JPH03234022A - 洗浄装置 - Google Patents
洗浄装置Info
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- JPH03234022A JPH03234022A JP2030375A JP3037590A JPH03234022A JP H03234022 A JPH03234022 A JP H03234022A JP 2030375 A JP2030375 A JP 2030375A JP 3037590 A JP3037590 A JP 3037590A JP H03234022 A JPH03234022 A JP H03234022A
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- 238000004140 cleaning Methods 0.000 title claims abstract description 82
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims abstract description 52
- 239000000356 contaminant Substances 0.000 claims abstract description 21
- 230000002265 prevention Effects 0.000 claims description 9
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims description 6
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 4
- 238000005507 spraying Methods 0.000 claims description 3
- 239000012159 carrier gas Substances 0.000 abstract description 10
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 8
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 8
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 239000003507 refrigerant Substances 0.000 description 5
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 3
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 3
- 239000011810 insulating material Substances 0.000 description 2
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000005096 rolling process Methods 0.000 description 2
- 238000007790 scraping Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229910021642 ultra pure water Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012498 ultrapure water Substances 0.000 description 2
- 238000009423 ventilation Methods 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 230000008016 vaporization Effects 0.000 description 1
- 238000005406 washing Methods 0.000 description 1
- 238000004804 winding Methods 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
- H01L21/67005—Apparatus not specifically provided for elsewhere
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- H01L21/67017—Apparatus for fluid treatment
- H01L21/67028—Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
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- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B24—GRINDING; POLISHING
- B24C—ABRASIVE OR RELATED BLASTING WITH PARTICULATE MATERIAL
- B24C3/00—Abrasive blasting machines or devices; Plants
- B24C3/32—Abrasive blasting machines or devices; Plants designed for abrasive blasting of particular work, e.g. the internal surfaces of cylinder blocks
