JPH03207862A - 微細パターン形成方法 - Google Patents
微細パターン形成方法Info
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Landscapes
- Physical Or Chemical Processes And Apparatus (AREA)
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、微少な電界を用いた微細パターン形成方法に
関するものである。
関するものである。
(従来の技術)
従来、基板上にガスを用いて所望の物質を堆積する技術
では、第3図(a),(b)に示す工程によって行われ
ている。まず、真空中にSi基板32を置き加熱して表
面を清浄化した後、堆積させるべき材料に含まれる少な
くとも一部の元素を構成元素として含む1種または2種
以上のガス状分子例えばWF5やW(CO)6を被堆積
基板上に流し、基板表面に吸着層を形成させ、吸着分子
31とする。
では、第3図(a),(b)に示す工程によって行われ
ている。まず、真空中にSi基板32を置き加熱して表
面を清浄化した後、堆積させるべき材料に含まれる少な
くとも一部の元素を構成元素として含む1種または2種
以上のガス状分子例えばWF5やW(CO)6を被堆積
基板上に流し、基板表面に吸着層を形成させ、吸着分子
31とする。
次に、第3図(b)のようにエネルギーを持った光、電
子ビーム、イオンビームを基板表面に照射すると、吸着
分子31は所望の堆積材料33(W)と揮発性のガス3
4(F2やCO)とに分解し、堆積材料33が基板表面
に析出する。
子ビーム、イオンビームを基板表面に照射すると、吸着
分子31は所望の堆積材料33(W)と揮発性のガス3
4(F2やCO)とに分解し、堆積材料33が基板表面
に析出する。
(発明が解決しようとする課題)
ところが、上記の方法で吸着分子31にエネルギーを与
えるために用いた光・電子ビーム・イオンビームは、各
々ある制約を受けている。例えば光を用いた場合吸着分
子を分解させるためには適切な波長(エネルギー)が必
要とされるが、任意な波長だけを取り出し照射すること
は困難であり、他の分子が分離して堆積してしまう恐れ
がある。レーザを用いても波長には限界がある。電子ビ
ームやイオンビームでは微細パターン形成する場合ビー
ムを絞る必要がありそのため大規模かつ複雑なビーム加
速装置およびビーム収束装置が必要とされる。
えるために用いた光・電子ビーム・イオンビームは、各
々ある制約を受けている。例えば光を用いた場合吸着分
子を分解させるためには適切な波長(エネルギー)が必
要とされるが、任意な波長だけを取り出し照射すること
は困難であり、他の分子が分離して堆積してしまう恐れ
がある。レーザを用いても波長には限界がある。電子ビ
ームやイオンビームでは微細パターン形成する場合ビー
ムを絞る必要がありそのため大規模かつ複雑なビーム加
速装置およびビーム収束装置が必要とされる。
本発明の目的は、所望の材料のみを基板上に基板平面内
だけでなく基板垂直方向にも高精度に簡単に堆積できる
微細パターン形戊方法を提供することにある。
だけでなく基板垂直方向にも高精度に簡単に堆積できる
微細パターン形戊方法を提供することにある。
(課題を解決するための手段)
本発明は堆積させるべき材料を構戒元素として含む1種
または2種以上のガス状分子を被堆積基板上に流し、し
かも先を細くした導電性の針が基板の所望の部分に数オ
ングストロームまで近づけた状態で針と基板の間に電圧
を加えて微少な範囲に広がる電界を形成し、堆積させる
べき元素だけをナノメータサイズで堆積させることを特
徴とするパターン形成方法である。また本発明は前述し
た方法において、ガス状分子を被堆積基板に吸着させた
のち真空排気することにより、基板上の吸着分だけ堆積
させることを特徴とするパターン形成方法である。
または2種以上のガス状分子を被堆積基板上に流し、し
かも先を細くした導電性の針が基板の所望の部分に数オ
ングストロームまで近づけた状態で針と基板の間に電圧
を加えて微少な範囲に広がる電界を形成し、堆積させる
べき元素だけをナノメータサイズで堆積させることを特
徴とするパターン形成方法である。また本発明は前述し
た方法において、ガス状分子を被堆積基板に吸着させた
のち真空排気することにより、基板上の吸着分だけ堆積
させることを特徴とするパターン形成方法である。
本発明において堆積させるべき材料としてはタングステ
ン(W)、アルミニウム(AI)、ケイ素(Si)等の
単金属のほか、合金、炭化物などがある。
ン(W)、アルミニウム(AI)、ケイ素(Si)等の
単金属のほか、合金、炭化物などがある。
堆積させるべき材料を構成元素として含むガス状分子と
しては、タングステン(V)の場合にはWF6,WC1
6, W(Co)6等があげられる。モリブデンの場合
はMoC16, Mo(C6H6)2等、タンタルの場
合はTaC15等である。合金を堆積したい場合は2種
以上のガス状分子例えばMoC16とWCl6を流せば
よく、炭化物を堆積したい場合は例えばSiC14とC
