JPH03199399A - 金属材料の孔食深さ測定装置 - Google Patents

金属材料の孔食深さ測定装置

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JPH03199399A
JPH03199399A JP34393289A JP34393289A JPH03199399A JP H03199399 A JPH03199399 A JP H03199399A JP 34393289 A JP34393289 A JP 34393289A JP 34393289 A JP34393289 A JP 34393289A JP H03199399 A JPH03199399 A JP H03199399A
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JP
Japan
Prior art keywords
measurement
sample
metallic material
pitting corrosion
displacement meter
Prior art date
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Pending
Application number
JP34393289A
Other languages
English (en)
Inventor
Mitsuo Saruwatari
猿渡 光雄
Norio Sato
憲夫 佐藤
Kiyoshi Inoue
清 井上
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yoshikawa Kogyo Co Ltd
Nippon Steel Corp
Original Assignee
Yoshikawa Kogyo Co Ltd
Nippon Steel Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Yoshikawa Kogyo Co Ltd, Nippon Steel Corp filed Critical Yoshikawa Kogyo Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は金属材料の腐食の程度を測定する装置に関し、
詳しくは、メツキ等の表面処理を施した金属材料の耐食
性を塩水噴霧試験等により試験した後、その試験片の腐
食の程度を測定する装置に関する。
〔従来の技術〕
たとえば表面処理鋼板を塩水噴霧試験した後の試験片の
腐食度を測定するのに、従来は作業者の手作業により行
っていた。その方法は、定盤上に測定試料片を置き、直
径が0.1mmの先端球を持ち測定深さの値をリアルタ
イムで表示する深さ測定器の先端球を前記試料片の表面
を接触するように移動させ、非連続的に選択した各測定
点で逐次表示される測定深さを目視で読み取り、記録し
、その平均値を算出して腐食度を求めるものである。
各測定点での値は、腐食されていない部分の測定値を基
準とし、この基準値に対する相対値として表示するもの
で、腐食部の測定の前に腐食されていない部分の値を測
定し、その後試料片をずらして腐食部の測定を行う。
〔発明が解決しようとする課題〕
上記従来の測定方法は、試料片の設置から測定結果の算
出にいたるまで全て手作業であり、このため、連続的な
測定が不可能であり、測定終了までに長時間を要してい
た。
また、測定点の選択及び各測定点に於ける測定値の読取
りでは作業者の五感や判断に頼る部分があり、しかも手
作業である為、作業者による測定誤差が大きく、測定結
果に対する信頼度が低いという問題があった。
また、測定が接触式である為、接触する先端球の大きさ
、すなわちQ、1mm以下の腐食孔の深さは測定不可能
であった。
本発明における課題は、従来手作業で行われていた金属
材料の腐食度の測定を自動化するとともに、測定精度を
高めることにある。
C課題を解決する為の手段〕 本発明の金属材料の孔食深さ測定装置は、光学式非接触
変位計をZ軸ステージに上下動可能に取り付け、該Z軸
ステージを先端部に設けたブラケットをX−Yテーブル
に固定し、該X−Yテーブルを定盤上に設置するととも
に、測定試料を測定位置へ供給・排出する試料搬送機構
を設けたことを特徴とする。
ここで、前記Z軸ステージ及びx−Yテーブルの駆動制
御、前記試料搬送機構の駆動制御及び測定結果の演算は
コンピュータで行われる。
