JPH0324454A - 超音波探傷法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 【発明の目的】

（Ｍ業上の利用分野） 本発明は、弾性波の送受信用トランスデューサをそなえ
た探触子を用いて、材料や構造物の内部に存在する欠陥
を非破壊で検出するのに利用される超音波探傷法に関し
、特に３つ以上のトランスデューサをそなえた探触子を
用いてそのうちの少な〈とも１つを送信用として用いる
と共に残りの少なくとも２つ以上を受信用として用い、
２つ以上の受信用トランスデューサでの受信信号を相互
に比較して検査部の良否を判定するのに利用される非破
壊検査方法のうちのａ音波探傷法に関するものである． （従来の技術） 超音波に代表される弾性波を用いた非破壊検査方法では
、弾性波の送受信にトランスデューサを用いるが、送受
信の形態と使用するトランスデューサの数によって、透
過法．反射法，共振法などの区別がつけられている。ま
た、見方を変えた区別においては、垂直法，斜角法，水
浸法，板波法，表面波法，透過法、厚さ測定法，超音波
ホログラフィ法，探傷図形法などがある。なお、この種
の超音波深傷法は、例えば、「第３版　鉄鋼便覧　第■
巻　鉄鋼材料，試験●分析」　昭和５６年１０月３０日
　丸善株式会社発行の第４４７頁〜第４８８頁『非破壊
試験Ｊに詳しい説明がなされている， 第１８図は従来の超音波探傷法において用いられる探触
子の構造例を示すものであって、この探触子５１ほ、ホ
ルダ５２と、このホルダ５２に設けた絶縁体５３と、こ
の絶縁体５３に一端が当接する弾性体５４と、前記弾性
体５４の他端が当接するトランスデューサ５５と、前記
トランスデューサ５５とホルダ５２との間に介在する緩
衝体５６とを備えており、トランスデューサ５５は前記
弾性体５４の押圧力によって被測定物５７に押し付けら
れた状態で使用される． この従来の超音波探傷法において，トランスデューサが
１つの場合の測定方法は反射法あるいは共振法が代表的
であり、２つの場合の測定方法は透過法がよく知られて
いる．これらの測定方法は、検出信号の形や、共振周波
数によって各種の情報を得ていることは良く知られてい
る． しかしながら、これらの場合、信号強度そのものはトラ
ンスデューサの保持方法に強く影響されるために熟練が
必要であり、積極的には利用されていなかった．したが
って、熟練の度合に影響されない測定方法の開発と、ト
ランスデューサの保持方法とを見い出すことが要望され
ていた． いっぽう、非破壊検査方法の一つとして、特定の周波数
帯の超音波の伝達特性を測定することにより、接着接合
部の接着剤の有無や接着接合力そのものを推定すること
ができる技術も開発されていた（特開昭６３−１２０２
５２号）。 （発明が解決しようとする課題） しかしながら，この場合にもトランスデューサの取り付
け方に熟練を要するという課題があった． （発明の目的） 本発明は、このような従来の測定方法がもつ課題にかん
がみてなされたもので、接着接合部の欠陥を相対的に評
価することが可能であり、しかもトランスデューサの取
り付け方に熟練を必要としない超音波深傷法を提供する
ことを目的としている．

【発明の構成】

（課題を解決するための手段） 本発明に係る超音波探傷法は、弾性波を送信する少なく
とも１つの送信用トランスデューサと、前記弾性波を受
信する少なくとも２つの受信用トランスデューサとをそ
なえ、前記受信用トランスデューサを前記送信用トラン
スデューサと所定の距離に配置しかう前記距離の比を変
えないように保持するホルダをそなえた探触子を用いる
構成としたことを特徴としており、このような超音波深
傷法の構或を前述した従来の課題を解決するための手段
としている． （発明の作用） 本発明に係る超音波探傷法は上述した構成を有している
ものであるから、トランスデューサは送信専用のものと
受信専用のものと分れることとなるので、兼用する場合
のように切り替えを行う必要がなくなると共に、受信用
トランスデューサは２つ以上の複数からなるものとして
これら２つ以上の受信用トランスデューサからの受信信
号を相互に比較して検査部の良否を判定するようにして
いるため、測定に熟練を必要としな〈なるという作用が
