JPH03214809A - リニアフィードバック・シフトレジスタ - Google Patents
リニアフィードバック・シフトレジスタInfo
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- JPH03214809A JPH03214809A JP2009673A JP967390A JPH03214809A JP H03214809 A JPH03214809 A JP H03214809A JP 2009673 A JP2009673 A JP 2009673A JP 967390 A JP967390 A JP 967390A JP H03214809 A JPH03214809 A JP H03214809A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000013144 data compression Methods 0.000 description 2
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 2
- 241000255789 Bombyx mori Species 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C19/00—Digital stores in which the information is moved stepwise, e.g. shift registers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/31813—Test pattern generators
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F7/00—Methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
- G06F7/58—Random or pseudo-random number generators
- G06F7/582—Pseudo-random number generators
- G06F7/584—Pseudo-random number generators using finite field arithmetic, e.g. using a linear feedback shift register
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/84—Generating pulses having a predetermined statistical distribution of a parameter, e.g. random pulse generators
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2207/00—Indexing scheme relating to methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
- G06F2207/58—Indexing scheme relating to groups G06F7/58 - G06F7/588
- G06F2207/581—Generating an LFSR sequence, e.g. an m-sequence; sequence may be generated without LFSR, e.g. using Galois Field arithmetic
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F2207/00—Indexing scheme relating to methods or arrangements for processing data by operating upon the order or content of the data handled
- G06F2207/58—Indexing scheme relating to groups G06F7/58 - G06F7/588
- G06F2207/583—Serial finite field implementation, i.e. serial implementation of finite field arithmetic, generating one new bit or trit per step, e.g. using an LFSR or several independent LFSRs; also includes PRNGs with parallel operation between LFSR and outputs
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、パルス信号テスト回路などに用いられるリニ
アフィードバック・シフトレジスタ(以下LPSRとい
う)に関し、特に生成多項式f (x)をマルチプレク
サ(MUX)のコンI・ロールにより可変可能にした回
路に関する。
アフィードバック・シフトレジスタ(以下LPSRとい
う)に関し、特に生成多項式f (x)をマルチプレク
サ(MUX)のコンI・ロールにより可変可能にした回
路に関する。
従来、この種のLFSRは、擬似ランダムパターン発生
器,データ伝送の誤り検出等のためのシグネチャ解析器
などに応用されてきたが、いづれも、固定した生成多項
式を持つ構成であった。
器,データ伝送の誤り検出等のためのシグネチャ解析器
