JPH03269944A - 同時検出型質量分析装置 - Google Patents

同時検出型質量分析装置

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JPH03269944A
JPH03269944A JP2070042A JP7004290A JPH03269944A JP H03269944 A JPH03269944 A JP H03269944A JP 2070042 A JP2070042 A JP 2070042A JP 7004290 A JP7004290 A JP 7004290A JP H03269944 A JPH03269944 A JP H03269944A
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JP
Japan
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simultaneous detection
ion
detection type
mass
convergence
Prior art date
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Pending
Application number
JP2070042A
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English (en)
Inventor
Morio Ishihara
石原 盛男
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Jeol Ltd
Original Assignee
Jeol Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、同時検出型質量分析装置に関し、特に測定質
量範囲を重視したモートと、分解能を重蜆したモードに
切換えることのできるTifA分析装置に関する。
[従来技術] 1台の同時検出型質量分析装置において、質量範囲を優
先したモードと、分解能を優先したモードに選択的に切
換えて使用できる同時検出型質量分析装置が特願昭63
−176092号に提案されている。
特願昭63−176092号に提案されている装置とし
ては第5図、第6図に示す装置がある。
第5図において、イオン源1で生成されたイオンは、扇
形電場2及び扇形−様磁場3から構成される質量分析器
により、収束展開面に沿って質量電荷比に応じて収束展
開される。この展開されたイオンを同時検出するため、
収束展開面に沿って空間分解能を有する同時検出型イオ
ン検出器4が配置される。この同時検出型イオン検出器
4としては、例えばマイクロチャンネルプレートと微小
検出電極列を組合わせたものや半導体微小イオン検出器
列を用いたものか使用される。
5は一様磁場3と同時検出型イオン検出器4との間に設
けられたQポールレンズ、8はQポールレンズ5の強度
を可変するレンズ強度調整回路、9は同時検出型イオン
検出器4を収束展開面の移動に対応するように移動させ
つつ回転させる移動機構である。
いま、イオン中心軌道Oを通るイオンの質量をmo、検
出器4の両端に入射するイオンの質量をma、m6 、
質量分析器の質量分散をAγとし、Qポールレンズ5の
ある強度で収束展開面カリ1になっており、その時の質
量分散がAγ1であるとする。また、その時の91 と
イオン中心軌道O(イオン光軸)との交点をPとする。
次に、別のレンズ強度をとった時の収束展開面をp2と
する。この様にして、レンズ強度調整回路8によりQポ
ールレンズ5の強度を変化させると、収束展開面は!I
 1 ”D 2−・・・−Nnと移動し、収束展開面と
イオン中心軌道Oの交点Pも移動する。この場合、交点
Pの移動を防ぐことは出来ないが、レンズ強度を変える
ことにより、質量分散Aγを変化させることができる。
この従来例では、同時検出型イオン検出器4がglに沿
う場合、質量範囲Δm (−1mb−ma l)をその
全長でカバーするのに対し、D2−・・・−g。に移動
するにしたがって、質量範囲Δmを超える範囲をカバー
する。従って、前者が分解能優先モード、後者が質量範
囲優先モードに相当することになる。
そして、この様な収束展開面の移動に対応するように、
