JPH03172765A

JPH03172765A - 自動分析装置

Info

Publication number: JPH03172765A
Application number: JP31052089A
Authority: JP
Inventors: Tetsuaki Abe; 阿部　哲昭; Hiroyasu Uchida; 裕康内田; Kazutaka Sano; 佐野　一敬
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1989-12-01
Filing date: 1989-12-01
Publication date: 1991-07-26
Anticipated expiration: 2014-04-26
Also published as: JP2885446B2

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】［産業上の利用分野コ本発明は生化学自動分析装置に係わり、とくに形状の異
なる種々の試料容器から分析要サンプルを円滑に採取す
るに好適な自動分析装置のサンプリング装置に関わる。

［従来の技術］第２図は従来の自動分析装置の全体を示す図である。ラ
ックサンプラ７にセットされた複数の試料容器を収容す
るサンプルラック１は順次ラインサンプラ８上を移動し
てサンプリング機構９のサンプリング位置に停止する。

サンプリング機構９は反応テーブル１ｏ上の所定の反応
容器１１内に。

サンプリングラック１内の試料を所定量づつ分注する。

反応テーブル１０の回転により各反応容器１１は所定の
位置に移送される。

上記各サンプルラック内の各試料には、分析法上から定
まる所定の添加位置に置かれた第１試薬ノズル１２と第
２試薬ノズル１３から、各分析項目に対応する試薬が分
注さ、れる。次いで上記反応容器１１は攪拌機構１７に
より攪拌され、分光器１５によりそれぞれの分析項目が
測定される。恒温槽１７により、上記各試料の温度は一
定に保たれる。

上記８１＋１定結果は対数変換、アナログ・デジタル変
換後コンピュータにより総括的に処理される。

測定終了後の反応容器１１は洗浄機構１６により洗浄さ
れ、再び分析に使用される。

第３図は上記サンプリング機構９の詳細を示す図である
。サンプリングアーム２１の先端に取り付けられたサン
プリングノズル５は、サンプルラック１内の所定の試料
容器３の試料を吸引し、次いでサンプリングアーム２１
を回動して上記試料を反応容器１１に移す。

サンプリングアーム２１は回動モータ１８により駆動さ
れて伝達軸２０の周りを回転し、その回転角度は伝達軸
２０に取り付けられた検知板２３と検知器２４により検
出される。また、サンプリングアーム２１は上下動モー
タ１９により＃！ｌ＋されて、試料容器３および反応容
器１１の位置で上下に移動する。

サンプリングアーム２１の先端部には液面センサ２５が
取り付けられ、これにより試料容器内の液面が検知し、
上下動モータ１９を停止せしめるようになっている。

また、サンプリングアーム２１の先端部には障害検知器
３５が設置され、例えば、サンプリングノズル５が試料
容器の底や縁に当たった場合、その下降を停止するよう
になっている。サンプリングノズル５はサンプリングア
ームに弾性的に取り付けられているので、サンプリング
ノズル５のサンプリングアーム２１からの飛び出し量を
光センサ等よりなる障害検知器３５により検出して上記
底当たりや縁当たり等を検出することができるのである
。

反応容器１１内に試料を注入し終わったサンプリングノ
ズル５はノズル洗浄槽２６により洗浄されて再び使用さ
れる。

第４図は従来の上記サンプルラック１の一例を示す図で
ある。種々の形状の試料容器が様々の方法で設置されて
いる。

第４図（Ａ）はサンプルラック１上に試験管４が置かれ
、更にその上に試料６を収容する試料容器３が設置され
た場合、同図（Ｂ）はサンプルラック１上に試料６を収
容する試料容器３が直接設置された場合、同図（Ｃ）は
サンプルラック１上に試料６を収容する試験管４が設置
された場合である。

［発明が解決しようとする課題］上記従来の自動分析装置においては、サンプルノズル５
の下降中に１例えば障害検出器３５が誤動作して警報を
発すると、自動分析装置の動作は停止し、誤動作を確認
してから、はじめの手順に戻ってやり直す必要があった
。即ち、サンプルノズル５を洗浄し、再び試料を注入し
ていた。このため、時間が無駄になることの他に、貴重
な試料を無駄にするという問題があった。

また、従来装置では上記誤動作の発生確率を低減するた
め、サンプルラック１内の試料容器３の種類、即ち試料
容器の底の位置に対応して、サンプルリングノズル５の
最大下降量を制限するようにしていた。不必要に降下で
きるようにすると上記誤動作の確率も高くなるからであ
る。しかし、これに伴い異なる試料容器毎に１例えばモ
ードスイッチにより上記最大下降量を切り替える必要が
生じので、操作が煩雑となり、また操作を誤るという問
題が発生していた。このため、実際上は一つのサンプル
ラック内には同一機種の試料容器のみを挿入するように
して上記切替え回数を抑えるようにしていた。

上記従来技術では、試料容器の種類に応じてその都度サ
ンプリングノズルの最大の下降量を設定する必要があり
、操作が煩雑であり、また操作を誤ってサンプリングノ
ズルを破損する危険があった。