などに応用されてきたが、いづれも、固定した生成多項
式を持つ構成であった。
第3図は従来の擬似ランダムパターン発生器の一例の回
路図、第4図は従来例のシグネチャ解析器の回路図を示
す。
路図、第4図は従来例のシグネチャ解析器の回路図を示
す。
第3図においては、n個のフリップフロップ(FF)8
〜l2と、2個のXORゲート17,l8とから構成さ
れ、XORゲー}17,18によりFF8にフィードバ
ックをかけている。FF11,12からの各出力蚕をX
ORゲート18によりXORを求め、この出力とFF9
の出力蔦とをXORゲート17によりXORを求め、そ
のa力をFF8の入力Dに接続している。ここでクロツ
ク入力端子1からクロックを入力するとFF8〜l2の
各出力端Qからランダムパターンを得ることができ、こ
れらを出力端子3〜7から出力することができる。
〜l2と、2個のXORゲート17,l8とから構成さ
れ、XORゲー}17,18によりFF8にフィードバ
ックをかけている。FF11,12からの各出力蚕をX
ORゲート18によりXORを求め、この出力とFF9
の出力蔦とをXORゲート17によりXORを求め、そ
のa力をFF8の入力Dに接続している。ここでクロツ
ク入力端子1からクロックを入力するとFF8〜l2の
各出力端Qからランダムパターンを得ることができ、こ
れらを出力端子3〜7から出力することができる。
第4図においては、n個のFF8〜12と、XORデー
ト17,18.41〜45とから構成され、第3図の回
路に対してn個の入力信号を入力端子31〜35から入
力し、前段のFF出力と共にXORゲート41〜45に
入力して後段のFFの入力することにより、出力端子7
から圧縮出力を得ることができる。
ト17,18.41〜45とから構成され、第3図の回
路に対してn個の入力信号を入力端子31〜35から入
力し、前段のFF出力と共にXORゲート41〜45に
入力して後段のFFの入力することにより、出力端子7
から圧縮出力を得ることができる。
上述した従来のLFSRでは、生成多項式が固定されて
いるために、この回路を活用する時に様々の制限が存在
した。例えば、CPU,AS ICなどのデジタル回路
のD F T (Design ForTestabi
lity)として用いられているB 工S T (Bu
ilt −In Self Test)では、一般にB
I L B O (Built−In LogicB
lock Observer)と呼ばれるレジスタが構
成される。
いるために、この回路を活用する時に様々の制限が存在
した。例えば、CPU,AS ICなどのデジタル回路
のD F T (Design ForTestabi
lity)として用いられているB 工S T (Bu
ilt −In Self Test)では、一般にB
I L B O (Built−In LogicB
lock Observer)と呼ばれるレジスタが構
成される。
このBILBOは、T P G (Test Patt
ern Generator)機能とP S A (P
arallel Signature Analyze
r)と呼ばれるデータ圧縮機能を有し、セルフテストモ
ード時に外部コントロールによりTPOもしくはPSA
の選択が行なわれる。これらTPO及びPSAは、共に
基本的にLFSRにより構成されている。このTPO機
能を選択した際には固定された生成多項式(これを原始
多項式と呼ぶ)に従いLFSRのヒット数に対応する最
大周期の擬似ランダムパターン発生器となる。通常、B
ILBOはDTJT内に複数個設置され、各々に対し被
測定回路となる分割回路が対応し、この分割回路への仮
想的な入力端子がTPOの各呂力端子である。仮に、分
割回路が組合せ回路と考えると理想的にはLFSRのビ
ット数に対応する最大周期パターンが必要となる。この
LFSRのビット数をnとした際には(2”−1)パタ
ーンとなる。これは分割回路の仮想的な入力端子数、つ
まりLFSHのビット数が少なければよいが、多くなる
とテスト時間の関係より実現不可能となる。そこで、限
られた数のランダムパターンで一定の故障検出率を満た
さなければいけない。また、分割回路が順序回路を含む
場合には分割回路への入力自身が順序的でなければいけ
ない。つまり、LFSRのビット数に応じた最大周期パ
ターン(これを網羅パターンという)が、この網羅パタ
ーンを用いても不完全である。まして、限られた数のラ
ンダムパターンでは一定の故障検圧率を満たすのは難し
い。
ern Generator)機能とP S A (P
arallel Signature Analyze
r)と呼ばれるデータ圧縮機能を有し、セルフテストモ
ード時に外部コントロールによりTPOもしくはPSA
の選択が行なわれる。これらTPO及びPSAは、共に
基本的にLFSRにより構成されている。このTPO機
能を選択した際には固定された生成多項式(これを原始
多項式と呼ぶ)に従いLFSRのヒット数に対応する最
大周期の擬似ランダムパターン発生器となる。通常、B
ILBOはDTJT内に複数個設置され、各々に対し被
測定回路となる分割回路が対応し、この分割回路への仮
想的な入力端子がTPOの各呂力端子である。仮に、分
割回路が組合せ回路と考えると理想的にはLFSRのビ
ット数に対応する最大周期パターンが必要となる。この
LFSRのビット数をnとした際には(2”−1)パタ
ーンとなる。これは分割回路の仮想的な入力端子数、つ
まりLFSHのビット数が少なければよいが、多くなる
とテスト時間の関係より実現不可能となる。そこで、限
られた数のランダムパターンで一定の故障検出率を満た
さなければいけない。また、分割回路が順序回路を含む
場合には分割回路への入力自身が順序的でなければいけ
