFバス）、VF０〜VF
７（VFバス）、及びDB０〜DB７（DBバス）は
双方向性３状態バツフア４１９及び４２２に接続
される。これら双方向性３状態バツフアはVFバ
スからDBバスへ、あるいはDBバスからDFバス
へと信号を伝達する１つの信号路を選択する役目
を果たす。

リード線MACK及びVFTMは各々NANDゲー
ト４３１の入力に接続され、このゲートの出力は
インバータ４３７を介してNANDゲート４３４
の入力に接続される。NANDゲート４３４の他
の入力はリード線MWDCに接続される。NAND
ゲート４３４の出力はRAM４００に接続され
る。この回路は第９図の回路との関連において解
続されなければならない。

第９図は基本ダイオードアドレス発生器並びに
データフオーマツト回路を示すものである。カウ
ンタ４５０，４５３及び４５６の最も有意味なビ
ツトはインバータ４５９の入力に接続され、その
インバータの出力はカウンタ４５０の付勢入力に
帰還接続される。カウンタ４５０，４５３及び４
５６の最有意味ビツトはさらにカウンタ４６５，
４６８及び４７１の付勢入力に接続される。

ゲート４７４の出力はフリツプフロツプ４７７
のリセツト入力に接続され、そのフリツプフロツ
プの出力はカウンタ４８０に接続される。カウン
タ４８０の出力、並びにフリツプフロツプ４７７
の出力は１対８デコーダ４８３の入力に接続され
る。このデコーダの出力はリード線SS０〜SS７
☆ に接続される。

リード線FD０〜FD７は各々フリツプフロツプ
４９８ａ〜４９８ｈの各クロツク入力に接続され
る。リード線RSS０〜RSS７☆ も同様にこれらフ
リツプフロツプのクリア入力の各々に接続され
る。

第１Ａ〜１Ｆ図及び第２Ａ〜第２Ｆ図はストロ
ーブ機能を発揮するデコーダ及びICフアンアウ
トを許容する働きをするドライバを示すものであ
る。１対８デコーダ６５０ａ〜６５０ｉはリード
線AR０〜AR７，AR３☆ ，AR４☆ ，SELO，
SEL１，SEL２にあらわれた信号をデコードする
ストローブリード線STB０〜STB４７（16進表
記）に伝達される情報を発生するものである。

フオトダイオードアレーにおける各ダイオード
は厳密には異なつた応答特性を有するものであ
り、さらにそれらに対して反射された光もペレツ
トの表面特性とは無関係に個々に相違するもので
ある。したがつてすべてのダイオード応答特性を
標準化する必要があり、これはダイオード重み係
数の発生により行なわれる。

第１及び１Ａ図、第２，９，２２及び２５図に
示した回路において基準ペレツトデータを読み取
るとともに、ダイオード重み係数を発生する作用
へは次の通りに遂行される。

１×1024個のダイオードアレー（図示せず）に
おける各フオトダイオードは第９図のカウンタ４
５０，４５３及び４５６により逐次的にアドレス
指定される。これらのカウンタはｆバスへのアド
レスをCIクロツクより決定された頻度により発
生し、かつ供給する。カウンタは１×1024までカ
ウントして停止し、フリツプフロツプ４９５によ
り再始動される。カウントされた各数は電圧を読
み出すべきダイオードを選択する。この電圧は第
２５図における抵抗２９９に結合され、さらにバ
ツフア増幅器２９０，３０１及び３０４に加えら
れる。これにより増幅された電圧はフラツシユ
Ａ／Ｄ変換器３７に結合され、さらにラツチ３１
０及び３１３への入力となるTDバスに接続され
る。ラツチ３１０及び３１３の出力はADバスに
より接続され、そこから第２０図におけるAM３
２０の入力に供給される。ADバスに供給され、
かつRAM３２０に入力された各ダイオード電圧
はＲバスにより決定されたアドレスにおいてスト
アされる。このアドレスは３状態バツフア３２３
及び３２６を介してRAM３２０のアドレス選択
端子に供給される。ダイオード電圧信号はフラツ
シユＡ／Ｄ変換器３０７において、マイクロプロ
セツサ５５０の処理速度より早い速度で発生する
ため、それらはRAM３２０内にストアされる。

マイクロプロセツサ５５０は所定の時間だけ遅
れて信号を発生し、これを３状態バツフア５９
５，５９８及び６０１を介してARバスに接続す
る。ARバスに接続された信号は３状態バツフア
３２９及び３３２を介してRAM３２０のアドレ
ス選択端子に供給される。対応するダイオード信
号電圧の大きさはRAM３２０からDBバスに読
み出されたマイクロプロセツサ５５０に伝達さ
れ、このマイクロプロセツサ５５０は第１Ａ図の
ドライバ６８６及び６８９を介してDBバスへの
信号を処理し、さらに方向制御器を構成するバツ
フア６８０及び６８３を介してＤバスへの信号を
処理する。マイクロプロセツサはこれの信号を処
理して後述の重み係数を演算するものである。

マイクロプロセツサ５５０は第１図における
EPROM６２０及び６２３並びにRAM６１４及
び６１７に収められた命令によりプログラムされ
る。これらの命令の一部はそれが各ダイオード信
号を所定の基準と比較することによりそのダイオ
ードの重み係数を演算すること、並びにそれらの
ダイオードが個々に相違する重み係数に従つて一
定強度の光に応答した一定の既知信号を発生する
ように作用することを要求するものである。この
ような演算の、これらの重み係数はマイクロプロ
セツサ５５０からデコーダ６０５を介してＤバス
で、また方向制御バツフア６８０及び６８３並び
にDBバスを介して双方向性３状態バツフア４１
９及び４２２（第２２図）に伝達される。

これらの双方向性３状態バツフアはDBバスを
制御してRAM４００のデータ入力に接続された
DFバスに情報を提供させる。これらのデータ入
力は前記重み係数を受け取り、受け取られた重み
係数はMAバスよりRM４００に伝達された信号
により指定されたアドレスに従つてストアされ
る。これらの信号はマイクロプロセツサ５５０に
おいて発生し、そこから第１図におけるARバス
に伝達され、第２２図における３状態バツフア４
０７及び７１０を介してMAバスに接続され、こ
こからRAM４００のアドレス選択端子に接続さ
れる。したがつて各フオトダイオードのための重
み係数はRAM４００内にストアされる。これら
の係数はダイオードにより生成された信号を処理
する後述の回路により用いられる。この信号処理
は各ダイオードの異常もしくは個性を実質上消去
して、すべてのダイオードにより生じた信号が与
えられた光強度に対して等しく応答するような条
件を整えるものである。

検査中のペレツトから得られたデータの処理 第４Ａ図は獲得されたペレツトデータを標準化
すべく用いられる自動利得制御回路を示すもので
ある。第４Ａ図に示すこの回路の動作は次の通り
である。

リード線BB０〜BB７はラツチ７５０及び７
５３に信号を供給し、この信号は基準振幅、すな
わち基準ペレツトに応答したフオトダイオードに
よる平均的な発生信号の大きさを意味するもので
ある。BBバス上の信号はマイクロプロセツサ５
５０において発生し、第１図の入出力デコーダ６
０５に供給され、第１Ａ図における方向制御バツ
フア６８０及び６８３を介してＤバスに沿つて伝
送され、これらのバツフアから第２図のDBバス
及び３状態バツフア６５０に供給される。３状態
バツフア６５０はこの信号をDBバスからBBバ
スに供給し、信号はここから第４Ａ図のラツチ７
５０及び７５３の入力に接続される。ストローブ
STBIEはこの大きな情報をコンパレータ７５６
及び７５９の１つの入力セツトに供給する。これ
らのコンパレータは供給された情報を他の入力、
すなわちリード線AD０〜AD５に供給された振
幅情報と比較するものである。この振幅情報は被
検ペレツトの走査中に各ダイオードより発生し、
かつRAM４００内にストアされた重み係数によ
り重み付けされた信号の大きさを指示している。

コンパレータ７５９の出力は、リード線AD０
〜AD５が含む重み付けされた大きさの信号がリ
ード線BB０〜BB７が含む基準の大きさより大
きいか否かを指示する。それがもし大きい場合に
はフリツプフロツプ７６２が反転され、これによ
りカウンタ７６５及び７７４が歩進される。これ
らのカウンタはマイクロプロセツサ５５０より
BBバスにあらわれ、ラツチ７６８及び７７１を
介してストローブSTBIFにより供給され、スト
ローブされた数から加算方向にカウントする。カ
ウンタ７６５及び７７４の出力がカウント２５５
に達すると、フリツプフロツプ７７７及び７８０
が反転され、信号Ｔ３STS☆ がマイクロプロセ
ツサ５０に帰還接続される。

