JPH03288344A - 光ディスク基準信号発生方法及び装置、並びに光ディスク基準信号を用いた光学ヘッド特性検査方法及び装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野〉 本発明は、光ディスク基準信号発生方法及び装置、並び
に、光ディスク基準信号を用いた光学ヘッド特性検査方
法及び装置に関する。

特に、本発明は、個々の光ディスク用光学ヘッドの特性
を検査し、また光ディスク用光学ヘッドを組みこんだ光
ディスク装置の光学特性を検査するために用いることが
できる光ディスク基準信号発生方法及び装置、並びに、
光ディスク基準信号を用いた光学ヘッド特性検査方法及
び装置に関する。

（従来の技術） 近年、コンパクトディスクの普及に伴い、光ディスクを
利用した装置がいろいろな分野で用いられるようになっ
てきた。光ディスクの技術も、いわゆるＣＤプレーヤー
と言った読み出し専用の装置から、光ディスクに１度だ
け独自のデータを書き込むことができるライトワンス装
置、また光ディスクドライブと呼ばれ、何度をデータを
書いたり消したりできる装置、さらに光ディスクの素材
開発の進歩により、光磁気ディスクのような磁界を必要
としない書き込み／消去が可能な装置へと進んでいる。

このように、光ディスクとその関連装置技術の急速な進
歩によって、これらを応用した装置の需要が想像を越え
る高まりを見せている。

一方、この光ディスク技術全体を支える大きな柱が、光
学ヘッドの技術である。光学ヘッドは、レーザ光（レー
ザビーム〉を正確に制御する部分、光路を構成する微小
光学系、集光したレーザ光を正確に光ディスク上に位置
付けるアクチュエータ部、そして光ディスクより反射し
た光の持つ情報を摘出する受光素子部から成る。それゆ
え、光学ヘッド自体が、レーザ光学、微小光学、超高精
度機械設計などの現在の最先端技術の粋を集めた部品と
言える。光学ヘッドは、光ディスク装置を構築するため
には、必要不可欠な部品であり、光学ヘッドの性能が光
学ヘッドを組みこんだ装置全体の性能を左右することに
なる。光ディスク技術の発展は、ひとえに光学ヘッドの
安定供給に絞られ、それゆえ、多くの機関が光学へ・ン
ドの安定供給への技術開発を進めている。そして、光学
へ・ンドの性能が安定しないと、同一製品での性能にば
らつきが発生し、強いては、その製品により得られるデ
ータの互換性や共通性を失うこととなる。特に、将来あ
らゆる分野で利用されようとしている光ディスクの技術
において、このような不安定さが存在することは、深刻
な問題であり、それらに依存することは、社会的問題と
成りうる可能性がある。

次に、このように重要な光学ヘッドやそれを使用する装
置では、どのような方法で上記の問題を解決しようとし
ているかについて述べる。現在、ＣＤプレーヤー用光学
ヘッドの生産については、生産者が独自の基準で生産し
、最終的には、いわゆる基準ディスクと呼ばれる特殊な
ディスクを基に最終的な評価を行っている。ＣＤプレー
ヤーにおいても、最終組立後、この基準ディスクを利用
した検査が主流となっているようである。また、ライト
ワンス装置や光磁気ディスク装置に至っては、基準ディ
スクすら持たず、各社独自の方法に頼っているのが現状
である。

（発明が解決しようとする課題） しかしなから、基準ディスクを利用して、光ディスク装
置を光学ヘッドを含め総括的に検査する方法には、以下
に説明する２つの主要な深刻な問題が存在する。

（１）基準ディスク自体の問題、及び （」　基準ディスクと測定データとの間に介在する外的
要因 第１の問題について、仮にＣＤプレーヤーを例にとり考
えると、ディスクの機械特性（サイズ、厚み、偏心、た
わみ、その他）から、ディスク上の信号特性（信号エラ
ー、信号出力、レーザ読みだしパワー、ビット形状、そ
の他）がすべて知り尽くされたディスクであり、基本的
には複数の複製ディスクの間で同様な特性を示すもので
なければならな・い、しかしなから、このような条件を
満足する基準ディスクの作成は、その作成費用や労力を
考えると、非現実的なものになってしまう。