- B24C3/322—Abrasive blasting machines or devices; Plants designed for abrasive blasting of particular work, e.g. the internal surfaces of cylinder blocks for electrical components
-
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- B24C9/00—Appurtenances of abrasive blasting machines or devices, e.g. working chambers, arrangements for handling used abrasive material
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、半導体ウェハの洗浄、あるいはそれに準す
る程度の、表面付着ダストを嫌うガラス基板やディスク
基板等の表面を洗浄する洗浄装置に関するものである。
る程度の、表面付着ダストを嫌うガラス基板やディスク
基板等の表面を洗浄する洗浄装置に関するものである。
−
［従来の技術］
このような洗浄装置として、従来より第５図に示すよう
な装置が知られている。この第５図の洗浄装置は、洗浄
槽１と、その洗浄槽１内で半導体ウェハ等の被洗浄物２
を支持する支持手段３と、氷粒子等の微細な凍結粒子５
を生成、貯蔵する凍結粒子供給手段４、洗浄槽１内に配
！され、凍結粒子供給手段４から微細な凍結粒子５を供
給され、支持手段３に支持された被洗浄物２に向けて該
凍結粒子５を噴射する噴射ノズル等の噴射手段６と、一
端を洗浄槽１に接続され、噴射手段６から噴射されて被
洗浄物２の表面を洗浄した後の凍結粒子や被洗浄物２か
ら剥離した汚染物を洗浄槽１外に排出する排気ダクト７
と、排気ダクト７の途中に設けられ、洗浄槽１内の雰囲
気を強制的に排気ダクト７に吸引して外部に排出するた
めの排気ブロワ−８とを備えている。支持手段３は被洗
浄物２を固定、支持する支持部／３ａとその支持部３ａ
を回転させるためのモータ３ｂとを有する。凍結粒子供
給手段４は、図示しない冷媒供給源から冷媒供給管４ｂ
を介して液体窒素等の冷媒を供給され、断熱材４Ｃによ
り周囲を囲まれた凍結粒子生成容器４ａと、超純水等の
被凍結液を供給する供給源（図示せず）に接続され、冷
媒により冷却されている凍結粒子生成容器４ａ内に被凍
結液を噴霧して凍結粒子５を生成させるスプレーノズル
４ｄとを有する。
な装置が知られている。この第５図の洗浄装置は、洗浄
槽１と、その洗浄槽１内で半導体ウェハ等の被洗浄物２
を支持する支持手段３と、氷粒子等の微細な凍結粒子５
を生成、貯蔵する凍結粒子供給手段４、洗浄槽１内に配
！され、凍結粒子供給手段４から微細な凍結粒子５を供
給され、支持手段３に支持された被洗浄物２に向けて該
凍結粒子５を噴射する噴射ノズル等の噴射手段６と、一
端を洗浄槽１に接続され、噴射手段６から噴射されて被
洗浄物２の表面を洗浄した後の凍結粒子や被洗浄物２か
ら剥離した汚染物を洗浄槽１外に排出する排気ダクト７
と、排気ダクト７の途中に設けられ、洗浄槽１内の雰囲
気を強制的に排気ダクト７に吸引して外部に排出するた
めの排気ブロワ−８とを備えている。支持手段３は被洗
浄物２を固定、支持する支持部／３ａとその支持部３ａ
を回転させるためのモータ３ｂとを有する。凍結粒子供
給手段４は、図示しない冷媒供給源から冷媒供給管４ｂ
を介して液体窒素等の冷媒を供給され、断熱材４Ｃによ
り周囲を囲まれた凍結粒子生成容器４ａと、超純水等の
被凍結液を供給する供給源（図示せず）に接続され、冷
媒により冷却されている凍結粒子生成容器４ａ内に被凍
結液を噴霧して凍結粒子５を生成させるスプレーノズル
４ｄとを有する。
次にこの従来の洗浄装置の作用について説明する。まず
、周囲を断熱材４Ｃにより囲まれた凍結粒子生成容器４
ａ内で液体窒素等の冷媒を気化させることにより、その
内部が冷却される。このようにして凍結粒子生成容器４
ａ内を十分に冷却した後、スプレーノズル４ｄから超純
水等の被凍結液を微噴霧すると微細な凍結粒子５（粒子
径２０μｌ〜５ｉａ）が生成される。このようにして生
成された凍結粒子５は、凍結粒子生成容器４内に逆円錐
状に張設された収集ネット４ｅに集められ、そこから気
体の噴流によるエジェクタ一方式により噴射手段６に送
られ、搬送ガスとともに噴射手段６から支持手段３の支
持部に固着された半導体ウェハー等の被洗浄物２の表面
に向けて噴射される。このようにして噴射手段６から噴
射された微細な凍結粒子５は、被洗浄物２の表面に衝突
してそこに付着している微小なダストやレジスト残滓等
の汚染物をこすり取って奇麗に洗浄する。ところが、こ
の際、微細凍結粒子が搬送ガスの噴流によって噴射され
るために、被洗浄物２表面に衝突して反射された搬送ガ
スの噴流による巻き上りや乱流が生じやすく、従って、
被洗浄物２に衝突した後の汚染物を含む微細凍結粒子５
やそれによりこすり取られた汚染物が搬送ガスの巻き上
がりや乱流により再び被洗浄物２に付着したり、あるい
は洗浄槽１の内面に付着したりし易い。そこで、排気ブ
ロワ−８により洗浄槽１内の雰囲気を排気ダクト７を介
して強制的に外部に排気して、このような搬送ガスの巻
き上がりをできるだけ防止している。
、周囲を断熱材４Ｃにより囲まれた凍結粒子生成容器４
ａ内で液体窒素等の冷媒を気化させることにより、その
内部が冷却される。このようにして凍結粒子生成容器４
ａ内を十分に冷却した後、スプレーノズル４ｄから超純
