JPH0330184A - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置Info
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- JPH0330184A JPH0330184A JP1164308A JP16430889A JPH0330184A JP H0330184 A JPH0330184 A JP H0330184A JP 1164308 A JP1164308 A JP 1164308A JP 16430889 A JP16430889 A JP 16430889A JP H0330184 A JPH0330184 A JP H0330184A
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- Dram (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、半導体記憶装置に関するもので、例えば、
画像メモリ等に供されるマルチボートRAM(ランダム
アクセスメモリ)等に利用して特に有効な技術に関する
ものである。
画像メモリ等に供されるマルチボートRAM(ランダム
アクセスメモリ)等に利用して特に有効な技術に関する
ものである。
記憶データを数ビット単位でランダムに人出力するラン
ダムアクセスポートと、一連の記tQデータを例えばC
RT (陰極線管)ディスプレイ装置のドノトレートに
従ってシリアルに出力するシリアルアクセスポートとを
有し、画像メモリ等に供されるマルチボートRAM (
デュアルポートメモリ)がある。マルチボートRAMの
シリアルアクセスポートは、ランダムアクセスポートと
の間でパラレルに授受される記憶データを並直列変換す
るためのデータレジスタを含む。
ダムアクセスポートと、一連の記tQデータを例えばC
RT (陰極線管)ディスプレイ装置のドノトレートに
従ってシリアルに出力するシリアルアクセスポートとを
有し、画像メモリ等に供されるマルチボートRAM (
デュアルポートメモリ)がある。マルチボートRAMの
シリアルアクセスポートは、ランダムアクセスポートと
の間でパラレルに授受される記憶データを並直列変換す
るためのデータレジスタを含む。
マルチポートRAMについては、例えば、日経マグロウ
ヒル社発行の1986年3月24日付r日経エレクトロ
ニクスJ第243頁〜第264頁に記載されている。
ヒル社発行の1986年3月24日付r日経エレクトロ
ニクスJ第243頁〜第264頁に記載されている。
画像メモリを含む画像処理システム等では、システム性
能の向上にともなって、画像メモリに保持される画像デ
ータやマルチボー}RAM等のデークレジスタに取り込
まれた画像データを全面的に又は部分的にクリアしある
いはカラーコードのような属性データにそって一斉に書
き換えることが、比較的有効な機能となりつつある。
能の向上にともなって、画像メモリに保持される画像デ
ータやマルチボー}RAM等のデークレジスタに取り込
まれた画像データを全面的に又は部分的にクリアしある
いはカラーコードのような属性データにそって一斉に書
き換えることが、比較的有効な機能となりつつある。
ところが、上記に記載されるような従来のマルチボート
ri!AMは、上記機能を実現するための専用のハード
ウェアを具備しない。したがって、このマルチボートR
AMによって上記機能を実現しようとすると、画像デー
タをランダムアクセスボートを介して数ビット単位で書
き換えるか、シリアルアクセスポートを介してワード線
単位で書き換える方法を採らざるを得ない。しかし、ラ
ンダムアクセスポートを介してデータを書き換える場合
、書き換えの単位が数ビットであることから相当の時間
を必要とし、シリアルアクセスポートを介して書き換え
る場合、その間、画像データの出力動作が停止されるた
めCRTディスプレイ装置等による画像表示が途絶えて
しまう。
ri!AMは、上記機能を実現するための専用のハード
ウェアを具備しない。したがって、このマルチボートR
AMによって上記機能を実現しようとすると、画像デー
タをランダムアクセスボートを介して数ビット単位で書
き換えるか、シリアルアクセスポートを介してワード線
単位で書き換える方法を採らざるを得ない。しかし、ラ
ンダムアクセスポートを介してデータを書き換える場合
、書き換えの単位が数ビットであることから相当の時間
を必要とし、シリアルアクセスポートを介して書き換え
る場合、その間、画像データの出力動作が停止されるた
めCRTディスプレイ装置等による画像表示が途絶えて
しまう。
この発明の目的は、高速クリア機能を有するマルチポー
}RAM等の半導体記憶装置を提供することにある。
}RAM等の半導体記憶装置を提供することにある。
この発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、
この明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろ
う。
この明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろ
う。
本願において開示される実施例のうち代表的なものの概
要を簡単に説明すれば、下記の通りである。
要を簡単に説明すれば、下記の通りである。
すなわち、マルチボー}RAM等において、シリアルア
クセスポートに設けられるデータレジスクを、ランダム
アクセスポートのセンスアンプと同様に、一対のコモン
ソース線を介して回路の電源電圧及び接地電位が選択的
に供給されることで選択的に動作状態とされる複数の単
位増幅回路を基本として構成し、上記センスアンプ及び
/又はデータレジスタを構成する単位地幅回路の非反転
及び反転入出力ノードと上記コモンソース線の一方又は
他方との間に、単位1曽幅回路が非動作状態とされると
き及び動作状態とされる当初において選択的にオン状態
とされるプリセ・ノ}MOSFETを設け、これらのM
OSFETをプリチャージMOSFETとして兼用する
. 〔作 用〕 上記手段によれば、多くの回路素子を追加することなく
、またその通常機能を制約することなく、高速クリア機
能を有するマルチボ−1−RAM等を実現できる。これ
により、上記マルチポートRAM等を画像メモリとする
画像処理システム等の性能を高めることができる. 〔実施例〕 第2図には、この発明が通用されたマルチポ−1−RA
Mの一実施例のブロノク図が示されている。
クセスポートに設けられるデータレジスクを、ランダム
アクセスポートのセンスアンプと同様に、一対のコモン
ソース線を介して回路の電源電圧及び接地電位が選択的
に供給されることで選択的に動作状態とされる複数の単
位増幅回路を基本として構成し、上記センスアンプ及び
/又はデータレジスタを構成する単位地幅回路の非反転
及び反転入出力ノードと上記コモンソース線の一方又は
他方との間に、単位1曽幅回路が非動作状態とされると
き及び動作状態とされる当初において選択的にオン状態
とされるプリセ・ノ}MOSFETを設け、これらのM
OSFETをプリチャージMOSFETとして兼用する
. 〔作 用〕 上記手段によれば、多くの回路素子を追加することなく
、またその通常機能を制約することなく、高速クリア機
能を有するマルチボ−1−RAM等を実現できる。これ
により、上記マルチポートRAM等を画像メモリとする
画像処理システム等の性能を高めることができる. 〔実施例〕 第2図には、この発明が通用されたマルチポ−1−RA
Mの一実施例のブロノク図が示されている。
また、第1図には、第2図のマルチポー1−RAMのデ
ータレジスタ及びその周辺回路の一実施例の回路図が示
されている。これらの図をもとに、この実施例のマルチ
ポートRAMの構戒とその特徴について説明する。なお
、第1図の回路素子ならびに第2図の各ブロノクを構戒
する回路素子は、特に制限されないが、半導体集積回路
技術によって、単結晶シリコンのような1涸の半導体基
板上において形威される.第2図において、SIO3等
の記号が付された比較的小さいサイズの方形の記号は、
半導体集積回路の外部端子を意味する.また、以下の図
において、そのチャンネル(バ・ノクゲート)部に矢印
が付加されるMOSFET (金属酸化物半導体型電界
効果トランジスタ。この明8[書では、MOSFETを
して絶縁ゲート型電界効果トランジスタの総称とする)
はPチャンネル型であって、矢印の付加されないNチャ
ンネルMOSFETと区別して示される。
ータレジスタ及びその周辺回路の一実施例の回路図が示
されている。これらの図をもとに、この実施例のマルチ
ポートRAMの構戒とその特徴について説明する。なお
、第1図の回路素子ならびに第2図の各ブロノクを構戒
する回路素子は、特に制限されないが、半導体集積回路
技術によって、単結晶シリコンのような1涸の半導体基
板上において形威される.第2図において、SIO3等
の記号が付された比較的小さいサイズの方形の記号は、