また、光ディスク一般に言えることであるが、製造ロッ
ト内での特性はよく一致するが、ロット間でのばらつき
が存在するため、同一特性を持つ基準ディスクを常に入
手することは、不可能である。

さらに、その他の光ディスクの例を見ると、書き換え可
能なディスクでは、記録層の素材や膜特性の違いにより
、基準ディスクの作成には大きな問題が存在している。

第２の問題は、基準ディスクと測定データとの間に介在
するその他の要因の取り扱い方法である。

光ディスク装置の特性上、基準ディスクのみならずディ
スクを回転させるモータやそれらを精度よく配置し固定
する機械部品が、基準ディスクを使用する上で必要とな
る。しかしなから、これらの介在部品については全く基
準が存在せず、個々の形態に頼るのが現実となっている
。そのため、基準ディスクをいかに精度よく作成したと
ころで、それを利用する装置側が規定されていないため
、多くの場合、測定データ間の互換性がとれていない、
以下にこの問題を図面を用いて説明する。

第９図は、光学ヘッド特性を測定する従来の−船釣な測
定系を示す、この測定系で、基準ディスク１０を使用し
て光学ヘッド１４を評価するためには、光学ヘッド１４
からの出力を測定、評価する測定装置１６の他に、基準
ディスク１０を載せるディスクホルダに回転軸が取付け
られたモータ１２と、モータ１２を固定し、かつ基準デ
ィスク１０と光学ヘッド１４との距離、及び光学ヘッド
１４とモータ１２との距離を規定の位置に配置する機構
部（図示せず）が必要となる。

また、第１０図は、前述の測定系における光学ヘッド特
性１４°と測定装置１６との間に介在する外的要因（基
準ディスクの特性１０°、モータの特性１２°〉を図示
したものであり、この外的要因には、図示していないが
、前述の機構部の誤差も含むものである。

以下に問題点を具体例を挙げて説明すると、例えば、基
準ディスクの機械的精度は、数ミクロンレベルで制御さ
れているが、評価装置側のディスクを固定する機構部が
、仮に数十ミクロンの機械的誤差を持っていると、明ら
かに評価結果は全く無意味なものになる。また、モータ
１２の持つ回転むらが大きいと、同様に無意味な結果を
もたらすこととなる。さらに、基準ディスク／モータ／
光学ヘッドの位置関係が正確に制御されないと、この方
法での評価が成立しないことになる。特に、環境温度に
よる機械的膨張や、基準ディスクの経時変化、そして装
置自体の信頼性など、制御されるべき要素が無数にあり
、この方法は、基本的に重要な欠点を持つと言える。

前述のように、−船釣にディスクを使用する検査、調整
の方法は、ディスク自体の不均一さの上に、外的要因と
言った要素が加わるため、精度と統一性を要求するこれ
らの目的には不都合な方法と言える。さらに、光ディス
ク技術の発展に伴い、この技術を全世界に広めるために
も国際的な標準化が必要であり、いわゆる基準ディスク
による測定方法は、その方法自体の持つ不確定さのため
、前述のような大きな欠点を持つものである。

したがって、本発明の目的は、光ディスク技術において
、基準ディスクを用いる際に生じる避けることができな
い不確定要素を回避できる光ディスク基準信号発生方法
及び装置、並びに、光ディスク基準信号を用いた光学ヘ
ッド特性検査方法及び装置を提供することにある。

（課題を解決するための手段） 前述の目的を達成するために、本発明は、少なくとも２
つの半導体レーザを用い、各半導体レーザから出射する
レーザビームを光学的に合成することにより光ディスク
信号を作成する、ことを特徴とする光ディスク基準信号
発生方法、を採用するものである。

また、本発明は、前述の光ディスク基準信号発生方法に
より得られた光ディスク信号を被検査体の光学ヘッドに
入射させて光学ヘッド特性を検査する、ことを特徴とす
る光学ヘッド特性検査方法、を採用するものである。

また、本発明は、１つの半導体レーザを用い、該半導体
レーザの出光レベルを時間的に切替えることにより、出
光レベルの異なった光ディスク信号を得る、ことを特徴
とする光ディスク基準信号発生方法、を採用するもので
ある。

