JPH03217665A - 高圧ポンプ - Google Patents

高圧ポンプ

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JPH03217665A
JPH03217665A JP2012702A JP1270290A JPH03217665A JP H03217665 A JPH03217665 A JP H03217665A JP 2012702 A JP2012702 A JP 2012702A JP 1270290 A JP1270290 A JP 1270290A JP H03217665 A JPH03217665 A JP H03217665A
Authority
JP
Japan
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pump
line
fluid
stroke
liquid
Prior art date
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Pending
Application number
JP2012702A
Other languages
English (en)
Inventor
Yoshio Minami
吉夫 南
Keiji Yokoi
横井 啓二
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ebara Corp
Original Assignee
Ebara Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Ebara Corp filed Critical Ebara Corp
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Publication of JPH03217665A publication Critical patent/JPH03217665A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Details Of Reciprocating Pumps (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、吸込口から吸い込まれた液体を加圧して吐出
口から吐出する高圧ポンプに関し、特に、半導体製造設
備におけるジェットスクラバとして好適に用いられる高
圧ポンプに関する。
「従来の技術コ 第2図は従来の高圧ポンプを示しており、全体を符号1
により示された高圧ポンプは、プランジャ2がエア作動
部によりポンプ室Cを圧縮して、ポンプ室内部の液体を
吐出するように構成されている。
第2図において、エアシリンダ3内に配置されたエアピ
ストン4は、作動エアポート5から供給される作動エア
aにより第2図中左方向へ摺動し、作動エアポート6か
ら供給される作動エアbにより第2図中右方向へ摺動す
る。そしてエアピストン4の左右方向の摺動に従って、
該ピストンに直結されたプランジャ2もウォータシリン
ダ7の内部で左右に摺動する。
作動エアポート5から作動エアaが供給されてプランジ
ャ2が左方向へ移動すると、ウォータシリンダ7および
ウォータシリンダヘッド8によって画定されたポンプ室
Cの容積が減少し、容積が減少した分だけポンプ室内部
が加圧され、吸込側チェツキ弁9が閉じ且つ吐出側チェ
ツキ弁10が開き、ポンプ室Cの液体が吐出口eより吐
出される(吐出行程)。ここで、ポンプ室C内の液体が
漏洩することを防止するため、ウォータシリンダ7の内
面とプランジャ2との間にはシール11か介装されてい
る。
一方、吸込工程に際しては、作動エアポート6より作動
エアbが供給されてプランジャ2が右方向に移動する。
そして、吸込側チェッキ弁9が開き且つ吐出側チェッキ
弁10が閉じ、吸込口dを介して液体がポンプ室C内に
吸込まれるのである。
この様な動作を繰り返すことにより、第2図で示すよう
な高圧ボンプ1は、低圧の吸込液を所定の圧力まで昇圧
して吐出する。なお第2図は、エアピストン4とプラン
ジャ2が右端のエアフランジ12へ接しており、図示し
ない制御手段からの吐出指令を待っている待機行程にあ
る状態を示している。
[発明が解決しようとする課題] しかし、第2図で示すような高圧ポンプでは、プランジ
ャ2が摺動する際にシール11との摩擦或いは磨耗によ
り微小な磨耗粉が発生し、この磨耗粉が吐出液に含有さ
れててしまうという問題があった。特に、高圧ボンプ1
が半導体製造設備のジェットスクラバに用いられる場合
には、微小な磨耗粉が半導体基盤上に吹き付けられて異
物として付着し、該基盤から製造される半導体製品の歩
留まりに悪影響を与えてしまう。
また、第3図で示すように、この様な磨耗粉がダスト1
5としてシール11の背面(裏面:符号14側)に回り
込んで溜まってしまうと、シール材(リップ)16に食
