JPH03219455A - 光磁気ヘッド装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、光磁気記録媒体に情報の記録、再生および消
去を行うための光磁気ヘッド装置の中で、特にフォーカ
スエラー信号の検出にスポットサイズ検出法を用いた光
磁気ヘッド装置に関するものである。

（従来の技術） フォーカスエラー信号の検出にスポットサイズ検出法を
用いた従来の光磁気ヘッド装置の構成例を第８図に示す
。光源である半導体レーザ１からの出射光はコリメート
レンズ２で平行光化され、ビームスプリッタ１０および
１１を透過したのち、対物レンズ４で光磁気記録媒体５
上に集光される。光磁気記録媒体５からの反射光は対物
レンズ４を逆向きに透過して再び平行光化されたのち、
一部がビームスプリッタ１１で反射され、残りはビーム
スプリッタ１１を透過する。ビームスプリッタ１１の反
射光は１／２波長板６を透過して偏光面が４５度回転し
たのち、偏光ビームスプリッタ１２で透過光と反射光の
直交する二つの偏光成分に分離される。偏光ビームスプ
リッタ１２の透過光および反射光は、それぞれ収束レン
ズ１３および１４で光検出器１５および１６上に集光さ
れる。光検出器１５および１６からの出力の差をとるこ
とにより、光磁気記録媒体５に記録された情報が再生さ
れる。一方、ビームスプリッタ１１の透過光は一部がビ
ームスプリッタ１０で反射される。

ビームスプリッタ１０の反射光は収束レンズ１７で収束
光化されたのち、ハーフミラ−１８で透過光と反射光の
二つに分離される。ハーフミラ−１８の透過光は直接光
検出器２０で受光され、ハーフミラ−１８の反射光はミ
ラー１９で９０度偏向されたのち同じく光検出器２０で
受光される。光検出器２０は、ハーフミラ−１８の透過
光の集光点より前方で、かつハーフミラ−１８の反則光
の集光点より後方の位置に設けられている。この光検出
器２０は複数の受光素子から構成されており、各受光素
子からの出力によりスポットサイズ検出法を用いてフォ
ーカスエラー信号が検出される。

第８図の光磁気ヘッド装置におけるフォーカスエラー信
号の検出原理を第９図に示す。光検出器２０は複数の受
光素子２９〜３４から構成されている。光スポット３５
および３６はそれぞれ第８図のハーフミラ−１８の透過
光および反射光に対応しており、各々が受光素子２９〜
３１および受光素子３２〜３４にまたがって照射される
ようになっている。光磁気記録媒体５が対物レンズ４に
対して合焦状態にある場合は図の（ｂ）に示すように、
光スポット３５および３６の大きさはほぼ同じであるが
、光磁気記録媒体５が対物レンズ４に近すぎる場合は図
の（ａ）に示すように、光スポット３５の大きさは（ｂ
）に比べて大きくなるため受光素子２９および３１に照
射される割合が多くなり、光スポット３６の大きさは（
ｂ）に比べて小さくなるため受光素子３３に照射される
割合が多くなる。逆に、光磁気記録媒体５が対物レンズ
４から速すぎる場合は図の（ｅ）に示すように、光スポ
ット３５の大きさは（ｂ）に比べて小さくなるため受光
素子３０に照射される割合が多くなり、光スポット３６
の大きさは（ｂ）に比べて大きくなるため受光素子３２
および３４に照射される割合が多くなる。従って、受光
素子２９〜３４からの出力をそれぞれ順にＡ−Ｆで表わ
すと、（Ａ＋Ｃ＋Ｅ）−（Ｂ＋Ｄ＋Ｆ）の値は図の（ａ
）〜（Ｃ）に対してそれぞれ正、０、負となり、この値
をフォーカスエラー信号として用いることができる。こ
のようなフォーカスエラー信号の検出方法はスポットサ
イズ検出法あるいは前後差動法として知られており、例
えばＪｐｎ、　Ｊ、　Ａｐｐｌ、　Ｐｈｙｓ、、　Ｖｏ
ｌ、　２６．５ｕｐｐ１．２６−４゜ｐｐ、　１８７−
１９０やＰｒｏｃ、　５ＰＩＥ、　Ｖｏｌ、　１０７８
．　ｐｐ、　１２２−１２６に述べられている。

