JPH03250683A - Laser device control system - Google Patents

Laser device control system

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Publication number
JPH03250683A
JPH03250683A JP4593390A JP4593390A JPH03250683A JP H03250683 A JPH03250683 A JP H03250683A JP 4593390 A JP4593390 A JP 4593390A JP 4593390 A JP4593390 A JP 4593390A JP H03250683 A JPH03250683 A JP H03250683A
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JP
Japan
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laser device
function
state
laser
gas
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Application number
JP4593390A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideomi Takahashi
秀臣 高橋
Kiyohisa Terai
清寿 寺井
Koichi Nishida
西田 公一
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Abstract

PURPOSE:To prevent electrical discharge of a laser device and an output from the same from becoming unstable and from being lowered, respectively, by connecting to a laser device a monitor/measurement part for monitoring and measuring the operation state of the laser device and outputting an optimum control function in a calculation part in response to an output from the monitor/ measurement part, and further controlling the operation state of the laser device based upon the resulting optimum control function. CONSTITUTION:In a monitor/measurement part 22, the electrical discharge state, gas state, or cooling state of a laser device 21 are monitored and measured, and outputted as a state function. The state function thus outputted is subjected to a signal processing such as impedance conversion, etc., in a first conversion part 23 and is fed to a calculation part 24. An optimum control function generated by the calculation part 24 is subjected to a signal processing such as impedance conversion, etc., in a second conversion part 24, and is fed to a control part 26. In the control part 26 electrical discharge conditions, gas conditions, or cooling conditions are determined following the optimum control function, and the laser device 21 is controlled on the basis of the operation state thereof such that its operation state is optimum.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の[−I的] (産業上の利用分野) 本発明は、大出力のレーザ装置に係り、特に、放電状態
やガス状態あるいは冷却状態の変化に応じて、レーザ装
置の動作状態を制御するレーザ装置の制御システムに関
するものである。
[Detailed Description of the Invention] [-I Features of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a high-output laser device, and in particular, the invention relates to a high-output laser device, and in particular, to The present invention relates to a control system for a laser device that controls the operating state of the laser device.

(従来の技術) 一般に、人出力のレーザ装置においては、送風機によっ
てレーザ媒質ガスを放電励起部に高速循環させ、陰極・
陽極間のグロー放電によりこのレーザ媒質ガスを励起し
、レーザ媒質ガスのガス流方向と直交する方向に光軸を
有するように配設された光共振器によ−)でLノ〜ザ出
力を取り出している。この種のL−−炉装置の一例を第
3図に示した。
(Prior art) Generally, in a human-powered laser device, a blower circulates the laser medium gas to the discharge excitation part at high speed.
This laser medium gas is excited by a glow discharge between the anodes, and an optical resonator arranged with an optical axis in a direction perpendicular to the gas flow direction of the laser medium gas generates an L nozzle output. I'm taking it out. An example of this type of L-furnace apparatus is shown in FIG.

即ち、レーザ風洞1の内部には、放電励起部2と冷却装
置3及び送風機4が設jjられている。放電励起部2は
、複数個に分割したビン状陰極5と、これに対向配置し
た棒状の陽極6及びこれらの電極間に循環されるレーザ
媒質ガスのガス流7の方向と直角方向に光軸を配置した
光共振器8a、8bとから構成されている3、また、電
源10の一端とビン状陰極5の間には、グロー放電を並
列し2て安定点弧させるための安定化インピーダンス9
がそれぞれ接続されている。1さらに、1ノーザ媒質ガ
スとし、では、例えばCO2、N2 、Heガスを含む
混合ガスが用いられ、約30〜100Torr程度の圧
力でレーザ風洞1内に封入されている。
That is, inside the laser wind tunnel 1, a discharge excitation section 2, a cooling device 3, and a blower 4 are installed. The discharge excitation unit 2 includes a bottle-shaped cathode 5 divided into a plurality of pieces, a rod-shaped anode 6 disposed opposite to the cathode 5, and an optical axis extending in a direction perpendicular to the direction of a gas flow 7 of a laser medium gas circulated between these electrodes. A stabilizing impedance 9 is provided between one end of the power source 10 and the bottle-shaped cathode 5 for stably igniting the glow discharge in parallel.
are connected to each other. 1. Furthermore, in 1, a mixed gas containing, for example, CO2, N2, and He gas is used as the laser medium gas, and is sealed in the laser wind tunnel 1 at a pressure of about 30 to 100 Torr.

