JPH0329780Y2 - - Google Patents

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JPH0329780Y2
JPH0329780Y2 JP6089584U JP6089584U JPH0329780Y2 JP H0329780 Y2 JPH0329780 Y2 JP H0329780Y2 JP 6089584 U JP6089584 U JP 6089584U JP 6089584 U JP6089584 U JP 6089584U JP H0329780 Y2 JPH0329780 Y2 JP H0329780Y2
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Description

【考案の詳細な説明】 技術分野 本考案は、光学式記録デイスク再生装置におい
て記録情報読取用光ビームの光軸に対する記録デ
イスクの傾き角度を検出するデイスク傾き検出装
置に関するものである。
背景技術 一般に、光学式記録デイスクはポリカーボネイ
トやアクリル等の樹脂成形部品のため、成形後静
的なソリ、変形等を生じ易い。静的なソリ量をみ
ると、デイスクスペツク上で光学式ビデオデイス
クの30cm盤及び20cm盤の場合+1.5,−2.5mmの最
大ソリ、デイジタルオーデイオデイスクの12cm盤
の場合±0.5mmの最大ソリが許容されており、現
実的にもデイスクによつてソリ量がバラツイてい
る。
これら静的なソリがあると、ソリによる高さ方
向のデイスクピツト面と光学式ピツクアツプの対
物レンズとの距離がデイスクの内外周で変わるた
め、フオーカスモータで対物レンズを上下動させ
なければならない。しかもソリ量のストロークは
最低限必要となる。一方、ソリによるデイスクピ
ツト面が傾くことにより入射光に対する戻り光が
角度を持つて光軸がズレるため、ある許容以上の
ズレを生じると対物レンズの視野角から外れるこ
ととなり戻り光出力が減少してしまうことにな
る。また、ピツト面が傾くことにより、隣接する
トラツクとのトラツクピツチが等価的に狭くなる
ことになり、ピツト面上のビームスポツト径を一
定とすれば、隣接するトラツクのピツト情報の影
響を受け易くなつてクロストークの増大を招くこ
とになる。
以上の様な性能劣化を改善するため、近時、上
記静的なソリに追従して常に光軸がピツト面に対
して直角になるように、対物レンズを含めた光学
系ボデイを対物レンズの光軸を含む面内にて回動
せしめるチルトサーボ機構を有する再生装置が知
られており、第1図にその従来装置を示す。第1
図において、1は下方に湾曲した光学式記録デイ
スク(以下単にデイスクと称する)、2はスピン
ドルモータ、3はデイスク1をスピンドルモータ
2にクランプするクランパー、4はクランパー3
の支持部である。また、5は光学式ピツクアツプ
の一部を構成する対物レンズであり、光学系ボデ
イ6に上下動自在に装着され、図示せぬフオーカ
スモータにより駆動される。光学系ボデイ6はス
ライダーベース9に対して対物レンズ5の光軸
BB′上に位置する回動支点8を中心に回動自在に
取り付けられている。7はモータ、減速手段等に
より構成されるチルト機構であり、光学系ボデイ
6をスライダーベース9に対して回動せしめるこ
とにより対物レンズ5の光軸BB′のデイスク面に
対する傾きを調整する。スライダーベース9は図
示せぬガイドレールに沿つてデイスク1の半径方
向CC′において移動自在であり、スライダーモー
タ、減速ギヤ等からなる駆動機構(図示せず)に
よつて駆動される。
対物レンズ5の光軸BB′を含む面内には、デイ
スク1の該光軸BB′に対する傾き角度を検出する
ためのオプテイカルセンサ10(第2図に示す)
が対物レンズ5に近接して設けられている。この
センサ10は、第2図に示す様に、1個の発光素
子11と2個の受光素子12a,12bからな
り、発光素子11からの照射光に基づくデイスク
1からの反射光を受光素子12a,12bで受光
する。これら各素子11,12a,12bの配列
方向は記録情報読取用光ビームの移動方向に平行
になるように構成されている。そして2個の受光
素子12a,12bの受光量の差分を差動アンプ
13で得、この差動出力を傾き量としてアンプ1
4を介して上記チルト機構7におけるモータ15
に供給する。
かかる構成において、スライダーベース9が図
の位置aから位置bに移動してデイスク1の外周
部の傾いた部分に到来すると、上記オプテイカル
センサ10の出力に応じてチルト機構7が作動し
て光学系ボデイ6を回動支点8を中心として図の
時計方向に回動させ、光軸BB′がデイスク1のピ
ツト面と直角になる位置で作動を停止する。
以上のようにして、デイスク1の静的なソリに
追従し、常に光軸BB′がピツト面に対して直角に
なるように制御されるのであるが、従来の装置で
は、第3図aに示す様にオプテイカルセンサ10
における発光素子11の光源とレンズとの軸芯の
ずれに伴う照射光の光軸のずれがあつた場合や、
第3図bに示す様に発光素子11が傾いて取り付
けられた場合には、いずれも光軸BB′に対してデ
イスク1が傾いていないにも拘わらず差動出力が
発生することになる。これは回路により電気的に
受光素子12a,12bの出力をバランスさせる
ことができるが、デイスク高さはバラツキを持つ
ており、またデイスク1のソリがあるときはデイ
スク1の高さも変わつているため、この高さ変化
によりバランス値が変わつてしまい差動出力に誤
差を生じてしまう。
また、デイスク1がある角度変化を生じると、
第3図cに示す様に、反射光が受光素子12a,
12b上に角度を持つて当り、受光素子12a側
の照射面積増加分aと受光素子12b側の照射面
積減少分a′とはa>a′なる関係となり傾き角度に
よつてその差も変化するため、差動出力の角度変
化に対するリニアリテイが悪くなるという欠点が
あつた。
考案の概要 本考案は、上記のような従来のものの欠点を除
去すべくなされたもので、発光素子の光軸ズレや
取付けに傾きがあつても性能悪化がなくかつデイ