〔作用〕
本発明の孔食深さ測定装置においては、測定試料の測定
位置への供給及び排出を行う搬送機構、光学式非接触変
位計を取り付けたZ軸ステージ及びX−Yテーブルを備
え、これら各機器の駆動制御及び測定結果の演算等をコ
ンピュータで行うことにより、従来の手作業に代わり測
定作業を自動的に行う。
前記の光学式非接触変位計としては、レーザー変位計を
用いることが好ましい。レーザ変位計により試料表面を
非接触で走査して、精度良く孔食深さを測定することが
できる。
〔実施例〕
以下、図面を参照しながら、実施例により本発明の特徴
を具体的に説明する。
第1図は本発明実施例の孔食深さ測定装置の測定部の概
要を示す平面図であり、第2図は同正面図である。
本実施例装置の測定部は、測定機構と試料搬送機構で構
成され、測定機構は、x−Yテーブル1、ブラケット2
、zNIステージ3、レーザー変位計4、測定台5を備
え、試料搬送機構は、1軸ロボツト6、同ロボットのア
ーム7、シリンダー8、吸着パッド9、測定前試料収納
トレイ10、測定後試料収納パケット11を備えている
。測定機構は、測定値が設置部分の面形状の影響を受け
ないように、定盤12上に設置されている。そして、測
定機構と試料搬送機構は、端子台やリレー等の電気部品
を内蔵した測定テーブル13上に設置されている。
なお、測定機構と試料搬送機構の設置部分はアクリル製
の透明カバーが設けられているが、第1図及び第2図で
は同カバーを取り除いた状態で示している。
第3図は本実施例装置の操作盤を示す正面図であり、機
器収納ボックスの一部の扉を取り除いた状態で示す。
機器収納ボックス20には、前記測定機構及び試料搬送
機構の作動を制御する機器として、電源ユニット2LX
−Y コントローラ22、ラックユニット23、インタ
ーフェースユニット24、サーボドライバー25、ステ
ッピングドライバー26、lkロボットドライバー27
、カードラック28、コンセントユニット29、ノーヒ
ユーズブレーカ30.31等が設置されている。さらに
、同機器収納ボックス20上に、レーザー変位計4の測
定値を実時間で表示する表示計32、パーソナルコンビ
5−夕33、同コンビーータのデイスプレィ装置34、
プリンタ35が設置されている。
つぎに、上記構成の測定装置による測定手順を説明する
測定試料の寸法は、厚さが0.6〜1non、輻X長さ
が150 X70+nmを基準寸法とし、このほか、幅
×長さが150 X50mm及び100 X50mmの
ものを用いる。
まず、同寸法の測定試料を最大16枚準備する。これら
測定試料の中から測定範囲の最も広い試料、つまり、腐
食面積の最も広い試料を選択し、この試料から順に測定
試料番号、基準板厚をパーソナルコンピュータ33のキ
ーボードから入力しながら、試料を測定前試料収納トレ
イlOに置く。なお、基準板厚は、腐食されていない部
分を手作業で測定する。腐食度の測定はこの測定範囲の
最も広い試料から始まることになる。これらの試料は、
クセ。
曲がり、裏面の凹凸がなく、測定台5に密着する必要が
ある。
1軸ロボツト6の駆動により同1軸ロボツト6のアーム
7の先端に設けたシリンダー8の下端の吸着パッド9が
測定前試料収納トレイ10に置かれた最初の試料の上方
にくるように移動し、吸着パッド9が試料上面を押さえ
吸着できる位置まで下がり試料を吸着する。その後、吸
着パッド9は上方へ移動し試料は持ち上げられる。その
ままの状態でアーム7がl軸ロボット6の駆動により測
定台5上に移動し、予め設定された基準面上に試料が位
置するようにアーム7が停止する。その後、試料を吸着
した吸着パッド9が下がり、試料が測定台5上に置かれ
る。次に吸着パッド9が試料から離れ、アーム7は元の
位置に復帰する。
レーザー変位計4のセンサヘッド部から発せられる光が
試料上にくるようにx−Yテーブル1の駆動によりブラ
ッケット2を移動させ、第4図(a)に示す測定開始点
Aに光スポットを移動してセットスイッチにより測定開
始点Aの座標をコンピュータ33にメモリする。同様に
して測定終了点Bの座標をコンピュータ33にメモリす
る。ここで、−点鎖線で示す測定範囲Cは、図中斜線を
施した腐食範囲の約I Qau++内側とする。この操
作は、以後の測定を自動測定にするためのものであり、
このように測定開始点A、測定終了点Bを最初の試料に
ついて設定することによって2番目以降の試料について
も測定範囲Cが決まり(第4図(b)、 (C)参照〉
、同測定範囲Cを自動的に測定する。測定範囲は、デー