い込んでシール性能を劣化させる恐れがある。或いは、
流体側(符号17側)に溜まったダスト18がシール手
段のリップ16とプランジャ2との間を通過してポンプ
室C内に侵入して、吐出液中の異物となってしまうとい
う不都合がある。
本発明は上記した従来技術の問題点に鑑みて提案された
もので、吐出液中に上記磨耗粉が混入することを防止出
来る高圧ポンプの提供を目的としている。
[課題を解決するための手段] 本発明の高圧ポンプは、エアシリンダ内部を摺動するエ
アピストンと、該エアピストンに直結されたプランジャ
と、その内部にポンプ室を形成するウォータシリンダと
を含む高圧ポンプにおいて、ポンプ吸込口から吸い込ま
れた液体の一部を高圧シールの背面に導入する洗浄水ラ
インと、ポンプの吸込行程及び待機行程中にポンプ室外
へ液体を排出するオーバーフローラインと、ポンプ吐出
行程で吐出するべき液体の一部をポンプ外へ排出するス
ピルバックラインとを設けている。
本発明の実施に際して、前記洗浄水ライン、オーバーフ
ローライン、スピルバックラインはいずれもポンプ外部
に連通しており、そして各ラインを流れる液体の流量を
調節するためのオリフィスを介装しているのか好ましい
[作動] 上記したような構成を有する本発明によれば、吸込液体
の一部を洗浄水ラインによって高圧シールの背面に洗浄
水として流入せしめ、該洗浄水によりシール背面(裏面
)に溜まった磨耗粉を洗浄してポンプ外部へ排出してい
る。
また、ポンプに吸い込まれた液体はポンプ室内を攪拌し
て、プランジャ表面に付着した磨耗粉やシール背面から
ポンプ室に侵入した磨耗粉は該ポンプ室内の液体中で浮
遊した状態となるが、本発明によればポンプの吸込行程
及び待機行程中にオーバーフローラインによってポンプ
室内へ液体が供給され、余剰分の液体がポンプ外部へ排
出される様に構成されている。その結果、液体中に浮遊
する磨耗粉は余剰分の液体と共にポンプ外部へ排出され
、吐出液中に磨耗粉が混入することが防止される。
さらに、ポンプの吐出行程に際して、吐出するべき液体
の一部をポンプ外へ排出するスピルバックラインを設け
且つ該ラインのボートを高圧シール近傍に形成すること
により、高圧シールで発生した磨耗粉は吐出口へ向かう
以前に該スピルバックラインのボートへ向かって流れ、
吐出液に混入することが防止されるのである。換言する
と、前記プランジャとウォータシリンダ(の内側に設け
られたスリーブ)との間の隙間に存在する液体はいずれ
の行程においても常に吐出口の反対側へ流れるので、シ
ールで発生した磨耗粉が吐出口に向かうことは無い。
従って、本発明によれば吐出液中には磨耗粉が混入せず
、半導体製造設備のジェットスクラバに本発明の高圧ポ
ンプを用いれば半導体製品の歩留まりを向上させること
が出来る。
[実施例] 以下、第1図を参照して本発明の一実施例について説明
する。なお、第1図において、第2図と同一の部材には
同一の符号を付して重複説明を省略する。
第1図において全体を符号20で示す本発明の高圧ポン
プにおいて、吸込行程及び吐出行程を行うための部材は
、第2図の高圧ボンプ1の場合と略々同一である。しか
し、ボンプ20の高圧シール11の近傍でその裏側(ポ
ンプ室から遠い側:第1図中右側)には洗浄用シール部
材22が設けられている。そして、該シール部材22を
収容するパッキンケース24には洗浄水入口fと洗浄水
出口gとが設けられており、洗浄水入口fは洗浄水ライ
ン26により吸込口dと連通している。なお、洗浄水出
口gの下流側にはシール洗浄水の流量を適当に調節する
ためにオリフィス28が設けられている。
また、高圧シール11を収容するパッキンケース30に
はオーバーフロー出口hが設けられ、オーバーフロー出
口hはオーバーフローライン32によりポンプ20の外
部に接続している。そして、オーバーフローライン32
にはオーバーフローバルブ34及びオリフィス36が介
装されている。
コノオーバーフローバルブ34は図示しない制御手段に
よりポンプ20の吐出行程中に閉鎖し、吸込行程及び待
機行程中は開放するように制御される。一方、オリフィ
ス36は、オーバーフローライン32を介して外部へ排
出される液体(オーバーフロー液)の流量を調節するた
めに設けられている。
高圧シール11を収容するパッキンケース30には、さ
らに、スビルバック出口iが形成されており、この出口
iはスピルバックライン38を介してポンプ20の外部
に連通している。ここで、スピルバックライン38を流
れる流体の流量を調節するため、ライン38にはオリフ
ィス40が介装されている。
次に、この高圧ポンプ20の作動を説明する。
ポンプ20の吸込行程に際しては、先ず、作動エアポー
ト6から作動エアbを導入する。その結果、エアピスト
ン4及びプランジャ2が第1図中右方向へ移動し、吸込
口dから液体がポンプ室Cに流入する。エアピストン4
及びプランジャ2が所定量だけ移動してエアフランジ1
2へ当接すると、図示しない制御手段から吐出信号が発
信されるまで待機行程となり、ポンプ室Cの容積は変動