また、本発明は、　光ディスク基準信号発生装置におい
て、レーザビームを出射する第１の半導体レーザと、レ
ーザビームを出射する第２の半導体レーザと、第１の半
導体レーザから出射したレーザビームと第２の半導体レ
ーザから出射したレーザビームを受け、少なくとも１つ
の特定の方向に出す第１のビームスプリッタと、第１の
半導体レーザと第２の半導体レーザを時間的に切替える
スイッチと、を有し、この構成により、光学的に合成し
た光ディスク信号を作成する、ことを特徴とする光ディ
スク基準信号発生装置、を採用するものである。

また、本発明は、前述の光ディスク基準信号発生装置に
より得られた光ディスク信号を被検査体の光学ヘッドに
入射させて光学ヘッド特性を検査する、ことを特徴とす
る光学ヘッド特性検査装置、を採用するものである。

さらにまた、本発明は、光ディスク基準信号発生装置に
おいて、レーザビームを出射する１つの半導体レーザと
、該半導体レーザのレーザビームを異なった２つの出光
レベルに設定する設定手段と、該設定手段を時間的に切
替えることにより、出光レベルの異なった光ディスク信
号を発生するスイッチと、を有する、ことを特徴とする
光ディスク基準信号発生装置を採用するものである。

さらにまた、本発明は、前述の光ディスク基準信号発生
装置により得られた光ディスク信号を被検査体の光学ヘ
ッドに入射させて光学ヘッド特性を検査する、ことを特
徴とする光学ヘッド特性検査装置、を採用するものでる
。

（実施例） 以下、図面を参照して、本発明の好ましい実施例につい
て説明する。

第１図は、光磁気ディスクの偏光特性を説明するための
概略図であり、第２図は、本発明の光ディスク基準信号
発生装置及びその光ディスク基準信号発生装置により発
生された光ディスク信号を用いる光学ヘッド特性検査装
置の主要部品を示す概略ブロック図であり、第３図は、
第２図の光ディスク基準信号発生装置の内の偏光角制御
装置を示す概略ブロック図であり、第４図は、第２図の
光ディスク基準信号発生装置の内のレーザビーム出力制
御装置を示す概略ブロック図であり、第５図は、カセッ
ト状に構成した第２図の光ディスク基準信号発生装置の
斜視図であり、第６図は、第５図のカセット状に構成し
た光ディスク基準信号発生装置の光ディスク装置への装
填を説明するための概略斜視図であり、第７Ａ図及び第
７Ｂ図は、偏光成分を含む光ディスク信号を作成する方
法を説明するための、波形図であり、第８Ａ図及び第８
Ｂ図は、異なった出力レベルを持つ光ディスク信号を作
成する方法を説明するための、波形図である。

本発明の中心となる半導体レーザ（レーザダイオード）
は種々の光ディスク（ＣＤディスク、追記型ディスク、
光磁気ディスク、相変化型ディスク等）で用いることが
できるいろいろな信号を作成できるが、本明細書では、
特に、光磁気ディスク基準信号発生装置、及び該装置に
よって発生された光ディスク基準信号を用いた光学ヘッ
ド特性検査装置を中心に説明する。

最初に、第１図を参照すると、一般の光磁気ディスク２
０が示されている６光磁気ディスクの原理は、光磁気デ
ィスク２０の結晶セル２２の磁化極性方向く矢印Ａまた
はＢで示す〉により、出射光２４または２４′に対する
反射光２４ａまたは２４ａ°の位相成分の回転〈カー回
転、ファラデー回転〉方向が異なり、このように異なっ
た位相回転（即ち、偏光成分の有無または差）を検出す
ることで、光磁気ディスク上の情報を読み出すものであ
る。

本発明は、このような偏光成分を含む光磁気ディスクの
信号を作成するために、半導体レーザの位相を、偏光装
置、偏光角検出装置、偏光角制御装置等を利用して制御
することで、希望するカー回転角を作成する０位相を制
御するのに用いる偏光装置としては、波長板（λ／４板
）、偏光用結晶、例えばＫＴＰ、ポッケルスセンサ等が
ある。

偏光用結晶等は波長板に比較して応答速度が遅いため、
本発明では、波長板〈２枚のλ／４板）を利用してカー
回転角の異なる２つのレーザビームを作威し、それぞれ
のレーザビームを時間的に切替えることにより光磁気デ
ィスクの信号を合成することが好ましいものであるが、
本発明はこれに限定されるものではない。

