JPH03292748A - プローブ装置 - Google Patents
プローブ装置Info
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- JPH03292748A JPH03292748A JP9480390A JP9480390A JPH03292748A JP H03292748 A JPH03292748 A JP H03292748A JP 9480390 A JP9480390 A JP 9480390A JP 9480390 A JP9480390 A JP 9480390A JP H03292748 A JPH03292748 A JP H03292748A
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Landscapes
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
光里立旦垣
(産業上の利用分野)
本発明はプローブ装置に関する。
(従来の技術)
半導体製造工程には、半導体ウェハ〔以下ウェハと略記
する〕に素子を製造するウェハプロセス工程と、ウェハ
に形成されたチップを測定する工程とがある。
する〕に素子を製造するウェハプロセス工程と、ウェハ
に形成されたチップを測定する工程とがある。
上記ウェハプロセスが終了し、ウェハの良品チップの選
別を行う10−ブ装置に於いて、低温又は高温の両温度
域で使用するホットアンドクール仕様のプローブ装置が
ある。
別を行う10−ブ装置に於いて、低温又は高温の両温度
域で使用するホットアンドクール仕様のプローブ装置が
ある。
このホットアンドクール仕様のプローブ装置では、ウェ
ハが載置される載置台を冷却させて、ウェハが冷却され
ている。上記プローブ装置内部の冷却された載置台の周
囲をドライ雰囲気の状態としていなければ上記載置体及
び載置面、載置されているウェハ表面に結露が生じてし
まう。
ハが載置される載置台を冷却させて、ウェハが冷却され
ている。上記プローブ装置内部の冷却された載置台の周
囲をドライ雰囲気の状態としていなければ上記載置体及
び載置面、載置されているウェハ表面に結露が生じてし
まう。
そこでウェハ等に結露が生しさせないために、従来はプ
ローブ装置のステージ内の空間全部ドライな状態とする
ことが出来る装置を使用して、結露を防止していた。こ
の技術としては、特開昭63151036号、同63−
104442号、同63−220623号等多数の公報
に記載のものがある。
ローブ装置のステージ内の空間全部ドライな状態とする
ことが出来る装置を使用して、結露を防止していた。こ
の技術としては、特開昭63151036号、同63−
104442号、同63−220623号等多数の公報
に記載のものがある。
(発明が解決しようとする課B)
しかしながら、前記ウェハを冷却して検査するプローブ
装置に於いては、プローブ装置のステージ内の空間全部
ドライな状態とする為にドライエアを大量に供給しなけ
ればならず、ランニングコストが高くなる課題を有して
いた。
装置に於いては、プローブ装置のステージ内の空間全部
ドライな状態とする為にドライエアを大量に供給しなけ
ればならず、ランニングコストが高くなる課題を有して
いた。
しかも大量のドライエアを発生させるため、大型のドラ
イエア発生装置が必要であった。
イエア発生装置が必要であった。
本発明は上記課題に鑑みてなされたものであり、従来よ
り少ないドライエア量を供給して、蔵置体上面及び載置
された被検査体の結露を防止した装置を提供することを
目的としている。
り少ないドライエア量を供給して、蔵置体上面及び載置
された被検査体の結露を防止した装置を提供することを
目的としている。
また、ブロービング中のプローブ針先の酸化を減少させ
、プローブ針の寿命を延長するように改善したプローブ
装置を供給することにある。
、プローブ針の寿命を延長するように改善したプローブ
装置を供給することにある。
光肌■盪威
(課題を解決する為の手段)
本発明はプローブカードと対向した載置台に被検査体を
設け、この被検査体の電極列にプローブ針列を接触させ
て、電気的特性を検査するプローブ装置において、上記
載置面の周縁に沿ってドライエアが噴出される噴出孔を
複数個設け、この噴出孔から噴出されたドライエアがプ
ローブカード及び上記被検査体の間にドライエア雰囲気
領域を形成するようにしたことを特徴とするプローブ装
置である。
設け、この被検査体の電極列にプローブ針列を接触させ
て、電気的特性を検査するプローブ装置において、上記