本発明の目的は上記液面高さの異なる試料を上記サンプ
リングノズル５の最大下降量を切替えることなく分析で
きる自動分析装置のサンプリング方法を提供することに
なる。

［課題を解決するための手段］本発明は上記の目的を達成するために、少なくとも、上
記サンプリングノズルの全参勤行程を正常領域と異常領
域に区分して記憶し、上記サンプリングノズルが上記異
常領域内に存在するとき、上記障害検出器の出力を発生
されるようにする。

さらに、上記正常領域を上記試料容器内に予定される試
料存在領域とし、上記異常領域を上記試料存在領域以外
の部分とするようにする。

［作用］以上のように構成した本発明の自動分析装置および方法
は、試料容器の試料存在予定領域、すなわち上記正常領
域内で上記障害検知動作を中止する。

さらに、上記正常領域の幅を、上記サンプリングノズル
が上記試料容器に底当たりしても破損しない範囲に設定
する。

［実施例コ第１図は本発明による自動分析装置のサンプリング方法
の一実施例を説明する図である。

第１図においては第４図と同様に（Ａ）、（Ｂ）、（Ｃ
）で示す三種類の試料容器が示されている。

１００はコンピュータ等の制御装置が記憶する仮想のス
ケールを表わしている。仮想スケール１００内の３０．
２１．３２等はそれぞれ、試験管４゜試料容器３１．３
２内に予定される試料液面から試料容器の底迄が入る範
囲を示し、これらを正常領域と呼ぶことにする。２７．
２８．２９等は上記３０〜３２以外の領域を示しこれら
を以上領域と呼ぶことにする。上記２７〜３２迄を合わ
せた全領域がサンプリングノズル５の可動範囲である。

サンプリングノズル５はモードスイッチにより試料容器
の種類に対応した最大下降量を指定されることなく下降
し、最初の正常領域３２に達すると液面検出をおこない
、液面があればそこで停止し、無なれば次の正常領域３
１まで下降し、同様の動作を繰り返す。正常領域３０に
ついても同様である。

従来装置ではモードスイッチにより試料容器の種類毎に
それぞれの最大下降量が規定されるので、例えば第１図
（Ａ）の試料容器３２から試料を抽出する場合には、サ
ンプリングノズル５は正常領域３２の下側に行くことが
ないようレニなっていた。

しかし、上記モードスイッチを省略すると、たとえば、
試料容器内の試料量が極端に少ないような場合に、液面
センサ２５が液面を検出するまえに、障害検知器３５が
試料容器の底を検知して下降を停止せしめるというよう
な不都合が発生する。

そこで本発明では、正常領域３０〜３１内では障害検知
器３５の動作を停止するようにする。この間、サンプリ
ングノズル５の底当たりを検出できなくなるので下げす
ぎてこれを破損する危険を生じる。しかし、次の異常領
域に達すると再び。

障害検知器３５が動作し始めるので、底当たりのまま次
の障害領域内をさらに降下しない。この際、次の異常領
域の上縁位置を、サンプリングノズル５が破損しない程
度の位置に設定しておくようにする。サンプリングノズ
ル５は通常、弾力的に取り付けられているので、上記の
ように底当たり後に多少押し下げられても破損すること
はない。

試料容器内に試料が存在しない場合、次の異常領域の上
縁で障害検知器３５が警報を発生するので、サンプリン
グノズル５はその位置で停止する。

正常領域内に試料容器がない場合はサンプリングノズル
５が底当たりしていないので１次の異常領域に入っても
障害検知器３５は警報を発生せず、そのまま、上記異常
領域を通過して次の正常領域に入り、上記の動作を繰り
返す。

以上の動作を要約すると、本発明では、異常領域内では
従来装置と同様に異常を検出は、正常領域内では障害検
知器３５が働かないものの、異常がある場合にはサンプ
リングノズル５を破損しない範囲で、その下降を停止す
ることができるということになる。従来装置では、本発
明と同様の動作を行なわせるためにモードスイッチを設
け、試料容器の高さに応じて最大下降量をその都度設定
するようにしていた。本発明により上記モードスイッチ
を省略することができるのである。

第５図は上記本発明の動作を実現する一実施例のブロッ
ク図である。同図で信号の流れを明快にするため例えば
液面センサ２５用のアナログ・デジタル変換器、パルス
モータである上下動モータ１９の駆動回路等の常識的な
要素は省略している。

制御装置であるＣＰＵ４１に起動信号が入力されると、
上下動モータ（パルスモータ）１９にパルス信号が送ら
れがサンプリングノズル５の下降を開始する。同時にレ
ジスタ４３には第１図に示した第１の異常領域２９の長
さに相当するパルス数が設定され、これとパルスカウン
タ４２が計数する上下動モータ１９に送られたパルス数
を比較器４４により比較し、両者が一致するまではスイ
ッチ４５を閉じてＣＰＵ３１は障害検知器３５の信号を
受は付けるようにする。また、液面センサ２５の信号は
常時骨は付けられる。

比較器４４がカウンタ４２とレジスタ４３の出力の一致
信号を発生すると、ＣＰＵ４１は第１図の第１の異常領
域２９と第１の正常領域３２の和に相当する数値をレジ
スタ４３に送りその内容を入れ替え、比較器４４の次の
一致信号までスイッチ４５を開き、障害検知器３５から
の信号を遮断する。

