JPH03209601A - ディスク装置 - Google Patents
ディスク装置Info
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- JPH03209601A JPH03209601A JP2005322A JP532290A JPH03209601A JP H03209601 A JPH03209601 A JP H03209601A JP 2005322 A JP2005322 A JP 2005322A JP 532290 A JP532290 A JP 532290A JP H03209601 A JPH03209601 A JP H03209601A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 10
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 7
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 5
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- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/012—Recording on, or reproducing or erasing from, magnetic disks
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/12—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing by sensing distinguishing features of or on records, e.g. diameter end mark
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B20/00—Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
- G11B20/10—Digital recording or reproducing
- G11B20/18—Error detection or correction; Testing, e.g. of drop-outs
- G11B20/1816—Testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
Ａ、産業上の利用分野
本発明は、ディスク装置に関し、特にディスク装置のバ
ーンインに関するものである。
ーンインに関するものである。
Ｂ０発明の概要
本発明は、バーンイン用の自己診断プログラムを記憶す
る記憶手段と、記憶手段に記憶された自己診断プログラ
ムを実行する自己診断プログラム実行手段と、自己診断
プログラム実行手段からの自己診断プログラムを実行し
た結果を記憶するメモリとを有し、ホストコンピュータ
を必要とせず、ディスク装置単□独で効率的にバーンイ
ンを行うようにしたものである。
る記憶手段と、記憶手段に記憶された自己診断プログラ
ムを実行する自己診断プログラム実行手段と、自己診断
プログラム実行手段からの自己診断プログラムを実行し
た結果を記憶するメモリとを有し、ホストコンピュータ
を必要とせず、ディスク装置単□独で効率的にバーンイ
ンを行うようにしたものである。
Ｃ１従来の技術
時間とストレスに依存する故障を内在する装置をスクリ
ーニングするために、製造工程において、装置に所定の
温度を加えて試験（以下テストと呼ぶ）を行う所謂バー
ンイン（Ｂｕｒｎ ｉｎ）が知られている。
ーニングするために、製造工程において、装置に所定の
温度を加えて試験（以下テストと呼ぶ）を行う所謂バー
ンイン（Ｂｕｒｎ ｉｎ）が知られている。
従来、ディスク装置のバーンインでは、ディスク装置を
バーンインチャンバ（恒温槽）に入れて所定の温度を加
えながら、ホストコンピュータとディスク装置をインタ
ーフェイス・ケーブルで接続してホストコンピュータの
制御のもとに、例えばホストコンピュータからテストプ
ログラムをディスク装置にダウンラインロードさせた後
、ホストコンピュータの指示によりテストプログラムを
実行させ、その結果をホストコンピュータで収集してデ
ィスク装置の良否の判定を行っていた（以下オンライン
方式と呼ぶ）。
バーンインチャンバ（恒温槽）に入れて所定の温度を加
えながら、ホストコンピュータとディスク装置をインタ
ーフェイス・ケーブルで接続してホストコンピュータの
制御のもとに、例えばホストコンピュータからテストプ
ログラムをディスク装置にダウンラインロードさせた後
、ホストコンピュータの指示によりテストプログラムを
実行させ、その結果をホストコンピュータで収集してデ
ィスク装置の良否の判定を行っていた（以下オンライン
方式と呼ぶ）。
このオンライン方式には、例えば第４図に示すようなホ
ストコンピュータとディスク装置を１＝１で接続するシ
ステム（１：１システムと呼ぶ）と、第５図に示すよう
