JPH03285842A - Hip処理方法 - Google Patents

Hip処理方法

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JPH03285842A
JPH03285842A JP8302890A JP8302890A JPH03285842A JP H03285842 A JPH03285842 A JP H03285842A JP 8302890 A JP8302890 A JP 8302890A JP 8302890 A JP8302890 A JP 8302890A JP H03285842 A JPH03285842 A JP H03285842A
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JP
Japan
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base plate
substrate
treated
prevented
hip
Prior art date
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Application number
JP8302890A
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English (en)
Inventor
Shoichi Hattori
正一 服部
Kenichiro Abe
健一郎 阿部
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概 要〕 HIP処理方法に係り、特に銅導体ガラスセラミック焼
成体をHIP (熱間等方プレス)処理する際の反り防
止に関し、 HIP処理中に反りを生ぜず、しかも拡散を防止したH
IP処理方法を提供することを目的とし、支持板上に被
処理基板を載置して該被処理基板に高温・高圧の熱間等
方プレス(HIP)を施すHIP処理方法において、 前記被処理基板上にも第2の支持板を載置し、前記被処
理基板を、前記上下2つの支持板に挾持させるようにし
て処理することを構成とする。
〔産業上の利用分野〕
本発明はHIP処理方法に係り、特に銅導体ガラスセラ
ミック焼成体をHIP (熱間等方プレス)処理する際
の反り防止に関するものである。
〔従来の技術〕
多層銅導体ガラスセラミック基板の製造は例えばアルミ
ナ、ガラス等の原料を整粒、混練し、ドクターブレード
法によりグリーンシートに成形し、穴開け、バイア形成
、内導体形成、積層工程を経て焼成、切断後HI P 
(Hot l5ostatic Pressing :
熱間等方プレス)を行なうことによってなされる。
HIP処理はバイアホール内に発生するボアを消失する
ために行われる。このHIP処理はアルミナ(Al2O
2)や窒化シリコン(313N4)等の焼成体をセッタ
ーとして製品の下に敷き約1000気圧、850℃の温
度で行う。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかしながらHIP処理中被処理製品の表裏の温度差に
より温度の高い表面側にその両端を反らす。
第2図は従来法により製品が反った状態を示す斜視図で
ある。
第2図においてアルミナからなるセッター1上の処理基
板2がHIP処理により反っているのがわかる。最大反
り高さHは180X140 mm角、1.8mm厚さで
約3証であった。また本方法では銅等の拡散が生じ基板
の絶縁性が劣化する問題がある。
本発明はHIP処理中に反りを生ぜず、しかも拡散を防
止したHIP処理方法を提供することを目的とする。
〔課題を解決するたtの手段〕
上記課題は本発明によれば、 支持板上に被処理基板を載置して該被処理基板に高温・
高圧の熱間等方プレス(HIP>を施すHIP処理方法
において、 前記被処理基板上にも第2の支持板を載置し、前記被処
理基板を、前記上下2つの支持板に挟持させるようにし
て処理することを特徴とするHIP処理方法によって解
決される。
本発明では被処理基板として多層ガラスセラミック基板
が好ましく用いられ、支持板の材料は該基板と同質の材
料が好ましく、アルミナ、窒化シリコンがよく用いられ
る。
〔作 用〕
本発明によれば、従来上方に反った基板上にも支持板を
配置しているため反りが防止され、しかも基板表面が支
持板と密着しているため、炉内雰囲気、特に水分の影響
を受けにくいため、銅の拡散も防止できる。
〔実施例〕
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第1図は本発明の方法を説明するた約の斜視図である。
アルミナとホウ珪酸ガラスを含むグリーンシートを約8
層積層・焼成してなる、180X140 mm高さ1.
8 mmの被処理基板(ガラスセラミック)10を用い
、アルミナからなるセッター11.12を該基板10の
それぞれ上下に挟持配置する。セッター11・12の各
大きさは200X200 mm高さ6闘とした。このよ
うな状態でアルミするつぼ内底部に配置し、るつぼ上部
に同じアルミナのふたをしてArガスを用いてHIP処
理を施した。
HIP処理条件は1000気圧、850℃とした。この
結果セッター11.12に挾持された基板10にはほと
んど反りが発生せずしかも銅の拡散も防止できた。
〔発明の効果〕
以上説明した様に本発明によればHIP処理工程におい
て反りと銅の拡散を有効に防止できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の詳細な説明するための斜視図であり、 第2図は従来法により製品が反った状態を示す斜視図で
ある。 1.11.12・・・セッター   2・・・処理基板
、10・・・被処理基板。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、支持板上に被処理基板を載置して該被処理基板に高
    温・高圧の熱間等方プレス(HIP)を施すHIP処理
    方法において、 前記被処理基板上にも第2の支持板を載置し、前記被処
    理基板を、前記上下2つの支持板に挟持させるようにし
    て処理することを特徴とするHIP処理方法。
JP8302890A 1990-03-31 1990-03-31 Hip処理方法 Pending JPH03285842A (ja)

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