水等の被凍結液を微噴霧すると微細な凍結粒子５（粒子
径２０μｌ〜５ｉａ）が生成される。このようにして生
成された凍結粒子５は、凍結粒子生成容器４内に逆円錐
状に張設された収集ネット４ｅに集められ、そこから気
体の噴流によるエジェクタ一方式により噴射手段６に送
られ、搬送ガスとともに噴射手段６から支持手段３の支
持部に固着された半導体ウェハー等の被洗浄物２の表面
に向けて噴射される。このようにして噴射手段６から噴
射された微細な凍結粒子５は、被洗浄物２の表面に衝突
してそこに付着している微小なダストやレジスト残滓等
の汚染物をこすり取って奇麗に洗浄する。ところが、こ
の際、微細凍結粒子が搬送ガスの噴流によって噴射され
るために、被洗浄物２表面に衝突して反射された搬送ガ
スの噴流による巻き上りや乱流が生じやすく、従って、
被洗浄物２に衝突した後の汚染物を含む微細凍結粒子５
やそれによりこすり取られた汚染物が搬送ガスの巻き上
がりや乱流により再び被洗浄物２に付着したり、あるい
は洗浄槽１の内面に付着したりし易い。そこで、排気ブ
ロワ−８により洗浄槽１内の雰囲気を排気ダクト７を介
して強制的に外部に排気して、このような搬送ガスの巻
き上がりをできるだけ防止している。
［発明が解決しようとする課題］
ところが、上述した従来の洗浄装置では、排気ブロワ−
８による強制排気にも拘わらず、洗浄槽１内の排気を十
分に行うことができず、すなわち排気ダクト７の洗浄槽
１への開口部に近い部分は比較的良く排気されるものの
、該開口部から離れた洗浄槽１の周壁部に近い部分では
滞留が生じるため、噴射手段６から噴射された微細凍結
粒子や搬送ガスを排気ダクト７内に十分に吸引すること
ができず、従って噴流の巻き上がりや乱流を十分に抑制
することはできなかった。このため、洗浄後の汚染物が
付着した凍結粒子５や被洗浄物２から剥離した汚染物が
被洗浄物２に再び付着したり、洗浄槽１の内面に付着す
るのを十分に防止することができなかった。
８による強制排気にも拘わらず、洗浄槽１内の排気を十
分に行うことができず、すなわち排気ダクト７の洗浄槽
１への開口部に近い部分は比較的良く排気されるものの
、該開口部から離れた洗浄槽１の周壁部に近い部分では
滞留が生じるため、噴射手段６から噴射された微細凍結
粒子や搬送ガスを排気ダクト７内に十分に吸引すること
ができず、従って噴流の巻き上がりや乱流を十分に抑制
することはできなかった。このため、洗浄後の汚染物が
付着した凍結粒子５や被洗浄物２から剥離した汚染物が
被洗浄物２に再び付着したり、洗浄槽１の内面に付着す
るのを十分に防止することができなかった。
また、従来の洗浄装置の構成では、噴射手段６から噴射
された搬送ガスと凍結粒子との噴流を総て排気ダクト７
に吸引してそれらの乱流や巻き上がりを防止しようとす
れば、大排気風量の排気ブロワ−８が必要になり装置が
大型化してコストアップを招き、一方排気風量を小さく
すると、上記不具合を解消できなかった。
された搬送ガスと凍結粒子との噴流を総て排気ダクト７
に吸引してそれらの乱流や巻き上がりを防止しようとす
れば、大排気風量の排気ブロワ−８が必要になり装置が
大型化してコストアップを招き、一方排気風量を小さく
すると、上記不具合を解消できなかった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、排気ブロワ−の排気風量や洗浄槽の容量を大
きくせずに凍結粒子噴射時の噴流の巻き上がりや乱流を
効果的に防止することができ、従ってダスト等の汚染物
が被洗浄物や洗浄槽内面に再付着することを実質的に防
止しうる、小型で廉価な洗浄装置を提供することを目的
とするものである。
たもので、排気ブロワ−の排気風量や洗浄槽の容量を大
きくせずに凍結粒子噴射時の噴流の巻き上がりや乱流を
効果的に防止することができ、従ってダスト等の汚染物
が被洗浄物や洗浄槽内面に再付着することを実質的に防
止しうる、小型で廉価な洗浄装置を提供することを目的
とするものである。
し課題を解決するための手段］
この発明に係る洗浄装置は、洗浄槽内の支持手段の支持
部の近傍の近傍部雰囲気を排気ダクトに導く第１排気手
段と、洗浄槽内の支持手段の支持部の周辺を取り巻く周
辺部雰囲気を排気ダクトに導く第２排気手段とを設けた
ものである。
部の近傍の近傍部雰囲気を排気ダクトに導く第１排気手
段と、洗浄槽内の支持手段の支持部の周辺を取り巻く周
辺部雰囲気を排気ダクトに導く第２排気手段とを設けた
ものである。
［作用］
この発明における洗浄装置は、凍結粒子を噴射させて被
洗浄物を洗浄する際に、洗浄後の凍結粒子や被洗浄物か
ら剥離した汚染物を含む噴流のうち支持手段の支持部近
傍の雰囲気を第１排気手段により速やかに排気ダクトに
導くとともに、該噴流のうち支持手段の支持部の周辺の
雰囲気を第２排気手段により除々に排気ダクトに導くこ
とにより、噴流による巻き上げや乱流の発生を効果的に
抑制して、−皮剥離した汚染物が被洗浄物や洗浄槽内面
へ再付着するのを防止する。
洗浄物を洗浄する際に、洗浄後の凍結粒子や被洗浄物か
ら剥離した汚染物を含む噴流のうち支持手段の支持部近
傍の雰囲気を第１排気手段により速やかに排気ダクトに
導くとともに、該噴流のうち支持手段の支持部の周辺の
雰囲気を第２排気手段により除々に排気ダクトに導くこ
とにより、噴流による巻き上げや乱流の発生を効果的に
抑制して、−皮剥離した汚染物が被洗浄物や洗浄槽内面
へ再付着するのを防止する。
［発明の実施例］
以下、この発明の実施例を図面を参照して説明する。
まず、第１図にはこの発明の第１実施例が示されている
。第１図において、符号１〜８は前述した第５図の従来
の洗浄装置と同じ部分を示す。この実施例は、洗浄槽１