カウンタ７６５及び７７４の出力はラツチ７６
８及び７７１にラツチされた数と、ダイオード信
号の大きさが基準値の大きさを上回つた回数との
和であるため、このラツチされた数及びリード線
Ｔ３STS☆ 上の受信信号についてのマイクロプ
ロセツサによる認識が、信号超過数の計算を許容
するものである。超過数が受け容れられない数、
たとえば被検ペレツトの反射率が基準ペレツトの
反射率から大きく異なるような場合、マイクロプ
ロセツサ５５０はダイオード信号についての増幅
率、すなわち利得を調整する。本発明の好ましい
実施例によれば、マイクロプロセツサは各ペレツ
トの走査中、約５回の利得調整が行なえるように
プログラムされている。

利得調整、すなわち本発明の自動利得制御が実
行される態様は第２５図を参照して行う以下の説
明から明らかになるであろう。すなわち第２５図
は自動利得制御回路をも示している。リード線
BB０〜BB７はラツチ８００及び８０３の入力
に接続され、これらの出力はＤ／Ａ変換器８０６
に接続される。リード線STB２８はラツチ８０
０及び８０３のラツチ入力に接続される。Ｄ／Ａ
変換器８０６の出力はＤ／Ａ変換器の入力に接続
され、後者の変換器８０９の他の入力にはリード
線VF０〜VF７が接続される。Ｄ／Ａ変換器８０
９の出力は演算増幅器８１２の入力に接続され、
その増幅器８１２は電流−電圧変換モードにおい
て作動する。この回路の動作は次の通りである。

リード線BB０〜BB７はマイクロプロセツサ
５５０からの信号をラツチ８００及び８０３に伝
達する。この信号は第４Ａ図の回路において生成
された信号Ｔ３STS☆ に基づくものである。こ
の信号はフオトダイオードの出力を基準ペレツト
に関して標準化するに必要な利得変化の度合に関
する情報を含んでいる。この信号はSTB２８に
よりＤ／Ａ変換器８０６内にストローブされる。
変換器８０６の出力はBBバス上の信号の大きさ
に比例したアナログ電流である。この出力電流は
Ｄ／Ａ変換器８０９の入力に供給される。リード
線VF０〜VF７はダイオード重み係数をストアす
るための第２２図に示すRAM４００の出力に接
続される。したがつてＤ／Ａ変器８０９は必要な
ダイオード利得制御量を示すマイクロプロセツサ
信号を１つの入力として受け容れる。この変換器
はさらに各ダイオードのためにダイオード走査と
同期した重み係数をVFバスから受け容れる。

Ｄ／Ａ変換器８０９の出力は重み係数及び利得
制御信号の両方に対応した電流である。この電流
は演算増幅器８１２により電圧に変換される。す
なわち演算増幅器８１２はフラツシユＡ／Ｄ変換
器３０７の入力に供給される出力電圧信号を発生
する。フラツシユ変換器３０７はまた抵抗２９９
において発生し、バツフア増幅器２９０，３０１
及び３０４により処理された各ダイオードのため
の信号を１つの入力として受信する。変換器３０
７はリード線TDC０〜TDDC５上の信号に応答
して動作する。この信号は自動利得制御回路、及
びダイオード重み係数により修正されたダイオー
ド信号の大きさを指示するものである。この信号
はTDCバス上にあらわれ、ラツチ３１０及び３
１３によりラツチされる。これらのラツチはリー
ド線AD０〜AD５に信号を供給される。したが
つて信号、すなわち修正されたビデオ信号はAD
バス上に発生して被検ペレツトの表面の反射率を
指示し、フオトダイオードの応答特性における変
動及びペレツト表面の総括的反射率における変動
を調整すべく標準化されたものである。

第３図に示した回路の動作は次の通りである。

リード線AB０上にあらわれた信号はストロー
ブSTB２０によりカウンタ８５９及び８６２内
にストローブされる。リード線AB０及びAB１
にあらわれる信号はストローブSTB２１により
カウンタ８６５内に個々にストローブされる。こ
れら２個のストローブ処理により、カウンタ８５
９，８６２及び８６５に伝達された情報はこれら
のカウンタの増加カウントを開始する数を提供す
る。インクリメント（増加分）はリード線
VELP、SSX及びＣ１により決定される。したが
つてこれらのカウンタはラツチ８５０，８５３及
び８５６によりこれらのカウンタに供給された数
か、またはリード線VELP、SSXもしくはＣ１に
あらわれた信号によりカウンタ８５９，８６２及
び８６５でインクリメントされた数によつて決定
される信号をリード線TG０〜TG９上に発生す
る。

これらの場合においてコンパレータ８６８，８
７１及び８７４はTGバス上にあらわれた数をリ
ード線Ｒ０〜Ｒ９にあらわれた信号と比較する。
このＲバス上の信号は信号処理中のダイオードの
アドレスを指示する。ダイオードアドレスがTG
バス上にあらわれた数よりも小さい場合、フリツ
プフロツプ８７７及び８８０は反転されることな
く、したがつてリード線START、TRACK及び
TRACK☆ に存在する信号は、トラツクゲートが
いまだ作動していないことを指示するものであ
る。Ｒバス上のダイオードアレーがTGバス上の
数を上回ると同時に、コンパレータ８７４の出力
はフリツプフロツプ８７７を反転し、したがつて
リード線START☆ 、TRACK及びTRACK☆ は
トラツクゲートが動作状態にあることを示すもの
である。したがつて連続したダイオード信号のグ
ループが正確に１ペレツトの長さだけ間隔を置い
て選択される。

トラツクゲート信号が動作状態をあらわすと同
時にカウンタ９１６，９２１及び９２２がTGバ
ス上に存在する数から増加カウントを開始し、３
状態バツフア９２５，９２８及び９３１に供給さ
れる出力を発生する。これら３状態バツフアの出
力はリード線DB０〜DB７、並びにリード線DB
０及びDB１に２ストロークにおいて供給され
る。DBバス上のこの出力はマイクロプロセツサ
５５０に供給され、トラツクゲートのアドレス指
示を提供する。

第３図に示した回路の動作はフオトダイオード
アレー９４３がペレツト９４６の表面を概略的に
読み取る状態を示す第２６図との関連においてさ
らに説明される。ABバスからカウンタ８５９，
８６２及び８６５内にストロークされた数はラツ
チ８５０，８５３及び８５６により２ストローク
でストローブされ、ペレツトの最初の走査のため
にトラツクゲートを開始することを指示する。た
とえばABバス上の数が３であれば、トラツクゲ
ートはダイオード３において、すなわちペレツト
９４６の一端に対応するダイオードにおいて開始
するであろう。この場合、ダイオード１及び２に
よつて生成された情報は処理回路に用いられな
い。これに続く走査においてペレツトは横方向、
すなわちローラ支持体に沿つて軸方向に前進し、
破線の輪郭で示すペレツト９４９の位置に達す
る。カウンタ８５９，８６２及び８６５により
TGバスに供給された数はリード線VELP、SSX
及びＣ１上にあらわれた信号によりペレツトの軸
方向速度に従つて前進し、TGバスからコンパレ
ータ８６８，８７１及び８７４に供給される数を
増大する。これはトラツクゲートの開始アドレス
をペレツトの位置に対応するものに変換する。

たとえばカウンタ８５９，８６２及び８６５は
リード線VEELP、SSXまたはＣ１上の信号によ
つてABバスからそれらにストローブされた数よ
り増加方向にカウントされる。この処理はTGバ
スにあらわれた数を図に示す650などの数まで増
加カウントし、トラツクゲートをダイオード６５
０で開始するものである。ダイオード１〜６４９
は処理回路によつては処理されず、６４９より大
きいアドレスを有するダイオードからの信号のみ
が処理の対象となる。トラツクゲートが終了する
アドレスは後述の他の回路により決定され、これ
によりペレツトの他端を越えたダイオード、すな
わちペレツト９４９に関連するダイオード９５１
〜１０２４は処理されなくなる。

３状態バツフア９０７，９１０及び９１３は
TGバス上のデータを整形し、それをMBバスに
おいてマイクロプロセツサが伝達される別の形態
のデータに翻訳する。したがつてトラツクゲート
の開始は処理されるべき信号を有するダイオード
の最小数のアドレスを決定する。この最小数のア
ドレスはトラツクに沿つたペレツト運動を許容す
べく変換され、これより各ペレツトを走査する２
２０の走査線の各々は、そのペレツトのトラツク
に沿つた並進とは関係なく、ペレツト端から同一
距離において開始する。