ところで、トラックエラー信号の検出方法に関しては、
サンプルサーボ方式の光磁気記録媒体を用いる場合には
、光磁気記録媒体からの反射光の光量がそのまま）・ラ
ックエラー信号となるので、受光素子２９〜３４からの
出力の総和、すなわちＡ＋Ｂ十〇＋Ｄ＋Ｅ＋Ｆをトラッ
クエラー信号として用いることができる。また、連続サ
ーボ方式の光磁気記録媒体を用いる場合には、例えば光
磁気記録媒体のトラック方向が光検出器２０において光
スポット３５および３６をそれぞれ三つに分割する分割
線の方向と一致するようにしておけば、プッシュプル法
の原理によりＡ−ＣまたはＤ−Ｆをトラックエラー信号
として用いることができる。

（発明が解決しようとする課題） 以上に述べた従来の光磁気ヘッド装置においては、光磁
気記録媒体５に記録された情報を再生するための光検出
器１５および１６と、フォーカスエラー信号、トラック
エラー信号を検出するための光検出器２０を別々に設け
る必要がある。また、光磁気記録媒体５に記録された情
報の再生に必要な検光子に相当する偏光ビームスプリッ
タ１２と、スポットサイズ検出法を用いてフォーカスエ
ラー信号を得るための部品であるハーフミラ−１８およ
びミラー１９をも別々に設ける必要がある。このため光
磁気ヘッド装置の部品点数が多くなって値段が高価にな
ると共に、光磁気ヘッド装置の重量が大きくなってアク
セス時間が遅くなるという課題がある。

本発明の目的は、このような従来の課題を解決し、部品
点数が少なく値段が安価であると共に、重量が小さくア
クセス時間が速い光磁気ヘッド装置を提供することにあ
る。

（課題を解決するための手段） 本発明の第一の光磁気ヘッド装置は、光源と、この光源
からの出射光を光磁気記録媒体上に集光するだめの集光
光学系と、前記光磁気記録媒体からの反則光を前記光源
からの出射光と分離する手段と、前記分離された光を用
いて前記光磁気記録媒体に記録された情報の再生、およ
びフォーカスエラー信号、トラックエラー信号の検出を
行うための検出光学系から構成される光磁気ヘッド装置
において、前記検出光学系中に、前記分離された光が収
束光として入射する位置に設けられており、前記収束光
を直交する二つの偏光成分に分離するためのウォラスト
ンプリズムと、このウォラストンプリズムを透過した前
記二つの偏光成分の光軸を含む面内における、一方の偏
光成分の集光点より前方で他方の偏光成分の集光点より
後方の位置に設けられており、前記二つの偏光成分の両
方を受光するための複数の受光素子から構成される光検
出器を有し、該光検出器の各受光素子からの出力により
、前記光磁気記録媒体に記録された情報を再生すると共
に、前記光検出器上に形成される二個の光スポットの大
きさの違いによりスポットサイズ検出法を用いてフォー
カスエラー信号を検出することを特徴とする。

また、本発明の第二の光磁気ヘッド装置は、光源と、こ
の光源からの出射光を光磁気記録媒体上に集光するため
の集光光学系と、前記光磁気記録媒体からの反射光を前
記光源からの出射光と分離する手段と、前記分離された
光を用いて前記光磁気記録媒体に記録された情報の再生
、およびフォーカスエラー信号、トラックエラー信号の
検出を行うための検出光学系から構成される光磁気ヘッ
ド装置において、前記検出光学系中に、前記分離された
光が収束光として入射する位置に設けられており、前記
収束光を直交する二つの偏光成分に分離するためのサバ
ール板と、このサバール板を透過した前記二つの偏光成
分のうち一方の偏光方向に平行で他方の偏光方向に垂直
な面内における、一方の偏光成分の集光点より前方で他
方の偏光成分の集光点より後方の位置に設けられており
、前記二つの偏光成分の両方を受光するだめの複数の受
光素子から構成される光検出器を有し、該光検出器の各
受光素子からの出力により、前記光磁気記録媒体に記録
された情報を再生すると共に、前記光検出器上に形成さ
れる二個の光スポットの大きさの違いによりスボノＩ・
サイズ検出法を（１０） 用いてフォーカスエラー信号を検出することを特徴とす
る。