半導体集積回路の外部端子を意味する.また、以下の図
において、そのチャンネル(バ・ノクゲート)部に矢印
が付加されるMOSFET (金属酸化物半導体型電界
効果トランジスタ。この明8[書では、MOSFETを
して絶縁ゲート型電界効果トランジスタの総称とする)
はPチャンネル型であって、矢印の付加されないNチャ
ンネルMOSFETと区別して示される。
この実施例のマルチポートRAMは、特に制限されない
が、通当なアドレスにランダム入出力回路RIOを介し
て記憶データをランダムに入出力するランダムアクセス
ポートRAPと、通当なワード線に結合される複数のメ
モリセルに対しシリアル入出力回路SIOを介して記憶
データをシリアルに入出力するシリアルアクセスポート
SAPとを備える。各アクセスポートは、ボート間のデ
ータ転送時を除いてそれぞれ独立に動作状態とされ、と
もに4ビットの記憶データを同時に入出力する。ランダ
ムアクセスポートRAP及びシリアルアクセスポー}S
AP間のデータ転送動作は、ワード線単位で行われる。
が、通当なアドレスにランダム入出力回路RIOを介し
て記憶データをランダムに入出力するランダムアクセス
ポートRAPと、通当なワード線に結合される複数のメ
モリセルに対しシリアル入出力回路SIOを介して記憶
データをシリアルに入出力するシリアルアクセスポート
SAPとを備える。各アクセスポートは、ボート間のデ
ータ転送時を除いてそれぞれ独立に動作状態とされ、と
もに4ビットの記憶データを同時に入出力する。ランダ
ムアクセスポートRAP及びシリアルアクセスポー}S
AP間のデータ転送動作は、ワード線単位で行われる。
この実施例において、マルチボートRAMのシリアルア
クセスボー}SAPは、記憶データの直並列変換を実現
するためのデータレジスタDRを備える.データレジス
タDRは、メモリアレイMARYの各相補データ線に対
応して設けられ、かつセンスアンブSAと同様に所定の
タイミング信号に従って遼択的に動作状態とされる複数
の単位増幅回路を基本構戒とする.マルチポー}RAM
は、特に制限されないが、クリアモード信号CMがロウ
レベルとされるとき、上記データレジスタDRを構戒す
るすべての単位増幅回路の相補入出力ノードを論理″0
”にプリセッ1・シ、これを転送することで、指定され
るワード線に結合されるメモリセルの記憶データを一斉
にクリアするいわゆる高速クリア機能を有する。
クセスボー}SAPは、記憶データの直並列変換を実現
するためのデータレジスタDRを備える.データレジス
タDRは、メモリアレイMARYの各相補データ線に対
応して設けられ、かつセンスアンブSAと同様に所定の
タイミング信号に従って遼択的に動作状態とされる複数
の単位増幅回路を基本構戒とする.マルチポー}RAM
は、特に制限されないが、クリアモード信号CMがロウ
レベルとされるとき、上記データレジスタDRを構戒す
るすべての単位増幅回路の相補入出力ノードを論理″0
”にプリセッ1・シ、これを転送することで、指定され
るワード線に結合されるメモリセルの記憶データを一斉
にクリアするいわゆる高速クリア機能を有する。
第2図において、ランダムアクセスポートRAPは、メ
モリアレイMARYを含む。メモリアレイMARYは、
その内部構威の詳細は本発明に直接関係しないので図示
しないが、マトリクス配置された複数のダイナ文ンク型
メモリセルと、同図の垂直方向に配置されるm+1本の
ワード線WO〜Wmと、水平方向に配置されるn+1組
の相補データ線旦0〜Dn(ここで、例えば非反転デー
タ線DOと反転データ線DOをあわせて相補データ線旦
0のように表す。以下、相補信号線について同様)を含
む。各ダイナミック型メモリセルは、特に制限されない
が、一つのスイソチMOSFETと一つの情報記憶用容
量とからなるいわゆるlトランジスタ/セル型のメモリ
セルからなる。メモリアレイMARYは、いわゆる2交
点方式の構戒とされ、それ故に、上記ワード線及び相補
データ線の交点に設けられた合計(m+l)X (n+
1)118のダイナ主ツタ型メモリセルを持つ。
モリアレイMARYを含む。メモリアレイMARYは、
その内部構威の詳細は本発明に直接関係しないので図示
しないが、マトリクス配置された複数のダイナ文ンク型
メモリセルと、同図の垂直方向に配置されるm+1本の
ワード線WO〜Wmと、水平方向に配置されるn+1組
の相補データ線旦0〜Dn(ここで、例えば非反転デー
タ線DOと反転データ線DOをあわせて相補データ線旦
0のように表す。以下、相補信号線について同様)を含
む。各ダイナミック型メモリセルは、特に制限されない
が、一つのスイソチMOSFETと一つの情報記憶用容
量とからなるいわゆるlトランジスタ/セル型のメモリ
セルからなる。メモリアレイMARYは、いわゆる2交
点方式の構戒とされ、それ故に、上記ワード線及び相補
データ線の交点に設けられた合計(m+l)X (n+
1)118のダイナ主ツタ型メモリセルを持つ。
メモリアレイMARYを構成するワード線は、ロウアド
レスデコーダRDに結合され、択一的に選択状態とされ
る.ロウアドレスデコーダRDには、ロウアドレスバッ
ファRABからi+lビ・ノトの相禎内部アドレス信号
axQ〜axiが供給され、タイミング発生回路TOか
らタイミング信号φXが供給される。
レスデコーダRDに結合され、択一的に選択状態とされ
る.ロウアドレスデコーダRDには、ロウアドレスバッ
ファRABからi+lビ・ノトの相禎内部アドレス信号
axQ〜axiが供給され、タイミング発生回路TOか
らタイミング信号φXが供給される。
ロウアドレスデコーダRDは、上記タイミング[−φX
がハイレベルとされることで、選択的に動作状態とされ
る。この動作状態において、ロウアドレスデコーダRD
は、上記相補内部アドレス信qaxO〜axlをデコー
ドし、メモリアレイMARYの対応するワード線を択一
的にハイレヘルの選択状態とする。
がハイレベルとされることで、選択的に動作状態とされ
る。この動作状態において、ロウアドレスデコーダRD
は、上記相補内部アドレス信qaxO〜axlをデコー
ドし、メモリアレイMARYの対応するワード線を択一
的にハイレヘルの選択状態とする。
ロウアドレスバッファRABは、アドレス入力端子AO
〜Aiを介して時分割的に供給されるXアドレス信!A
XO〜AXiを、タイミング信号φarに従って取り込
み、これを保持する。また、これらのXアドレス信号を
もとに、上記相袖内部アドレス信号土xO〜axiを形
威し、ロウアドレスデコーダRDに供給する。
〜Aiを介して時分割的に供給されるXアドレス信!A
XO〜AXiを、タイミング信号φarに従って取り込
み、これを保持する。また、これらのXアドレス信号を
もとに、上記相袖内部アドレス信号土xO〜axiを形
威し、ロウアドレスデコーダRDに供給する。
次に、メモリアレイMARYを構成する相補データ線は
、その一方において、センスアンブSAの対応する単位
増幅回路に結合されるとともに、シリアルアクセスポー
トSAPのデータレジスタDRの対応する単位増幅回路
に結合される。相捕データ線は、その他方において、カ
ラムスイソチCSWの対応するスイソチM O S F
E Tを介して、RAP用相補共通データ線CDRO
〜CDR3に4組ずつ選択的に接続される。
、その一方において、センスアンブSAの対応する単位
増幅回路に結合されるとともに、シリアルアクセスポー
トSAPのデータレジスタDRの対応する単位増幅回路
に結合される。相捕データ線は、その他方において、カ
ラムスイソチCSWの対応するスイソチM O S F
E Tを介して、RAP用相補共通データ線CDRO
〜CDR3に4組ずつ選択的に接続される。
センスアンプSAは、特に制限されないが、メモリアレ
イMARYの相補デーク線に対応して設けられるn+l
涸の単位埠幅回路と単位プリチャージ回路とを含む。
イMARYの相補デーク線に対応して設けられるn+l
涸の単位埠幅回路と単位プリチャージ回路とを含む。
このうち、単位増幅回路は、後述するデータレジスタD
Rの単位l曽幅回路と同様に、一対のCMOSインバー
タ回路が交差接続されてなるランチ回路を基本構成とす
る。これらのラッチ回路は、特に制限されないが、タイ
ミング発生回路TGから供給される相補クイ主ング信号
1p a rが論理“1″ (ここで、例えば非反転タ
イミング信号φparがハイレベルとされ反転タイミン
グ信号φparがロウレベルとされる状態を論理“l”
と称し、逆の状態を論理“0”と称する.以下、相?I
N信号について同様)とされることで、選択的にかつ一
斉に動作状態とされる。この動作状態において、各単位
増幅回路は、メモリアレイMARYの選択されたワード
線に結合されるn+l涸のメモリセルから対応する相補
データ線を介して出力される微小読み出し信号を増幅し
、ハイレヘル又はロウレベルの2埴読み出し信号とする
。
Rの単位l曽幅回路と同様に、一対のCMOSインバー
タ回路が交差接続されてなるランチ回路を基本構成とす