第４図はトラツクゲートの開始アドレスから測
定された信号処理されているダイオードの各々の
アドレスを提供するための回路を示している。こ
の第４図に示した回路の動作は次の通りである。

リード線START☆ はカウンタ９５０，９５３
及び９５６を０にセツトする。リード線TRACK
はリード線Ｃ１☆ によつてクロツクされるこれら
のカウンタを付勢する。したがつて第３図におい
てＲバスにより与えられたアドレスを有するダイ
オードが読み取られるものと仮定する。アドレス
TGバスにより与えられたトラツクゲートスター
トアドレスに等しいか、またはそれより大きい場
合（このスタートアドレスはカウンタ８５９，８
６２及び８６５の出力からなる）、第４図におけ
るカウンタ９５０，９５３及び９５６が０にセツ
トされ、それらはTRACK信号により付勢され
る。いずれか他の時点においてラツチ９７７，９
８０及び９８３はストローブSTB２２によりAB
バスで決定された数にセツトされる。この数はダ
イオードアドレス単位においてトラツクゲートの
長さを指示するものである。

カウンタ９５０，９５３及び９５６のインクリ
メントカウンタ値の出力はコンパレータ９６５，
９６８及び９７１によりラツチ９７７，９８０及
び９８３の固定した出力と比較される。この比較
は現在読み取られているダイオードアドレスがト
ラツクゲートの長さを上回つたか否かを判定する
ものである。もしそのアドレスがその長さを上回
つた場合、フリツプフロツプ１００４は状態を反
転してリード線END TRACK☆ にトラツクゲー
トの終了を指示する信号を発生する。したがつて
より高いアドレスを有するダイオードは読み出さ
れない。このとき、３状態バツフア９８９，９９
２及び９９５はリード線RSS３☆ によつてストロ
ーブされる。したがつてラツチ９７７，９８０及
び９８３中にラツチされたトラツクゲート長さ
は、リード線MBO〜MB１５に供給される。

トラツクゲートの動作中においてカウンタ９５
０，９５３及び９５６のインクリメントアドレス
は、３状態バツフア９５９及び９６２に供給され
る。３状態バツフア９７４はデータ識別情報を収
容している。そのアドレスが読み出されているダ
イオードの信号において特別の事態が発生する
と、リード線TRSTN☆ における信号が３状態バ
ツフア９５９，９６２及び９７４をストローブす
る。その結果、そのダイオードのアドレス及びデ
ータ識別情報はリード線MB０〜MB１５に供給
される。このアドレス情報は後述するダイオード
信号の分析に用いられる。したがつて第４図はそ
の信号が読み取られている各ダイオードのアドレ
スを提供し、そのアドレスをトラツクゲートアド
レスとの関連において、始まりとして与えるため
の回路を示すものである。たとえば第２６図にお
いてトラツクゲートをダイオード３で開始する
と、カウンタ９５０，９５３及び９５６はダイオ
ード３をアドレス０として指示し、ダイオード４
をアドレス１として指示することによりそれらを
付勢する。最新に読まれた各ダイオードのアドレ
スは第２６図において３０３として示すようなラ
ツチ９７７，９８０及び９８３により提供される
最大アドレスと比較される。この最大アドレス数
に達すると、ダイオードの読出しが終了する。こ
のとき、最大アドレス数が３状態バツフア９８９
及び９９２によりMBバスに供給され、データ識
別情報３状態バツフア９９５よりそのバスに供給
される。後述の理由により、関連する特定信号を
提供するダイオードのアドレスは、３状態バツフ
ア９５９及び９６２によりMBバスに伝達され、
３状態バツフア９７４によりデータ識別が形成さ
れる。

フオトダイオード信号の分析 第５図は各フオトダイオードの出力が３個の設
定された閾値の各々を上回つたかどうかを判定す
るための回路を示している。この回路は前記出力
が特定の閾値を上回つた回数をカウントするもの
として示されている。第５図の回路の動作は次に
説明する通りである。

ABバス上にあらわれたデータはSTB２９によ
り、ラツチ１０１０及び１０１３内にストローブ
される。このデータはＴ−１と名づけた所定のス
レツシユホールド電圧を指示するものである。ラ
ツチ１０１０及び１０１３はこのデータをコンパ
レータ１０１６及び１０１９に供給する。これら
のコンパレータは前記スレツシユホールド電圧を
被検ペレツトに応答して生成された実際の重み付
きダイオード電圧の値と比較するものである。こ
れらの値は第２５図におけるラツチ３１０及び３
１３によりADバス上に供給される。実際のダイ
オード値がスレツシユホールド電圧を上回つた場
合、フリツプフロツプ１０２２の入力２がトリガ
ーされ、リード線TIVIDEO及びTIVIDEOの
各々が互いに反転し、この場合に発生した論理状
態の指示が獲得される。したがつてダイオード信
号により指示されたペレツト表面状態の適合性に
関する質問がＴ−スレツシユホールドにより指示
されたような所定の基準によつてなされる。

このオペレーシヨンは第２のスレツシユホール
ド電圧を上回るダイオード電圧が存在するか否か
を判する場合にも同様に行なわれる。特にABバ
ス上に指示されたスレツシユホールド値T₂は、
ストローブSTB₂Aによりラツチ１０２５及び１
０２８にストローブされる。このデータはコンパ
レータ１０３１及び１０３４に供給され、ADバ
ス上にあらわれた重み付きダイオード値と比較さ
れる。実際の重み付きダイオード値がスレツシユ
ホールド値を上回ると、フリツプフロツプ１０３
が状態を反転し、リード線Ｔ２VIDEO及びＴ２
VIDEO☆ がその発生を示す論理値を得ることに
なる。

同様に第３のスレツシユホールド値T₃は、AB
バス上にあらわれたデータからストローブSTB
３Ｂによりラツチ１０４０及び１０４３内にスト
ローブされる。このABバス上のデータはコンパ
レータ１０４６及び１０４９に供給され、これら
のコンパレータはスレツシユホールド値T₃をAD
バス上にあらわれた現実の重み付きダイオード値
と比較する。現実のダイオード値がスレツシユホ
ールド値を上回ると、フリツプフロツプ１０５２
がその状態を反転するリード線TRACKにより付
勢される。この反転動作はカウンタ１０５５に供
給されるべき信号を生じカウンタ１０５５はカウ
ンタ１０６４とともにラツチ１０５８及び１０６
１によりこれらのカウンタ内にラツチされた数に
おいてカウントを開始する。

換言すれば、ダイオード信号がスレツシユホー
ルド値T₃を上回るたびごとに、カウンタ１０５
５，１０６４がラツチ１０５８，１０６１により
それらにラツチされた数からの増加カウントを行
なう。特にカウンタ１０５５及び１０６４はカウ
ント２５５までカウントし、ここでNORゲート
１０７０の出力を介して復帰し、それ自身リセツ
トする。さらにトラツクゲート消滅は、NORゲ
ート１０７０の出力がカウンタ１０５５及び１０
６４を再ロードし、連続走査中においてトラツク
ゲートの再出現を準備するように働くものであ
る。さらにカウンタ１０５５及び１０６４の出力
がカウント２５５に達すると、フリツプフロツプ
１０６７がその状態を反転し、リード線
ENBLDATにより付勢される。これはリード線
Ｔ３STBを、スレツシユホールド値T₃を過ぎた
特定番号のダイオードを指示する論理状態に強制
するものである。この特定番号は２５５からラツ
チ１０５８及び１０６１にラツチされた数を引い
た値に等しい。

スレツシユホールド値T₃は比較的高く、ダイ
オードがたとえば被検ペレツト中に含まれた金属
などのような光沢のある金属物体に反射された場
合などの十分な輝度の光を受け容れたことを示す
ために用いられる。これらの発生はカウンタ１０
５５及び１０６４によりカウントされる。それら
の所定数、すなわち２５５からカウンタ１０５８
及び１０６１のラツチ数を引いた値が発生する
と、金属含有物が存在するとみなされる。この条
件はフリツプフロツプ１０６７の反転により生じ
たリード線Ｔ３STB☆ の論理状態により指示さ
れる。信号Ｔ３STB☆ はさらに後述の回路によ
り分析される。

リード線Ｔ１VIDEO及じびＴ２VIDEO並びに
それらの上述した補数リード線は第１１図に示し
た回路により分析される信号を発生する。この第
１１図の回路はリード線Ｔ１VIDEO上に発生す
る信号のアドレスを相関分析することにより、ペ
レツト−ペレツト境界面の位置を判定するもので
ある。第１１図の回路の動作は次の通りである。

