JPH03281149A - タッチプローブによる精密測定方法 - Google Patents
タッチプローブによる精密測定方法Info
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- JPH03281149A JPH03281149A JP7693890A JP7693890A JPH03281149A JP H03281149 A JPH03281149 A JP H03281149A JP 7693890 A JP7693890 A JP 7693890A JP 7693890 A JP7693890 A JP 7693890A JP H03281149 A JPH03281149 A JP H03281149A
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- JP
- Japan
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- touch probe
- contact
- workpiece
- contact angle
- probe
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- Pending
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 45
- 238000000034 method Methods 0.000 title description 2
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- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 4
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 abstract 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 abstract 1
- 230000007274 generation of a signal involved in cell-cell signaling Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Machine Tool Sensing Apparatuses (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、タッチプローブと被測定物との接触状態に関
係なく高精度測定が出来るタッチプローブによる精密測
定方法に関する。
係なく高精度測定が出来るタッチプローブによる精密測
定方法に関する。
[従来の技術]
ワークの形状の同一性を判断する場合や、ワークの取付
位置や加工寸法を測定する場合にはタッチプローブが従
来より使用されている。タッチプローブはワークに接触
する接触子(一般に球状のものから形成される)と、前
記接触子がワークに接触した際にON、OFF信号を発
する信号発生部等とから構成される。前記構造のタッチ
プローブを工作機械の主軸内に装着し、ワークの測定箇
所に前記接触子を接触せしめて所望の測定するものであ
る。
位置や加工寸法を測定する場合にはタッチプローブが従
来より使用されている。タッチプローブはワークに接触
する接触子(一般に球状のものから形成される)と、前
記接触子がワークに接触した際にON、OFF信号を発
する信号発生部等とから構成される。前記構造のタッチ
プローブを工作機械の主軸内に装着し、ワークの測定箇
所に前記接触子を接触せしめて所望の測定するものであ
る。
第1図はタッチプローブ1概要を示すもので、ワーク5
の内壁等の測定箇所には球状の接触子2が当接係合し、
接触子2は本体3の内部に設けられた信号発生部(回路
)に連結し、接触子2の接触時に生ずる押圧力により前
記信号発生部の接点のON、OFFを行うように形成さ
れる。
の内壁等の測定箇所には球状の接触子2が当接係合し、
接触子2は本体3の内部に設けられた信号発生部(回路
)に連結し、接触子2の接触時に生ずる押圧力により前
記信号発生部の接点のON、OFFを行うように形成さ
れる。
タッチプローブ1の信号発生部からのON、OFF信号
は回路の信号伝達手段を介してNC装置4側に伝えられ
る。NG装置4はON、OFF信号の入力により機械系
を動作(停止)させ、ワーク5の寸法測定等が行われる
ことになる。
は回路の信号伝達手段を介してNC装置4側に伝えられ
る。NG装置4はON、OFF信号の入力により機械系
を動作(停止)させ、ワーク5の寸法測定等が行われる
ことになる。
[発明が解決しようとする課題]
第2図に概要表示するように、接触子2の軸体6は本体
3内で吊り部材7により支持される。そのため、接触子
2がワーク5に接触した瞬間にON、OFF信号が発せ
られず、若干の時間ズレ誤差が生ずる。その時間ズレ誤
差は接触子2とワークとの接触状態や、前記した吊り部
材7等とから決められるタッチプローブ1の構造上の固
有特性およびタッチプローブ1全体の測定系の剛性等に
より異った値となる。従って、タッチプローブ1を使用
するに先立って前記時間ズレ誤差を補正するキャリブレ
ーション操作をタッチプローブ1側において行うように
していた。
3内で吊り部材7により支持される。そのため、接触子
2がワーク5に接触した瞬間にON、OFF信号が発せ
られず、若干の時間ズレ誤差が生ずる。その時間ズレ誤
差は接触子2とワークとの接触状態や、前記した吊り部
材7等とから決められるタッチプローブ1の構造上の固
有特性およびタッチプローブ1全体の測定系の剛性等に
より異った値となる。従って、タッチプローブ1を使用
するに先立って前記時間ズレ誤差を補正するキャリブレ
ーション操作をタッチプローブ1側において行うように
していた。
第3図は従来一般に行われているワーク5とタッチプロ
ーブ1の接触子2との接触状態を示すものである。