る。これらのラッチ回路は、特に制限されないが、タイ
ミング発生回路TGから供給される相補クイ主ング信号
1p a rが論理“1″ (ここで、例えば非反転タ
イミング信号φparがハイレベルとされ反転タイミン
グ信号φparがロウレベルとされる状態を論理“l”
と称し、逆の状態を論理“0”と称する.以下、相?I
N信号について同様)とされることで、選択的にかつ一
斉に動作状態とされる。この動作状態において、各単位
増幅回路は、メモリアレイMARYの選択されたワード
線に結合されるn+l涸のメモリセルから対応する相補
データ線を介して出力される微小読み出し信号を増幅し
、ハイレヘル又はロウレベルの2埴読み出し信号とする
。
一方、センスアンプSAの単位プリチャージ回路は、特
に制限されないが、対応する相禎デーク線の非反転及び
反転信号線間に設けられる複数のプリチャージMO S
F ETをそれぞれ含む。これらのMO S F E
Tは、マルチポートRAMが非選択状態とされタイミン
グ信号φpCrがハイレヘルとされることで選択的にオ
ン状態とされ、対応する相補データ線の非反転及び反転
信号線を短絡しかつハーフプリチャージレベルとする。
に制限されないが、対応する相禎デーク線の非反転及び
反転信号線間に設けられる複数のプリチャージMO S
F ETをそれぞれ含む。これらのMO S F E
Tは、マルチポートRAMが非選択状態とされタイミン
グ信号φpCrがハイレヘルとされることで選択的にオ
ン状態とされ、対応する相補データ線の非反転及び反転
信号線を短絡しかつハーフプリチャージレベルとする。
マルチポートRAMが選択状態とされ上記タイミング信
号φpcrがロウレベルとされるとき、上記ブリチャー
ジMO S F ETによる相補データ線のプリチャー
ジ動作は停止される。
号φpcrがロウレベルとされるとき、上記ブリチャー
ジMO S F ETによる相補データ線のプリチャー
ジ動作は停止される。
カラムスイッチCSWは、メモリアレイMARYの相補
データ線に対応して設けられるn+l組のスイノチMO
SFETtl−含む。これらのスイノチMO S F
ETの一方は、メモリアレイMARYの対応する相補デ
ータ線にそれぞれ結合され、その他方は、RAP用相補
共通データ線CDRO〜CDR3に4組おきに共通結合
される。これにより、これらのスイソチMOSFETは
それぞれ4組ずつ群分割されるものとなる。各群を構戊
する4組のスイッチMOSFETのゲートはそれぞれ共
通結合され、RAP用力ラムアドレスデコーダRCDか
ら対応するデータ線選択信号が供給される。各群を構成
する4組のスイッチMOSFETは、対応する上記デー
タ線遺択信号が択一的にハイレベルとされることで一斉
にオン状態となり、メモリアレイMARYの対応する4
組の相補データ線とRAP用相補共通データ線CDRO
〜旦DR3を選択的に接続する。
データ線に対応して設けられるn+l組のスイノチMO
SFETtl−含む。これらのスイノチMO S F
ETの一方は、メモリアレイMARYの対応する相補デ
ータ線にそれぞれ結合され、その他方は、RAP用相補
共通データ線CDRO〜CDR3に4組おきに共通結合
される。これにより、これらのスイソチMOSFETは
それぞれ4組ずつ群分割されるものとなる。各群を構戊
する4組のスイッチMOSFETのゲートはそれぞれ共
通結合され、RAP用力ラムアドレスデコーダRCDか
ら対応するデータ線選択信号が供給される。各群を構成
する4組のスイッチMOSFETは、対応する上記デー
タ線遺択信号が択一的にハイレベルとされることで一斉
にオン状態となり、メモリアレイMARYの対応する4
組の相補データ線とRAP用相補共通データ線CDRO
〜旦DR3を選択的に接続する。
RAP用力ラムアドレスデコーダRCDには、特に制限
されないが、カラムアドレスバソファC,ABからl+
1ピントの相禎内部アドレス信号ユyO〜ayiが供給
され、タイミング発生回路TGからタイミング信号φy
rが供給される。
されないが、カラムアドレスバソファC,ABからl+
1ピントの相禎内部アドレス信号ユyO〜ayiが供給
され、タイミング発生回路TGからタイミング信号φy
rが供給される。
RAP用力ラムアドレスデコーダRCDは、上記タイミ
ング信号φyrがハイレベルとされることで、選択的に
動作状態とされる。この動作状態ニオイて、RAP用力
ラムアドレスデコーダRCDは、上記相補内部アドレス
信号ayo−wayiをデコードし、対応する上記デー
タ線選択信号を択一的にハイレヘルとする。
ング信号φyrがハイレベルとされることで、選択的に
動作状態とされる。この動作状態ニオイて、RAP用力
ラムアドレスデコーダRCDは、上記相補内部アドレス
信号ayo−wayiをデコードし、対応する上記デー
タ線選択信号を択一的にハイレヘルとする。
カラムアドレスバソファCABは、特に制限されないが
、アドレス入力端子AO〜Aiを介して時分割的に供給
されるYアドレス信号AYO−AYlをタイミング信号
φacに従って取り込み、これを保持する。また、これ
らのYアドレス信号をもとに、上記相補内部アドレス信
号ayQ〜まyiを形成し、RAP用力ラムアドレスデ
コーダRCDに供給する。相捕内部アドレス信号ayQ
〜土yiは、l&述するSAP用力ラムアドレスデコー
ダSCDにも供給される。
、アドレス入力端子AO〜Aiを介して時分割的に供給
されるYアドレス信号AYO−AYlをタイミング信号
φacに従って取り込み、これを保持する。また、これ
らのYアドレス信号をもとに、上記相補内部アドレス信
号ayQ〜まyiを形成し、RAP用力ラムアドレスデ
コーダRCDに供給する。相捕内部アドレス信号ayQ
〜土yiは、l&述するSAP用力ラムアドレスデコー
ダSCDにも供給される。
RAP用相補共通データ線旦DRO〜.fLDR3は、
ランダム入出力回路RIOの対応する単位回路の一方の
入出力端子に結合される。これらの単位回路の他方の入
出力端子は、対応するデータ入出力端子RIOO〜RI
O3に結合される。ランダム入出力回路RIOの各単位
回路には、タイミング発生回路TGから、タイミング信
号φwr及びφOeが共通に供給される。
ランダム入出力回路RIOの対応する単位回路の一方の
入出力端子に結合される。これらの単位回路の他方の入
出力端子は、対応するデータ入出力端子RIOO〜RI
O3に結合される。ランダム入出力回路RIOの各単位
回路には、タイミング発生回路TGから、タイミング信
号φwr及びφOeが共通に供給される。
ランダム入出力回路RIOの各単位回路は、マルチボー
トRAMがランダム書き込み動作モードとされるように
上記タイミング信号φwrがハイレベルとされることで
、選択的に動作状態とされる。この動作状態において、
各単位回路は、データ入出力端子RIOO〜Rf03を
介して供給される4ビットの書き込みデータを相禎書き
込み信号とし、対応するRAP用相禎共通データ線CD
RO〜一CDR3にそれぞれ伝達する.同様に、ランダ
ム入出力回路RIOの各単位回路は、マルチポートRA
Mがランダム読み出し動作モードとされるように上記タ
イミング信号φ06がハイレベルとされることで、選択
的に動作状態とされる。
トRAMがランダム書き込み動作モードとされるように
上記タイミング信号φwrがハイレベルとされることで
、選択的に動作状態とされる。この動作状態において、
各単位回路は、データ入出力端子RIOO〜Rf03を
介して供給される4ビットの書き込みデータを相禎書き
込み信号とし、対応するRAP用相禎共通データ線CD
RO〜一CDR3にそれぞれ伝達する.同様に、ランダ
ム入出力回路RIOの各単位回路は、マルチポートRA
Mがランダム読み出し動作モードとされるように上記タ
イミング信号φ06がハイレベルとされることで、選択
的に動作状態とされる。
この動作状態において、各単位回路は、RAP用相禎共
通データIJICDRO−CDR3を介して伝達される
読み出し信号をさらに増幅し、データ人出力端子R10
0〜RI03から送出する。
通データIJICDRO−CDR3を介して伝達される
読み出し信号をさらに増幅し、データ人出力端子R10
0〜RI03から送出する。
第2図において、マルチボートRAMのシリアルアクセ
スポートSAPは、特に制限されないが、データレジス
タDRとデータセレククDSLならびにポインタPNT
及びSAP用カラムアドレスデコーダSCDを備える。
スポートSAPは、特に制限されないが、データレジス
タDRとデータセレククDSLならびにポインタPNT
及びSAP用カラムアドレスデコーダSCDを備える。
このうち、データレジスタDRは、第1図に例示される
ように、メモリアレイMARYの相禎データ線に対応し
て設けられたn + 1 (IIの単位増幅回路UDR
O〜UDR3等を含む。これらの単位増幅回路は、単位
増幅回路UDROに代表して示されるように、Pチャン
ネルMOSFETQI及びNチャンネルMOSFETQ
I lならびにPチャンネルMOSFETQ2及びNチ
