JPH032731A - Active matrix type liquid crystal display element - Google Patents

Active matrix type liquid crystal display element

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Publication number
JPH032731A
JPH032731A JP1135985A JP13598589A JPH032731A JP H032731 A JPH032731 A JP H032731A JP 1135985 A JP1135985 A JP 1135985A JP 13598589 A JP13598589 A JP 13598589A JP H032731 A JPH032731 A JP H032731A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
signal line
electrode
capacity
potential
liquid crystal
Prior art date
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Pending
Application number
JP1135985A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yoshihiro Asai
浅井 義裕
Makoto Shibusawa
誠 渋沢
Junji Kondo
淳司 近藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP1135985A priority Critical patent/JPH032731A/en
Publication of JPH032731A publication Critical patent/JPH032731A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To suppress reduction of the held video signal potential to such degree at the time of discharging of a signal line capacity that a defect of picture quality does not occur by providing an electrode for additional capacity, which forms a capacity to prevent the potential reduction of the signal line together with the signal line, in the peripheral part of a picture element area. CONSTITUTION:In a part under a scanning line 10 of the lowest stage and off a picture element area 16, an electrode 19 for additional capacity is formed in the direction approximately parallel with the scanning line 10 and across signal lines 11. The additional capacity to improve the potential holding capability of the signal line capacity is formed with the signal line 11, the electrode 19 for additional capacity, and a gate insulating film 22. Therefore, the capacity per one signal line 11 is set to about 1.5-fold conventional capacity. Thus, the signal line potential is hardly reduced by discharging of the signal line capacity, and a picture is displayed more accurately than conventional.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) この発明は、薄膜トランジスタ(Thin FilmT
ranslstor、 T P T )をスイッチ素子
として表示電極アレイを構成したアクティブマトリクス
型液晶表示素子に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a thin film transistor (Thin Film Transistor).
The present invention relates to an active matrix liquid crystal display element in which a display electrode array is configured using a transducer (ransltor, TPT) as a switch element.

(従来の技術) 近年、液晶を用いた表示素子は、テレビ表示やグラフィ
ックデイスプレィ等を指向した大容量で高密度のアクテ
ィブマトリクス型表示素子の開発及び実用化が盛んであ
る。このような表示素子では、クロストークのない高コ
ントラストの表示が行えるように、各画素の駆動と制御
を行う手段として半導体スイッチが用いられる。その半
導体スイッチとしては、透過型表示が可能であり大面積
化も容易である等の理由から、透明絶縁基板上に形成さ
れたTPT等が、通常用いられている。
(Prior Art) In recent years, with regard to display elements using liquid crystals, active matrix type display elements with large capacity and high density are being actively developed and put into practical use for use in television displays, graphic displays, and the like. In such display elements, semiconductor switches are used as means for driving and controlling each pixel so that high contrast display without crosstalk can be performed. As the semiconductor switch, a TPT or the like formed on a transparent insulating substrate is usually used because it is capable of transmissive display and can easily be made into a large area.