また、放電励起部2内に循環されるレーザ媒質ガスのガ
ス流7の速度は、数10m/s〜数100m/s程度で
ある。動作時においては、電源10から上記ビン状陰極
5−陽極6間に数1000V以上の高電圧を印加してグ
ロー放電11を発生させ、この放電エネルギーによって
レーザ媒質ガスを励起する。このとき、光共振器8a、
8bの作用よりレーザ発振が起こり、レーザ媒質ガスの
ガス流7方向及び放電方向と直角方向にレーザ出力12
が得られる。
Further, the velocity of the gas flow 7 of the laser medium gas circulated within the discharge excitation section 2 is approximately several tens of m/s to several hundreds of m/s. During operation, a high voltage of several thousand volts or more is applied from the power supply 10 between the bottle-shaped cathode 5 and the anode 6 to generate a glow discharge 11, and the laser medium gas is excited by this discharge energy. At this time, the optical resonator 8a,
Laser oscillation occurs due to the action of 8b, and a laser output of 12 is generated in the 7 directions of the gas flow of the laser medium gas and in the direction perpendicular to the discharge direction.
is obtained.

(発明が解決しようとする課題) しかしながら、上述した様な従来のレーザ装置において
は、以下に述べる様な解決すべき課題があった。即ち、
レーザ発振は、放電状態やガス状態あるいは冷却状態等
により大きく影響を受け、例えば、グロー放電の動作状
態が不適切であると、放電によりレーザガスが劣化し、
放電不安定やグロー電圧上昇を招来し、ひいてはグロー
放電プラズマの収縮によるアークの発生を見ることにな
る。
(Problems to be Solved by the Invention) However, in the conventional laser device as described above, there were problems to be solved as described below. That is,
Laser oscillation is greatly affected by discharge conditions, gas conditions, cooling conditions, etc. For example, if the operating conditions of glow discharge are inappropriate, the laser gas will deteriorate due to discharge.
This results in unstable discharge and an increase in glow voltage, which in turn leads to the generation of arcs due to contraction of the glow discharge plasma.

また、循環されているレーザガスの冷却が不十分である
と、レーザガスの温度上昇を招来し、レーザ出力の低下
や、ひいてはアーク発生や発振停止を生じることがある
。さらに、アーク発生に至らない場合でも、レーザガス
の分解によって02が発生し、その結果、グロー放電電
圧が変化しく主として電圧上昇)、注入電力の変動によ
るレーザ出力の変化を生じる。これは、各種加工用等に
使われる大出力レーザ装置にとっては大きな問題で、レ
ーザ出力の安定化が切望されていた。
Furthermore, if the circulating laser gas is insufficiently cooled, the temperature of the laser gas may rise, resulting in a decrease in laser output and, in turn, occurrence of arcing or oscillation stoppage. Furthermore, even if arcing does not occur, 02 is generated due to decomposition of the laser gas, resulting in a change in the glow discharge voltage (mainly a voltage increase) and a change in laser output due to fluctuations in the injected power. This is a major problem for high-output laser devices used for various processing purposes, and stabilization of laser output has been desired.

本発明は、上記の様な問題点を解決するためになされた
ものであり、その目的は、レーザ装置の放電不安定や出
力低下を回避することのできる、精度の高いレーザ装置
の制御システムを提供することにある。
The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and its purpose is to provide a highly accurate control system for a laser device that can avoid unstable discharge and a decrease in output of the laser device. It is about providing.

[発明の構成] (課題を解決するための手段) 本発明のレーザ装置の制御システムは、レーザ装置にそ
の動作状態を監視測定する監視測定部を接続し、この監
視測定部よりの出力に応じて、演算処理部において最適
制御関数を出力し、この最適制御関数に基づいて前記レ
ーザ装置の運転状態を制御することを特徴とするもので
ある。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) A control system for a laser device according to the present invention connects a monitoring and measuring section that monitors and measures the operating state of the laser device, and controls the control system according to the output from the monitoring and measuring section. The present invention is characterized in that the arithmetic processing section outputs an optimal control function, and the operating state of the laser device is controlled based on this optimal control function.