載置面の周縁に沿ってドライエアが噴出される噴出孔を
複数個設け、この噴出孔から噴出されたドライエアがプ
ローブカード及び上記被検査体の間にドライエア雰囲気
領域を形成するようにしたことを特徴とするプローブ装
置である。
また上記載置面に被検査体が対接した以外の載置スペー
スに穿設する噴出孔をややプローブカードの中心方向に
傾けて穿設したことを特徴とするプローブ装置である。
スに穿設する噴出孔をややプローブカードの中心方向に
傾けて穿設したことを特徴とするプローブ装置である。
更に上記ドライエアを窒素ガス等不活性ガスに代えて噴
出し、プローブ針の酸化を減少させるプローブ装置であ
る。
出し、プローブ針の酸化を減少させるプローブ装置であ
る。
(作用)
本発明によって、温度差の異なる領域で検査を行い、被
検査体は蔵置体上面周囲から噴出されるドライエアによ
り上方への流れがでる為1.プローブ針と載置体の載置
面との間に充満する。
検査体は蔵置体上面周囲から噴出されるドライエアによ
り上方への流れがでる為1.プローブ針と載置体の載置
面との間に充満する。
このドライエアは、雰囲気中でブロービングを行った場
合に、プローブ針、蔵置体、及び被検査物等に結露を生
しることを未然に防止するように作用する。
合に、プローブ針、蔵置体、及び被検査物等に結露を生
しることを未然に防止するように作用する。
また噴出孔は載置体の載置面の周囲に穿設されている為
、ドライエアの噴出によっても被検査物が浮き上がった
り、或いは移動したりすることがない。
、ドライエアの噴出によっても被検査物が浮き上がった
り、或いは移動したりすることがない。
さらにドライエアが被検査体の対接面を有する内方上方
に向かって噴出するように噴出孔を設けた場合には、噴
出ガスが効率的に被検査物付近に充満し、少量の噴出で
より効果的にドライ状態を得るように作用する。
に向かって噴出するように噴出孔を設けた場合には、噴
出ガスが効率的に被検査物付近に充満し、少量の噴出で
より効果的にドライ状態を得るように作用する。
更に一般にプローブ針はタングステン等の材質で出来て
いる為、使用する噴出ガスを窒素ガス等の不活性ガスを
用いた場合には、プローブ針と載置体との間がこの不活
性ガスで充満し、この雰囲気下では、プローブ針の酸化
を減少させるように作用させる。
いる為、使用する噴出ガスを窒素ガス等の不活性ガスを
用いた場合には、プローブ針と載置体との間がこの不活
性ガスで充満し、この雰囲気下では、プローブ針の酸化
を減少させるように作用させる。
また上記噴出孔からのドライエアの流れにより、仮にプ
ローブ針先にゴミ等が介在した場合であっても、噴出孔
を平面平行に移動させ、噴出孔の近傍にプローブ針を配
置させ、これを吹き飛ばすように作用させることも出来
る。
ローブ針先にゴミ等が介在した場合であっても、噴出孔
を平面平行に移動させ、噴出孔の近傍にプローブ針を配
置させ、これを吹き飛ばすように作用させることも出来
る。
(実施例)
以下本発明をプローブ装置に通用した一実施例を図面に
基づいて詳述する。
基づいて詳述する。
本発明に用いるプローブ装置の1&五体、例えばアルミ
製の直径(80tm)のチャ、クトフブlの上面に被検
査体、例えばウェハの載置面が水平に設けられている。
製の直径(80tm)のチャ、クトフブlの上面に被検
査体、例えばウェハの載置面が水平に設けられている。
上記載置面の中央には被検査体、例えばウェハ2が載置
される領域があり、この領域外のスペースには第1図に
示す如(、環状にドライエアを噴出させる噴出孔3が複
数穿設されている。
される領域があり、この領域外のスペースには第1図に
示す如(、環状にドライエアを噴出させる噴出孔3が複
数穿設されている。
これら複数個の噴出孔3は、噴出孔3をやや内方に傾け
て〔チャックトップlの被検査体2の上方向〕穿設され
、ドライエアを噴出させる他、例えばチャ、クトンブ1
の上面に対し垂直に穿設しドライエアを真上に噴出させ
ることも出来る。
て〔チャックトップlの被検査体2の上方向〕穿設され
、ドライエアを噴出させる他、例えばチャ、クトンブ1
の上面に対し垂直に穿設しドライエアを真上に噴出させ
ることも出来る。
噴出するドライエアは、フィルタ3f、除湿気3e、供
給弁3aを介して清浄化され、乾燥したエアを供給出来
る公知の装置等を経由し載置体lに設けられた噴出孔3
に供給する構成としている。
給弁3aを介して清浄化され、乾燥したエアを供給出来
る公知の装置等を経由し載置体lに設けられた噴出孔3
に供給する構成としている。
上記蔵置体1に穿設された、噴出孔3からのドライエア
の噴出は、この噴出孔3と連通された供給弁3aを供給
