JPH03262905A - トロイダル面の測定方法及び測定装置 - Google Patents

トロイダル面の測定方法及び測定装置

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JPH03262905A
JPH03262905A JP2060118A JP6011890A JPH03262905A JP H03262905 A JPH03262905 A JP H03262905A JP 2060118 A JP2060118 A JP 2060118A JP 6011890 A JP6011890 A JP 6011890A JP H03262905 A JPH03262905 A JP H03262905A
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JP
Japan
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measured
interference fringes
toroidal
light
reference surface
Prior art date
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Pending
Application number
JP2060118A
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English (en)
Inventor
Hiroyuki Suhara
浩之 須原
Seizo Suzuki
清三 鈴木
Nobuo Sakuma
佐久間 伸夫
Kokei Komoda
薦田 弘敬
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Ricoh Co Ltd
Original Assignee
Ricoh Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光の干渉作用を用いて曲面の状態を測定する技
術に関し、特に、トロイダル面またはシリンドリカル面
のように面内の直交する主経線の曲率半径が異なる曲面
における面形状及び面精度の測定に関するものである。
〔従来の技術〕
レーザビームプリンタやレーザファクシミリ等に用いら
れる光走査光学系は、一般にポリゴンミラーの面倒れ補
正を行うために、シリンドリカルレンズやトロイダルレ
ンズ等を用いたアナモフィックな光学系で構成される。
なお、シリンドリカル面は、トロイダル面において一方
の曲率半径が無限大の場合と考えることができるので、
本明細書においてトロイダル面という場合は特に区別し
ない限りシリンドリカル面も含むものとする。
これらのレンズは、感光体上の形成ドントの高密度化や
均一化の要求から、0.1μm程度の面精度が必要とさ
れる。こうした背景から、トロイダル面を波長λ以下の
高精度で測定する必要が生している。
一般に、面を高精度で測定するものとしては、レーザ干
渉計が広く知られているが、この干渉計は、平面または
球面の測定はできるが、トロイダル面のように面内の直
交する主経線の曲率中心が異なる曲面については測定で
きない。
そのため、従来このようなトロイダル面を高精度に測定
する方法としては、■ダイヤモンドやルビー等の接触針
を被測定面に当接して走査させる「接触針方式」や、■
光を微小スポットとして被測定面に照射し、このスポッ
トを被測定面全体に走査させる「光プローブ方式」等が
あった。
〔発明が解決しようとする課題〕
しかし、■の「接触針方式」では、硬い針を被測定面に
当接させるので、被測定面を傷つけたり、汚したりする
という問題があった。また、■の「光プローブ方式」で
は、被測定面を傷付けたり、汚したりするという問題は
ないが、点で被測定面を走査していくために、測定に長
時間かかるという問題があった。
本発明は上記の問題に鑑みてなされたもので、被測定面
を傷つけることなく、高速でしかも高精度にトロイダル
面も面形状および面精度(面粗さ、面うねり)を測定す
る測定方法、および測定装置を提供することを目的とし
ている。
〔課題を解決するための手段〕
上記の目的を遠戚する方法として本発明は、同一光源か
らの可干渉光を被測定面と基準になる参照面とに照射し
、これら両面からの反射光を干渉させて被測定面の面形
状及び面精度を測定する方法において、 被測定面となるトロイダル面上の直交する主経線の何れ