（作用） ウォラストンプリズムに収束光が入射すると、透過した
二つの偏光成分の光軸を含む面内における、二つの偏光
成分の集光点の位置が光軸方向で前後にずれるという現
象が生じる。従って、二つの偏光成分の両方を受光する
ための複数の受光素子から構成される光検出器を、一方
の偏光成分の集光点より前方で他方の偏光成分の集光点
より後方の位置に設けることにより、この光検出器から
スポットサイズ検出法を用いてフォーカスエラー信号を
検出することが可能である。

また、サバール板に収束光が入射すると、透過した二つ
の偏光成分には共に非点収差が発生するが、一方の偏光
方向に平行で他方の偏光方向に垂直な面内における集光
点の位置に注目すると、やはり二つの偏光成分の集光点
の位置が光軸方向で前後にずれるという現象が生じる。

従って、二つの偏光成分の両方を受光するための複数の
受光素子から構成される光検出器を、一方の偏光成分の
集光点より前方で他方の偏光成分の集光点より後方の位
置に設けることにより、同様にこの光検出器からスポッ
トサイズ検出法を用いてフォーカスエラー信号を検出す
ることが可能である。

さらに、ウォラストンプリズムおよびサバール板は光磁
気記録媒体に記録された情報の再生に必要な検光子とし
ての役割も兼ねているため、同一の光検出器から光磁気
記録媒体に記録された情報を再生することも可能である
。

（実施例） 以下に図面を参照して本発明の実施例につき説明する。

本発明の第一の光磁気ヘッド装置の実施例の構成を第１
図に示す。光源である半導体レーザ１からの出射光はコ
リメートレンズ２で平行光化され、ビームスプリッタ３
を透過したのち、対物レンズ４で光磁気記録媒体５上に
集光される。光磁気記録媒体５からの反射光は対物レン
ズ４を逆向きに透過して再び平行光化されたのち、一部
がビームスプ（１１） リッタ３で反射される。ビームスプリッタ３の反射光は
１７２波長板６を透過して偏光面が４５度回転し、収束
レンズ７で収束光化されたのち、ウォラストンプリズム
８ａで直交する二つの偏光成分に分離される。ウォラス
トンプリズム８ａを透過した二つの偏光成分は同一の光
検出器９ａで受光される。光検出器９ａは、二つの偏光
成分の光軸を含む面内における、一方の偏光成分の集光
点より前方で他方の偏光成分の集光点より後方の位置に
設けられている。この光検出器９ａは複数の受光素子か
ら構成されており、各受光素子からの出力により光磁気
記録媒体５に記録された情報が再生されると共に、スポ
ットサイズ検出法を用いてフォーカスエラー信号が検出
される。

ウォラストンプリズム８ａの材料としては、水晶、方解
石、ルチル等を用いることができる。例えば水晶を用い
た場合は、常光線に対する屈折率よりも異常光線に対す
る屈折率の方が大きい。

従って、二つの偏光成分の光軸を含む面内における集光
点の位置は、ウォラストンプリズム８ａの接（１２） 台面において常光線から異常光線に変化する偏光成分に
対しては、接合面から遠ざかるように屈折するため光検
出器９ａより後方になり、接合面において異常光線から
常光線に変化する偏光成分に対しては、接合面に近づく
ように屈折するため光検出器９ａより前方になる。