同時検出型イオン検出器4を移動させる移動機構9か設
けられている。この移動機構としては、例えば、適宜な
ガイドに沿って同時検出型イオン検出器4の位置と向き
を連続的又は段階的に変化させるような構造が採用され
ている。
第6図において、5,6は一様磁場3と同時検出型イオ
ン検出器4との間に設けられた2個のQポールレンズ、
7は同時検出型イオン検出器4とイオン中心軌道Oとの
交点を中心として同時検出型イオン検出器4を回動させ
る回動機構、8はQボールレンズ5,6の強度Q1.Q
2を予め定められた組み合わせで可変するレンズ強度調
整回路である。
いま、2個のQポールレンズ5,6の強度のある組み合
わせ(Qll、  Q21)で収束展開面がRtになっ
ており、その時の質量分散がAγlであるとする。また
、その時の91 とイオン中心軌道O(イオン光軸)と
の交点をPとする。
次に、別のレンズ強度の組み合わせ(Ql2. Q22
)をとった時の収束展開面を112とする。
この時、g2とイオン中心軌道Oとの交点がPとなるよ
うに(Ql2  Q22)の値を定めることかできる。
なぜなら、Qポールレンズ5.6の強度はQl、Q2そ
れぞれ任意に選択できるが、Pを収束点とするという条
件は、Ql、Q2の間にただ1つの関係を与えるので、
例えば、Qlの値を定めればQ2の値は自動的に定まる
ことになるからである。この時、一般に91 と92と
は同一ではなく、又、Aγ1とAγ2 (g2上の質量
分散)は異なる。
従って、(Ql、Q2)の値によって、Aγをある範囲
で自由に設定できることになる。Aγを大きくすれば分
解能を高められ、Aγを小さくすればin範囲を広げる
ことができる。
前記レンズ強度調整回路8には、上述したように異なる
質量分散を与え、しかも収束展開面とイオン光軸との交
点が移動しないようなQlとQ2の組み合わせ(Qll
、 Q21) 、  (Ql2. Q22)が記憶され
ており、オペレータの指令により、Qボ−ルレンズ5,
6の強度を(QLI、  Q21)又は(Q12. Q
22)に夫々設定する。回動機構7は、レンズ強度調整
回路8からの判別信号に基づいて、レンズ強度が(Ql
l、  Q21)の場合には同時検出型イオン検出器4
が収束展開面ρ1に沿い、レンズ強度が(Q12.  
Q22)の場合には同時検出型イオン検出器4がJ22
に沿うように同時検出型イオン検出器4の角度調節を行
う。この従来例では、同時検出型イオン検出器4が11
1に沿う場合、質量範囲Δm (= l mb−ma 
l)をその全長でカバーするのに対し、g2に沿う場合
は質量範囲Δmを超える範囲をカバーする。従って、前
者が分解能優先モード、後者が質量範囲優先モードに相
当することになる。
[発明が解決しようとする課題] 従来例で述べた同時検出型質量分析装置においては、1
台の装置を、質量範囲を優先したモードと、分解能を優
先したモードに選択的に切換えて使用できるようになっ
た。しかし、Qポールレンズを1つ用いた場合では、イ
オン光軸であるイオン中心軌道と収束展開面との交わる
位置と角度が変化するので、収束展開面のイオン中心軌
道に対する変化に合わせて、イオン検出器を機械的に移
動させつつ回転させるための複雑な検出器移動機構が必
要になる。また、Qポールレンズを2個用いた場合でも
、検出器を回転させる機構は少なくとも必要である。そ
のため、装置が大型化し、価格的にも不利である。
本発明は、この点に鑑みてなされたものであり、質量範
囲を優先したモードと、分解能を優先したモードに選択
的に切換えて使用できる同時検出型質量分析装置であっ
て、検出器移動機構をより簡単化でき、それにより小型
化の可能な質量分析装置を提供することを目的としてい
る。
[課題を解決するための手段] この目的を達成するため、本発明の第一の質量分析装置
は、イオン源と、該イオン源で生成されたイオンが導入
される質量分析器と、該質量分析器によって質量電荷比
に応じて質量分析器のイオン光軸に対して直角でない角
度で交差する収束展開面に沿って収束展開されたイオン
を同時検出するため、その収束展開面に沿って配置され
る同時検出型イオン検出器とを備えた同時検出型質量分
析装置において、前記質量分析器と同時検出型イオン検
出器との間のイオン通路上に前記収束展開面に直交する
光軸を持ち且つ強度を変化し得るレンズ手段と、前記同
時検出型イオン検出器を質量分析器のイオン光軸に沿っ
て平行移動させる手段とを設けたことを特徴としている
