JPH03220404A - レーザ干渉装置 - Google Patents

レーザ干渉装置

Info

Publication number
JPH03220404A
JPH03220404A JP2015867A JP1586790A JPH03220404A JP H03220404 A JPH03220404 A JP H03220404A JP 2015867 A JP2015867 A JP 2015867A JP 1586790 A JP1586790 A JP 1586790A JP H03220404 A JPH03220404 A JP H03220404A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
screen
reflected
light
inclination
inspected
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2015867A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2754069B2 (ja
Inventor
Kenji Yasuda
賢司 安田
Shigenori Oi
大井 重徳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujinon Corp
Original Assignee
Fuji Photo Optical Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Optical Co Ltd filed Critical Fuji Photo Optical Co Ltd
Priority to JP2015867A priority Critical patent/JP2754069B2/ja
Publication of JPH03220404A publication Critical patent/JPH03220404A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2754069B2 publication Critical patent/JP2754069B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明はレーザ干渉装置に関し、特に被検体などのセツ
ティングの容易化に有効なレーザ干渉装置に関する。
[従来技術の説明] ムスプリッタおよびコリメータレンズを通して基準原器
に照射すると共に基準原器を通して被検体! に照射し、基準原器の参照面からの反射光および被検体
の被検面からの反射光を上記コリメータレンズおよびビ
ームスプリッタを通してスクリーンに集光させ、スクリ
ーンに集光した反射光の光点位置から基準原器の参照面
の傾きおよび被検体の被検面の傾きを調整し、基準原器
および被検体を干渉縞が発生する状態にセツティングす
るようになっている。
従来のレーザ干渉装置は、基準原器の参照面および被検
体の被検面からの反射光をコリメータレンズおよびビー
ムスプリッタを通してスクリーンに集光させるだけの構
成であり、基準原器や被検体の傾きに起因して基準原器
の参照面からの反射光や被検体の被検面からの反射光が
スクリーン外にはずれた場合に反射光をスクリーンに戻
すような手段はもうけられていなかった。
[発明が解決しようとする課題] そのため、従来のレーザ干渉装置では、基準原器や被検
体の傾きに起因して基準原器の参照面からの反射光や被
検体の被検面からの反射光がスフノーン外にはずれた場
合に、スクリーンに参叩面からの反射光や被検面からの
反射光の光点が集光せず、基準原器や被検体をどの方向
に傾斜させたらよいか判断できなくなり、基準原器や被
検体の傾き調整が極めて困難になるという問題があった
本発明は上記観点に基づいてなされたもので、その目的
は、被照射体である基準原器や被検体の傾きに起因して
基準原器や被検体からの反射光がスクリーン外にはずれ
ている場合でも基準原器や被検体の傾き調整を容易に行
なうことのできるレザ干渉装置を提供することにある。
[課題を解決するための手段] 本発明においては、レーザ光をビームスプリッタおよび
コリメータレンズを通して被照射体に照11L、前記@
照射体からの反射光を前記コリメタレンズおよび前記ビ
ームスプリッタを通してスクリーンに集光させ、前記ス
クリーンに集光した光点位置から前記被照射体の傾きを
調整するレーザ干渉装置において、前記スクリーンと前
記ビームスプリッタとの間に、前記スクリーン外にはず
れた前記被照射体からの反射光を前記スクリーンに導く
反射手段をもうけたレーザ干渉装置によって、上記目的
を達成する。
[作用] 上記構成によれば、被照射体の傾きに起因して被照射体
からの反射光がスクリーン外にはずれても、反射手段に
よってスクリーンに反射され、スクリーンに被照射体か
らの反射光の光点が得られる。そのため、スクリーン上
の被照射体がらの反射光の光点位置の変化から被照射体
をどのような方向へ傾斜させればよいかを知ることがで
き、被照射体の傾き調整が容易になる。
[発明の実施例] 添付図面は本発明の一実施例を示す構成図である。
図において、1はレーザ光源で、このレーザ光源1から
のレーザ光りが、ビームダイパージャ2によって発散さ
れた後、側方よりビームスプリッタ3に入り、ビームス
プリッタ3の反射面3aにより反射されたレーザ光がビ
ームスプリッタ3の下方に設けられたコリメータレンズ
4に入射して平行光となり、基準原器5の入射面5aに
入射するようになっている。ビームスブリック3の上方
でコリメータレンズ4の焦点位置にスクリーン6が設け
られている。スクリーン6は、円板状のスリガラスで、
その中心に細孔かうなるアライメントポイント6aを備
えている。アライメントポイント6aはコリメータレン
ズ4の焦点に一致するようになっている。基準原器5は
、入射面5aと裏面の参照面5bとが非平行に形成され
た板状の光学ガラスなどの光学部材で、入射面5aに反
射防止コーティングが施されていると共に、参照面5b
が精密な平坦面に形成されている。基準原器5に入射し
たレーザ光は、一部が参照面5bで反射し、大部分が基
準原器5を透過する。基準原器5は傾き調整螺子7によ
