JPH03218441A - 透明体の検出装置及び複屈折測定方法 - Google Patents
透明体の検出装置及び複屈折測定方法Info
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- JPH03218441A JPH03218441A JP30181890A JP30181890A JPH03218441A JP H03218441 A JPH03218441 A JP H03218441A JP 30181890 A JP30181890 A JP 30181890A JP 30181890 A JP30181890 A JP 30181890A JP H03218441 A JPH03218441 A JP H03218441A
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Landscapes
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
この発明は、複屈折を検出することにより透明体の有無
を検出する透明体の検出装置、およびこの装置を用いて
透明体の複屈折を測定する方法に関する． ［従来の技術］ 従来、透明なプラスチック板等の検出装置は、第８図に
示すように、搬送ベルト１の一方側に設けられた発光ダ
イオード２と、搬送ベルトｌの他方側に設けられて発光
ダイオード２がら射出される光を受光する受光素子３と
から構成されている。
を検出する透明体の検出装置、およびこの装置を用いて
透明体の複屈折を測定する方法に関する． ［従来の技術］ 従来、透明なプラスチック板等の検出装置は、第８図に
示すように、搬送ベルト１の一方側に設けられた発光ダ
イオード２と、搬送ベルトｌの他方側に設けられて発光
ダイオード２がら射出される光を受光する受光素子３と
から構成されている。
搬送ベルトｌによってプラスチック板４が搬送され、先
端部すなわちエッジ４ａが発光ダイオード２の射出光の
光路２ａに到達すると、発光ダイオード２から射出され
る光がそのエツジ４ａによって散乱されて受光素子３の
受光量が減少するため、この減少を検出することにより
プラスチック板の存在を検出することできる． また、プラスチック板４を通過する光はプラスチック板
４の表面で一部が反射するので、受光素子が受光する受
光量が減少する．この減少からプラスチック板４の存在
を検出することもできる．［発明が解決しようとする課
題］ しかしながら、エッジ４ａでの散乱による受光素子３の
受光量の減少は瞬間的であるため、その検出は難しい． また、透明度の高いプラスチック板４を通過した光の減
少は僅かであるため、このようなプラスチック板の有無
を判断するためには受光素子の信号のスレッシュドレベ
ルの設定が微妙であり、プラスチック板に埃やゴミが付
着している場合の受光量の減少と判別することが難しく
、ミスカウントの可能性が高いという問題があった． Ｃ発明の目的Ｊ この発明は、上記の問題点に鑑みてなされたもので、そ
の第１の目的は、透明体の有無を確実に横出することの
できる透明体の検出装置を提供することにある．また、
第２の目的は、この検出装置を用いて透明体の複屈折を
測定する方法を提供することにある． ［課題を解決するための手段］ この発明にかかる透明体の検出装置は、透明体に直線偏
光を入射させる発光手段と、透明体を透過した光束を受
ける位置に透過軸が発光手段から射出される光束の電界
ベクトルの振動面と直交するよう配置された検光子と、
検光子を透過した光束の強度を検出する受光手段とを備
える検出手段を複数組備え、各検出手段が透明体に対し
て互いに異なる方向性を持った直線偏光を入射させるよ
う配置したことを特徴とする． また、この発明にかかる複屈折測定方法は、２つの発光
手段により互いに垂直でない異なる方向性を持つ直線偏
光を発生させ、この光束の強度を検出する第１段階と、
検光子を、透過軸が各発光手段から発した光束の電界ベ
クトルの振動面と直交するよう設定し、検出対象である
透明体を各発光手段と各検光子との間の光路中に挿入し
、透明体、各検光子を透過した光束の強度を検出する第
２段階と、第１段階と第２段階とにおける透過光束の強