ーブ1の接触子2との接触状態を示すものである。
図に示すように、接触子2はワーク5の図に水3−
平直径上に沿った位置においてワーク5の内壁に接触し
、Pの力で押圧係合する。すなわち、接触角度θが00
の状態で接触子2はワーク5の内壁に接触係合して測定
が行われる。そのため、前記したタッチプローブ1のキ
ャリブレーションは第3図のような状態において行われ
ることになる。
、Pの力で押圧係合する。すなわち、接触角度θが00
の状態で接触子2はワーク5の内壁に接触係合して測定
が行われる。そのため、前記したタッチプローブ1のキ
ャリブレーションは第3図のような状態において行われ
ることになる。
しかしながら、第4図に示すようにワーク5aの水平直
径方向に凹溝8等が設けられている場合には、接触子2
は接触子2が凹溝8に干渉し接触子2をワーク5aの水
平直径方向に沿って接触係合させることが出来ない。従
って、図示のように接触角度θの位置において接触子2
はワーク5aの内壁に接触させ押圧力Pを加えて測定を
せざるを得ない。
径方向に凹溝8等が設けられている場合には、接触子2
は接触子2が凹溝8に干渉し接触子2をワーク5aの水
平直径方向に沿って接触係合させることが出来ない。従
って、図示のように接触角度θの位置において接触子2
はワーク5aの内壁に接触させ押圧力Pを加えて測定を
せざるを得ない。
押圧力Pは図示のように、水平直径方向に沿って作用す
るため、接触子2とワーク5aの内壁との接触が接触角
度θを有する状態で行われると、接触子2の軸体6に加
わる力が減少する。従って、接触子2がワーク5aの内
壁に所定の力で押圧されているも拘らず、0N−OFF
信号が前記発生部から発せられない問題点が生ずる。そ
のため、ワークの高精度測定が困難となる問題点が生ず
る。
るため、接触子2とワーク5aの内壁との接触が接触角
度θを有する状態で行われると、接触子2の軸体6に加
わる力が減少する。従って、接触子2がワーク5aの内
壁に所定の力で押圧されているも拘らず、0N−OFF
信号が前記発生部から発せられない問題点が生ずる。そ
のため、ワークの高精度測定が困難となる問題点が生ず
る。
本発明は、以上の問題点を解決するもので、タッチプロ
ーブとの接触角度に関係なく高精度測定が可能となるタ
ッチプローブによる精密測定方法を提供することを目的
とする。
ーブとの接触角度に関係なく高精度測定が可能となるタ
ッチプローブによる精密測定方法を提供することを目的
とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は、以上の目的を達成するために、タッチプロー
ブのON、OFF信号により機械側の動作制御をするN
G装置内に、前記タッチプローブと被測定物との接触状
態と前記タッチプローブの固有特性およびタッチプロー
ブの測定系の剛性等により変化する前記○N、OFF信
号の時間ズレ誤差を補正するキャリブレーション回路を
設けてなるタッチプローブによる精密測定方法を特徴と
するものである。
ブのON、OFF信号により機械側の動作制御をするN
G装置内に、前記タッチプローブと被測定物との接触状
態と前記タッチプローブの固有特性およびタッチプロー
ブの測定系の剛性等により変化する前記○N、OFF信
号の時間ズレ誤差を補正するキャリブレーション回路を
設けてなるタッチプローブによる精密測定方法を特徴と
するものである。
[作用]
NG装置内には、タッチプローブとワークとの接触角度
やタッチプローブの構造上の固有特性および測定系の剛
性等により変化する時間ズレ誤差の値が予め記憶される
。従って、タッチプローブの測定に先立ってNG装置内
に前記時間ズレ誤差を補正するキャブレーション回路を
作り、測定時には接触角度θの値を入力することにより
自動的にタッチプローブ1の時間ズレ誤差が補正され、
高精度測定が行われる。
やタッチプローブの構造上の固有特性および測定系の剛
性等により変化する時間ズレ誤差の値が予め記憶される
。従って、タッチプローブの測定に先立ってNG装置内
に前記時間ズレ誤差を補正するキャブレーション回路を
作り、測定時には接触角度θの値を入力することにより
自動的にタッチプローブ1の時間ズレ誤差が補正され、
高精度測定が行われる。
[実施例]
次に1本発明の実施例を図面等により説明する。
第1図に示すように、タッチプローブ1はNG装置4に
連結する。
連結する。
前記したように、タッチプローブ1の接触子2がワーク
5aの内壁に対し接触角度θで接触すると両者の間にフ
リクションロスが生じ、両者が接触係合しているにも拘
らずタッチプローブ1の信号発信号よりON−〇FF信
号が発せられず時間ズレ誤差が生しる。その値は前記の
接触角度θと第2図に示したタッチプローブ1の構造上
の固有特性やタッチプローブ1の全体の測定系の剛性等
により変化する。
5aの内壁に対し接触角度θで接触すると両者の間にフ
リクションロスが生じ、両者が接触係合しているにも拘
らずタッチプローブ1の信号発信号よりON−〇FF信
号が発せられず時間ズレ誤差が生しる。その値は前記の
接触角度θと第2図に示したタッチプローブ1の構造上
の固有特性やタッチプローブ1の全体の測定系の剛性等
により変化する。
NC装置4内には時間ズレ誤差と前記接触角度θ、固有
特性および測定系の剛性等との関係式を構成するキャリ
ブレーション回路9がマイクロソフトとして形成される
。前記関係式は公知の理論により求められるが説明を省
略する。キャリブレーション回路9に予めタッチプロー
ブ1の接触角度θをNC装置4内に入力することにより
、タッチプローブ1側から0N−OFF信号がNC装置
4側に入力されても前記関係式によって演算される時間
ズレ誤差分だけ0N−OFF信号の発信時期を調整する
ように形成されるものである。従って、タッチプローブ
1による測定に当り、接触子2とワーク5a等との接触
角度を求めてNC装置4内に予め入力さえすれば、時間
ズレ誤差が自動的に調整され、高精度測定が行われるこ
とになる。
特性および測定系の剛性等との関係式を構成するキャリ
