JPH03173124A - プラズマ気相成長装置 - Google Patents
プラズマ気相成長装置Info
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- JPH03173124A JPH03173124A JP31262689A JP31262689A JPH03173124A JP H03173124 A JPH03173124 A JP H03173124A JP 31262689 A JP31262689 A JP 31262689A JP 31262689 A JP31262689 A JP 31262689A JP H03173124 A JPH03173124 A JP H03173124A
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- Pending
Links
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 20
- 230000005684 electric field Effects 0.000 claims abstract description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 claims description 6
- 238000001947 vapour-phase growth Methods 0.000 claims description 6
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 claims description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 abstract description 9
- 239000000428 dust Substances 0.000 abstract description 6
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- 239000011810 insulating material Substances 0.000 abstract description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract 1
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Classifications
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
- Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy
Landscapes
- Photovoltaic Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、プラズマcVD (Chemical Va
pourDeposition)法によって基板表面に
薄膜を形成するために利用されるプラズマ気相成長装置
に関するものである。
pourDeposition)法によって基板表面に
薄膜を形成するために利用されるプラズマ気相成長装置
に関するものである。
[従来の技術]
CVD法とは、気体の化学反応を利用して基板上に固体
を析出させ薄膜を形成する技術である。
を析出させ薄膜を形成する技術である。
プラズマCVDはかかる化学反応をコールドプラズマ中
にて行わしめるものであって、反応を活性化し成膜効率
を高めることができる。装置形式としては一般に大量処
理が可能なインライン方式がとられ、第4図に示す如き
反応室11の他にロードロック室やアンロード室等が一
体に連接される。
にて行わしめるものであって、反応を活性化し成膜効率
を高めることができる。装置形式としては一般に大量処
理が可能なインライン方式がとられ、第4図に示す如き
反応室11の他にロードロック室やアンロード室等が一
体に連接される。
そして、カート12上に対峙して立設した一対の基板ホ
ルダ13にそれぞれ基板14を保持させ、これを各室間
に一体搬送することにより各基板14に同時に等質の薄
膜を形成することができるようになっている。基板搬出
入は反応室11を真空に保ったままで行われる。
ルダ13にそれぞれ基板14を保持させ、これを各室間
に一体搬送することにより各基板14に同時に等質の薄
膜を形成することができるようになっている。基板搬出
入は反応室11を真空に保ったままで行われる。
また、反応室11内には中央に高周波電極(以下、rR
F電極」と称する)15が上方から垂下しており、カー
ト12によって搬入された基板ホルダ13がこのRF電
極15の両側に配設されるようにしている。この位置で
基板ホルダ13はアースされてグランド電極となり、R
F電極15との間にそれぞれグロー放電によるプラズマ
を誘起するとともに、RF電極15表面から基板14に
向けてCVD反応に必要な原料ガスを噴出させ得るよう
になっている。16は基板加熱用のヒータ、17はRF
電源、18はレールである。
F電極」と称する)15が上方から垂下しており、カー