第１図の光磁気ヘッド装置におけるフォーカスエラー信
号の検出原理を第２図に示す。光検出器９ａは複数の受
光素子２１〜２６から構成されている。光スポット２７
および２８はそれぞれ第１図において、ウォラストンプ
リズム８ａの接合面から遠ざかるように屈折する偏光成
分および接合面に近づくように屈折する偏光成分に対応
しており、各々が受光素子２１〜２３および受光素子２
４〜２６にまたがって照射されるようになっている。こ
こで二つの偏光成分の光軸を含む面内における光スポツ
ト径、すなわち第２図に示す光検出器の分割線に直交す
る方向の光スポツト径に注目すると、光磁気記録媒体５
が対物レンズ４に対して合焦状態にある場合は図の・：
Ｃ）に示すように、光スポット２７および２８の径はほ
ぼ同じで（１３） （１４） あるが、光磁気記録媒体５が対物レンズ４に近すぎる場
合は図の（ｂ）に示すように、光スポット２７の径は（
Ｃ）に比べて大きくなるため受光素子２１および２３に
照射される割合が多くなり、光スポット２８の径は（Ｃ
）に比べて小さくなるため受光素子２５に照射される割
合が多くなる。光磁気記録媒体５が対物レンズ４にさら
に近すぎる場合は図の（ａ）に示すように、光スポット
２７の径は（ｂ）に比べてさらに大きくなり、光スポッ
ト２８の径は（ｂ）に比べてさらに小さくなる。逆に、
光磁気記録媒体５が対物レンズ４から遠ずぎる場合は図
の（ｄ）に示すように、光スポット２７の径は（ｅ）に
比べて小さくなるため受光素子２２に照射される割合が
多くなり、光スポット２８の径は（Ｃ）に比べて大きく
なるため受光素子２４および２６に照射される割合が多
くなる。光磁気記録媒体５が対物レンズ４からさらに遠
ずぎる場合は図の（ｅ）に示すように、光スポット２７
の径は（ｄ）に比べてさらに小さくなり、光スポット２
８の径は（ｄ）に比べてさらに大きくなる。従って、受
光素子２１〜２６からの出力をそれぞれＵ−Ｚで表わす
と、（Ｕ＋Ｗ＋Ｙ）−（Ｖ＋Ｘ、＋Ｚ）の値は図の（ａ
）〜（ｅ）に対してそれぞれ正、正、０、負、負となり
、この値をフォーカスエラー信号として用いることがで
きる。

ここで二つの偏光成分の光軸を含む面に直交する面内に
おける光スポツト径、すなわち第２図に示す光検出器の
分割線に平行な方向の光スポット径に注目すると、光ス
ポット２７および２８のどちらに対しても、光磁気記録
媒体５が対物レンズ４に対して合焦状態にある図の（ｅ
）の場合の光スポツト径が最小であり、光磁気記録媒体
５が対物レンズ４に近すぎる図の（ａ）、　（ｂ）およ
び光磁気記録媒体５が対物レンズ４から遠ずぎる図の（
ｄ）、　（ｅ）のいずれの場合も光スポツト径はこれよ
り大きくなる。これは、二つの偏光成分の光軸を含む面
に直交する面内においては、二つの偏光成分の集光点の
位置が光軸方向で前後にずれるということはなく、その
結果として二つのの偏光成分には共に非点収差が発生し
ていることによる。このように二つの偏光成分に非点収
差が発生していても、光検出器９ａの分割線の方向を第
２図に示すように設定しておけば、スボッ（１５） トサイズ検出法を用いたフォーカスエラー信号の検出動
作に悪影響を及ぼすことはない。

本発明の第二の光磁気ヘッド装置の第一の実施例の構成
を第３図に示す。ウォラストンプリズム８ａの代わりに
サバール板８ｂを設けた以外は第１図と同様に構成した
。サバール板８ｂを透過した二つの偏光成分は同一の光
検出器９ｂで受光される。光検出器９ｂは、二つの偏光
成分のうち一方の偏光方向に平行で他方の偏光方向に垂
直な面内における、−方の偏光成分の集光点より前方で
他方の偏光成分の集光点より後方の位置に設けられてい
る。この光検出器９ｂは複数の受光素子から構成されて
おり、各受光素子からの出力により光磁気記録媒体５に
記録された情報が再生されると共に、不ポットサイズ検
出法を用いてフォーカスエラー信号が検出される。