リード線Ｃ１はダイオードアドレスが変化する
たびごとに論理パルスを伝達する。インバータ１
１３８により反転されるこのパルスはカウンタ１
０９３，１０９７及び１１０４のインクリメント
入力に供給される。供給されたパルスはこれらの
カウンタを歩進させ、その出力アドレスがRAM
１１０７におけるアドレスNo.を連続的に増大させ
るようにする。カウンタ１１１６及び１１１９は
リード線INCRTKV上の信号によりカウンタ１
０９３，１０９７及び１１０４により与られたア
ドレスにおいてRAM１１０７から読み出された
数から開始する増加方向の歩進を行なう。リード
線EOS☆ はカウンタ１０９３，１０９７及び１
１０４を消勢し、これによつてダイオードアレー
走査が終わつた後、何らのアドレス変化も生じな
いようにする。リード線SHIFT☆ はカウンタ１
０９３，１０９７及び１１０４がトラツクゲート
パルスの存在中においてのみ動作することを保証
するものである。

ストローブSTB３７によりストローブされる
ラツチ１１２８及び１１３１は、やがてリード線
BB０〜BB７が含む（第２図におけるドライバ
６５０により供給される）データを、コンパレー
タ１１２２及び１１２５の入力に供給する。この
BBバスにあらわれたデータは所定数の
TIVIDEO☆ イベントを指示する。各Ｔ１VIDEO
☆ イベントの発生は同一のリード線Ｔ１VIDEO
☆ の論理的揺れにより指示され、NANDゲート
１１１０の入力に接続される。入力Ｃ４における
前記NANDゲートの出力は、その出力を発生さ
せる正確な論理状態であり、リード線Ｔ１
VIDEO☆ の論理的揺れの発生を反映したもので
ある。したがつてリード線INCRTKVは対応す
る論理的揺れを経過するものである。このリード
線における論理的揺れはカウンタ１１１６及び１
１１９を歩進させて、リード線TKVO〜TKV７
にあらわれた数を１だけ増加する。このTKVバ
スはすでに述べた通り同時にコンパレータ１１２
２及び１１２５の入力とRAM１１０７のデータ
入力に接続されている。したがつて１つの数が
RAM１１０７内のアドレスから読み出される
と、それはカウンタ１１１６及び１１１９に供給
される。それはリード線INCRTRV上の信号に
基づき、これらのカウンタの１つによつて歩進さ
れたり歩進されなかつたりする。歩進され、ある
いは歩進されなかつたこの数は同じアドレスに戻
され、これよりダイオードアレーの対応するアド
レスに生じたＴ１VIDEOのイベントの数がスト
アされる。

Ｔ１VIDEOイベントのアドレスの相関図形に
より境界面を確立する特定の方法は一例として次
のように説明される。すなわちカウンタ１０９
３，１０９７及び１１０４は信号が分析される全
てのダイオードアドレスを介して歩進される。こ
れらのカウンタは各ペレツト走査のためにこのサ
イクルを繰返す。ここでダイオード番号２０にお
いて、例えば各走査のダークスペースが生じるも
のとする。したがつてカウンタ１０９３，１０９
７及び１１０４が０から19まで歩進するとRAM
へのTKVデータ入力バスは各アドレスにおいて
０をストアし、リード線INCRTKVには何らの
信号もあらわれない。しかしながら、第１走査ア
ドレス２０においてINCRTKVには１つの信号
があらわれ、TVKバスには数１があらわれる。
この数はRAM内のアドレス２０にストアされ、
リード線INCRTKV上の信号はカウンタ１１１
６及び１１１９を０から１に歩進する。カウンタ
１０９３，１０９７及び１１０４はトラツクゲー
トの終端、例えば数400までカウンタし、そこか
ら第２の走査のために０に復帰して再スタートす
る。再びアドレス１から１９までのリード線
INCRTKVには何らの信号も生じなくなる。し
かしながらこのリード線にはアドレス２０におい
て１つの信号が発生し、カウンタ１１１６、及び
１１１９をアドレス２０においてRAM１１０７
内にストアされた数すなわち１から２に歩進させ
る。したがつて数“２”はバスTKVにあらわれ、
この数はRAM内のアドレス２０に“２”として
復帰し、かつストアされる。ここで再びアドレス
２０〜４００には０がストアされることになる。
この処理は各ペレツトについて220回走査を行な
うために実施され、０〜１９までの全てのアドレ
スに０をストアし、全ての走査の終了時に走査数
220をアドレス２０にストアし、更にアドレス２
１〜４００に０をストアするものである。

境界面の存在はTKVバスが指示する数をBBバ
スによつてラツチした数と比較することにより判
定される。一方各ペレツトが220回走査される間
において、INCRTKV信号が境界面の存在チエ
ツクのための走査毎において同一アドレスに生ず
べき必然性はないと考えられる。上例の場合にお
いて、リード線INCRTKVにはアドレス２０に
おいて175程度の信号発生があれば十分と考えら
れる。この十分な数はラツチ１１２８及び１１３
１によりラツチされたBBバス上にあらわれる。
所定のアドレスにおいて発生するINCRTKVイ
ベントのカウンタがその数に達すると、コンパレ
ータ１１２２及び１１２５はフリツプフロツプ１
１３７に対して１つの信号を発生する。この動作
は出力TKVORRL及びその補数を反転してその
数が読出されるRAM１１０７のアドレスにおけ
る相関性の存在を指示する。

相関性が判断される方法は上の説明からよく理
解されるであろう。第１２図は境界面の相関性が
見出されたアドレスを判定するための回路を示す
ものである。この第１２図の回路は次の通りに動
作する。

ラツチ１１２８及び１１３１（第１１図に示
す）に供給される所定のスレツシユホールド数を
上回つたいずれのアドレスにおける相関数の発生
は、すなわちフリツプフロツプ１１５０，１１５
３，１１５６，１１５９，１１７０及び１１７１
をトリガーしてカウンタ１１６５及び１１７４を
付勢するように作用する。これらのカウンタが付
勢されるとそれらはリード線Ｃ１上に発生するパ
ルスをカウンタする。すでに述べた通りこれらの
パルスはダイオードアドレスの変化によつて生
じ、したがつてカウンタはそのような相関性イベ
ントが生じたダイオード数をカウントする。

NANDゲート１１７１は相関関数の超過が生
じた場合においてカウンタ１１６５及び１１７４
を消勢する。これは検査領域が不当に長いような
場合に生ずるものと考えられる。カウンタ出力リ
ード線WD１〜WD６にこれらにあらわれた二進
数が正確に対応するカウンタのストア数の半分と
なるように接続されている。境界面の幅数はその
半分の値のみが被検ペレツトによるものとして２
で割算される。他の半分は隣接ペレツトに属する
と考えられるからである。この数は二進アドレス
加算器１１８９及び１１９２に供給される。ここ
でこの数はラツチ１１８０，１１８３及び１１８
６にラツチされた数から引算される。その演算結
果はシフトレジスタ１１９８，１２０１及び１２
０４に供給される。WDバスにあらわれた半分幅
情報はシトレジスタ１２０４及び１２０７に供給
される。したがつてこの回路は境界線が存在する
と結論づけるに十分な相関関係が生じたアドレス
数をカウントするものである。この相関数は２で
割算され、更にトラツクゲートの開始点において
現実のダイオードアドレスから引算される。この
演算後のアドレスは半分幅情報と共に境界面の実
際のアドレスを指示し、シフトレジスタの出力を
構成するPIバスにおいて他の回路により用いら
れる。

第１３図はPIバスにあらわれたデータをDBバ
スにストローブするために用いる回路、及び境界
面の相関性が追求されるペレツト上の範囲を限定
すべく用いられる回路を示すものである。第１３
図の回路は第１２図に示した回路の関連部と共に
次の通り動作する。

STB４４はリード線PI０〜PI７が指示するデ
ータをDBバスの部分にストローブするものであ
る。STB４５はリード線Ｐ１８〜PI１５におけ
るデータをDBバスの残りの部分にストローブす
るように働く。