もたらされる。 （実施例） 第１図は、本発明に係る超音波探傷法の実施に使用する
探触子の一構或例を示すものであって、この探触子１は
、中央に送信用トランスデューサ保持部２ａを有してい
ると共にその両側に受信用トランスデューサ保持部２ｂ
，２ｃを有するホルダ２と、前記ホルダ２の送信用トラ
ンスデューサ保持部２ａに設けた絶縁体３と、この絶縁
体３に一端が当接する弾性体４と、前記弾性体４の他端
が当接する送信用トランスデューサ５と、前記送信用ト
ランスデューサ５とホルダ２との間に介在する緩衝体６
と、前記一方の受信用トランスデューサ保持部２ｂに保
持される一方の受信用トランスデューサ７と、この受信
用トランスデューサ７の位置調整を行うねじ８と、前記
他方の受信用トランスデューサ保持部２ｃに保持される
他方の受信用トランスデューサ９と、この受信用トラン
スデューサ９の位置調整を行うねじ１０とをそなえ、前
記ホルダ２は、受信用トランスデューサ７，９を前記送
信用トランスデューサ５に対し所定の距離に配置すると
共に前記距離の比を変えないように保持するものとなっ
ている構或を有するものである． この第１図に示す探触子１においては、説明を簡単なも
のとするために３つのトランスデューサ５，７．９を直
線上に配置し、そして中央のトランスデューサ５を送信
用とし、両側の２個のトランスデューサ７，９を受信用
とした場合を例にとって示している． このような構或の探触子１において、送信用トランスデ
ューサ５が弾性体４により被測定物１１に圧接され、受
信用トランスデューサ７，９が被測定物１１に当接した
状態において、前記送信用トランスデューサ５が被測定
物１１に超音波を入射すると、入射された超音波ば被測
定物１１中を伝播し、送信用トランスデューサ５からの
距離が等しい２つの受信用トランスデューサ７，９に達
する。このとき、被測定物１１が一様であって内部に欠
陥を有していないならば、この２つの受信用トランスデ
ューサ７，９から得られる信号は等しい．しかし、どち
らかの伝達経路に欠陥がある場合には、必然的にこの信
号は異なったものとなる． 第２図はこのような測定例を示すものである．理解のし
やすいものとするため観念的に説明すると、第２図にお
いて、送信用トランスデューサ５の位置をＸとし、２つ
の受信用トランスデューサ７，９の位置をＸ１＋Ｘ２と
し、その検出信号をｆ　（Ｘ＋　），ｆ　（Ｘ２）とし
、欠陥部１２の位置をｙとするとき、 ｙ＜ｘｌ＜ｘ＜ｘ２，ｘ，＜ｘ＜ｘ２＜ｙのとき、ｆ　
（Ｘ＋　）　＝　ｆ　（Ｘ２　）ｘ１＜ｙ＜ｘ＜ｘ２の
とき、 ｆ　（ＸＩ　）　＜ｆ　（Ｘ２　） Ｘｔ　＜ｘ＜ｙ＜ｘ２のとき、 ｆ　（Ｘ＋　）　＞ｆ　（Ｘ２　） とすることができる． 実用的には、ｚ−ｆ　（ｘｔ）　　ｆ　（Ｘ２）を判定
基準として２の正負を調べることで欠陥の有無を調べる
が、第２図（ｄ）に示すように適当なしきい値を定めて
その上下で判定を下すようにするのがよい。 この判定方法の著しい特徴は、送信用トランスデューサ
５の接触の仕方が異なったり、入射する弾性波の強度が
時間的に異なったりしても、２つの受信用トランスデュ
ーサ７，９からの信号を比較する上では問題にならない
ということにある。従って、入射信号の時間波形，強度
，信号の種類に関係しないというメリットが得られる． 第３図に本実施例における測定のブロック図を示す．発
信機１５により送り込まれた電気信号は、送信用トラン
スデューサ５を駆動し、被測定物１１の検査部に弾性波
を入射する。この弾性波は検査部を伝播した後、受信用
トランスデューサ７，９によって電気信号に変えられ、
受信機１６へ取り込まれる．この際の受信用トランスデ
ューサ７．９からの２つの信号は受信機１６内のデータ
処理ブロー，クで一方を参照信号としてもう一方のデー
タを処理し、この結果にしたがって欠陥部１２の有無を
表示装置１７において表示する． 本発明に係る超音波探傷法では２つの受信用トランスデ
ューサ７，９の接触の良否が相対化されることにより、
信号を直接比較することができるため、受信機１６内の
デー・夕処理ブロノクの内部構戒はアナログ処理系であ
っても構わない．例えば、ＲＭＳメーターのような差動
入力回路で処理できるため、部品点数が少なく信頼性を
向上させたものとすることができるほか、リアルタイム
処理も可能である。さらに、入射信号はどのような波形