ト12によって搬入された基板ホルダ13がこのRF電
極15の両側に配設されるようにしている。この位置で
基板ホルダ13はアースされてグランド電極となり、R
F電極15との間にそれぞれグロー放電によるプラズマ
を誘起するとともに、RF電極15表面から基板14に
向けてCVD反応に必要な原料ガスを噴出させ得るよう
になっている。16は基板加熱用のヒータ、17はRF
電源、18はレールである。
し発明が解決しようとする課題]
しかし、このような装置を使用すると、RF電極15や
カート12にも基板14におけると同様の膜成分が僅か
ではあるが徐々に付着する。このため、その付着膜があ
る厚み以上になると剥離し、これがダストとして基板1
4上の被着膜に取り込まれる結果、製品の歩留りを低下
させる原因となる不具合を生じる。この不具合を取り除
くためにはそれらのクリーニングが必要となるが、カー
ト12は成膜毎にアンロード室を経て外部に取り出され
るため容易にクリーニングをなし得るが、RF電極15
は装置に固定のものであり、反応室11の真空を解除し
てRF電極15を取り外さなければクリーニングするこ
とはできない。このため、定期的に装置が使用不能とな
り、インラインのメリットである優れた稼動効率が低下
されてしまうことになる。
カート12にも基板14におけると同様の膜成分が僅か
ではあるが徐々に付着する。このため、その付着膜があ
る厚み以上になると剥離し、これがダストとして基板1
4上の被着膜に取り込まれる結果、製品の歩留りを低下
させる原因となる不具合を生じる。この不具合を取り除
くためにはそれらのクリーニングが必要となるが、カー
ト12は成膜毎にアンロード室を経て外部に取り出され
るため容易にクリーニングをなし得るが、RF電極15
は装置に固定のものであり、反応室11の真空を解除し
てRF電極15を取り外さなければクリーニングするこ
とはできない。このため、定期的に装置が使用不能とな
り、インラインのメリットである優れた稼動効率が低下
されてしまうことになる。
本発明は、このような課題に着目してなされたものであ
って、RF主電極まつわる上述したダスト発生の問題に
釘効に対処したプラズマ気相成長装置を提供することを
目的としている。
って、RF主電極まつわる上述したダスト発生の問題に
釘効に対処したプラズマ気相成長装置を提供することを
目的としている。
[課題を解決するための手段]
本発明は、かかる目的を達成するために、次のような構
成を採用したものである。
成を採用したものである。
すなわち、本発明のプラズマ気相成長装置は、インライ
ン方式としての基本的構成を備えてなるものにおいて、
基板ホルダ間を絶縁し、当該基板ホルダ間に交互に極性
の反転した高周波電界を印加することによりプラズマを
発生させるようにしたことを特徴としている。
ン方式としての基本的構成を備えてなるものにおいて、
基板ホルダ間を絶縁し、当該基板ホルダ間に交互に極性
の反転した高周波電界を印加することによりプラズマを
発生させるようにしたことを特徴としている。
[作用]
本発明によると、両基板ホルダが交互にRF rH極(
又はグランド電極)としての役割を担うことになり、こ
れに対応して各基板に交互にプラズマ気相成長が起こり
、各々において等質な薄膜が形成されていくことになる
。しかして、このような電極構造を従来の搬出不能なR
F主電極代替して採用すると、基板ホルダは成膜が完了
する毎に装置外に取り出されるため膜付きが認められれ
ば装置を停止せずに即座にクリーニングすることが可能
となり、反応室内の放電領域に臨む部位に従来のRF主
電極如き搬出不能な部材が基本的に存在しなくなるため
、それらの膜付きが原因で生じていたダスト発生の問題
が解消され、装置クリーニングの必要性も低減されるこ
とになる。
又はグランド電極)としての役割を担うことになり、こ
れに対応して各基板に交互にプラズマ気相成長が起こり
、各々において等質な薄膜が形成されていくことになる
。しかして、このような電極構造を従来の搬出不能なR
F主電極代替して採用すると、基板ホルダは成膜が完了
する毎に装置外に取り出されるため膜付きが認められれ
ば装置を停止せずに即座にクリーニングすることが可能
となり、反応室内の放電領域に臨む部位に従来のRF主
電極如き搬出不能な部材が基本的に存在しなくなるため
、それらの膜付きが原因で生じていたダスト発生の問題
が解消され、装置クリーニングの必要性も低減されるこ
とになる。
[実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図〜第3図を参照して説
明する。
明する。
この実施例のプラズマ気相成長装置は、絶縁材により作
られたカート1上に対をなす薄板状基板ホルダ2を対峙
して立設した平行平板縦型のもので、且つ両基板ホルダ
2の対向面側にそれぞれ4枚づつの基板3を装着した両
面電極構造をなしている。カート1はレール4に沿って
図示しないロードロック室から図示反応室5に搬入され
、成膜を終えると、この反応室5から図示しないアンロ
ード室に搬出されるようになっている。また、当該反応
室5にはカート1の搬入位置に臨んで両基板ホルダ2の
背面に接離可能な可動導体6を設けている。この可動導