第5図はTPTを備えた表示画素電極アレイを用いた液
晶表示素子の一画素を表す簡単な回路図である。同図(
a)において、交差する走査線1と信号線2の各交点位
置にはTPT3が設けられ、TPT3のゲートは行ごと
に走査線1に接続され、TPT3のソースは列ごとに信
号線2に接続されている。また、TPT3のドレインは
表示画素電極4に接続されており、表示画素電極4と対
向電極5の間には液晶層6が挟持されている。更に、同
図(b)では、同図(a)に示した構成に対し、液晶層
6の容量(CIc)と並列に新たに蓄積容量(Cs )
を挿入し、総付加容量(C1oad −C1c+Cs)
を増すことにより、表示画素電極4の電位保持能力を高
めている。ここで、蓄積容量(Cs )は例えば、表示
画素電極4の一部、ゲート絶縁膜(図示せず)及び蓄積
容量用配線7の間で形成される。
FIG. 5 is a simple circuit diagram showing one pixel of a liquid crystal display element using a display pixel electrode array equipped with TPT. Same figure (
In a), a TPT3 is provided at each intersection of the scanning line 1 and the signal line 2, the gate of the TPT3 is connected to the scanning line 1 for each row, and the source of the TPT3 is connected to the signal line 2 for each column. has been done. Further, the drain of the TPT 3 is connected to a display pixel electrode 4, and a liquid crystal layer 6 is sandwiched between the display pixel electrode 4 and the counter electrode 5. Furthermore, in the same figure (b), with respect to the configuration shown in the same figure (a), a new storage capacitor (Cs) is added in parallel with the capacitance (CIc) of the liquid crystal layer 6.
Insert the total additional capacity (C1oad −C1c+Cs)
By increasing the voltage, the potential holding ability of the display pixel electrode 4 is improved. Here, the storage capacitor (Cs) is formed, for example, between a part of the display pixel electrode 4, a gate insulating film (not shown), and the storage capacitor wiring 7.

次に、この種の液晶表示素子の駆動方法の一例について
説明する。即ち、TPT3のゲートに走査線選択電圧(
Vg、on)が印加されている期間(スイッチング期間
)の一部(Toe)において、信号線2の電位は映像信
号電位に設定される。
Next, an example of a method for driving this type of liquid crystal display element will be described. That is, the scanning line selection voltage (
During a part (Toe) of the period (switching period) in which Vg, on) is applied, the potential of the signal line 2 is set to the video signal potential.

Toe以外のスイッチング期間中においては、この映像
信号電位を信号線容量が保持し、表示画素電極4の電位
はスイッチング期間中に信号線容量に保持された映像信
号電位に設定される。この信号線容量は、第5図(a)
では走査線19信号線2間(Cgs)と信号線2・対向
電極5間(CCs)で形成する容量であり、第5図(b
)では走査線1・信号線2間(Cgs)、信号線2・対
向電極5間(Ccs)及び信号線2・蓄積容量用配線7
間(Cas)で形成する容量である。また、TPT3の
ゲートに走査線非選択電圧(Vg、of’r)が印加さ
れている期間(保持期間)は、表示画素電極4が信号線
容量に保持された映像信号電位を保持する。この結果、
表示画素電極4と、所定の電位に設定されている対向電
極5との間に挟持されている液晶層6に、映像信号電圧
に応じた電位差がかかる。そして、この電位差に応じて
液晶層6の配列状態が変化することにより、この部分の
光透過率も変化し、映像表示が行なわれる。
During switching periods other than Toe, this video signal potential is held by the signal line capacitance, and the potential of the display pixel electrode 4 is set to the video signal potential held by the signal line capacitance during the switching period. This signal line capacitance is shown in Figure 5(a).
This is the capacitance formed between the scanning line 19 and the signal line 2 (Cgs) and between the signal line 2 and the counter electrode 5 (CCs), and is shown in Fig. 5(b).
) between scanning line 1 and signal line 2 (Cgs), between signal line 2 and counter electrode 5 (Ccs), and between signal line 2 and storage capacitor wiring 7
This is the capacitance formed between (Cas). Further, during a period (holding period) in which the scanning line non-selection voltage (Vg, of'r) is applied to the gate of the TPT 3, the display pixel electrode 4 holds the video signal potential held in the signal line capacitance. As a result,
A potential difference corresponding to the video signal voltage is applied to the liquid crystal layer 6 sandwiched between the display pixel electrode 4 and the counter electrode 5 set at a predetermined potential. Then, as the arrangement state of the liquid crystal layer 6 changes in accordance with this potential difference, the light transmittance of this portion also changes, and an image is displayed.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、この種の液晶表示素子では、上述した系
で形成される信号線容量が不十分な場合があり、Toe
以外のスイッチング期間中における信号線容量の放電に
よって、信号線電位が低下するため、表示画素電極4の
電位は偽の映像信号電位に設定されることがある。そし
て、表示画素電極4と対向電極5の間に挟持されている
液晶層6に、映像信号電位に応じた電位差がかかる。こ
のため、この部分の光透過率は、真の映像信号電位に応
じた電位差が液晶層6に加わった場合とは異なり、偽の
映像表示が行なわれてしまう。これはコントラスト低下
、フリッカ−及びクロストーク等の画像不良の原因とな
る。
(Problems to be Solved by the Invention) However, in this type of liquid crystal display element, the signal line capacity formed by the above-mentioned system may be insufficient, and Toe
Since the signal line potential decreases due to discharge of the signal line capacitance during other switching periods, the potential of the display pixel electrode 4 may be set to a false video signal potential. Then, a potential difference corresponding to the video signal potential is applied to the liquid crystal layer 6 sandwiched between the display pixel electrode 4 and the counter electrode 5. Therefore, the light transmittance of this portion is different from that when a potential difference corresponding to the true video signal potential is applied to the liquid crystal layer 6, and a false video is displayed. This causes image defects such as contrast reduction, flicker, and crosstalk.