ない。つまり、LFSRのビット数に応じた最大周期パ
ターン(これを網羅パターンという)が、この網羅パタ
ーンを用いても不完全である。まして、限られた数のラ
ンダムパターンでは一定の故障検圧率を満たすのは難し
い。
このようにBILBOに用いられるLFSRは、ハード
ウェア構成上、固定された生成多項式を構成しているた
めに、固定された擬似ランダムパターン発生器としてし
か機能はしない。このために、高い故障検出率を得るセ
ルフテストの実現は難しいという問題を持っている。
ウェア構成上、固定された生成多項式を構成しているた
めに、固定された擬似ランダムパターン発生器としてし
か機能はしない。このために、高い故障検出率を得るセ
ルフテストの実現は難しいという問題を持っている。
本発明の目的は、このような問題を解決し、生成多項式
が外部から可変できるようにして高い故障検出率の得ら
れ、テスト効率化が図られるLFSRを提供することに
ある。
が外部から可変できるようにして高い故障検出率の得ら
れ、テスト効率化が図られるLFSRを提供することに
ある。
本発明のLFSHの構成は、n段の直列接続されたフリ
ップフロップからなるシフトレジスタと、このシフトレ
ジスタの最初から(n−1)段目までの各フリップフロ
ップの出力をそれぞれ第1入力端に入力し共通入力端子
から入力信号をそれぞれ第2入力端に接続し各コントロ
ール入力端をそれぞれ独立にアクセス可能とした(n−
1)個の2:1マルチプレクサと、これらマルチプレク
サの各出力がそれぞれ一方の入力端に接続され他方の各
入力端には前記n段目のフリップフコップの出力端から
前記1段目のフリップフロップの入力端の間で後段の出
力がカスゲード接続された(n−1)個の第1のXOR
ゲートとを含み、前記各フリップフロップにそれぞれク
ロックを供給してその各出力端から出力信号を得るよう
にしたことを特徴とする。
ップフロップからなるシフトレジスタと、このシフトレ
ジスタの最初から(n−1)段目までの各フリップフロ
ップの出力をそれぞれ第1入力端に入力し共通入力端子
から入力信号をそれぞれ第2入力端に接続し各コントロ
ール入力端をそれぞれ独立にアクセス可能とした(n−
1)個の2:1マルチプレクサと、これらマルチプレク
サの各出力がそれぞれ一方の入力端に接続され他方の各
入力端には前記n段目のフリップフコップの出力端から
前記1段目のフリップフロップの入力端の間で後段の出
力がカスゲード接続された(n−1)個の第1のXOR
ゲートとを含み、前記各フリップフロップにそれぞれク
ロックを供給してその各出力端から出力信号を得るよう
にしたことを特徴とする。
また、本発明において、n段のフリップフロップの各入
力端にこれら各フリップフロップのループの前段の比力
信号と各々独立の入力信号とをそれぞれ入力するn個の
第20XORゲートが付加されたものとすることもでき
る。
力端にこれら各フリップフロップのループの前段の比力
信号と各々独立の入力信号とをそれぞれ入力するn個の
第20XORゲートが付加されたものとすることもでき
る。
次に、本発明について図面を参照して説明する。
第1図は本発明の一実施例の回路図である。n個のFF
8〜12によりシフトレジスタが構成され、さらにLF
SRを構成するために(n−1)個のXORゲート17
〜20がカスケード接続され、これらの間に2:1マル
チプレクサ(MUX)13〜l6が接続されている. 各FF8〜l2のd力は、MUX1 3 〜1 6<7
)一方の入力に接続され、各MUX13〜16のもう一
方の入力が共通にマルチプレクサ入力端子2に接続され
、各MUX13〜l6のコン}・ロール入力端には各フ
ントロール端子21〜24に接続されそれぞれ独立にア
クセス可能となっている。
8〜12によりシフトレジスタが構成され、さらにLF
SRを構成するために(n−1)個のXORゲート17
〜20がカスケード接続され、これらの間に2:1マル
チプレクサ(MUX)13〜l6が接続されている. 各FF8〜l2のd力は、MUX1 3 〜1 6<7
)一方の入力に接続され、各MUX13〜16のもう一
方の入力が共通にマルチプレクサ入力端子2に接続され
、各MUX13〜l6のコン}・ロール入力端には各フ
ントロール端子21〜24に接続されそれぞれ独立にア
クセス可能となっている。
また、各MUX1 3 〜1 6の圧力はXoRゲート
17〜20の一方の入力に接続され、これらXORゲー
ト17〜20のもう一方の入力は、(n −1)段のX
ORゲート20の入力端がn段目FFl2の出力に接続
され、他のXORゲート17〜1!H!(n−1)段(
7)XO:Rゲート2oからXORゲート17まで順次
カスケード接続さh5かっ終端のXORゲー}17の出
力が1段目のFF8のデータ入力端に接続されている。
17〜20の一方の入力に接続され、これらXORゲー
ト17〜20のもう一方の入力は、(n −1)段のX
ORゲート20の入力端がn段目FFl2の出力に接続
され、他のXORゲート17〜1!H!(n−1)段(
7)XO:Rゲート2oからXORゲート17まで順次
カスケード接続さh5かっ終端のXORゲー}17の出
力が1段目のFF8のデータ入力端に接続されている。
このような構成によりこのLFSRは、コントロール端
子21〜24からの入力により、Σ(n−1)+1 Ci通りの生成多項式、つまりΣい−1)Ci通りの擬
似ランダムパターンの発生が可能となる。
子21〜24からの入力により、Σ(n−1)+1 Ci通りの生成多項式、つまりΣい−1)Ci通りの擬
似ランダムパターンの発生が可能となる。
第2図は本発明の第2の実旌例の回路図である。
本実施例は、第1図のLFSRを用いて構成した4ビッ
}BILBOレジスタを示している。この回路ハ、4個