次に、第２図を参照すると、本発明の光磁気ディスク信
号発生装置及び光学ヘッド特性検査装置の主要な部品が
示されている。これらの装置は、大別して、信号を合成
する機能を持つブロックＡ、合成した信号を制御する、
特に信号に含まれる偏光成分を制御するブロックＢ、ブ
ロックＡで作成された信号の出射光をの光軸を検出し光
学系を位置決めするブロックＣ１及びブロックＡで作成
された信号を光学ヘッドに入射して光学ヘッドの特性を
検査する光学ヘッド特性検査ブロック（装Ｗ）Ｄから構
成されている。なお、ブロックＡには、第４図に関連し
て後述するが、レーザビーム出力制御回路く自動光量調
節装置）が含まれている。

また、ブロックＢの詳細は、第３図に示されている。

ブロックＡでは、２つのレーザダイオード（半導体レー
ザ）２６．２８は、それぞれレーザビームを出射し、出
射されたレーザビームは、それぞれ、コリメータ３０．
３２、ビームスプリッタ３４．３６を通りビームスプリ
ッタ４０に入射されるが、一方のレーザダイオード２６
から出射されたレーザビームはビームスプリッタ３４と
４０との間で偏光装置３８を通過する。コリメータ３０
．３２は、レーザビームを平行光にするためのものであ
り、ビームスプリッタ３４．３６は、それぞれ検出セン
サ４２．４４にレーザビームの一部を分けるものであり
、検出センサ４２．４４は、第４図に開運して詳細には
後述するレーザダイオードからの出射光量を一定に保つ
ためのレーザビーム出力制御（自動光量調節）装置に接
続されている。偏光装ｆ３８は、レーザダイオード２６
からのし、−ザビームをカー回転するためのものであり
、即ち偏光させるためのものである。

偏光装置３８は、前述したように、波長板、偏光用結晶
等の任意の適当なものを利用できるが、応答速度の点か
ら、本発明で−は、固定したλ／４板及び回転可能なλ
／４板から構成されている。

次に、ブロックＢは、希望するカー回転角（偏光角）を
得るための構成を有するものであり、第２図では、その
内の一部である、偏光角を検出する検出装置を示すもの
であり、全体の詳細は第３図に関連して説明する。

ビームスプリッタ４０で分けられたレーザビームは、λ
／２板５２（第３図参照〉を通して偏光特性を持つ偏光
ビームスプリッタ４６に入射されて２つのレーザビーム
に分けられて、検出センサ４８．５０に入射される。

次に、ブロックＣは、レーザダイオードからのレーザビ
ームの光軸を検出し、光学系を位置決めするための光軸
検出装置である。ビームスプリッタ４０からビームスプ
リッタ５４に入射されたレーザビームの一部が拡大レン
ズ５６を通してスクリーン付のＣＣＤカメラ５８に入射
される。ＣＣＤカメラ５８は、光−電気信号変換素子で
あり、変換された電気信号の大きさにより、光軸を決定
できる。なお、ＣＣＤカメラに代えて、４分割検出セン
サを用いることもできる。

次に、ビームスプリッタ５４から出たレーザビームは、
対物レンズ６０、ガラス基板６２を通して被検査体であ
る光学ヘッド１４に入射され、ブロックＤの光学ヘッド
特性検査装置で、光学ヘッド１４の特性が検査される。

次に、第３図を参照して、偏光角制御装置を説明する。

前述したように、ビームスプリッタ４０からのレーザビ
ームの一部がλ／２板５２を通して偏光ビームスプリッ
タ４６に入射され、２つのレーザビームに分けられて検
出センサ４８．５０で検出されるが、検出センサ４８．
５０の検出値は、レーザビームが偏光成分を含む場合に
は、同一でなく、差が生じる。検出センサ４８．５０の
検出値は差分検出回路６４に入力され、この差分検出回
路６４により、差分が検出され、偏光角比較回路６６に
入力される、偏光角比較回路６６において、設定された
希望する偏光角と前述のように検出された差分の値が比
較され、比較値（両者の差）がモータ制御回路６８に入
力され、モータ７０を駆動することにより、希望する回
転角（偏光角）に正確に制御される。なお、このことに
より、基準信号のみならず、欠陥信号も作成できる。