度に基づいて透明体の複屈折を解析する第３段階とを有
することを特徴とする． ［実施例］ 以下、この発明に係る装置、方法の実施例を図面に基づ
いて説明する． 第１図および第２図において、ｌ１はプラスチック板（
透明体）１２を矢印方向に搬送する搬送ベルトであり、
この搬送ベルト１１を挟んで２組の検出手段が設けられ
ている． 第１、第２の検出手段は、それぞれ透明体１２に直線偏
光を入射させる発光手段としてのレーザー琵生器（｝Ｉ
ｅ−Ｎｅレーザー）１３．１６と、透明体１２を透過し
た光束を受ける位置に配置された検光子１４． １７と
、検光子を透過した光束の強度を検出する受光素子１５
． １８とから構成されている． 第３図に示されるように、各検光子１４． １７は、そ
れぞれの透過軸１４ａ， １７ａが各レーザー発生器１
３． １６から射出されるレーザー光の電界ベクトルの
振動面１３ａ， １６ａと直交するよう配置され、レー
ザー発生器との間に透明体ｌ２が位置しない場合にはレ
ーザー光を遮断する。また、第１のレーザー発生器１３
は、レーザー光の電界ベクトルの振動面１３ａが第１図
の紙面に対して垂直となるよう配置され、第２のレーザ
ー発生器ｌ６は、レーザー光の電界ベクトルの振動面１
６ａが第１図の紙面に対して４５＠をなすよう配置され
ている。
端部すなわちエッジ４ａが発光ダイオード２の射出光の
光路２ａに到達すると、発光ダイオード２から射出され
る光がそのエツジ４ａによって散乱されて受光素子３の
受光量が減少するため、この減少を検出することにより
プラスチック板の存在を検出することできる． また、プラスチック板４を通過する光はプラスチック板
４の表面で一部が反射するので、受光素子が受光する受
光量が減少する．この減少からプラスチック板４の存在
を検出することもできる．［発明が解決しようとする課
題］ しかしながら、エッジ４ａでの散乱による受光素子３の
受光量の減少は瞬間的であるため、その検出は難しい． また、透明度の高いプラスチック板４を通過した光の減
少は僅かであるため、このようなプラスチック板の有無
を判断するためには受光素子の信号のスレッシュドレベ
ルの設定が微妙であり、プラスチック板に埃やゴミが付
着している場合の受光量の減少と判別することが難しく
、ミスカウントの可能性が高いという問題があった． Ｃ発明の目的Ｊ この発明は、上記の問題点に鑑みてなされたもので、そ
の第１の目的は、透明体の有無を確実に横出することの
できる透明体の検出装置を提供することにある．また、
第２の目的は、この検出装置を用いて透明体の複屈折を
測定する方法を提供することにある． ［課題を解決するための手段］ この発明にかかる透明体の検出装置は、透明体に直線偏
光を入射させる発光手段と、透明体を透過した光束を受
ける位置に透過軸が発光手段から射出される光束の電界
ベクトルの振動面と直交するよう配置された検光子と、
検光子を透過した光束の強度を検出する受光手段とを備
える検出手段を複数組備え、各検出手段が透明体に対し
て互いに異なる方向性を持った直線偏光を入射させるよ
う配置したことを特徴とする． また、この発明にかかる複屈折測定方法は、２つの発光
手段により互いに垂直でない異なる方向性を持つ直線偏
光を発生させ、この光束の強度を検出する第１段階と、
検光子を、透過軸が各発光手段から発した光束の電界ベ
クトルの振動面と直交するよう設定し、検出対象である
透明体を各発光手段と各検光子との間の光路中に挿入し
、透明体、各検光子を透過した光束の強度を検出する第
２段階と、第１段階と第２段階とにおける透過光束の強
度に基づいて透明体の複屈折を解析する第３段階とを有
することを特徴とする． ［実施例］ 以下、この発明に係る装置、方法の実施例を図面に基づ
いて説明する． 第１図および第２図において、ｌ１はプラスチック板（
透明体）１２を矢印方向に搬送する搬送ベルトであり、
この搬送ベルト１１を挟んで２組の検出手段が設けられ
ている． 第１、第２の検出手段は、それぞれ透明体１２に直線偏
光を入射させる発光手段としてのレーザー琵生器（｝Ｉ
ｅ−Ｎｅレーザー）１３．１６と、透明体１２を透過し
た光束を受ける位置に配置された検光子１４． １７と
、検光子を透過した光束の強度を検出する受光素子１５
． １８とから構成されている． 第３図に示されるように、各検光子１４． １７は、そ
