JPH03223901A - Semiconductor manufacturing equipment - Google Patents

Semiconductor manufacturing equipment

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JPH03223901A
JPH03223901A JP2019881A JP1988190A JPH03223901A JP H03223901 A JPH03223901 A JP H03223901A JP 2019881 A JP2019881 A JP 2019881A JP 1988190 A JP1988190 A JP 1988190A JP H03223901 A JPH03223901 A JP H03223901A
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JP
Japan
Prior art keywords
user
parameters
commands
access right
semiconductor manufacturing
Prior art date
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Pending
Application number
JP2019881A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Makoto Endo
誠 遠藤
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Publication date
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Publication of JPH03223901A publication Critical patent/JPH03223901A/en
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  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Safety Devices In Control Systems (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

PURPOSE:To reduce the possibility of misoperation by providing a control means which makes invisible an action command of a high order access right level and an action parameter via a display means. CONSTITUTION:A control part 33 consists of a microprocessor, a RAM, an I/O interface, etc., and performs its processing based on the program transferred to the RAM from a disk 34 at the time of applying a power supply. Then a user name inputted by a user via a key is collated with the pass words which are successively read out of a 2nd storage part at the beginning of operation exerted on a semiconductor manufacturing equipment. Thus an access right level of the user is decided to the device. At the same time, an action command exectable to the user and an action parameter settable to the user are limited to the value lower than the access right level of the user by reference to a 1st storage part. Thus the action commands and action parameters of higher access right levels are made invisible via a CRT 32. In such constitution, the misoperations are surely prevented with the semiconductor manufacturing equipment.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、LSI−VLSI等の半導体デバイスを製造
する装置、特に多数の動作コマンドと動作パラメータを
有する縮小投影形露光装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an apparatus for manufacturing semiconductor devices such as LSI-VLSI, and particularly to a reduction projection exposure apparatus having a large number of operation commands and operation parameters.

[従来の技術] 般的に、半導体製造装置が有するコマンドとパラメータ
は、 ■ 装置の構成を定義するパラメータ、■ 各種アクチ
ュエータの位置決め精度と各種センサの計測精度を補償
するためのパラメータ、 ■ 装置の動作と性能を維持してゆくために必要なパラ
メータとコマンド、 ■ 目的の半導体デバイスを製造するために、装置の動
作条件を定義するパラメータとその設定コマンド、 ■ ■で設定されたパラメータに基づいてウェハを処理
するために必要なコマンド、等に分類される。■に属す
るパラメータとしては、例えば、ウェハのオリエンテー
ションフラットのタイプを定義するパラメータがあり、
それは半導体製造装置に搭載されたウェハ搬送装置のハ
ードウェアと適合するように、装置製造者によって工場
出荷時に設定される。
[Prior Art] In general, the commands and parameters that semiconductor manufacturing equipment has are: ■ Parameters that define the configuration of the equipment; ■ Parameters that compensate for the positioning accuracy of various actuators and measurement accuracy of various sensors; ■ Parameters that define the configuration of the equipment; Parameters and commands necessary to maintain operation and performance, ■ Parameters and their setting commands that define the operating conditions of the equipment in order to manufacture the target semiconductor device, ■ Based on the parameters set in ■ Classified into commands necessary to process wafers, etc. Parameters belonging to ■ include, for example, parameters that define the type of wafer orientation flat;
It is set by the equipment manufacturer at the time of factory shipment to be compatible with the hardware of the wafer transport device installed in the semiconductor manufacturing equipment.

般的に、■から■に属する操作は、半導体製造装置に対
する高度な専門知識と慎重さが要求される。また、当該
パラメータの御設定等の誤操作は、半導体製造装置の基
本性能の劣化と、不良品の発生に直結する。従って、運
用期間におけるこの種の操作は、装置製造者側の保守要
員と半導体製造者側の熟練操作員に限定し、日常の運転
開始及び停止等を職務として配置された簡易操作員には
行なわせないようにしていた。そして特に重要なコマン
ドとパラメータについては、特定のパスワードを事前に
入力させ、合致しないとアクセス出来ないようにしてい
た。
Generally, operations belonging to categories ① to ③ require a high level of specialized knowledge and caution regarding semiconductor manufacturing equipment. In addition, erroneous operations such as setting of the parameters are directly linked to deterioration of the basic performance of the semiconductor manufacturing equipment and generation of defective products. Therefore, this type of operation during the operation period is limited to maintenance personnel from the equipment manufacturer and experienced operators from the semiconductor manufacturer, and is not allowed to be performed by simple operators whose job is to start and stop operations on a daily basis. I tried not to let it happen. For particularly important commands and parameters, users were required to enter specific passwords in advance, making it impossible to access them unless they matched.

