JPH03225800A - シンクロトロンのビーム電流値測定方法 - Google Patents
シンクロトロンのビーム電流値測定方法Info
- Publication number
- JPH03225800A JPH03225800A JP2023590A JP2023590A JPH03225800A JP H03225800 A JPH03225800 A JP H03225800A JP 2023590 A JP2023590 A JP 2023590A JP 2023590 A JP2023590 A JP 2023590A JP H03225800 A JPH03225800 A JP H03225800A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- current value
- beam current
- electrode
- monitor
- synchrotron
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 4
- 230000005469 synchrotron radiation Effects 0.000 description 4
- 238000004070 electrodeposition Methods 0.000 description 3
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 238000007479 molecular analysis Methods 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000012916 structural analysis Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Particle Accelerators (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、シンクロトロンのビーム電流値を測定する
方法に関し、既存の電極式ビーム位置モニタを用いてビ
ーム電流値を測定できるようにしたものである。
方法に関し、既存の電極式ビーム位置モニタを用いてビ
ーム電流値を測定できるようにしたものである。
近年、シンクロトロンは、シンクロトロン放射光(SO
R)装置として、超々LS1回路の作成、医療分野にお
ける診断、分子解析、構造解析等様々な分野への適用が
期待されている。
R)装置として、超々LS1回路の作成、医療分野にお
ける診断、分子解析、構造解析等様々な分野への適用が
期待されている。
シンクロトロン放射光装置の概略を第2図に示す。電子
発生装置(電子銃等)10で発生した電子ビームは線型
加速装置(ライナック)12で光速近くに加速され、入
射部14の偏向電磁石16で偏向されて、インフレクタ
18を介してシンクロトロン20の真空容器22内に入
射される。真空容器22に入射された電子ビームは高周
波加速空洞21でエネルギを与えられながら収束電磁石
23で収束され、偏向電磁石24で偏向されて真空容器
22中を回り続ける。偏向電磁石24で偏向される時に
発生するシンクロトロン放射光はビームチャンネル26
を通して例えば露光装置28に送られて超々LS1回路
作成用の光源等として利用される。
発生装置(電子銃等)10で発生した電子ビームは線型
加速装置(ライナック)12で光速近くに加速され、入
射部14の偏向電磁石16で偏向されて、インフレクタ
18を介してシンクロトロン20の真空容器22内に入
射される。真空容器22に入射された電子ビームは高周
波加速空洞21でエネルギを与えられながら収束電磁石
23で収束され、偏向電磁石24で偏向されて真空容器
22中を回り続ける。偏向電磁石24で偏向される時に
発生するシンクロトロン放射光はビームチャンネル26
を通して例えば露光装置28に送られて超々LS1回路
作成用の光源等として利用される。
真空容器22の各直線部には、電極式位置モニタ30が
2個ずつ全周で合計8個設けられている。
2個ずつ全周で合計8個設けられている。
この電極式位置モニタ30は真空容器22内のビーム位
置を検出するもので、その検出に応じてその近傍に設け
られたステアリング電磁石(図示せず)を励磁制御する
ことにより、ビームが所定の軌道を通るようにして、真
空容器22の内壁に衝突することなく長時間周回できる
ようにしている。
置を検出するもので、その検出に応じてその近傍に設け
られたステアリング電磁石(図示せず)を励磁制御する
ことにより、ビームが所定の軌道を通るようにして、真
空容器22の内壁に衝突することなく長時間周回できる
ようにしている。
また、真空容器22には電流モニタ32として容器22
の外周にコアに巻かれたコイルが配設されており、ビー
ムの電流値に応じた信号か誘起されてビーム電流値が検
出される。そして、このビーム電流値が所定の値となる
ように、線型加速装置12からビームの供給が行なわれ
る。
の外周にコアに巻かれたコイルが配設されており、ビー
ムの電流値に応じた信号か誘起されてビーム電流値が検