ャンネルMOSFETQ12からなる2個のCMOSイ
ンバータ回路が交差接続されてなるランチを基本構成と
する.MOSFETQI及びQllの共通結合されたド
レインすなわちMOSFETQ2及びQ12の共通結合
されたゲートは、各単位増幅回路の非反転入出力ノード
DDOとされ、データ転送用のスイッチMOSFETQ
I 5等を介して、対応する相捕データ線の非反転信号
線DO等に結合される.同様に、MOSFETQ2及び
Q12の共通結合されたドレインすなわちMOSFET
QI及びQILの共通結合されたゲートは、各単位増幅
回路の反転入出力ノードDDOとされ、データ転送用の
スイッチMOSFETQ16等を介して、対応する相補
データ線の反転信号線DO等に結合される。上記データ
転送用のスインチMOSFETQ15及びQl6等のゲ
ートはすべて共通結合され、タイミング発生回路TOか
らタイ【ング信号φtrが供給される。, ここで、タイミング信号φtrは、通常口ウレベルとさ
れ、マルチボ−1−RAMが読み出し又は書き込みデー
タ転送モードで選択状態とされるとき、所定のタイミン
グで一時的にハイレベルとされる.スイッチMOSFE
TQI 5及びQ16等は、タイ)ング信号φtrがハ
イレヘルとされることで選択的にオン状態となり、デー
タレジスタDRの対応する単位増幅回路の非反転及び反
転入出力ノードを、メモリアレイMARYの対応する相
補データ線の非反転及び反転信号線に一時的に接続する
。その結果、データレジスクDRを構威するn + l
l[ljの単位増幅回路とメモリアレイMARYの選
択されたワード線に結合されるn + 1 {固のメモ
リセルとの間で、記憶データのパラレル転送が行われる
. 各単位増幅回路を構成するMO S F ETQ 1及
びQ2のソースは、コモンソース線SP(第1のコモン
ソース線)に共通結合され、MOSFETQll及びQ
12のソースは、コモンソース線SN(第2のコモンソ
ース線)に共通結合される。
ように、メモリアレイMARYの相禎データ線に対応し
て設けられたn + 1 (IIの単位増幅回路UDR
O〜UDR3等を含む。これらの単位増幅回路は、単位
増幅回路UDROに代表して示されるように、Pチャン
ネルMOSFETQI及びNチャンネルMOSFETQ
I lならびにPチャンネルMOSFETQ2及びNチ
ャンネルMOSFETQ12からなる2個のCMOSイ
ンバータ回路が交差接続されてなるランチを基本構成と
する.MOSFETQI及びQllの共通結合されたド
レインすなわちMOSFETQ2及びQ12の共通結合
されたゲートは、各単位増幅回路の非反転入出力ノード
DDOとされ、データ転送用のスイッチMOSFETQ
I 5等を介して、対応する相捕データ線の非反転信号
線DO等に結合される.同様に、MOSFETQ2及び
Q12の共通結合されたドレインすなわちMOSFET
QI及びQILの共通結合されたゲートは、各単位増幅
回路の反転入出力ノードDDOとされ、データ転送用の
スイッチMOSFETQ16等を介して、対応する相補
データ線の反転信号線DO等に結合される。上記データ
転送用のスインチMOSFETQ15及びQl6等のゲ
ートはすべて共通結合され、タイミング発生回路TOか
らタイ【ング信号φtrが供給される。, ここで、タイミング信号φtrは、通常口ウレベルとさ
れ、マルチボ−1−RAMが読み出し又は書き込みデー
タ転送モードで選択状態とされるとき、所定のタイミン
グで一時的にハイレベルとされる.スイッチMOSFE
TQI 5及びQ16等は、タイ)ング信号φtrがハ
イレヘルとされることで選択的にオン状態となり、デー
タレジスタDRの対応する単位増幅回路の非反転及び反
転入出力ノードを、メモリアレイMARYの対応する相
補データ線の非反転及び反転信号線に一時的に接続する
。その結果、データレジスクDRを構威するn + l
l[ljの単位増幅回路とメモリアレイMARYの選
択されたワード線に結合されるn + 1 {固のメモ
リセルとの間で、記憶データのパラレル転送が行われる
. 各単位増幅回路を構成するMO S F ETQ 1及
びQ2のソースは、コモンソース線SP(第1のコモン
ソース線)に共通結合され、MOSFETQll及びQ
12のソースは、コモンソース線SN(第2のコモンソ
ース線)に共通結合される。
コモンソース線SPは、特に制限されないが、Pチャン
ネル型の駆動MOSFETQ3及びQ4を介して回路の
電源電圧Vcc (第1の電源電圧)に結合され、コモ
ンソース線SNは、Nチャンネル型の駆動MOSFET
Q2 1及びQ22を介して回路の接地電位(第2の電
源電圧)に結合される。これらの駆動MOSFETQ3
及びQ 4 ナらびにQ21及びQ22のゲートには、
タイミング発生回路TGから、相補タイミング信号..
!ILpa1及びipa2(第1のタイミング信号)す
なわち反転タイミング信号φpal及びφpa2ならび
に非反転タイミング信号φpal及びφpa2がそれぞ
れ供給される。
ネル型の駆動MOSFETQ3及びQ4を介して回路の
電源電圧Vcc (第1の電源電圧)に結合され、コモ
ンソース線SNは、Nチャンネル型の駆動MOSFET
Q2 1及びQ22を介して回路の接地電位(第2の電
源電圧)に結合される。これらの駆動MOSFETQ3
及びQ 4 ナらびにQ21及びQ22のゲートには、
タイミング発生回路TGから、相補タイミング信号..
!ILpa1及びipa2(第1のタイミング信号)す
なわち反転タイミング信号φpal及びφpa2ならび
に非反転タイミング信号φpal及びφpa2がそれぞ
れ供給される。
ここで、相補タイミング信号1pal及びipa2は、
通常論理“0′″とされ、マルチポートRAMが読み出
し又は書き込みデータ転送モードあるいはクリアモード
等で選択状態とされるとき、所定のタイミングでかつ所
定の時間差をもって順次論理“1′とされ、シリアルア
クセスポートSAPによる記憶データのシリアル人出力
動作が実行される間、論理“1″のままとされる。した
がって、データレジスタDRの各単位増幅回路は、上記
相禎タイミング信号1pal及び1pa2が順次論理“
ビとされ、コモンソース線SP及びSNを介して回路の
電源電圧Vcc又は接地電位がそれぞれ段階的に供給さ
れることで、選択的に動作状態とされる。この動作状態
において、各単位増幅回路は、メモリアレイMARYの
選択されたワード線に結合されるn + l {[1の
メモリセルから対応する相捕データ線を介して転送され
る読み出し信号を増幅し、これを保持する。
通常論理“0′″とされ、マルチポートRAMが読み出
し又は書き込みデータ転送モードあるいはクリアモード
等で選択状態とされるとき、所定のタイミングでかつ所
定の時間差をもって順次論理“1′とされ、シリアルア
クセスポートSAPによる記憶データのシリアル人出力
動作が実行される間、論理“1″のままとされる。した
がって、データレジスタDRの各単位増幅回路は、上記
相禎タイミング信号1pal及び1pa2が順次論理“
ビとされ、コモンソース線SP及びSNを介して回路の
電源電圧Vcc又は接地電位がそれぞれ段階的に供給さ
れることで、選択的に動作状態とされる。この動作状態
において、各単位増幅回路は、メモリアレイMARYの
選択されたワード線に結合されるn + l {[1の
メモリセルから対応する相捕データ線を介して転送され
る読み出し信号を増幅し、これを保持する。
ところで、上記コモンソース線SP及びSNの間には、
特に制限されないが、NチャンネルMOSFETQl9
が設けられる.また、コモンソース線SNと内部電圧供
給点Vpcとの間には、NチャンネルMOSFETQ2
0が設けられる。これらのMOSFETQ19及びQ
20のゲートは共通結合され、クイ主ング発生回路TG
からタイミング信号φpcsが供給される。
特に制限されないが、NチャンネルMOSFETQl9
が設けられる.また、コモンソース線SNと内部電圧供
給点Vpcとの間には、NチャンネルMOSFETQ2
0が設けられる。これらのMOSFETQ19及びQ
20のゲートは共通結合され、クイ主ング発生回路TG
からタイミング信号φpcsが供給される。
ここで、タイミング信号φpcsは、通常ハイレベルと
され、上記相禎タイミング信号1pal及び1pa2が
論理“1”とされる直前においてロウレベルとされる.
また、内部電圧Vpcは、特に制限されないが、回路の
電源電圧Vccのほぼ二分の一すなわちハーフプリチャ
ージレベルとされる。したがって、MOSFETQI
9及びQ20は、マルチボー}RAMが非選択状態とさ
れ上記タイミング信号φpcsがハイレベルとされるこ
とでオン状態となり、コモンソース線SP及びSNをハ
ーフプリチャージレベルとする。マルチポートRAMが
選択状態とされ、タイミング信号φpcsがロウレヘル
とされるとき、MOSFETQl9及びQ20はオフ状
態となり、上記ブリチャージ動作は停止される。
され、上記相禎タイミング信号1pal及び1pa2が
論理“1”とされる直前においてロウレベルとされる.