駆動部3bの駆動で調整するように設けられている。
の噴出は、この噴出孔3と連通された供給弁3aを供給
駆動部3bの駆動で調整するように設けられている。
この供給駆動部3bに制御手段、例えばCPU3cの指
示に基づいて駆動するように構成されている。上記供給
弁3aを開にすると噴出孔3から噴出されるドライエア
34は、連通した除湿機3eでドライエア3dに変換さ
れた気体である。
示に基づいて駆動するように構成されている。上記供給
弁3aを開にすると噴出孔3から噴出されるドライエア
34は、連通した除湿機3eでドライエア3dに変換さ
れた気体である。
この気体は大気からフィルタ3fを介しておくられる。
またドライエア3dに代えて例えば窒素ガス等の不活性
ガスを噴出するには、上記CPU3 cの指令に基づい
て三方弁3gを切り換えて、噴出する如く設けられてい
る。
ガスを噴出するには、上記CPU3 cの指令に基づい
て三方弁3gを切り換えて、噴出する如く設けられてい
る。
第2図は本発明の使用時を示す概略図であり、チャ、ク
トツブ1に載置しているウェハ2の上方に対向してプロ
ーブカード4が平行に位置されている。
トツブ1に載置しているウェハ2の上方に対向してプロ
ーブカード4が平行に位置されている。
このプローブカード4の中心には、中空部が穿設され、
この中空部には複数の針5が中心に集合する方向に向け
て設けられており、ウェハ2に形成されたチップを検査
し良品チップを選別するように構成されている。
この中空部には複数の針5が中心に集合する方向に向け
て設けられており、ウェハ2に形成されたチップを検査
し良品チップを選別するように構成されている。
なお実施例ではガス噴出孔3は前記被検査物2の周囲に
環状に穿設しているが、被検査物2が浮き上がるなどし
ない位置であれば、穿設する位置は特に限定するもので
はない。
環状に穿設しているが、被検査物2が浮き上がるなどし
ない位置であれば、穿設する位置は特に限定するもので
はない。
次ぎに、本実施例の作用を説明する。
まずウェハ2を所定冷却温度に冷却した状態でブロービ
ングを行う時、チャックトップ1の蔵置面に載置された
ウェハ2の周囲のスペースに穿設されている複数の噴出
孔3より、第2図矢印の如くドライなエア例えば窒素ガ
スを対向面に位置されているプローブガードに向けて噴
出させる。
ングを行う時、チャックトップ1の蔵置面に載置された
ウェハ2の周囲のスペースに穿設されている複数の噴出
孔3より、第2図矢印の如くドライなエア例えば窒素ガ
スを対向面に位置されているプローブガードに向けて噴
出させる。
この噴出孔3から噴出された窒素ガスは、プローブカー
ド4の底面に衝突して、このプローブカード4の底面に
沿ってプローブカード4の中心側と外周側に広がりなが
らドライエアの領域を形成する。
ド4の底面に衝突して、このプローブカード4の底面に
沿ってプローブカード4の中心側と外周側に広がりなが
らドライエアの領域を形成する。
即ち、チャックトップ1に穿設されているガス噴出孔3
は環状に多数形成されていることより、前記プローブカ
ード4で中心側に拡散されたドライエアは、プローブカ
ード4の中心方向に流れ、次第にウェハ2の上方を十分
包み込むように充満する。
は環状に多数形成されていることより、前記プローブカ
ード4で中心側に拡散されたドライエアは、プローブカ
ード4の中心方向に流れ、次第にウェハ2の上方を十分
包み込むように充満する。
またウェハ2の外周には、ドライエアを隔離する部材が
ないので、矢印に示す方向に拡散する。
ないので、矢印に示す方向に拡散する。
上記実施例では、噴出孔を蔵置面と直行する方向に穿設
して説明したが、これに限定されることはなく噴出孔3
をやや内方に向けて穿設しても良い。この場合には、プ
ローブカード4の底面に衝突したドライエアはウェハの
外周方向に逃げて拡散する量を減らす効果があるので、
チャックトップ1の外側方向に拡散する噴出ガスの量を
より少なくすることが出来るように作用する。
して説明したが、これに限定されることはなく噴出孔3
をやや内方に向けて穿設しても良い。この場合には、プ
ローブカード4の底面に衝突したドライエアはウェハの
外周方向に逃げて拡散する量を減らす効果があるので、
チャックトップ1の外側方向に拡散する噴出ガスの量を
より少なくすることが出来るように作用する。
このことより、ウェハ2をさらに完全に噴出ガスで包み
込むことが出来るので信頬性が高くなる。
込むことが出来るので信頬性が高くなる。
また前記この充満した噴出ガスはドライエアであること
より、このガス雰囲気中でブロービングを行った場合に