ににＮで接続するシステム（以下１：Ｎシステムと呼ぶ
）が知られている。
ストコンピュータとディスク装置を１＝１で接続するシ
ステム（１：１システムと呼ぶ）と、第５図に示すよう
ににＮで接続するシステム（以下１：Ｎシステムと呼ぶ
）が知られている。
バーンインの設備としては、１−Ｎシステムの方が比較
的小さな設備で済むが、ホストコンピュータとディスク
装置を接続するインターフェイス・ケーブルが複雑にな
り、例えばホストコンピュータとディスク装置のインタ
ーフェイスが所謂ＳＣＳ Ｉ （Ｓｍａｌｌ Ｃｏｍｏ
ｕｔｏｒ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）の場合
、インターフェイス・ケーブルは５０芯のケーブルとな
り、このインターフェイス・ケーブルのハンドリングは
大変なものである。
的小さな設備で済むが、ホストコンピュータとディスク
装置を接続するインターフェイス・ケーブルが複雑にな
り、例えばホストコンピュータとディスク装置のインタ
ーフェイスが所謂ＳＣＳ Ｉ （Ｓｍａｌｌ Ｃｏｍｏ
ｕｔｏｒ Ｓｙｓｔｅｍ Ｉｎｔｅｒｆａｃｅ）の場合
、インターフェイス・ケーブルは５０芯のケーブルとな
り、このインターフェイス・ケーブルのハンドリングは
大変なものである。
また、バーンインのテスト項目には、例えば欠陥ブロッ
クの検出、欠陥ブロックを予備ブロックに配置する欠陥
ブロックの再配置、エラー測定、エラーレート測定等の
項目があり、−回のバーンインに例えば約２０時間を要
している。したがって、製造工程におけるバーンインの
占める割合は、時間的にも、設備投資や設備のスペース
等の設備の面からも大きいものである。また、既存の設
備を用いて一度に何台のディスク装置をバーンインする
ことができるかが、製造台数の能力を左右するものであ
る。
クの検出、欠陥ブロックを予備ブロックに配置する欠陥
ブロックの再配置、エラー測定、エラーレート測定等の
項目があり、−回のバーンインに例えば約２０時間を要
している。したがって、製造工程におけるバーンインの
占める割合は、時間的にも、設備投資や設備のスペース
等の設備の面からも大きいものである。また、既存の設
備を用いて一度に何台のディスク装置をバーンインする
ことができるかが、製造台数の能力を左右するものであ
る。
Ｄ６発明が解決しようとする課題
本発明は、このような実情に鑑みてなされたものであり
、バーンインをホストコンピュータやインターフェイス
・ケーブルを必要とせず、効率的に行うことができるデ
ィスク装置の提供を目的とする。
、バーンインをホストコンピュータやインターフェイス
・ケーブルを必要とせず、効率的に行うことができるデ
ィスク装置の提供を目的とする。
６１課題を解決するための手段
本発明に係るディスク装置は、バーンイン用の自己診断
プログラムを記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶さ
れた自己診断プログラムを実行する自己診断プログラム
実行手段と、該自己診断プログラム実行手段からの上記
自己診断プログラムを実行した結果を記憶するメモリと
を有することにより、上記課題を解決する。
プログラムを記憶する記憶手段と、該記憶手段に記憶さ
れた自己診断プログラムを実行する自己診断プログラム
実行手段と、該自己診断プログラム実行手段からの上記
自己診断プログラムを実行した結果を記憶するメモリと
を有することにより、上記課題を解決する。
Ｆ０作用
本発明に係るディスク装置は、自己診断プログラムを実
行し、実行結果を記憶することにより、バーンインをデ
ィスク装置単独で行う。
行し、実行結果を記憶することにより、バーンインをデ
ィスク装置単独で行う。
Ｇ、実施例
以下、本発明に係るディスク装置の一実施例を図面を参
照しながら説明する。第１図は、本発明を適用した磁気
ディスク装置のブロック回路図である。
照しながら説明する。第１図は、本発明を適用した磁気
ディスク装置のブロック回路図である。
第１図において、この磁気ディスク装置ｌは、磁気ディ
スク２ａ、該磁気ディスク２ａの記録トランクを走査す
る磁気ヘッド２ｂ、該磁気ヘッド２ｂのトラッキングサ
ーボ制御等を行うサーボ制御回路２０等から構成される
ディスクドライブ２と、バーンインプログラム、磁気デ
ィスク装置１の制御プログラム等が記憶されているリー
ドオンリメモリ（以下ＲＯＭと呼ぶ）１０と、該ＲＯＭ
１０に記憶されているバーンインプログラムを実行し、
また磁気ディスク装置ｌのデータ記録又は再生動作を制
御する中央処理装置（以下ＣＰＵと呼ぶ）１２と、実行
さたバーンインの結果等を一時的に記憶するランダムア
クセスメモリ（以下ＲＡＭと呼ぶ）１１と、ホストコン
ピュータとのデータのインターフェイス等を司るＨＤＣ
回路１３と、上記ＣＰＵ１２のクロック信号、ホストコ
ンピュータとのインターフェイスのためのクロック信号
、上記磁気ヘッド２ｂを駆動するためのデータを変調す
るクロック信号等を発生するゲートアレイ回路１４と、
該ゲートアレイ回路１４からの記録データにより上記磁
気ヘッド２ｂを駆動し、また磁気へラド２ｂで再生され
る再生信号から再生データを生成するＲ／Ｗ回路１５と