第３図の光磁気ヘッド装置におけるサバール板８ｂの材
料としては、常光線に対する屈折率よりも異常光線に対
する屈折率の方が小さい結晶、例えば方解石を用いるこ
とができる。この場合にサバ−（１６） ル板８ｂで二つの偏光成分が分離される様子を第４図に
示す。サバール板８ｂは、光学軸が図のｘｚ面内でＸ軸
に対し４５度の角度をなす第一の結晶と、光学軸が図の
ｙｚ面内でｙ軸に対し４５度の角度をなす第二の結晶を
貼り合わせた構成になっている。サバール板８ｂへの入
射光のうち偏光方向が図のＸ軸に平行な偏光成分は、第
一の結晶への入射面でｘｚ面内においてＸ軸の正の向き
に近づくようにＲ・され、第一の結晶と第二の結晶の貼
り合わぜ面で再び入射光と平行な方向に屈折されてサバ
ール板８ｂを出射し、光検出器９ｂで受光される。一方
、サバール板８ｂへの入射光のうち偏光方向が図のｙ軸
に平行な偏光成分は、第一の結晶と第二の結晶の貼り合
わせ面でｙｚ面内においてｙ軸の正の向きに近づくよう
に屈折され、第二の結晶からの出射面で再び入射光と平
行な方向に屈折されてサバール板８ｂを出射し、光検出
器９ｂで受光される。

本発明の第二の光磁気ヘッド装置の第二の実施例の構成
を第５図に示す。サバール板８ｂ以外の部品は第３図と
同じであるので説明は省略する。

「１７） （１８） 第５図の光磁気ヘッド装置におけるサバール板８ｂの材
料としては、常光線に列する屈折率よりも異常光線に対
する屈折率の方が大きい結晶、例えば水晶を用いること
ができる。この場合にサバール板８ｂで二つの偏光成分
が分離される様子を第６図に示す。サバール板８ｂの光
学軸の方向は第４図と同じである。サバール板８ｂへの
入射光のうち偏光方向が図のｙ軸に平行な偏光成分は、
第一の結晶への入射面でＸＺ面内においてｙ軸の負の向
きに近づくように屈折され、第一の結晶と第二の結晶の
貼り合わせ面で再び入射光と平行な方向に屈折されてサ
バール板８ｂを出射し、光検出器９ｂで受光される。

一方、サバール板８ｂへの入射光のうち偏光方向が図の
ｙ軸に平行な偏光成分は、第一の結晶と第二の結晶の貼
り合わせ面でｙｚ面内においてｙ軸の負の向きに近づく
ように屈折され、第二の結晶からの出射面で再び入射光
と平行な方向に屈折されてサバール板８ｂを出射し、光
検出器９ｂで受光される。

第３図および第５図の光磁気ヘッド装置におけるフォー
カスエラー信号の検出原理を第７図に示す。

光検出器９ｂは複数の受光素子７１〜７６から構成され
ている。光スポット７７および７８は、第４図における
偏光方向が図のｙ軸に平行な偏光成分および偏光方向が
図のｙ軸に平行な偏光成分、または第６図における偏光
方向が図のｙ軸に平行な偏光成分および偏光方向が図の
ｙ軸に平行な偏光成分にそれぞれ対応しており、各々が
受光素子７１〜７３および受光素子７４〜７６にまたが
って照射されるようになっている。

ここで二つの偏光成分に対する第４図および第６図のｙ
軸に平行な方向の光スポツト径、すなわち第７図に示す
光検出器９ｂの分割線に垂直な方向の光スポツト径に注
目すると、光磁気記録媒体５が対物レンズ４に対して合
焦状態にある場合は図の（ｂ）に示すように、光スポッ
ト７７および７８の径はほぼ同じであるが、光磁気記録
媒体５が対物レンズ４に近ずぎる場合は図の（ａ）に示
すように、光スポット７７の径は（ｂ）に比べて小さく
なるため受光素子７２に照射される割合が多くなり、光
スポット７８の径は（ｂ）に比べて大きくなるため受光
素子７４および７６に照射される割合が多くなる。逆に
、光磁気記録媒体５が対（１９） 物レンズ４から遠すぎる場合は図の（ｅ）に示すように
、光スポット７７の径は（ｂ）に比べて大きくなるため
受光素子７１および７３に照射される割合が多くなり、
光スポット７８の径は（ｂ）に比べて小さくなるため受
光素子７５に照射される割合が多くなる。従って、受光
素子７１〜７６からの出力をそれぞれＵ−Ｚで表わすと
、（ｕ＋ｗ＋ｙ）−（Ｖ＋Ｘ＋Ｚ）　（７）値は図の（
ａ）〜（Ｃ）に対してそれぞれ正、０、負となり、この
値をフォーカスエラー信号として用いることができる。