体6は拡開された先端部6aを有する筒状のもので、そ
の先端部6a内にヒータ7を付帯しているとともに、導
体上の一部がRF電源8a、8bと接続され、RF(例
えば13゜56 M z )が印加可能とされている。
られたカート1上に対をなす薄板状基板ホルダ2を対峙
して立設した平行平板縦型のもので、且つ両基板ホルダ
2の対向面側にそれぞれ4枚づつの基板3を装着した両
面電極構造をなしている。カート1はレール4に沿って
図示しないロードロック室から図示反応室5に搬入され
、成膜を終えると、この反応室5から図示しないアンロ
ード室に搬出されるようになっている。また、当該反応
室5にはカート1の搬入位置に臨んで両基板ホルダ2の
背面に接離可能な可動導体6を設けている。この可動導
体6は拡開された先端部6aを有する筒状のもので、そ
の先端部6a内にヒータ7を付帯しているとともに、導
体上の一部がRF電源8a、8bと接続され、RF(例
えば13゜56 M z )が印加可能とされている。
この際、両RF電源8a、8bには背反的にそれらをO
N・OFFすることのできる図示しないメカニカルなス
イッチが設けられており、このスイッチを一定周期(例
えば10Hz)で間欠切替することにより、両基板ホル
ダ2に対して第3図に示すようなRF電位とアース電位
とが交互に繰り返される印加形態をとり得るようにして
いる。図中(a)はRF電源8aに関し、(b)はRF
電源8bに関する。なお、この反応室5では、放電を有
効に発生させるために可動導体6及び基板ホルダ2を略
全周に亘って囲繞し得る図示しないアースシールドが装
備しである。
N・OFFすることのできる図示しないメカニカルなス
イッチが設けられており、このスイッチを一定周期(例
えば10Hz)で間欠切替することにより、両基板ホル
ダ2に対して第3図に示すようなRF電位とアース電位
とが交互に繰り返される印加形態をとり得るようにして
いる。図中(a)はRF電源8aに関し、(b)はRF
電源8bに関する。なお、この反応室5では、放電を有
効に発生させるために可動導体6及び基板ホルダ2を略
全周に亘って囲繞し得る図示しないアースシールドが装
備しである。
また、前記可動導体6の基端部6bからはCvD反応に
必要な原料ガスを図外から先端部6aに向けて圧送し得
るように設けてあり、このガスは基板ホルダ2の非基板
装着面に多孔質状に設けた孔2aを通して該基板ホルダ
2の対向空隙間に均等に放出されるようになっている。
必要な原料ガスを図外から先端部6aに向けて圧送し得
るように設けてあり、このガスは基板ホルダ2の非基板
装着面に多孔質状に設けた孔2aを通して該基板ホルダ
2の対向空隙間に均等に放出されるようになっている。
そして、基板ホルダ2が搬入された段階で可動導体6の
先端部6aを基板ホルダ2背面に当接させ、成膜を終え
た段階で該可動導体6の先端部6aを基板ホルダ2背面
から離反させ得るようにしている。9はガス排気手段で
ある。
先端部6aを基板ホルダ2背面に当接させ、成膜を終え
た段階で該可動導体6の先端部6aを基板ホルダ2背面
から離反させ得るようにしている。9はガス排気手段で
ある。
しかして、このようなものであると、成膜中に両端板ホ
ルダ2が交互にRF電極又はグランド電極としての役割
を担うことになるため、両側の基板ホルダ2に装着され
た基板3に交互にプラズマ気相成長が起こって全体とし
て等質な薄膜が形成されていくことになる。しかも、こ
のような構造であると、基板ホルダ2自体は成膜を完了
した後に装置外に取り出されるものであるため、その際
にホルダ表面に膜付きが認められれば即座にクリニング
して除去することができ、反応室5内の放電領域に臨む
部位には従来のRF電極の如き搬出不能な部品が存在し
なくなる。このため、図示装置は反応室5内を常にダス
ト発生原因の極めて少ないクリーンな環境に整えておく
ことができ、結果的に稼動率に影響を及ぼさずに歩留り
を有効に向上させたものとすることができる。
ルダ2が交互にRF電極又はグランド電極としての役割
を担うことになるため、両側の基板ホルダ2に装着され
た基板3に交互にプラズマ気相成長が起こって全体とし
て等質な薄膜が形成されていくことになる。しかも、こ
のような構造であると、基板ホルダ2自体は成膜を完了
した後に装置外に取り出されるものであるため、その際
にホルダ表面に膜付きが認められれば即座にクリニング
して除去することができ、反応室5内の放電領域に臨む
部位には従来のRF電極の如き搬出不能な部品が存在し
なくなる。このため、図示装置は反応室5内を常にダス
ト発生原因の極めて少ないクリーンな環境に整えておく
ことができ、結果的に稼動率に影響を及ぼさずに歩留り
を有効に向上させたものとすることができる。
以上、本発明の一実施例について説明したが、各部の構
成は図示例に限定されるものではない。
成は図示例に限定されるものではない。
例えば、RF電源を共通としたり、電気的なスイッチン
グ回路を通じてRF電源の切替を行うもの、或いは平行
平板構造を横型に設けたもの等の変形が可能である。
グ回路を通じてRF電源の切替を行うもの、或いは平行
平板構造を横型に設けたもの等の変形が可能である。
[発明の効果コ
本発明のプラズマ気相成長装置によると、反応室内にお