でも構わないため、例えば、従来のパルス波形のほか、
帯域制限されたランダムノイズや周波数限定された疑似
ランダム波形を用いることもできる．本測定に用いる弾
性波の周波数範囲は０．１Ｈｚから１０ＭＨｚの範囲で
用いることが望ましい． このような３つのトランスデューサ５，７．９を保持す
るに際して、被測定物１１が平面状をなすものであるな
らば、第４図に示すように、３つのトランスデューサ５
，６．７を平行にしてホルダ２によって保持するだけで
よい．しかし、実際にはホルダ２の工作精度の問題から
３つのトランスデューサ５，７．９を完全に平行に保持
することは困難であり、仮にできたとしても被測定物１
１が完全に平行であるとは限らない。このため、第５図
に示すように、両端のトランスデューサ７．９をホルダ
２によって固定保持し、中央のトランスデューサ５を弾
性体４を介して調整可能にホルダ２によって保持する構
戊とすることが実用的であり、さらには第１図に示した
ように両端のトランスデューサ７，９はねじ８，１０に
よって位置調整可能としておくことも可能であり、この
ようにすることで被測定物１１が平面でない場合にも平
面の場合と同様に精度良く測定することができる． 第６図はさらに他の実施例を示すもので、この実施例で
は被測定物を透過法で測定する場合を示し、この場合に
も弾性波を送信する送信用トランスデューサ５と前記弾
性波を受信する２つの受信用トランスデューサ７．９を
そなえ、検出側の２つの受信用トランスデューサ７，９
をホルダ２に固定保持し，入射側の送信用トランスデュ
ーサ５を弾性体およびねじ１２を介して調整可能にホル
ダ２に保持する構或としたものである．本発明において
は、３つのトランスデューサ５，７．９と被測定物１１
との接触方法を限定するものではなく、従来の水，グリ
ス等を用いた湿式接触や、ゴムタイヤなどを用いた乾式
接触においても本発明の効果を享受することができる． 第７図には別のデータ処理ブロックを示す．これは表示
装置１７を探触子１のホルダ２に取り付けた場合を示す
ものであって、あらかじめ決定したしきい値に対して測
定部の結果をリアルタイムにＯＫかＮＧかでトランスデ
ューサホルダ２に表示することができるように、ホルダ
２に表示装置１７を設けた場合を示すもので、測定者が
トランスデューサ５，７．９の保持に専念できるという
メリットがある． また，第８図には別のデータ処理ブロックを示す。これ
は複数のトランスデューサＴに対し同様の処理を行うた
めのデータ処理方式を示すものであって、信号の遅延回
路、アナログマルチプレクサ２１、データ処理ブロック
２２、マイクロプロセッサ２３等を用いた場合の構戊を
示すものである。このように複雑な回路とする理由は、
トランスデューサ群を移動させることなく信号の発信源
を次々に変更し、その発信源に近い最適な３つないしは
それ以上のトランスデューサ対でデータを解析すること
ができるようにするためである．本データ処理方式では
、機械的なスキャニングによるデータの不安定さを排除
できるというメリットがある。むろんこの測定例で用い
るトランスデューサＴは入出力が可能でなければならな
いが、これらのうちの１つ以上の何個かを送信専用、残
りの２つ以上を受信専用とすればそれぞれに最適な特性
のトランスデューサＴを用いることができる。 また、第９図にはさらに別のデータ処理ブロックを示す
．これは３つのトランスデューサ５，７，９を用いた場
合の処理方式を示すものであってしかも一方もしくは両
方に信号増幅器によるオフセットを掛けられるようにし
た遅延回路２４を設けた場合を示すものである。このよ
うな測定方式のメリットは、１つの入射側送信用トラン
スデューサ５に対し２つの検出側受信用トランスデュー
サ７，９を等距離を保てない場合、あるいは測定者が自
由に調整できるようにした場合にあり、基準試験片の上
でオフセット値を決定すればよい。このような測定回路
はトランスデュー・ザ５，７．９の性能上のばらつきや
ホルダ２の加工精度を調節するために有用であり、他の
測定回路でも用いることができる， このように本発明に係る超音波深傷法は、測定者に熟練
を要しないという利点がある。また、パルス波で測定す
る必要がなくなるために発信機１５が瞬間的な大出力を