ストローブ信号STB３６によりラツチ１２６
８及び１２７１内にラツチされたABバス上の数
は、ダウンカウンタ１２７４，１２７７及び１２
８１がリード線ICGにより付勢されてカウントダ
ウンを開始する際の数に対応する。これらのダウ
ンカウンタはＣ２☆ のタイミングにより決定され
る間隔において減少カウントされる。すなわちそ
のタイミングはダイオードアドレスが変化する度
合を決定する時間ずれに対応する。ダウンカウン
タが所定の数に達すると、リード線STPICG☆ の
論理状態が変化し、その変化信号が第１２図にお
けるフリツプフロツプ１２２５に結合される。リ
ード線STPICG☆ はフリツプフロツプ１２２５を
セツトし、これによりフリツプフロツプ出力ICG
及びICG☆ を制御する。フリツプフロツプ１２２
５は３状態バツフア１２１６及び１２１９の動作
によりフリツプフロツプ１２２２を介して反転さ
れる。これらの３状態バツフアは信号処理のダイ
オードアドレスをラツチ１２１０及び１２１３に
ラツチされたダイオード数と比較する。信号処理
中のダイオードアドレスがラツチ１２１０及び１
２１３におけるラツチ数を上回ると、フリツプフ
ロツプ１２２５が反転される。リード線ICG及び
ICGはここで境界面の相関性検査を終了するよう
に働く。

すなわち境界面相関性の質問は第１２図のラツ
チ１２１０及び１２１３内のラツチ数を上回り、
かつ第１３図のラツチ１２６８及び１２７１内の
ラツチ数を下回るダイオードアドレスに関しての
み行われる。したがつて、ペレツトの限られた範
囲にわたる相関性検査において一端ではなく両端
の相関性の検出可能性を伴う１ペレツトより長い
範囲の検査は排除される。

マイクロプロセツサ５５０は束ねられたペレツ
トのうちの最初のペレツトの先端と最後のペレツ
トの後端とをそれぞれ指示する想像境界面を確立
するようにプログラムされる。これは最初の、ま
たは最後のペレツトが接近することを指示する外
部光学トランスデユーサと関連して行われる。マ
イクロプロセツサは更に正確な境界面を確立す
る。

第６図は連続した各走査間の相関関係を判定す
ると共に、相関関係におけるアドレス変化を報告
するための回路を示している。この第６図の回路
は次の通りに動作する。

第５図におけるフリツプフロツプ１０２２から
引出されてリード線TIVIDEOにあらわれる信号
は、Ｒバス上における指示されたアドレスのダイ
オードの重み付きダイオード信号がスレツシユホ
ールド値Ｔ１を上回つたことを指示するものであ
る。この信号はＲバスが指示するアドレスにおい
て第６図におけるRAM１３２８または１３３１
の１つに供給される。このRAMは３状態バツフ
ア１３１６，１３０７，１３０４及び１３１９に
より指定された信号路に応じて選択される。これ
らの３状態バツフアはリード線FLIP及びFLIPに
よつて制御される。したがつてRAM１３２８ま
たはRAM１３３１のいずれかが全走査期間中の
Ｔ１ビデオ信号をロードされる。

ここでRAM１３２８が用いられ、このRAM
１３２８にストアされた直後のデータがそれと後
続の走査から得られたデータとの間の相関関係の
存在を判定するための基準データとして用いられ
るものとする。走査の終りにおいて３状態バツフ
ア１３１６，１３０７，１３０４及び１３１９は
次の走査によりデータを他方のRAMすなわち
RAM１３３１にロードするようにトリガーされ
る。RAM１３２８からのデータはここでは基準
走査を含むものであり、３状態バツフア１３３４
を介してシフトレジスタ１３３７に供給される。
この給速度はリード線Ｃ３のクロツク動作により
決定される。このデータビツトがシフトレジスタ
１３３７の出力に沿つて左から右へと進展する
と、これらは順次排他的論理和ゲート１３２５ａ
〜１３２５ｈの各入力に供給される。この供給は
最下部のゲート１３２５ｈから開始される。リー
ド線TIVIDE0にあらわれた信号は遅延手段１３
２２に伝達され、この遅延手段はこの信号をなる
べくならリード線Ｃ３☆ 上の４パルス信号分だけ
遅延させてから、その遅延手段のリード線６を介
して排地的論理和ゲート１３２５ａ〜１３２５の
他の全ての入力に伝達するものである。したがつ
て走査中の特定のダイオード出力がスレツシユホ
ールド値Ｔ１を上回つたか否かを指示するリード
線TIVIDEO上の信号は、排地的論理和ゲート１
３２５ａ〜１３２５ｈにより同時にアレー中の４
個の先行するダイオードの全信号並びに４個の後
続するダイオードの信号と比較される。相関関係
の存在はフリツプフロツプ１３４６の出力に接続
されたリード線TICCRRの論理状態により示さ
れる。

TIVIDO上の情報が基準走査情報、すなわち上
の例においてRAM１３２８に納められた情報と
比較される間において、リード線TIVIDEO上の
信号は同時に他のRAMすなわちRAM１３３１
内にロードされていく。基準走査と現在の走査と
の間の相関関係が完全であれば、この比較処は次
の走査のために繰返される。すなわち第３の走査
からのデータは以前のようにRAM１３３１内に
読み込まれ、同時にそれは基準走査データにおけ
る先行するる４ダイオードの信号及び後続する４
ダイオードの信号とビツト毎に比較される。最新
の走査からの各新しいビツトがRAM１３３１内
に読み込まれると、先の走査からRAM１３３１
内にストアされたビツトは消去される。しかしな
がら相関関係の不足が１つのアドレスにおいて満
たされると、リード線TICORRにおいて１つの
信号があらわれる。この信号は後述の回路により
処理される。

第１８図は相関性データをストアすべく用いら
れるメモリバツフアを示すものである。

インバータ１３８４ａ〜１３８４ｈ及びバツフ
ア１３８５ａ〜１３８５ｈの出力は図示しない
が、データ表示などの目的で用いられる周辺装置
に接続される。NANDゲート１３９１の出力も
またこの周辺デイスプレイ回路に接続される。

第１７図は第１８図のRAM１３７５のデータ
の読み書きを制御すべく用いられる回路を示して
いる。第８図は第１８図のRAM１３７５のロー
ド、及び読み出しに関連したデータフオーマツト
動作を制御すべく用いられる回路を示している。
上記の回路は第６図の相関判定回路との関係にお
いて次の通り動作する。

リード線TIDATA上の信号が変化すると、第
８図におけるフリツプフロツプ１５３１が反転す
る。このフリツプフロツプ１５３１により付勢さ
れたフリツプフロツプ１５３４は、リード線Ｔ１
CORR上の信号により指示された相関関係の発生
に応答する。更にフリツプフロツプ１５５４はそ
れがリード線TICORR上の信号により付勢され
たとき、状態を反転してリード線FLIP及びFLIP
☆ に信号を発生する。これはリード線Ｔ１
VIEDOからのデータ通路をRAM１３２８または
１３３１のいずれかから他方に切り替える効果を
有する。換言すれば、リード線FLIP及びFLIP☆
上の信号により新しい基準走査が指定される。最
新の走査と基準走査との間で誤つた相関関係が生
じたとすると、この誤動作のダイオードアドレス
はリード線MBO〜MB１５を介して第１８図の
RAM１３７５に書き込まれる。この情報はリー
ド線Ｂ０〜Ｂ１１により決定されるアドレスにお
いてRAM１３７５にストアされる。このアドレ
スは第１７図の回路により選択される。カウンタ
１４１３，１４１６，１４１９，１４３０，１４
３３及び１４３６はそれらのクロツク入力により
それらにストア（ラツチ）された数が同時に読み
出されるように、そしてそらに新しい数が書き込
まれるように構成されている。したがつてカウン
タ１４１３，１４１６，１４１９からはカウンタ
１４３０，１４３３及び１４３６の入力に１つの
数が伝達され、同時にカウンタ１４３０，１４３
３及び１４３６の出力がカウンタ１４１３，１４
１６及び１４１９の入力が伝達される。かくして
リード線Ｂ０〜Ｂ１１はＴ１相関イベントのダイ
オードアドレスにおける書き込みを行なうため
に、第１８図におけるRAM１３７５のアドレス
を選択すべく動作する。

RAM１３７５から、これにストアされた情報
を検索するためにはリード線Ａ０〜Ａ１１上の数
を第１７図におけるリード線Ｂ０〜Ｂ１１に伝達
する。３状態バツフア１４３９，１４４２及び１
４４５はＡバス上の数をＢバス上の数と比較して
リード線8KEMPTY及び8KEMPTY☆ 上にこれ
ら２つの数が等しいか否かを示す信号を発生す
る。したがつてこの回路はTi相関イベントに関
する情報をRAM１３７５の逐次的アドレス内に
ロードし、その結果情報をストアした内のアドレ
スの付近が翻訳され、検査されたペレツトの表面
に含まれた特定の造形の開始及び終りを意味する
情報を指示するようにさせる。これは造形の開始
においてTi相関イベントが発生することによつ
ている。すなわち、この点においてダイオード信
号が基準走査においてストアされた信号を一致し
なくなるという事実に基づくものである。したが
つてデータは造形の選択された開始点及び終了点
のみが記録されしれらの中間の点が無視されるよ
うに圧縮される。これら周辺点のみの報告はデー
タ量が少くなることを許容するものである。