スク傾きに対してリニアリテイの良い検出出力を
得ることが可能なデイスク傾き検出装置を提供す
ることを目的とする。
本考案によるデイスク傾き検出装置は、発光素
子を収納しかつこの発光素子からその照射光の照
射方向に離間した先端に開口部を有する素子収納
部と、この素子収納部から離れるに従つて該照射
方向に傾斜する傾斜面を有しこの傾斜面に受光素
子が配設される一対の素子配設部とからなるホル
ダーを備え、このホルダーによつて発光素子及び
一対の受光素子を適正位置に配置する構成となつ
ている。
実施例 以下、本考案の実施例を図に基づいて説明す
る。
第4図乃至第6図において、20は単一の発光
素子11及び一対の受光素子12a,12bが取
り付けられるホルダーで、発光素子11を収納す
る素子収納部21及び一対の受光素子12a,1
2bが配設される一対の素子配設部22a,22
bからなり、樹脂等により一体成形されている。
素子収納部21の底部には発光素子11が挿入嵌
着される取付孔23を有し、発光素子11からそ
の照射光の照射方向すなわち図の上方に離間した
先端には開口部24が形成されている。この開口
部24は発光素子11及び一対の受光素子12
a,12bの配列方向にて狭くかつそれに直交す
る方向にて広い矩形形成を有して上記取付孔23
に連通しており、発光素子11の照射光ビームを
ある角度に絞る作用をなす。なお、発光素子11
としては、照射光の指向角度が広い拡散タイプの
発光ダイオード等が用いられる。
一方、一対の素子配設部22a,22bは素子
収納部21から離れる方向において図の上方向に
傾斜する傾斜面を有し、この傾斜面には平板状の
フオトダイオード等の受光素子12a,12bが
位置ずれを起さないように嵌め込まれる嵌合凹部
25a,25bが形成されている。素子配設部2
2a,22bの傾斜面の傾斜角度は、発光素子1
1から発せられ開口部24のエツジを通る照射光
か、基準高さで傾きなく設けられているデイスク
1で反射されて受光素子12a,12bに戻ると
き、受光素子12a,12bの受光面の略半分の
位置で受光面に対して直角に入射するように設定
される。また、素子収納部21は発光素子11及
び受光素子12a,12bの配列方向にて基部が
太くかつ先端部が細いテーパ形状を有しており、
これによれば素子収納部21の先端部によつて受
光素子12a,12bの素子収納部21側のエツ
ジへの戻り光が遮られることはない。
素子収納部21の取付孔23に受光素子11が
挿入嵌着され、素子配列部22a,22bの傾斜
面嵌合凹部25a,25bに一対の受光素子12
a,12bが嵌め込まれたホルダー20はプリン
ト基板26上に塔載され、各素子11,12a,
12bの各リード線はプリント基板26の配線パ
ターンに半田付けにて接続される。また、各素子
11,12a,12bの配列方向が記録情報読取
用光ビーム(図示せず)の移動方向(デイスク1
の半径方向)に一致するようにホルダー20が配
置される。
次に、本考案の作用について説明する。
第6図において、発光素子11から発せられる
照射光の放射角度は十分広角度であるが、発光素
子11から離間した位置に開口部24が存在し、
この開口部24で制限されるので放射角度は一定
となる。これにより発光素子個々の指向角度のバ
ラツキ、発光素子チツプずれによる光軸ずれ、発
光素子の取付角度のバラツキ等を無視できること
になる。また、デイスク1の情報記録面上に照射
された照射光スポツトS1の輝度分布は、拡散タイ
プの発光素子11を使用しているため、ほぼ均一
で安定である。この照射光スポツトS1はデイスク
面で反射されて受光素子12a,12bの受光面
の略半分の位置に受光面に直角に入射し戻り光ス
ポツトS2を形成する。デイスク傾き変化に対する
差動出力変化をとり出すのは従来と同じである。
デイスク1が傾くと戻り光スポツトS2がずれ、
第7図に示す様に、受光素子12a上では距離a
に対応する分だけ照射面積が増加し、受光素子1
2b上では距離a′に対応する分だけ照射面積が減
少する。デイスク1の角度変化に対応する受光素
子12a,12b上の照射面積の増減が、照射光
スポツトS1及びそれによる戻り光スポツトS2の輝
度分布の均一により、単純な面積比例の差動出力
となるため、デイスク1の角度変化に対する差動
出力のリニアリテイを向上できることになる。距
離aとa′は受光素子12aの受光面とデイスク
面、受光素子12bの受光面とデイスク面との距
離が変わるため一致しないが、デイスク1の傾き
角度が0゜で戻り光外周が各受光面に直角に入射す
るため効率が高く、更にはデイスク1の角度変化
に対応する戻り光の照射角度が各受光面の直角方
向に対して±の角度変化で与えられるため、従来
より誤差は少なく、デイスク1の角度変化に対す
る差動出力のリニアリテイが改善される。
また、第6図から明らかな様に、デイスク1の
高さが変化しても各受光面に直角に入射する戻り
光スポツトS2の外径が変化するのみで差動出力は
変わらないため、角度検出誤差を生じない。
効 果 以上説明したように、本考案によるデイスク傾
き検出装置によれば、発光素子から発せられる照
射光の放射角度が機械的に制限されかつ一対の受
光素子の受光面が傾斜して設けられた構成となつ
ているので、発光素子個々の指向角度のバラツ
キ、光軸ずれ或いは発光素子の取付角度のバラツ
キ等があつても性能悪化がなくかつデイスク傾き
に対してリニアリテイの良い検出出力を得ること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はチルトサーボ機構の一例を示す断面
図、第2図は従来装置を示す構成図、第3図a,
b,cは従来装置の動作説明図、第4図、第5図
及び第6図は本考案装置の一例を示す斜視図、平
面図及び縦断面図、第7図は本考案装置の動作説
明図である。 主要部分の符号の説明、1……デイスク、5…
…対物レンズ、10……オプテイカルセンサ、1
1……発光素子、12a,12b……受光素子、
13……差動アンプ、20……ホルダー、21…
…素子収納部、22a,22b……素子配設部。