、ｇｌＲ／Ｗ回路１５からの再生データよりデータを分
離するデータ分離回路１６と、該データ分離回路１６で
分離されたデータ、ホストコンピュータからのデータ、
上記磁気ディスク２ａのメンテナンスシリンダに記録さ
れている後述するバーンインのパラメータ等を一時的に
記憶するバッファＲＡＭ１７とから構成される。
スク２ａ、該磁気ディスク２ａの記録トランクを走査す
る磁気ヘッド２ｂ、該磁気ヘッド２ｂのトラッキングサ
ーボ制御等を行うサーボ制御回路２０等から構成される
ディスクドライブ２と、バーンインプログラム、磁気デ
ィスク装置１の制御プログラム等が記憶されているリー
ドオンリメモリ（以下ＲＯＭと呼ぶ）１０と、該ＲＯＭ
１０に記憶されているバーンインプログラムを実行し、
また磁気ディスク装置ｌのデータ記録又は再生動作を制
御する中央処理装置（以下ＣＰＵと呼ぶ）１２と、実行
さたバーンインの結果等を一時的に記憶するランダムア
クセスメモリ（以下ＲＡＭと呼ぶ）１１と、ホストコン
ピュータとのデータのインターフェイス等を司るＨＤＣ
回路１３と、上記ＣＰＵ１２のクロック信号、ホストコ
ンピュータとのインターフェイスのためのクロック信号
、上記磁気ヘッド２ｂを駆動するためのデータを変調す
るクロック信号等を発生するゲートアレイ回路１４と、
該ゲートアレイ回路１４からの記録データにより上記磁
気ヘッド２ｂを駆動し、また磁気へラド２ｂで再生され
る再生信号から再生データを生成するＲ／Ｗ回路１５と
、ｇｌＲ／Ｗ回路１５からの再生データよりデータを分
離するデータ分離回路１６と、該データ分離回路１６で
分離されたデータ、ホストコンピュータからのデータ、
上記磁気ディスク２ａのメンテナンスシリンダに記録さ
れている後述するバーンインのパラメータ等を一時的に
記憶するバッファＲＡＭ１７とから構成される。
かくして、本実施例では、上記ＲＯＭｌ０が、バーンイ
ン用の自己診断プログラムを記憶する記憶手段として用
いられ、上記ＣＰＵ１２が、ＲＯＭｌ０に記憶された自
己診断プログラムを実行する自己診断プログラム実行手
段として用いられ、上記ＲＡＭＩＩが、ＣＰＵＩ ２か
らの自己診断プログラムを実行した結果を記憶するメモ
リとして用いられる。
ン用の自己診断プログラムを記憶する記憶手段として用
いられ、上記ＣＰＵ１２が、ＲＯＭｌ０に記憶された自
己診断プログラムを実行する自己診断プログラム実行手
段として用いられ、上記ＲＡＭＩＩが、ＣＰＵＩ ２か
らの自己診断プログラムを実行した結果を記憶するメモ
リとして用いられる。
上述のような構成を有する磁気ディスク装置１に！＃を
接続し、この磁気ディスク装置１をバーンインチャンバ
に入れて所定の温度あるいは所定の温度サイクルを加え
る。
接続し、この磁気ディスク装置１をバーンインチャンバ
に入れて所定の温度あるいは所定の温度サイクルを加え
る。
ここで、第２図に示すフローチャートを用いて磁気ディ
スク装置１のバーンインについて説明する。
スク装置１のバーンインについて説明する。
まず、ステップＳＴＩにおいて、試験者は電源を投入す
る。これにより、ＣＰＵ１２は自動的にステップＳＴ２
に進む。
る。これにより、ＣＰＵ１２は自動的にステップＳＴ２
に進む。
ステップＳＴ２において、ＣＰＵ１２は、Ｒ／Ｗ回路１
５、データ分離回路１６、ＨＤｔＪｌ路１３を介して磁
気ディスク２ａのメンテナンスシリンダに記録されてい
る通常のデータ記録又は再生を行うノーマルモードかバ
ーンインを行うバーンインモードかを指示するパラメー
タを読み出して判断する０判断の結果、ノーマルモード
のときはステップＳＴ４に進み、磁気ディスク装置１は
通常の使用状態となり、バーンインモードのときはステ
ップＳＴ３に進む。
５、データ分離回路１６、ＨＤｔＪｌ路１３を介して磁
気ディスク２ａのメンテナンスシリンダに記録されてい
る通常のデータ記録又は再生を行うノーマルモードかバ
ーンインを行うバーンインモードかを指示するパラメー
タを読み出して判断する０判断の結果、ノーマルモード
のときはステップＳＴ４に進み、磁気ディスク装置１は
通常の使用状態となり、バーンインモードのときはステ
ップＳＴ３に進む。
ステップＳＴ３において、ＣＰＵＩ ２は、例えば、電
源投入から後述する諸々のテストを開始するまでの時間
、テスト時間、テストの休止時間、テストの回数、リー
ド／ライトの方法、シータ方法等バーンインに必要なパ
ラメータが磁気ディスク２ａのメンテナンスシリンダあ
るいはＥＥＰＲＯＭ （Ｅｌｅｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒ
ａｓａｂｌｅ ａｎｄ ＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＲｅ
ａｄ ０ｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）に記録されているかを
判断する。上記パラメータが無いときはステップＳＴ４
に進み、デイフォルトで設定（初期設定）されているデ
イフォルトパラメータをバーンインのパラメータとして
セットし、ステップＳＴ６に進む。
源投入から後述する諸々のテストを開始するまでの時間