出される。そして、このビーム電流値が所定の値となる
ように、線型加速装置12からビームの供給が行なわれ
る。
シンクロトロンにおいては、ビームか所定の軌道から外
れていると真空容器22の内壁に衝突して消滅するため
、長時間周回させることができなくなる。このため、運
転を開始する初期のビーム入射調整時には、各種電磁石
の調整が必要となる。
れていると真空容器22の内壁に衝突して消滅するため
、長時間周回させることができなくなる。このため、運
転を開始する初期のビーム入射調整時には、各種電磁石
の調整が必要となる。
ビームが真空容器22の内壁に衝突して消滅する状態は
前記電流モニタ32によりビーム電流値の減少を検出し
て知ることができるが、この電流モニタ32は通常全周
に1箇所しか設けられていないため、どの位置で衝突し
て消滅しているかまでは検出することかできない。勿論
電流モニタ32を全周に設ければ衝突位置かわかるか、
これではコストがかさむことになるし、しかも小型シン
クロトロンにおいては真空容器22に沿って各種電磁石
、各種計測機器等が高密度に配置されているため、スペ
ース的にも事実上それも困難である。
前記電流モニタ32によりビーム電流値の減少を検出し
て知ることができるが、この電流モニタ32は通常全周
に1箇所しか設けられていないため、どの位置で衝突し
て消滅しているかまでは検出することかできない。勿論
電流モニタ32を全周に設ければ衝突位置かわかるか、
これではコストがかさむことになるし、しかも小型シン
クロトロンにおいては真空容器22に沿って各種電磁石
、各種計測機器等が高密度に配置されているため、スペ
ース的にも事実上それも困難である。
この発明は、従来技術における上述の問題点を解決して
、簡易な構成でビーム電流値を検出して、ビーム入射調
整時のビーム衝突位置検出等に利用することができるシ
ンクロトロンのビーム電流値測定方法を提供しようとす
るものである。
、簡易な構成でビーム電流値を検出して、ビーム入射調
整時のビーム衝突位置検出等に利用することができるシ
ンクロトロンのビーム電流値測定方法を提供しようとす
るものである。
この発明は、電極式ビーム位置モニタを構成する各電極
の検出信号の加算値をビーム電流値に対応した信号とし
て検出することを特徴とするものである。
の検出信号の加算値をビーム電流値に対応した信号とし
て検出することを特徴とするものである。
この発明は、電極式ビーム位置モニタを構成する各電極
の検出信号の加算値がビーム電流値に対応した値となる
ことに着目してなされたもので、この加算値がビーム電
流値に対応した信号として検出される。
の検出信号の加算値がビーム電流値に対応した値となる
ことに着目してなされたもので、この加算値がビーム電
流値に対応した信号として検出される。
これによれば、電極式ビーム位置モニタはシンクロトロ
ンの全周に設けられているので、例えばビーム入射調整
時にどの位置でビーム電流値が減少しているかで衝突位
置を検出することができる。
ンの全周に設けられているので、例えばビーム入射調整
時にどの位置でビーム電流値が減少しているかで衝突位
置を検出することができる。
また、既存の電極式ビーム位置モニタを使用して検出す
ることができるので、コストがかさむことも真空容器周
囲の構成が複雑になることもなく、小型シンクロトロン
にも適用することができる。
ることができるので、コストがかさむことも真空容器周
囲の構成が複雑になることもなく、小型シンクロトロン
にも適用することができる。
この発明の一実施例を第1図に示す。これは、前記第2
図において真空容器22を電極式位置モニタ30の位置
で輪切にした状態を示すものである。真空容器22内に
はビーム34が周回している。電極式位置モニタ30は
ボタン電極等で構成され、通常1箇所に4個の電極30
a〜30dをビーム34の周囲に配置して構成される。
図において真空容器22を電極式位置モニタ30の位置
で輪切にした状態を示すものである。真空容器22内に
はビーム34が周回している。電極式位置モニタ30は
ボタン電極等で構成され、通常1箇所に4個の電極30
a〜30dをビーム34の周囲に配置して構成される。
各電極30a〜30dにはビーム34の通過により信号
a −dか誘起される。
a −dか誘起される。
ビーム位置演算回路36はこれら検出信号a〜dに基づ
きビーム位置を検出する。すなわち、水平方向ビーム位
置phは、 で求められる。
きビーム位置を検出する。すなわち、水平方向ビーム位
置phは、 で求められる。
また垂直方向ビーム位置Pvは、
k k :比例係数
h’ v
で求められる。
加算器38はビーム電流値IBを次式により求める。
I B−k B (a + b + c + d )
kB:比例係数 このビーム電流値IBの測定を第2図の各位置の電極式
位置モニタ30て行なうことにより、ビム入射調整時に
との位置でビーム電流値IBが減少するかによりビーム
の衝突位置を知ることかでき、調整を容易に行なうこと
かできる。
kB:比例係数 このビーム電流値IBの測定を第2図の各位置の電極式
位置モニタ30て行なうことにより、ビム入射調整時に