また、内部電圧Vpcは、特に制限されないが、回路の
電源電圧Vccのほぼ二分の一すなわちハーフプリチャ
ージレベルとされる。したがって、MOSFETQI
9及びQ20は、マルチボー}RAMが非選択状態とさ
れ上記タイミング信号φpcsがハイレベルとされるこ
とでオン状態となり、コモンソース線SP及びSNをハ
ーフプリチャージレベルとする。マルチポートRAMが
選択状態とされ、タイミング信号φpcsがロウレヘル
とされるとき、MOSFETQl9及びQ20はオフ状
態となり、上記ブリチャージ動作は停止される。
この実施例において、データレジスタDRの各単位増幅
回路の非反転入出力ノードDDOは、特に制限されない
が、さらにNチャンネルMOSFETQl4等(第1の
MOSFET)を介してコモンソース線SNに共通結合
される.同様に、各単位増幅回路の反転入出力ノードD
DOは、NチャンネルMOSFETQ1 3等(第2の
MOSFET)を介してコモンソース線SPに共通結合
される。これらのMOSFETQ13及びQL4等のゲ
ートはすべて共通結合され、タイミング発生回路TGか
らタイξング信号φps(第2のタイくング信号)が供
給される。
回路の非反転入出力ノードDDOは、特に制限されない
が、さらにNチャンネルMOSFETQl4等(第1の
MOSFET)を介してコモンソース線SNに共通結合
される.同様に、各単位増幅回路の反転入出力ノードD
DOは、NチャンネルMOSFETQ1 3等(第2の
MOSFET)を介してコモンソース線SPに共通結合
される。これらのMOSFETQ13及びQL4等のゲ
ートはすべて共通結合され、タイミング発生回路TGか
らタイξング信号φps(第2のタイくング信号)が供
給される。
ここで、タイミング信号φpsは、マルチポートRAM
が通常の読み出し又は書き込みデータ転送モードで選択
状態とされるとき、上記タイミング信号φpcsと同時
にハイレベル又はロウレベルとされる.これらのタイミ
ング信号φps及びφpcsがハイレベルとされるとき
、相補タイミング信号[pal及びipa2は論理“0
′とされ、コモンソース線SP及びSNには内部電圧V
pcが供給される。このため、MOSFETQI3及び
Q14等は、対応する単位1!@回路の相補入出力ノー
ドDDOを内部電圧Vpcすなわちハーフプリチャージ
レベルとするプリチャージMOSFETとして作用する
。一方、クリアモード信号CMがロウレベルとされるこ
とによりマルチポートRAMがクリアモードとされる場
合、上記タイミング信号φpsは、後述するように、タ
イミング信号φpcsならびに相褌タイミング信号1p
al及び]pa2に遅れてロウレベルとされる。
が通常の読み出し又は書き込みデータ転送モードで選択
状態とされるとき、上記タイミング信号φpcsと同時
にハイレベル又はロウレベルとされる.これらのタイミ
ング信号φps及びφpcsがハイレベルとされるとき
、相補タイミング信号[pal及びipa2は論理“0
′とされ、コモンソース線SP及びSNには内部電圧V
pcが供給される。このため、MOSFETQI3及び
Q14等は、対応する単位1!@回路の相補入出力ノー
ドDDOを内部電圧Vpcすなわちハーフプリチャージ
レベルとするプリチャージMOSFETとして作用する
。一方、クリアモード信号CMがロウレベルとされるこ
とによりマルチポートRAMがクリアモードとされる場
合、上記タイミング信号φpsは、後述するように、タ
イミング信号φpcsならびに相褌タイミング信号1p
al及び]pa2に遅れてロウレベルとされる。
この間、コモンソースijlsP及びSNは、プリチャ
ージを解かれ、回路の電源電圧Vcc及び接地電位がそ
れぞれ供給される。このため、MOSFETQ13及び
Q14等は、対応する単位増幅回路の非反転及び反転入
出力ノードに所定のレベル差を生じさせるプリセットM
OSFETとして作用する.その結果、各単位増幅回路
の相補入出力ノードは、増幅動作の当初において強制的
に論理“O″とされ、増幅動作後の保持データも論理“
0′すなわちクリア状態とされる。
ージを解かれ、回路の電源電圧Vcc及び接地電位がそ
れぞれ供給される。このため、MOSFETQ13及び
Q14等は、対応する単位増幅回路の非反転及び反転入
出力ノードに所定のレベル差を生じさせるプリセットM
OSFETとして作用する.その結果、各単位増幅回路
の相補入出力ノードは、増幅動作の当初において強制的
に論理“O″とされ、増幅動作後の保持データも論理“
0′すなわちクリア状態とされる。
データレジスタDRの各単位増幅回路の相補人出力ノー
ドDDOは、さらにデータセレクタDSLの対応するス
イッチMOSFETQl7・Ql8等に結合される. データセレクタDSLは、第1図に例示されるように、
データレジスタDRの単位増幅回路に対応して設けられ
るfi+l組のスイソチMOSFETQl?・Q18等
を含む.これらのスイッチMOSFIETの一方は、デ
ータレジスタDRの対応する単位増幅回路の相補入出力
ノード旦DO等に結合され、その他方は、SAP用相補
共通データ線CDSO〜CDS3に4組おきに共通結合
される.これにより、これらのスイッチMOSFETは
、それぞれ4組ずつ群分割される。各群を構成する4組
のスイッチMOSFETQI ?・Q18等のゲートは
それぞれ共通結合され、ポインタPNTから対応するデ
ータレジスタ選択信号SO3等が供給される.各群を構
成する4組のスイッチMOSFETQl?・Q18等は
、対応する上記データレジスタ選択信号303等が択一
的にハイレベルとされることで一斉にオン状態となり、
データレジスタDRの対応する4個の単位増幅回路とS
AP用相補共通データ線旦DSO−旦DS3を選択的に
接続する。
ドDDOは、さらにデータセレクタDSLの対応するス
イッチMOSFETQl7・Ql8等に結合される. データセレクタDSLは、第1図に例示されるように、
データレジスタDRの単位増幅回路に対応して設けられ
るfi+l組のスイソチMOSFETQl?・Q18等
を含む.これらのスイッチMOSFIETの一方は、デ
ータレジスタDRの対応する単位増幅回路の相補入出力
ノード旦DO等に結合され、その他方は、SAP用相補
共通データ線CDSO〜CDS3に4組おきに共通結合
される.これにより、これらのスイッチMOSFETは
、それぞれ4組ずつ群分割される。各群を構成する4組
のスイッチMOSFETQI ?・Q18等のゲートは
それぞれ共通結合され、ポインタPNTから対応するデ
ータレジスタ選択信号SO3等が供給される.各群を構
成する4組のスイッチMOSFETQl?・Q18等は
、対応する上記データレジスタ選択信号303等が択一
的にハイレベルとされることで一斉にオン状態となり、
データレジスタDRの対応する4個の単位増幅回路とS
AP用相補共通データ線旦DSO−旦DS3を選択的に
接続する。
第2図において、ポインタPNTは、上記データセレク
タDSLの各群を構戊する4組のスイソチMOSFET
QI?・QL8等に対応して設けられる(n+1)/4
ビットのシフトレジスタを含む.これらのシフトレジス
タは、マルチポートRAMがシリアル入出力モードとさ
れるとき、タイミング発生回路TGから供給されるシフ
ト用タイミング信号φscに従ってシフト動作を行う.
ポインタPNTを構威するシフトレジスタの各ビットの
出力信号は、上記データレジスタ選択信号S03等とし
て、上記データセレクタDSL,の対応する4組ノスイ
ッチMOSFETQI ?−Ql8等にそれぞれ供給さ
れる.また、各ビットの人力端子は、SAP用カラムア
ドレスデコーダscDの対応する出力端子に結合される
. SAP用力ラムアドレスデコーダSCDは、特に制限さ
れないが、タイミング発生回路TGから供給されるタイ
ミング信号φySに従って選択的に動作状態とされる。
タDSLの各群を構戊する4組のスイソチMOSFET
QI?・QL8等に対応して設けられる(n+1)/4
ビットのシフトレジスタを含む.これらのシフトレジス
タは、マルチポートRAMがシリアル入出力モードとさ
れるとき、タイミング発生回路TGから供給されるシフ
ト用タイミング信号φscに従ってシフト動作を行う.
ポインタPNTを構威するシフトレジスタの各ビットの
出力信号は、上記データレジスタ選択信号S03等とし
て、上記データセレクタDSL,の対応する4組ノスイ
ッチMOSFETQI ?−Ql8等にそれぞれ供給さ
れる.また、各ビットの人力端子は、SAP用カラムア
ドレスデコーダscDの対応する出力端子に結合される
. SAP用力ラムアドレスデコーダSCDは、特に制限さ
れないが、タイミング発生回路TGから供給されるタイ
ミング信号φySに従って選択的に動作状態とされる。
この動作状態において、SAP用カラムアドレスデコー
ダSCDは、カラムアドレスバッファCABから供給さ
れる相補内部アドレス信号ayQ〜aytをデコードし
、対応する出力信号を択一的にハイレベルとする.これ
らの出力信号は、上記ポインタPNTを構成するシフト
レジスタの対応するビットに伝達され、シフト信号とさ
れる.このシフト信号は、前述のように、タイミング信
号φ3cに従ってポインタPNT内をシフトされ、これ
によってデータセレクタ選択信号303等が順次形威さ
れる.SAP用相補共通データ線CDSO〜旦DS3は
、シリアル入出力回路SIOの対応する単位回路の一方
の入出力端子に結合される。これらの単位回路の他方の
入出力端子は、対応するデータ入出力噛子SIOO−S
I03に結合される。シリアル入出力回路310の各単
位回路には、タイミング発生回路TGから、タイミング
信号φws及びφ3Gが共通に供給される。
ダSCDは、カラムアドレスバッファCABから供給さ
れる相補内部アドレス信号ayQ〜aytをデコードし
、対応する出力信号を択一的にハイレベルとする.これ
らの出力信号は、上記ポインタPNTを構成するシフト
レジスタの対応するビットに伝達され、シフト信号とさ
れる.このシフト信号は、前述のように、タイミング信
号φ3cに従ってポインタPNT内をシフトされ、これ
によってデータセレクタ選択信号303等が順次形威さ
れる.SAP用相補共通データ線CDSO〜旦DS3は
、シリアル入出力回路SIOの対応する単位回路の一方
の入出力端子に結合される。これらの単位回路の他方の
入出力端子は、対応するデータ入出力噛子SIOO−S
I03に結合される。シリアル入出力回路310の各単
位回路には、タイミング発生回路TGから、タイミング
信号φws及びφ3Gが共通に供給される。
シリアル入出力回路SiOは、マルチポートRAMがシ
リアル出力モードとされタイミング信号φw3がロウレ
ベルとされるとき、データレジスタDRから対応するS
AP用相補共通データ線旦050〜CDS3を介して出
力される読み出しデータを、タイミング信号φSCに従
って、対応するデータ入出力端子sxoo〜3103か
らシリアルに送出する.また、マルチボートRAMがシ
リアル入力モードとされタイミング信号φW3がハイレ
ベルとされるとき、対応するデータ人出力端子SIOO
−Sl○3を介してシリアルに入力される書き込みデー
タを相補書き込み信号とし、タイミング信号φscに従
って、対応するSAP用相補共通データ線旦DSO−C
DS3からデータレジスタDRに伝達する。
リアル出力モードとされタイミング信号φw3がロウレ
ベルとされるとき、データレジスタDRから対応するS
AP用相補共通データ線旦050〜CDS3を介して出
力される読み出しデータを、タイミング信号φSCに従
って、対応するデータ入出力端子sxoo〜3103か
らシリアルに送出する.また、マルチボートRAMがシ
リアル入力モードとされタイミング信号φW3がハイレ
ベルとされるとき、対応するデータ人出力端子SIOO
−Sl○3を介してシリアルに入力される書き込みデー
タを相補書き込み信号とし、タイミング信号φscに従
って、対応するSAP用相補共通データ線旦DSO−C
DS3からデータレジスタDRに伝達する。
タイミング発生回路TGは、外部から制御信号として供
給されるロウアドレスストローブ(K号RAS,カラム
アドレスストローブ信号CAS, ライトイネーブル
信号WE.データ転送制御信号DT/O E, シリ
アル入出力制御信号SOE及びクリアモード(言号CM
ならびにシリアノレクロ・冫ク信号SCをもとに、上記
各種のタイミング信号を形威し、各回路に供給する. 4i$3図には、この発明が通用されたマルチポートR
AMのクリアモードの一実施例のタイミング図が示され
ている。同図をもとに、この実施例のマルチボートRA
Mのクリアモードの概要とその特徴について説明する.