ける搬出不能な部分への膜付きが極めて少なくなるため
、膜剥離に起因するダスト発生がもたらしていた製品歩
留りの低下が改善される。
ける搬出不能な部分への膜付きが極めて少なくなるため
、膜剥離に起因するダスト発生がもたらしていた製品歩
留りの低下が改善される。
また、これに関連して、膜剥離による装置クリーニング
の回数が減り、装置の稼動率が改善される。
の回数が減り、装置の稼動率が改善される。
第1図〜第3図は本発明の一実施例を示し、第1図は反
応室の模式的な断面図、第2図は基板ホルダの基板装着
面側正面図、第3図(a)、(b)はそれぞれ一方又は
他方の基板ホルダに係るRF印加状態を示す図である。 第4図は従来例を示す第1図相当の断面図である。 2・・・基板ホルダ 3・・・基板5・・・反応
室 8a、8b・・・RF電極第1図
応室の模式的な断面図、第2図は基板ホルダの基板装着
面側正面図、第3図(a)、(b)はそれぞれ一方又は
他方の基板ホルダに係るRF印加状態を示す図である。 第4図は従来例を示す第1図相当の断面図である。 2・・・基板ホルダ 3・・・基板5・・・反応
室 8a、8b・・・RF電極第1図
Claims (1)
- 反応室と搬出入室とを少なくとも1室づつ備え、一対の
基板ホルダにそれぞれ基板を保持させてそれら各室間に
一体搬送することにより各基板に同時に薄膜を形成する
ことができるように構成されたインライン式のプラズマ
気相成長装置において、前記両基板ホルダ間を絶縁し、
当該基板ホルダ間に交互に極性の反転した高周波電界を
印加することによりプラズマを発生させるようにしたこ
とを特徴とするプラズマ気相成長装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31262689A JPH03173124A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | プラズマ気相成長装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31262689A JPH03173124A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | プラズマ気相成長装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03173124A true JPH03173124A (ja) | 1991-07-26 |
Family
ID=18031467
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31262689A Pending JPH03173124A (ja) | 1989-11-30 | 1989-11-30 | プラズマ気相成長装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03173124A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5330615A (en) * | 1991-11-04 | 1994-07-19 | Cheng Chu | Symmetric double water plasma etching system |
JPH0722394A (ja) * | 1993-06-23 | 1995-01-24 | Nec Corp | 半導体製造装置 |
WO2012119700A1 (de) | 2011-03-09 | 2012-09-13 | Manz Ag | Vorrichtung und verfahren zum plasmaunterstützten behandeln zumindest zweier substrate |
-
1989
- 1989-11-30 JP JP31262689A patent/JPH03173124A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5330615A (en) * | 1991-11-04 | 1994-07-19 | Cheng Chu | Symmetric double water plasma etching system |
JPH0722394A (ja) * | 1993-06-23 | 1995-01-24 | Nec Corp | 半導体製造装置 |
WO2012119700A1 (de) | 2011-03-09 | 2012-09-13 | Manz Ag | Vorrichtung und verfahren zum plasmaunterstützten behandeln zumindest zweier substrate |
DE102011013467A1 (de) | 2011-03-09 | 2012-09-13 | Manz Ag | Vorrichtung und Verfahren zum plasmaunterstützten Behandeln zumindest zweier Substrate |
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