発生する必要がなくなり、測定回路が簡単になる．しか
も、パルス法のように短い周期で測定を繰り返す方法と
は異なり、連続波では安定した信号を出力することがで
きる。また、トランスデューサ５，７．９の役割を送信
専用と受信専用とに区別することによって、測定回路に
信号の切り替えなどが必要なくなる。さらに，実時間測
定が可能であるため、測定時間の短縮等に利点がある． このような探触子１において、上述した実施例に示した
ように、各トランスデューサ５，７．９を被測定物１１
に直接接触させる構戊とすることもあるが、トランスデ
ューサ５と被測定物（１１）との間に高分子材料を設け
た構或の探触子１を用いることも可能である． すなわち、前述したように、超音波に代表される弾性波
を用いた非破壊検査方法では、弾性波の送受信用にトラ
ンスデューサ（５　，　７　．　９）を用いるが、これ
らのトランスデューサ（５　，　７　．９）と被測定物
（１１）の接触部との間には、水，グリス等の液体を用
いるのが一般的で、特に水の場合には被測定物（１１）
を水槽中に沈めて測定することさえある。しかし、これ
らの場合には被測定物（１１）が液体によって汚されて
しまうという問題点があった。 そこで、この問題点を最小もしくは皆無にするため、固
体でしかも比較的弾性率の小さい高分子材料を、トラン
スデューサ５と被測定物（１１）との間に挿入して弾性
波を伝達する方法が考えられる． しかしながら、この場合には以下に示す問題が発生しや
すい． 第一にトランスデューサ５と高分子材料との間での接触
が不十分なものになりやすく、その結果として弾性波の
伝達が不安定になること、第二に高分子材料は圧縮永久
歪が残りやすく、被測定物（１１）との接触面が塑性変
形して接触子としての機能を失いやすこと、 である。 これらの問題点を解決するためには前記接触子を交換可
能に設計することが最も有効と考えられる。 第１０図に示した探触子１は高子材料からなる接触子を
交換可能とした場合の構戒を例示するものである。この
第１０図に示した探触子１は、ホルタ２と、このホルタ
２に設けた絶縁体３と、この絶縁体３に一端が当接する
弾性体４と、前記弾性体４の他端が当接するトランスデ
ューサ５と、前記トランスデューサ５と被測定物（１１
）との間において交換可能に設けられた接触子１３と、
前記接触子１３とホルダ２との間に介在された緩衝体６
とをそなえた構成をなすものであり、トランスデューサ
５と接触子１３との間には通常グリスなどが接触剤とし
て使われる。 このような構戊の接触子１３を設けた探触子１を用いる
場合の問題は、接触子１３とトランスデューサ５との間
での押し付け圧力が小さいと、接触子１３の移動や伝達
の不十分さによって、得られる結果にばらつきが多いと
いう点であり、逆に押し付け圧力が大きすぎてもばらつ
きがな〈ならないという点であった。 このような不安定さは測定に熟練を要することになり、
長年の訓練が必要であるという問題になって現われる。 そこで、本研究者らはこの問題について検討した結果、
トランスデューサ５と接触子１３との間で接触子１３の
変形によって接触が不十分になり、その結果伝達特性が
不安定になることを見い出した。 すなわち、第ｌＯ図に示した探触了１において、弾性波
はトランスデューサ５の断面部から接触子１３に伝わる
ため、接触子１３の断面はトランスデューサ５よりも小
さくはできない。このためにホルダ２はその内側の開口
部がトランスデューサ５の断面より小さくできない。 従って、接触子１３は応力歪によって当該接触子１３の
フランジ部１３ａを支点にして第１１図に示すようにそ
の中央部がへこむように変形しこのためトランスデュー
サ５と接触子１３との接触部にすき間１４が生じる。こ
の接触部のすき間１４には減圧による空孔等が発生する
と考えられ、これによって弾性波の伝達が不十分となり
、測定結果がばらつくというように推定された。 この問題を避けるためにホルダ２との接触部がほとんど
変形しないようにフランジ部１３ａを厚くすると、高分
子材料は一般に金属に比べて超音波の吸収が大きいため
に伝達効率が低下するという問題が発生する。このため
、あまり長い形状の接触子１３を用いにくいという制約
がある。 そこで、交換可能な接触子１３と、前記接触子１３を介
して弾性波を送信する少なくとも１つの送信用トランス
