JPH03181900A - X線用ビームスプリッター及びその製造方法 - Google Patents
X線用ビームスプリッター及びその製造方法Info
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- JPH03181900A JPH03181900A JP32064389A JP32064389A JPH03181900A JP H03181900 A JPH03181900 A JP H03181900A JP 32064389 A JP32064389 A JP 32064389A JP 32064389 A JP32064389 A JP 32064389A JP H03181900 A JPH03181900 A JP H03181900A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、軟X線を少なくとも2方向に分割することが
できるX線用ビームスプリッタ−及びその製造方法に関
する。
できるX線用ビームスプリッタ−及びその製造方法に関
する。
(従来の技術)
一般に、干渉現象を扱う装置では、干渉性のよい光束を
得るために、一つの光源から出た光を2方向あるいはそ
れ以上に分割する必要がある。
得るために、一つの光源から出た光を2方向あるいはそ
れ以上に分割する必要がある。
このために使用される光学素子をビームスプリッタ−と
呼んでいる。そして、可視領域において通常用いられる
ビームスプリッタ−は、ガラスなどの透明な基板上に金
属などの薄膜を蒸着することによって、適当な透過率と
反射率を持たせたものである。また、遠赤外領域では、
ポリエチレンシートや金属メツシュなどの透過・反射特
性が利用される。この他にも、2個の直角プリズムをわ
ずかに隔てて対置させた全反射利用ビームスプリッター
などがある。
呼んでいる。そして、可視領域において通常用いられる
ビームスプリッタ−は、ガラスなどの透明な基板上に金
属などの薄膜を蒸着することによって、適当な透過率と
反射率を持たせたものである。また、遠赤外領域では、
ポリエチレンシートや金属メツシュなどの透過・反射特
性が利用される。この他にも、2個の直角プリズムをわ
ずかに隔てて対置させた全反射利用ビームスプリッター
などがある。
(発明が解決しようとする課題)
しかしながら、上記従来のビームスプリッタ−は、波長
領域がレーザ光から可視光までのものにしか適用できな
い。これは、波長0.1nm〜数10nmの軟X線領域
では、あらゆる物質に対して垂直入射させたときの反射
率が、はとんどゼロになってしまうからである。そこで
、X線高反射率光学素子として、人工多層膜が開発され
ている。しかし、この人工多層膜は、厚い基板上に膜形
成したものであるため、反射率が得られても透過率が得
られない。
領域がレーザ光から可視光までのものにしか適用できな
い。これは、波長0.1nm〜数10nmの軟X線領域
では、あらゆる物質に対して垂直入射させたときの反射
率が、はとんどゼロになってしまうからである。そこで
、X線高反射率光学素子として、人工多層膜が開発され
ている。しかし、この人工多層膜は、厚い基板上に膜形
成したものであるため、反射率が得られても透過率が得
られない。
本発明は、上記事情を参酌してなされたもので、波長0
.1nm〜数10nmの軟X線を2方向あるいはそれ以
上に分割することのできるX線用ビームスプリッタ−及
びその製造方法を提供することを目的とする。
.1nm〜数10nmの軟X線を2方向あるいはそれ以
上に分割することのできるX線用ビームスプリッタ−及
びその製造方法を提供することを目的とする。
〔発明の構成〕
(課題を解決するための手段と作用)
本発明のX線用ビームスプリッタ−及びその製造方法は
、軟X線を透過する基体部上にこの軟X線を反射する多
層膜部を形成したもので、軟X線を少なくとも2方向に
分割することができる。
、軟X線を透過する基体部上にこの軟X線を反射する多
層膜部を形成したもので、軟X線を少なくとも2方向に
分割することができる。
したがって、このX線用ビームスプリッタ−及びその製
造方法を用いることにより、干渉現象を利用した各種計
測や制御の分野で、分解能や測定精度を向上させるため
に、光源を、現在用いられているレーザ光から軟X線に