(作用) 以上の構成を有する本発明のレーザ装置の制御システム
によれば、放電部の動作状態を常時監視測定しており、
この監視データに基づいて演算処理部で性能関数P、信
頼関数Sそしてコスト関数Cを出力し、これに外部より
与えられる割り込み関数Wを組合せて最適制御関数を出
力し、それに基づいてレーザ装置を運転するので、総合
効率の良い信頼性の高いレーザ装置が得られる。
(Function) According to the control system for a laser device of the present invention having the above configuration, the operating state of the discharge section is constantly monitored and measured.
Based on this monitoring data, the arithmetic processing unit outputs a performance function P, a reliability function S, and a cost function C, which are combined with an externally given interrupt function W to output an optimal control function, and the laser device is controlled based on this. Since the laser is operated, a highly reliable laser device with good overall efficiency can be obtained.

(実施例) 以下、本発明の一実施例を第1図に基づいて具体的に説
明する。
(Example) Hereinafter, an example of the present invention will be specifically described based on FIG.

本実施例においては、第1図に示した様に、レザ装置2
1には、所定の監視項目に対応して設けられた各種セン
サ(図示せず)よりの情報に基づいて、その放電状態、
ガス状態あるいは冷却状態等、レーザ装置21の動作状
態を監視測定する監視測定部22が接続されている。ま
た、この監視測定部22の出力は第1の変換部23に送
られ、インピーダンス変換等の信号処理が施された後、
演算処理部24に送られるように構成されている。
In this embodiment, as shown in FIG.
1, based on information from various sensors (not shown) provided corresponding to predetermined monitoring items, the discharge state,
A monitoring and measuring section 22 is connected to monitor and measure the operating state of the laser device 21, such as the gas state or cooling state. Further, the output of this monitoring measurement section 22 is sent to the first conversion section 23, and after being subjected to signal processing such as impedance conversion,
The data is configured to be sent to the arithmetic processing section 24.

この演算処理部24においては、前記第1の変換部23
よりの信号により、性能関数P、信頼性関数Sあるいは
コスト関数Cが発生され、さらにこのデータに外部より
の割り込み関数Wが加えられて演算処理される。この演
算処理部24で処理され出力された制御関数は、第2の
変換器25に送られ、インピーダンス変換等の信号処理
か施された後、制御部26に出力されるようになってい
る。
In this arithmetic processing section 24, the first conversion section 23
A performance function P, a reliability function S, or a cost function C is generated based on the signal, and an interrupt function W from the outside is added to this data for arithmetic processing. The control function processed and output by the arithmetic processing unit 24 is sent to the second converter 25, where it is subjected to signal processing such as impedance conversion, and then output to the control unit 26.

そして、制御部26において、前記制御関数により放電
条件、ガス条件あるいは冷却条件等が決められ、それに
基づいてレーザ装置21が制御されるように構成されて
いる。
Then, in the control section 26, discharge conditions, gas conditions, cooling conditions, etc. are determined by the control function, and the laser device 21 is controlled based on them.

この様に構成された本実施例のレーザ装置制御システム
は、以下に述べる様に作用する。即ち、監視測定部22
において、レーザ装置21の放電状態fd(放電状態を
与える関数)や、ガス状態fg(ガス状態関数)、ある
いは冷却状態fc(冷却状態関数)、その他fa(その
他の状態関数)が監視、測定され、状態関数fd、  
fg、  fc、faが出力される3、・−の様1゛シ
フて出力された状態関数は、第1の変換部23でインピ
ーダンス変換等の伝1.1処理がなされた後、演算処理
部24(、!送られる。そして、この演算処理部24−
tTは、状態量g、3fd、fg、fe、faより性能
間132 P、:lスト関数Cあるいは信頼性関数Sか
次の様に出力さ才゛する。
The laser device control system of this embodiment configured in this manner operates as described below. That is, the monitoring measurement section 22
, the discharge state fd (function giving the discharge state), gas state fg (gas state function), cooling state fc (cooling state function), and other fa (other state functions) of the laser device 21 are monitored and measured. , state function fd,
The state function shifted by 1 and outputted as 3, . 24(,! is sent. Then, this arithmetic processing unit 24-
tT is output as a performance function C or a reliability function S from the state quantities g, 3fd, fg, fe, and fa as follows.

