JPH03262931A - 光電子増倍管の感度校正用光源装置 - Google Patents
光電子増倍管の感度校正用光源装置Info
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- JPH03262931A JPH03262931A JP6364090A JP6364090A JPH03262931A JP H03262931 A JPH03262931 A JP H03262931A JP 6364090 A JP6364090 A JP 6364090A JP 6364090 A JP6364090 A JP 6364090A JP H03262931 A JPH03262931 A JP H03262931A
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Landscapes
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野コ
本発明は、生物発光や化学発光を適用する生体成分など
の微弱光測定装置、特に光電子増倍管(PMT)の感度
を校正するための校正用光源装置に関する。
の微弱光測定装置、特に光電子増倍管(PMT)の感度
を校正するための校正用光源装置に関する。
[従来の技術]
医療分野において、生物学的発光や化学発光による微弱
光測定装置では、検出器として光電子増倍管(PMT)
が一般的に広範囲に用いられている。
光測定装置では、検出器として光電子増倍管(PMT)
が一般的に広範囲に用いられている。
第6図には、このような従来のPMTを用いた微弱光測
定装置が示されている。
定装置が示されている。
すなわち、図において、外光を遮光する暗箱5内には、
所定の間隔をあけて発光サンプル10と光電子増倍管1
2とが設けられている。
所定の間隔をあけて発光サンプル10と光電子増倍管1
2とが設けられている。
この発光サンプル10からの光10aは、PMT12で
受光され、該受光量に比例したPMT出力電流12aが
、まず積分回路14Aで積分信号に変換され、その後、
A/D変換回路14Bでデジタル信号に変換され、表示
装置16に受光量に対応したカウント値が表示される。
受光され、該受光量に比例したPMT出力電流12aが
、まず積分回路14Aで積分信号に変換され、その後、
A/D変換回路14Bでデジタル信号に変換され、表示
装置16に受光量に対応したカウント値が表示される。
このPMT12には、高圧電源18からPMT電圧18
aが供給され、この電圧によって前記PMT12の感度
が調整される。
aが供給され、この電圧によって前記PMT12の感度
が調整される。
第7図は、PMT及びフォトダイオードの感度/温度係
数−波長の関係を示した特性、LEDの波長を示した特
性図である。
数−波長の関係を示した特性、LEDの波長を示した特
性図である。
ここで、第6図に示す従来の微弱光測定装置において、
特に、PMT出力電流12gは、第7図に示された特性
により、−4%710℃程度の温度係数をもつことがわ
かる。また最大±10%/100h程度の経時変動を示
す。
特に、PMT出力電流12gは、第7図に示された特性
により、−4%710℃程度の温度係数をもつことがわ
かる。また最大±10%/100h程度の経時変動を示
す。
従って、従来においては、測定の都度発光試薬の検il
線を作成している。すなわち、この検量線は、標準サン
プルの濃度−カウント値特性であり、この特性は、異な
る多数の標準サンプルにおいて横軸にはその濃度を縦軸
には標準サンプル発光量の計測(カウント〉値を示した
ものであり、この検量線によって試薬の変動と同時に、
PMT12の感度変動も補正していた。
線を作成している。すなわち、この検量線は、標準サン
プルの濃度−カウント値特性であり、この特性は、異な
る多数の標準サンプルにおいて横軸にはその濃度を縦軸
には標準サンプル発光量の計測(カウント〉値を示した
ものであり、この検量線によって試薬の変動と同時に、
PMT12の感度変動も補正していた。
ところが、近年、特にこのような自動検査装置において
は、試薬や労力の節減のため、試薬の検量線の作成は、
2週間に一度程度になる傾向かあり、この間、測定装置
の感度は安定であることか要求されるようになっている
。
は、試薬や労力の節減のため、試薬の検量線の作成は、
2週間に一度程度になる傾向かあり、この間、測定装置
の感度は安定であることか要求されるようになっている
。
従って、何らかの方法でPMT感度を長期的に補償する
必要があった。
必要があった。
そこで、従来においては、このPMT感度を補償する1
つの方法としてフォトンカウンティング方式があり、こ
の方式では、前記PMT出力電流を測定する代わりにパ
ルス数をカウント(計数)している。
つの方法としてフォトンカウンティング方式があり、こ
の方式では、前記PMT出力電流を測定する代わりにパ
ルス数をカウント(計数)している。
そして、このフォトンカウンティング方式においては、
感度の変動は、例えば電流方式に比べて少ないという特
徴があり広範囲に用いられている。
感度の変動は、例えば電流方式に比べて少ないという特
徴があり広範囲に用いられている。
[発明が解決しようとする課8]
しかしながら、このようなフォトンカウンティング方式
による微弱光測定装置では、PMT検出回路がコスト高
になることや、前記PMT電圧18aによる感度調節が
できず、光量によっては測定ができなくなるということ
などの欠点があった。
による微弱光測定装置では、PMT検出回路がコスト高
になることや、前記PMT電圧18aによる感度調節が
できず、光量によっては測定ができなくなるということ
などの欠点があった。
また、この種の微弱光測定装置では、装置内部にPMT
感度校正用の光源として、LEDやランプを備え、同光
源に対するPMT出力電流12aを一定にするようにし
たものがある。
感度校正用の光源として、LEDやランプを備え、同光
源に対するPMT出力電流12aを一定にするようにし
たものがある。
しかし、LEDは、小型で発熱量も少なく安価な光源で
はあるが、発光量については、−10%/10℃程度の
温度変動を示すため、このままでは校正用光源として使
用するには問題があった。
はあるが、発光量については、−10%/10℃程度の
温度変動を示すため、このままでは校正用光源として使
用するには問題があった。
このような光源は、温度変化による光源自体の光量の安
定性に問題があり、PMT感度温度特性の波長依存性に
