JPH03261100A - シンクロトロンの電子ビームモニタ装置 - Google Patents
シンクロトロンの電子ビームモニタ装置Info
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- JPH03261100A JPH03261100A JP5664790A JP5664790A JPH03261100A JP H03261100 A JPH03261100 A JP H03261100A JP 5664790 A JP5664790 A JP 5664790A JP 5664790 A JP5664790 A JP 5664790A JP H03261100 A JPH03261100 A JP H03261100A
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- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 title claims abstract description 55
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 title claims description 7
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims abstract description 8
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 5
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 3
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
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- Particle Accelerators (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、電子ビームをシンクロトロン内で光速で周回
させて放射光を取り出すSOR装置に係り、特にそのシ
ンクロトロン内で周回する電子ビームの周回をモニタで
きるシンクロトロンの電子ビームモニタ装置に関するも
のである。
させて放射光を取り出すSOR装置に係り、特にそのシ
ンクロトロン内で周回する電子ビームの周回をモニタで
きるシンクロトロンの電子ビームモニタ装置に関するも
のである。
[従来の技術]
最近半導体のリソグラフィー用光源としてSOR装置が
注目されてきている。
注目されてきている。
SOR装置は、蓄積リンク内の電子ビームを光速で周回
させ、電子ビームが磁場で偏向される際に放射される放
射光(SOR光)を取り出すものである。
させ、電子ビームが磁場で偏向される際に放射される放
射光(SOR光)を取り出すものである。
通常大型のSOR装置は、線形加速器とシンクロトロン
と蓄積リングの3台の装置から構成されるが、小型のS
OR装置は、シンクロトロンと蓄積リングを兼用したも
のが現在開発されている。
と蓄積リングの3台の装置から構成されるが、小型のS
OR装置は、シンクロトロンと蓄積リングを兼用したも
のが現在開発されている。
この小型のSOR装置においては、線形加速器より電子
エネルギ100 M e V以下の低いエネルギーの電
子がシンクロトロンに繰返し入射され、シンクロトロン
内に所定の蓄積電流が確保されたならばシンクロトロン
内の電子ビームエネルギーを最終エネルギーまで高めて
SOR光を取り出すようにしている。
エネルギ100 M e V以下の低いエネルギーの電
子がシンクロトロンに繰返し入射され、シンクロトロン
内に所定の蓄積電流が確保されたならばシンクロトロン
内の電子ビームエネルギーを最終エネルギーまで高めて
SOR光を取り出すようにしている。
[発明が解決しようとする課題]
ところで、このSOR装置において、初期調整運転を行
う場合、シンクロトロン内の電子ビームが何周したかを
確認する必要かある。従来においては、RCT (ラピ
ッド・カレンl−・トランスフォーマ)と言う立ち上が
りの速い電流モニタを用いて周回数を確認している。こ
のRCTは真空容器の外周にコイルを巻き付けて、電子
ビームがコイルを通過する際の電流変化を読み取って周
回する電子ビームをモニタするものである。
う場合、シンクロトロン内の電子ビームが何周したかを
確認する必要かある。従来においては、RCT (ラピ
ッド・カレンl−・トランスフォーマ)と言う立ち上が
りの速い電流モニタを用いて周回数を確認している。こ
のRCTは真空容器の外周にコイルを巻き付けて、電子