次に、第４図を参照して、レーザビーム出力制御回路を
説明する。前述のように、ビームスプリッタ３４．３６
からのレーザビームは検出センサ４２．４４により検出
される。それぞれの検出値はレーザ出力制御回路７２．
７４に入力されて、その出力によりレーザドライバ７６
．７８を駆動して、レーザダイオード２６．２８の出力
が一定になるように制御する。スイッチ８０は、高速ス
イッチング回路であり、レーザドライバ７６゜７８を高
速で交互に切替えるものであり、これにより、例えば、
カー回転角を持つレーザビームとカー回転角を持たない
レーザビームとを含む光磁気ディスク信号を作成する。

または、出力レベルの異なった、例えばＣＤディスク用
の光ディスク信号を作成する。なお、レーザダイオード
２６、２８に出力の変動が生じると、レーザ出力制御回
路７２．７４が制御を行い、前述のように、レーザダイ
オード２６．２８の出力を一定に維持する。

次に、第５図及び第６図を参照して、カセット状に構成
した前述の光学系を説明する。既に第２図乃至第４図に
関連して説明した光ディスク基準信号発生装置及び光学
ヘッド特性検査装置は、光ディスク装置とは切り離して
、個々の光学ヘッドを検査するための光ディスク基準信
号を作成し、また光学ヘッド特性を検査するのに適して
いるが、第５図及び第６図の装置は、個々の光ディスク
装置自体、または光学ヘッドを利用する他のどんな装置
、例えば、コンピュータ記憶装置に装填することにより
、それらの個々の装置自体の特性を検査し、評価するこ
とを意図したものである。

第５図に示すように、第２図の光学系がケース７２の内
部に配置されており、第６図に示すように、ケース７２
が光ディスク装置等に装填される。

なお、参照番号７４はコネクタである。このように構成
することにより、光基準信号を発生して、装置全体の評
価を行うことができる。また、欠陥信号を発生すること
により、装置の検査、特に、ディスクが欠陥にあった場
合の、エラー信号処理回路の検査や、信号出力の変化に
対する読み出し回路の検査等のいろいろな検査を行うこ
とができる。

次に、第７Ａ図及び第７Ｂ図及び第８Ａ図及び第８Ｂ図
を参照して、光ディスク基準信号発生装置によって発生
される光基準信号について説明する。

第７Ａ図及び第７Ｂ図は、特に、光磁気ディスク用の偏
光成分を含む光ディスク信号を説明するためのものであ
る。第４図に関連して説明したように、スイッチ８０の
切替えにより、レーザダイオード２６．２８は第７Ａ図
に示すような出力レベルを持つレーザビームを出射する
。レーザダイオード２６からのレーザビームは偏光装置
３８により偏光成分を持つ。これらのレーザビームがビ
ームスプリッタ４０で合成されると、第７Ｂ図にに示す
ような偏光成分を含む一定光量のレーザビームが得られ
る。即ち、光磁気ディスク用の光ディスク信号が得られ
ることになる。

次に、第８Ａ図及び第８Ｂ図は、例えば、ＣＤプレーヤ
ー用の光ディスク信号を説明するためのものである。

レーザダイオード２６．２８の出力を異なったものに設
定してスイッチ８０で切替えると、第８Ａ図に示すよう
な異なったレベルの光量を含むレーザビームが得られる
。なお、この場合には、偏光装置３８では偏光を掛けな
いように設定しておく、これらのレーザビームを合成す
ると、第８Ｂ図に示すような、異なった光量レベルを持
つ光ディスク信号が得られる。即ち、ＣＤプレーヤー用
の光ディスク信号が得られることになる。

なお、前述の実施例では、２つの半導体レーザを用いて
、光ディスク信号を作成させていたが、ＣＤプレーヤー
用の異なった光量レベルを持った光ディスク信号は、１
つの半導体レーザを異なったレベルに切り替えることに
より作成できる。本発明はそのような構成も含むもので
ある。