H4を流せばよい。
しては、タングステン(V)の場合にはWF6,WC1
6, W(Co)6等があげられる。モリブデンの場合
はMoC16, Mo(C6H6)2等、タンタルの場
合はTaC15等である。合金を堆積したい場合は2種
以上のガス状分子例えばMoC16とWCl6を流せば
よく、炭化物を堆積したい場合は例えばSiC14とC
H4を流せばよい。
電解研磨または機械研磨により先を細くした導電性の針
にはタングステン(W)や白金(Pt)等の金属や表面
を金属コーティングしたダイヤモンド等の物質などを使
う。
にはタングステン(W)や白金(Pt)等の金属や表面
を金属コーティングしたダイヤモンド等の物質などを使
う。
前述した針と基板の間に電圧(数V)をかけた状態で針
を基板表面に近づけていき、針と基板の間の間隔が数オ
ングストロームになると数ナノアンペアの電流が流れる
。一般にはこの電流は電流・電圧特性よりトンネル電流
とか電界放出電流などと呼ばれ、その電流の大きさより
測定は容易である。
を基板表面に近づけていき、針と基板の間の間隔が数オ
ングストロームになると数ナノアンペアの電流が流れる
。一般にはこの電流は電流・電圧特性よりトンネル電流
とか電界放出電流などと呼ばれ、その電流の大きさより
測定は容易である。
針と基板の間隔の制御は圧電素子(PZT)を用いるこ
とで容易に行える。この圧電素子(PZT)は5オング
ストロームN程度の圧電比をもちセラミックスのため加
工も簡単である。
とで容易に行える。この圧電素子(PZT)は5オング
ストロームN程度の圧電比をもちセラミックスのため加
工も簡単である。
(作用)
次に、請求項1の発明の作用について、第1図を用いて
説明する。超高真空中に置かれた基板12を洗浄した後
、堆積させるべき材料に含まれる少なくとも一部の元素
を構成として含む1種または2種以上のガス状分子を基
板l2上に流す。この時、第1図(a)のように一部の
ガスは基板12表面上に吸着層11を形成し残りは容器
内の浮遊ガス13となる。この状態で針14を基板12
表面に近づけていき基板12と針14の間に電圧15を
かけると第1図(b)のように極小電界16が形成され
る。電界16の下にある吸着層11および浮遊ガス13
は堆積材料l7と揮発性材料分子18とに分解され堆積
材料17は基板12の表面に析出する。以上のような原
理により、基板12表面上に極小電界16により、微細
パターンが形成される。一般に極小電界16の強度は小
さいので堆積速度は小さくなり膜厚の制御性が良い。
説明する。超高真空中に置かれた基板12を洗浄した後
、堆積させるべき材料に含まれる少なくとも一部の元素
を構成として含む1種または2種以上のガス状分子を基
板l2上に流す。この時、第1図(a)のように一部の
ガスは基板12表面上に吸着層11を形成し残りは容器
内の浮遊ガス13となる。この状態で針14を基板12
表面に近づけていき基板12と針14の間に電圧15を
かけると第1図(b)のように極小電界16が形成され
る。電界16の下にある吸着層11および浮遊ガス13
は堆積材料l7と揮発性材料分子18とに分解され堆積
材料17は基板12の表面に析出する。以上のような原
理により、基板12表面上に極小電界16により、微細
パターンが形成される。一般に極小電界16の強度は小
さいので堆積速度は小さくなり膜厚の制御性が良い。
請求項2の発明では、浮遊がス13を真空排気してしま
うので、堆積に寄与するの゛は極小電界を加えたときに
基板12上に存在する吸着層だけであり、ほぼ分子一層
分のみ堆積する。従って膜厚の制御性は極めて良い。
うので、堆積に寄与するの゛は極小電界を加えたときに
基板12上に存在する吸着層だけであり、ほぼ分子一層
分のみ堆積する。従って膜厚の制御性は極めて良い。
(実施例)
以下、この発明の実施例を図に基づいて詳細に説明する
。
。
第2図は本発明の一実施例で用いる装置の構威を示す概
略図である。本装置では針の移動用圧電素子202、ガ
ス収納室203#よび試料台201とから構成されてい
る。本実施例においては、タングステン(W)を構戒元
素として含む六フッ化タングステン(WF5)をガスと
して用いる。まず請求項1の発明の実施例を述べる。真
空容器205内を10−6Torrまで排気した後、真
空バルブ206を通じてWF6ガス204を流す。針2
07は圧電素子202を用いて制御する。針207とS
i基板等の試料208の間に電気制御系209を通じて
バイアス電圧と電流を制御する。バイアス電圧を10■
にし、針207を試料208の所望の位置に近づけてい
くと針207と試料208の間が2nmぐらいになると
電流が急速に流れはじめる。その結果、WF5分子はW
とフッ素(F2)に分解され、Wは試料208に堆積さ
れフッ素はガスとして真空容器205内に浮遊する。W
F6ガスを流すのを止めた後真空容器205内のガスを
排気することにより所望の位置に自由にパターンを描く
ことができる。
略図である。本装置では針の移動用圧電素子202、ガ
ス収納室203#よび試料台201とから構成されてい
る。本実施例においては、タングステン(W)を構戒元