内の支持手段３の支持＊３ａの近傍の近傍部雰囲気を排
気ダクト７に導く第１排気手段と、洗浄槽１内の支持手
段３の支持部３ａの周辺を取り巻く周辺部雰囲気を排気
ダクト７に導く第２排気手段とを備えている。第１排気
手段は、一端が、支持手段３の支持部３ａの近くの直下
において洗浄槽１内に開口するとともに、他端が、排気
ダクト７内に開口する第１排気案内管１１からなる。ま
た、第２排気手段は、第１排気案内管１１を収り囲むよ
うに配置されるとともに、一端が洗浄槽１の下端縁に、
他端が排気ダクト７にそれぞれ一体的に接続された第２
排気案内管１２からなる。第２排気案内管１２は漏斗状
に構成され、その開口面積は洗浄槽１に接続される部分
の方が排気ダクト７に接続される部分よりも大きくなっ
ており、それら画部分の間はテーパー状に形成されてい
る。第１図から明らかなように、第１排気案内管１１は
第２排気案内管１２に挿入されたようになっており、そ
の上端部付近において環状の流量調節板１３により洗浄
槽１の下部内周面に支持されるとともに、上端部付近に
おいて複数の固定部材１４により排気ダクト７の内面に
固定、支持されている。流量調節板１３は多数の通孔を
穿設されており、これらの通孔を介して流量調節板１３
の上方の洗浄槽１内部とその下方の第２排気案内管１２
内部とが連通されている。この流量調節板１３の通孔の
開口面積を変化させることにより、流量調節板１３を通
過する凍結粒子５等を含む流体の流量を調節できるよう
になっており、流量調節板１３の開口率を、通孔の開口
面積が第１排気案内管１１の開口面積とほぼ等しくなる
ように調節して、第１排気案内管１１の通気量と流量調
節板１３の通気量が等しくなるようにするのが好ましい
。また、この流量調節板１３は、その通孔を上方から下
方へ（すなわち洗浄槽１側から第２排気案内管１２へ）
−度通過した凍結粒子５やダスト等の汚染物の逆流を抑
止するようにも作用する。
。第１図において、符号１〜８は前述した第５図の従来
の洗浄装置と同じ部分を示す。この実施例は、洗浄槽１
内の支持手段３の支持＊３ａの近傍の近傍部雰囲気を排
気ダクト７に導く第１排気手段と、洗浄槽１内の支持手
段３の支持部３ａの周辺を取り巻く周辺部雰囲気を排気
ダクト７に導く第２排気手段とを備えている。第１排気
手段は、一端が、支持手段３の支持部３ａの近くの直下
において洗浄槽１内に開口するとともに、他端が、排気
ダクト７内に開口する第１排気案内管１１からなる。ま
た、第２排気手段は、第１排気案内管１１を収り囲むよ
うに配置されるとともに、一端が洗浄槽１の下端縁に、
他端が排気ダクト７にそれぞれ一体的に接続された第２
排気案内管１２からなる。第２排気案内管１２は漏斗状
に構成され、その開口面積は洗浄槽１に接続される部分
の方が排気ダクト７に接続される部分よりも大きくなっ
ており、それら画部分の間はテーパー状に形成されてい
る。第１図から明らかなように、第１排気案内管１１は
第２排気案内管１２に挿入されたようになっており、そ
の上端部付近において環状の流量調節板１３により洗浄
槽１の下部内周面に支持されるとともに、上端部付近に
おいて複数の固定部材１４により排気ダクト７の内面に
固定、支持されている。流量調節板１３は多数の通孔を
穿設されており、これらの通孔を介して流量調節板１３
の上方の洗浄槽１内部とその下方の第２排気案内管１２
内部とが連通されている。この流量調節板１３の通孔の
開口面積を変化させることにより、流量調節板１３を通
過する凍結粒子５等を含む流体の流量を調節できるよう
になっており、流量調節板１３の開口率を、通孔の開口
面積が第１排気案内管１１の開口面積とほぼ等しくなる
ように調節して、第１排気案内管１１の通気量と流量調
節板１３の通気量が等しくなるようにするのが好ましい
。また、この流量調節板１３は、その通孔を上方から下
方へ（すなわち洗浄槽１側から第２排気案内管１２へ）
−度通過した凍結粒子５やダスト等の汚染物の逆流を抑
止するようにも作用する。
この実施例では、噴射手段６から噴射された凍結粒子５
を含んだ搬送ガスの噴流が支持手段３の支持部３ａに固
定された半導体ウェハ等の被洗浄物２の表面に向けて噴
射されると、凍結粒子５が被洗浄物２の表面に衝突して
そこに付着しているダスト等の汚染物をこすり取って該
表面を奇麗にクリーニングする。被洗浄物２に衝突して
跳ね返された凍結粒子５や被洗浄物２表面から剥離され
た汚染物を含んだ噴流は、排気ブロワ−８の作動により
支持部３ａの直下に配置された第１排気案内管１１の上
端に吸い込まれて、その内部を通って排気ダクト７内に
流入して外部に排出される。
を含んだ搬送ガスの噴流が支持手段３の支持部３ａに固
定された半導体ウェハ等の被洗浄物２の表面に向けて噴
射されると、凍結粒子５が被洗浄物２の表面に衝突して
そこに付着しているダスト等の汚染物をこすり取って該
表面を奇麗にクリーニングする。被洗浄物２に衝突して
跳ね返された凍結粒子５や被洗浄物２表面から剥離され
た汚染物を含んだ噴流は、排気ブロワ−８の作動により
支持部３ａの直下に配置された第１排気案内管１１の上
端に吸い込まれて、その内部を通って排気ダクト７内に
流入して外部に排出される。
この際、第１排気案内管１１の上端は、支持部３ａの近
傍でその直下に配置されているため、被洗浄物２の表面
に衝突して破砕された凍結粒子５の破砕片の大半は剥離
された汚染物とともに被洗浄物２表面を滑るように進ん
で速やかに第１排気案内管１１の上端に吸い込まれる。
傍でその直下に配置されているため、被洗浄物２の表面
に衝突して破砕された凍結粒子５の破砕片の大半は剥離
された汚染物とともに被洗浄物２表面を滑るように進ん
で速やかに第１排気案内管１１の上端に吸い込まれる。
また、第１排気案内管１１に吸い込まれずにその周囲に