一方、二つの偏光成分に対する第４図および第６図のｙ
軸に平行な方向の光スポツト径、すなわち第７図に示す
光検出器９ｂの分割線に平行な方向の光スポツト径に注
目すると、光磁気記録媒体５が対物レンズ４に対して合
焦状態にある場合は図の（ｂ）に示すように、光スポッ
ト７７および７８の径はほぼ同じであるが、光磁気記録
媒体５が対物レンズ４に近ずぎる場合は図の（ａ）に示
すように、光スポット７７の径は（ｂ）に比べて大きく
なり、光スポット７８の径は（ｂ）に比べて小さくなる
。逆に、光磁気記録媒体５が対（２０） 物レンズ４から遠ずぎる場合は図の（ｅ）に示すように
、光スポット７７の径は（ｂ）に比べて小さくなり、光
スポット７８の径は（ｂ）に比べて大きくなる。従って
、光検出器９ｂの分割線の方向を第７図に示す方向と直
交する方向に設定しても、同様にフォーカスエラー信号
を検出することができる。

ところで、第１図、第３図および第５図に示す実施例に
おけるトラックエラー信号の検出方法に関しては、サン
プルサーボ方式の光磁気記録媒体を用いる場合には、光
磁気記録媒体からの反射光の光量がそのままトラックエ
ラー信号となるので、受光素子２１〜２６または７１〜
７６からの出力の総和、すなわちｕ＋ｖ＋ｗ＋ｘ＋ｙ＋
ｚをトラックエラー信号として用いることができる。ま
た、連続サーボ方式の光磁気記録媒体を用いる場合には
、例えば光磁気記録媒体のトラック方向が光検出器９ａ
または９ｂの分割線の方向と一致するようにしておけば
、プッシュプル法の原理によりＵ−Ｗまたはｘ−２をト
ラックエラー信号として用いることができる。また、光
スポット２７および２８または７７および７８の光量の
差、すなわち（Ｕ＋Ｖ＋Ｗ）−（ｘ＋ｙ＋ｚ）から光磁
気記録媒体５に記録された情報を再生することができる
。

なお、第１図、第３図および第５図に示す実施例におい
ては、１／２波長板６を用いてウォラストンプリズム８
ａまたはサバール板８ｂへの入射光の偏光面を４５度回
転させているが、１７２波長板６を用いずにウォラスト
ンプリズム８ａまたはサバール板８ｂを入射光の光軸の
回りに４５度回転させて設置しても同様の効果が得られ
る。但しこの場合は、光検出器９ａまたは９ｂも入射光
の光軸の回りに４５度回転させて設置する必要がある。