この発明は、このような従来の事情に鑑みてなされたも
のである。
This invention was made in view of such conventional circumstances.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) この発明は、絶縁基板の一主面上に複数本の走査線及び
信号線をマトリクス状に交差させ、この交点付近に薄膜
トランジスタ及びこれに接続される表示画素電極からな
る一画素を配してなる画素領域を有するアレイ基板と、
絶縁基板の一主面上に共通電極を形成してなる対向基板
と、アレイ基板と対向基板を互いの一生面側が対向する
ように組み合わせて得られる間隙に挟持してなる液晶層
とを備えたアクティブマトリクス型液晶表示素子につい
てのものである。そして、上記した画素領域の周辺部分
に、信号線との間で信号線の電位低下を防ぐための容量
を形成する付加容量用電極を設けている。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) The present invention has a plurality of scanning lines and signal lines intersecting in a matrix on one main surface of an insulating substrate, and thin film transistors connected to the intersecting points near the intersections. an array substrate having a pixel area in which one pixel made of a display pixel electrode is arranged;
A counter substrate formed by forming a common electrode on one principal surface of an insulating substrate, and a liquid crystal layer sandwiched in a gap obtained by combining an array substrate and a counter substrate so that their surfaces face each other. This is about an active matrix type liquid crystal display element. Further, an additional capacitance electrode is provided in the peripheral portion of the above-mentioned pixel region to form a capacitance with the signal line to prevent a drop in potential of the signal line.

(作 用) TPTを用いたアクティブマトリクス型液晶表示素子に
おいて、映像表示は表示画素電極の電位に応じて行われ
、この表示画素電極の電位は、信号線容量に保持された
映像信号電位によって決定される。この発明では、信号
線容量が放電しても、保持されている映像信号電位の低
下を、画質不良が生じない程度に抑えるため、信号線容
量を大きくし、信号線容量の電位保持能力を向上させる
(Function) In an active matrix liquid crystal display element using TPT, image display is performed according to the potential of the display pixel electrode, and the potential of the display pixel electrode is determined by the video signal potential held in the signal line capacitance. be done. In this invention, even if the signal line capacitance is discharged, in order to suppress the drop in the held video signal potential to an extent that does not cause poor image quality, the signal line capacitance is increased and the potential holding ability of the signal line capacitance is improved. let

(実施例) 以下、図面を参照してこの発明の詳細な説明する。(Example) Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図はこの発明の一実施例を示す等価回路図である。FIG. 1 is an equivalent circuit diagram showing one embodiment of the present invention.