変えた光学系を実現するための光学素子として役立つ。
造方法を用いることにより、干渉現象を利用した各種計
測や制御の分野で、分解能や測定精度を向上させるため
に、光源を、現在用いられているレーザ光から軟X線に
変えた光学系を実現するための光学素子として役立つ。
(実施例)
以下、本発明の一実施例を図面を参照して詳述する。
第1図は、この実施例のX線用ビームスプリッタ−(S
)を示している。このX線用ビームスプリッタ−(S)
は、正方形状の基体部(1)と、この基体部(1)の一
方の主面上に被着された多層膜部(2)と、上記基体(
1)の四辺を支持・補強する四角枠状の支持部〈3〉と
からなっている。そうして、多層膜部(2)は、例えば
金(Au)、モリブデン(Mo)、 タングステン(W
)、ルテニウム(Ru)、パラジウム(P d)などの
重元素からなる第1物質層(4)と、この第1物質層(
4)とは波長0、lnm〜数10nmの軟X線に対する
複素屈折率の異なる例えば炭素(C)、ケイ素(S i
) 。
)を示している。このX線用ビームスプリッタ−(S)
は、正方形状の基体部(1)と、この基体部(1)の一
方の主面上に被着された多層膜部(2)と、上記基体(
1)の四辺を支持・補強する四角枠状の支持部〈3〉と
からなっている。そうして、多層膜部(2)は、例えば
金(Au)、モリブデン(Mo)、 タングステン(W
)、ルテニウム(Ru)、パラジウム(P d)などの
重元素からなる第1物質層(4)と、この第1物質層(
4)とは波長0、lnm〜数10nmの軟X線に対する
複素屈折率の異なる例えば炭素(C)、ケイ素(S i
) 。
硼素(B)などからなる第2物質層(5)とからなる膜
対が交互に積層されてなるものである。そして、これら
第1物質層(4)と第2物質層(5)との膜厚は、交互
に等しくても良いし、全て膜厚を変えても良いが、それ
ぞれの層中における軟X線の吸収による振幅の減少およ
びそれぞれの層中の界面における反射X線の位相の重な
りによる強め合いの両者を考慮し、できるだけ少ない層
数かっ薄い膜厚で多層膜部(2)における全体の反射率
が最も高くなるような厚さとするのが望ましい。ただし
、異種物質により層を形成する場合に、界面拡散が生じ
てくるので、−層の膜厚としては、1nm以上が良い。
対が交互に積層されてなるものである。そして、これら
第1物質層(4)と第2物質層(5)との膜厚は、交互
に等しくても良いし、全て膜厚を変えても良いが、それ
ぞれの層中における軟X線の吸収による振幅の減少およ
びそれぞれの層中の界面における反射X線の位相の重な
りによる強め合いの両者を考慮し、できるだけ少ない層
数かっ薄い膜厚で多層膜部(2)における全体の反射率
が最も高くなるような厚さとするのが望ましい。ただし
、異種物質により層を形成する場合に、界面拡散が生じ
てくるので、−層の膜厚としては、1nm以上が良い。
一方、第1物質層(4)と第2物質層(5)との積層数
は、多ければ多いほど理論的には、反射率は増大するが
、多層膜部(2〉の反射率と同時に透過率をも考慮しな
ければならない。これら反射率と透iA率とは、相反す
るものであるが、高反射率と高透過率との両条件を満た
すためには、第1物質層(4〉と第2物質層(5)との
積層数は、数層から多くても数10層程度が望ましい。
は、多ければ多いほど理論的には、反射率は増大するが
、多層膜部(2〉の反射率と同時に透過率をも考慮しな
ければならない。これら反射率と透iA率とは、相反す
るものであるが、高反射率と高透過率との両条件を満た
すためには、第1物質層(4〉と第2物質層(5)との
積層数は、数層から多くても数10層程度が望ましい。
さらに、基体部(1)の材質は、多層膜部(2)を透過
したX線を弱めること無く透過させる、すなわち、X線
透過率の高い例えばベリリウム(B e)などが好まし
い。そうして、基体部(1)の厚さは、単体として成り
立つ最小限の厚さである5μm〜数10μm程度が好ま
しい。
したX線を弱めること無く透過させる、すなわち、X線
透過率の高い例えばベリリウム(B e)などが好まし
い。そうして、基体部(1)の厚さは、単体として成り
立つ最小限の厚さである5μm〜数10μm程度が好ま
しい。
上記構成のX線用ビームスプリッタ−(S)の製造方法