れぞれの透過軸１４ａ， １７ａが各レーザー発生器１
３． １６から射出されるレーザー光の電界ベクトルの
振動面１３ａ， １６ａと直交するよう配置され、レー
ザー発生器との間に透明体ｌ２が位置しない場合にはレ
ーザー光を遮断する。また、第１のレーザー発生器１３
は、レーザー光の電界ベクトルの振動面１３ａが第１図
の紙面に対して垂直となるよう配置され、第２のレーザ
ー発生器ｌ６は、レーザー光の電界ベクトルの振動面１
６ａが第１図の紙面に対して４５＠をなすよう配置され
ている。
受光素子１５． １８から出力される受光信号は、オア
回路ｌ８に入力され、オア回路１８は何れか一方の受光
信号が立ち上がったときにカウント信号を出力する．判
断手段としてのカウント回路２０は、このカウント信号
を計数することによ昏ハ 搬送されるプラスチック板１
２の個数を判断する．次に、この検出装置の作用を説明
する．なお、以下の説明では、受光素子の暗電流は無視
している． プラスチック板ｌ２が第１図に実線で示す位置にあると
き、レーザー光は各受光素子１５． １８に達せず、受
光信号は０レベルのまま立ち上がらない．プラスチック
板ｌ２が第１図に破線で示す位置まで搬送されると、レ
ーザー光はプラスチック板ｌ２を通過して検光子１４．
１７に達することになる．プラスチック板１２は、一
般的に結晶と同様の異方性を有し、複屈折を生じさせる
ため、プラスチック板ｌ２を通過したレーザー光の電界
ベクトルの振動面は所定角度回転する． 第１のレーザー光の電界ベクトルの振動面１３ａが、例
えば第５図の（Ａ） （Ｂ）に符号１３’ ａで示すよ
うに回転すると、振動面が検光子１４の透過軸１４ａと
直交しなくなるため、レーザー光の一部が第１の検光子
１４ヲ通過し、第７図（ａ）に示す受光素子ｌ５の受光
信号にバルスｐｉが乗る． 第２のレーザー光の電界ベクトルの振動面１６ａが例え
ば第６図の（Ａ）（Ｂ）に符号ｌ６゜ａで示すように回
転すると、振動面が検光子１７の透過軸１７ａと直交し
なくなるため、第２のレーザー光の一部が検光子ｌ７を
通過し、第７図の（ｂ）に示す受光素子１８の受光信号
にバルスＰ２が乗る． 第７図（Ｃ）に示すオア回路ｌ９の検出信号には、パル
スＱ１が乗りカウント回路２０がそのパルスＱｌをカウ
ントしてプラスチック板ｌ２の個数をカウントアップす
る． ところで、プラスチック等の直線複屈折結晶では、入射
光が固有偏光に一致した場合には、偏光状態が変化を受
けずに透過してしまい、複屈折の情報を検出し得ない．
しかしながら、この装置は、２つのレーザー発生器から
発するレーザー光が互いに垂直でない異なる方向性を持
った直線偏光であるため、一方がプラスチック板１２の
固有偏光に一致する場合には、他方は一致せず、少なく
とも何れか一方の受光素子からは受光信号が出力される
こととなる． 例えば、第１レーザー光の電界ベクトルの振動面１３ａ
がプラスチック板１２の固有偏光に一致した場合、第７
図（ａ）に示す受光素子ｌ５の受光信号は変化しないが
、第２のレーザー光はプラスチック板１２の固有偏光と
は一致せず、第７図（ｂ）に示す受光素子１８の受光信
号にはパルスＰ３が出力される。このとき、第７図（Ｃ
）で示すオア回路ｌ９の検出信号にはパルスＱ２が出力
され、この場合にもプラスチック板ｌ２の個数をカウン
トすることができる． 同様に、第２のレーザー光がプラスチック板ｌ２の固有
偏光と一致する場合には、第１のレーザー光が固有偏光
と一致しなくなるため、第１受光素子ｌ５の受光信号に
はバルスＰ４が出力され、受光素子ｌ８の受光信号は変
化しない。パルスＰ４により、オア回路ｌ９からはパル
スＱ３が出力される．二のように、プラスチック板ｌ２
が通過すれば、少なくとも第１，第２受光素子１５．
１８の何れか一方の受光信号が立ち上がるためプラスチ
ック板ｌ２の有無を確実に検出することができる。
回路ｌ８に入力され、オア回路１８は何れか一方の受光
信号が立ち上がったときにカウント信号を出力する．判
断手段としてのカウント回路２０は、このカウント信号
を計数することによ昏ハ 搬送されるプラスチック板１
２の個数を判断する．次に、この検出装置の作用を説明
する．なお、以下の説明では、受光素子の暗電流は無視