ついても、十分考慮されていないのが実情であった。従
って、このために発光サンプルの正確な発光量の測定が
困難であった。
定性に問題があり、PMT感度温度特性の波長依存性に
ついても、十分考慮されていないのが実情であった。従
って、このために発光サンプルの正確な発光量の測定が
困難であった。
更に、校正用光源として、シンチレータとラジオアイソ
トープを組み合わせたものが、液体シンチレータなどに
より使用されているが、法的規則のために、R1施設以
外での自由な使用は困難であった。
トープを組み合わせたものが、液体シンチレータなどに
より使用されているが、法的規則のために、R1施設以
外での自由な使用は困難であった。
発明の目的
本発明は、上記従来の課題に鑑みなされたものであり、
その目的は、PMT感度を安定化するために安定に、か
つ簡便な微弱光光源を用いた光電子増倍管の感度校正用
光源装置を提供することにある。
その目的は、PMT感度を安定化するために安定に、か
つ簡便な微弱光光源を用いた光電子増倍管の感度校正用
光源装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段]
上記目的を達成するために本発明によれば、所定の容積
で第1の暗箱と第2の暗箱とに2分割され、外光を遮光
するように形成された暗箱と、前記第1の暗箱には、そ
の内壁面に設けられ所定の発光波長の光を出射するLE
Dと、前記LEDと間隔をあけてその内壁面に設けられ
前記LED出射光を入射して所定の電気信号に変換する
光−電気変換器と、前記LED出射光の光軸に対して垂
直方向であって前記第1の暗箱と前記第2の暗箱との間
に設けられ、前記出射光を所定レベルまで減光させ該第
2の暗箱内へ出射させる減光手段とを有し、前記電気信
号に基づいて前記LED出射光強度を制御して安定化さ
せる安定化制御手段とを備えたことを特徴とする。
で第1の暗箱と第2の暗箱とに2分割され、外光を遮光
するように形成された暗箱と、前記第1の暗箱には、そ
の内壁面に設けられ所定の発光波長の光を出射するLE
Dと、前記LEDと間隔をあけてその内壁面に設けられ
前記LED出射光を入射して所定の電気信号に変換する
光−電気変換器と、前記LED出射光の光軸に対して垂
直方向であって前記第1の暗箱と前記第2の暗箱との間
に設けられ、前記出射光を所定レベルまで減光させ該第
2の暗箱内へ出射させる減光手段とを有し、前記電気信
号に基づいて前記LED出射光強度を制御して安定化さ
せる安定化制御手段とを備えたことを特徴とする。
そして、前記減光手段は、ピンホール板であって略中央
部にピンホールを設けたことを特徴とする。
部にピンホールを設けたことを特徴とする。
また、前記第2の暗箱には、前記ピンホール板から所定
の距離間隔をあけて前記ピンホールの対向する内壁面に
設けられ、前記光電子増倍管の受光面に減光された出射
光を入射させる光学ファイバーを備えたことを特徴とす
る。
の距離間隔をあけて前記ピンホールの対向する内壁面に
設けられ、前記光電子増倍管の受光面に減光された出射
光を入射させる光学ファイバーを備えたことを特徴とす
る。
更に、前記第1の暗箱には、前記LEDと前記光−電気
変換器との間であって光軸上に設けられ、前記LED出
射光の一部を反射させた反射光を得る反射板を備えたこ
とを特徴とする。
変換器との間であって光軸上に設けられ、前記LED出
射光の一部を反射させた反射光を得る反射板を備えたこ
とを特徴とする。
また更に、前記第2の暗箱には、前記ピンホール板から
所定の距離間隔をあけて前記ピンホールの対向する内壁
面に設けられ、略中央部に第2のピンホールが設けられ
た第2ピンホール板を備えたことを特徴とする。
所定の距離間隔をあけて前記ピンホールの対向する内壁
面に設けられ、略中央部に第2のピンホールが設けられ
た第2ピンホール板を備えたことを特徴とする。
そしてまた、前記LEDは、出射光が発光波長480n
m〜560nmであることを特徴とする。
m〜560nmであることを特徴とする。
[作用]
以上のような構成としたので本発明によれば、減光前の
LED出射光を光−電気変換器で受光し安定化制御する
と共に、かつ変動要因の少ない減光手段を用いることに
より、該LED出射光から適切に減光された微弱光を得
ることができる。
LED出射光を光−電気変換器で受光し安定化制御する
と共に、かつ変動要因の少ない減光手段を用いることに
より、該LED出射光から適切に減光された微弱光を得
ることができる。
これにより、この微弱光に対し、PMT出力が一定にな
るように該PMT電圧を制御すれば、PMT感度の温度
変化、経時変化を補償することができる。
るように該PMT電圧を制御すれば、PMT感度の温度
変化、経時変化を補償することができる。
この結果、PMTの測定するサンプル波長により近い波
長のLEDを使用すれば、従来に比してより正確なPM
T感度の校正が可能となる。
長のLEDを使用すれば、従来に比してより正確なPM
T感度の校正が可能となる。
[実施例]
以下、図面に基いて本発明の好適な実施例を説明する。
第1図〜第3図は、光電子増倍管の感度校正用光源装置
の具体的な実施例を示した概略構成図である。
の具体的な実施例を示した概略構成図である。
本発明において特徴的なことは、LEDの出射光を光−
電気変換器で受光し安定化制御し、かつピンホール又は
反射・散乱板等の減光手段及び先ファイバーを用いて安
定に減光させることにある。
電気変換器で受光し安定化制御し、かつピンホール又は
反射・散乱板等の減光手段及び先ファイバーを用いて安
定に減光させることにある。
一般に、前述したようにLEDは、その発光量が一10
%/−10℃程度の温度変動を示すため、そのまま校正
用光源として使用するには、高精度に校正することがで
きない。
%/−10℃程度の温度変動を示すため、そのまま校正
用光源として使用するには、高精度に校正することがで
きない。
そこで、前記LEDを校正用光源として使用するには、
該LED出射光を入射してこの光量を所定の電気信号に
変換するフォトダイオードでモニターし、これにより、
そのフォトダイオードの出力電流が一定となるように該
LED電流を制御することで光量を安定化することが可
能である。
該LED出射光を入射してこの光量を所定の電気信号に
変換するフォトダイオードでモニターし、これにより、
そのフォトダイオードの出力電流が一定となるように該
LED電流を制御することで光量を安定化することが可
能である。
すなわち、フォトダイオード感度の温度変動は、±0.