（発明の効果） このようにして本発明の光ディスク基準信号発生装置に
より作成される光ディスク信号は、正確に制御された変
動のない信号であるので、本発明は、製造が困難な従来
の基準ディスクを用いることなく、また基準ディスクを
使用した場合に導入される外的要因を排除できる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、光磁気ディスクの偏光特性を説明するための
概略図である。 第２図は、本発明の光ディスク基準信号発生装置及びそ
の光ディスク基準信号発生装置によ（発生された光ディ
スク信号を用いる光学ヘッド特性検査装置の主要部品を
示す概略ブロック図である。 第３図は、第２図の光ディスク基準信号発生装置の内の
偏光角制御装置を示す概略ブロック図である。 第４図は、第２図の光ディスク基準信号発生装置の内の
レーザビーム出力制御装置を示す概略ブロック図である
。 第５図は、カセット状に槽底した第２図の光ディスク基
準信号発生装置の斜視図である。 第６図は、第５図のカセット状に構成した光ディスク基
準信号発生装置の光ディスク装置への取付けを説明する
ための概略斜視図である。 第７Ａ図及び第７Ｂ図は、偏光成分を含む光ディスク信
号を作成する方法を説明するための、波形図である。 第８Ａ図及び第８Ｂ図は、異なった出力レベルを持つ光
ディスク信号を作成する方法を説明するための、波形図
である。 第９図は、従来の光ディスク検査系を示す概略正面図で
ある。 第１０図は、従来の光ディスク検査系において導入され
る外的要因を説明するためのブロック図である。 ２６．２８・・・半導体レーザ（レーザダイオード）、
３４．３６．４０．５４・・・ビームスプリッタ、３８
・・・偏光装置、 ４６・・・偏光ビームスプリッタ、 ８０・・・スイッチ。

Claims (21)