か一方と平行な矩形部分について干渉縞を作り、該干渉
縞の像を光学系によりイメージセンサ上に結像し、前記
参照面をチルト及び/又はシフトすることにより該イメ
ージセンサにおける干渉縞の光強度信号の位相が測定区
間の両端でほぼ等しくなるように調整してから高速フー
リエ変換する構成を採用している。
また、測定装置としては、被測定面としてのトロイダル
面上の直交する主経線の何れか一方の曲率に対し、予め
決められた曲率を有する参照面を有し、トロイダル面を
有する被測定物を主経線の何れか他方の曲率に合わせて
回動自在に支持する回転台を設け、前記参照面を被測定
面に対して可変量のチルト及び/又はシフト可能な駆動
手段を設けた構成としている。
〔実施例〕
以下に本発明の実施例を図面によって説明する。
本発明で用いる干渉光学系としては、通常の球面や平面
の測定等に用いられるフィゾー型干渉計、マイケルソン
干渉計と同じ構成のものが使用でき、第1図(al、(
b)に示す実施例では、フィゾー型干渉計が使用されて
いる。
同図において1は光源で、可干渉性の高いガスレーザま
たは半導体レーザ等が使用される。2a。
2bはビームエクスパンダで、光源1からの狭い光束を
適当な大きさに拡げるためのものである。
3は空間フィルタで、ゴースト光や反射光等の不要な光
をカットする。4は光アイソレータでビームスプリンタ
4aとλ/4板4bとで構成されている。ビームエクス
パンダ2a、2bで拡大された光束は、対物レンズ6を
経て、被測定物7のトロイダル面7aに達する。
対物レンズ6の最終面は、半透鏡としての参照面6aと
なっており、予め決められた曲率半径の球面として形成
されている。即ち参照面6aの曲率中心は、トロイダル
面7aの直交する主経線AB、CDの内のCD側の仕上
がり曲率中心とほぼ一致する位置に配置される。また、
後に述べるフーリエ変換方を採用する際は、参照面6a
はXZ断面内で若干チルト可能に配置される。そして、
この参照面6aで対物レンズ6に入射する光の一部が反
射され、残りが透過してトロイダル面7aを照射する。
8は被測定物7を固定する回転台で、トロイダル面7a
の他方の主経線ABO曲率中心と一致した回転軸を有し
、図示しないDCサーボモータやステッピングモータ等
によって駆動され、被測定面であるトロイダル面7a上
を主経線ABに沿って走査可能になっている。
参照面6aおよびトロイダル面7aで反射された可干渉
光は来た光路を戻り重畳される。そして、光アイソレー
タ4まで戻ってくると、λ/4板4bおよびビームスプ
リッタ4aの作用により、ビームスプリンタ4aの反射
面4Cで全て反射され、集束レンズ9を経てイメージセ
ンサ10に達する。
したがって、対物レンズ6および集束レンズ9を光軸方
向に移動させることによって、第2図に示すようにイメ
ージセンサ10上に干渉縞の像11を結像することがで
きる。
ところで、参照面6aは通常は球面であり、被測定面は
トロイダル面7aであるから、干渉縞11が形成される
のは、両面がほぼ平行と見なせる主峰&lCDに平行な
細長い矩形部分11′だけになる。もっとも、このよう
な干渉縞11は、参照面6aがシリンドリカル面であっ
ても同様に形成できる。また、本実施例では参照面は対
物レンズ最終面に設けられているが、光路中の何れの場
所においても構わない。たとえば、ビームエクスパンダ
で拡げられた平行光束中に設ける場合、参照面は平面と
する。
以上によって、イメージセンサ10上に干渉縞11が形
成されると、この干渉縞はトロイダル面7aの可干渉光
が照射されたほぼ中央部にある矩形部分に相当する部分
の面精度を表すことになる。
回転台を、もう一方の主経線ABに沿って回動すること
によって、トロイダル面7a全体についての面形状およ
び面の粗さや面のうねりといった面精度の観測ができる
次に、上記のようにして得られた干渉縞の解析方法につ
いてであるが、本発明では、フーリエ変換法を採用して
いる。その理由としては、■ 非接触方式で被測定面を
傷付けない。
■ 高速処理ができるので、−断面を短時間で測定でき
る。
■ 非常に高感度、高精度な測定が可能である。
等の点が挙げられる。しかし、■の高感度、高精度を実
現させるには、次の点に注意する必要がある。
(1)  測定区間の両端での不連続接点による影響空
間軸z軸上の関数X (Z)のフーリエ変換をX(ω)
とすれば、これは次式で表される。
X  (ω)  = f   x(z)e−’ω”  
dz     ・−−・■これをコンピュータ処理で行
う場合は高速フーリエ変換(FFT)が用いられるが、