しない。
ここで、吸込口dから洗浄水ライン26を介して高圧シ
ール11の背面側(第2図中右側)の洗浄水入口fに液
体が供給され、高圧シール11のリップ16裏側に溜ま
った磨耗粉或いはダスト15(第3図)を洗浄して洗浄
水出口gを介してポンプ20の外部へ排出する。
また、待機行程においても、吸込側チェッキ弁9は開放
しており且つオーバーフローライン32に介装されたオ
ーバーフローバルブ34も開放しているので、ポンプ室
C内には連続して少量の液体が供給され続け、オーバー
フロー出口hから外部へ排出される。そして、排出され
続ける少量の液体と共に、ポンプ室Cの液体内に浮遊し
ている磨耗粉がオーバーフロー出口hから外部へ排出さ
れるのである。その結果、ポンプ室Cの液体内に浮遊し
ている磨耗粉が時間の経過と共に減少する。
吐出行程に際しては作動エアポート5から作動エアaを
導入し、エアピストン4及びプランジャ2を第1図中左
方向へ移動せしめる。すると、吸込側チェッキ弁9が閉
じ、吐出側チェツキ弁10が開放してポンプ室Cの液体
か吐出口eか,ら吐き出される。ここで、高圧シール1
1近傍にはスピルバック出口lが開口しているのでシー
ル11で発生した磨耗粉はスピルバック出口11スピル
バックライン38、オリフィス40を介してポンプ外部
へ排出され、ポンプ吐出液には殆ど含有されない。
この高圧ポンプは吸込側の圧力が充分に高いことが前提
となっており、純水或いは洗浄水ラインの圧力は1〜2
 Kg f / cm2である。
なお図示はされていないが、本発明の実施例として、オ
ーバーフローライン及びスピルバックラインを流れる洗
浄水を再利用するように配管することが可能である。こ
の様に配管すると、洗浄水として高価な純水を用いた場
合に、その消費量を節約することが出来る。
[発明の効果] 本発明の効果を以下に列挙する。
(1) 高圧シールのリップ裏側に溜まった磨耗粉をポ
ンプ外へ排出することが出来る。
(2) 待機行程において、ポンプ室内の液体中に浮遊
する磨耗粉をオーバーフロー液と共にポンプ外へ排出す
ることが出来る。
(3) 吐出行程において、高圧シールで発生した磨耗
粉をスピルバック、スピルバックラインを介してポンプ
外へ排出し、ポンプの吐出液中に混入しないようにする
ことが出来る。
(4) ポンプの吐出液中に混入する磨耗粉等の各種ダ
ストの量を極めて減少することが出来る。
(5) 半導体製造設備のジェットスクラバに使用して
半導体製品の歩留まりを向上することが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す断面正面図、第2図は
従来技術の断面正面図、第3図は第2図の従来技術の高
圧シールの部分拡大図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. エアシリンダ内部を摺動するエアピストンと、該エアピ
    ストンに直結されたプランジャと、その内部にポンプ室
    を形成するウォータシリンダとを含む高圧ポンプにおい
    て、ポンプ吸込口から吸い込まれた液体の一部を高圧シ
    ールの背面に導入する洗浄水ラインと、ポンプの吸込行
    程及び待機行程中にポンプ室外へ液体を排出するオーバ
    ーフローラインと、ポンプ吐出行程で吐出するべき液体
    の一部をポンプ外へ排出するスピルバックラインとを設
    けたことを特徴とする高圧ポンプ。
JP2012702A 1990-01-24 1990-01-24 高圧ポンプ Pending JPH03217665A (ja)

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JP (1) JPH03217665A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5454698A (en) * 1992-12-09 1995-10-03 Ebara Corporation Plunger pump system with shuttle valve
JP2008255805A (ja) * 2007-04-02 2008-10-23 Shimadzu Corp 送液ポンプ及びその送液ポンプを用いた液体クロマトグラフ

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5454698A (en) * 1992-12-09 1995-10-03 Ebara Corporation Plunger pump system with shuttle valve
US5571002A (en) * 1992-12-09 1996-11-05 Ebara Corporation Plunger pump system with shuttle valve
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