1%/10℃程度と、前記PMT感度よりもその変動量
がはるかに小さいため、該PMT感度を±0.1%/1
0℃程度に安定化することができる。
1%/10℃程度と、前記PMT感度よりもその変動量
がはるかに小さいため、該PMT感度を±0.1%/1
0℃程度に安定化することができる。
しかし、前記フォトダイオードでモニターできるLED
発光量に比べ、PMTの受光量は10−6倍程度と非常
に小さいので、該LEDをPMT感度校正用光源とする
ためには、該フォトダイオードでモニターした後、LE
Dの光量を安定に該10−6倍程度に減光させる必要が
ある。
発光量に比べ、PMTの受光量は10−6倍程度と非常
に小さいので、該LEDをPMT感度校正用光源とする
ためには、該フォトダイオードでモニターした後、LE
Dの光量を安定に該10−6倍程度に減光させる必要が
ある。
このような、減光するための手段としては、フィルタが
考えられるが、前記10−6程度の透過率の制御は難し
く、高価になり、また透過率の温度変化による影響も無
視できない。
考えられるが、前記10−6程度の透過率の制御は難し
く、高価になり、また透過率の温度変化による影響も無
視できない。
そこで、本願出願人は、光源から所定の距離を置いて配
置したピンホールに反射板・散乱板を組み合わせて用い
、さらにファイバーへの集光効率を利用し、これにより
、LED出射光を簡単にかつ安定に減光させ、PMT受
光面に入射させたことを考えた。
置したピンホールに反射板・散乱板を組み合わせて用い
、さらにファイバーへの集光効率を利用し、これにより
、LED出射光を簡単にかつ安定に減光させ、PMT受
光面に入射させたことを考えた。
第1図〜第3図には、このような前記ピンホール、反射
・散乱板又は前記ファイバーを用い、PMTの高感度を
維持させつつ、安定的に減光が可能なPMTの感度校正
用光源装置が示されている。
・散乱板又は前記ファイバーを用い、PMTの高感度を
維持させつつ、安定的に減光が可能なPMTの感度校正
用光源装置が示されている。
すなわち、第1図は、第1実施例を示したPMTの感度
校正用光源装置の側面断面図である。
校正用光源装置の側面断面図である。
以下、第1実施例の構成を第1図を用いて説明する。
図において、この第1実施例のPMTの感度校正用光源
装置は、第1に暗箱2OAと第2の暗箱2OBとから成
る暗箱20と安定化制御回路22とから構成されている
。
装置は、第1に暗箱2OAと第2の暗箱2OBとから成
る暗箱20と安定化制御回路22とから構成されている
。
ここで、前記第1の暗箱2OAと前記第2の暗箱20B
とは、共に密閉された遮光構造であって、該ピンホール
板24を介し縦列配置されて一体に構成されている。
とは、共に密閉された遮光構造であって、該ピンホール
板24を介し縦列配置されて一体に構成されている。
すなわち、第1図のように、前記第1の暗箱内の内壁に
は、LED26とフォトダイオード(PD)28と該L
EDから出射される光を減光させるピンホール板24と
が設けられ、前記LED26と前記PD28とがその内
壁に対向配置され、該LEDの出射光の光軸に対して垂
直方向の内壁側面ピンホール板24の中央部には微小孔
があけられたピンホール24aが設けられている。
は、LED26とフォトダイオード(PD)28と該L
EDから出射される光を減光させるピンホール板24と
が設けられ、前記LED26と前記PD28とがその内
壁に対向配置され、該LEDの出射光の光軸に対して垂
直方向の内壁側面ピンホール板24の中央部には微小孔
があけられたピンホール24aが設けられている。
そして、この第1の暗箱2OAの内面には、全体に酸化
チタン粉等の光散乱反射材20aが塗装されている。
チタン粉等の光散乱反射材20aが塗装されている。
また、前記第2の暗箱2OBは、前記ピンホール板24
を介し該ピンホール24aにより減光された通過光を所
定距離間隔Hをあけて他方の内壁に設けられた光ファイ
バー30に導いている。
を介し該ピンホール24aにより減光された通過光を所
定距離間隔Hをあけて他方の内壁に設けられた光ファイ
バー30に導いている。
もちろん、該光ファイバー30の一端は、その内壁面の
前記ピンホール24aと対向する略中央部に嵌挿され固
定されている。
前記ピンホール24aと対向する略中央部に嵌挿され固
定されている。
従って、前記光ファイバーに導かれた前記ピンホール2
4aの通過光は効率よく伝達され、図示のように前記光
ファイバー30の他端から前記PMT受光面に校正用光
として入射される。
4aの通過光は効率よく伝達され、図示のように前記光
ファイバー30の他端から前記PMT受光面に校正用光
として入射される。
そして、この第2の暗箱2OBの内面全体には、黒アル
マイト20bが塗布されており、これによって、前記通
過光はある程度吸収されて光ファイバー30に導かれて
いる。
マイト20bが塗布されており、これによって、前記通
過光はある程度吸収されて光ファイバー30に導かれて
いる。
ここで、前記暗箱20の内壁面に設けられた前記各LE
D26.PD28.光ファイバー30は、その内壁との
接合部をモールドして外光入射を防いでいる。
D26.PD28.光ファイバー30は、その内壁との
接合部をモールドして外光入射を防いでいる。
また、前記安定化制御回路22は、前記PD28で受光