[発明が解決しようとしている課題] 第6図は半導体製造装置の一例であるステッパーの概略
構成図であり、1はコマンド及びパラメータを入力する
ためのキーボードとCRTから成るコンソール、2はC
PU、3はパラメータを記憶するためのディスク装置、
4はCPU2とディスク装置3等を搭載するためのラッ
ク、5は照明装置、6は回路パターンが描かれたレヂク
ル、7は投影レンズ、8はウェハ、そして9はウェハス
テージである。当該ステッパーにウェハを処理させるた
めに、簡易操作員は、予めディスク装置3に記憶させて
いる前記■のパラメータを読み出して、動作を開始する
ためのコマンドをコンソール1から入力する。ステッパ
ーは、読み出された露光条件等のパラメータに従って、
レチクル6上の回路パターンを投影レンズ7によって縮
小しながらウェハ8上に転写し、以上の処理をウェハス
テージ9をステップ駆動しながら繰り返す。
[Problems to be Solved by the Invention] FIG. 6 is a schematic diagram of a stepper which is an example of a semiconductor manufacturing device, in which 1 is a console consisting of a keyboard and CRT for inputting commands and parameters, 2 is a CRT
PU, 3 is a disk device for storing parameters;
4 is a rack for mounting the CPU 2, disk device 3, etc., 5 is a lighting device, 6 is a resicle on which a circuit pattern is drawn, 7 is a projection lens, 8 is a wafer, and 9 is a wafer stage. In order to cause the stepper to process a wafer, the simple operator reads out the parameters (2) previously stored in the disk device 3 and inputs a command from the console 1 to start the operation. The stepper operates according to the read parameters such as exposure conditions.
The circuit pattern on the reticle 6 is transferred onto the wafer 8 while being reduced by the projection lens 7, and the above process is repeated while the wafer stage 9 is driven in steps.

方、当該ステッパーにおいて、前記■から■に関する操
作も同様にしてコンソール1から行なわれるので、その
内容を知らされていない簡易操作員が誤って操作し、ス
テッパーの基本性能の劣化や不良品の発生を招く可能性
があった8例えば、前述したウェハのオリエンテーショ
ンフラットに関するパラメータを誤って変更すると、ウ
ェハを破損するというような事態に陥る。これらのパラ
メータやコマンドの全てにパスワードをイ」加すること
は、本来の操作を煩雑にするので実際的ではなく、操作
者の職務に応じて不必要な情報を隠蔽し、誤操作を防止
する有効な手法が望まれていた。
On the other hand, in this stepper, since the operations related to (1) to (3) above are performed from the console 1 in the same way, a simple operator who is not informed of the contents may operate the steps incorrectly, resulting in deterioration of the basic performance of the stepper or the production of defective products. For example, if the parameters related to the wafer orientation flat described above are changed incorrectly, the wafer may be damaged. It is not practical to add passwords to all of these parameters and commands because it complicates the original operation, but it is an effective way to hide unnecessary information and prevent erroneous operations depending on the operator's duties. A new method was desired.

本発明は、このような事情に鑑みなされたもので、その
目的は、誤操作を確実に防止することのできる半導体製
造装置を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above circumstances, and an object thereof is to provide a semiconductor manufacturing apparatus that can reliably prevent erroneous operations.