1’ =P (f d、  f g、  f c) ・
−= (1)C=C(f cl、  f g、  f 
c) −−(2)S =S  (f 6.  f g、
  f c、  f a) −(3)なお1、 L式は
一般弐′Cあるが、具体的には、例えば性能関数11は
1.、/−ザ尤を測定j、2でいるペヮ・メータの出力
そのもので代表させても良い。また、コノ、ト・関数C
は受電電力量をEとし、ガス供給量をGと(で、 C=C]・E十C2φG (CI、C2は換算係数)・・・・・・(4)でl)え
ても良い。また、信頼性関数Sは、例えばグriiiJ
−放電人力)1′1に対]、て、S; E 12+≦J
(1−≦E]、b−、−,,,,,(5)(El、a;
許容最高人力、 E 、1. b 、許容最高人力) 吉し、てIj・えCも良い。
1' = P (f d, f g, f c) ・
−= (1) C=C(f cl, f g, f
c) --(2) S = S (f 6. f g,
f c, f a) - (3) 1. There is a general formula 2'C for L, but specifically, for example, the performance function 11 is 1. , /-the value may be represented by the output of the meter itself at measurement j, 2. Also, Kono, To, Function C
The received power amount may be expressed as E, and the gas supply amount may be expressed as G (where, C=C]・E×C2φG (CI, C2 are conversion coefficients)...(l) in (4)). Furthermore, the reliability function S is, for example,
- discharge human power) 1'1], te, S; E 12+≦J
(1-≦E], b-, -,,,,, (5) (El, a;
Maximum allowable manpower, E, 1. b, Maximum allowable human power) Good luck, TeIj・EC is also good.

また、前記演算処理部2・1は、これらの関数を発生し
7り)部にデータとし、′c出力すると共に、例えば良
さの指標と1.、で、関数FGを F G = T’ /’ C・・・・・・・・・・・・
・・ (6)で定義し5、割り込み関数Wがなければ信
頼性関数Sをりえらねた許容節回((5)式)に紐゛持
し、っ−っ、関数FGを最大とする最適制御関数FCC
’J発生さける。割り込み関数Wがある場合は、割り込
み関数Wの指令の下、同様にし、て最適制御関数FCC
が発生され、jスト関数には大きくても性能関数I)を
状態関数Sの許す範囲で最大とする等の制御を行うよう
な制御関数とされる。
Further, the arithmetic processing section 2.1 generates these functions and outputs them as data to the section (7) and outputs them, for example, as a quality index and 1. , and the function FG is FG = T'/' C・・・・・・・・・・・・
...Defined in (6)5, if there is no interrupt function W, the reliability function S is tied to the selected allowable node (formula (5)), and the function FG is maximized. Optimal control function FCC
'J avoid occurrence. If there is an interrupt function W, the optimal control function FCC is created in the same way under the instructions of the interrupt function W.
is generated, and the j-st function is set as a control function that performs control such as maximizing the performance function I) within the range allowed by the state function S, even if it is large.

この様にして演算処理部24で発!1ニされた最適制御
関数FCCは、第2の変換部25でインピダンス変換等
の信号処理が施され、制御部26に送られる。制御部2
6ではこの最適制御関数FCCに従って、第1図に示L
5た様に、放電条件、ガス条件あるいは冷却条件等が決
定され、イの結Wに基づいて、レー す装置21はぞの
運転状態が最適となるように制御される。
In this way, the arithmetic processing unit 24 generates! The optimal control function FCC, which has been converted to 1, is subjected to signal processing such as impedance conversion in the second conversion section 25, and is sent to the control section 26. Control part 2
6, according to this optimal control function FCC, L shown in FIG.
5, the discharge conditions, gas conditions, cooling conditions, etc. are determined, and based on the result W in A, the ray device 21 is controlled so that its operating state is optimal.