された入射光に基づいて該LED26の出射光を安定な
光量に制御する。
された入射光に基づいて該LED26の出射光を安定な
光量に制御する。
すなわち、この安定化制御回路22は、一方の入力端に
は前記PD28が接続され、他方の出力側には前記LE
D26が接続されている。
は前記PD28が接続され、他方の出力側には前記LE
D26が接続されている。
これにより、該フォトダイオードで受光された入射光に
基づいて該LEDの出射光が温度が変化しても一定とな
るように供給電圧を制御している。
基づいて該LEDの出射光が温度が変化しても一定とな
るように供給電圧を制御している。
ここで、第5図には、上記第1図に示されたPMT感度
校正用光源装置の安定化制御回路が示されている。
校正用光源装置の安定化制御回路が示されている。
図において、前記フォトダイオード(PD)28及び前
記LED26に加えて、この安定化制御回路22は、比
較器32と基準電流発生部32aとLED点灯スイッチ
34とから構成され、前記比較器32は、その反転端子
(−)に該フォトダイオードからの検出電流を入力する
と共に、非反転端子(+)にR1,R2,R=3. V
Rカラ成る基準電流発生部32aからの基準電流Ire
fを入力している。
記LED26に加えて、この安定化制御回路22は、比
較器32と基準電流発生部32aとLED点灯スイッチ
34とから構成され、前記比較器32は、その反転端子
(−)に該フォトダイオードからの検出電流を入力する
と共に、非反転端子(+)にR1,R2,R=3. V
Rカラ成る基準電流発生部32aからの基準電流Ire
fを入力している。
もちろん、この基準電流発生部32aでは、−Vref
がVRに供給されており、このVRの調整により前記1
refを適切な値に可変できる。
がVRに供給されており、このVRの調整により前記1
refを適切な値に可変できる。
従って、検出電流と基準電流とが比較され、例えば基準
電流よりも検出電流が大きい時、すなわちフォトダイオ
ード(PD)28に入射される光が強すぎるときはコン
デンサCの帰還がかかり、前記比較器32の出力を下げ
るように動作する(検出電流−基準電流)。このため、
前記LED26に供給される電流が抑えられ、該LED
出射光を低減させる。
電流よりも検出電流が大きい時、すなわちフォトダイオ
ード(PD)28に入射される光が強すぎるときはコン
デンサCの帰還がかかり、前記比較器32の出力を下げ
るように動作する(検出電流−基準電流)。このため、
前記LED26に供給される電流が抑えられ、該LED
出射光を低減させる。
これにより、検出電流は、常に基準電流と比較されなが
らコンデンサCの帰還により安定に制御されて適切なL
ED制御電流が生成される。
らコンデンサCの帰還により安定に制御されて適切なL
ED制御電流が生成される。
そして、このLED制御電流は、R4及び前記LED点
灯スイッチ34を介して前記LED26に供給され、該
LEDを所定の安定な出射光強度で点灯させる。
灯スイッチ34を介して前記LED26に供給され、該
LEDを所定の安定な出射光強度で点灯させる。
ここで、このLED出射光は前記PD28で受光される
が、前記PD28の出力電流が一定となるように前記比
較器32が前述のように制御を行い、該LEDの出射光
強度を安定化させている。
が、前記PD28の出力電流が一定となるように前記比
較器32が前述のように制御を行い、該LEDの出射光
強度を安定化させている。
なお、前記基準電流発生部32aのVRに代わって、サ
ーミスタ等を用い、温度係数を付加させることにより、
LEDの発光量に任意の温度係数をもたせることもでき
る。
ーミスタ等を用い、温度係数を付加させることにより、
LEDの発光量に任意の温度係数をもたせることもでき
る。
このようにして、前記LED26の出射光は、第1図に
示されるように、前述した第1の暗箱2OA内壁面の酸
化チタン粉塗装された反射材で散乱され、前記PD28
に受光されると共に、散乱された一部の光は、内壁面の
ピンホール板の一部にあけられたピンホール24aから
隣接した第2の暗箱2OB内へ出射される。
示されるように、前述した第1の暗箱2OA内壁面の酸
化チタン粉塗装された反射材で散乱され、前記PD28
に受光されると共に、散乱された一部の光は、内壁面の
ピンホール板の一部にあけられたピンホール24aから
隣接した第2の暗箱2OB内へ出射される。
もちろん、前記LED26と前記PD28との位置関係
は、その両者が対向配置されることに限られず、該PD
28は散乱されたLED出射光を受光すればよいから第
1図の切断断面図のように、出射光の光軸よりもずらし
て配置してもよい。
は、その両者が対向配置されることに限られず、該PD
28は散乱されたLED出射光を受光すればよいから第
1図の切断断面図のように、出射光の光軸よりもずらし
て配置してもよい。
そして、前記ピンホール24aから出射された通過光は
、前記反射材による散乱のため、指向性が失われ均一な
光となり、該ピンホール板24に対向する他方の内壁面
に配置されている光ファイバー30の一端に導かれる。
、前記反射材による散乱のため、指向性が失われ均一な
光となり、該ピンホール板24に対向する他方の内壁面
に配置されている光ファイバー30の一端に導かれる。
すなわち、この通過光は、前記第2の暗箱20Bの内壁