のFF8〜1工と、4mのMUX13〜16と、3個の
XORゲート17〜19と、3個のFF36〜38と、
4個のXORゲート41〜44とを中心に構成されてい
る。この回路は、コン}o−ル端子21〜23からの3
本のフントロール信号により全体のシーケンスが制御さ
れる。TPOモードの設定には、コントロール端子21
〜23をロウレベルにしてシフト入力端子30からLF
SRの生成多項式を設定するためのシリアルデータな入
力する。各FF8〜10の出力と接続しているMUX1
3〜15は、FF36〜38にラッチされたデータによ
りセレクトされ生成多項式を設定する。次に、コントロ
ール端子22をハイレベルにし、クロック入力端子1か
らクロックをアクセスすることにより、出力端子61〜
64から設定された生成多項式に従い4ビットの擬似ラ
ンダムパターンが発生される。
}BILBOレジスタを示している。この回路ハ、4個
のFF8〜1工と、4mのMUX13〜16と、3個の
XORゲート17〜19と、3個のFF36〜38と、
4個のXORゲート41〜44とを中心に構成されてい
る。この回路は、コン}o−ル端子21〜23からの3
本のフントロール信号により全体のシーケンスが制御さ
れる。TPOモードの設定には、コントロール端子21
〜23をロウレベルにしてシフト入力端子30からLF
SRの生成多項式を設定するためのシリアルデータな入
力する。各FF8〜10の出力と接続しているMUX1
3〜15は、FF36〜38にラッチされたデータによ
りセレクトされ生成多項式を設定する。次に、コントロ
ール端子22をハイレベルにし、クロック入力端子1か
らクロックをアクセスすることにより、出力端子61〜
64から設定された生成多項式に従い4ビットの擬似ラ
ンダムパターンが発生される。
PSAモードの設定には、TPOモード設定時と同じく
生成多項式の設定を行ない、コント四一ル端子21.2
2をハイレベルにする。次に、クロック入力端子lから
クロックをアクセスすることにより、入力端子31〜3
4から入力されるデータが圧縮され,設定した生成多項
式に従ったングネチャ解析器となる。
生成多項式の設定を行ない、コント四一ル端子21.2
2をハイレベルにする。次に、クロック入力端子lから
クロックをアクセスすることにより、入力端子31〜3
4から入力されるデータが圧縮され,設定した生成多項
式に従ったングネチャ解析器となる。
以上説明した様に本発明は、LPSRの生成多項式のコ
ントロールが可能となるため、例えばBILBOのTP
Oを構成した場合には、LFSRとしての全組合せの擬
似ランダムパターンの発生が可能である。また、現在、
BILBOを用いたBIST設計では有効な回路分割方
法が無く、TPOから発生された擬似ランダムパターン
の故障検出率に対する有効性に疑問が持たれ、またテス
ト時間削減のためにはパターン制限が必要であり、目標
とする故障検圧率との間にジレンマが存在していたが、
本発明の構成を用いて生成多項式を可変設定することに
より、論理故障シュミレーションと併用して複数の擬似
ランダムパターンの部分的なマージにより、故障検出率
とパターン数制限の両方を満たすことが可能である。ま
た、PSAを構成した場合には、複数の生成多項式を構
成することにより、データ圧縮時の不良出力の誤判定を
改善することが可能となる。また,本発明の構成は、従
来のBILBO回路に少数の付加回路追加のみでよく、
オーバーヘッドにもさほどの影響を与えずに構成するこ
とができる。
ントロールが可能となるため、例えばBILBOのTP
Oを構成した場合には、LFSRとしての全組合せの擬
似ランダムパターンの発生が可能である。また、現在、
BILBOを用いたBIST設計では有効な回路分割方
法が無く、TPOから発生された擬似ランダムパターン
の故障検出率に対する有効性に疑問が持たれ、またテス
ト時間削減のためにはパターン制限が必要であり、目標
とする故障検圧率との間にジレンマが存在していたが、
本発明の構成を用いて生成多項式を可変設定することに
より、論理故障シュミレーションと併用して複数の擬似
ランダムパターンの部分的なマージにより、故障検出率
とパターン数制限の両方を満たすことが可能である。ま
た、PSAを構成した場合には、複数の生成多項式を構
成することにより、データ圧縮時の不良出力の誤判定を
改善することが可能となる。また,本発明の構成は、従
来のBILBO回路に少数の付加回路追加のみでよく、
オーバーヘッドにもさほどの影響を与えずに構成するこ
とができる。
4
第1図は本発明の一実施例のLFSRの等価回路図、第
2図は本発明の第2の実施例の回路図、第3図,第4図
は従来のLFSRを用いた2つの例の回路図である。 l・・・・・・クロック入力端子、2・・・・・・MU
X入力端子、3〜7,61〜64・・・・・・出力端子
(1〜n)、8 〜1 2. 3 6 〜3 8−FF
(1〜n)、13〜1 6−MUX (1 〜n −
1)、17〜20,41〜4 5−==・XOR
ゲー }(1 〜 n−1) 、 2 1 〜24
・・・・・・コントロールm子(1〜n−1)、30・
・・シフト入力端子、 31〜35・・・・・・入力端子。
2図は本発明の第2の実施例の回路図、第3図,第4図
は従来のLFSRを用いた2つの例の回路図である。 l・・・・・・クロック入力端子、2・・・・・・MU
X入力端子、3〜7,61〜64・・・・・・出力端子
(1〜n)、8 〜1 2. 3 6 〜3 8−FF
(1〜n)、13〜1 6−MUX (1 〜n −
1)、17〜20,41〜4 5−==・XOR
ゲー }(1 〜 n−1) 、 2 1 〜24
・・・・・・コントロールm子(1〜n−1)、30・
・・シフト入力端子、 31〜35・・・・・・入力端子。
Claims (2)