この様に、本実施例によれば、Lノ−ザ装置21の動作
状態が、装置自体の設計条件から決まる許容値内1ご諸
・々ラメ りを維持しつつ、最低の二1ス)・で、且−
)、最高の性能となるようにその運転を制御することの
できる、高効率、高性能で長寿命化を11能とし、た信
頼性の高いレー==ザ装置の制御シスラーノ、を得るこ
とができる。
In this manner, according to this embodiment, the operating state of the L-noser device 21 can be maintained within the allowable values determined by the design conditions of the device itself, while achieving the lowest level of 21 seconds).・And-
), it is possible to obtain a highly reliable control system for laser equipment that has 11 functions of high efficiency, high performance, and long life, and can control its operation to achieve the best performance. can.

なお、本発明i:J−F−述し7た実施例に限定される
ものではなく、第ン図に示し7た様に、複数台のし・〜
ザ装置を用いた場合にも適用することができる。
Note that the present invention is not limited to the embodiments described above, but can be applied to multiple units as shown in Figure 7.
This method can also be applied when using a thermal device.

即ち、複数音のレーザ装置21a、21b−212が同
時に稼働し、ており、これらは各々に付設された監視測
定部22a、22b・・・22zによって監視測定され
、各々の状態関数、すなわち放電状態、ガス状態、冷却
状態ぞの他を示す状態関数が発生され、第1の変換部2
3a、23F)・・・23zによりインピータンス変換
等の信号処理が施され、それらの信号が統合部3()に
よって統合された後、演算処理部24て演算処理される
3、なお、この演算処理は、基本的には第1図に示し、
た実施例と同様C゛あるが、複数f−ンのレ−ザ装置を
制御部るので、演算処理部で”発生された性能関数P、
コスト関数C及び信頼性関数Sの中で、少なくきも信頼
性関数Sは1ノ一ザ装置台数分存在(2、Sa、Sb・
・・SZが発生される。この関数Sa、Sb・・・Sz
等はレーザ装置・\7の電圧、電流、圧力、ガス流量そ
の他で構成された多次元空間て゛の甲面を表1−2、し
・ザ装置の動作許容領域は、これら平面で囲まれた立体
領域内部となる。従って、11適解はごの、7体の辺又
は頂点とい・うことになり、いわゆる線形計画法の手法
を駆使することにより、比較的容易に最適解を得ること
ができる。
That is, the plurality of laser devices 21a, 21b-212 are operated simultaneously, and these are monitored and measured by the monitoring and measuring units 22a, 22b...22z attached to each, and each state function, that is, the discharge state , a gas state, a cooling state, etc. are generated, and the first conversion unit 2
3a, 23F)... 23z performs signal processing such as impedance conversion, and after these signals are integrated by the integrating unit 3(), they are processed by the arithmetic processing unit 24. The process is basically shown in Figure 1,
As in the embodiment described above, there is C, but since the control section uses a plurality of laser devices, the performance function P generated by the arithmetic processing section,
Among the cost function C and the reliability function S, there are at least as many reliability functions S as the number of devices in one device (2, Sa, Sb・
...SZ is generated. This function Sa, Sb...Sz
Table 1-2 shows the surface of the multidimensional space composed of the voltage, current, pressure, gas flow rate, etc. of the laser device. It becomes inside the three-dimensional area. Therefore, the 11 optimal solutions are the edges or vertices of 7 bodies, and by making full use of the so-called linear programming method, the optimal solution can be obtained relatively easily.

また、割り込み関数Wが入った場合は、割り込み関数W
も前記多次元空間での平面を表すので、動作許容領域を
示す立体がこの平面で切られる。
Also, if the interrupt function W is entered, the interrupt function W
also represents a plane in the multidimensional space, so the solid body indicating the motion permissible region is cut by this plane.