ビームがコイルを通過する際の電流変化を読み取って周
回する電子ビームをモニタするものである。
しかしながら、このRCTは、初期調整運転時のみに用
い、電子が安定して周回するようになると不要となる。
い、電子が安定して周回するようになると不要となる。
本発明は上記事情を考慮してなされたもので、上述した
RCTを用いることなく、シンクロトロン内を周回する
電子ビームをモニタできるシンクロトロンの電子ビーム
モニタ装置を提供することを目的とする。
RCTを用いることなく、シンクロトロン内を周回する
電子ビームをモニタできるシンクロトロンの電子ビーム
モニタ装置を提供することを目的とする。
[課題を解決するための手段]
本発明は、上記の目的を達成するために、シンクロトロ
ン内を周回する電子ビームをモニタするシンクロトロン
の電子ビームモニタ装置において、上記シンクロトロン
の直線部に電子ビームの位置ズレを検出するボタン電極
群を設け、そのボタン電極群の検出信号より電子ビーム
の周回をモニタするものである。
ン内を周回する電子ビームをモニタするシンクロトロン
の電子ビームモニタ装置において、上記シンクロトロン
の直線部に電子ビームの位置ズレを検出するボタン電極
群を設け、そのボタン電極群の検出信号より電子ビーム
の周回をモニタするものである。
[作用]
上記の構成によれば、シンクロ1−ロンに設けられてい
る電子ビームの位置ズレを検出するボタン電極群を利用
し、初期調整運転時、シンクロトロン内で電子が周回す
る際、そのボタン電極群にかかる電圧の経時変化を検出
することで電子ビームの周回をモニタできる。
る電子ビームの位置ズレを検出するボタン電極群を利用
し、初期調整運転時、シンクロトロン内で電子が周回す
る際、そのボタン電極群にかかる電圧の経時変化を検出
することで電子ビームの周回をモニタできる。
[実施例]
以下、本発明の好適実施例を添付図面に基づいて説明す
る。
る。
先ず第1図によつSOR装置の全体構成を説明する。第
1図において、1はシンクロトロンで、電子ビームが周
回する環状の真空容器2と、その真空容器2内を周回す
る電子ビームにエネルギーを補給する高周波加速空洞3
と、電子ビームを偏向する偏向電磁石4とから構成され
る。5は電子発生装置、6は加速管、7は入射部のぼ内
型磁石、8は光取り出しライン、9は露光装置である。
1図において、1はシンクロトロンで、電子ビームが周
回する環状の真空容器2と、その真空容器2内を周回す
る電子ビームにエネルギーを補給する高周波加速空洞3
と、電子ビームを偏向する偏向電磁石4とから構成され
る。5は電子発生装置、6は加速管、7は入射部のぼ内
型磁石、8は光取り出しライン、9は露光装置である。
次にこの第1図に示したSOR装置の運転を説明する。
先ず電子発生装置5で発生した電子は、加速管6で、例
えば45 M e Vまで加速され、入射部の偏向電磁
石7で偏向されて真空容器2内に入射される。
えば45 M e Vまで加速され、入射部の偏向電磁
石7で偏向されて真空容器2内に入射される。
この真空容器2内に入射された電子は、偏向電磁石4で
偏向され、かつ高周波加速空洞3でエネルギーを補給さ
れながら真空容器2内を光速で周回するが、電子の入射
後、偏向電磁石4での磁場を順次高め電子ビームのエネ
ルギーを最終エネルギー(800MeV)まで高め、そ
の間、偏向磁石4で偏向されるビームの接線方向に放射
されるSOR光を光取り出しライン8より取り出し、露
光装置9に入射し、半導体のリソグラフィーなどを行う
。
偏向され、かつ高周波加速空洞3でエネルギーを補給さ
れながら真空容器2内を光速で周回するが、電子の入射
後、偏向電磁石4での磁場を順次高め電子ビームのエネ
ルギーを最終エネルギー(800MeV)まで高め、そ
の間、偏向磁石4で偏向されるビームの接線方向に放射
されるSOR光を光取り出しライン8より取り出し、露
光装置9に入射し、半導体のリソグラフィーなどを行う
。
次に本発明のシンクロトロンの電子ビームモニタ装置を
第1〜3図により説明する。
第1〜3図により説明する。
先ず真空容器2の偏向電磁石4を結ぶ各直線部2Lには
、周回する電子ビーム位置ズレを検出するため8個のボ
タン電極群10が設けられ、これらボタン電極群10の
検出信号がモニタ回路11に入力され、モニタ回路11
にて周回する電子ビームの位置ズレが検出できるように
なっている。
、周回する電子ビーム位置ズレを検出するため8個のボ
タン電極群10が設けられ、これらボタン電極群10の
検出信号がモニタ回路11に入力され、モニタ回路11
にて周回する電子ビームの位置ズレが検出できるように
なっている。
このボタン電極群t○は、第2図に示ず土うに真空容器
2の上下面で、かつ周回する電子ビーム12を挟んで左
右一対、計4個のボタン電極10A、IOB、IOC,