デューサ５と、前記接触子１３を介ｌ７て前記弾性波を
受信する少なくとも２つの受信用トランスデューサ７．
９とをそなえ、前記受信用トランスデューサ７，９を前
記送信用トランスデューサ５と所定の距離に配置しかつ
前記距離の比を変えないように保持するホルダ２をそな
えた探触子１を用いて超音波探傷を行うに際して、前記
接触子１３とホルダ２とがテーパ状に接する構造とした
探触子１を用いるようになすことも必要に応じて望まし
いことがわかった。 第１２図はこのような必要に応じて望ましい構造を有す
る探触子１を例示するものであって、ホルダ２は緩衝体
６を介して接触子１３とテーパ状に接触するものとなっ
ている．すなわち、ホルダ２にはテーパ状部２ｂを設け
ると共に接触子１３にもテーバ状部１３ｂを設け、これ
らテーパ状部２ｂ，１３ｂの間に緩衝体６を介在させた
構造としている． このような構造をなす少なくとも３つのトランスデュー
サ５　（７　．　９）を用いて超音波探傷を行うに際し
、弾性体４によりトランスデューサ５は接触子１３に押
し付けられ、その接触子１３はホルダ２に押し付けられ
るが、その反力によってトランスデューサ５との接触部
が第ｌ３図に示すごとく盛り上がるように変形するもの
と考えられる． このような構或では弾性波が良好に伝達されており、し
かも弾性体４の圧力を大きくしてもその傾向は変わらな
いことが認められた．このような結果は次の様に２つの
効果がもたらされると考えられる。ひとつは、接触剤が
トランスデューサ５と接触了１３との接触面の外縁から
引き込まれ、接触剤が良好に機能する，あるいはもう一
つの現象として、接触子１３自体の変形が阻止されてい
ることも考えられる．このどちらが正しいのかは今のと
ころ判然としないが，少なくとも本実施例の効果は明ら
かに上記接触面の大きさとテーバ状部２ｂ，１３ｂの角
度に依存している。 テーバ状部２ｂ，１３ｂの角度はＯ度を超え９０度未満
であれば原理的には上述した効果を利用できるが現実的
には３０度から６０度が望ましい。また本測定に用いる
弾性波の周波数範囲は０．１．ＨＺから１０ＭＨｚの範
囲で用いるのがより望ましい。 第１４図は他の実施例を示すものであって、この場合の
接触子１３はホルダ２の内部に第１２図の場合と同様に
保持され、更に全体が外部ホルダ３１の内部に配設され
て、圧力調整ねじ３２、圧カセンサ３３および弾性体３
４を介して被測定物（１１）に押し付けられ、ホルダ２
と外部ホルダ３１との間および外部ホルダ３１と被測定
物（１１）との間にそれぞれ緩衝体３５　．３６を介在
させた構造となっており、圧カセンサ（一般にはロード
セル等が用いられる）３３により接触子１３と被測定物
（１１）との間にかかる接触面圧をモニターできるよう
にしたものである。 このような構造をもつ探触子１はロボットを用いた自動
測定に適しており、接触子１３と被測定物（１１）との
間にかかる接触面圧を一定に保つことによって良好な再
現性が得られる．この構成の探触子１ではトランスデュ
ーサ５（７．９）と接触子１３、および接触子１３と被
測定物（１１）との接触圧力が別々に定められ、測定の
自由度を増すことができる。むろん外部ホルダ３１の内
側にモーターなどのアクチュエーターを組み込んで人が
操作する場合にも接触面圧を一定にするような構或にす
ることもできる。 第１５図には別の構戒を有する探触子１を示す。この場
合の乾式接触子１３を有する探触子１は、緩衝体６と接
するテーパ状部２ｂを有する分割ホルダ２Ｃを別体で形
威してホルダ２の下端部分にねじ込み固定し、分割ホル
ダ２Ｃに設けたテーパ状部２ｂと接触子１３に設けたテ
ーパ状部１３ｂとの間に緩衝体６を介在させると共に、
前記ホルダ２の下端に設けたテーパ状部２ｄと接触子１
３に設けた上すぼまりのテーパ状部１３ｄとを接触させ
た構造をなすものである。 このような構造の探触子１において、接触子１３はその
上下に設けたテーパ状部１３ｄ．１３ｂにおいてホルダ
２．２０に設けたテーパ状部２ｄ，２ｂによって両側か
ら締め付けられるようになっているためたわみの発生が
少なく、しかもトランスデューサ５，（７．９）と接触
子１３との間にかかる圧力がホルダ２の押し付け圧力に
影響されにくいという特長がある． このように、第１２図ないし第１５図に示した構造の探