なお、第3図において、相補信号については、その非反
転信号が実線で示され、反転信号が点線で示される。
給されるロウアドレスストローブ(K号RAS,カラム
アドレスストローブ信号CAS, ライトイネーブル
信号WE.データ転送制御信号DT/O E, シリ
アル入出力制御信号SOE及びクリアモード(言号CM
ならびにシリアノレクロ・冫ク信号SCをもとに、上記
各種のタイミング信号を形威し、各回路に供給する. 4i$3図には、この発明が通用されたマルチポートR
AMのクリアモードの一実施例のタイミング図が示され
ている。同図をもとに、この実施例のマルチボートRA
Mのクリアモードの概要とその特徴について説明する.
なお、第3図において、相補信号については、その非反
転信号が実線で示され、反転信号が点線で示される。
第3図において、マルチポートRAMは、特に制限され
ないが、ロウアドレスストロープ信号RASがロウレベ
ルとされることで、選択状態とされ、上記ロウアドレス
ストローブ信号RASのロウレペル変化に先立ってクリ
ア七〜ド信号CMがロウレベルとされることで、クリア
モードとされる.アドレス入力端子AO−’−Aiには
、ロウアドレスストロープ信号RASの立ち下がりエッ
ジに同期して、ワード線を指定するためのXアドレス信
号AXO−AXiが供給される。
ないが、ロウアドレスストロープ信号RASがロウレベ
ルとされることで、選択状態とされ、上記ロウアドレス
ストローブ信号RASのロウレペル変化に先立ってクリ
ア七〜ド信号CMがロウレベルとされることで、クリア
モードとされる.アドレス入力端子AO−’−Aiには
、ロウアドレスストロープ信号RASの立ち下がりエッ
ジに同期して、ワード線を指定するためのXアドレス信
号AXO−AXiが供給される。
タイミング発生回路TGは、ロウアドレスストローブ信
号RASOロウレベル変化に従って、タイミング信号φ
a『をハイレベルとする。また、やや遅れてタイミング
信号φpcrをロウレヘルとし、さらにタイミング信号
φXをハイレヘルとする. ランダムアクセスポートRAPでは、タイミング信号φ
arがハイレベルとされることで、上記Xアドレス信q
AXO〜AXtがXアドレスバソファXABに取り込ま
れ、相補内部アドレス信号axQ〜axiが形威される
.また、タイミング信号φpcrがロウレベルとされる
ことで、相補データ線のブリチャージ動作が停止され、
タイミング信号φXがハイレベルとされることで、ロウ
アドレスデコーダRDによるワード線の選択動作が開始
される。その結果、Xアドレス信号AXO〜A X.
iにより指定される1本のワード線が択一的に選択状態
とされ、このワード線に結合されるn+1個のメモリセ
ルの微小読み出し信号が対応する相補データ線旦0等に
出力される。しかし、相禎タイミング信号1pcrが依
然論理“0”のままとされセンスアンプSAの単位壜幅
回路が動作状態とされないため、これらの微小読み出し
信号は壜幅されることなく、対応する相補データ線上で
待機する。
号RASOロウレベル変化に従って、タイミング信号φ
a『をハイレベルとする。また、やや遅れてタイミング
信号φpcrをロウレヘルとし、さらにタイミング信号
φXをハイレヘルとする. ランダムアクセスポートRAPでは、タイミング信号φ
arがハイレベルとされることで、上記Xアドレス信q
AXO〜AXtがXアドレスバソファXABに取り込ま
れ、相補内部アドレス信号axQ〜axiが形威される
.また、タイミング信号φpcrがロウレベルとされる
ことで、相補データ線のブリチャージ動作が停止され、
タイミング信号φXがハイレベルとされることで、ロウ
アドレスデコーダRDによるワード線の選択動作が開始
される。その結果、Xアドレス信号AXO〜A X.
iにより指定される1本のワード線が択一的に選択状態
とされ、このワード線に結合されるn+1個のメモリセ
ルの微小読み出し信号が対応する相補データ線旦0等に
出力される。しかし、相禎タイミング信号1pcrが依
然論理“0”のままとされセンスアンプSAの単位壜幅
回路が動作状態とされないため、これらの微小読み出し
信号は壜幅されることなく、対応する相補データ線上で
待機する。
一方、タイミング発生回路TGは、上記ロウアドレスス
トローブ(i号RAsのロウレベル変化に従って、タイ
ミング信号φpcsをロウレベルとする。また、やや遅
れて相補タイミング信号Lpa1及び$pa2を順次論
理“1”とし、さらにタイミング信号φpaをロウレベ
ルとし、タイミング(8号φtrをハイレベルとする.
そして、タイミング信号φt『のハイレベル変化から所
定の時間が経過した時点で、相補タイミング信号l』s
rを抽理“l”とする。
トローブ(i号RAsのロウレベル変化に従って、タイ
ミング信号φpcsをロウレベルとする。また、やや遅
れて相補タイミング信号Lpa1及び$pa2を順次論
理“1”とし、さらにタイミング信号φpaをロウレベ
ルとし、タイミング(8号φtrをハイレベルとする.
そして、タイミング信号φt『のハイレベル変化から所
定の時間が経過した時点で、相補タイミング信号l』s
rを抽理“l”とする。
シリアルアクセスボートSAPでは、タイミング信号φ
p c sがロウレベルとされることで、データレジス
タDRのコモンソースIJISP及びSNのプリチャー
ジが解かれ、相補タイミング信号tpal及び.il)
a2が順次論理“l”とされることで、コモンソース線
SP及びSNに回路の電源電圧Vcc及び接地電位がそ
れぞれ段階的に供給される。これにより、データレジス
タDRが動作状態とされるとともに、タイミング信号φ
psがロウレベルとされるまでの間、プリセントMOS
FETQ13及びQ14がオン状態とされることで、デ
ータレジスタDRの各単位増幅回路の相補入出力ノード
旦Do等が論理″O”にプリセットされる,その結果、
単位増幅回路の増幅動作が終了した時点で、その相捕入
出力ノードーDDOのレベルが論理“0”に確定される
。
p c sがロウレベルとされることで、データレジス
タDRのコモンソースIJISP及びSNのプリチャー
ジが解かれ、相補タイミング信号tpal及び.il)
a2が順次論理“l”とされることで、コモンソース線
SP及びSNに回路の電源電圧Vcc及び接地電位がそ
れぞれ段階的に供給される。これにより、データレジス
タDRが動作状態とされるとともに、タイミング信号φ
psがロウレベルとされるまでの間、プリセントMOS
FETQ13及びQ14がオン状態とされることで、デ
ータレジスタDRの各単位増幅回路の相補入出力ノード
旦Do等が論理″O”にプリセットされる,その結果、
単位増幅回路の増幅動作が終了した時点で、その相捕入
出力ノードーDDOのレベルが論理“0”に確定される
。
データレジスタDRの各単位増幅回路の論理“0”の出
力信号は、クイ【ング信号φ(rがハイレヘルとされる
ことで、メモリアレイMARYの対応する相補データ線
DO等に伝達される.このため、先に選択されたワード
線に結合されるn+1個のメモリセルから相補データ線
Bo等に出力された微小読み出し信号は打ち消され、強
制的に論理゜0”のクリア信号とされる。これらのクリ
ア信号は、相補タイミング信号1parが論理“1”と
されることで、センスアンプSAの対応する単位増幅回
路によって増幅され、これによって、相褌デーク線旦0
等のレベルが論理“0”に確定される。その結果、選択
されたワード線に結合されるn + 1 ft1のメモ
リセルの記憶データが、すべて論理″01にクリアされ
る。
力信号は、クイ【ング信号φ(rがハイレヘルとされる
ことで、メモリアレイMARYの対応する相補データ線
DO等に伝達される.このため、先に選択されたワード
線に結合されるn+1個のメモリセルから相補データ線
Bo等に出力された微小読み出し信号は打ち消され、強
制的に論理゜0”のクリア信号とされる。これらのクリ
ア信号は、相補タイミング信号1parが論理“1”と
されることで、センスアンプSAの対応する単位増幅回
路によって増幅され、これによって、相褌デーク線旦0
等のレベルが論理“0”に確定される。その結果、選択
されたワード線に結合されるn + 1 ft1のメモ
リセルの記憶データが、すべて論理″01にクリアされ
る。
以上のように、この実施例のマルチボートRAMでは、
データレジスタDRの各単位増幅回路の非反転及び反転
入出力ノードをブリチャージする一対のブリチャージM
OSFETが、非反転入出カノードとコモンソース線S
Nとの間ならびに反転人出力ノードとコモンソースlp
sPとの間にそれぞれ設けられる。これらのプリチャー
ジMOSFETは、マルチボートRAMが所定のクリア
モードとされるとき、各単位増幅回路が動作状態とされ
る当初までオン状態とされる。このため、各単位増幅回
路の非反転及び反転入出力ノードは、強制的に論理“0
゛にプリセノトされる.各単位増幅回路の論理“0”の
出力信号は、さらにメモリアレイMARYの対応する相
禎データ線に伝達され、これによって選択されたワード
線に結合されるn+1個のメモリセルの記憶データが論
理“0”にクリアされる.その結果、多くの回路素子を
追加することなく、またシリアルアクセスポートSAP
によるシリアル入出力動作を制約することなく、メモリ
セルの記憶データをワード線単位でクリアするいわゆる
高速クリア機能を有するマルチポー1−RAMが実現さ
れる. 以上の本実施例に示されるように、この発明をマルチポ
ートRAM等の半導体記憶装置に通用することで、次の
ような作用効果を得ることができる。すなわち、 (11マルチボー}RAM等のシリアルアクセスボート
に設けられるデータレジスタを、ランダムアクセスポー
トのセンスアンプと同様に、一対のコモンソース線を介