IOCからなり、これらボタン電極10A、IOB、I
OC,IODで検出される電圧に基づいて、モニタ回路
11か電子ビーム12の原点に対する位置ズレを検出す
るようになっている。
2の上下面で、かつ周回する電子ビーム12を挟んで左
右一対、計4個のボタン電極10A、IOB、IOC,
IOCからなり、これらボタン電極10A、IOB、I
OC,IODで検出される電圧に基づいて、モニタ回路
11か電子ビーム12の原点に対する位置ズレを検出す
るようになっている。
さて本発明においては、このボタン電極10A。
10B 10C110Dで検出される電圧を基にモニ
タ回路11は電子ビーム12の位置ズレと同時に電子ビ
ームの周回をモニタすることにある。
タ回路11は電子ビーム12の位置ズレと同時に電子ビ
ームの周回をモニタすることにある。
第3図はボタン電@lOA、IOB、IOC。
10Dで検出される電圧変化から、モニタ回路11が電
子ビームの周回をモニタする信号処理ブロック図である
。
子ビームの周回をモニタする信号処理ブロック図である
。
第3図において、13はボタン電極10A10810C
,IOCに接続された同軸スイッチ回路、14は同軸ス
イッチ回路13からのボタン電極10A、IOB、IO
C,IOCの検出電圧を減衰する減衰回路、15は増幅
器、16はオシロスコープ、1つはCPU、20.21
は、CPU19で制御され、同軸スイッチ回F#13及
び減衰回路14を駆動するドライブ回路である6ボタン
電極10A、IOB、IOC,IODの検出電圧は同軸
スイッチ回1i!813より′$A衰回路14で減衰さ
れ、増幅器15で増幅された後、オシロスコープ16に
入力され、CPU19に入力される。このCPtJ 1
9は、ボタン電極10A10B、IOC,10Dで検出
された電圧の相違からビームの位置ズレを求めると共に
ボタン電極10A、10B、10C,IODで検出され
た電圧の経時変化から電子ビームの周回数を求めるよう
になっている。
,IOCに接続された同軸スイッチ回路、14は同軸ス
イッチ回路13からのボタン電極10A、IOB、IO
C,IOCの検出電圧を減衰する減衰回路、15は増幅
器、16はオシロスコープ、1つはCPU、20.21
は、CPU19で制御され、同軸スイッチ回F#13及
び減衰回路14を駆動するドライブ回路である6ボタン
電極10A、IOB、IOC,IODの検出電圧は同軸
スイッチ回1i!813より′$A衰回路14で減衰さ
れ、増幅器15で増幅された後、オシロスコープ16に
入力され、CPU19に入力される。このCPtJ 1
9は、ボタン電極10A10B、IOC,10Dで検出
された電圧の相違からビームの位置ズレを求めると共に
ボタン電極10A、10B、10C,IODで検出され
た電圧の経時変化から電子ビームの周回数を求めるよう
になっている。
次に本実施例の作用を説明する。
上述したようにSOR運転においては、シンクロトロン
1に電子を繰り返し入射し、所定の電流が蓄積されたな
ら、電子ビームエネルギーを最終エネルギーまで高めて
SOR運転を行うか、この運転に入る前の初期調整運転
時、ボタン電極群10にて検出される電圧変化にてモニ
タ回路11か電子ビームの周回をモニタする。ずなわち
シンクロトロン1内に電子ビームを入射するとその電子
ビームがシンクロトロン1内を偏向電磁石4で偏向され
、高周波加速空洞3(第1図)でエネルギーを補給され
ながら周回する。この電子ビーム11の周回時、ボタン
電′#!、!¥10を通過すると、ボタン電極群10の
各ボタン電t7fllOA、l0810G、IODに、
電子ビーム12の電流値に応じた電圧が発生する。この
電圧をモニタ回1i’1illは、経時変化で検出する
ことで、電子の周回数をモニタできる。この場合、ボタ
ン電極群10は8箇所あり、また平均電圧値も同時に検
出するため、電子ビームがどの位置で消滅しやすいか、
ずなわちシンクロトロン1のどの箇所の真空度が悪いか
や電子ビームの発散の程度等も知ることができる。
1に電子を繰り返し入射し、所定の電流が蓄積されたな
ら、電子ビームエネルギーを最終エネルギーまで高めて
SOR運転を行うか、この運転に入る前の初期調整運転
時、ボタン電極群10にて検出される電圧変化にてモニ
タ回路11か電子ビームの周回をモニタする。ずなわち
シンクロトロン1内に電子ビームを入射するとその電子
ビームがシンクロトロン1内を偏向電磁石4で偏向され
、高周波加速空洞3(第1図)でエネルギーを補給され
ながら周回する。この電子ビーム11の周回時、ボタン
電′#!、!¥10を通過すると、ボタン電極群10の
各ボタン電t7fllOA、l0810G、IODに、
電子ビーム12の電流値に応じた電圧が発生する。この
電圧をモニタ回1i’1illは、経時変化で検出する