ブレーション回路9がマイクロソフトとして形成される
。前記関係式は公知の理論により求められるが説明を省
略する。キャリブレーション回路9に予めタッチプロー
ブ1の接触角度θをNC装置4内に入力することにより
、タッチプローブ1側から0N−OFF信号がNC装置
4側に入力されても前記関係式によって演算される時間
ズレ誤差分だけ0N−OFF信号の発信時期を調整する
ように形成されるものである。従って、タッチプローブ
1による測定に当り、接触子2とワーク5a等との接触
角度を求めてNC装置4内に予め入力さえすれば、時間
ズレ誤差が自動的に調整され、高精度測定が行われるこ
とになる。
本実施例では、第4図に示すようなワーク5aをタッチ
プローブ]の接触子2により測定する場合について説明
し、両者の接触状態を表示するも7− のとして接触角度0を用いたが、ワークの形状により単
純な接触角度θで両者の接触状態を表示し得ない場合も
ある。その場合にもワークと接触子との接触状態を表す
因子を用いてNC装置4内該因子に対応するキャリブレ
ーション回路を形成することに前記と同様に高精度測定
を行うことが出来る。
プローブ]の接触子2により測定する場合について説明
し、両者の接触状態を表示するも7− のとして接触角度0を用いたが、ワークの形状により単
純な接触角度θで両者の接触状態を表示し得ない場合も
ある。その場合にもワークと接触子との接触状態を表す
因子を用いてNC装置4内該因子に対応するキャリブレ
ーション回路を形成することに前記と同様に高精度測定
を行うことが出来る。
[発明の効果]
本発明によれば、次のような効果が上げられる。
1)ワーク形状によりタッチプローブをすベリの生じな
い正常の接触位置に接触係合し得ない場合においてもN
G装置内にその時間ズレ誤差を補正するキャリブレーシ
ョン回路を形成することにより、正確なON、OFF信
号が発せられ、機械系の動作制御が行われる。その結果
高精度のワーク測定が行われる。
い正常の接触位置に接触係合し得ない場合においてもN
G装置内にその時間ズレ誤差を補正するキャリブレーシ
ョン回路を形成することにより、正確なON、OFF信
号が発せられ、機械系の動作制御が行われる。その結果
高精度のワーク測定が行われる。
2)高精度測定を可能にするため特別の装置を付設する
ものでなく、NG装置内に時間ズレ誤差8 を補正するキャリブレーション回路をマイクロソフトと
して設けたもので、容易に、かつ安価に実施することが
出来る。
ものでなく、NG装置内に時間ズレ誤差8 を補正するキャリブレーション回路をマイクロソフトと
して設けたもので、容易に、かつ安価に実施することが
出来る。
第1図は本発明の概要構成図、第2図はタッチプローブ
の内部構造の概要を示す軸断面図、第3図および第4図
はワークと接触子との接触係合状態を示す横断面図であ
る。 1・・・タッチプローブ、2・・・接触子、3・・・本
体、4・・・NC装置、5,5a・・・ワーク、6・・
・軸体、7・・・吊り部材、8・・・凹溝、9・・・キ
ャリブレーション回路。
の内部構造の概要を示す軸断面図、第3図および第4図
はワークと接触子との接触係合状態を示す横断面図であ
る。 1・・・タッチプローブ、2・・・接触子、3・・・本
体、4・・・NC装置、5,5a・・・ワーク、6・・
・軸体、7・・・吊り部材、8・・・凹溝、9・・・キ
ャリブレーション回路。
Claims (1)
- タッチプローブのON,OFF信号により機械側の動作
制御をするNC装置内に、前記タッチプローブと被測定
物との接触状態と前記タッチプローブの固有特性および
タッチプローブの測定系の剛性等により変化する前記O
N,OFF信号の時間ズレ誤差を補正するキャリブレー
ション回路を設けることを特徴とするタッチプローブに
よる精密測定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7693890A JPH03281149A (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | タッチプローブによる精密測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP7693890A JPH03281149A (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | タッチプローブによる精密測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03281149A true JPH03281149A (ja) | 1991-12-11 |
Family
ID=13619681
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP7693890A Pending JPH03281149A (ja) | 1990-03-28 | 1990-03-28 | タッチプローブによる精密測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03281149A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010264570A (ja) * | 2009-05-16 | 2010-11-25 | Mori Seiki Co Ltd | 工作機械における工作物測定装置およびその方法 |
-
1990
- 1990-03-28 JP JP7693890A patent/JPH03281149A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010264570A (ja) * | 2009-05-16 | 2010-11-25 | Mori Seiki Co Ltd | 工作機械における工作物測定装置およびその方法 |
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