[課題を解決するための手段] 本発明は、前述の目的を達成するために多数の動作コマ
ンドと動作パラメータに従って動作する半導体製造装置
において、利用者の該装置に対する使用目的と必要とさ
れる専門知識の程度に応して少なくとも2つ以上のアク
セス権レベルに分類された動作コマンド群と動作パラメ
ータ群を表示可能な表示手段と、各動作コマンドと各動
作!〜ラメータに割当てられたアクセス権レベルを記憶
する第1記憶部分と、利用者毎に利用者名とノ<スワー
ドと利用者のアクセス権レベルの組合せを予め複数登録
した第2記憶部分を有する記憶手段と、該装置に対する
操作の最初に利用者がキー入力した利用者名とパスワー
ドを前記第2記憶部分から順次読み出したものとそれぞ
れ照合し、該利用者の該装置へのアクセス権レベルを有
する記憶手段と共に、該利用者が実行可能な動作コマン
ドと設定可能な動作パラメータを前記第1記憶部分を参
照することによって該利用者のアクセ部分を参照するこ
とによつて該利用者のアクセス権レベルの動作コマンド
と動作パラメータを前記表示手段において不可視にする
制御手段と、を備えたことを特徴としている。
[Means for Solving the Problems] The present invention provides a semiconductor manufacturing apparatus that operates according to a large number of operation commands and operation parameters in order to achieve the above-mentioned object, and which is based on the purpose of use of the apparatus by the user and the required expertise. A display means capable of displaying a group of operation commands and a group of operation parameters classified into at least two or more access privilege levels according to the level of knowledge, and each operation command and each operation! - A memory having a first storage part that stores the access right level assigned to the parameter, and a second storage part that stores in advance a plurality of combinations of user name, password, and user access right level for each user. means, and the user name and password key-input by the user at the beginning of the operation for the device are checked against those sequentially read out from the second storage portion, and the access right level of the user to the device is determined. The access right level of the user is stored by referring to the first storage section and the access section of the user, together with the storage means, the operation commands that the user can execute and the operation parameters that can be set. and control means for making the operation commands and operation parameters invisible on the display means.

[実施例] 以下本発明をその実施例を示す図面に基づき説明する。[Example] The present invention will be explained below based on drawings showing embodiments thereof.

第1図は本発明の実施例に係る半導体製造装置の処理手
順の概要を示すフローチャート、第2図は一般的な同装
置の概略ブロック図である。第2図において、31繍利
用者からの情報を制御部33へ入力するキーボードであ
り、32は制御部33からの出力情報を表示するCRT
である。
FIG. 1 is a flowchart outlining the processing procedure of a semiconductor manufacturing apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a general block diagram of the same apparatus. In FIG. 2, 31 is a keyboard for inputting information from the user to the control section 33, and 32 is a CRT for displaying output information from the control section 33.
It is.

制御部33は不図示のマイクロプロセッサ・RAM−l
10インターフエース等から構成され、電源投入時にデ
ィスク34からRAMに転送されたプログラムに従い後
述の処理を行う。35は制御部33のl10インターフ
エースを通してマイクロプロセッサによって制御される
各種アクチュエータやセンサが搭載された半導体製造装
置の本体部である。
The control unit 33 is a microprocessor/RAM-1 (not shown).
It is composed of 10 interfaces, etc., and performs the processing described below in accordance with the program transferred from the disk 34 to the RAM when the power is turned on. Reference numeral 35 denotes a main body of the semiconductor manufacturing apparatus in which various actuators and sensors controlled by a microprocessor through the l10 interface of the control unit 33 are mounted.

ディスク34にはプログラムの他に、複数の利用者名と
パスワードと対応するアクセス権レベルが登録されたフ
ァイル(以下利用者アクセス権ファイルと称す)、実行
可能な全ての動作コマンドのコマンド名と対応するアク
セス権レベルを記述したファイル(以下コマンドアクセ
ス権ファイルと称す)、及び設定可能な全ての動作穴ラ
メータのパラメータ名と対応するアクセス権レベルを記
述したファイル(以下パラメータアクセス権ファイルと
称す)が記憶されている。
In addition to programs, the disk 34 contains a file in which multiple user names and passwords and corresponding access privilege levels are registered (hereinafter referred to as user access privilege file), and command names and correspondences of all executable operation commands. A file that describes the access privilege level to be used (hereinafter referred to as the command access privilege file), and a file that describes the parameter names and corresponding access privilege levels of all settable operation hole parameters (hereinafter referred to as the parameter access privilege file). remembered.