との位置でビーム電流値IBが減少するかによりビーム
の衝突位置を知ることかでき、調整を容易に行なうこと
かできる。
なお、ビーム位置によっては上記加算値IBが実際のビ
ーム電流値と正確に対応しなくなる場合があるので、実
験により各ビーム位置に対する補正値を予め求めておき
、実際の運転ではビーム位置演算回路36の演算値に応
じて加算値IBを補正することにより、ビーム電流値を
正確に求めることかできる。
ーム電流値と正確に対応しなくなる場合があるので、実
験により各ビーム位置に対する補正値を予め求めておき
、実際の運転ではビーム位置演算回路36の演算値に応
じて加算値IBを補正することにより、ビーム電流値を
正確に求めることかできる。
前記実施例では電極式位置モニタ3oは4個の電極を具
えたものについて示したが、より多くの電極を具えた電
極式位置モニタについてもこの発明を適用することがで
きる。その場合、全ての電極の検出信号を加算するので
なく、適宜選択して加算することもてきる。
えたものについて示したが、より多くの電極を具えた電
極式位置モニタについてもこの発明を適用することがで
きる。その場合、全ての電極の検出信号を加算するので
なく、適宜選択して加算することもてきる。
また、この発明のビーム電流値測定方法は、ビーム入射
調整時のビーム衝突位置検出以外にも定常運転時のビー
ム電流値の検出等にも適用することができる。
調整時のビーム衝突位置検出以外にも定常運転時のビー
ム電流値の検出等にも適用することができる。
また、この発明は電子シンクロトロンのほか、陽子その
他各種荷電粒子のシンクロトロンに適用することかでき
る。
他各種荷電粒子のシンクロトロンに適用することかでき
る。
以上説明したように、この発明によれば、電極式ビーム
位置モニタを構成する各電極の検出信号の加算値がビー
ム電流値に対応した値となることに着目したので、電極
式ビーム位置モニタを用いてビーム電流値を検出するこ
とができる。これによれば、電極式ビーム位置モニタは
シンクロトロンの全周に設けられているので、例えばビ
ーム入射調整時にどの位置でビーム電流値が減少してい
るかで衝突位置を検出することができる。また、既存の
電極式ビーム位置モニタを使用して検出することができ
るので、コストがかさむことも真空容器周囲の構成が複
雑になることもなく、小型シンクロトロンにも適用する
ことができる。
位置モニタを構成する各電極の検出信号の加算値がビー
ム電流値に対応した値となることに着目したので、電極
式ビーム位置モニタを用いてビーム電流値を検出するこ
とができる。これによれば、電極式ビーム位置モニタは
シンクロトロンの全周に設けられているので、例えばビ
ーム入射調整時にどの位置でビーム電流値が減少してい
るかで衝突位置を検出することができる。また、既存の
電極式ビーム位置モニタを使用して検出することができ
るので、コストがかさむことも真空容器周囲の構成が複
雑になることもなく、小型シンクロトロンにも適用する
ことができる。
第1図は、この発明の一実施例を示すブロック図である
。 第2図は、シンクロトロン放射光装置の概要を示す平面
図である。 ・・シンク ト ロン、 ・・真空容器、 電極式位置モニタ、 a〜30d・・・電極、 38・・・加算器。
。 第2図は、シンクロトロン放射光装置の概要を示す平面
図である。 ・・シンク ト ロン、 ・・真空容器、 電極式位置モニタ、 a〜30d・・・電極、 38・・・加算器。
Claims (1)
- 電極式ビーム位置モニタを構成する各電極の検出信号の
加算値をビーム電流値に対応した信号として検出するこ
とを特徴とするシンクロトロンのビーム電流値測定方法
。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2023590A JPH03225800A (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | シンクロトロンのビーム電流値測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2023590A JPH03225800A (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | シンクロトロンのビーム電流値測定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03225800A true JPH03225800A (ja) | 1991-10-04 |
Family
ID=12021529
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2023590A Pending JPH03225800A (ja) | 1990-01-30 | 1990-01-30 | シンクロトロンのビーム電流値測定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03225800A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5698954A (en) * | 1993-09-20 | 1997-12-16 | Hitachi, Ltd. | Automatically operated accelerator using obtained operating patterns |