面の黒アルマイト処理により吸収されて減光され、前記
光フアイバー入射端に達するまでに該ピンホール24a
〜前記光フアイバー入射端間の距離Hと、該光ファイバ
ーのコア径とによって決まる減衰率で減衰され(例えば
距150mm。
面の黒アルマイト処理により吸収されて減光され、前記
光フアイバー入射端に達するまでに該ピンホール24a
〜前記光フアイバー入射端間の距離Hと、該光ファイバ
ーのコア径とによって決まる減衰率で減衰され(例えば
距150mm。
コア径0.2mmの場合、減衰率1O−6)、該光ファ
イバー30に入射されることとなる。
イバー30に入射されることとなる。
ここで、前記ピンホール24aから出射される通過光の
割合及び前記光ファイバーに入射する割合は、幾何学的
配置と、反射材の反射率か変わらなければ、一定である
のて該光ファイバーからの出射光もほぼ一定となる。
割合及び前記光ファイバーに入射する割合は、幾何学的
配置と、反射材の反射率か変わらなければ、一定である
のて該光ファイバーからの出射光もほぼ一定となる。
そして、前記光ファイバー30からの出射光をPMT受
光面に照射し、その時のPMT出力電流が予め定められ
た値になるようにPMT電圧を制御することにより、P
MTの感度の変動を補正することができる。
光面に照射し、その時のPMT出力電流が予め定められ
た値になるようにPMT電圧を制御することにより、P
MTの感度の変動を補正することができる。
なお、本実施例においては、PMT測光するサンプルが
ルミノールである場合、光源に用いる前記LED26は
、青色LED (波長480nm)を使用しするのが最
適であるが、現在、青色LEDは比較的入手が困難なた
め、代用として緑色LED (波長560 n m)を
用いることもできる。
ルミノールである場合、光源に用いる前記LED26は
、青色LED (波長480nm)を使用しするのが最
適であるが、現在、青色LEDは比較的入手が困難なた
め、代用として緑色LED (波長560 n m)を
用いることもできる。
この場合には、・波長による差を補正するため、前記比
較器32の基準電流発生部32aの−Vrefの温度特
性を調整することが望ましい。
較器32の基準電流発生部32aの−Vrefの温度特
性を調整することが望ましい。
また、もちろん前記青色及び緑色LED等の波長の異な
るLEDを複数並設し、前記LED点灯スイッチ34に
代わって、図示しないLED選択スイッチを設け、これ
により、サンプル波長に対応させて選択、切り換えて使
用することも可能である。
るLEDを複数並設し、前記LED点灯スイッチ34に
代わって、図示しないLED選択スイッチを設け、これ
により、サンプル波長に対応させて選択、切り換えて使
用することも可能である。
次に、第2図には第2実施例、第3図には第3実施例を
示したPMTの感度校正用光源装置の側面断面図が示さ
れている。
示したPMTの感度校正用光源装置の側面断面図が示さ
れている。
なお、前述した第1図との同一部材には同一符号を付し
、以下構成及び動作の説明は省略する。
、以下構成及び動作の説明は省略する。
以下、第2図に示された第2実施例について説明する。
第2実施例で特徴的なことは、第1の暗箱内のLED2
6とPD28との間に、透明ガラス板40を設け、これ
により、LED出射光の一部の反射光だけを積層された
乳白拡散板42Aとピンホール板42Bとを介して出射
させている。
6とPD28との間に、透明ガラス板40を設け、これ
により、LED出射光の一部の反射光だけを積層された
乳白拡散板42Aとピンホール板42Bとを介して出射
させている。
前記透明ガラス板40は、図示のように例えば、光軸に
対し45″の角度に傾けて設けられ、LED出射光のほ
とんどは前記PD28に入射されるが、一部分の光は9
0″反射されて反射光として前記ピンホール板42Bの
ピンホール42bを通過する。
対し45″の角度に傾けて設けられ、LED出射光のほ
とんどは前記PD28に入射されるが、一部分の光は9
0″反射されて反射光として前記ピンホール板42Bの
ピンホール42bを通過する。
この反射作用により該出射光を減光させることができる
。
。
すなわち、これは、前述のピンホール42bだけでは出
射光の指向性が強いために、光フアイバー入射端での減
衰率が少ない場合があるので、この場合には該ピンホー
ル板42Bの前に前記透明ガラス反射板40及び乳白色
アクリル板等の散乱板42Aを置いて出射光の散乱効果
を上げ、これにより、散乱された出射光を該ピンホール
42bを介して十分に減光せているのである。
射光の指向性が強いために、光フアイバー入射端での減
衰率が少ない場合があるので、この場合には該ピンホー
ル板42Bの前に前記透明ガラス反射板40及び乳白色
アクリル板等の散乱板42Aを置いて出射光の散乱効果
を上げ、これにより、散乱された出射光を該ピンホール
42bを介して十分に減光せているのである。
これによって、より効果的にLED出射光を減光させる
ことができる。
ことができる。
次に、以下第3図に示された第3実施例の構成及び作用
を説明する。
を説明する。
第3図において、この第3実施例では、前記第1実施例
に示された前記光ファイバー30の代わりに別のピンホ
ール板50A及び散乱板50Bが積層されて配置されて
いる。
に示された前記光ファイバー30の代わりに別のピンホ