って傾きを調整することができるようになっている。基
準原器5の下方にはガ゛ラスなどの被検体8が配置され
る。被検体8は、その被検面8aが基準原器5の参照面
5bと離間して対向するように、配置される。基準原器
5を透過したレーザ光は被検体8の被検面8aで反射さ
れる。被検体8は、試料台9に載置され、試料台9の傾
きを調整する傾き調整螺子10によってその傾きを調整
することができるようになっている、 上記被検体8がレンズなどの球面形状部材である場合は
、上記基準原器5は球面形状を有する球面原器となる。
11は反射部材で、スクリーン6とビームスプリッタ3
との開にもうけられている。反射部材11は、円錐の上
部を切欠いた形状で、内面11aが反射面になっており
、上端がスクリーン6の外周に接する下床がりでもうけ
られている。
反射部材11の下端は必ずしもビームスプリッタ3に達
する必要はなく、多少離れていてもよい。
このような反射部材11は、被検体8の被検面8aの傾
きに起因して被検面8aで反射したレーザ光が又クリー
ン6の外にはずれた場合に、それをスクリーン6に戻す
ように反射する。また、反射部材11は、基準原器5の
傾きに起因して基準原器5の参照面5bで反射したレー
ザ光がスクリン6の外にはずれた場合にも、それをスク
リン6に戻すように反射する。反射部材11としては、
上述の円錐の上部を切欠いた形状に限定されるものでは
なく、ビームスプリッタ3を経た反射光がスクリーン6
の外にはずれた場合にそれをスクリーン6に導(ように
反射するものであればよく、例えば、円筒、多角柱、多
角錐の上部を切欠いた形状なども可能であり、また、内
部がプリズムのように空洞でないものでもよい。
以上のごとき構成で、被検体8の干渉縞を発生させるi
j提として、基準原器5の参照面5bと被検体8の被検
面8aとが精密に平行となるように、基準原器5および
被検体8の傾きが調整される。基準原器5は、参照面5
bで反射したレーザ光がコリメータレンズ4gよびビー
ムスプリッタ3を経てスクリーン6のアライメントポイ
ント6aに集光するように、傾き調整螺子7によって調
整される。被検体8は、被検面8aで反射したレーザ光
が基準原器5.コリメータレンズ4およびビームスプリ
ッタ3を経てスクリーン6のアライメントポイント6a
に集光するように、傾き調整螺子10によって調整され
る。
被検体8は試料台9に置かれた場合に個々の被検体で被
検面8aの傾きが精密には同一でないなどの理由で、被
検体8を変えるごとに傾き調整が必要であり、また、そ
の傾きに起因して被検体8の被検面8aで反射したレー
ザ光が破線で示すようにスクリーン6の外にはずれる場
合がある。従来の干渉装置においては反射部材11がな
かったので、被検体8の被検面8aからの反射光がスフ
ノーン6の外にはずれた場合、被検面8aからの反射光
がスクリーン6に集光せず、そのため、被検面8aをど
の方向に傾斜させたらよいか全く判断できなかった。本
実施例によれば、被検面8aからの反射光がスクリーン
6の外にはずれた場合、反q・1手段11によって破線
で示すようにスフノーン6に反射され、スクリーン6に
集光する。
この集光した光点の位置は被検面8aの傾きの変化に応
して変化するので、スクリーン6上の光点位置の変化を
スクリーン6の上方から肉眼観察によりまたはスクリー
ン6上に設けたテレビカメラによる像を観察することに
より、被検面8aをどの方向に傾斜させればよいかを知
ることができる。そのたぬ、反射光がスクリーン6の外
にはずれた場合でも、反射光がアライメントポイント6
aに集光するように被検面8aの傾きを従来技術と比較
して極めて容易に調整することことができる。なお、反
射部材11で反射してアライメントポイント6aに集光
する場合があるが、反射部材11が円錐の上部を切欠い
た形状や円筒形状であれば反射部材11で反射して収光
した場合に光点が楕円になるので反射部材11で反射し
たものであることを知ることができ、また、このような
場合には被検面8aと参照面5bとが精確に平行となっ
ていないために干渉縞が発生しないので被検体8の傾き
調整をやり直せばよい。
基準原器5は搬送時の取外し/再取付けや熱的影響など
により傾きが変化する。このような理由で基準原器5か
らの反射光がスクリーン6の外にはずれた場合にも、反
射部材11によってスクリン6に反射されるので、基準
原器5の傾き調整が極めて容易になる。
基準原器5の参照面5bからの反射光がアライメントポ
イント6に集光するように基準原器5の傾きが調整され
、被検体8の被検面8aからの反射光が同様にアライメ
ントポイント6aに集光するように被検体8の傾きが調
整されることで、基準原器5の参照面5bと被検体8の
被検面8aとが精密に平行となり、基準原器5の参照面
5bで反射したレーザ光と被検体8の被検面8aで反射
したレーザ光とが干渉して干渉縞が発生し、スクリーン
6のアライメントポイント6aを通して干渉縞を観察す
ることができる。
なお、被検体8の試料台9側の面8bには試料台9に載
置する前に油や粉などを塗布しておく。
このようにすることにより、スクリーン6上には被検体
8の裏面8bからの反射光による集光点や干渉縞が生ず
ることがなく、被検体8の被検面8aからの反射光のみ
による光点や干渉縞が得られ、作業上好ましい。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、スクリーンとビー
ムスプリッタとの間にスクリーン外にはずれた被照射体
からの反射光をスクリーンに反射する反射手段をもうけ
たので、被照射体の傾きに起因して被照射体からの反射
光がスクリーン外にはずれた場合でも、反射手段によっ
てスクリーンに導かれ、スクリーンに被μs射体からの
反射光の光点が得られ、スクリーン上の被照射体からの
反射光の光点位置の変化から被暉射体をどのような方向
へ傾斜させればよいかを知ることができ、被照射体の傾
き調整が容易になるなどの効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
添付図面は本発明の一実施例を示す構成図であ■−・・
レーザ光源  3・・・ビームスプリッタ4・・・コリ
メータレンズ  5・・・基準原器6・・・スクリーン
  8・・・被検体11・・・反射部材