本発明の第二の質量分析装置は、イオン源と、該イオン
源で生成されたイオンが導入される質量分析器と、核質
量分析着によって質量電荷比に応じて質量分析器のイオ
ン光軸に対して直角でない角度で交差する収束展開面に
沿って収束展開されたイオンを同時検出するため、その
収束展開面に沿って配置される同時検出型イオン検出器
とを備えた同時検出型質量分析装置において、前記質量
分析器と同時検出型イオン検出器との間のイオン通路上
に前記収束展開面に直交する光軸を持ち且つ強度を変化
し得る複数のレンズ手段を直列に設けたことを特徴とし
ている。
[作用] 収束展開面が質量分析器のイオン光軸に対して直角でな
い角度で交差する同時検出型質量分析装置において、質
量分析器と同時検出型イオン検出器との間のイオン通路
上に、収束展開面に直交する光軸を持ち且つ強度を変化
し得るレンズ手段を設けたことにより、質量分散を変化
させても、イオン光軸であるイオン中心軌道と収束展開
面との交わる角の変化は防止できる。
レンズ手段を1つ用いた場合では、質量分散の変化に応
じて収束展開面の平行移動を必要とするが、イオン中心
軌道と収束展開面との交わる角の変化は防止できる。
そして、レンズ手段を2つ用いた場合では、質量分散を
変化させても収束展開面の平行移動を必要とせず、そし
て、イオン中心軌道と収束展開面との交わる角の変化も
防止できる。
なお、収束展開面が質量分析器のイオン光軸に対して直
角に交差する場合は、上述したような効果は得られない
か、同時検出型質量分析装置に通常採用されるイオン光
学系では、収束展開面がイオン光軸に対して直角に交差
しないのか普通であり、逆に直角に交差する光学系を設
計するほうか困難である。従って、実質的にすべての同
時検出型質量分析装置に本発明を適用することができる
[実施例コ 第1図は本発明を実施した同時検出型質量分析装置の一
例を示すイオン光学図である。
第1図中、第5図、第6図で用いた数字と同じ数字の付
されたものは同じ構成要素を示している。
第1図の実施例が第5図の従来例と異なるのは、−様磁
場3とイオン検出器4の間に、Qポールレンズ5を、そ
のレンズ光軸2が収束展開面ρに対し直交するように設
けたことと、同時検出型イオン検出器4を平行移動させ
る平行移動機構10を設けたことである。
本発明の原理を光学レンズのアナロジイを用いて説明す
る。第2図に示すように、収束展開面g上の点m、、m
2.m3に結像する光は、あたかも仮想物面り上の点M
、、 M2.M3から出射し、仮想レンズVLによって
ρ上に結像するような軌道を通る。ここで、LとDは平
行でVLの軸は、これらと直交するように選ふことがで
きる。つぎにVLとgの間にレンズL1を入れるとする
。このときり、の軸はgと直交するようにする。Llの
収束(発散)作用により像点ml 、m2.m3はm、
  、   2” 、m3’ に移動するか、それらの
点を結んでできる新しい収束展開面g′はDに平行であ
る。なぜなら、LとレンズVLおよびLlは平行である
から、Lの像であるp′ も当然L(即ちg)と平行で
なければならないからである。
もし平行でなければLとp′は、どこかで1点て交わら
ねばならないか、−次の収束作用を考えているかぎりで
は、その様なことは起こらない。
また、m、、2’、m3’ の位置関係は、m、、m2
.m3のそれと相似てはあるが異なっている。それはV
Lによって決まる像倍率と、VLとLlによって決まる
レンズ系の像倍率が異なることによって起こる。仮想レ
ンズVILを質量分析器の持つ収束作用に置き換え、光
をイオンに、又、レンズL1をイオン光学的なレンズに
置き換えてみれば、レンズ光軸が収束展開面に直交する
ように配置されるレンズL1を設け、その強度を変化さ
せることにより、収束展開面をR−N ’へ平行移動さ
せることができる。従って、同時検出型イオン検出器を
p又はg、に沿うように平行移動させれば、イオンは常
に検出器面上に収束展開され、しかも、展開されるTl
fn範囲を変えることができる。
第1図において、イオン源1で生成されたイオンは、扇
形電場2及び扇形−様磁場3から構成される質量分析器
により、収束展開面に沿って質量電荷比に応じて収束展
開される。
この展開されたイオンは、収束展開面に沿って配置され
る空間分解能を有する同時検出型イオン検出器4によっ
て同時検出される。
いま、扇形−様磁場3から出射したイオンは、Qポール