している． プラスチック板ｌ２が第１図に実線で示す位置にあると
き、レーザー光は各受光素子１５． １８に達せず、受
光信号は０レベルのまま立ち上がらない．プラスチック
板ｌ２が第１図に破線で示す位置まで搬送されると、レ
ーザー光はプラスチック板ｌ２を通過して検光子１４．
１７に達することになる．プラスチック板１２は、一
般的に結晶と同様の異方性を有し、複屈折を生じさせる
ため、プラスチック板ｌ２を通過したレーザー光の電界
ベクトルの振動面は所定角度回転する． 第１のレーザー光の電界ベクトルの振動面１３ａが、例
えば第５図の（Ａ） （Ｂ）に符号１３’ ａで示すよ
うに回転すると、振動面が検光子１４の透過軸１４ａと
直交しなくなるため、レーザー光の一部が第１の検光子
１４ヲ通過し、第７図（ａ）に示す受光素子ｌ５の受光
信号にバルスｐｉが乗る． 第２のレーザー光の電界ベクトルの振動面１６ａが例え
ば第６図の（Ａ）（Ｂ）に符号ｌ６゜ａで示すように回
転すると、振動面が検光子１７の透過軸１７ａと直交し
なくなるため、第２のレーザー光の一部が検光子ｌ７を
通過し、第７図の（ｂ）に示す受光素子１８の受光信号
にバルスＰ２が乗る． 第７図（Ｃ）に示すオア回路ｌ９の検出信号には、パル
スＱ１が乗りカウント回路２０がそのパルスＱｌをカウ
ントしてプラスチック板ｌ２の個数をカウントアップす
る． ところで、プラスチック等の直線複屈折結晶では、入射
光が固有偏光に一致した場合には、偏光状態が変化を受
けずに透過してしまい、複屈折の情報を検出し得ない．
しかしながら、この装置は、２つのレーザー発生器から
発するレーザー光が互いに垂直でない異なる方向性を持
った直線偏光であるため、一方がプラスチック板１２の
固有偏光に一致する場合には、他方は一致せず、少なく
とも何れか一方の受光素子からは受光信号が出力される
こととなる． 例えば、第１レーザー光の電界ベクトルの振動面１３ａ
がプラスチック板１２の固有偏光に一致した場合、第７
図（ａ）に示す受光素子ｌ５の受光信号は変化しないが
、第２のレーザー光はプラスチック板１２の固有偏光と
は一致せず、第７図（ｂ）に示す受光素子１８の受光信
号にはパルスＰ３が出力される。このとき、第７図（Ｃ
）で示すオア回路ｌ９の検出信号にはパルスＱ２が出力
され、この場合にもプラスチック板ｌ２の個数をカウン
トすることができる． 同様に、第２のレーザー光がプラスチック板ｌ２の固有
偏光と一致する場合には、第１のレーザー光が固有偏光
と一致しなくなるため、第１受光素子ｌ５の受光信号に
はバルスＰ４が出力され、受光素子ｌ８の受光信号は変
化しない。パルスＰ４により、オア回路ｌ９からはパル
スＱ３が出力される．二のように、プラスチック板ｌ２
が通過すれば、少なくとも第１，第２受光素子１５．
１８の何れか一方の受光信号が立ち上がるためプラスチ
ック板ｌ２の有無を確実に検出することができる。
また、この装置では、受光量レベルが０の場合と、そう
でない場合とでプラスチック板の有無を判別することが
できるため、スレツシュドレベルの設定が従来より容易
となり、また、埃やゴミの付着により受光量が減少した
場合にもミスカウントする可能性が低い。
でない場合とでプラスチック板の有無を判別することが
できるため、スレツシュドレベルの設定が従来より容易
となり、また、埃やゴミの付着により受光量が減少した
場合にもミスカウントする可能性が低い。
なお、上記実施例では、プラスチック板１２の有無を検
出するものについて説明したが、これに限らず複屈折を
有する透明体であればそれ以外の物体の検出にも利用で
きる．例えば、ガラスは歪によって複屈折を生じるため
、上記の装置でガラスの歪みを検出することもできる． 次に、上記の装置を用いてプラスチック等の物質の複屈
折を測定する方法を説明する。
出するものについて説明したが、これに限らず複屈折を
有する透明体であればそれ以外の物体の検出にも利用で
きる．例えば、ガラスは歪によって複屈折を生じるため
、上記の装置でガラスの歪みを検出することもできる． 次に、上記の装置を用いてプラスチック等の物質の複屈
折を測定する方法を説明する。
第１段階として、各１４． １７検光子を回転調整して
各レーザー発生器１３． １６から発するレーザー光の
電界ベクトルの振動面と検光子の透過軸の向きとが一致