ダイオードアドレスはRAM１３７５内にスト
アされる。しかしながら造形の持続中に報告され
たダイオード信号はそれらが余分と思われる場合
ストアされない。ストアされる次の信号は造形が
終るところのダイオードからのものであり、この
ダイオードアドレスはRAM１３７５にストアさ
れる。したがつてフオトダイオードアレーによつ
て走査された幅の値に等しい幅の直線的造形は２
つのアドレス、すなわち開始及び終了として
RAM１３７５内に記録される。実質的な幅の矩
形の造形はそのダイオードアドレスとその四隅の
走査数などにより記録される。

第７図はダイオード信号がＴ２ビデオスレツシ
ユホールド値を上回つた場合の相関関係の存在を
判定するための回路を示している。この第７図の
回路は第６図の対応する回路と同様に動作するも
のであり、これ以上の説明は省略する。

第１４図は誤つたペレツト表面の範囲も判定す
るための回路を示している。この第１４図に示す
回路は次の通り動作する。

ペレツトの面取端などのような領域は誤つた表
面反射特性を示すものとして誤つて解釈されやす
いため、誤つた表面領域を検査対象とするペレツ
ト表面の範囲は限定することが望ましい。したが
つてラツチ１７０１及び１７０４はダウンカウン
タ１７０６及び１７０８に新しいゲート、すなわ
ち誤つた表面のゲートがトラツクゲートの先端か
らずれていることをあらわすダイオードアドレス
の数を供給する。ダウンカウンタ１７０６，１７
０８及び１７０９はリード線Ｃ１によりクロツク
付勢される。それらの出力が０に達すると誤つた
表面ゲートが存在するとになり、カウンタ１７３
５，１７３８，１７４１及び１７５２に
TIVIDEOイベントをカウントさせる。これらの
イベントは誤つたペレツト表面の発生を指示する
ものと見なせる。

そしてほぼ同時にラツチ１７２６，１７２８及
び１７３０に納められた数がダウンカウンタ１７
２０，１７２２及び１７２４に供給される。これ
らのカウンタは誤つた表面ゲートが存在するよう
になつたときカウントを開始する。それらはリー
ド線Ｃ１によりラツチ１７２６，１７２８及び１
７３０よりそれらに供給される数から０までカウ
ントする間中クロツク付勢される。これらのラツ
チが０に達するとフリツプフロツプ１７１１に供
給される信号はフリツプフロツプの状態を反転
し、これによつてカウンタ１７３５，１７３８，
１７４１及び１７５２によりTIVIDEOのイベン
トのカウントの阻止する。カウンタ１７３５，１
７３８，１７４１及び１７５２の出力は、発生し
たTIVIDEOイベントの総数を指示するものであ
る。全てのペレツトが走査された後、これら４つ
のカウンタに納められた数は３状態バツフア１７
４４及び１７４７によりリード線MBO〜MB１
１に伝達される。３状態バツフア１７５０からの
情報リード線MB１２〜MB１５に供給され、リ
ード線MB０〜MB１１の上に情報を誤つた表面
データであると識別するものである。

第１５図は、データ識別するための各ペレツト
に対応するデータと関連すべき数を発生すると共
に、そのデータを生成する走査を識別する数を発
生するための回路を示している。したがつてこの
走査数は円周座標を与えるものであるが、ダイオ
ードアドレスは軸座標を与えるものである。当然
ながらこれら２つの座標は現在走査中のダイオー
ドまたはメモリーに記憶されたダイオードの信号
に関連するものである。第１５図に示された回路
は次の通り動作する。

ペレツトの第１の走査に先立つて、NANDゲ
ート１８０７からの信号はカウンタ１８１１及び
１８１３をクリアする。各走査の終りにおいて、
リード線EOS☆ 上のパルスがカウンタ１８１１
及び１８１３を歩進させ、これによりリード線
SC０〜SC７に走査カウント数が供給される。こ
の信号はリード線RSS２☆ 上の信号によりMBバ
スに供給される。３状態バツフア１８１７及び１
８１９はDBバスに走査カウントを供給する。こ
のDBバスは第１及び１Ａ図におけるコネクシヨ
ンなどで示されるように、マイクロプロセツサ５
５０に接続されており、リード線STB４１上の
信号によりストローブされる。

リード線PRSTPC☆ はカウンタ１７７９，１
７８１，１７９４及び１７９６をラツチ１７７
５，１７７７，１７９０及び１７９２によりラツ
チされた数にセツトする。カウンタ１７７９，１
７８１，１７９４及び１７９６はこの数から開始
してリード線Ｃ１☆ 上の信号によりクロツクされ
るたびに増加方向にカウントする。したがつてペ
レツト列における各ペレツトに対応させることが
できる独自の数が決定され、他の回路によつて処
理されているデータをこのペレツトに対応させる
ことができる。

第１０図は１個のペレツトが完全に走査された
か否かを判定し、MBバスに伝達されたデータに
関連するようにデータ識別情報を供給し、更に
DBバスに対しマイクロプロセツサが使用するた
めのペレツト位置カウントデータをストローブす
る回転を示している。この第１０図の回路は次の
通りに動作する。

リード線STB２７上にあらわれた信号は、ラ
ツチ１８３０及び１８３２に納められた数をコン
パレータ８３４及び１８３６内にストローブして
リード線SC０〜SO７によりコンパレータ１８３
４及び１８３６に供給された実際の走査数と比較
されるようにする。これらの数が等しいと判断さ
れると、フリツプフロツプ１８３８はその状態を
反転してリード線EOP☆ 上にペレツトの全体が
走査されたことを指示する信号を発生する。例え
ば本発明の好しい実施例においてはラツチ１８３
０及び１８３２に納められた二進数は十進数２２
０の二進表記である。リード線RSS６及びRSS５
☆ は３状態バツフア１８４６をトリガーしてリー
ド線２，４，６及び１０に存在する４ビツト語を
それぞれリード線MB１２〜MB１５に伝達させ
る。この情報はMBバス上の他のリード線に伝達
され、これらのリード線でもその情報が認識され
るようにする。リード線STB４６及びSTB４７
上の信号はPCバス上の情報を２つの異なつた時
点においてDBバスにストローブする。

第２３図は第２５図におけるフラツシユＡ／Ｄ
コンパレータ３０７のデイジタル出力、並びにデ
イジタルスレツシユホールド値T₁，T₂及びT₃を
アナログ信号に変換すると共に、オシロスコープ
に伝達するための信号を複合（multiplex）する
回路を示している。演算増幅器１８９７の出力は
抵抗１９０７を介して端子１９０５に接続され
る。端子１９０５及び１９２０はオシロスコープ
（図示せず）のデイスプレー及びトリガー入力に
接続されるよう構成されている。ドライバ１９２
５及び１９２６はフオトダイオードアレーの走査
シーケンスを開始させると共に、そのアレーにク
ロツクパルスを供給するように動作するものであ
る。この第２３図の回路は次の通りに動作する。

カウンタ１９１１及び１９１３はデコーダ１９
１７と共にリード線ET１☆ ，ET２☆ 及びET３
☆ 上にパルス列の繰返しシーケンスを供給する。
これらのリード線はNANDゲート１８７５の出
力と共に３状態バツフア１８７７，１８７９，１
８８１及び１８８３を逐次的にトリガーするタイ
ミング信号を供給するものである。したがつて、
これら３次態バツフアの出力は個々にかつ逐次的
にＤ／Ａ変換器１８８５の入力に信号を与え、こ
の変換器の出力はアナログ信号として演算増幅器
１８９７を介して端子１９０５にあらわれる。し
たがつてリード線TDC０〜TDC５上に重み付フ
オトダイオード信号、並びにリード線TH１０〜
TH１５、TH２０〜TH２５及びTH３０〜TH
３５上のスレツシユホールド信号T₁，T₂及びT₃
はＤ／Ａ変換器１８８５に多重的に供給され、端
子１９０５における出力は４信号の同時オシロス
ロープ表示を許容するものである。