即ち、動作許容立体が平面Wで分割され、許容立体は分
割された・一方ということになる。従って、最適解を得
る手法は前記と同様であることが分かる。この様にして
最適解が得られると、演算処理部24は制御関数を発生
し、分割部31において各々のレーザ装置毎に制御関数
が分割され、第2の変換部25a、25b・・・25z
によりインピーダンス変換等の信号処理が施され、制御
部26a。
That is, the motion permissible solid is divided by the plane W, and the permissible solid is divided into one side. Therefore, it can be seen that the method for obtaining the optimal solution is the same as described above. When the optimal solution is obtained in this way, the arithmetic processing unit 24 generates a control function, the division unit 31 divides the control function for each laser device, and the second conversion unit 25a, 25b...25z
Signal processing such as impedance conversion is performed by the control unit 26a.

26b・・・26zに送られる。また、各々の制御部2
6a、26b等では、各々の制御関数に応じて放電条件
、ガス条件あるいは冷却条件等を決定して、各々のレー
ザ装置21a、21b等を制御するように構成されてい
る。従って、複数台のレーザ装置全体を効果的に制御す
ることができるので、総合効率の良い信頼性の高いレー
ザ装置の制御システムが得られる。
26b...26z. In addition, each control unit 2
6a, 26b, etc. are configured to determine discharge conditions, gas conditions, cooling conditions, etc. according to each control function, and control each laser device 21a, 21b, etc. Therefore, since the entire plurality of laser devices can be effectively controlled, a highly reliable laser device control system with good overall efficiency can be obtained.

[発明の効果] 以上説明した様に、本発明によれば、レーザ装置にその
動作状態を監視測定する監視測定部を接続し、この監視
測定部よりの出力に応じて、演算処理部において最適制
御関数を出力し、この最適制御関数に基づいて前記レー
ザ装置の運転状態を制御することにより、レーザ装置の
放電不安定や出力低下を回避することのできる、精度の
高いレーザ装置の制御システムを提供することができる
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, a monitoring and measuring section for monitoring and measuring the operating state of the laser device is connected to the laser device, and the arithmetic processing section determines the optimal A highly accurate control system for a laser device is provided, which can avoid unstable discharge and output reduction of the laser device by outputting a control function and controlling the operating state of the laser device based on this optimal control function. can be provided.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明のレーザ装置の制御システムの一実施例
を示す機能ブロック図、第2図は本発明の他の実施例を
示す機能プロ・ツク図、第3図は従来から用いられてい
るレーザ装置本体構造を示す斜視図である。 1・・・レーザ風洞、2・・・放電励起部、3・・・冷
却装置、4・・・送風機、5・・・ピン状陰極、6・・
・陽極、7・・・ガス流、8a、、8b・・・光共振器
、9・・・安定化インピーダンス、10・・・電源、1
1・・・グロー放電、12・・・レーザ出力、21・・
・レーザ装置、22・・・監視測定部、23・・・第1
の変換部、24・・・演算処理部、25・・・第2の変
換部、26・・・制御部、30・・統合部、31・・・
分割部。
FIG. 1 is a functional block diagram showing one embodiment of a control system for a laser device according to the present invention, FIG. 2 is a functional block diagram showing another embodiment of the present invention, and FIG. FIG. 2 is a perspective view showing the main body structure of the laser device. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1...Laser wind tunnel, 2...Discharge excitation part, 3...Cooling device, 4...Blower, 5...Pin-shaped cathode, 6...
・Anode, 7... Gas flow, 8a, 8b... Optical resonator, 9... Stabilizing impedance, 10... Power supply, 1
1...Glow discharge, 12...Laser output, 21...
-Laser device, 22...monitoring measurement section, 23...first
Conversion unit, 24... Arithmetic processing unit, 25... Second conversion unit, 26... Control unit, 30... Integration unit, 31...
Split part.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] レーザ装置に、その動作状態を監視測定する監視測定部
が接続され、この監視測定部よりの出力に応じて、演算
処理部において最適制御関数が出力され、この最適制御
関数に基づいて前記レーザ装置の運転状態が制御される
ことを特徴とするレーザ装置の制御システム。
A monitoring and measuring unit that monitors and measures the operating state of the laser device is connected, and an optimum control function is output in an arithmetic processing unit according to the output from the monitoring and measuring unit, and the laser device operates based on this optimum control function. A control system for a laser device, characterized in that the operating state of the laser device is controlled.
JP4593390A 1990-02-28 1990-02-28 Laser device control system Pending JPH03250683A (en)

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