、テスト時間、テストの休止時間、テストの回数、リー
ド／ライトの方法、シータ方法等バーンインに必要なパ
ラメータが磁気ディスク２ａのメンテナンスシリンダあ
るいはＥＥＰＲＯＭ （Ｅｌｅｔｒｉｃａｌｌｙ Ｅｒ
ａｓａｂｌｅ ａｎｄ ＰｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅＲｅ
ａｄ ０ｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ）に記録されているかを
判断する。上記パラメータが無いときはステップＳＴ４
に進み、デイフォルトで設定（初期設定）されているデ
イフォルトパラメータをバーンインのパラメータとして
セットし、ステップＳＴ６に進む。
一方パラメータが有るときはス、テップＳＴ５に進み、
当該パラメータを読み出してセットし、ステップＳＴ６
に進む。
当該パラメータを読み出してセットし、ステップＳＴ６
に進む。
ステップＳＴ６において、ＣＰＵ１２は、上記セットさ
れたパラメータを用いてＲＯＭｌ０に記憶されているバ
ーンインプログラムを実行する。
れたパラメータを用いてＲＯＭｌ０に記憶されているバ
ーンインプログラムを実行する。
例えば、ＣＰＵ１２は、欠陥ブロックの検出及び欠陥ブ
ロックを再配置するディフェクトサーチテスト（Ｄｅｆ
ｅｃｔ ａｅａｒｃｈ ｔｅｓｔ）を実行すると共に、
その結果をＲＡＭＩＩに記憶する。具体的には、磁気デ
ィスク２ａの全面に対して１０２４ブロツク毎にデータ
を書き込んだ後、そのデータを読み出し、書き込んだデ
ータと読み出したデータを比較するライトベリファイを
１０回行い、リード／ライト（Ｒｅａｄ ａｆｔｅｒ
Ｗｒｉｔｅ）エラーがあるブロックを検出する。さらに
このブロックに対してライトベリファイを１００回行い
、１回でもリード／ライトエラーがあるときはこのブロ
ックを欠陥ブロックとして検出する。そしてこの欠陥ブ
ロックを予備ブロックに配置し、この再配置されたブロ
ックのライトベリファイを１００回行うディフェクトサ
ーチテストを実行し、その結果をＲＡＭＩＩに記憶する
。また例えば、ＣＰＵ１２は、エラーの測定、エラーレ
ートの測定等を実行すると共に、その結果をＲＡＭＩＩ
に記憶する。具体的には、磁気ヘッド２ｂを長い距離あ
るいは短い距離でシークしながら、磁気ディスク２ａの
全面に対して、２５５ブロツク毎にあるいは可変長ブロ
ックでライトベリファイを行い、リード／ライトエラー
が内在するブロックを検出する。さらにこのブロックに
対して１１回のライトベリファイを行い、例えば１０回
以内でリード／ライトエラーが無くなるソフトエラー、
１１回目にエラー訂正を行ったときリード／ライトエラ
ーが無くなるハードエラ、回復不能エラーに分類してエ
ラーの数をカウンタするエラー測定を実行すると共に、
その結果をＲＡＭＩＩに記憶する。また、テストしたブ
ロック数に対するエラーが内在するブロック数、すなわ
ちエラーレート測定を実行し、ＲＡＭＩＩに記憶する。
ロックを再配置するディフェクトサーチテスト（Ｄｅｆ
ｅｃｔ ａｅａｒｃｈ ｔｅｓｔ）を実行すると共に、
その結果をＲＡＭＩＩに記憶する。具体的には、磁気デ
ィスク２ａの全面に対して１０２４ブロツク毎にデータ
を書き込んだ後、そのデータを読み出し、書き込んだデ
ータと読み出したデータを比較するライトベリファイを
１０回行い、リード／ライト（Ｒｅａｄ ａｆｔｅｒ
Ｗｒｉｔｅ）エラーがあるブロックを検出する。さらに
このブロックに対してライトベリファイを１００回行い
、１回でもリード／ライトエラーがあるときはこのブロ
ックを欠陥ブロックとして検出する。そしてこの欠陥ブ
ロックを予備ブロックに配置し、この再配置されたブロ
ックのライトベリファイを１００回行うディフェクトサ
ーチテストを実行し、その結果をＲＡＭＩＩに記憶する
。また例えば、ＣＰＵ１２は、エラーの測定、エラーレ
ートの測定等を実行すると共に、その結果をＲＡＭＩＩ
に記憶する。具体的には、磁気ヘッド２ｂを長い距離あ
るいは短い距離でシークしながら、磁気ディスク２ａの
全面に対して、２５５ブロツク毎にあるいは可変長ブロ
ックでライトベリファイを行い、リード／ライトエラー
が内在するブロックを検出する。さらにこのブロックに
対して１１回のライトベリファイを行い、例えば１０回
以内でリード／ライトエラーが無くなるソフトエラー、
１１回目にエラー訂正を行ったときリード／ライトエラ
ーが無くなるハードエラ、回復不能エラーに分類してエ
ラーの数をカウンタするエラー測定を実行すると共に、
その結果をＲＡＭＩＩに記憶する。また、テストしたブ
ロック数に対するエラーが内在するブロック数、すなわ
ちエラーレート測定を実行し、ＲＡＭＩＩに記憶する。
上記のようなバーンインプログラムを実行した後、ＣＰ
Ｕ１２は、ステップＳＴ７に進み、ＲＡＭ１ｌに記憶さ
れている上記バーンインプログラム実行中に発生したバ
ーンインの結果（テストデータ）をＨＤＣ回路１３、デ
ータ分離回路１６、Ｒ／Ｗ回路１５、磁気ヘッド２ｂを
介して磁気ディスク２ａのメンテナンスシリンダに記録
し、ステップＳＴ８に進む。
Ｕ１２は、ステップＳＴ７に進み、ＲＡＭ１ｌに記憶さ