ことで、電子の周回数をモニタできる。この場合、ボタ
ン電極群10は8箇所あり、また平均電圧値も同時に検
出するため、電子ビームがどの位置で消滅しやすいか、
ずなわちシンクロトロン1のどの箇所の真空度が悪いか
や電子ビームの発散の程度等も知ることができる。
またモニタ回路11は、ボタン電極群10の各ボタン電
極10A、IOB、IOC,10Dの検出電圧の相違よ
り電子ビームの位置ズレを求め、電子ビーム12の位置
ズレを補正すべく各種電磁石(図示せず)の磁場を調整
する。
極10A、IOB、IOC,10Dの検出電圧の相違よ
り電子ビームの位置ズレを求め、電子ビーム12の位置
ズレを補正すべく各種電磁石(図示せず)の磁場を調整
する。
以上のように電子ビームをモニタし、電子ビームが安定
して周回するようにSOR装置の各機器を調整した後は
、上述のSOR運転を行う。
して周回するようにSOR装置の各機器を調整した後は
、上述のSOR運転を行う。
[発明の効果〕
以上説明したことから明らかなように本発明によれば次
のごとき優れた効果を発揮する。
のごとき優れた効果を発揮する。
(1)周回する電子ビームをボタン電極群で検出してモ
ニタすることで、従来のRCTを不要とすることができ
る。
ニタすることで、従来のRCTを不要とすることができ
る。
(2)ボタン電極群はシンクロトロンの直線部に複数あ
るため、電子ビームがどの位置で消滅したかなどもモニ
タできる。
るため、電子ビームがどの位置で消滅したかなどもモニ
タできる。
第1図は本発明の一実jfU例を示す平面図、第2図は
第1図の要部拡大断面図、第3図は第1図のモニタ回路
のブロック図である。 図中、1はシンクロトロン、2は真空容器、3は高周波
加速空洞、4は偏向磁石、10はボタン電極群、11は
電子ビームのモニタ回路である。
第1図の要部拡大断面図、第3図は第1図のモニタ回路
のブロック図である。 図中、1はシンクロトロン、2は真空容器、3は高周波
加速空洞、4は偏向磁石、10はボタン電極群、11は
電子ビームのモニタ回路である。
Claims (1)
- 1、シンクロトロン内を周回する電子ビームをモニタす
るシンクロトロンの電子ビームモニタ装置において、上
記シンクロトロンの直線部に電子ビームの位置ズレを検
出するボタン電極群を設け、そのボタン電極群の検出信
号より電子ビームの周回をモニタすることを特徴とする
シンクロトロンの電子ビームモニタ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5664790A JPH03261100A (ja) | 1990-03-09 | 1990-03-09 | シンクロトロンの電子ビームモニタ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP5664790A JPH03261100A (ja) | 1990-03-09 | 1990-03-09 | シンクロトロンの電子ビームモニタ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03261100A true JPH03261100A (ja) | 1991-11-20 |
Family
ID=13033144
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP5664790A Pending JPH03261100A (ja) | 1990-03-09 | 1990-03-09 | シンクロトロンの電子ビームモニタ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03261100A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022046936A3 (en) * | 2020-08-26 | 2022-04-21 | Tae Technologies, Inc. | Systems, devices, and methods for beam misalignment detection |
-
1990
- 1990-03-09 JP JP5664790A patent/JPH03261100A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2022046936A3 (en) * | 2020-08-26 | 2022-04-21 | Tae Technologies, Inc. | Systems, devices, and methods for beam misalignment detection |
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