ール板50A及び散乱板50Bが積層されて配置されて
いる。
そして、このピンホール板50Aの略中央部に設けられ
たピンホール50aにより、前記ピンホール24aを介
して通過された出射光は、減光され、更に積層された散
乱板50Bで拡散により一旦均−化される。
たピンホール50aにより、前記ピンホール24aを介
して通過された出射光は、減光され、更に積層された散
乱板50Bで拡散により一旦均−化される。
この散乱板50Bは、乳白色アクリル板等から成り、こ
の散乱後、減光された出射光を前記PMT12の受光面
に直接照射させることができる。
の散乱後、減光された出射光を前記PMT12の受光面
に直接照射させることができる。
なお、この第3図に示す一例では、LED出射光の安定
化制御回路23を前記暗箱20に一体化させており、光
出射部の外形寸法を発光サンプルの容器の寸法と同一に
することにより、サンプルの代わりに前記PMT12に
挿入して測光することも可能である。
化制御回路23を前記暗箱20に一体化させており、光
出射部の外形寸法を発光サンプルの容器の寸法と同一に
することにより、サンプルの代わりに前記PMT12に
挿入して測光することも可能である。
また次に、第4図は、前記第1、第2実施例に示された
光フアイバー出射端の先端断面形状を示す。
光フアイバー出射端の先端断面形状を示す。
まず、図(a)のように、該ファイバ一端面のままでは
、出射光の指向性がかなり強くなり、かつファイバー自
体の途中の曲がり具合により、出射分布が多少変化する
可能性がある。
、出射光の指向性がかなり強くなり、かつファイバー自
体の途中の曲がり具合により、出射分布が多少変化する
可能性がある。
これは、PMT受光面内でも感度ムラが生ずるので、P
MT受光面上でのファイバー出射光のパターンが変化す
るとPMT出力が変化してしまうためである。
MT受光面上でのファイバー出射光のパターンが変化す
るとPMT出力が変化してしまうためである。
そこで、本実施例では、図(b)〜図(d)のように、
出射端に各種の散乱材を付加し、上記の問題を緩和する
ことができる。
出射端に各種の散乱材を付加し、上記の問題を緩和する
ことができる。
すなわち、図(b)では、出射端の先端部に四角形の乳
白色散乱材60を図示のように嵌挿して取り付け、これ
によって、光ファイバー30によって導かれた光を該散
乱材60で図示の矢印のように散乱させ、前記PMT1
2の受光面均一にかつ有効的に入射させることができる
。
白色散乱材60を図示のように嵌挿して取り付け、これ
によって、光ファイバー30によって導かれた光を該散
乱材60で図示の矢印のように散乱させ、前記PMT1
2の受光面均一にかつ有効的に入射させることができる
。
また、図(C)では、ファイバー出射端の先端部を遮光
されたファイバー暗箱内62に納め、そのファイバー出
射光の受光面側壁を乳白色散乱材64で形成して、該フ
ァイバー30から導かれた光を図示の矢印ように散乱さ
せることができる。
されたファイバー暗箱内62に納め、そのファイバー出
射光の受光面側壁を乳白色散乱材64で形成して、該フ
ァイバー30から導かれた光を図示の矢印ように散乱さ
せることができる。
この方法では、図示のように出射端の先端部と該乳白色
散乱材64とは所定の距離間隔Sをあけて配置されせて
いるので、この間隔Sにより、出射光の指向性を弱める
ことができる。
散乱材64とは所定の距離間隔Sをあけて配置されせて
いるので、この間隔Sにより、出射光の指向性を弱める
ことができる。
更に、図(d)では、前記図(c)と同様な光散乱反射
材66を所定の角度、例えば30°〜60@程度傾け、
かつ該ファイバー出射端の先端部から所定の距離間隔を
あけて配置し、これによって、図示の矢印のように、フ
ァイバー先端部から出射された出射光をその光軸に対し
て90’の方向へ反射させて出射させている。
材66を所定の角度、例えば30°〜60@程度傾け、
かつ該ファイバー出射端の先端部から所定の距離間隔を
あけて配置し、これによって、図示の矢印のように、フ
ァイバー先端部から出射された出射光をその光軸に対し
て90’の方向へ反射させて出射させている。
この光散乱反射材66は、その受光面には前述した酸化
チタン粉が塗装され、ある程度の光散乱作用を与えてい
る。
チタン粉が塗装され、ある程度の光散乱作用を与えてい
る。
以上のようにして、光フアイバー出射端に前記散乱材6
0,64.散乱反射板66を設けることにより、安定に
かつ均一に出射光を前記PMT受光面へ入射させること
ができる。
0,64.散乱反射板66を設けることにより、安定に
かつ均一に出射光を前記PMT受光面へ入射させること
ができる。
一般に、前記PMT12において、PMT感度の温度変
化は、第7図に示すように、受光される波長により異な
っている。
化は、第7図に示すように、受光される波長により異な
っている。
従って、校正用光源の波長は、PMTが測定するサンプ
ルの発光波長になるべく近い光源、すなわちLEDを選
ぶことが望ましい。
ルの発光波長になるべく近い光源、すなわちLEDを選
ぶことが望ましい。
すなわち、第7図に示すように、生物及び化学発光試料
の中で最も使用頻度の高いのは、ルミノール(発光波長
420nm)であるが、この他にも、アクリジニウムエ
ステル(500nm)、MCLA (475nm) 、