【特許請求の範囲】
1. （１）少なくとも２つの半導体レーザを用い、各半導体
   レーザから出射するレーザビームを光学的に合成するこ
   とにより光ディスク信号を作成する、ことを特徴とする
   光ディスク基準信号発生方法。
2. （２）請求項１記載の光ディスク基準信号発生方法にお
   いて、レーザビームの光学的合成が、各半導体レーザを
   時分割してレーザビームを出射させ、得られた各レーザ
   ビームを合成することにより行う、ことを特徴とする光
   ディスク基準信号発生方法。
3. （３）請求項２記載の光ディスク基準信号発生方法にお
   いて、レーザビームの内の少なくとも１つのレーザビー
   ムを偏光装置を通すことにより偏光させて、偏光成分を
   含む光学的に合成した光ディスク信号を得る、ことを特
   徴とする光ディスク基準信号発生方法。
4. （４）請求項２記載の光ディスク基準信号発生方法にお
   いて、レーザビームの内の少なくとも１つのレーザビー
   ムと少なくとも他の１つのレーザビームの出光レベルを
   異なつたものにし、異なった出光レベルを含む光学的に
   合成した光ディスク信号を得る、ことを特徴とする光デ
   ィスク基準信号発生方法。
5. （５）請求項１乃至４のいずれか１つに記載の光ディス
   ク基準信号発生方法により得られた光ディスク信号を被
   検査体の光学ヘッドに入射させて光学ヘッド特性を検査
   する、ことを特徴とする光学ヘッド特性検査方法。
6. （６）１つの半導体レーザを用い、該半導体レーザの出
   光レベルを時間的に切替えることにより、出光レベルの
   異なった光ディスク信号を得る、ことを特徴とする光デ
   ィスク基準信号発生方法。
7. （７）請求項６記載の光ディスク基準信号発生方法によ
   り得られた光ディスク信号を被検査体の光学ヘッドに入
   射させて光学ヘッド特性を検査する、ことを特徴とする
   光学ヘッド特性検査方法。
8. （８）光ディスク基準信号発生装置において、レーザビ
   ームを出射する第１の半導体レーザと、 レーザビームを出射する第２の半導体レーザと、 第１の半導体レーザから出射したレーザビームと第２の
   半導体レーザから出射したレーザビームを受け、少なく
   とも１つの特定の方向に出す第１のビームスプリッタと
   、 第１の半導体レーザと第２の半導体レーザを時間的に切
   替えるスイッチと、を有し、 この構成により、光学的に合成した光ディスク信号を作
   成する、ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置
   。
9. （９）請求項８記載の光ディスク基準信号発生装置にお
   いて、 前記第１の半導体レーザと前記第１のビームスプリッタ
   の間に配置されて第１の半導体レーザから出射したレー
   ザビームを偏光させる偏光装置を、さらに有する、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
10. （１０）請求項９記載の光ディスク基準信号発生装置に
    おいて、 偏光装置が、固定したλ／４板と、回転可能なλ／４板
    と、から成る、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
11. （１１）請求項９記載の光ディスク基準信号発生装置に
    おいて、 前記偏光装置を通って第１のビームスプリッタに入射し
    、その後第１のビームスプリッタから特定の方向に出る
    レーザビームの内の１つを受けて偏光角を検出する検出
    装置と、 検出装置で検出された偏光角に基づいて偏光装置を制御
    して希望する偏光角を得る偏光角制御装置と、をさらに
    有する、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
12. （１２）請求項１１記載の光ディスク基準信号発生装置
    において、検出装置が、 第１のビームスプリッタからのレーザビームを通過させ
    るλ／２板と、 λ／２板を通過したレーザビームを受けて異なった位相
    の２つのレーザビームをそれぞれ２つの方向に分割する
    偏光ビームスプリッタと、２つに分割されたレーザビー
    ムをそれぞれ検出する２つの検出センサと、 ２つの検出センサの出力の差分を検出する差分検出回路
    と、から成る、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
13. （１３）請求項１２記載の光ディスク基準信号発生装置
    において、偏光角制御装置が、 差分検出回路の差分出力と設定された希望する偏光角の
    比較に基づいて角度回転されて偏光装置の回転可能なλ
    ／４板を回転させるモータを有する、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
14. （１４）請求項８記載の光ディスク基準信号発生置にお
    いて、 第１の半導体レーザと第１のビームスプリッタの間に配
    置されて、第１の半導体レーザから出射したレーザビー
    ムを２つの方向に分割する第２のビームスプリッタと、 第２のビームスプリッタからの１つのレーザビームを受
    け、そのレーザビームの光量に基づいて第１の半導体レ
    ーザの出射光量を制御する第１のレーザビーム出力制御
    回路と、 第２の半導体レーザと第１のビームスプリッタの間に配
    置されて、第２の半導体レーザから出射したレーザビー
    ムを２つの方向に分割する第３のビームスプリッタと、 第３のビームスプリッタからの１つのレーザビームを受
    け、そのレーザビームの光量に基づいて第２の半導体レ
    ーザの出射光量を制御する第２のレーザビーム出力制御
    回路と、をさらに有する、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
15. （１５）請求項１４記載の光ディスク基準信号発生装置
    において、 第１及び第２のレーザビーム出力制御回路からの出力を
    同一のレベルに制御する、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
16. （１６）請求項１４記載の光ディスク基準信号発生装置
    において、 第１及び第２のレーザビーム出力制御回路からの出力を
    異なったレベルに制御する、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
17. （１７）請求項８記載の光ディスク基準信号発生装置に
    おいて、 第１のビームスプリッタから出た１つの方向のレーザビ
    ームをさらに２つの方向に分割する第４のビームスプリ
    ッタと、 第４のビームスプリッタから出た１つの方向のレーザビ
    ームを光−電気信号変換してレーザビームの光軸を検出
    する光軸検出装置をさらに有する、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
18. （１８）請求項８乃至１７のいずれか１つに記載の光基
    準信号発生装置において、 該光基準信号発生装置を光ディスク装置の光ディスクの
    代えて配置するように、カセット状に構成した、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
19. （１９）請求項８乃至１８のいずれか１つに記載の光デ
    ィスク基準信号発生装置により得られた光ディスク信号
    を被検査体の光学ヘッドに入射させて光学ヘッド特性を
    検査する、ことを特徴とする光学ヘッド特性検査装置。
20. （２０）光ディスク基準信号発生装置において、レーザ
    ビームを出射する１つの半導体レーザと、 該半導体レーザのレーザビームを異なった２つの出光レ
    ベルに設定する設定手段と、 該設定手段を時間的に切替えることにより、出光レベル
    の異なった光ディスク信号を発生するスイッチと、を有
    する、 ことを特徴とする光ディスク基準信号発生装置。
21. （２１）請求項２０記載の光ディスク基準信号発生装置
    により得られた光ディスク信号を被検査体の光学ヘッド
    に入射させて光学ヘッド特性を検査する、ことを特徴と
    する光学ヘッド特性検査装置。