（発明の効果） 以上述べたように、本発明によれば、単一・の光検出器
を用いて光磁気記録媒体に記録された情報の再生を行う
と共に、フォーカスエラー信号、トランクエラー信号の
検出を行うことができる。また、つ１ラストンプリズム
またはサバール板を光磁気記録媒体に記録された情報の
再生に必要な検光子として使用すると共に、スポットサ
イズ検出法を用いてフォーカスエラー信号を得るための
部品としても使用することができる。その結果、従来の
課題を解決し、部品点数が少なく値段が安価であると共
に、重量が小さくアクセス時間が速い光磁気ヘッド装置
を実現することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の第一の光磁気ヘッド装置の実施例の構
成を示す図、第２図は第１図の光磁気ヘッド装置におけ
るフォーカスエラー信号の検出原理を示す図、第３図は
本発明の第二の光磁気ヘッド装置の第一の実施例の構成
を示す図、第４図は第３図の光磁気ヘッド装置のサバー
ル板で二つの偏光成分が分離される様子を示す図、第５
図は本発明の第二の光磁気ヘッド装置の第二の実施例の
構成を示す図、第６図は第５図の光磁気ヘッド装置のサ
バール板で二つの偏光成分が分離される様子を示す図、
第７図は第３図および第５図の光磁気ヘッド装置におけ
るフォーカスエラー信号の検出原理を示す図、第８図は
従来の光磁気ヘッド装置の構成例を示す図、第９図は第
８図の光磁気ヘッド装置における（２３） フォーカスエラー信号の検出原理を示す図である。 図において、 １・・・半導体レーザ、２・・・コリメートレンズ、３
・・・ビームスプリッタ、４・・・対物レンズ、５・・
・光磁気記録媒体、６・・・１／２波長板、７・・・収
束レンズ、８ａ・・・ウォラストンプリズム、８ｂ・・
・サバール板、９ａ、　９ｂ・・・光検出器、１０、１
１・・・ビームスプリッタ、 １２・・・偏光ビームスプリッタ、 １３、１４・・・収束レンズ、１５．１６・・・光検出
器、１７・・・収束レンズ、１８・・・ハーフミラ−１
９・・・ミラー、２０・・・光検出器、２１〜２６．７
１〜７６・・・受光素子、２７、２８．７７、７８・・
・光スポット、２９〜３４・・・受光素子、３５、３６
・・恍スポット である。 （２４） 第１図 １：半導体レーザ ５：光磁気記録媒体 ７：収束レンズ ８ａ：ウォラストンプリズム ９ａ：光検出器

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）光源と、この光源からの出射光を光磁気記録媒体
   上に集光するための集光光学系と、前記光磁気記録媒体
   からの反射光を前記光源からの出射光と分離する手段と
   、前記分離された光を用いて前記光磁気記録媒体に記録
   された情報の再生、およびフォーカスエラー信号、トラ
   ックエラー信号の検出を行うための検出光学系から構成
   される光磁気ヘッド装置において、前記検出光学系中に
   、前記分離された光が収束光として入射する位置に設け
   られており、前記収束光を直交する二つの偏光成分に分
   離するためのウォラストンプリズムと、このウオラスト
   ンプリズムを透過した前記二つの偏光成分の光軸を含む
   面内における、一方の偏光成分の集光点より前方で他方
   の偏光成分の集光点より後方の位置に設けられており、
   前記二つの偏光成分の両方を受光するための複数の受光
   素子から構成される光検出器とを有し、この光検出器の
   各受光素子からの出力により、前記光磁気記録媒体に記
   録された情報を再生すると共に、前記光検出器上に形成
   される二個の光スポットの大きさの違いによりスポット
   サイズ検出法を用いてフォーカスエラー信号を検出する
   ことを特徴とする光磁気ヘッド装置。
2. （２）光源と、この光源からの出射光を光磁気記録媒体
   上に集光するための集光光学系と、前記光磁気記録媒体
   からの反射光を前記光源からの出射光と分離する手段と
   、前記分離された光を用いて前記光磁気記録媒体に記録
   された情報の再生、およびフォーカスエラー信号、トラ
   ックエラー信号の検出を行うための検出光学系から構成
   される光磁気ヘッド装置において、前記検出光学系中に
   、前記分離された光が収束光として入射する位置に設け
   られており、前記収束光を直交する二つの偏光成分に分
   離するためのサバール板と、このサバール板を透過した
   前記二つの偏光成分のうち一方の偏光方向に平行で他方
   の偏光方向に垂直な面内における、一方の偏光成分の集
   光点より前方で他方の偏光成分の集光点より後方の位置
   に設けられており、前記二つの偏光成分の両方を受光す
   るための複数の受光素子から構成される光検出器を有し
   、該光検出器の各受光素子からの出力により、前記光磁
   気記録媒体に記録された情報を再生すると共に、前記光
   検出器上に形成される二個の光スポットの大きさの違い
   によりスポットサイズ検出法を用いてフォーカスエラー
   信号を検出することを特徴とする光磁気ヘッド装置。