れている上記バーンインプログラム実行中に発生したバ
ーンインの結果（テストデータ）をＨＤＣ回路１３、デ
ータ分離回路１６、Ｒ／Ｗ回路１５、磁気ヘッド２ｂを
介して磁気ディスク２ａのメンテナンスシリンダに記録
し、ステップＳＴ８に進む。
ステップＳＴ８において、ＣＰＵ１２は、磁気ディスク
装置ｌが次回の電源投入時に自動的にノーマルモードで
動作を開始するように、磁気ディスク２ａのメンテナン
スシリンダに記録されているパラメータを書換え、ステ
ップＳＴ９に進む。
装置ｌが次回の電源投入時に自動的にノーマルモードで
動作を開始するように、磁気ディスク２ａのメンテナン
スシリンダに記録されているパラメータを書換え、ステ
ップＳＴ９に進む。
ステップＳＴ９において、バーンインは終了すると共に
、ＣＰＵＩ ２は、試験者が磁気ディスク装置１の良否
を識別できるように、例えば磁気ディスク装置１の使用
状態を示す発光ダイオード（以下ＬＥＤと呼ぶ）を用い
て、通常の使用状態と区別できるような点滅間隔でこの
ＬＥＤを点滅させ、試験者に磁気ディスク装置１の良否
を識別させる。なお、ＬＥＤの点滅は試験者が止めるま
で繰り返す。
、ＣＰＵＩ ２は、試験者が磁気ディスク装置１の良否
を識別できるように、例えば磁気ディスク装置１の使用
状態を示す発光ダイオード（以下ＬＥＤと呼ぶ）を用い
て、通常の使用状態と区別できるような点滅間隔でこの
ＬＥＤを点滅させ、試験者に磁気ディスク装置１の良否
を識別させる。なお、ＬＥＤの点滅は試験者が止めるま
で繰り返す。
ところで、上記実施例は、ＲＯＭｌ０にバーンインプロ
グラムを記憶している場合であるが、このバーンインプ
ログラムを磁気ディスク２ａに記録し、ＲＯＭｌ０には
磁気ディスク２ａに記録されたバーンインプログラムを
読み込む、所謂ローダを記憶するようにしてもよい。す
なわち、第３図に示すフローチャートを実行するように
してもよい。ここで、第３図に示すフローチャートを用
いて磁気ディスク装置Ｉのバーンインについて説明する
。
グラムを記憶している場合であるが、このバーンインプ
ログラムを磁気ディスク２ａに記録し、ＲＯＭｌ０には
磁気ディスク２ａに記録されたバーンインプログラムを
読み込む、所謂ローダを記憶するようにしてもよい。す
なわち、第３図に示すフローチャートを実行するように
してもよい。ここで、第３図に示すフローチャートを用
いて磁気ディスク装置Ｉのバーンインについて説明する
。
ステップＳＴＩにおいて、試験者は電源を投入する。こ
れにより、ＣＰＵ１２は自動的にステップＳＴ２に進む
。
れにより、ＣＰＵ１２は自動的にステップＳＴ２に進む
。
ステップＳＴ２において、ＣＰＵ１２は、第２図に示す
フローチャートと同様に、ノーマルモードかバーンイン
モードかを判断して、ステップＳＴ３あるいはステップ
ＳＴ４に進む。
フローチャートと同様に、ノーマルモードかバーンイン
モードかを判断して、ステップＳＴ３あるいはステップ
ＳＴ４に進む。
ステップＳＴ３において、ＣＰＵ１２は、磁気ディスク
２ａに記録されているバーンインプログラムを読み出し
、このバーンインプログラムをＲＡＭＩＩに記憶し、ス
テップＳＴ４に進む。
２ａに記録されているバーンインプログラムを読み出し
、このバーンインプログラムをＲＡＭＩＩに記憶し、ス
テップＳＴ４に進む。
ステップＳＴ４において、ＣＰＵ１２は、制御をＲＡＭ
１１に記憶されているバーンインプログラムに移行し、
ステップＳＴ５に進む。
１１に記憶されているバーンインプログラムに移行し、
ステップＳＴ５に進む。
ステップＳＴ５において、ＣＰＵ１２は、第２図に示す
ステップＳＴ６と同様に、ＲＡＭＩＩに記憶されている
バーンインプログラムを実行し、ステップＳＴ６に進む
。
ステップＳＴ６と同様に、ＲＡＭＩＩに記憶されている
バーンインプログラムを実行し、ステップＳＴ６に進む
。
ステップＳＴ６において、ＣＰＵ１２は、第２図に示す
ステップＳＴ７と同様に、バーンインの結果を磁気ディ
スク２ａのメンテナンスシリンダに記録し、ステップＳ
Ｔ７に進む。
ステップＳＴ７と同様に、バーンインの結果を磁気ディ
スク２ａのメンテナンスシリンダに記録し、ステップＳ
Ｔ７に進む。
ステップＳＴ７において、ＣＰＵ１２は、第２図に示す
ステップＳＴ８と同様に、次回の電源投入時に自動的に
ノーマルモードで動作を開始するように、磁気ディスク
２ａのメンテナンスシリンダに記録されているパラメー
タを書換え、ステップＳＴ８に進む。
ステップＳＴ８と同様に、次回の電源投入時に自動的に
ノーマルモードで動作を開始するように、磁気ディスク
２ａのメンテナンスシリンダに記録されているパラメー
タを書換え、ステップＳＴ８に進む。
ステップＳＴ８において、バーンインは終了すると共に
、ＣＰＵ１２は、第２図に示すステップＳＴ９と同様に
、ＬＥＤを点滅させ、試験者に磁気ディスク装置１の良
否を識別させる。
、ＣＰＵ１２は、第２図に示すステップＳＴ９と同様に
、ＬＥＤを点滅させ、試験者に磁気ディスク装置１の良
否を識別させる。
以上の説明で明らかなように、バーンインプログラムを
ＲＯＭｌ０あるいは磁気ディスク２ａに記憶しておき、
電源投入により自動的にこのバーンインプログラムを実