素として含む六フッ化タングステン(WF5)をガスと
して用いる。まず請求項1の発明の実施例を述べる。真
空容器205内を10−6Torrまで排気した後、真
空バルブ206を通じてWF6ガス204を流す。針2
07は圧電素子202を用いて制御する。針207とS
i基板等の試料208の間に電気制御系209を通じて
バイアス電圧と電流を制御する。バイアス電圧を10■
にし、針207を試料208の所望の位置に近づけてい
くと針207と試料208の間が2nmぐらいになると
電流が急速に流れはじめる。その結果、WF5分子はW
とフッ素(F2)に分解され、Wは試料208に堆積さ
れフッ素はガスとして真空容器205内に浮遊する。W
F6ガスを流すのを止めた後真空容器205内のガスを
排気することにより所望の位置に自由にパターンを描く
ことができる。
次に請求項2の発明の実施例について述べる。真空容器
205内を10 ”’− 10Torrまで排気する。
205内を10 ”’− 10Torrまで排気する。
その後真空バルブ206を通じてWF6ガス204を流
すと、試料208上にWF6分子が吸着する。そのあと
WF6ガス204を止め、真空排気して浮遊ガスを排除
する。次に上述の実施例と同様にしてバイアス電圧を加
え針207を近づけてWを試料208上にほぼ一原千層
分堆積する。
すと、試料208上にWF6分子が吸着する。そのあと
WF6ガス204を止め、真空排気して浮遊ガスを排除
する。次に上述の実施例と同様にしてバイアス電圧を加
え針207を近づけてWを試料208上にほぼ一原千層
分堆積する。
(発明の効果)
以上説明したように、本発明によれば、従来のような大
がかりな装置を必要とせず、所望の物質のみを基板上に
基板面方向及び垂直方向に高精度に堆積できる。
がかりな装置を必要とせず、所望の物質のみを基板上に
基板面方向及び垂直方向に高精度に堆積できる。
第1図は本発明による微細パターン形成を模式的に示し
た図、第2図は本発明の方法を実施するための装置の一
例を示す概略図、第3図は従来技術の模式図である。 11, 31・・・吸着分子、12. 32・・・基板
、13・・・浮遊ガス、14・・・針、15・・・電圧
、16・・・極小電界、17. 33・・・堆積材料、
18. 34・・・揮発性材料分子、201・・・試料
台、202・・・圧電素子、203・・・ガス収納室、
204・・−WF5、205・・・真空容器、206・
・・真空バルブ、207・・・針、208・・・試料、
209・・・電気制御系。
た図、第2図は本発明の方法を実施するための装置の一
例を示す概略図、第3図は従来技術の模式図である。 11, 31・・・吸着分子、12. 32・・・基板
、13・・・浮遊ガス、14・・・針、15・・・電圧
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・・真空バルブ、207・・・針、208・・・試料、
209・・・電気制御系。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1) 堆積させるべき材料を構成元素として含む1種ま
たは2種以上のガス状分子を被堆積基板上に流ししかも
先を細くした導電性の針が基板の所望の部分に基板から
数オングストロームまで近づいた状態で針と基板の間に
電圧を加えて微少な範囲に広がる電界を形成し、堆積さ
せるべき元素だけをナノメータサイズで堆積させること
を特徴とするパターン形成方法。 2) 前記ガス状分子を被堆積基板に流し吸着させたの
ち真空排気して基板上の吸着分だけにして前記電界を形
成し堆積することを特徴とするパターン形成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP309590A JPH03207862A (ja) | 1990-01-09 | 1990-01-09 | 微細パターン形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP309590A JPH03207862A (ja) | 1990-01-09 | 1990-01-09 | 微細パターン形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03207862A true JPH03207862A (ja) | 1991-09-11 |
Family
ID=11547785
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP309590A Pending JPH03207862A (ja) | 1990-01-09 | 1990-01-09 | 微細パターン形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03207862A (ja) |
-
1990
- 1990-01-09 JP JP309590A patent/JPH03207862A/ja active Pending
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