第1図において、走査線10と信号線11の各交点には
、TFT12を介した液晶層13、画素容量14及び表
示画素電極15の接続により一画素が構成され、これら
の各画素は集まって全体として画素領域16を成してい
る。ここで、表示画素電極15は対応するTFT12の
ドレインに接続され、TFT12のゲート及びソースは
、それぞれ対応する走査線10と信号線11に接続され
ている。また、走査回路17は走査線10に順次ゲート
パルスを印加し、それに同期して、信号ホールド回路1
8は走査線10の1ライン分の画像信号を信号線11に
出力する。TPT12は所定の走査線10にゲートパル
スが印加されている間で導通状態となり、そのとき所定
の信号線11に出力されている画像信号に応じて、画素
容量14に電荷が蓄積され、液晶層13が駆動される。
In FIG. 1, one pixel is configured at each intersection of a scanning line 10 and a signal line 11 by connecting a liquid crystal layer 13, a pixel capacitor 14, and a display pixel electrode 15 via a TFT 12, and each of these pixels is grouped together. The pixel area 16 is formed as a whole. Here, the display pixel electrode 15 is connected to the drain of the corresponding TFT 12, and the gate and source of the TFT 12 are connected to the corresponding scanning line 10 and signal line 11, respectively. Further, the scanning circuit 17 sequentially applies gate pulses to the scanning lines 10, and in synchronization with the gate pulses, the signal hold circuit 1
8 outputs the image signal for one line of the scanning line 10 to the signal line 11. The TPT 12 becomes conductive while a gate pulse is applied to a predetermined scanning line 10, and charges are accumulated in the pixel capacitor 14 according to the image signal output to the predetermined signal line 11 at that time, and the liquid crystal layer 13 is driven.

更に、ゲートパルスが次の走査線10に移ると、TFT
12は非導通状態になり、蓄積された電荷は次に走査を
受けるまで保持される結果、液晶層13の表示状態が維
持される。そして、最下段の走査線10の更に下部の画
素領域16から外れた部分には、付加容量用電極工9が
走査線10と概略平行な方向に延びるように、信号線1
1と交差して形成されている。なお、付加容量用電極1
9は所定の電位例えば対向電極電位或いはグラウンド電
位に設定される。
Furthermore, when the gate pulse moves to the next scanning line 10, the TFT
12 becomes non-conductive, and the accumulated charges are held until the next scan, so that the display state of the liquid crystal layer 13 is maintained. Then, in a portion of the lowermost scanning line 10 that is further away from the lower pixel area 16, the signal line 10 is arranged so that the additional capacitance electrode 9 extends in a direction approximately parallel to the scanning line 10.
It is formed by intersecting with 1. In addition, additional capacitance electrode 1
Reference numeral 9 is set to a predetermined potential, such as a counter electrode potential or a ground potential.