第3図は前記各アクセス権ファイルの内容のルーコード
を示しており、(a)は利用者アクセス権レコード、(
b)はコマンドアクセス権しコド、及び(C)はパラメ
ータアクセス権レコードである。各レコードのアクセス
権レベルのフィールドにはOからNまでの整数値が格納
されており、0が最上位でNが最下位のアクセス権レベ
ルである。なお本実施例の装置においてはN=2とし、
アクセス権レベルを、 ■半導体製造装置製造者側の保守要員レベル(レベル0
) ■半導体製造者側の熟練操作員レベル(レベル1) ■半導体製造者側の簡易操作員レベル(レベル2) に分類するものとする。
FIG. 3 shows the code for the contents of each access right file, where (a) is the user access right record, (
b) is a command access right record, and (C) is a parameter access right record. The access right level field of each record stores integer values from O to N, where 0 is the highest access right level and N is the lowest access right level. Note that in the device of this embodiment, N=2,
The access privilege level is: ■The level of maintenance personnel at the semiconductor manufacturing equipment manufacturer (level 0)
) ■ Skilled operator level on the semiconductor manufacturer's side (Level 1) ■ Simple operator level on the semiconductor manufacturer's side (Level 2).

さて、制御部33の処理内容を第1図のフローチャート
に従い説明する。電源投入後、本体部35を含む装置全
体の初期化(ステップ11)が完了すると、ステップ1
2ではCRT32に第4図の点線内41のようなプロン
プトメツセージを表示し、利用者に対して利用者名の入
力を促す。
Now, the processing contents of the control section 33 will be explained according to the flowchart of FIG. After the power is turned on and the initialization of the entire device including the main unit 35 (step 11) is completed, step 1
In step 2, a prompt message as indicated by the dotted line 41 in FIG. 4 is displayed on the CRT 32, prompting the user to input the user's name.

ここで利用者が例えば同図の点線内42のような一  0 利用者名をキーボード31から入力すると、更に同図点
線内43のようなプロンプトメツセージを表示し、パス
ワードの入力を促す。利用者がパスワードをキーボード
31から入力すると、ディスク34に記憶された前記利
用者アクセス権ファイルを検索しくステップ13)、入
力された利用者名とパスワードか合致するレコードか見
つかれば、同一レコート内のアクセス権レベル値を利用
者のアクセス権レベルとして、制御部33内のRAMJ
二の変数ALに設定するくステップ15)。合致するレ
コードか見つからなかったときは、CRT32に「利用
者を認知てきない」旨の案内がなされ、ステップ12に
戻り、利用者名とパスワードの再入力待ちとなる。
When the user enters a user name, for example, as indicated by the dotted line 42 in the figure, from the keyboard 31, a prompt message as indicated by the dotted line 43 in the same figure is further displayed, prompting the user to enter a password. When the user inputs a password from the keyboard 31, the user access rights file stored on the disk 34 is searched (step 13), and if a record matching the input user name and password is found, all records in the same record are searched. RAMJ in the control unit 33 uses the access right level value as the user's access right level.
Set the second variable AL (step 15). If no matching record is found, the CRT 32 issues a message to the effect that the user is not recognized, and the process returns to step 12 to wait for the user's name and password to be re-entered.