行することにより、磁気ディスク装置１のバーンインを
ホストコンピュータ、インターフェイス・ケーブルを必
要とせず、効率的に行うことができる。すなわち、設備
としては、バーンインチャンバ、電源、磁気ディスク装
置１をマウントするラックのみで済み、設備投資が少な
くて済む。また、ホストコンピュータを必要としないの
で、設備のスペースも少なくて済む、また、インターフ
ェイスケーブルを使用しないので、外来ノイズに強い設
備とすることができ、さらに磁気ディスク装置の種類が
変更になっても設備を変更する必要がない。また、ホス
トコンピュータと磁気ディスク装置及び磁気ディスク装
置間を接続していないので、従来のように他の磁気ディ
スク装置に対する影響を考慮する必要もなく、バーンイ
ンが終了した磁気ディスク装置をこれがらバーンインを
行う他の磁気ディスク装置に何時でも交換することがで
きるので、効率的なバーンインを行うことができる。
ＲＯＭｌ０あるいは磁気ディスク２ａに記憶しておき、
電源投入により自動的にこのバーンインプログラムを実
行することにより、磁気ディスク装置１のバーンインを
ホストコンピュータ、インターフェイス・ケーブルを必
要とせず、効率的に行うことができる。すなわち、設備
としては、バーンインチャンバ、電源、磁気ディスク装
置１をマウントするラックのみで済み、設備投資が少な
くて済む。また、ホストコンピュータを必要としないの
で、設備のスペースも少なくて済む、また、インターフ
ェイスケーブルを使用しないので、外来ノイズに強い設
備とすることができ、さらに磁気ディスク装置の種類が
変更になっても設備を変更する必要がない。また、ホス
トコンピュータと磁気ディスク装置及び磁気ディスク装
置間を接続していないので、従来のように他の磁気ディ
スク装置に対する影響を考慮する必要もなく、バーンイ
ンが終了した磁気ディスク装置をこれがらバーンインを
行う他の磁気ディスク装置に何時でも交換することがで
きるので、効率的なバーンインを行うことができる。
なお、本発明は上記実施例には限定されるものではなく
、例えば、磁気ディスク装置の内部に設けられたスイッ
チや治具からの外部入力により、バーンインを開始する
ようにしてもよい。
、例えば、磁気ディスク装置の内部に設けられたスイッ
チや治具からの外部入力により、バーンインを開始する
ようにしてもよい。
また、バーンイン終了後、磁気ディスク２ａに記録され
ているバーンインの結果をホストコンピュータに読み込
み、例えば磁気ディスク装置の欠陥解析等に活用するよ
うにしてもよい。
ているバーンインの結果をホストコンピュータに読み込
み、例えば磁気ディスク装置の欠陥解析等に活用するよ
うにしてもよい。
また、バーンインの結果を、磁気ディスク装置内に設け
られたＥＥＦＲＯＭに記憶するようにしてもよい。
られたＥＥＦＲＯＭに記憶するようにしてもよい。
Ｈ０発明の効果
以上の説明からも明らかなように、本発明では、ディス
ク装置自体にバーンインプログラムを記憶しておき、電
源投入等のトリガによって自動的にこのバーンインプロ
グラムを実行することにより、ディスク装置のバーンイ
ンをホストコンピュータ、インターフェイス・ケーブル
等を必要とせず、効率的に行うことができる。この結果
、より少ない設備投資、より少ない設備スペースでディ
スク装置のバーンインを行うことが可能となり、製造工
程におけるコストの軽減ができる。
ク装置自体にバーンインプログラムを記憶しておき、電
源投入等のトリガによって自動的にこのバーンインプロ
グラムを実行することにより、ディスク装置のバーンイ
ンをホストコンピュータ、インターフェイス・ケーブル
等を必要とせず、効率的に行うことができる。この結果
、より少ない設備投資、より少ない設備スペースでディ
スク装置のバーンインを行うことが可能となり、製造工
程におけるコストの軽減ができる。
第１図は本発明を適用した磁気ディスク装置のブロック
回路図であり、第２図はバーンインプログラムがＲＯＭ
に記憶されている場合のバーンインのフローチャートで
あり、第３図はバーンインプログラムが磁気ディスクに
記録されている場合のバーンインのフローチャートであ
り、第４図は従来のバーンインにおけるｌ：ｌシステム
の構成を示す図であり、第５図は従来のバーンインにお
ける１：Ｎシステムの構成を示す図である。 ｌ ・ ・ ２ａ ・ ２ｂ ・ １０ ・ １１ ・ １２ ・ ・磁気ディスク装置 ・・磁気ディスク ・・磁気ヘッド ・・ＲＯＭ ・・ＲＡＭ ・・ＣＰＵ 特許
回路図であり、第２図はバーンインプログラムがＲＯＭ
に記憶されている場合のバーンインのフローチャートで
あり、第３図はバーンインプログラムが磁気ディスクに
記録されている場合のバーンインのフローチャートであ
り、第４図は従来のバーンインにおけるｌ：ｌシステム
の構成を示す図であり、第５図は従来のバーンインにお
ける１：Ｎシステムの構成を示す図である。 ｌ ・ ・ ２ａ ・ ２ｂ ・ １０ ・ １１ ・ １２ ・ ・磁気ディスク装置 ・・磁気ディスク ・・磁気ヘッド ・・ＲＯＭ ・・ＲＡＭ ・・ＣＰＵ 特許
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 バーンイン用の自己診断プログラムを記憶する記憶手段