レンズ5の強度を可変するレンズ強度調整回路8から印
加されたある値の電圧によって同時検出型イオン検出器
4の表面上に展開された収束展開面が91になっており
、その時の質量分散がAγ1であるとする。また、その
時の47] とイオン中心軌道(質量分析器のイオン光
軸)Oとの交点をPとする。
次に、別のレンズ強度をとった時の収束展開面を02と
する。この様にして、レンズ強度調整回路8によりQポ
ールレンズ5の強度を変化させると、収束展開面はg1
=D=と質量分析器のイオン光軸に沿って平行移動し、
収束展開面とイオン中心軌道Oの交点Pも移動する。こ
の場合、交点Pの移動を防くことは出来ないが、レンズ
強度を変えることにより、質ユ分散Aγを変化させるこ
とかできる。この実施例では、同時検出型イオン検出器
4がg】に沿う場合、質量範囲Δm(−mb−mal)
をその全長でカバーするのに対し、g2に移動するにし
たがって、質量範囲Δmを超える範囲をカバーする。従
って、前者が分解能優先モード、後者が質量範囲優先モ
ードに相当することになる。
そして、この様な収束展開面の平行移動に対応するよう
に、同時検出型イオン検出器4を平行移動させる平行移
動機構10が設けられている。この移動機構としては、
例えば、適宜なガイドに沿って同時検出型イオン検出器
4の位置を連続的又は段階的に変化させるような構造が
採用されている。
第3図は本発明の他の実施例を示す。この実施例が第1
図の実施例と異なるところは、−様磁場3とイオン検出
器4の間に、イオン検出器4か配置されている収束展開
面gに対し、Qポールレンズ5,6をそのレンズ光軸2
..22が直交するように設けたことと、同時検出型イ
オン検出器4を平行移動させる平行移動機構10を取り
除き、同時検出型イオン検出器を固定して設けたことで
ある。
第2図で述べた本発明の原理によれば、結像曲線に平行
においたレンズによって新たにできる結像曲線は、もと
の結像曲線に平行であることかわかる。従って第4図に
示すように、レンズL1によってできる結像曲線D′と
平行にレンズL2を追加し、その結果できる結像曲線を
g′とすれば、g′とg′は平行である。ところで、g
′の位置と、レンズ系VL、L+ 、L2による像倍率
は、Ll及びL2の位置と、それぞれの強さによって決
まる。このときり、及びL2の位置か固定されていたと
しても、像倍率及びg′の位置は原理的に自由に決定で
きる。なぜなら、決めるべき条件は2つであるが自由に
選べるパラメータも2つあるからである。更にまた、g
′の位置を固定したとしても、像倍率はり、、L2の強
さを変えることて自由に変えることができる。このとき
、g′は常にもとの結像曲線gに平行であって回転する
ことはない。
いま、第3図において、第1図の実施例で述べたと同様
に、扇形−様磁場3から出射したイオンは、Qポールレ
ンズ5.6の強度の組み合わせによって同時検出型イオ
ン検出器4の表面上に図中実線で示すように収束展開さ
れる。この場合、同時検出型イオン検出器4が質量範囲
Δm(−1mb−mal)をそ゛の全長でカバーする。
次に、Qポールレンズ5,6の別の強度のある組み合わ
せによって同時検出型イオン検出器4の表面上に図中破
線で示すように収束展開面される。
この場合は、同時検出型イオン検出器4が質量範囲Δm
 (−1mb’ −ma’  l)を超える範囲をカバ
ーする。そこで、図中実線か分解能優先モード、破線が
質量範囲優先モードに相当することになる。このように
して2個のQボールレンズのレンズ強度の組み合わせを
変えることにより、第1図の実施例のように同時検出型
イオン検出器を平行移動させる移動機構を設けることな
く、固定された検出器を用いながら測定Rjl範囲を重
視したモードと、分解能を重視したモードに切換えるこ
とができる。
なお、上述した実施例においては2個のQポールレンズ
を設けるようにしたが、必要に応じてQボールレンズの
個数を増やしてもよい。
また、第1図、第3図で述べた実施例は単なる例示であ
って、本発明は幾多の変形が可能である。
例えば、イオン源、−様磁場、電場、検出器の順序で配
置される所謂逆配置の光学系を質量分析器として用いて
も良いし、レンズ手段としても、Q :t、 −ルレン
ズに限らず、例えばアインツエルレンズを用いることが
できる。
[効果] 以上詳述した如く、第1の本発明によれば、質量分析器
と同時検出型イオン検出器との間のイオン通路上に収束