して回路の電源電圧及び接地電位が選択的に供給される
ことで遣沢的に動作状態とされる複数の単位増幅回路を
基本として構威し、これらのセンスアンプ及び/又はデ
ータレジスタを構成する単位増幅回路が動作状態とされ
る直前又はその当初において、各単位増幅回路の非反転
及び反転入出力ノードに所定のレベル差を生しさせるた
めのプリセント回路を設けることで、メモリセルの記億
デークをワード線単位でクリアできるという効果が得ら
れる。
データレジスタDRの各単位増幅回路の非反転及び反転
入出力ノードをブリチャージする一対のブリチャージM
OSFETが、非反転入出カノードとコモンソース線S
Nとの間ならびに反転人出力ノードとコモンソースlp
sPとの間にそれぞれ設けられる。これらのプリチャー
ジMOSFETは、マルチボートRAMが所定のクリア
モードとされるとき、各単位増幅回路が動作状態とされ
る当初までオン状態とされる。このため、各単位増幅回
路の非反転及び反転入出力ノードは、強制的に論理“0
゛にプリセノトされる.各単位増幅回路の論理“0”の
出力信号は、さらにメモリアレイMARYの対応する相
禎データ線に伝達され、これによって選択されたワード
線に結合されるn+1個のメモリセルの記憶データが論
理“0”にクリアされる.その結果、多くの回路素子を
追加することなく、またシリアルアクセスポートSAP
によるシリアル入出力動作を制約することなく、メモリ
セルの記憶データをワード線単位でクリアするいわゆる
高速クリア機能を有するマルチポー1−RAMが実現さ
れる. 以上の本実施例に示されるように、この発明をマルチポ
ートRAM等の半導体記憶装置に通用することで、次の
ような作用効果を得ることができる。すなわち、 (11マルチボー}RAM等のシリアルアクセスボート
に設けられるデータレジスタを、ランダムアクセスポー
トのセンスアンプと同様に、一対のコモンソース線を介
して回路の電源電圧及び接地電位が選択的に供給される
ことで遣沢的に動作状態とされる複数の単位増幅回路を
基本として構威し、これらのセンスアンプ及び/又はデ
ータレジスタを構成する単位増幅回路が動作状態とされ
る直前又はその当初において、各単位増幅回路の非反転
及び反転入出力ノードに所定のレベル差を生しさせるた
めのプリセント回路を設けることで、メモリセルの記億
デークをワード線単位でクリアできるという効果が得ら
れる。
(2)上記(11項において、各単位増幅回路の非反転
及び反転入出力ノードをクリアするための一対のブリチ
ャージMOSFETを、上記非反転及び反転入出力ノー
ドとコモンソース線の一方又は他方との間に設け、各単
位増幅回路が動作状態とされる当初までオン状態とする
ことで、これらのプリチャージMOSFETを上記プリ
セット回路として兼用できるという効果が得られる。
及び反転入出力ノードをクリアするための一対のブリチ
ャージMOSFETを、上記非反転及び反転入出力ノー
ドとコモンソース線の一方又は他方との間に設け、各単
位増幅回路が動作状態とされる当初までオン状態とする
ことで、これらのプリチャージMOSFETを上記プリ
セット回路として兼用できるという効果が得られる。
(3》上記+11項及び(2)項により、多くの回路素
子を追加することなく、またシリアルアクセスポートに
よるシリアル入出力動作を制約することなく、高速クリ
ア機能を有するマルチボートRAM等を実現できるとい
う効果が得られる. 《4》上記(11項〜(3)項により、マルチボートR
AMを含む画像処理システムの性能を高めることができ
るという効果が得られる。
子を追加することなく、またシリアルアクセスポートに
よるシリアル入出力動作を制約することなく、高速クリ
ア機能を有するマルチボートRAM等を実現できるとい
う効果が得られる. 《4》上記(11項〜(3)項により、マルチボートR
AMを含む画像処理システムの性能を高めることができ
るという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、第1図におい
て、MO S F ETQ13及びQ14等を、コモン
ソース線SPと単位1曽幅回路の非反転入出力ノードD
DO等との間ならびにコモンソース線SNと単位地幅回
路の反転入出力ノードDDO等との間に設けることで、
単位増幅回路の相禎入出力ノード旦DO等を論理“1″
にブリセノトすることができる。また、第4図に示され
るように、上記第1図のMOSFETQ13及びQl4
!Iに加えて、単位坩幅回路の非反転入出力ノードDD
O等とコモンソース#fASPとの間にMOSFETQ
23等を設け、単位増幅回路の反転入出力ノードDDO
等とコモンソース$JItSNとの間にMOSFETQ
24等を設けることで、単位増幅回路の相補入出力ノー
ドーDDO等を論理“0゜又は論理“l゛のいずれにも
ブリセ・7トできるようにしてもよい.第4図の場合、
単位増幅回路の相補入出力ノードDDO等は、単位増幅
回路が動作状態とされる当初までタイξング(8号φp
sQがハイレベルとされることで論理“0”にプリセッ
トされ、またタイミング信号φpslがハイレベルとさ
れることで論理“l″にプリセットされる。プリセット
用のMOSFETQ13及びQI4ならびにQ23及び
Q24等は、単位壜幅回路の非反転及び反転入出力ノー
ドと回路の電源電圧Vcc又は接地電位との間に直接設
けることもよい。この場合、これらのプリセノトMOS
FETは、単位増幅回路の相補人出力ノードDDO等の
プリチャージ動作が停止されてから各単位増幅回路が動
作状態とされるまでの間ないしその当初において、任意
のタイミングでオン状態とすることができる。
体的に説明したが、この発明は上記実施例に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可
能であることはいうまでもない。例えば、第1図におい
て、MO S F ETQ13及びQ14等を、コモン
ソース線SPと単位1曽幅回路の非反転入出力ノードD
DO等との間ならびにコモンソース線SNと単位地幅回
路の反転入出力ノードDDO等との間に設けることで、
単位増幅回路の相禎入出力ノード旦DO等を論理“1″
にブリセノトすることができる。また、第4図に示され
るように、上記第1図のMOSFETQ13及びQl4
!Iに加えて、単位坩幅回路の非反転入出力ノードDD
O等とコモンソース#fASPとの間にMOSFETQ
23等を設け、単位増幅回路の反転入出力ノードDDO
等とコモンソース$JItSNとの間にMOSFETQ
24等を設けることで、単位増幅回路の相補入出力ノー
ドーDDO等を論理“0゜又は論理“l゛のいずれにも
ブリセ・7トできるようにしてもよい.第4図の場合、
単位増幅回路の相補入出力ノードDDO等は、単位増幅
回路が動作状態とされる当初までタイξング(8号φp
sQがハイレベルとされることで論理“0”にプリセッ
トされ、またタイミング信号φpslがハイレベルとさ
れることで論理“l″にプリセットされる。プリセット
用のMOSFETQ13及びQI4ならびにQ23及び
Q24等は、単位壜幅回路の非反転及び反転入出力ノー
ドと回路の電源電圧Vcc又は接地電位との間に直接設
けることもよい。この場合、これらのプリセノトMOS
FETは、単位増幅回路の相補人出力ノードDDO等の
プリチャージ動作が停止されてから各単位増幅回路が動
作状態とされるまでの間ないしその当初において、任意
のタイミングでオン状態とすることができる。
第2図において、マルチポートRAMのシリアルアクセ
スポートSAPは、交互に使用される2涸のデータレジ
スタを備えることもよいし、センスアンプSAの単位増
幅回路について、同様なプリセット回路を備えるもので
あってもよい。メモリアレイMARYは、複数のメモリ
マントによって構威されることもよいし、例えばシェア
ドセンス方式を採るものであってもよい。マルチボート
RAMのクリアモードは、シリアルアクセスポートSA
PのデータレジスタDR等に対するプリセント動作と、
ランダムアクセスポートRAPのメモリアレイMARY
に対するデータ転送動作を別個のサイクルによって実行
してもよい.また、マルチポートRAMのクリアモード
は、他の起動制御信号の組み合わせによって指定される
ものであってもよい。
スポートSAPは、交互に使用される2涸のデータレジ
スタを備えることもよいし、センスアンプSAの単位増
幅回路について、同様なプリセット回路を備えるもので
あってもよい。メモリアレイMARYは、複数のメモリ
マントによって構威されることもよいし、例えばシェア
ドセンス方式を採るものであってもよい。マルチボート
RAMのクリアモードは、シリアルアクセスポートSA
PのデータレジスタDR等に対するプリセント動作と、
ランダムアクセスポートRAPのメモリアレイMARY
に対するデータ転送動作を別個のサイクルによって実行
してもよい.また、マルチポートRAMのクリアモード
は、他の起動制御信号の組み合わせによって指定される
ものであってもよい。
さらに、第1図に示されるデータレジスタDR及びその
周辺回路の具体的な構成や$2図に示されるマルチボー
トRAMのブロック構戒ならびに制御信号やアドレス信
号及び電源電圧の組み合わせ等、種々の実施形態を採り
うる。
周辺回路の具体的な構成や$2図に示されるマルチボー
トRAMのブロック構戒ならびに制御信号やアドレス信
号及び電源電圧の組み合わせ等、種々の実施形態を採り
うる。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるマルチポートRAM
に通用した場合について説明したが、それ番こ限定され
るものではなく、例えば、ダイナ主ノク型RAMや同様