タの処理上、五つのブロックに分割される。
x−Yテーブル1及びレーザー変位計4の駆動により測
定が開始される。第5図に示すように、測定はX方向及
びY方向に0. Inonピッチで行う。
測定終了後、測定試料番号1分割された五つのブロック
各々の測定深さの最大値とその平均値及び測定日9時刻
をプリンタ35でプリントアウトする。
測定が終わると、レーザー変位計4及びZ軸ステージ3
を備えたブラケット2は、x−Yテーブル1の駆動によ
り元の位置に復帰する。
次に吸着パッド9が測定終了後の試料上方にくるように
アーム7が1軸ロボツト6の駆動により移動し、試料を
吸着できる位置まで下がり、試料を吸着する。試料を吸
着した吸着パッド9は測定終了試料収納パケット11上
方に移動し、同測定終了試料収納パケット11に試料が
収納される。
2番目の測定試料は最初の測定試料と同様に、測定前試
料収納トレイ10から測定台5上にセ2)され、測定は
自動測定となる。測定終了後は最初の測定試料の場合と
同様に測定試料番号1分割されすこ五つのブロック各々
の測定深さの最大値とその平均値及び測定日1時刻をプ
リントアウトする。
以後、全部の試料の測定が終了するまで以上の操作が自
動的に繰り返される。
〔発明の効果〕
本発明の孔食深さ測定装置は以上のような構成である−
から、つぎのような効果を奏する。
■測定試料の供給と排出、測定及び測定結果のプリント
まで自動的に行うことができる。
■このため、従来のような作業者による測定誤差がなく
、測定値に対する信頼性が高い。
■また、試料の供給と排出が人手を介すことなく自動的
に行われるので、作業者の煩わしさがなくなるとともに
、その分省力化となる。
■光学式非接触変位計としてレーザー変位計を用いるこ
とにより、従来不可能であった直径0.1m1T1以下
の腐食孔の深さの測定が可能である。
■コンピユータのプログラム変更により、測定要領の異
なる試料に対しても自動測定を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明実施例の孔食深さ測定装置の測定部の概
要を示す平面図、第2図は同正面図であり、第3図は同
実施例装置の操作盤を示す正面図であり、第4図及び第
5図は測定手順を説明するための図である。 1:X−Yテーブル    2ニブラケット3:Z軸ス
テージ    4:レーザー変位計5=測定台    
   6:1軸ロボット7:アーム       Bニ
ジリンダ−9;吸着パッド     lO:測定前試料
収納トレイ11:測定後試料収納パケット 12:定盤       13:測定テーブル20;機
器収納ボックス 32:表示計33:パーソナルコンピ
ュータ

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、光学式非接触変位計をZ軸ステージに上下動可能に
    取り付け、該Z軸ステージを先端部に設けたブラケット
    をX−Yテーブルに固定し、該X−Yテーブルを定盤上
    に設置するとともに、測定試料を測定位置へ供給・排出
    する試料搬送機構を設けたことを特徴とする金属材料の
    孔食深さ測定装置。 2、前記Z軸ステージ及びX−Yテーブルの駆動制御、
    前記試料搬送機構の駆動制御及び測定結果の演算を行う
    コンピュータを備えたことを特徴とする請求項1記載の
    金属材料の孔食深さ測定装置。
JP34393289A 1989-12-27 1989-12-27 金属材料の孔食深さ測定装置 Pending JPH03199399A (ja)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05107171A (ja) * 1991-09-20 1993-04-27 Hosokawa Micron Corp 粉体測定装置
JPH05157528A (ja) * 1991-12-03 1993-06-22 Nippon Steel Corp 腐食形状の3次元解析方法
JP2002039957A (ja) * 2000-07-26 2002-02-06 Shachihata Inc 印判検査方法及び印判作成用シート検査方法
JP2010107213A (ja) * 2008-10-28 2010-05-13 Jfe Steel Corp 金属板の腐食深さ測定装置及び腐食深さ測定方法

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