ステップ16では第4図の点線内44のようなプロンプ
トメツセージ「%jをCRT32に出力し、動作コマン
ドの入力待ち状態となる。ここで利用者によってキーボ
ード31から何らかの動作コマンドか入力されると、割
当するコマンド処理ルーヂンか存在するか否かを判断し
くステップ17)、存在すれば利用者のアクセス権レベ
ルを保持する変数ALと対応するコマンドアクセス擢レ
コードのアクセス権レベル値が比較され(ステップ19
)、両者か等しいかまたは変数A Lの方が小さければ
(レベルが同一かまたは利用者の方がより上位レベルで
あれば)、そのコマンドか実行される(ステップ20)
。割当するコマンI・処理ルーチンが存在しないか利用
者の方かより下位レベルであれば、CRT32に「別当
コマン1へなし」のメツセージが表示され(ステップ2
1)、ステップ16に戻り、コマンドの再入力待ちとな
る。従って、以上により、使用可能な動作コマンドは利
用者のアクセス権レベル以下に限定される。
In step 16, a prompt message "%j" as indicated by the dotted line 44 in FIG. It is determined whether a command processing routine to be assigned exists or not (Step 17). If it exists, the access privilege level value of the corresponding command access record is compared with the variable AL that holds the user's access privilege level (Step 19).
), if they are equal, or if the variable A L is smaller (if the levels are the same or if the user is at a higher level), then the command is executed (step 20).
. If the command I/processing routine to be assigned does not exist or is at a lower level than the user, a message "No command to assigned command 1" will be displayed on the CRT 32 (step 2).
1), the process returns to step 16 and waits for the command to be input again. Therefore, as a result of the above, usable operation commands are limited to those below the user's access privilege level.

また、ステップ16において、装置の使用権を放棄する
コマンドがキーボード31が入力されると、ステップ1
8の判定によりステップ12に戻るので、別のアクセス
権レベルを持つ利用者によって装置の使用が可能となる
Further, in step 16, when a command to relinquish the right to use the device is input on the keyboard 31, step 1
As a result of the determination in step 8, the process returns to step 12, so that the device can be used by a user with another access right level.

動作パラメータの設定は、通常他のコマンドと同しよう
にステップ16において、パラメータ設定コマンI〜(
例えば5ET)をキーボード31から入力することによ
り行われ、これによりパラメータ設定コマンド処理ルー
ヂンが実行され、CRT32に設定項目となる複数のパ
ラメータの名称と現在設定値か表示される。このとき、
本発明では前記パラメータアクセス権ファイルを参照し
、各レコードのアクセス権レベル値と変数ALを照合す
ることによって、利用者のアクセス権レベル以下のパラ
メータに限定して表示する。
The operation parameters are usually set using the parameter setting commands I to (
For example, 5ET) is input from the keyboard 31, thereby executing a parameter setting command processing routine, and the names and current setting values of a plurality of parameters serving as setting items are displayed on the CRT 32. At this time,
In the present invention, by referring to the parameter access right file and comparing the access right level value of each record with the variable AL, only parameters that are at or below the user's access right level are displayed.

例えば、本体部35に装備された不図示のレーザ装置に
関するパラメータの設定画面は第5図のようになり、(
a)は前記保守要員レベル、(b)は前記熟練操作員レ
ベル、(C)は前記簡易操作員レベルの設定画面を表わ
す。同図において、’La5er IJ’Tiger 
Mode」は保守要員レベル、’Repetiton 
l1ate」’Pu1se Energy」’+Iig
h VolgaLe」ハ熟M 操作員レベルのアクセス
権レベルを持つパラメータである。「二」記号の右側の
現在設定値は通常反転文字て表示し、設定値の変更が可
能であることを示す。
For example, the parameter setting screen for the laser device (not shown) installed in the main body 35 is as shown in FIG.
(a) shows the setting screen for the maintenance personnel level, (b) shows the setting screen for the skilled operator level, and (C) shows the setting screen for the simple operator level. In the same figure, 'La5er IJ'Tiger
'Mode' is maintenance personnel level, 'Repetiton'
l1ate"'Pu1se Energy"'+Iig
h VolgaLe” Haju M This is a parameter that has an access right level of the operator level. The current setting value to the right of the "two" symbol is usually displayed in reverse font to indicate that the setting value can be changed.