飛散した凍結粒子５の破砕片は、該第１排気案内管１１
の上端の周囲に設けた流量調節板１３の通孔を介して第
２排気案内管１２に流入し、そこから排気ダクト７を介
して外部に排出される。
飛散した凍結粒子５の破砕片は、該第１排気案内管１１
の上端の周囲に設けた流量調節板１３の通孔を介して第
２排気案内管１２に流入し、そこから排気ダクト７を介
して外部に排出される。
この際、−例として、テーパ状の第２排気案内管１２の
下端部内周と第１排気案内管１１の外周との間の環状空
間の開口面積を第１排気案内管１１の開口面積の１０分
の１程度になるようにしておくと、被洗浄物２の近傍部
の雰囲気を効率良く速やかに排出できるとともに、その
周辺部の雰囲気を徐々に緩やかに排出できるので、被洗
浄物２の周囲に噴流の巻き上がりや乱流を生じるような
ことはない。
下端部内周と第１排気案内管１１の外周との間の環状空
間の開口面積を第１排気案内管１１の開口面積の１０分
の１程度になるようにしておくと、被洗浄物２の近傍部
の雰囲気を効率良く速やかに排出できるとともに、その
周辺部の雰囲気を徐々に緩やかに排出できるので、被洗
浄物２の周囲に噴流の巻き上がりや乱流を生じるような
ことはない。
第２図はこの発明の第２実施例を示している。
この実施例では、第１排気手段が排気ダクト７と同径に
形成された第１排気案内管１１１よりなり、その上端が
支持手段３の支持部３ａの近傍で直下に配Ｉされ、下端
が排気ダクト７に一体的に接続されている。また、第２
排気手段は、一端が洗浄槽１内の第１排気案内管１１１
を取り囲む部分に、すなわち第１排気案内管１１１の周
囲の洗浄槽１底部に、開口するとともに、他端が排気ダ
クト７に接続された複数の第２排気案内管１１２からな
る。この場合、第２排気案内管１１２は第１排気案内管
１１１の周囲に均等に配置するのが好ましく、また第２
排気案内管１１２の各々の排気流量が略等しくなるよう
にするのが好ましく、このため、図示していないが、管
長を等しくするとか、管長が異なる場合には多管の内径
を変えるとか、あるいは多管の途中に流量調節弁を設け
るのが好ましい、このような構成により、洗浄槽１内の
第１排気案内管１１１の周囲の雰囲気を、洗浄槽１底部
に接続した複数の第２排気案内管１１２により効率良く
均等に排気することができる。
形成された第１排気案内管１１１よりなり、その上端が
支持手段３の支持部３ａの近傍で直下に配Ｉされ、下端
が排気ダクト７に一体的に接続されている。また、第２
排気手段は、一端が洗浄槽１内の第１排気案内管１１１
を取り囲む部分に、すなわち第１排気案内管１１１の周
囲の洗浄槽１底部に、開口するとともに、他端が排気ダ
クト７に接続された複数の第２排気案内管１１２からな
る。この場合、第２排気案内管１１２は第１排気案内管
１１１の周囲に均等に配置するのが好ましく、また第２
排気案内管１１２の各々の排気流量が略等しくなるよう
にするのが好ましく、このため、図示していないが、管
長を等しくするとか、管長が異なる場合には多管の内径
を変えるとか、あるいは多管の途中に流量調節弁を設け
るのが好ましい、このような構成により、洗浄槽１内の
第１排気案内管１１１の周囲の雰囲気を、洗浄槽１底部
に接続した複数の第２排気案内管１１２により効率良く
均等に排気することができる。
なお、前記第１実施例同様、第１排気案内管１１１の上
端付近には流量調節板１３が設けられており、これによ
り第１排気案内管１１１の上端は洗浄槽１の内面に固定
されている。
端付近には流量調節板１３が設けられており、これによ
り第１排気案内管１１１の上端は洗浄槽１の内面に固定
されている。
この実施例では、洗浄槽１内の第１排気案内管１１１の
周囲の雰囲気を、洗浄槽１底部に接続した複数の第２排
気案内管１１２により均等に排気することができるので
、洗浄槽１の底部をテーバ状にする必要がなく、その分
だけ洗浄槽１の高さ（長さ）を縮めることができ、それ
だけ装置をコンパクトに構成できる。
周囲の雰囲気を、洗浄槽１底部に接続した複数の第２排
気案内管１１２により均等に排気することができるので
、洗浄槽１の底部をテーバ状にする必要がなく、その分
だけ洗浄槽１の高さ（長さ）を縮めることができ、それ
だけ装置をコンパクトに構成できる。
ところで、凍結粒子５の被洗浄物２の表面に対する噴射
角θ（第３図参照）が大きくなるか、あるいは被洗浄物
２の表面が軟らかい場合には、噴射手段６から噴射され
た凍結粒子５は被洗浄物２表面を滑るように進まずに反
射される。従って、上記第１及び第２実施例の様に、第
１排気案内管１１．１１１や第２排気案内管１２．１１
２を設けただけでは、凍結粒子５の跳ね返りを十分に抑
えることができない場合もある。
角θ（第３図参照）が大きくなるか、あるいは被洗浄物
２の表面が軟らかい場合には、噴射手段６から噴射され
た凍結粒子５は被洗浄物２表面を滑るように進まずに反
射される。従って、上記第１及び第２実施例の様に、第
１排気案内管１１．１１１や第２排気案内管１２．１１
２を設けただけでは、凍結粒子５の跳ね返りを十分に抑
えることができない場合もある。
そこで、第３図及び第４図には、上記不具合を解消し得
る、この発明の第３実施例が示されている。この実施例
では、第３図及び第４図に示すように、箱形の洗浄槽１
内には、被洗浄物２や支持部３ａを挟んでその両側に一
対の羽根状の飛散防止部材２１３が凍結粒子５の飛散す
る方向に配置されている。この飛散防止部材２１３は、
上下方向にほぼ等間隔にルーバー状に平行に重ねて配置
した多数の板部材２１３ａにより構成され、これらの板
部材２１３ａは両端部を一対の支持棒２１３ｂにより連
結され、それら支持棒２１３ｂは洗浄槽１の上端に取り
付けられている。