して受光素子１５． １８に達する光量が最大となるよ
う設定し、被検査物体を置かずに受光素子１５．１８に
達する光の強さＩｓ， Ｉｎｓをそれぞれ測定する。
各レーザー発生器１３． １６から発するレーザー光の
電界ベクトルの振動面と検光子の透過軸の向きとが一致
して受光素子１５． １８に達する光量が最大となるよ
う設定し、被検査物体を置かずに受光素子１５．１８に
達する光の強さＩｓ， Ｉｎｓをそれぞれ測定する。
これにより、検光子の平行位透過率の情報を含むかたち
で光量を測定しておく．なお、検光子の平行位透過率を
１００％とみなせる場合には、検光子を配置せずに直接
レーザー光の強度を測定してＩｉＩ，ＩＡ５を求めても
よい。
で光量を測定しておく．なお、検光子の平行位透過率を
１００％とみなせる場合には、検光子を配置せずに直接
レーザー光の強度を測定してＩｉＩ，ＩＡ５を求めても
よい。
第１のレーザー光源から発する直線偏光αと、第２のレ
ーザー光源から発しαに対して４５゜異なる方向性を持
つ直線偏光βとは、振幅ＡＸＩ，ＡＸ２、位相ｐＸとす
ると、ジョーンズマトリックスを用いて以下のように表
される。
ーザー光源から発しαに対して４５゜異なる方向性を持
つ直線偏光βとは、振幅ＡＸＩ，ＡＸ２、位相ｐＸとす
ると、ジョーンズマトリックスを用いて以下のように表
される。
光の強度ＩＬ １４５は、マトリックスの２乗和となる
ため、以下の式で表される。
ため、以下の式で表される。
Ｉｓ ＝（Ａｘｌｅ”ｘ）２
Ｉｎｓ−２（Ａｘ２ｅ”）２
実際には検光子により多少の光量損失があるが、この損
失による影響は第２段階でも共通であり、演算により差
し引きして相殺することができるため、ここでは受光素
子に達する光の強度をＩｌｌ， １４６と仮定すること
ができる． 次に、第２段階では、検光子を回転させてレーザー光の
電界ベクトルの振動面と検光子の透過軸とが直交して消
光するよう設定する。そして、搬送ベルト１１を駆動し
、その先路を横切るようプラスチック板１２を移動させ
、各受光素子１５． １８が検出した光強度Ｉ’ｓ，Ｉ
’ｎｓを測定する．この設定では、プラスチック板の複
屈折により入射する光束の電界ベクトルの振動面が回転
させられた場合にのみ光が検出され、その光量は電界ベ
クトルの振動面の回転角度、すなわち透明体の複屈折の
度合に対応している． 透明体をレーザー光が照射される範囲内で均質で理想的
な直線位相板と仮定し、その複屈折の軸方向を示す方位
角をρ、リターデーション量をｄとすると、そのジョー
ンズマトリックスＭｘは以下の通りとなる． ｌｕｌｌ ＝ＣＯＳ２ｐ ＋ ｅ−”ｓｉｎ２ｐＩ
Ｉ１２２−Ｓｌｎ２ρ＋ｅ１ｄＣＯＳ２ρ＋１１１２−
１１１２１ ＝（１− ｅ−”）ｓｉｎρｃｏｓρ第
１、第２のレーザー光の光路に上記の直線移相子が挿入
されると、移相子を透過した光束は以下のマトリックス
［ａ＠， ｂｅ］、［ａ４５，ｂ４ｓ］で表される。
失による影響は第２段階でも共通であり、演算により差
し引きして相殺することができるため、ここでは受光素
子に達する光の強度をＩｌｌ， １４６と仮定すること
ができる． 次に、第２段階では、検光子を回転させてレーザー光の
電界ベクトルの振動面と検光子の透過軸とが直交して消
光するよう設定する。そして、搬送ベルト１１を駆動し
、その先路を横切るようプラスチック板１２を移動させ
、各受光素子１５． １８が検出した光強度Ｉ’ｓ，Ｉ
’ｎｓを測定する．この設定では、プラスチック板の複
屈折により入射する光束の電界ベクトルの振動面が回転
させられた場合にのみ光が検出され、その光量は電界ベ
クトルの振動面の回転角度、すなわち透明体の複屈折の
度合に対応している． 透明体をレーザー光が照射される範囲内で均質で理想的
な直線位相板と仮定し、その複屈折の軸方向を示す方位
角をρ、リターデーション量をｄとすると、そのジョー
ンズマトリックスＭｘは以下の通りとなる． ｌｕｌｌ ＝ＣＯＳ２ｐ ＋ ｅ−”ｓｉｎ２ｐＩ
Ｉ１２２−Ｓｌｎ２ρ＋ｅ１ｄＣＯＳ２ρ＋１１１２−
１１１２１ ＝（１− ｅ−”）ｓｉｎρｃｏｓρ第
１、第２のレーザー光の光路に上記の直線移相子が挿入
されると、移相子を透過した光束は以下のマトリックス
［ａ＠， ｂｅ］、［ａ４５，ｂ４ｓ］で表される。