第2図はこの発明の一実施例における一画素部分の断面
図である。同図において製造工程に従って説明すると、
例えばガラスからなる絶縁基板20の一主面上には、例
えば遮光性材料であるCr(クロム)膜をスパッタ法で
被膜した後、所定の形状にフォトエツチングすることに
よりゲート電極21が形成され、更に、これを覆うよう
に例えば酸化シリコン(S i Ox )からなるゲー
ト絶縁膜22がプラズマCVD法により形成されている
。ここで、図示はしていないが、ゲート電極21が形成
される際に、同じ工程で第1図における走査線10及び
付加容量用電極19も形成される。そして、ゲート絶縁
膜22のゲート電極21に対向する部分には、例えばi
型の水素化アモルファスシリコン(a−Si:H)から
なる半導体層23がプラズマCVD法を利用して形成さ
れており、更に、半導体層23上には互いに電気的に分
離されたn型a−Si:Hからなるオーミック層24a
、24bが、同じくプラズマCV D法を利用して設け
られている。そして、半導体層23に隣接するゲート絶
縁膜22上には、例えばITO(インジウム・チン・オ
キサイド)膜をスパッタ法で被膜した後、所定の形状に
フォトエツチングすることにより表示画素電極15が設
けられている。また、オーミック層24bにはドレイン
電極25の一端が接続され、ドレイン電極25の他端は
表示画素電極15上に延在して接続されている。更に、
オーミック層24aにはソース電極26の一端が接続さ
れている。ここで、ドレイン電極25とソース電極26
とは、例えばMo(モリブデン)膜とAI(アルミニウ
ム)膜とをスパッタ法で順次被膜した後、所定の形状に
フォトエツチングするという同じ工程で形成しており、
また、図示はしていないが、第1図における信号線11
もドレイン電極25及びソース電極26と同じ工程で形
成している。こうして、所望のアレイ基板27が得られ
る。一方、例えばガラスからなる絶縁基板28の一主面
上には、例えばITOからなる共通電極29が形成され
ることにより、対向基板30が構成されている。そして
、アレイ基板27の一主面上には、更に全面に例えば低
温キュア型のポリイミドからなる配向膜31が形成され
ており、また、対向基板30の一主面上にも全面に同じ
く、例えば低温キュア型のポリイミドからなる配向膜3
2が形成されている。そして、アレイ基板27と対向基
板30の一主面上に、各々の配向膜31.32を所定の
方向に布等でこすることにより、ラビングによる配向処
理がそれぞれ施されるようになる。更に、アレイ基板2
7と対向基板30は互いの一生面側が対向し且つ互いの
配向軸が概略90″をなすように組み合わせられ、これ
により得られる間隙には液晶層33が挟持されている。
FIG. 2 is a sectional view of one pixel portion in one embodiment of the present invention. To explain according to the manufacturing process in the same figure,
For example, a gate electrode 21 is formed on one main surface of an insulating substrate 20 made of glass by coating a Cr (chromium) film, which is a light-shielding material, by sputtering, and then photoetching it into a predetermined shape. Furthermore, a gate insulating film 22 made of silicon oxide (S i Ox ), for example, is formed by plasma CVD so as to cover this. Although not shown, when the gate electrode 21 is formed, the scanning line 10 and the additional capacitance electrode 19 in FIG. 1 are also formed in the same process. For example, i
A semiconductor layer 23 made of type hydrogenated amorphous silicon (a-Si:H) is formed using a plasma CVD method, and on the semiconductor layer 23, n-type a- Ohmic layer 24a made of Si:H
, 24b are also provided using the plasma CVD method. Then, on the gate insulating film 22 adjacent to the semiconductor layer 23, a display pixel electrode 15 is provided by, for example, coating an ITO (indium tin oxide) film by sputtering and then photoetching it into a predetermined shape. ing. Further, one end of a drain electrode 25 is connected to the ohmic layer 24b, and the other end of the drain electrode 25 extends over and is connected to the display pixel electrode 15. Furthermore,
One end of a source electrode 26 is connected to the ohmic layer 24a. Here, the drain electrode 25 and the source electrode 26
For example, a Mo (molybdenum) film and an AI (aluminum) film are formed in the same process by sequentially coating them by sputtering and then photo-etching them into a predetermined shape.
Although not shown, the signal line 11 in FIG.
The drain electrode 25 and the source electrode 26 are also formed in the same process. In this way, the desired array substrate 27 is obtained. On the other hand, a common electrode 29 made of, for example, ITO is formed on one main surface of an insulating substrate 28 made of, for example, glass, thereby forming a counter substrate 30 . An alignment film 31 made of, for example, low-temperature-curable polyimide is further formed on one main surface of the array substrate 27, and an alignment film 31 made of, for example, low-temperature cure type polyimide is also formed on one main surface of the counter substrate 30, for example. Alignment film 3 made of low temperature cure type polyimide
2 is formed. Then, by rubbing each of the alignment films 31 and 32 in a predetermined direction with a cloth or the like on one main surface of the array substrate 27 and the counter substrate 30, an alignment treatment by rubbing is performed, respectively. Furthermore, array substrate 2
7 and the counter substrate 30 are combined so that their surfaces face each other and their alignment axes form approximately 90'', and a liquid crystal layer 33 is sandwiched in the gap thus obtained.