Claims (1)

  1. 【実用新案登録請求の範囲】 (1) 記録デイスクの情報記録面を照射する発光素
    子と、前記発光素子に関して対称に配置され前
    記発光素子の照射光に基づく前記情報記録面に
    よる反射光を受光する一対の受光素子とを備
    え、前記一対の受光素子の出力に基づいて記録
    情報読取用光ビームの光軸に対する前記記録デ
    イスクの傾き角度を検出するようになされたデ
    イスク傾き検出装置であつて、前記発光素子を
    収納しかつ前記発光素子からその照射光の照射
    方向に離間した先端に開口部を有する素子収納
    部と、前記素子収納部から離れる方向において
    前記照射方向に傾斜する傾斜面を有しこの傾斜
    面に前記受光素子が配設される一対の素子配設
    部とからなるホルダーを備えたことを特徴とす
    るデイスク傾き検出装置。 (2) 前記発光素子はその照射光の指向角度の広い
    拡散タイプの素子であることを特徴とする実用
    新案登録請求の範囲第1項記載のデイスク傾き
    検出装置。 (3) 前記素子収納部の開口部は、前記発光素子及
    び前記一対の受光素子の配列方向にて狭くかつ
    該配列方向と直交する方向にて広い矩形形状を
    有することを特徴とする実用新案登録請求の範
    囲第1項記載のデイスク傾き検出装置。 (4) 前記素子収納部は前記発光素子及び前記一対
    の受光素子の配列方向にて基部が太くかつ先端
    部が細いテーパ形状を有することを特徴とする
    実用新案登録請求の範囲第1項記載のデイスク
    傾き検出装置。 (5) 前記発光素子及び前記一対の受光素子の配列
    方向が前記記録情報読取用光ビームの移動方向
    に一致していることを特徴とする実用新案登録
    請求の範囲第1項記載のデイスク傾き検出装
    置。
JP6089584U 1984-04-25 1984-04-25 デイスク傾き検出装置 Granted JPS60173132U (ja)

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JP6089584U JPS60173132U (ja) 1984-04-25 1984-04-25 デイスク傾き検出装置

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JPS60173132U JPS60173132U (ja) 1985-11-16
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ID=30588662

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