エクオリン(460nm)、ホタルルシフエリレールシ
フェラーゼ(560nm)等がある。
の中で最も使用頻度の高いのは、ルミノール(発光波長
420nm)であるが、この他にも、アクリジニウムエ
ステル(500nm)、MCLA (475nm) 、
エクオリン(460nm)、ホタルルシフエリレールシ
フェラーゼ(560nm)等がある。
従って、このようなルミノール、アクリジニウムエステ
ル、MCLA、エクオリン等の試料測定では、校正用光
源のLEDとしては、波長480nmの青色LEDが最
も適しており、また、ホタルルシフェリレールシフェラ
ーゼの試料測定の場合は、波長560nmの緑色LED
が適してることがわかる。
ル、MCLA、エクオリン等の試料測定では、校正用光
源のLEDとしては、波長480nmの青色LEDが最
も適しており、また、ホタルルシフェリレールシフェラ
ーゼの試料測定の場合は、波長560nmの緑色LED
が適してることがわかる。
また、前記青色LEDが入手しにくい場合、ルミノール
用として人手しやすい緑色LEDを使用して、LED電
流制御回路に温度係数を付加して波長による差をある程
度補正することも可能である。
用として人手しやすい緑色LEDを使用して、LED電
流制御回路に温度係数を付加して波長による差をある程
度補正することも可能である。
すなわち、前述した第1図及び第5図において、安定化
した緑色LEDでPMT出力が一定になるようにPMT
感度を調節した場合、ルミノールに対しては、PMT感
度は、−1,5%/10℃程度の温度変化を生ずる。
した緑色LEDでPMT出力が一定になるようにPMT
感度を調節した場合、ルミノールに対しては、PMT感
度は、−1,5%/10℃程度の温度変化を生ずる。
そこで、緑色LEDの発光量に−1,5%710℃の温
度変化を与えるように制御すれば、これにより、PMT
出力が一定となるようにPMT感度を調整してルミノー
ルに対するPMT感度を温度変化に対しほぼ一定に保つ
ことができる。
度変化を与えるように制御すれば、これにより、PMT
出力が一定となるようにPMT感度を調整してルミノー
ルに対するPMT感度を温度変化に対しほぼ一定に保つ
ことができる。
もちろん、前述した図示しないLED選択スイッチを用
い、何種類かの波長の異なるLEDを測定対象にに応じ
て切り換えて使用することもてきる。
い、何種類かの波長の異なるLEDを測定対象にに応じ
て切り換えて使用することもてきる。
以上のようにして、本実施例によれば、前記PD28に
前記LED出射光を入射させ、ピンホール24a、42
b、50a、及び反射・拡散板40.42A、50B等
の減光手段により、従来の4%710℃の温度変化に対
し、±0. 1%/10℃程度の温度変化に抑えること
か可能となる。
前記LED出射光を入射させ、ピンホール24a、42
b、50a、及び反射・拡散板40.42A、50B等
の減光手段により、従来の4%710℃の温度変化に対
し、±0. 1%/10℃程度の温度変化に抑えること
か可能となる。
また、本実施例によれば、前記各減光手段を暗箱20内
に比較的簡単な構造で設けることがてきるので、装置の
小形化が可能である。
に比較的簡単な構造で設けることがてきるので、装置の
小形化が可能である。
[発明の効果]
以上のようにして、本発明に係る光電子増倍管の感度校
正用光源装置によれば、同光源を組み込んで定期的に、
又はサンプル測定の前後においてPMT本体を校正する
ことができる。
正用光源装置によれば、同光源を組み込んで定期的に、
又はサンプル測定の前後においてPMT本体を校正する
ことができる。
また、非常に簡単な校正用光源装置及び回路か構成でき
ると共に、温度変化、経時変化によるPMT感度の悪影
響を顕著に減らすことが可能となる。
ると共に、温度変化、経時変化によるPMT感度の悪影
響を顕著に減らすことが可能となる。
第1図は、本発明に係る光電子増倍管の感度校正用光源
装置の第1実施例を示した概略構成図、第2図は、本発
明の第2実施例を示した概略構成図、 第3図は、本発明の第3実施例を示した概略構成図、 第4図は、光フアイバー出射端の形状を示した側面図、 第5図は、本発明に係る光電子増倍管の感度校正用光源
装置の回路図、 第6図は、従来の光電子増倍管の感度校正用光源装置の
回路ブロック図、 第7図は、PMT及びフォトダイオードの感度/温度係
数−波長の関係を示した特性、LEDの波長を示した特
性図である。 12 ・・・ PMT 20 ・・・ 暗箱 2OA ・・・ 第1の暗箱 20B ・・・ 第2の暗箱 22) 23 ・・・ 安定化制御回路24.42B
、50A ・・・ ピンホール板24a、42a、5
0a ・・・ ピンホール26 ・・・ LED 28 ・・・ PD 30 ・・・ 光ファイバー 32 ・・・ 比較器 32a ・・・ 基準電流発生部 40 ・・・ 透明ガラス反射板 42A、50B ・・・ 散乱板。 第1図 第3図 第2図 第 4 図 第 図 第 図
装置の第1実施例を示した概略構成図、第2図は、本発
明の第2実施例を示した概略構成図、 第3図は、本発明の第3実施例を示した概略構成図、 第4図は、光フアイバー出射端の形状を示した側面図、 第5図は、本発明に係る光電子増倍管の感度校正用光源
装置の回路図、 第6図は、従来の光電子増倍管の感度校正用光源装置の
回路ブロック図、 第7図は、PMT及びフォトダイオードの感度/温度係