は、第2図に示すように平滑な基板(6)上に基体部(
1)を例えば真空蒸着法やスパッタ法などにより基体部
(1)を成膜する第1工程と、この第1工程後に第3図
に示すように基体部(1)上に例えば真空蒸着法やスパ
ッタ法などにより多層膜部(2)を形成する第2工程と
、この第2工程後に第4図に示すように四角枠状の支持
部(3〉により基体部(1)および多層膜部(2〉を被
着した基板(6)を支持したのち基板(6)のみを基体
部〈1〉および多層膜部(2)から剥離・除去する第3
工程とからなっている。
は、第2図に示すように平滑な基板(6)上に基体部(
1)を例えば真空蒸着法やスパッタ法などにより基体部
(1)を成膜する第1工程と、この第1工程後に第3図
に示すように基体部(1)上に例えば真空蒸着法やスパ
ッタ法などにより多層膜部(2)を形成する第2工程と
、この第2工程後に第4図に示すように四角枠状の支持
部(3〉により基体部(1)および多層膜部(2〉を被
着した基板(6)を支持したのち基板(6)のみを基体
部〈1〉および多層膜部(2)から剥離・除去する第3
工程とからなっている。
つぎに、上記構成のX線用ビームスプリッタ−(S)の
作動を説明する。
作動を説明する。
まず、第5図に示すように、波長0.1nm〜数10n
mの軟X線(7)を多層膜部(2)に入射させる。する
と、軟X線(7)の一部は、第1物質層(4)と第2物
質層(5)にて反射し、このときの反射Xgが互いに強
めあって干渉を起こし、全体として強い反射X線(8)
が得られる。また、軟X線(7)の他部は、多層膜部(
2)を透過し、さらに基体部(1〉を透過して、透過X
線(9)となる。このように、多層膜部(2)に入射し
た軟X線(7)は、矢印(10〉方向と矢印(11)方
向との2方向に分割される。なお、第1物質層(4)と
第2物質層(5〉の膜厚を適当に設定することにより、
特定波長のX線のみを反射し、それ以外は透過させると
いうフィルタ機能を持たせることができる。
mの軟X線(7)を多層膜部(2)に入射させる。する
と、軟X線(7)の一部は、第1物質層(4)と第2物
質層(5)にて反射し、このときの反射Xgが互いに強
めあって干渉を起こし、全体として強い反射X線(8)
が得られる。また、軟X線(7)の他部は、多層膜部(
2)を透過し、さらに基体部(1〉を透過して、透過X
線(9)となる。このように、多層膜部(2)に入射し
た軟X線(7)は、矢印(10〉方向と矢印(11)方
向との2方向に分割される。なお、第1物質層(4)と
第2物質層(5〉の膜厚を適当に設定することにより、
特定波長のX線のみを反射し、それ以外は透過させると
いうフィルタ機能を持たせることができる。
以上のように、この実施例のX線用ビームスプリッタ−
(S)は、軟X線り7)を少なくとも2方向に分割する
ことができる。したがって、このX線用ビームスプリッ
タ−(S)を用いることにより、干渉現象を利用した各
種計aν1や制御の分野で、分解能や測定精度を向上さ
せるために、光源を、現在用いられているレーザ光から
軟X線に変えた光学系を実現するための光学素子として
役立つ。
(S)は、軟X線り7)を少なくとも2方向に分割する
ことができる。したがって、このX線用ビームスプリッ
タ−(S)を用いることにより、干渉現象を利用した各
種計aν1や制御の分野で、分解能や測定精度を向上さ
せるために、光源を、現在用いられているレーザ光から
軟X線に変えた光学系を実現するための光学素子として
役立つ。
なお、上記実施例において、基体部(1)の形状は、円
形、多角形等、任意でよい。また、支持部(3)の形状
は、棒状でなく、有孔板体でもよい。
形、多角形等、任意でよい。また、支持部(3)の形状
は、棒状でなく、有孔板体でもよい。
[発明の効果]
本発明のX線用ビームスプリッタ−及びその製造方法は
、軟X線を透過する基体部上にこの軟X線を反射する多
層膜部を形成したもので、軟X線を少なくとも2方向に
分割することができる。
、軟X線を透過する基体部上にこの軟X線を反射する多
層膜部を形成したもので、軟X線を少なくとも2方向に
分割することができる。
したがって、このX線用ビームスプリッタ−を用いるこ
とにより、干渉現象を利用した各種計測や制御の分野で
、分解能や測定精度を向上させるために、光源を、現在
用いられているレーザ光から軟X線に変えた光学系を実