以上によれば、利用者のアクセス権レベルより大きいパ
ラメータはCRT32上で完全に不可視になるわけであ
るが、あるパラメータを設定するために相関関係にある
より上位レベルのパラメタの現在設定値を確認したい場
合がある。このようなとき、パラメータのアクセス権レ
ベルを読み出しアクセス権レベルと書き込みアクセス権
レベルに分解し、読み出しアクセス権レベルを書ぎ込み
アクセス権レベルより下位のレベルに設定すれば、これ
を解決することができる。書き込みアクセス権レベルよ
り低いが読み出しアクセス権レベルより高い利用者にと
ってそのパラメータの現在値は反転表示されず、それが
確認用であると認識される。
According to the above, parameters that are higher than the user's access privilege level are completely invisible on the CRT32, but in order to set a certain parameter, it is necessary to check the current setting values of correlated higher-level parameters. There are times when you want to. In such cases, you can resolve this by breaking down the parameter access privilege level into a read access privilege level and a write access privilege level, and setting the read access privilege level to a level lower than the write access privilege level. can. For users below the write access level but above the read access level, the current value of that parameter is not highlighted and is recognized as a confirmation.

ところで、アクセス権レベルは装置製造者側が必ずしも
全てを確定できない側面がある。特に熟練操作員と簡易
操作員の境界は、半導体製造者側が簡易操作員に対して
どの程度の職務分担を与えるかが未知の部分がある。こ
のようなときアクセス権しベル設定コマン[・を設り、
キーボード31を用いてアクセス権ファイルに対して利
用者のアクセス権しベル以下のものを変更できるように
ずれは確定値である必要はなくなる。
By the way, there is an aspect in which the device manufacturer cannot necessarily determine all the access right levels. In particular, regarding the boundary between skilled operators and simple operators, it is unclear how much duties the semiconductor manufacturer will assign to the simple operators. In such a case, give access rights and set the bell setting command [・,
The deviation does not need to be a fixed value since the user can change the access rights to the access rights file using the keyboard 31 and change anything below the bell.

[発明の効果] 以」―説明したように、本発明のアクセス権判別機構を
備えることにより、利用者の使用目的と装置に対する専
門知識の度合いに応して操作環境を限定し、不必要な情
報を隠蔽するのて、利用841Jに最適な操作環境を提
供し、誤操作の可能性を低減させることができる。
[Effects of the Invention] As explained above, by providing the access right determination mechanism of the present invention, the operating environment is limited according to the user's purpose of use and the degree of expertise regarding the device, and unnecessary By hiding the information, it is possible to provide an optimal operating environment for users 841J and reduce the possibility of erroneous operations.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の一実施例に係る半導体製造装置の処
理手順の概要を示すフローチャー1・、第2図は、木発
明を適用することのできる一般的な半導体製造装置の概
要ブロック図、第3図は、アクセス権レコードフォーマ
ット図、第4図は、利用溶とパスワードの入力画面例を
示す図、第5図は、木発明を適用したアクセス権レベル
の異る同の動作パラメータ設定画面を示す図、第6図は
 5 ステッパーの一例を示す概略図である。 図において、31はキーボード、32はCRT、33は
制御部、34はディスク、35は本体部である。 特開平3 223901(7) 4r’7エ/X7 ・丁−ン
FIG. 1 is a flowchart 1 showing an overview of the processing procedure of a semiconductor manufacturing device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a schematic block diagram of a general semiconductor manufacturing device to which the invention can be applied. Figure 3 is an access rights record format diagram, Figure 4 is a diagram showing an example of the input screen for usage and passwords, and Figure 5 is the same operating parameters with different access rights levels applying the tree invention. FIG. 6, which is a diagram showing a setting screen, is a schematic diagram showing an example of a stepper. In the figure, 31 is a keyboard, 32 is a CRT, 33 is a control section, 34 is a disk, and 35 is a main body. JP-A-3 223901 (7) 4r'7E/X7 ・Town