その場合は、上記0式の代わりに次式が用いられる。
0式の積分範囲が一部から+(1)であるのに対し、■
式はOからN−1までの有限区間であり、区間以外のデ
ータはOからN−1のデータ列が無限に繰り返す関数と
みなして近似している。この近似によりフーリエ変換誤
差が生じるが、この具体例を次に述べる。
第3図<alに示すような無限に続くコサイン波を考え
る。このような無限に長い波形を測定することは不可能
であり、第3図(a)、山)に示すようにある有限の区
間L1.L2で打ち切ってサンプリングし、A−D変換
してデジタル信号に変換した後FFTを行うことになる
第3図(alのように打ち切った場合は、測定区間の両
端AO,B(+における位相が同じであるためにB(l
とA(lの繰り返しとしてのAo′とが一致して完全に
接続できる。すなわち、第4図(a)に示すようにCC
Dイメージセンサ10両端のAOB(lにおいて人力波
形の位相が同じになる。その結果FFT変換は完璧とな
り、第4図(′b)に示すように入力波形■と出力波形
■とが一致して正確な測定ができることとなる。
一方、第3図(b)のように打ち切った場合は、測定区
間の両端A1.B1における位相が相違しているのでB
1と次のAl1とが食い違う。そして第4図Ta)に示
すようにCCDイメージセンサ10両端のA1.B、1
において入力波形の位相が相違するので、これをFFT
変換すると実際とは異なる波形と認識して、第4図+d
>に示すように入力波形■に対し出力波形■となり、測
定面全体が勾配を持ったものと誤認してしまう。
したがって、測定区間の両端において位相を揃えておく
必要がある。
(2)測定区間での干渉縞の本数を示すキャリヤ周波数
f、による影響 ここに言うキャリヤ周波数とは、便宜上イメージセンサ
10としてのCCD面上の干渉縞の本数を表したものを
いい、実空間でのキャリヤ周波数は、これを(画素数X
画素ピンチ)で割った値として得られる。このときの単
位は(本/fi〉となる。
フーリエ変換法を用いて面精度の解析を行う場合、被測
定面のチルト角βがキャリヤ周波数f。
に比べて十分に小さい必要がある。
即ち、β/2πr6 <1        ・・・・・
・■上記■式の条件を満たさない場合、解析結果は実際
の面形状とはかなり異なってしまう。この問題を解決す
るにはf、を大きくすればよい。しかし、foを大きく
すれば干渉縞のコントラストが低下してSN比が劣化す
る。よって、面形状にあった適当なroを選択する必要
がある。
以上のことから、本発明では参照面を被測定面に対して
シフトまたはチルトさせることによって受光面における
干渉縞を移動させ、最適な条件の下で計測できるように
している。
受光面での強度分布をg (Z)とすれば、これは−般
に、 g(z)=a(z)+ b(Z) Cos[2πfgz
+φ(2)]・・・・・・■と表される。受光面での両
端の位置をZR、ZLとすれば、 cos(2tt f6 ZR) =cos(2ft f
o ZL ) ・・・−■この■式と前述の0式の条件
を満たし、かつコントラストが十分に得られる条件で計
測を行うことが望ましい。以下に本発明の具体的実施例
の説明を行う。
第5図は、参照面をチルトさせる実施例を示す。
同図においては、対物レンズ6の上端を固定して回転軸
6bとし、対物レンズ6の下端のレーザ側に駆動手段1
2を設けて、矢印a方向のチルトを可能にしている。微
小角度をチルトできる必要があることから、駆動手段と
してはピエゾ素子等を使用する。
第6図は、参照面をシフトさせる構成例を示している。
駆動手段13は、やはリピエゾ素子等からなり、対物レ
ンズを6を光軸と垂直な矢印すの方向に移動できるもの
である。なお、上記第5図、第6図に示す駆動手段12
.13は対物レンズ6のチルト量、シフト量を加減自在
なものであり、また両方の構成を合わせて設け、チルト
とシフトの双方を調整できる構成とするのが望ましい。
以上の構成によって、先ず、参照面6aを被測定面7a
に対して基準値だけ傾けておき、受光面としてのイメー
ジセンサlOにできた干渉縞11を検知する。
面粗さの勾配が大きいと、第7図(a)に示すように干
渉縞に疎密が起こる。この場合、第7図(b)に示すよ
うに入力波形■に対し相違した出力波形■が出力されて
被測定面の面形状を十分に再生することができない。そ
こで、駆動手段12を作用させて傾角が急になる方向に
参照面を駆動し、第4図(C)のように干渉縞を変化さ
せることによって、上記0式の条件を満たすようにキャ
リヤ周波数fOを変える(粗調整をする)。