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1)レーザ光をビームスプリッタおよびコリメータレン
    ズを通して被照射体に照射し、前記被照射体からの反射
    光を前記コリメータレンズおよび前記ビームスプリッタ
    を通してスクリーンに集光させ、前記スクリーンに集光
    した光点位置から前記被照射体の傾きを調整するレーザ
    干渉装置において、前記スクリーンと前記ビームスプリ
    ッタとの間に、前記スクリーン外にはずれた前記被照射
    体からの反射光を前記スクリーンに導く反射手段をもう
    けたレーザ干渉装置。
JP2015867A 1990-01-25 1990-01-25 レーザ干渉装置 Expired - Lifetime JP2754069B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015867A JP2754069B2 (ja) 1990-01-25 1990-01-25 レーザ干渉装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2015867A JP2754069B2 (ja) 1990-01-25 1990-01-25 レーザ干渉装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH03220404A true JPH03220404A (ja) 1991-09-27
JP2754069B2 JP2754069B2 (ja) 1998-05-20

Family

ID=11900756

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2015867A Expired - Lifetime JP2754069B2 (ja) 1990-01-25 1990-01-25 レーザ干渉装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2754069B2 (ja)

Also Published As

Publication number Publication date
JP2754069B2 (ja) 1998-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10514293B2 (en) Speckle reduction method and apparatus
JPH02287236A (ja) 下地の上に置かれた液滴の45゜未満の接触角を測定する方法と装置
JP2004102225A (ja) 適応光学装置を有する顕微鏡、特にレーザ走査型顕微鏡
JPH08505952A (ja) 走査機能を備えた検査干渉計
JP3227106B2 (ja) 内径測定方法および内径測定装置
JPH04171415A (ja) 長焦点深度高分解能照射光学系
JPS63765B2 (ja)
KR19980063666A (ko) 자동초점조정방법 및 장치
JPH03220404A (ja) レーザ干渉装置
JP2003177292A (ja) レンズの調整装置および調整方法
JPH07139931A (ja) レーザ走査顕微鏡のレーザ照射装置
JP2003161610A (ja) 光学式測定装置
JPH05297278A (ja) レーザー光照射用光学装置
JPS60211306A (ja) 縞走査シエアリング干渉測定装置における光学系調整方法
JPH08261734A (ja) 形状測定装置
JPH1138299A (ja) 共焦点光学系の調整方法
JPH11125510A (ja) 干渉計及び干渉計におけるアライメント方法
JPH0540225A (ja) 走査形顕微鏡
JPH04305610A (ja) 空間フィルターの設置方法
JPS63285452A (ja) 線状体端面の検査装置
JP3215730B2 (ja) レンズ偏心測定装置
JPH01146380A (ja) レーザ光の焦点検出方法及びレーザ光の焦点検出装置
JPH0720094A (ja) 超音波振動測定装置
JPH06137827A (ja) 光学的段差測定器
KR19980068987A (ko) 광픽업장치

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313532

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080306

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090306

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090306

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100306

Year of fee payment: 12

EXPY Cancellation because of completion of term