CN106855634A (zh) * | 2016-12-29 | 2017-06-16 | 中国科学技术大学 | 一种紧凑结构的钮扣型束流位置检测器组件 |
-
1990
- 1990-01-30 JP JP2023590A patent/JPH03225800A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5698954A (en) * | 1993-09-20 | 1997-12-16 | Hitachi, Ltd. | Automatically operated accelerator using obtained operating patterns |
CN106855634A (zh) * | 2016-12-29 | 2017-06-16 | 中国科学技术大学 | 一种紧凑结构的钮扣型束流位置检测器组件 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6976953B1 (en) | Maintaining the alignment of electric and magnetic fields in an x-ray tube operated in a magnetic field | |
US3955089A (en) | Automatic steering of a high velocity beam of charged particles | |
US20040190682A1 (en) | Method and device for setting the focal spot position of an X-ray tube by regulation | |
US20110186746A1 (en) | Particle beam therapy system and method for guiding a beam of charged particles in a particle beam therapy system | |
US20030123612A1 (en) | X-ray tube for operating in a magnetic field | |
JPH03225800A (ja) | シンクロトロンのビーム電流値測定方法 | |
Decker et al. | Method for reducing x-ray background signals from insertion device x-ray beam position monitors | |
Ekdahl et al. | Noninvasive beam-size measurements for linear induction accelerators | |
CN111551881B (zh) | 基于粒子加速器的核磁共振磁场测量方法及系统 | |
JPH04308696A (ja) | 粒子加速器のビーム位置モニタ | |
Connor et al. | The ATF heavy ion beam probe | |
JPH05159898A (ja) | 粒子加速器のビーム位置モニタ | |
JPH06269439A (ja) | X線ct装置及びx線発生装置 | |
JPH10256110A (ja) | 成形偏向器のオフセット調整方法及びこれを適用した荷電ビーム描画装置 | |
Wang et al. | Measurements of the integrated gradient for Halbach-type permanent magnet quadrupoles | |
Anashkin et al. | Calibration of CMD-2 drift chamber | |
EP0746777A1 (en) | A method and an apparatus for determining the field size and the field form of the radiation cone of ionizing radiation source | |
JPH0837141A (ja) | ビームドリフト測定方法及びその装置並びにこれを適用した荷電ビーム描画装置 | |
JPH0668997A (ja) | シンクロトロン磁場制御装置 | |
JPH03261100A (ja) | シンクロトロンの電子ビームモニタ装置 | |
JPS59111079A (ja) | プラズマ測定装置 | |
JPH06140197A (ja) | 粒子加速器のインフレクタ | |
JPH0420000A (ja) | シンクロトロン放射光発生装置 | |
JPH065397A (ja) | 電子ビーム加速器および該加速器に用いる偏向電磁石 | |
JPH03122589A (ja) | 粒子ビーム計測装置 |