そして、アレイ基板27と対向基板30の他主面側には
、それぞれ偏光板34.35が被着されており、アレイ
基板27と対向基板30のどちらか一方の他主面側から
照明を行う形になっている。
Polarizing plates 34 and 35 are attached to the other main surfaces of the array substrate 27 and the counter substrate 30, respectively, and illumination is performed from the other main surface of either the array substrate 27 or the counter substrate 30. It's in shape.

第3図はこの発明の一実施例におけるアレイ基板27上
の付加容量用電極19を設けた付近の構造の一例を表す
図であり、同図(a)は平面図、同図(b)は同図(a
)のA−A−断面を矢印方向からみたときの断面図を示
している。第3図かられかるように、信号線11と付加
容量用電極19は画素領域16の周辺部分において、ゲ
ート絶縁膜22を介して交差している。ここで、付加容
量用電極19が画素領域16の周辺部分に設けられる理
由は、製造工程上から考えて走査線10と同時に形成さ
れる付加容量用電極19が、表示素子の開口率を低下さ
せる恐れがあるためである。
FIG. 3 is a diagram showing an example of the structure in the vicinity of the additional capacitance electrode 19 on the array substrate 27 in an embodiment of the present invention, in which FIG. 3(a) is a plan view and FIG. 3(b) is a plan view. The same figure (a
) is a cross-sectional view taken along line A-A when viewed from the direction of the arrow. As can be seen from FIG. 3, the signal line 11 and the additional capacitance electrode 19 intersect with each other via the gate insulating film 22 in the peripheral portion of the pixel region 16. Here, the reason why the additional capacitance electrode 19 is provided in the peripheral part of the pixel region 16 is that, considering the manufacturing process, the additional capacitance electrode 19 formed at the same time as the scanning line 10 reduces the aperture ratio of the display element. This is because there is fear.

この実施例では、信号線容量の電位保持能力を向上させ
るための付加容量が信号線11、付加容量用電極19及
びゲート絶縁膜22によって形成されるため、信号線1
1の1本当たりの容量は従来の1,5倍程度に設定でき
る。この結果、信号線容量の放電に起因した信号線電位
の低下が生じにくくなり、従来に比べ正確な映像表示が
行なえるようになった。ここで、付加容量用電極19或
いは信号線11のパターン形状の変更により、上述した
付加容量は任意の値に設定できる。
In this embodiment, since the additional capacitance for improving the potential holding ability of the signal line capacitance is formed by the signal line 11, the additional capacitance electrode 19, and the gate insulating film 22, the signal line
The capacity per unit of 1 can be set to about 1.5 times that of the conventional one. As a result, a drop in signal line potential due to discharge of the signal line capacitance is less likely to occur, making it possible to display images more accurately than in the past. Here, by changing the pattern shape of the additional capacitance electrode 19 or the signal line 11, the above-mentioned additional capacitance can be set to an arbitrary value.

第4図はこの発明の一実施例におけるアレイ基板27上
の付加容量用電極19を設けた付近の構造の他の例を表
す図であり、同図(a)は平面図、同図(b)は同図(
a)のB−B−断面を矢印方向からみたときの断面図を
示している。この例では第3図に示した例と比べ、信号
線11と付加容量用電極19の交差部に部分的に半導体
層23が残っている点が異なっている。この結果、信号
線容量の電位保持能力を向上させるための付加容量は信
号線11、付加容量用電極19、ゲート絶縁膜22及び
半導体層23によって形成されており、上述した実施例
と同様の効果を有することができる。
FIG. 4 is a diagram showing another example of the structure in the vicinity of the additional capacitance electrode 19 on the array substrate 27 in one embodiment of the present invention, in which FIG. 4(a) is a plan view and FIG. ) is the same figure (
A cross-sectional view of the BB cross section of a) is shown in the direction of the arrow. This example differs from the example shown in FIG. 3 in that the semiconductor layer 23 partially remains at the intersection of the signal line 11 and the additional capacitance electrode 19. As a result, the additional capacitance for improving the potential holding ability of the signal line capacitor is formed by the signal line 11, the additional capacitance electrode 19, the gate insulating film 22, and the semiconductor layer 23, and the same effect as in the embodiment described above is achieved. can have.