さらに、比較器４４の次の一致イａ号によりレジスタ４
３の内容を異常領域２９と正常領域３２と異常領域２８
の和に相当する数値に入れ替え、スイッチ４５を閉じる
ようにする。

以後、同様の動作を各領域数に応じて繰り返す。

ＣＰＵ４１は、液面センサ２５が液面検出信号を発生し
たときは上下動モータを止めて、試料を抽出する制御を
行ない、その後、再び、上記の動作に戻り、また、スイ
ッチ４５が閉じており、障害検知器３５が障害検知信号
を発生した場合には、上下動モータを止め、必要に応じ
て警報を発生する。

なお、第５図におけるカウンタ４２、レジスタ４３、比
較器４５、およびスイッチ４５等は、ＣＰＵ４１の中に
取り込むことができる。

［発明の効果コ以上詳述したように本発明を適用すると、従来装置にお
けるモードスイッチを省略することができ、これにより
、モードスイッチの誤操作や誤動作等によるサンプリン
グノズルその他の破損自己や、試料の無駄等を防止する
ことができる。

また、同時に試料容器の種類にかかわりなく自動的に分
析を行なうことができる。

さらに、サンプリングノズルが障害に突き当たった場合
とか、試料容器の底に当たりうる場合における、サンプ
リングノズルの破損を防止することができる。

【図面の簡単な説明】第１図は本発明により導入されたサンプリングノズルの
下降領域区分を説明する図、第２図は従来の自動分析装
置の全体を示す図、第３図は従来の自動分析装置のサン
プリング機構の斜視図、第４図は種々の私利用容器の断
面図、第５図は本発明の制御ブロック図である。１・・・サンプルラック、３・・・試料容器、４・・・
試験管、５・・・サンプルリングノズル、７・・・ラッ
クサンプラ、８・・ラインサンプラ、９・・・サンプリ
ング機構、１ｏ・・・反応テーブル、１１・・・反応容
器、１２・・・第１試薬ノズル、１３・・・第２試薬ノ
ズル、１４・・・攪拌機構、１５・・・分光器、１６・
・・洗浄機構、１７・・・恒温槽、１８・・・回動モー
タ、１９・・・上下動モータ、２０・・・伝達軸、２１
・・・サンプリングアーム、２２・・・センサアーム、
２３・・・検知板、２４・・・検知器、２５・・・液面
センサ、２６・・・ノズル洗浄槽、２７・・・異常領域
、３０・・・正常領域、３５・・・障害検知器、４１・
・・ＣＰＵ、４２・・・カウンタ、４３・・・レジスタ
、４４・・・比較器、４５・・・スイッチ、１００・・
・仮想スケール。第図第４図（・〜）（Ｂｌ（Ｃ）第図

Claims

【特許請求の範囲】１、複数の試料容器を順次搬送し、サンプリングノズル
により上記試料容器内の試料を反応容器内に打つして分
析し、また、液面センサにより上記試料容器内の試料の
液面を検出し、障害検出器により上記サンプリングノズ
ルに体する障害物を検出する自動分析装置において、少
なくとも、上記サンプリングノズルの移動行程を正常領
域と異常領域に区分して記憶する記憶装置と、上記サン
プリングノズルの移動量を検出する移動量検出器と、比
較回路と、上記障害検出器の出力を制御する障害出力制
御回路とを備え、上記比較回路により上記規約装置の出
力と、上記サンプリングノズルの移動量を比較して得ら
れる信号により、上記障害出力制御回路を制御するよう
にしたことを特徴とする自動分析装置のサンプリング装
置。２、請求項１において、上記正常領域を上記試料容器内
に予定される試料存在領域とし、上記異常領域を上記試
料存在領域以外の部分としたことを特徴とする自動分析
装置のサンプリング装置。３、請求項１および２において、上記障害検出器の出力
信号が上記異常領域内で出力されるように、上記障害出
力制御回路を上記比較器により制御するようにしたこと
を特徴とする自動分析装置のサンプリング装置。４、複数の試料容器を順次搬送し、サンプリングノズル
により上記試料容器内の試料を反応容器内に打つして分
析し、また、液面センサにより上記試料容器内の試料の
液面を検出し、障害検出器により上記サンプリングノズ
ルに体する障害物を検出する自動分析方法において、少
なくとも、上記サンプリングノズルの移動行程を正常領
域と異常領域に区分して記憶し、上記サンプリングノズ
ルの移動量を上記正常領域と異常領域のそれぞれと比較
し、上記比較結果により上記障害検出器の出力を制御す
るようにしたことを特徴とする自動分析装置のサンプリ
ング方法。５、請求項４において、上記正常領域を七記試料容器内
に予定される試料存在領域とし、上記異常領域を上記試
料存在領域以外の部分としたことを特徴とする自動分析
装置のサンプリング装置。６、請求項４および５において、上記障害検出器の出力
信号が上記異常領域内で出力されるようにしたことを特
徴とする自動分析装置のサンプリング方法。