る、この発明の第３実施例が示されている。この実施例
では、第３図及び第４図に示すように、箱形の洗浄槽１
内には、被洗浄物２や支持部３ａを挟んでその両側に一
対の羽根状の飛散防止部材２１３が凍結粒子５の飛散す
る方向に配置されている。この飛散防止部材２１３は、
上下方向にほぼ等間隔にルーバー状に平行に重ねて配置
した多数の板部材２１３ａにより構成され、これらの板
部材２１３ａは両端部を一対の支持棒２１３ｂにより連
結され、それら支持棒２１３ｂは洗浄槽１の上端に取り
付けられている。
このような飛散防止部材２１３の配置により、凍結粒子
５が噴射手段６から半導体ウェハ等の被洗浄物２の表面
に噴射されて衝突した後、その破砕片が剥離された汚染
物とともに被洗浄物２の表面から飛散したときに、それ
らの破砕片や汚染物はルーバー状の飛散防止部材２１３
により確実に捕捉されるので、直接洗浄槽１の内面に到
達してそこに付着したりそこを汚染するようなことはな
い、この際、飛散防止部材２１３の被洗浄物２に対する
配置角度を適当に調節することにより、上記した捕捉効
果あるいは飛散防止効果を一層高めることができる。さ
らに、飛散防止部材２１３は、被洗浄物２表面から跳ね
返されてくる搬送ガスや凍結粒子５の噴流を捕捉してそ
の流速を減衰させる効果もあるので、噴流の巻き上がり
や乱流の発生を効果的に抑制できるものである。
５が噴射手段６から半導体ウェハ等の被洗浄物２の表面
に噴射されて衝突した後、その破砕片が剥離された汚染
物とともに被洗浄物２の表面から飛散したときに、それ
らの破砕片や汚染物はルーバー状の飛散防止部材２１３
により確実に捕捉されるので、直接洗浄槽１の内面に到
達してそこに付着したりそこを汚染するようなことはな
い、この際、飛散防止部材２１３の被洗浄物２に対する
配置角度を適当に調節することにより、上記した捕捉効
果あるいは飛散防止効果を一層高めることができる。さ
らに、飛散防止部材２１３は、被洗浄物２表面から跳ね
返されてくる搬送ガスや凍結粒子５の噴流を捕捉してそ
の流速を減衰させる効果もあるので、噴流の巻き上がり
や乱流の発生を効果的に抑制できるものである。
また、この実施例では、第３図に示すように、第１排気
手段を構成する略Ｊ字状の第１排気案内管２１１の上端
が支持手段３の支持部３ａの近傍の直下に開口するとと
もに、その下端が排気ダクト７内に開口しており、第１
排気案内管２１１はその上、下端において固定部材２１
１ａ、２１１ｂにより洗浄槽１の内面及び排気ダクト７
の内面にそれぞれ固定、支持されている。さらにまた、
洗浄槽ｌの下端が排気ダクト７の一端と一体的に接続さ
れており、洗浄槽１の下部内周面と第１排気案内管１１
の外周面により、第２排気手段が構成されている。
手段を構成する略Ｊ字状の第１排気案内管２１１の上端
が支持手段３の支持部３ａの近傍の直下に開口するとと
もに、その下端が排気ダクト７内に開口しており、第１
排気案内管２１１はその上、下端において固定部材２１
１ａ、２１１ｂにより洗浄槽１の内面及び排気ダクト７
の内面にそれぞれ固定、支持されている。さらにまた、
洗浄槽ｌの下端が排気ダクト７の一端と一体的に接続さ
れており、洗浄槽１の下部内周面と第１排気案内管１１
の外周面により、第２排気手段が構成されている。
なお、この実施例においても、第１排気案内管２１１に
より構成される第１排気手段及び第２排気手段は、前述
した第１及び第２実施例の場合と略同様に作用する。
より構成される第１排気手段及び第２排気手段は、前述
した第１及び第２実施例の場合と略同様に作用する。
また、第１及び第２実施例に、第３実施例と同様の飛散
防止部材を設けることもできる。
防止部材を設けることもできる。
〔発明の効果］
以上のように、この発明によれば、洗浄槽内の支持手段
の支持部の近傍の近傍部雰囲気を排気ダクトに導く第１
排気手段と、洗浄槽内の支持手段の支持部の周辺を取り
巻く周辺部雰囲気を排気ダクトに導く第２排気手段とを
設けたので、凍結粒子の噴射により被洗浄物を洗浄する
際に、洗浄後の凍結粒子や被洗浄物から剥離した汚染物
を含むｏｉ流のうち支持手段の支持部近傍の雰囲気を第
１排気手段により速やかに排気ダクトに導くとともに、
該噴流のうち支持手段の支持部の周辺の雰囲気を第２排
気手段により徐々に排気ダクトに導くことにより、噴流
による巻き上げや乱流の発生を効果的に抑制して、−皮
剥離した汚染物が被洗浄物や洗浄槽内面へ再付着するの
を防止することができる。従って、排気ブロワ−の排気
風量を小さくしても噴流の巻き上がりや乱流が発生しな
いので、装置全体を小型化してコストダウンを図ること
ができる効果がある。
の支持部の近傍の近傍部雰囲気を排気ダクトに導く第１
排気手段と、洗浄槽内の支持手段の支持部の周辺を取り
巻く周辺部雰囲気を排気ダクトに導く第２排気手段とを
設けたので、凍結粒子の噴射により被洗浄物を洗浄する
際に、洗浄後の凍結粒子や被洗浄物から剥離した汚染物
を含むｏｉ流のうち支持手段の支持部近傍の雰囲気を第
１排気手段により速やかに排気ダクトに導くとともに、
該噴流のうち支持手段の支持部の周辺の雰囲気を第２排
気手段により徐々に排気ダクトに導くことにより、噴流
による巻き上げや乱流の発生を効果的に抑制して、−皮
剥離した汚染物が被洗浄物や洗浄槽内面へ再付着するの
を防止することができる。従って、排気ブロワ−の排気
風量を小さくしても噴流の巻き上がりや乱流が発生しな
いので、装置全体を小型化してコストダウンを図ること
ができる効果がある。
第１図はこの発明の第１実施例による洗浄装置を示す概
略断面図、第２図はこの発明の第２実施例による洗浄装
置を示す概略断面図、第３図はこの発明の第３実施例に
よる洗浄装置を示す概略断面図、第４図は第３図の■−
■線断面図、第５図は従来の洗浄装置を示す概略断面図