数−波長の関係を示した特性、LEDの波長を示した特
性図である。 12 ・・・ PMT 20 ・・・ 暗箱 2OA ・・・ 第1の暗箱 20B ・・・ 第2の暗箱 22) 23 ・・・ 安定化制御回路24.42B
、50A ・・・ ピンホール板24a、42a、5
0a ・・・ ピンホール26 ・・・ LED 28 ・・・ PD 30 ・・・ 光ファイバー 32 ・・・ 比較器 32a ・・・ 基準電流発生部 40 ・・・ 透明ガラス反射板 42A、50B ・・・ 散乱板。 第1図 第3図 第2図 第 4 図 第 図 第 図
Claims (6)
- (1)校正用光源から微弱光を光電子増倍管の受光面に
入射させ、該光電子増倍管の感度を校正する光電子増倍
管の感度校正用光源装置において、所定の容積で第1の
暗箱と第2の暗箱とに2分割され外光を遮光するように
形成された暗箱と、前記第1の暗箱には、その内壁面に
設けられ所定の発光波長の光を出射するLEDと、 前記LEDと間隔をあけてその内壁面に設けられ前記L
ED出射光を入射して所定の電気信号に変換する光−電
気変換器と、 前記LED出射光の光軸に対して垂直方向であって前記
第1の暗箱と前記第2の暗箱との間に設けられ、前記出
射光を所定レベルまで減光させ該第2の暗箱内へ出射さ
せる減光手段と、を有し、前記電気信号に基づいて前記
LED出射光強度を制御して安定化させる安定化制御手
段と、を備え、 前記減光手段により、前記LED出射光を減光させ微弱
光に変換することを特徴とする光電子増倍管の感度校正
用光源装置。 - (2)特許請求の範囲(1)記載の装置において、前記
減光手段はピンホール板であって、略中央部にピンホー
ルが設けられ、前記LED出射光を所定レベルまで減光
させ前記第2の暗箱内へ出射させることを特徴とする光
電子増倍管の感度校正用光源装置。 - (3)特許請求の範囲(2)記載の装置において、前記
第2の暗箱には、前記ピンホール板から所定の距離間隔
をあけて前記ピンホールの対向する内壁面に設けられ、
前記光電子増倍管の受光面に減光された出射光を入射さ
せる光学ファイバーを備え、 前記ピンホールからの出射光を距離に応じて所定レベル
減光させることを特徴とする光電子増倍管の感度校正用
光源装置。 - (4)特許請求の範囲(3)記載の装置において、前記
第1の暗箱には、前記LEDとフォトダイオード(PD
)との間であって光軸上に設けられ、前記LED出射光
の一部を反射させた反射光を得る反射板を備え、 前記LED出射光を所定レベル減光させたことを特徴と
する光電子増倍管の感度校正用光源装置。 - (5)特許請求の範囲(2)記載の装置において、前記
第2の暗箱には、前記ピンホール板から所定の距離間隔
をあけて前記ピンホールの対向する内壁面に設けられ、
略中央部に第2のピンホールが設けられた第2ピンホー
ル板を備え、 前記ピンホールからの所定レベル減光された出射光を前
記光電子増倍管の受光面へ直接入射させたことを特徴と
する光電子増倍管の感度校正用光源装置。 - (6)特許請求の範囲(1)、(2)、(3)、(4)
、(5)記載の装置において、前記LEDは、出射光が
発光波長480nm〜560nmであることを特徴とす
る光電子増倍管の感度校正用光源装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6364090A JPH03262931A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 光電子増倍管の感度校正用光源装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6364090A JPH03262931A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 光電子増倍管の感度校正用光源装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03262931A true JPH03262931A (ja) | 1991-11-22 |
Family
ID=13235158
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6364090A Pending JPH03262931A (ja) | 1990-03-13 | 1990-03-13 | 光電子増倍管の感度校正用光源装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03262931A (ja) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999009381A1 (en) * | 1997-08-20 | 1999-02-25 | Abbott Laboratories | Calibration system for a photomultiplier tube |
JP2009287976A (ja) * | 2008-05-27 | 2009-12-10 | Hamamatsu Photonics Kk | 感度校正用光源装置 |
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