触子１では、接触子１３が交換可能なものとなっている
ため、第ｌ６図に示すような例えば減圧吸着式の探触子
１として用いることも可能である。すなわち、第１６図
に示す探触子１は、第１２図に示した探触子１の下端側
に吸盤３６を取り付け、この吸盤３６を被測定物（１１
）に押し付けた状態において吸盤３６の内部を吸排気管
３７および吸排気ポンプ３８を介して吸排気可能とした
構造を有するものである． このような探触子１はそれらのトランスデューサＴの群
をなす形態として第１７図に示す様にフレキシブルアー
ム４１により結合してトランスデューサアレイによるバ
ッチ式の測定システムとする場合に有効である。 このように、乾式接触子１３とホルダ２，２Ｃとの接触
面をそれぞれテーパ状とすることにより、超音波の伝達
を安定化させることができる。 また、この場合に言う弾性体４はトランスデューサ５　
（７　．　９）を固定するために圧力を発生させる機能
があれば何でもよく、例えばゴム，ばね，ねじ等が用い
られる。そして、特にねじの場合には第１２図の緩衝体
６が弾性体としての機能を持つようになすことが望まし
い．

【発明の効果】

本発明に係る超音波深傷法は、弾性波を送信する少なく
とも１つの送信用トランスデューサと、前記弾性波を受
信する少なくとも２つの受信用トランスデューサとをそ
なえ、前記受信用トランスデューサを前記送信用トラン
スデューサと所定の距離に配置しかつ前記距離の比を変
えないように保持するホルダをそなえた探触子を用いる
構或としたから、少な〈とも１つの送信用トランスデュ
ーサより送信した弾性波を少なくとも２つの受信用トラ
ンスデューサにより受信してこれらの受信用トランスデ
ューサでの受信信号を相互に比較して検査部の良否を判
定することが可能であるので、被測定物における欠陥を
相対的に評価することが可能となり、トランスデューサ
の取り付けに熟練を必要とせずして欠陥の発生を精度よ
く検出することが可能になるという著しく優れた効果が
もたらされる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明に係る超音波探傷法の実施に使用する探
触子の一構或を例示する断面説明図、第２図（ａ）は送
信用トランスデューサおよび受信用トランスデューサな
らびに欠陥部の位置関係を示す説明図、第２図（ｂ）（
ｃ）は２つの受信用トランスデューサの位置Ｘ　Ｉ　　
＋　Ｘ２における検出信号ｆ　（Ｘ＋　），ｆ　（Ｘ２
）を示す説明図、第２図（ｄ）は判定基準の要領を示す
説明図、第３図は欠陥部の検出に用いるブロック図を例
示する説明図、第４図は３つのトランスデューサをホル
ダによって保持する構戒を例示する断面説明図、第５図
は３つのトランスデューサをホルダによって保持する他
の構成を例示する断面説明図、第６１刀（ａ）（ｂ）は
透過法で測定する場合の探触子の各々水平断面説明図お
よび垂直断面説明図、第７図は別のデータ処理ブロック
を例示する説明図、第８図はさらに別のデータ処理プロ
・ツクを示す説明図、第９図はさらに別のデータ処理ブ
ロックを例示する説明図、第１０図は接触子を用いた探
触子の構戊を例示する断面説明図、第１１図は第１０図
の探触子における変形態様を例示する断面説明図、第１
２図は接触子を用いた探触子の他の構或を例示する断面
説明図、第１３図は第１２図の探触子における変形態様
を例示する断面説明図、第１４図，第１５図および第１
６図は接触子を用いた探触子のさらに他の構或を例示す
る各々断面説明図、第１７図は探触子をトランスデュー
サ群として用いる態様を例示する説明図、第１８図は従
来の探触子の構戒を例示する断面説明図である． １・・・探触子、２・・・ホルダ、５・・・送信用トラ
ンス第４図

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）弾性波を送信する少なくとも１つの送信用トラン
   スデューサと、前記弾性波を受信する少なくとも２つの
   受信用トランスデューサとをそなえ、前記受信用トラン
   スデューサを前記送信用トランスデューサと所定の距離
   に配置しかつ前記距離の比を変えないように保持するホ
   ルダをそなえた探触子を用いることを特徴とする超音波
   探傷法。