である。 因において、１は洗浄槽、２は被洗浄物、３は支持手段
、３ａは支持部、４は凍結粒子供給手段、５は凍結粒子
、６は噴射手段、７は排気ダクト、８は排気ブロワ−１
１１，１１１及び２１１は第１排気手段としての第１排
気案内管、１２及び１１２は第２排気手段としての第２
排気案内管、２１３は飛散防止部材である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
略断面図、第２図はこの発明の第２実施例による洗浄装
置を示す概略断面図、第３図はこの発明の第３実施例に
よる洗浄装置を示す概略断面図、第４図は第３図の■−
■線断面図、第５図は従来の洗浄装置を示す概略断面図
である。 因において、１は洗浄槽、２は被洗浄物、３は支持手段
、３ａは支持部、４は凍結粒子供給手段、５は凍結粒子
、６は噴射手段、７は排気ダクト、８は排気ブロワ−１
１１，１１１及び２１１は第１排気手段としての第１排
気案内管、１２及び１１２は第２排気手段としての第２
排気案内管、２１３は飛散防止部材である。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。
Claims (4)
- （１）洗浄槽と、その洗浄槽内で半導体ウェハ等の被洗
浄物を支持しうる支持部を有する支持手段と、凍結粒子
供給手段と、前記洗浄槽内に配置され、前記凍結粒子供
給手段から微細な凍結粒子を供給されて前記支持手段に
支持された被洗浄物に向けて該凍結粒子を噴射する噴射
手段と、その噴射手段から噴射されて前記被洗浄物の表
面を洗浄した後の凍結粒子や被洗浄物から剥離した汚染
物を洗浄槽外に排出する排気ダクトと、前記排気ダクト
に接続され、前記洗浄槽の内の雰囲気を強制的に前記排
気ダクトに吸引して外部に排出させる排気ブロワーと、
前記洗浄槽内の前記支持手段の支持部の近傍の近傍部雰
囲気を前記排気ダクトに導く第１排気手段と、前記洗浄
槽内の前記支持手段の支持部の周辺を取り巻く周辺部雰
囲気を前記排気ダクトに導く第２排気手段と、からなる
洗浄装置。 - （２）前記第１排気手段は、一端が、前記支持手段の支
持部の近傍において前記洗浄槽内に開口するとともに、
他端が、前記排気ダクト内に開口する第１排気案内管か
らなり、また前記第２排気手段は、前記第１排気案内管
を取り囲むように配置されるとともに、一端が前記洗浄
槽に、他端が前記排気ダクトにそれぞれ接続された第２
排気案内管からなる、特許請求の範囲第（１）項記載の
洗浄装置。 - （３）前記第１排気手段は、一端が、前記支持手段の支
持部の近傍において前記洗浄槽内に開口するとともに、
他端が、前記排気ダクトに接続された第１排気案内管と
、一端が、前記洗浄槽内の前記第１排気案内管を取り囲
む部分に開口するとともに、他端が前記排気ダクトに接
続された複数の第２排気案内管とからなる、特許請求の
範囲第（１）項記載の洗浄装置。 - （４）前記洗浄槽内において前記支持手段の支持部の近
傍に、前記被洗浄物から跳ね飛ばされた凍結粒子等の飛
散を防止する羽根状の飛散防止部材が配置された、特許
請求の範囲第（１）項乃至第（３）項記載の洗浄装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2030375A JP2529431B2 (ja) | 1990-02-09 | 1990-02-09 | 洗浄装置 |
| US07/643,289 US5129198A (en) | 1990-02-09 | 1991-01-22 | Cleaning device for semiconductor wafers |
| DE4103577A DE4103577A1 (de) | 1990-02-09 | 1991-02-06 | Reinigungsvorrichtung fuer einen gegenstand mit einer zu reinigenden oberflaeche |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2030375A JP2529431B2 (ja) | 1990-02-09 | 1990-02-09 | 洗浄装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03234022A true JPH03234022A (ja) | 1991-10-18 |
| JP2529431B2 JP2529431B2 (ja) | 1996-08-28 |
Family
ID=12302132
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2030375A Expired - Fee Related JP2529431B2 (ja) | 1990-02-09 | 1990-02-09 | 洗浄装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5129198A (ja) |
| JP (1) | JP2529431B2 (ja) |
| DE (1) | DE4103577A1 (ja) |
Families Citing this family (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0744166B2 (ja) * | 1990-07-31 | 1995-05-15 | 三菱電機株式会社 | 半導体ウエハ洗浄装置 |
| JP2529468B2 (ja) * | 1990-11-30 | 1996-08-28 | 大陽酸素株式会社 | 半導体ウエハの洗浄装置及び洗浄方法 |