、プローブガード4、チャックトップ1、被検査物2等
に結露を生しることを未然に防止するように作用し、こ
の結露でウェハ2をさびさせたり等の不具合を解消させ
ることができ正確なブロービングを行うことが出来る。
より、このガス雰囲気中でブロービングを行った場合に
、プローブガード4、チャックトップ1、被検査物2等
に結露を生しることを未然に防止するように作用し、こ
の結露でウェハ2をさびさせたり等の不具合を解消させ
ることができ正確なブロービングを行うことが出来る。
また噴出ガスとして用いた窒素ガス等は不活性ガスであ
り、プローブカード4、被検査物2間が窒素ガスで充満
することより、タングステン等の材質で使用しているプ
ローブガード4のプローブ針5の針先は、酸化を減少さ
せるように作用する。
り、プローブカード4、被検査物2間が窒素ガスで充満
することより、タングステン等の材質で使用しているプ
ローブガード4のプローブ針5の針先は、酸化を減少さ
せるように作用する。
更に噴出孔3は、チャンクトップ1のウェハ2の周面ス
ペースに穿設する構成である為、ドライエア等の噴出に
よってもウェハ2が浮き上がったり或いは移動したする
ことがなく、ブロービングに支障がないのは当然である
他、チャツクトップ1上面の従来使用してないスペース
を利用する為、従来より使用しているチャックトップ1
を改造して使用することも出来る。
ペースに穿設する構成である為、ドライエア等の噴出に
よってもウェハ2が浮き上がったり或いは移動したする
ことがなく、ブロービングに支障がないのは当然である
他、チャツクトップ1上面の従来使用してないスペース
を利用する為、従来より使用しているチャックトップ1
を改造して使用することも出来る。
また噴出孔3より噴出ガスの流れにより、仮にプローブ
カードのプローブ針先にゴミ等が介在した場合であって
も、これを吹き飛ばすように作用させることも出来る。
カードのプローブ針先にゴミ等が介在した場合であって
も、これを吹き飛ばすように作用させることも出来る。
この場合噴出ガスの量、圧力を変化させることよりゴミ
等の除去が効果的に行える。
等の除去が効果的に行える。
次ぎにホット雰囲気でブロービングを行う時は、結露の
問題が生じない為、ガス噴出孔3よりガスの噴出の必要
はない。ただこの場合であっても、針5の周りを窒素ガ
ス等の雰囲気とすることが出来る為、プローブカード4
の針5の酸化減少を目的として使用することも出来る。
問題が生じない為、ガス噴出孔3よりガスの噴出の必要
はない。ただこの場合であっても、針5の周りを窒素ガ
ス等の雰囲気とすることが出来る為、プローブカード4
の針5の酸化減少を目的として使用することも出来る。
なお上述実施例では、ガス噴出孔3の数は噴出させるガ
スの圧力、量により選択するものとし、また穿設する孔
の方向、角度を個々変えて設けても良いものとする他、
孔の大きさを変更し隣あったガス噴出孔3より噴出させ
るガスの圧力、量を変更させるものであっても良い。
スの圧力、量により選択するものとし、また穿設する孔
の方向、角度を個々変えて設けても良いものとする他、
孔の大きさを変更し隣あったガス噴出孔3より噴出させ
るガスの圧力、量を変更させるものであっても良い。
さらに被検査体とプローブカード間の間隙に形成される
ドライエアの乾燥状態を測定し、所望の乾燥値になるよ
うに制御しても良い。
ドライエアの乾燥状態を測定し、所望の乾燥値になるよ
うに制御しても良い。
発里夏羞果
本発明は、上述のように構成作用することより、ホット
アンドクール仕様のプローブ装置において、少量のドラ
イエアで確実に結露を防止することが出来る為、ランニ
ングコストの低減を図ることが出来る他、噴出ガスに窒
素ガス等の不活性ガスを仕様することが出来ることより
、ブロービング中の針先の酸化を減少させ針の研磨、交
換の回数を減らすことが出来、低コスト化が図れる。
アンドクール仕様のプローブ装置において、少量のドラ
イエアで確実に結露を防止することが出来る為、ランニ
ングコストの低減を図ることが出来る他、噴出ガスに窒
素ガス等の不活性ガスを仕様することが出来ることより
、ブロービング中の針先の酸化を減少させ針の研磨、交
換の回数を減らすことが出来、低コスト化が図れる。
またブロービング中に針先にゴミが介在した場合に、ガ
ス噴出流によりこれを除去することが可能であり、効率
的な作業を行うことが出来る。
ス噴出流によりこれを除去することが可能であり、効率
的な作業を行うことが出来る。
更に本発明は構成が簡易であり安価に製作出来、従来の
装置を改良して製作することも出来る等優れた効果を有
する。
装置を改良して製作することも出来る等優れた効果を有