- (1)n段の直列接続されたフリップフロップからなる
シフトレジスタと、このシフトレジスタの最初から(n
−1)段目までの各フリップフロップの出力をそれぞれ
第1入力端に入力し共通入力端子から入力信号をそれぞ
れ第2入力端に接続し各コントロール入力端をそれぞれ
独立にアクセス可能とした(n−1)個の2:1マルチ
プレクサと、これらマルチプレクサの各出力がそれぞれ
一方の入力端に接続され他方の各入力端には前記n段目
のフリップフロップの出力端から前記1段目のフリップ
フロップの入力端の間で後段の出力がカスゲード接続さ
れた(n−1)個の第1のXORゲートとを含み、前記
各フリップフロップにそれぞれクロックを供給してその
各出力端から出力信号を得るようにしたことを特徴とす
るリニアフィードバック・シフトレジスタ。 - (2)n段のフリップフロップの各入力端にこれら各フ
リップフロップのループの前段の出力信号と各々独立の
入力信号とをそれぞれ入力するn個の第2のXORゲー
トが付加されたものである請求項1記載のリニアフィー
ドバック・シフトレジスタ。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009673A JPH03214809A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | リニアフィードバック・シフトレジスタ |
EP19910300436 EP0438322A3 (en) | 1990-01-19 | 1991-01-21 | Linear feedback shift register |
US07/644,259 US5090035A (en) | 1990-01-19 | 1991-01-22 | Linear feedback shift register |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2009673A JPH03214809A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | リニアフィードバック・シフトレジスタ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03214809A true JPH03214809A (ja) | 1991-09-20 |
Family
ID=11726732
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009673A Pending JPH03214809A (ja) | 1990-01-19 | 1990-01-19 | リニアフィードバック・シフトレジスタ |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5090035A (ja) |
EP (1) | EP0438322A3 (ja) |
JP (1) | JPH03214809A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5325201A (en) * | 1992-12-28 | 1994-06-28 | Sony Electronics Inc. | Pseudo-random number generator based on a video control counter |
KR100657240B1 (ko) * | 1999-07-10 | 2007-01-12 | 삼성전자주식회사 | 랜덤 데이터 발생기 |
JP2007129617A (ja) * | 2005-11-07 | 2007-05-24 | Renesas Technology Corp | マクロセル回路 |
Families Citing this family (47)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5483518A (en) | 1992-06-17 | 1996-01-09 | Texas Instruments Incorporated | Addressable shadow port and protocol for serial bus networks |
EP0579324B1 (en) * | 1992-07-17 | 1998-12-30 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Microprocessor with registered clock counting for at a predetermined count producing a command signal of adjustable shape, and a hierarchical interrupt system for use therewith |
EP0582083A1 (en) * | 1992-08-05 | 1994-02-09 | Motorola, Inc. | A method and apparatus for generating pseudo-random numbers |
DE69326681T2 (de) * | 1993-04-06 | 2000-02-10 | Hewlett Packard Co | Verfahren und Apparat zum Erzeugen von linearen Rückführungsschieberegistersequenzen |
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