現するための光学素子として役立つ。
とにより、干渉現象を利用した各種計測や制御の分野で
、分解能や測定精度を向上させるために、光源を、現在
用いられているレーザ光から軟X線に変えた光学系を実
現するための光学素子として役立つ。
第1図は本発明の一実施例のX線用ビームスプリッタ−
の構成図、第2図乃至第4図は同じく製造方法の説明図
、第5図は本発明の一実施例のX線用ビームスプリッタ
−の作動説明図である。 (S);X線用ビームスブリ・ツタ−、(1) ;基
体部、 (2) ;多層膜部、 (3) ;支持
部、 (4) ;第1物質層、 (5) ;第2
物質層。
の構成図、第2図乃至第4図は同じく製造方法の説明図
、第5図は本発明の一実施例のX線用ビームスプリッタ
−の作動説明図である。 (S);X線用ビームスブリ・ツタ−、(1) ;基
体部、 (2) ;多層膜部、 (3) ;支持
部、 (4) ;第1物質層、 (5) ;第2
物質層。
Claims (2)
- (1)X線を透過する箔体状の基体部と、この基体部の
一方の主面上に被着され且つ屈折率の異なる一対の物質
層が積層されてなり上記X線の一部を反射するとともに
上記X線の他部を透過する多層膜部と、この多層膜部が
被着された基体部の辺縁部を支持する支持部とを具備す
ることを特徴とするX線用ビームスプリッター。 - (2)基板上にX線を透過する箔体状の基体部を形成す
る第1工程と、この第1工程後に屈折率の異なる一対の
物質層が積層されてなり上記X線の一部を反射するとと
もに上記X線の他部を透過する多層膜部を上記基体部上
に形成する第2工程と、この第2工程後に支持部により
上記基体部および上記多層膜部を被着した基板の辺縁部
を支持したのち上記基板を上記基体部から除去する第3
工程とを具備することを特徴とするX線用ビームスプリ
ッターの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32064389A JPH03181900A (ja) | 1989-12-12 | 1989-12-12 | X線用ビームスプリッター及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP32064389A JPH03181900A (ja) | 1989-12-12 | 1989-12-12 | X線用ビームスプリッター及びその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03181900A true JPH03181900A (ja) | 1991-08-07 |
Family
ID=18123701
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32064389A Pending JPH03181900A (ja) | 1989-12-12 | 1989-12-12 | X線用ビームスプリッター及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03181900A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012060178A (ja) * | 2005-04-20 | 2012-03-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | 投影露光系、このような投影露光系の補助により微細構造の構成部材を製造する方法、このような系において使用するために適応させた偏光光学素子 |
-
1989
- 1989-12-12 JP JP32064389A patent/JPH03181900A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2012060178A (ja) * | 2005-04-20 | 2012-03-22 | Carl Zeiss Smt Gmbh | 投影露光系、このような投影露光系の補助により微細構造の構成部材を製造する方法、このような系において使用するために適応させた偏光光学素子 |
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