[発明の効果] この発明は画素領域外に所定の付加容量用電極を設ける
ことにより、信号線容量の電位保持能力を向上するため
、開口率を低下させることなく、信号線容量の放電によ
り信号線容量に保持されている映像信号電位が低下する
ことによって生じる画質不良を抑えることができる。
[Effects of the Invention] This invention improves the potential holding ability of the signal line capacitor by providing a predetermined additional capacitance electrode outside the pixel area. Image quality defects caused by a drop in the video signal potential held in the line capacitance can be suppressed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明の一実施例を示す等偽回路図、第2図
は第1図に示した実施例における一画素部分の断面図、
第3図と第4図は第1図に示した実施例におけるアレイ
基板上の付加容量用電極を設けた付近の構造の一例を表
す図、第5図は従来のアクティブマトリクス型液晶表示
素子の一画素を表す概略回路図である。 10・・・走査線 11・・・信号線 12・・・薄膜トランジスタ 13・・・液晶層 15・・・表示画素電極 6・・・画素領域 9・・・付加容量用電極 0.28・・・絶縁基板 7・・・アレイ基板 9・・・共通電極 0・・・対向基板 3・・・液晶層 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同    竹 花 喜久男 第 図 第 ■ (a) (b) 第 図 (a) 第 図 (a) (b) 第 図
FIG. 1 is an equivalent circuit diagram showing an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a sectional view of one pixel portion in the embodiment shown in FIG. 1.
3 and 4 are diagrams showing an example of the structure in the vicinity of the electrode for additional capacitance provided on the array substrate in the embodiment shown in FIG. 1, and FIG. FIG. 2 is a schematic circuit diagram representing one pixel. 10...Scanning line 11...Signal line 12...Thin film transistor 13...Liquid crystal layer 15...Display pixel electrode 6...Pixel region 9...Additional capacitance electrode 0.28... Insulating substrate 7...Array substrate 9...Common electrode 0...Counter substrate 3...Liquid crystal layer Agent Patent attorney Nori Chika Ken Yudo Kikuo Takehana Figure 1 ■ (a) (b) Figure (a) Figure (a) (b) Figure

Claims (1)

【特許請求の範囲】 絶縁基板の一主面上に複数本の走査線及び信号線をマト
リクス状に交差させ、この交点付近に薄膜トランジスタ
及びこれに接続される表示画素電極からなる一画素を配
してなる画素領域を有するアレイ基板と、絶縁基板の一
主面上に共通電極を形成してなる対向基板と、前記アレ
イ基板と前記対向基板を互いの前記一主面側が対向する
ように組み合わせて得られる間隙に挟持してなる液晶層
とを備えたアクティブマトリクス型液晶表示素子におい
て、 前記画素領域の周辺部分に前記信号線との間で前記信号
線の電位低下を防ぐための容量を形成する付加容量用電
極を設けていることを特徴とするアクティブマトリクス
型液晶表示素子。
[Claims] A plurality of scanning lines and signal lines intersect in a matrix on one main surface of an insulating substrate, and one pixel consisting of a thin film transistor and a display pixel electrode connected to the thin film transistor is arranged near the intersection. an array substrate having a pixel area consisting of a pixel region, a counter substrate having a common electrode formed on one main surface of an insulating substrate, and the array substrate and the counter substrate are combined so that the one main surface sides thereof face each other. In an active matrix liquid crystal display element having a liquid crystal layer sandwiched between the resulting gaps, a capacitor is formed in a peripheral portion of the pixel region to prevent a potential drop in the signal line between the pixel region and the signal line. An active matrix liquid crystal display element characterized by being provided with an electrode for additional capacitance.
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