次に、測定区間の両端での位相のずれの補正をする。位
相を揃えるためには、参照面6aを駆動手段12.13
で駆動して測定区間の両端が極大値(または極小値)を
とるようにすればよい。
以上によって■、■式の条件が得られるので、FFTを
行えば、第7図(d)に示すように入力波形のと出力波
形■とが一致して正確な面データを得ることができる。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、シリンドリカル面
やトロイダル面なそのように面上の直交する主経線の曲
率中心がことなる面の面形状及び面精度を、非接触でし
かも波長λ以下の高精度で高速に測定することができる
。さらに、高速フーリエ変換における欠点、即ち、■測
定区間の両端における位相の相違による打ち切り誤差、
■キャリヤ周波数が適当でないことによる誤差、の二つ
の誤差をも排除することができ、トロイダル面の面形状
、面精度をより高精度に測定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の測定装置の全体構成を示す図で、(a
)は正面図、(b)は側面図、第2図はイメージセンサ
上に干渉縞が結像された状態を示す図、 第3図は無限に続くコサイン波を有限の測定区間にカッ
トした状態を示す図で、Ta)は測定区間の両端の位相
を同一にした場合の図、(b)は両端の位相を相違させ
た場合の図、 第4図(a)は第3図(a)の場合のイメージセンサ上
の波形の図、(b)は<alの場合の入出力波形の図、
(C1は第3図(blの場合のイメージセンサ上の波形
の図、(dlは(C)の場合の入出力波形を示す図、 第5図は本発明の要部構成を示す図で対物レンズがチル
トする場合の構成図、 第6図は同じくシフトする場合の構成図、第7図(al
から(d)は本発明の詳細な説明する図である。 1・・・光源、6a・・・参照面、7・・・被測定物、
7a・・・被測定面(トロイダル面)、8・・・回転台
、10・・・イメージセンサ、11・・・干渉縞、12
,13・・・駆動手段。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)同一光源からの可干渉光を被測定面と基準になる
    参照面とに照射し、これら両面からの反射光を干渉させ
    て被測定面の面形状及び面精度を測定する方法において
    、 被測定面となるトロイダル面上の直交する主経線の何れ
    か一方と平行な矩形部分について干渉縞を作り、該干渉
    縞の像を光学系によりイメージセンサ上に結像し、前記
    参照面をチルト及び/又はシフトすることにより該イメ
    ージセンサにおける干渉縞の光強度信号の位相が測定区
    間の両端でほぼ等しくなるように調整してからフーリエ
    変換法で解析することを特徴とするトロイダル面の測定
    方法。
  2. (2)同一光源からの可干渉光を被測定面と基準になる
    参照面とに照射し、これら両面からの反射光を干渉させ
    て被測定面の面形状及び面精度を測定する装置において
    、 被測定面としてのトロイダル面上の直交する主経線の何
    れか一方の曲率に対し、予め決められた曲率を有する参
    照面を有し、トロイダル面を有する被測定物を主経線の
    何れか他方の曲率に合わせて回動自在に支持する回転台
    を設け、前記参照面を被測定面に対して可変量のチルト
    及び/又はシフト可能な駆動手段を設けたことを特徴と
    するトロイダル面の測定装置。
JP2060118A 1990-03-13 1990-03-13 トロイダル面の測定方法及び測定装置 Pending JPH03262905A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009264849A (ja) * 2008-04-23 2009-11-12 Nikon Corp 波形解析装置、コンピュータ実行可能な波形解析プログラム、干渉計装置、パターン投影形状測定装置、及び波形解析方法
JP2013124991A (ja) * 2011-12-15 2013-06-24 Canon Inc 被検光学系の収差を算出する装置、方法およびトールボット干渉計
JP2021165701A (ja) * 2020-04-08 2021-10-14 大塚電子株式会社 光学測定システムおよび光学測定方法

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