と、 該記憶手段に記憶された自己診断プログラムを実行する
自己診断プログラム実行手段と、該自己診断プログラム
実行手段からの上記自己診断プログラムを実行した結果
を記憶するメモリとを有することを特徴とするディスク
装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005322A JP2830269B2 (ja) | 1990-01-12 | 1990-01-12 | ディスク装置 |
| KR1019910000237A KR100236133B1 (ko) | 1990-01-12 | 1991-01-10 | 디스크 기록/재생장치 |
| US08/507,780 US5537537A (en) | 1990-01-12 | 1995-07-26 | Burn-in diagnostic technique for a disc driving apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2005322A JP2830269B2 (ja) | 1990-01-12 | 1990-01-12 | ディスク装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03209601A true JPH03209601A (ja) | 1991-09-12 |
| JP2830269B2 JP2830269B2 (ja) | 1998-12-02 |
Family
ID=11608017
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2005322A Expired - Fee Related JP2830269B2 (ja) | 1990-01-12 | 1990-01-12 | ディスク装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5537537A (ja) |
| JP (1) | JP2830269B2 (ja) |
| KR (1) | KR100236133B1 (ja) |
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| US7401168B2 (en) | 2003-05-15 | 2008-07-15 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Method and apparatus for communication via serial multi-port, and recording medium |
| US7565578B2 (en) | 2007-02-09 | 2009-07-21 | Hitachi-Lg Data Storage, Inc. | Optical disc apparatus, and method for self-diagnosis control of optical disc apparatus |
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| JPH096426A (ja) * | 1995-06-20 | 1997-01-10 | Hitachi Ltd | 光ディスク装置及びその診断方法並びに診断用光ディスク媒体 |
| US5786677A (en) * | 1995-12-20 | 1998-07-28 | Phase Metrics | Stops and a clutch for a loader that test the flying height of a disk drive head gimbal assembly |
| KR100214466B1 (ko) * | 1995-12-26 | 1999-08-02 | 구본준 | 반도체 메모리의 셀프 번인회로 |
| KR100214308B1 (ko) | 1996-05-11 | 1999-08-02 | 윤종용 | 하드디스크 드라이브의 테스트장치 |
| US5825785A (en) * | 1996-05-24 | 1998-10-20 | Internaitonal Business Machines Corporation | Serial input shift register built-in self test circuit for embedded circuits |
| KR100191269B1 (ko) | 1996-08-23 | 1999-06-15 | 윤종용 | 하드 디스크를 이용한 컴퓨터 시스템의 검사 방법 |
| KR100422426B1 (ko) * | 1996-11-15 | 2004-06-26 | 삼성전자주식회사 | 하드디스크드라이브제조공정의수율향상을위한번-인/최종테스트방법 |