光量Ｉｓ’ ， Ｉ４６’は、マトリックスの２乗和と
なるため、以下の式で表される． Ｉｓ’：ａ＠２＋ｂｅ２ ＩＪｓ’−ａｎｓ２＋ ｂ４ｓ２ これらの強度から前述の第１段階での測定強度Ｉｓ，
Ｌｓを差し引くと、透明体の複屈折は以下の式で表され
る。
なるため、以下の式で表される． Ｉｓ’：ａ＠２＋ｂｅ２ ＩＪｓ’−ａｎｓ２＋ ｂ４ｓ２ これらの強度から前述の第１段階での測定強度Ｉｓ，
Ｌｓを差し引くと、透明体の複屈折は以下の式で表され
る。
Ｉｓ’／Ｉｓ ：（１／２）（１ − ｃｏｓｄ）ｓｉ
ｎ２２ρＩａ５’／Ｉ４ｓ＝（１／２）（１ − ｃｏ
ｓｄ）ｃｏｓ２２ρこれら２つの式から、以下に示すよ
うに方位角ρ、リターデーション量ｄを求めることがで
きる。
ｎ２２ρＩａ５’／Ｉ４ｓ＝（１／２）（１ − ｃｏ
ｓｄ）ｃｏｓ２２ρこれら２つの式から、以下に示すよ
うに方位角ρ、リターデーション量ｄを求めることがで
きる。
Ｉｌ＠４５４５｝＝ｔａｎ２２ρ
ρ＝（ｌ／２）ｔａｎ−Ｉ［ｌＩＩＩ■４５■４５｝］
ｄ ＝ｃｏｓ−’［１−２｛（Ｉｓ’／Ｉｓ）”（Ｉａ
５’／Ｉ４ｓ））］［効果コ 以上説明したように、この発明の装置によれば、複屈折
を検出することにより埃やゴミ等が付着していても透明
体の有無を確実に検出することができる。
ｄ ＝ｃｏｓ−’［１−２｛（Ｉｓ’／Ｉｓ）”（Ｉａ
５’／Ｉ４ｓ））］［効果コ 以上説明したように、この発明の装置によれば、複屈折
を検出することにより埃やゴミ等が付着していても透明
体の有無を確実に検出することができる。
また、この装置を利用し、透明体がない場合とある場合
との光量を検出することにより、複屈折の値を求めるこ
とができる。
との光量を検出することにより、複屈折の値を求めるこ
とができる。
第１図はこの発明に係る透明体の複屈折検出装Ｉ１ｔの
一実施例の概略構成を示した平面図、第２図はｔ１１図
の■−■線に沿う断面図、第３図は第１レーザー光の電
界ベクトルの振動面と第１検光子の電界べ・ノトルの振
動面との関係を示した説明図、第４図は哨２レーザー光
の電界ベクトルの振動面と第２検光子の電界ベクトルの
振動面との関係を示した説明図、第５因の（＾）（Ｂ）
は第１レーザー光の電界ベクトルの振動面の回転を示し
た説明図、第６図の（Ａ）（Ｂ）は１，１２レーザー光
の電界ベクトルの振動面の回転を示した説明図、第７図
は第１，第２受光素子およびオア回路の出力信号を示し
た説明図、第８図はブラスチ・・ｌクを検出する従来の
検出装置の構成を示した説明図である． １２・・・プラスチック板（透明体） １３． １６・・・レーザー発生器（発光手段）１４．
１７・・・検光子 １５． １８・・・受光素子
一実施例の概略構成を示した平面図、第２図はｔ１１図
の■−■線に沿う断面図、第３図は第１レーザー光の電
界ベクトルの振動面と第１検光子の電界べ・ノトルの振
動面との関係を示した説明図、第４図は哨２レーザー光
の電界ベクトルの振動面と第２検光子の電界ベクトルの
振動面との関係を示した説明図、第５因の（＾）（Ｂ）
は第１レーザー光の電界ベクトルの振動面の回転を示し
た説明図、第６図の（Ａ）（Ｂ）は１，１２レーザー光
の電界ベクトルの振動面の回転を示した説明図、第７図
は第１，第２受光素子およびオア回路の出力信号を示し
た説明図、第８図はブラスチ・・ｌクを検出する従来の
検出装置の構成を示した説明図である． １２・・・プラスチック板（透明体） １３． １６・・・レーザー発生器（発光手段）１４．
１７・・・検光子 １５． １８・・・受光素子
Claims (5)
- （１）透明体に直線偏光を入射させる発光手段と、前記
透明体を透過した光束を受ける位置に透過軸が発光手段
から射出される光束の電界ベクトルの振動面と直交する
よう配置された検光子と、検光子を透過した光束の強度
を検出する受光手段とを備える検出手段を複数組備え、
各検出部が透明体に対して互いに垂直でない異なる方向
性を持った直線偏光を入射させるよう配置されているこ
とを特徴とする透明体の検出装置。 - （２）各検出手段の受光手段の出力に基づいて透明体の
有無を判断する判断手段を備えていることを特徴とする
請求項１に記載の透明体の検出装置。 - （３）前記検出手段が２組設けられていることを特徴と