なセンスアンプ及びデータレジスタを有する各種の半導
体記憶装置にも通用できる。本発明は、少なくとも選択
的に動作状態とされる複数の単位増幅回路を含むセンス
アンプ又はデータレジスタを備える半導体記憶装置なら
びにこのような半導体記憶装置を内蔵するディジタル装
置に広く通用できる。
をその背景となった利用分野であるマルチポートRAM
に通用した場合について説明したが、それ番こ限定され
るものではなく、例えば、ダイナ主ノク型RAMや同様
なセンスアンプ及びデータレジスタを有する各種の半導
体記憶装置にも通用できる。本発明は、少なくとも選択
的に動作状態とされる複数の単位増幅回路を含むセンス
アンプ又はデータレジスタを備える半導体記憶装置なら
びにこのような半導体記憶装置を内蔵するディジタル装
置に広く通用できる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば、次のとおりである
.すなわち、マルチボートRAM等のシリアルアクセス
ポートに設けられるデータレジスタを、センスアンプと
同様に、一対のコモンソース線を介して回路の電源電圧
及び接地電位が選択的に供給されることで選択的に動作
状態とされる複数の単位増幅回路によって構威し、これ
らのセンスアンプ及び/又はデータレジスタを構戒する
単位増幅回路の非反転及び反転入出力ノードとコモンソ
ース線の一方又は他方との間に、単位増幅回路が非動作
状態とされるときならびに動作状態とされる当初におい
て遺沢的にオン状態とされる一対のプリセットMOSF
ETを設け、これらのMOSFETをプリチャージMO
S F ETとして兼用することで、多くの回路素子
を追加することなく、またその通常18 flを制約す
ることなく、高速クリア機能を有するマノレチポートR
AM等を実現できる。これにより、上記マノレチポート
RAM等を画像メモリとする画像処理システム等の性能
を高めることができる。
て得られる効果を簡単に説明すれば、次のとおりである
.すなわち、マルチボートRAM等のシリアルアクセス
ポートに設けられるデータレジスタを、センスアンプと
同様に、一対のコモンソース線を介して回路の電源電圧
及び接地電位が選択的に供給されることで選択的に動作
状態とされる複数の単位増幅回路によって構威し、これ
らのセンスアンプ及び/又はデータレジスタを構戒する
単位増幅回路の非反転及び反転入出力ノードとコモンソ
ース線の一方又は他方との間に、単位増幅回路が非動作
状態とされるときならびに動作状態とされる当初におい
て遺沢的にオン状態とされる一対のプリセットMOSF
ETを設け、これらのMOSFETをプリチャージMO
S F ETとして兼用することで、多くの回路素子
を追加することなく、またその通常18 flを制約す
ることなく、高速クリア機能を有するマノレチポートR
AM等を実現できる。これにより、上記マノレチポート
RAM等を画像メモリとする画像処理システム等の性能
を高めることができる。
第1図は、この発明が通用されたマルチボートRAMの
データレジスタ及びその周辺回路の一実施例を示す回路
図、 第2図は、第1図のデータレジスタを含むマルチボー}
RAMの一実施例を示すブロック図、第3図は、第2図
のマルチポートRAMのクリアモードの一実施例を示す
タイミング図、第4図は、この発明が通用されたマルチ
ボートRAMのデータレジスタ及びその周辺回路のもう
一つの実施例を示す回路図である。 DR・・・データレジスタ、DSL・・・データセレク
タ、UDRO〜UDR3・・・データレジスタ単位増幅
回路、Ql−Q4・・・PチャンネルMOSFET,Q
l 1〜Q24・・・NチャンネルMOSFET, RAP・・・ランダムアクセスポ−1・、SAP・・・
シリアルアクセスポート、MARY・・・メモリアレイ
、SA・・・センスアンプ、CSW・・・カラムスイソ
チ、RD・・・ロウアドレスデコーダ、RCD・・・R
AP用力ラムアドレスデコーダ、PNT・・・ポインタ
、SCD・・・SAP用カラムアドレスデコーダ、RA
B・・・ロウアドレスバンファ、CAB・・・カラムア
ドレスバノファ、RIO・・・ランダム入出力回路、5
10・・・シリアル入出力回路、TO・・・タイミング
発生回路。
データレジスタ及びその周辺回路の一実施例を示す回路
図、 第2図は、第1図のデータレジスタを含むマルチボー}
RAMの一実施例を示すブロック図、第3図は、第2図
のマルチポートRAMのクリアモードの一実施例を示す
タイミング図、第4図は、この発明が通用されたマルチ
ボートRAMのデータレジスタ及びその周辺回路のもう
一つの実施例を示す回路図である。 DR・・・データレジスタ、DSL・・・データセレク
タ、UDRO〜UDR3・・・データレジスタ単位増幅
回路、Ql−Q4・・・PチャンネルMOSFET,Q
l 1〜Q24・・・NチャンネルMOSFET, RAP・・・ランダムアクセスポ−1・、SAP・・・
シリアルアクセスポート、MARY・・・メモリアレイ
、SA・・・センスアンプ、CSW・・・カラムスイソ
チ、RD・・・ロウアドレスデコーダ、RCD・・・R
AP用力ラムアドレスデコーダ、PNT・・・ポインタ
、SCD・・・SAP用カラムアドレスデコーダ、RA
B・・・ロウアドレスバンファ、CAB・・・カラムア
ドレスバノファ、RIO・・・ランダム入出力回路、5
10・・・シリアル入出力回路、TO・・・タイミング
発生回路。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、メモリアレイを構成するデータ線に対応して設けら
れ第1のタイミング信号に従って動作状態とされる複数
の単位増幅回路と、上記単位増幅回路に対応して設けら
れ上記単位増幅回路の入出力ノードに所定のレベルを与
える複数のプリセット回路とを具備することを特徴とす
る半導体記憶装置。 2、上記半導体記憶装置は、さらに、上記第1のタイミ
ング信号に従って上記単位増幅回路に第1もしくは第2
の電源電圧を供給する第1及び第2のコモンソース線を
具備するものであって、上記プリセット回路のそれぞれ
は、上記第1のコモンソース線と対応する上記単位増幅
回路の非反転又は反転入出力ノードとの間に設けられ第
2のタイミング信号に従って選択的にオン状態とされる
第1のMOSFETと、上記第2のコモンソース線と対
応する上記単位増幅回路の反転又は非反転入出力ノード
との間に設けられ上記第2のタイミング信号に従って選
択的にオン状態とされる第2のMOSFETとを含むも
のであることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
半導体記憶装置。 3、上記第1及び第2のコモンソース線は、上記単位増
幅回路が非動作状態とされるとき所定のプリチャージレ
ベルとされるものであって、上記第1及び第2のMOS
FETは、上記単位増幅回路が非動作状態とされるとき
対応する上記単位増幅回路の相補入出力ノードを上記プ
リチャージレベルとする作用をあわせ持つものであるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項又は第2項記載の
半導体記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1164308A JPH0330184A (ja) | 1989-06-27 | 1989-06-27 | 半導体記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1164308A JPH0330184A (ja) | 1989-06-27 | 1989-06-27 | 半導体記憶装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0330184A true JPH0330184A (ja) | 1991-02-08 |
Family
ID=15790664
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1164308A Pending JPH0330184A (ja) | 1989-06-27 | 1989-06-27 | 半導体記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0330184A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0660641A (ja) * | 1992-08-12 | 1994-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ |
JP2007273079A (ja) * | 1998-04-28 | 2007-10-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路 |
-
1989
- 1989-06-27 JP JP1164308A patent/JPH0330184A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0660641A (ja) * | 1992-08-12 | 1994-03-04 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体メモリ |
JP2007273079A (ja) * | 1998-04-28 | 2007-10-18 | Oki Electric Ind Co Ltd | 半導体集積回路 |
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