第２４図はプツシヤー検出回路を示すものであ
る。ここには第２４図に示すものと、第２４図Ｂ
に示すものとの２つの回路が存在する。これらは
第２４Ａ図の入力がプツシヤー１に接続されてい
るのに対し、第２４Ｂ図の入力がプツシヤー２に
接続されていることを除いては実質的に同一であ
る。更に第２４Ａ図の回路の出力はPSHR１☆ と
して指示されるが、第２４Ｂ図の回路の出力は
PSHR２☆ として指示される。これら第２４Ａ及
び第２４Ｂ図の回路は次の通りに動作する。

第２４Ａ図を参照すると、２つのプツシヤー
（図示せず）の一方の金属体がトランスデユーサ
ー（図示せず）に接近するようになつている。こ
のトランスデユーサーは固定支持手段に固定され
た渦電流コイルより構成することができる。この
金属体接近動作は節点１９５７、したがつて
LED１９５８に供給されるべき信号を生ずる。
LED１９５８により発せられた光はフオトトラ
ンジスタに伝達され、抵抗１９６５を通ずる電流
を変調して節点１９６２にプツシヤーの位置を指
示する電圧信号を提供する。ダイオード１９５５
は節点１９５７に過大な電圧が加えられたとき、
LED１９５８を保護するものである。LED１９
５８及びフオトトランジスタ１９６０の２つを使
用することは節点１９６２に生じた信号を節点１
９５７に存在するノイズから分離させるためであ
る。

第２４Ｂ図の回路も第２４Ａ図の回路と実質上
同様に動作し、その動作が他のプツシヤーに適用
されるということのみ相違するものである。

第４Ｂ図は外部トランスデユーサへの動作信号
を発生するための回路を示している。

第４Ｂ図の回路動作において、BBバスを介し
て選択的な信号が成功裡に送信（又は受信）され
たか否かということは、７セグメント遅延回路
SSDの出力により指示される。この出力はバスリ
ード線BB０〜BB３上に現れた信号を指示する
ものであり、バス上において送信され、又は受信
された信号の型を指示するようにコード化され
る。

第１９図はオペレータに対しプロセツサ回路の
オペレーシヨンを指示するための信号を発生する
回路を示している。ここにモニタリード線と総称
するLEDTRACK☆ 、TSO☆ 、XFRENBL☆ 、
8KEMPTY、8KOVFL☆ 、SYSMEM☆ 、MS4、
MS8、LEDTRACK☆ 、TKVCORRL、
TIVIDEO、T2VIDEO、T3VIDEO、MSG☆ 及
びICG☆ はそれぞれインバータ２０５０ａ〜２０
５０ｐの入力に接続される。

第１９図の回路の動作において幾つかのモニタ
リード線上の信号は発光ダイオード２０５４ａ〜
２０５４ｉによる光学信号として明らかにされ
る。休止状態のモニタリード線上の信号は外部モ
ニタ回路への接続に用いられるリード線TP１〜
TP７に伝達される。CPバスとＣバスとの間に挿
入されたインバータはCPバス上の信号を反転す
ると共に、回路フアンアウトを適当に有する電流
源を提供するものである。

第２１図は実行制御回路を含む回路を示してい
る。この第２１図の回路は次の通りに動作する。

抵抗２１０４ａ〜２１０４ｈはインピーダンス
整合容量内において機能し、ノイズを最小化する
ものである。抵抗２１２４及びコンデンサ２１２
８により遅延されたリード線２６上の信号は
FIFO（先入−先出シフトレジスタメモリー）２１
０６及び２１０８の８個の入力に存在する信号
を、これらFIFO内にラツチし、STB０はそれら
FIFO内にデータを並列にシフトさせるものであ
る。FIFO中のデータはラツチ２１１２及び２１
１４を介してDDBバス上に読み出される。

FIFO２１４２及び２１４４はDBバスに入力
されたデータを並列した８ビツトグループとして
対称的にストアすると共に、これらのデータをイ
ンバータ２１７０ａ〜２１７０ｈに供給するもの
である。

FIFO２１０６及び２１０８に供給された情報
は決定動作（decision making）に関連する。
FIFO２１４２及び２１４４の出力はペレツトに
関連して行われるべき分類動作に関連した情報を
含んでいる。

第３０，３１及び３２図は直径の測定計算を行
なうために第２９図のフオトダイオードアレー３
８０に関連して用いられる回路を示している。こ
れら３０，３１及び３２図に示す回路は次の通り
に動作する。

第２９図におけるアレー３８０ｂ中の各フオト
ダイオードにより発生した信号はコンパレータ２
３０４の入力に加えられる。この信号が可変抵抗
２３１４のタツプ２３０５の位置により決定され
たスレツシユホールドレベルを超えると、リード
線TVIDEO＋及びTVDEO−に適当な信号が発
生する。リード線CLOCK＋及びCLOCK−には
ダイオードが走査されるたびに１つの信号が発生
し、リード線START＋及びSTART−にはアレ
ー全体が走査されるたび毎に１つの信号が発生す
る。第３２図におけるダウンカウンタ２４８，２
４３０及び３４３２は通路に沿つたペレツト位置
についての情報を提供するものである。これは第
２９図において直径の測定がなされるスリツト２
６８に対応する位置であつて、第２８図において
表面特性の測定を行うブラケツト３２０の位置と
は異る。したがつてダウンカウンタは所定のカウ
ント数から始めて０までカウントダウンを行な
う。これはブラケツト域３２０に配置されたペレ
ツト表面の対応する位置がスリツト３６８の部分
に位置したことを示している。この情報はDBB
バスに、そして更にFIFO２４４２ａ〜２４４２
ｄに供給される。

リード線CP１，CP１☆ ，CP２及びCP２☆ は
第３１図におけるカウンタに信号を供給し、これ
により第２９図における光線３７３及び３７４の
位置をフオトダイオードアレー３８０のダイオー
ドアドレスにおいて指示するものである。かくし
て欠け領域３７１の長さ、したがつてペレツト直
径が測定される。

特定回路要素 上述の好しい実施例において、ラツチとしては
ラツチモードにおいて動作するICチツプ、タイ
プ74161を用い、カウンタとしてはカウントモー
ドにおいて動作する同型のICチツプを用いるこ
とができる。マイクロプロセツサはなるべくなら
IC−タイプ8080A−１からなるのが好しい。１：
８デコーダとしてIC−タイプ8205を用いること
ができる。EPROMSとしてはIC−タイプ2732
を、また第１図におけるRAM６１４及び６１７
としてはICタイプ2114をそれぞれ用いることが
できる。双方向性バスドライバにはIC−タイプ
8216を用いることができる。第１図におけるオシ
レータ５５３にはIC−タイプ8224を用い、第１
図におけるデコーダ６０５としてはIC−タイプ
8228を用い、更に第２Ｆ図における８：１エンコ
ーダマルチプレクサー６９２としてはICータイ
プ7415を用いることができる。またコンパレータ
としてはIC−タイプ74585もしくは7485を用い、
フリツプフロツプとしてはIC−タイプ7474また
は745112を用いることができる。

第６及び７図における遅延／シフトレジスタ１
３２２及び１６５５としてはIC−タイプ74164を
用い、これらの図におけるシフトレジスタ１３３
７及び１６５０にはICタイプ74164を用いること
ができる。またこれらの図におけるデコーダ１６
５９及び１３１３としてはIC−タイプ74151を用
いRAMとしてはIC−タイプ2125を用いることが
できる。このIC−タイプ2125チツプはまた第１
１，２０，２２図におけるRAMとして用いるこ
ともできる。第１２図における加算器としては
IC−タイプ7483を、またFIFOとしてはIC−タイ
プ74193を用いることができる。

第１６図における掛算器２１８としてはIC−
タイプ7497を用い、ドライブ増幅器としてはIC
タイプDS8832を用いることができる。第１８図
におけるRAMとしてはIC−タイプ2147をDA変
換器としてはIC−タイプDAAC08を、また第２
５図におけるフラツシユＡ／Ｄ変換器３０７とし
てはIC−タイプTDC1014Jを、更にバツフア増幅
器２９０，３０１，３０４及び８１２はIC−タ
イプ2520を用いることができる。

３状態バツフアとしては例えばアメリカ合衆国
のナシヨナルセミコンダクタコーポレイシヨンに
より製造販売されているIC−タイプDM8095を用
いることができる。

上述したICのタイプは米国標準工業規格によ
るものである。

実施例のまとめ 先に要約した本発明の実質的円筒形ペレツトの
検査システムにおいて、抱括概念（特に「手段」）
により特定した構成要素と、前述した実施例との
対応関係は次の通りである。