| US5877956A (en) * | 1996-12-23 | 1999-03-02 | Micron Electronics, Inc. | System for burning in and diagnostically testing a computer |
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| US7904750B2 (en) * | 2006-03-24 | 2011-03-08 | Broadcom Corporation | Sector-oriented hardware defect compression based on format information |
| US20100134912A1 (en) * | 2007-08-22 | 2010-06-03 | Willliam Charles Koester | Lubricant distribution in hard disk drives used for digital video recorders |
Family Cites Families (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS534407B1 (ja) * | 1970-12-25 | 1978-02-17 | ||
| US4103338A (en) * | 1977-02-28 | 1978-07-25 | Xerox Corporation | Self-diagnostic method and apparatus for disk drive |
| US4326290A (en) * | 1979-10-16 | 1982-04-20 | Burroughs Corporation | Means and methods for monitoring the storage states of a memory and other storage devices in a digital data processor |
| US4380805A (en) * | 1980-09-08 | 1983-04-19 | Mostek Corporation | Tape burn-in circuit |
| FR2570232A1 (fr) * | 1984-09-11 | 1986-03-14 | Thomson Csf | Dispositif de traduction de sequence de test en sequence de rodage pour circuit logique et/ou numerique, procede de rodage de circuit logique et/ou numerique et dispositif de rodage de circuit logique et/ou numerique |
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| US4866714A (en) * | 1987-10-15 | 1989-09-12 | Westinghouse Electric Corp. | Personal computer-based dynamic burn-in system |
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-
1990
- 1990-01-12 JP JP2005322A patent/JP2830269B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1991
- 1991-01-10 KR KR1019910000237A patent/KR100236133B1/ko not_active IP Right Cessation
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1995
- 1995-07-26 US US08/507,780 patent/US5537537A/en not_active Expired - Lifetime
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| US8320070B2 (en) | 2010-06-23 | 2012-11-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Magnetic disk drive and method for adjusting parameter in the same |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US5537537A (en) | 1996-07-16 |
| KR100236133B1 (ko) | 1999-12-15 |
| KR910014912A (ko) | 1991-08-31 |
| JP2830269B2 (ja) | 1998-12-02 |
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