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)多数の動作コマンドと動作パラメータに従って動
作する半導体製造装置において、 利用者の該装置に対する使用目的と必要とされる専門知
識の程度に応じて少なくとも2つ以上のアクセス権レベ
ルに分類された動作コマンド群と動作パラメータ群を表
示可能な表示手段と、 各動作コマンドと各動作パラメータに割当て権利。 られたアクセス権レベルを記憶する第1記憶部分と、利
用者毎に利用者名とパスワードと利用者のアクセス権レ
ベルの組合せを予め複数登録した第2記憶部分を有する
記憶手段と、 該装置に対する操作の最初に利用者がキー入力した利用
者名とパスワードを前記第2記憶部分から順次読み出し
たものとそれぞれ照合し、該利用者の該装置へのアクセ
ス権レベルを決定すると共に、該利用者が実行可能な動
作コマンドと設定可能な動作パラメータを前記第1記憶
部分を参照することによって該利用者のアクセス権レベ
ル以下に限定し、より上位のアクセス権レベルの動作コ
マンドと動作パラメータを前記表示手段において不可視
にする制御手段と、を備えたことを特徴とする半導体製
造装置。
(1) In semiconductor manufacturing equipment that operates according to a large number of operating commands and operating parameters, access rights are classified into at least two levels depending on the user's purpose for using the equipment and the level of specialized knowledge required. A display means capable of displaying a group of operation commands and a group of operation parameters, and rights assigned to each operation command and each operation parameter. storage means having a first storage part that stores access rights levels assigned to the device; and a second storage part that stores in advance a plurality of combinations of user names, passwords, and user access rights levels for each user; The user name and password key-input by the user at the beginning of the operation are compared with those read out sequentially from the second storage section to determine the access right level of the user to the device, and limits the executable operation commands and settable operation parameters to those below the access right level of the user by referring to the first storage portion, and displays the operation commands and operation parameters of a higher access right level. A semiconductor manufacturing apparatus comprising: a control means for making the means invisible.
(2)前記第1記憶部分は、前記動作パラメータのアク
セス権レベルを、読み出しアクセス権レベルと書込みア
クセス権レベルに分離して記憶している請求項(1)に
記載の半導体製造装置。
(2) The semiconductor manufacturing apparatus according to claim 1, wherein the first storage section stores the access right level of the operating parameter separately into a read access right level and a write access right level.
(3)前記制御手段は、キー入力に応じて利用者のアク
セス権レベル以下の別利用者名・パスワード・アクセス
権レベルの登録と削除を、前記第2記憶部分に対して行
なう請求項(1)または(2)に記載の半導体製造装置
(3) The control means registers and deletes other user names, passwords, and access rights levels lower than the user's access rights level in response to key inputs in the second storage portion (1). ) or the semiconductor manufacturing apparatus according to (2).
(4)前記制御手段は、キー入力に応じて利用者のアク
セス権レベル以下の前記動作コマンドと前記動作パラメ
ータのアクセス権レベルを、前記第1記憶部分に再設定
する請求項(1)、(2)または(3)に記載の半導体
製造装置。
(4) The control means resets the access right level of the operation command and the operation parameter, which are lower than the user's access right level, in the first storage portion in response to a key input. 2) or the semiconductor manufacturing apparatus according to (3).
(5)上位のアクセス権レベルを持つコマンドとパラメ
ータが、半導体製造装置製造者側の保守要員を対象とし
た保守・維持・点検用のコマンドと、工場出荷時に設定
されるべき装置の構成に関するパラメータと、性能補償
のためのパラメータであり、中位のアクセス権レベルを
持つコマンドとパラメータが、半導体製造者側の熟練操
作員に任された保守・維持・点検用のコマンドと、性能
維持のためのパラメータであり、下位のアクセス権レベ
ルを持つコマンドとパラメータが半導体製造者側の簡易
操作員を対象としたウェハを処理するために必要なコマ
ンドとパラメータである請求項(1)、(2)、(3)
、または(4)に記載の半導体製造装置。
(5) Commands and parameters with higher access privilege levels include commands for maintenance, maintenance, and inspection aimed at maintenance personnel at semiconductor manufacturing equipment manufacturers, and parameters related to equipment configuration that should be set at the time of factory shipment. and parameters for performance compensation, and commands and parameters with intermediate access privilege levels are commands and parameters for maintenance, maintenance, and inspection left to experienced operators on the semiconductor manufacturer's side, and commands and parameters for performance maintenance. Claims (1) and (2) wherein the commands and parameters having a lower access right level are commands and parameters necessary for processing wafers intended for simple operators on the semiconductor manufacturer's side. ,(3)
, or the semiconductor manufacturing apparatus according to (4).
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