(i) ペレツトの縦列を制御された線速度及び角速
度において、前記縦列の軸に関する螺線運動を
与えることにより光学検査ステーシヨン（第２
７〜２９図；６６）に送るように、所定の通路
に沿つて前進させるための搬送手段とは、第２
７図に示された一対のローラ５６，５７及びプ
ツシヤ５８からなるものであり、 (ii) 前記光学検査ステーシヨン６６中に含まれ、
前記ペレツトが所定の静止観察領域６６Ａの視
野内を進行するとき、前記通路中における少く
とも１個のペレツト長より長い細長検査範囲を
光照射するための手段とは、第２８図に示され
た多モードレーザー３００及び３００Ａからな
り、 (iii) 前記静止観察領域６６Ａ内に配置され、前記
光学照射されたペレツトから反射した光強度の
関数としての出力信号を各々発生するための複
数の光検出装置の直線的アレーとは、第２８図
に示されたフオトダイオードアレー３２４であ
り、 (iv) 前記出力信号を周期に走査して連続走査から
得られた各ペレツトの選択的な特性を現わすビ
デオ信号を引き出すための手段とは、第９図に
示されたカウンタ４５０，４５３及び４５６
と、第２５図に示された抵抗２９９、並びにバ
ツフア増幅器２９０，３０１及び３０４から構
成されるものでであり、 (v) 前記ビデオ信号から前記検査中ペレツトの前
記基準値に対する一致状態を示すデータを抽出
するための手段とは、第４Ａ図のコンパレータ
７５６，７５９を主体とするものであり、 (vi) 前記抽出データを圧縮してさらなるデータ処
理のために前処理データを提供する割合を少く
するための手段とは、第１７図の３状態バツフ
ア１４３９，１４４２及び１４４５、並びに第
１８図のRAM１３７５を主体とするものであ
り、 (vii) 前記ビデオ信号を標準化し、前記ペレツトの
検査において前記基準値と一致しない因子によ
り生じた信号の変動を補償するための手段と
は、第１図のマイクロプロセツサ５５０を主体
とするものであり、 (viii) 前記ビデオ信号に応答して、複数回の走査中
の選択的な同一アレー位置において各々発生す
る複数の減衰されたビデオ信号の振幅より、前
記端面接触部分の各々を検出するための手段と
は、第１１図及び第１２図に示す回路を主体と
するものであり、 (ix) 前記検出信号に応答して１群の連続したアレ
ー素子に対応する複数の信号を選択し、その出
力信号が単一のペレツトから受光した光信号に
対応するようにしたトラツクゲートを発生する
ための手段とは、第３図の回路を主体とするも
のであり、さらに (x) 前記単一のペレツトの線速度に応答して前記
トラツクゲートを前進させるための手段とは、
第３図のフリツプフロツプ８９８、ゲート９０
１、カウンタ８５９，８６２、及び８６５を主
体とするものである。

最後に、本発明を具体的に要約すれば実質上連
続した通路を通るペレツトが検査テーシヨンを高
い機械的安定性を保つて螺旋状に通過するように
した自動ペレツト検査システムを提供するもので
ある。この検査ステーシヨンはペレツトを光学的
に検査し、関連するプロセツサ回路が高いスルー
プツト特性における光学的検査の信頼性を補償す
るものである。このシステムは微小のペレツト領
域を検査できるようになつている。

ペレツト検査により得られた信号から大量のペ
レツト特性指示データを算出処理し、及びそれら
の機能を比較的低価格なデータ処理設備で実行す
るために、本発明においては抽出報告態様で動作
するデータ圧縮技術を用いることによりデータ生
成率を抑制し、これによつて必要なデータ処理容
量を最小化したものである。

各ペレツトの直径及びその端面の角落ち状態は
完全に検査される。これらのペレツトは検査中に
おいて端面接触関係で束ねられ、各ペレツトはそ
れ自体と隣接のものとを分離する境界面、すなわ
ちペレツトの端面角落ち部によつて識別される。
これは特定の信号強度の位置関係により処理さ
れ、全てのデータをそのデータが引出された特定
のペレツトとを関連づけるトラツクゲートを発生
するものである。

検査の信頼性は光学的検査工程から引出された
信号を標準化することにより高められる。これら
の信号は問題のペレツト特性とは無関係な因子に
よつて変化し得るものであり、この信号の標準化
はこのような変動を補償するものである。

以上述べた自動光学検査法、装置及びシステム
は実施例における燃料棒用ペレツト以外の他の円
筒物体、例えばチユーブ、罐、瓶などの検査にも
等しく適用され、その技術構成自体に関する種々
の数値的及び部分的変更も本発明の範囲内におい
て種々の実施し得るものである。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の典型的な実施例として構成さ
れた検査システムにおける光学走査及びデータ処
理装置のブロツク線図、第１Ａ〜１Ｆ図及び第２
Ａ〜２Ｆ図はストローブ機能を発揮するデコーダ
及びドライバの実施例を示す回路図、第３図及び
第４図は本発明に従つて構成された好ましい実施
例における光学走査及びデータ処理装置のブロツ
ク線図、第４Ａ図はコンパレータ及びラツチ回路
を示す図、第４Ｂ図は外部トランスデユーサへの
動作信号を発生するための回路を示す図、第５図
〜第２３図、第２４Ａ図、第２４Ｂ図及び第２５
図並びに第３０〜３２図は、本発明の好ましい実
施例に従つて構成された検査システムにおいて用
いられる光学走査及びデータ処理装置の機能を略
示するブロツク線図、第２６図は前記検査システ
ムにおいて採用された前進走査技術を示す略図、
第２７図は前記検査システムのペレツト操作部分
を示す斜視図、第２８及び２９図は前記システム
のそれぞれ軸方向及び横方向の光学走査部分を示
す斜視図である。 ５０……円筒型ペレツト、５１，５２……グラ
インダーホイール、５３……エンドレスベルト、
５４……束ね装置、５６，５７……ローラー、５
８……プツシヤ、５９……ペレツト束、５９Ａ…
…走行機構台、６０，６１……レール、６２……
モータ、６６……検査ステーシヨン、７０，７１
……振り分けシユート、７４……収集機構。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 実質上円筒形を有するペレツトを実質上同軸
   かつ端面接触関係において縦列配置したものを、
   個々に所定の長さを含む基準値と比較するための
   連続検査システムであつて、 前記ペレツトの縦列を制御された線速度及び角
   速度において、前記縦列の軸に関する螺線運動を
   与えることにより光学検査ステーシヨンに送るよ
   うに、所定の通路に沿つて前進させるための搬送
   手段と、 前記光学検査ステーシヨン中に含まれ、前記ペ
   レツトが所定の静止観察領域の視界内を進行する
   とき、前記通路中における少くとも１個のペレツ
   ト長より長い細長検査範囲を光照射するための手
   段と、 前記静止観察領域内に配置され、前記光照射さ
   れたペレツトから反射した光強度の関数としての
   出力信号を各々発生するための複数の光検出装置
   の直線的アレーと、 前記出力信号を周期的に走査して連続走査から
   得られた各ペレツトの選択的な特性を現わすビデ
   オ信号を引き出すための手段と、 前記ビデオ信号の前処理回路とを備え、前記前
   処理回路が、 前記ビデオ信号から前記検査中ペレツトの前記
   基準値に対する一致状態を示すデータを抽出する
   ための手段と、 前記抽出データを圧縮してさらなるデータ処理
   のために前処理データを提供する割合を少くする
   ための手段と、 前記ビデオ信号を標準化し、前記ペレツトの検
   査において前記基準値と一致しない因子により生
   じた信号の変動を補償するための手段と、 前記ビデオ信号に応答して、複数回の走査中の
   選択的な同一アレー位置において各々発生する複
   数の減衰されたビデオ信号の振幅より、前記端面
   接触部分の各々を検出するための手段と、 前記検出信号に応答して１群の連続したアレー
   素子に対応する複数の信号を選択し、その出力信
   号が単一のペレツトから受光した光信号に対応す
   るようにしたトラツクゲートを発生するための手
   段と、 前記単一のペレツトの線速度に応答して前記ト
   ラツクゲートを前進させるための手段とを含むこ
   とにより、 前記トラツクゲートが前記直線的に移動する単
   一ペレツトの端面接触部を追跡するとともに、ト
   ラツクゲートの前縁及び後縁により前記ペレツト
   に対応する信号を連続的に一括把握するようにし
   たことを特徴とする実質的円筒形ペレツトの連続
   検査システム。