展開面に直交する光軸を持ち且つ強度を夏化し得るレン
ズ手段を設けたことにより、質量分散を変化させても、
イオン中心軌道と収束展開面との交わる角の変化を防止
できたので、検出器を回転させる機構は不要となり、検
出器移動機構をより簡単化できた。それにより、質量範
囲を優先したモードと、分解能を優先したモードに選択
的に切換えて使用できる同時検出型質量分析装置の小型
化か可能になった。
また、第2の本発明によれば、質量分析器と同時検出型
イオン検出器との間のイオン通路上に収束展開面に直交
する光軸を持ち且つ強度を変化し得るレンズ手段を2つ
設けたことにより、固定した検出器を用いながら、質量
範囲を優先したモードと、分解能を優先したモードに選
択的に切換えて使用できる同時検出型質量分析装置が実
現される。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すイオン光学図、第2図
は本発明の詳細な説明する図、第3図は本発明の他の実
施例を示すイオン光学図、第4図は本発明の他の実施例
の原理を説明する図、第5図と第6図は従来例を示すイ
オン光学図である。 1:イオン源   2:円筒電場 3:扇形−様磁場 4:同時検出型イオン検出器 5.6:Qポールレンズ 7:回動機構   8:レンズ強度調整回路9:移動機
構  10:平行移動機構

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)イオン源と、該イオン源で生成されたイオンが導
    入される質量分析器と、該質量分析器によって質量電荷
    比に応じて質量分析器のイオン光軸に対して直角でない
    角度で交差する収束展開面に沿って収束展開されたイオ
    ンを同時検出するため、その収束展開面に沿って配置さ
    れる同時検出型イオン検出器とを備えた同時検出型質量
    分析装置において、前記質量分析器と同時検出型イオン
    検出器との間のイオン通路上に前記収束展開面に直交す
    る光軸を持ち且つ強度を変化し得るレンズ手段と、前記
    同時検出型イオン検出器を質量分析器のイオン光軸に沿
    って平行移動させる手段とを設けたことを特徴とする同
    時検出型質量分析装置。
  2. (2)イオン源と、該イオン源で生成されたイオンが導
    入される質量分析器と、該質量分析器によって質量電荷
    比に応じて質量分析器のイオン光軸に対して直角でない
    角度で交差する収束展開面に沿って収束展開されたイオ
    ンを同時検出するため、その収束展開面に沿って配置さ
    れる同時検出型イオン検出器とを備えた同時検出型質量
    分析装置において、前記質量分析器と同時検出型イオン
    検出器との間のイオン通路上に前記収束展開面に直交す
    る光軸を持ち且つ強度を変化し得る複数のレンズ手段を
    直列に設けたことを特徴とする同時検出型質量分析装置
JP2070042A 1990-03-20 1990-03-20 同時検出型質量分析装置 Pending JPH03269944A (ja)

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JP2070042A JPH03269944A (ja) 1990-03-20 1990-03-20 同時検出型質量分析装置

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6297501B1 (en) 1998-04-20 2001-10-02 Micromass Limited Simultaneous detection isotopic ratio mass spectrometer
JP2012517083A (ja) * 2009-02-06 2012-07-26 カメカ 2重集束を有する磁気色消し質量分析計

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6297501B1 (en) 1998-04-20 2001-10-02 Micromass Limited Simultaneous detection isotopic ratio mass spectrometer
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