する。
図面は本発明に於けるプローブ装置の実施例を示したも
ので、第1図は本発明のチャ、クトップの平面図、第2
図は同上の使用状態を示す一部切欠き側面図である。 第1図 第2図 ■ チャックトップ 2−被検査物〔ウェハ〕3−噴出
孔 4−プローブカード5 プローブ針
ので、第1図は本発明のチャ、クトップの平面図、第2
図は同上の使用状態を示す一部切欠き側面図である。 第1図 第2図 ■ チャックトップ 2−被検査物〔ウェハ〕3−噴出
孔 4−プローブカード5 プローブ針
Claims (3)
- (1)プローブカードと対向した載置面に被検査体を設
け、この被検査体の電極列にプローブ針列を接触させて
、電気的特性を検査するプローブ装置において、上記載
置面の周縁に沿ってドライエアが噴出される噴出孔を複
数個設け、この噴出孔から噴出されたドライエアがプロ
ーブカード及び上記被検査体の間にドライエア雰囲気領
域を形成するようにしたことを特徴とするプローブ装置
。 - (2)上記載置面に被検査体が対接した以外の載置スペ
ースに穿設する噴出孔をややプローブカードの中心方向
に傾けて穿設したことを特徴とする請求項1記載のプロ
ーブ装置。 - (3)上記ドライエアを窒素ガス等不活性ガスに代えて
噴出し、プローブ針の酸化を減少させる構成としたこと
を特徴とする請求項1、2記載のプローブ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9480390A JPH03292748A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | プローブ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9480390A JPH03292748A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | プローブ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03292748A true JPH03292748A (ja) | 1991-12-24 |
Family
ID=14120222
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9480390A Pending JPH03292748A (ja) | 1990-04-10 | 1990-04-10 | プローブ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03292748A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000216205A (ja) * | 1999-01-22 | 2000-08-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 検査装置及びそれを用いた検査方法 |
JP2017198640A (ja) * | 2016-04-29 | 2017-11-02 | 日本電子材料株式会社 | プローブカード |
JP2018105725A (ja) * | 2016-12-27 | 2018-07-05 | 三菱電機株式会社 | 評価装置及び評価方法 |
-
1990
- 1990-04-10 JP JP9480390A patent/JPH03292748A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000216205A (ja) * | 1999-01-22 | 2000-08-04 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 検査装置及びそれを用いた検査方法 |
JP2017198640A (ja) * | 2016-04-29 | 2017-11-02 | 日本電子材料株式会社 | プローブカード |
JP2018105725A (ja) * | 2016-12-27 | 2018-07-05 | 三菱電機株式会社 | 評価装置及び評価方法 |
US10436833B2 (en) | 2016-12-27 | 2019-10-08 | Mitsubishi Electric Corporation | Evaluation apparatus and evaluation method |
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