JPH032845Y2 - - Google Patents

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JPH032845Y2
JPH032845Y2 JP1982105038U JP10503882U JPH032845Y2 JP H032845 Y2 JPH032845 Y2 JP H032845Y2 JP 1982105038 U JP1982105038 U JP 1982105038U JP 10503882 U JP10503882 U JP 10503882U JP H032845 Y2 JPH032845 Y2 JP H032845Y2
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JP
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sample liquid
analysis
liquid
temperature
cooler
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JP1982105038U
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JPS5910049U (ja
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  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
  • Optical Measuring Cells (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、例えば試料水に薬注して発色させ、
この試料水中のシリカの濃度を分析する発色吸光
分析装置のような各種の液体分析装置の改良に関
するものである。
この種の分析装置においては、ノイズやドリフ
トの原因のひとつとして、試料液体中に存在する
溶存ガスの気泡を挙げることができる。試料中に
気泡が浮遊していると、分析精度に過大な影響を
与えるのは当然であるが、さらには、その気泡が
分析セルの内壁や光学窓に付着し、分析精度が著
しく低下するおそれがある。殊に、試料液体の温
度が低く、分析セルへの供給以前に、分析温度に
まで温度上昇させねばならないような場合には、
試料中の気泡が多大になつて、その影響力がさら
に顕著になり、また、低濃度を対象とする分析に
あつては、分析精度を著しく低下させるおそれが
あつた。そのため、従来においては、試料液体を
分析セル内に供給する以前に、一旦大気に開放し
て気泡を取り除いたり、あるいは、分析セル内に
おいて、攪拌、振動、減圧などの物理的手段によ
つて気泡を取り除くなどの手段が講じられてい
た。しかし、前者の方法では、気泡を完全に取り
除くことがほとんど不可能であり、後者の方法で
は、外的に加えられる物理的手段の光学系に与え
る影響が大きく、かえつて、それがノイズの原因
となるなど、種々の欠点があつた。
本考案は、このような従来欠点の除去を目的と
するもので、比較的簡単な構造で、試料液体中の
気泡を効果的に取り除くことのできる新規な分析
装置を提供せんとするものである。
本考案の実施の態様を例示図にもとづいて説明
すると、図中1は、例えば発色吸光分析に用いる
液体分析用のセルであり、2は、セル1に試料液
体を供給する供給管であり、この供給管2には、
導入用電磁弁3が設けられている。この電磁弁3
の下流側には、調温可能な加熱器4が連通連結さ
れ、さらに、その下流側には、数層の金属網や多
孔フイルタなどからなる気泡成長器5が連通連結
されている。6は、脱泡槽で、上端が大気に開放
されるとともに、その下端部には、別の供給管7
が連通連結されている。この脱泡槽6の下流側に
は、試料液体を冷媒とする冷却器8が連通連結さ
れ、この冷却器8を出た供給管7が、前記分析セ
ル1に連通連結されているのである。なお、図中
9は、分析完了後に、分析セル1内の試料液体を
排出するための排出用電磁弁である。
次に、作用について説明すると、導入用電磁弁
3を励磁して開放すると、まず試料液体は加熱器
4に入り、例えば加熱器4が60℃に調温されてい
るとすれば、58℃程度にまで加熱昇温される。こ
の昇温により、試料液体中の溶存ガスは、積極的
に発泡されて気泡化し、そのまま気泡成長器5に
至る。この成長器5内において、微細な気泡は互
いに会合されて成長し、その後、脱泡槽6に至
る。この脱泡槽6において、成長した気泡は上端
から大気へ放出され、脱泡後の試料液体のみが冷
却器8内に導入される。冷却器8内において、試
料液体は、例えば30℃程度に冷却される。この冷
却により、試料液体中に残存する若干の気泡は、
試料液体中に再度溶解され、溶存ガスの少ない、
かつ、気泡化しにくい安定した状態の試料液体が
分析セル1内に供給されるのである。したがつ
て、分析セル1に供給された試料液体中には、気
泡化した溶存ガスはほとんど存在せず、気泡によ
るノイズやドリフトが完全に防止されるのであ
る。Aは測定時の液面、Bは排出時の液面を示
す。
なお、加熱器4の温度や、冷却器8の温度は、
試料液体の温度や種類に応じて自由に変更できる
のはもちろんであるが、特に本実施例のように、
冷却器8用の冷媒として試料液体そのものを使用
するときは、特別な冷媒を必要とせず、装置その
ものを簡単にし、低廉化を図ることができる。
以上説明したように、本考案においては、試料
液体を一旦分析時の温度以上に加熱して試料液体
中の溶存ガスを積極的に発泡させてこれを除去し
た後、試料液体を冷却してこれを分析セルに供給
するようにしており、特に、試料液体を分析時の
温度以上に加熱して液体中の溶存ガスを積極的に
発泡させ、そのとき生じた微細な溶存ガスを気泡
成長器によつて成長させ、これを脱泡器において
脱泡するようにしているので、液体中に殆ど気泡
が含まれることがなくなる。そして、仮に、試料
液体中に溶存するガスが残存したとしても、この
ガスは冷却器によつて冷却されて試料液体中に再
度溶解され、溶存ガスが少なくしかも気泡化しに
くい安定した状態の試料液体となる。
従つて、本考案によれば、分析セルに対して気
泡化した溶存ガスが殆どない状態で、試料液体を
分析セルに対して供給することができ、気泡によ
るノイズやドリフトの発生を効果的に除去するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
図面は、本考案にかかる液体分析装置の実施の
態様を示す概略図である。 1……分析セル、4……加熱器、5……気泡成
長器、6……脱泡槽、8……冷却器。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 試料液体を分析時の温度以上に加熱する加熱器
    と、この加熱器によつて発泡した微細なガスを成
    長させる気泡成長器と、この気泡成長器からの溶
    存ガスを脱泡させる脱泡槽と、脱泡後の試料液体
    を冷却する冷却器とをこの順で接続すると共に、
    前記冷却器を液体分析用のセルに接続して脱泡処
    理後の試料液体を前記セルに供給するようにした
    ことを特徴とする液体分析装置。
JP10503882U 1982-07-09 1982-07-09 液体分析装置 Granted JPS5910049U (ja)

Priority Applications (1)

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JP10503882U JPS5910049U (ja) 1982-07-09 1982-07-09 液体分析装置

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JP10503882U JPS5910049U (ja) 1982-07-09 1982-07-09 液体分析装置

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Publication Number Publication Date
JPS5910049U JPS5910049U (ja) 1984-01-21
JPH032845Y2 true JPH032845Y2 (ja) 1991-01-25

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ID=30246383

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JP10503882U Granted JPS5910049U (ja) 1982-07-09 1982-07-09 液体分析装置

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59736U (ja) * 1982-06-23 1984-01-06 岐阜プラスチック工業株式会社 運搬用容器
JPS5972228U (ja) * 1982-11-06 1984-05-16 岐阜プラスチック工業株式会社 コンテナ−

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Publication number Publication date
JPS5910049U (ja) 1984-01-21

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