| US5315793A (en) * | 1991-10-01 | 1994-05-31 | Hughes Aircraft Company | System for precision cleaning by jet spray |
| JPH06132273A (ja) * | 1992-10-19 | 1994-05-13 | Mitsubishi Electric Corp | ウエハ洗浄装置 |
| US6239038B1 (en) | 1995-10-13 | 2001-05-29 | Ziying Wen | Method for chemical processing semiconductor wafers |
| US5810942A (en) * | 1996-09-11 | 1998-09-22 | Fsi International, Inc. | Aerodynamic aerosol chamber |
| DE19860084B4 (de) * | 1998-12-23 | 2005-12-22 | Infineon Technologies Ag | Verfahren zum Strukturieren eines Substrats |
| US6740247B1 (en) | 1999-02-05 | 2004-05-25 | Massachusetts Institute Of Technology | HF vapor phase wafer cleaning and oxide etching |
| AT411233B (de) * | 1999-05-07 | 2003-11-25 | Berndorf Band Ges M B H | Vorrichtung mit zumindest einem endlosen band aus stahl und verfahren zum thermischen beaufschlagen von plastischen massen |
| US6500758B1 (en) | 2000-09-12 | 2002-12-31 | Eco-Snow Systems, Inc. | Method for selective metal film layer removal using carbon dioxide jet spray |
| US6520838B1 (en) * | 2001-06-25 | 2003-02-18 | General Electric Company | Shielded spin polishing |
| US20080157007A1 (en) * | 2006-12-27 | 2008-07-03 | Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. | Active particle trapping for process control |
| CN105483819B (zh) * | 2016-01-26 | 2017-12-05 | 中山大学 | 一种用于提拉法晶体生长的对流控制装置和晶体生长炉 |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3097450A (en) * | 1963-07-16 | Rough cleaning and finish cleaning machine and method | ||
| FR2560262B1 (fr) * | 1984-02-29 | 1986-08-22 | Thomann Chantal | Installation pour le ravalement de batiments |
| US4723378A (en) * | 1987-02-24 | 1988-02-09 | Progressive Blasting Systems, Inc. | Exhaust and reclaim system for blasting enclosures |
| DE3804694A1 (de) * | 1987-06-23 | 1989-01-05 | Taiyo Sanso Co Ltd | Verfahren zur oberflaechenbearbeitung fuer halbleiter-wafer und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
| JPH02130921A (ja) * | 1988-11-11 | 1990-05-18 | Taiyo Sanso Co Ltd | 固体表面洗浄装置 |
-
1990
- 1990-02-09 JP JP2030375A patent/JP2529431B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-01-22 US US07/643,289 patent/US5129198A/en not_active Expired - Lifetime
- 1991-02-06 DE DE4103577A patent/DE4103577A1/de active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5129198A (en) | 1992-07-14 |
| DE4103577C2 (ja) | 1992-10-29 |
| JP2529431B2 (ja) | 1996-08-28 |
| DE4103577A1 (de) | 1991-08-14 |
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