する請求項１に記載の透明体の検出装置。 - （４）２つの発光手段により互いに異なる方向性を持っ
た直線偏光を発生し、光束の強度を検出する第１段階と
、 透過軸が各発光手段から発した光束の電界ベクトルの振
動面と直交するよう検光子を設定し、検出対象である透
明体を各発光手段と各検光子との間の光路中に挿入し、
前記透明体、前記各検光子を透過した光束の強度を検出
する第２段階と、第１段階と第２段階とにおける透過光
束の強度に基づいて、前記透明体の複屈折を解析する第
３段階とを有することを特徴とする複屈折測定方法。 - （５）前記第１段階は、直線偏光を透過軸が各光束の電
界ベクトルの振動面と平行になるよう配置された第１、
第２の検光子に入射させ、各検光子を透過した光束の強
度を検出することを特徴とする請求項４に記載の複屈折
測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2301818A JP3050590B2 (ja) | 1989-11-06 | 1990-11-06 | 透明体の検出装置及び複屈折測定方法 |
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP28751689 | 1989-11-06 | ||
| JP1-287516 | 1989-11-06 | ||
| JP2301818A JP3050590B2 (ja) | 1989-11-06 | 1990-11-06 | 透明体の検出装置及び複屈折測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03218441A true JPH03218441A (ja) | 1991-09-26 |
| JP3050590B2 JP3050590B2 (ja) | 2000-06-12 |
Family
ID=26556755
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2301818A Expired - Fee Related JP3050590B2 (ja) | 1989-11-06 | 1990-11-06 | 透明体の検出装置及び複屈折測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3050590B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007033104A (ja) * | 2005-07-25 | 2007-02-08 | Keyence Corp | 透明フィルム検出装置 |
| JP2008025996A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Niigata Univ | 透光体の内部歪の測定方法及び測定装置 |
| JP2014029301A (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-13 | Nidec Copal Corp | 投受光センサ |
-
1990
- 1990-11-06 JP JP2301818A patent/JP3050590B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007033104A (ja) * | 2005-07-25 | 2007-02-08 | Keyence Corp | 透明フィルム検出装置 |
| JP2008025996A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Niigata Univ | 透光体の内部歪の測定方法及び測定装置 |
| JP2014029301A (ja) * | 2012-07-31 | 2014-02-13 | Nidec Copal Corp | 投受光センサ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP3050590B2 (ja) | 2000-06-12 |
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