JPH03172765A - Sampling device and method for automatic analysis apparatus - Google Patents

Sampling device and method for automatic analysis apparatus

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JPH03172765A
JPH03172765A JP31052089A JP31052089A JPH03172765A JP H03172765 A JPH03172765 A JP H03172765A JP 31052089 A JP31052089 A JP 31052089A JP 31052089 A JP31052089 A JP 31052089A JP H03172765 A JPH03172765 A JP H03172765A
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sampling
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sampling nozzle
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Tetsuaki Abe
阿部 哲昭
Hiroyasu Uchida
裕康 内田
Kazutaka Sano
佐野 一敬
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Hitachi Ltd
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Abstract

PURPOSE:To analyze samples of different liquid level heights without changing the max. descending amt. of a sample nozzle by generating the output of a fault detector when the sample nozzle is within an abnormal region. CONSTITUTION:Pulse signals are sent to a vertically moving motor 19 and the sample nozzle 5 starts descending when a start signal is inputted to a CPU 41. The number of pulses corresponding to the length of the 1st abnormal region 29 is set simultaneously in a register 43. This number and the number of the pulses sent to the motor 19 and counted by a pulse counter 43 are compared by a comparator 44. The CPU 41 closes a switch 45 to receive the signal of the fault detector 35 until both coincide. The CPU 41 sends the numerical value corresponding to the sum of the abnormal region 29 and the 1st normal region 32 to the register 43 to alternate the contents thereof and to hold the switch 45 opened to the next coincidence signal of the comparator 44 when the comparator 44 generates the coincidence signal of the counter 42 and the register 43. The signal from the fault detector 35 is thus shut off.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は生化学自動分析装置に係わり、とくに形状の異
なる種々の試料容器から分析要サンプルを円滑に採取す
るに好適な自動分析装置のサンプリング装置に関わる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an automatic biochemical analyzer, and in particular to sampling of an automatic analyzer suitable for smoothly collecting samples for analysis from various sample containers of different shapes. Related to equipment.

[従来の技術] 第2図は従来の自動分析装置の全体を示す図である。ラ
ックサンプラ7にセットされた複数の試料容器を収容す
るサンプルラック1は順次ラインサンプラ8上を移動し
てサンプリング機構9のサンプリング位置に停止する。
[Prior Art] FIG. 2 is a diagram showing the entire conventional automatic analyzer. A sample rack 1 accommodating a plurality of sample containers set in a rack sampler 7 sequentially moves on a line sampler 8 and stops at a sampling position of a sampling mechanism 9.

サンプリング機構9は反応テーブル1o上の所定の反応
容器11内に。
The sampling mechanism 9 is placed in a predetermined reaction container 11 on the reaction table 1o.

サンプリングラック1内の試料を所定量づつ分注する。A predetermined amount of the sample in the sampling rack 1 is dispensed.

反応テーブル10の回転により各反応容器11は所定の
位置に移送される。
By rotating the reaction table 10, each reaction container 11 is transferred to a predetermined position.

上記各サンプルラック内の各試料には、分析法上から定
まる所定の添加位置に置かれた第1試薬ノズル12と第
2試薬ノズル13から、各分析項目に対応する試薬が分
注さ、れる。次いで上記反応容器11は攪拌機構17に
より攪拌され、分光器15によりそれぞれの分析項目が
測定される。恒温槽17により、上記各試料の温度は一
定に保たれる。
Reagents corresponding to each analysis item are dispensed into each sample in each of the sample racks from the first reagent nozzle 12 and second reagent nozzle 13 placed at predetermined addition positions determined based on the analysis method. . Next, the reaction vessel 11 is stirred by the stirring mechanism 17, and each analysis item is measured by the spectrometer 15. The temperature of each sample is kept constant by the constant temperature bath 17.

上記81+1定結果は対数変換、アナログ・デジタル変
換後コンピュータにより総括的に処理される。
The 81+1 constant result is subjected to logarithmic conversion and analog/digital conversion, and then comprehensively processed by a computer.

測定終了後の反応容器11は洗浄機構16により洗浄さ
れ、再び分析に使用される。
After the measurement is completed, the reaction vessel 11 is cleaned by the cleaning mechanism 16 and used again for analysis.

第3図は上記サンプリング機構9の詳細を示す図である
。サンプリングアーム21の先端に取り付けられたサン
プリングノズル5は、サンプルラック1内の所定の試料
容器3の試料を吸引し、次いでサンプリングアーム21
を回動して上記試料を反応容器11に移す。
FIG. 3 is a diagram showing details of the sampling mechanism 9. The sampling nozzle 5 attached to the tip of the sampling arm 21 aspirates the sample from a predetermined sample container 3 in the sample rack 1, and then
The sample is transferred to the reaction container 11 by rotating the .

サンプリングアーム21は回動モータ18により駆動さ
れて伝達軸20の周りを回転し、その回転角度は伝達軸
20に取り付けられた検知板23と検知器24により検
出される。また、サンプリングアーム21は上下動モー
タ19により#!l+されて、試料容器3および反応容
器11の位置で上下に移動する。
The sampling arm 21 is driven by the rotation motor 18 to rotate around the transmission shaft 20, and its rotation angle is detected by a detection plate 23 and a detector 24 attached to the transmission shaft 20. Also, the sampling arm 21 is moved #! by the vertical movement motor 19. l+ and move up and down at the positions of the sample container 3 and reaction container 11.

サンプリングアーム21の先端部には液面センサ25が
取り付けられ、これにより試料容器内の液面が検知し、
上下動モータ19を停止せしめるようになっている。
A liquid level sensor 25 is attached to the tip of the sampling arm 21, which detects the liquid level in the sample container.
The vertical movement motor 19 is stopped.

また、サンプリングアーム21の先端部には障害検知器
35が設置され、例えば、サンプリングノズル5が試料
容器の底や縁に当たった場合、その下降を停止するよう
になっている。サンプリングノズル5はサンプリングア
ームに弾性的に取り付けられているので、サンプリング
ノズル5のサンプリングアーム21からの飛び出し量を
光センサ等よりなる障害検知器35により検出して上記
底当たりや縁当たり等を検出することができるのである
Further, a failure detector 35 is installed at the tip of the sampling arm 21, and is configured to stop the descending of the sampling nozzle 5 if it hits the bottom or edge of the sample container, for example. Since the sampling nozzle 5 is elastically attached to the sampling arm, the amount of protrusion of the sampling nozzle 5 from the sampling arm 21 is detected by a failure detector 35 consisting of an optical sensor or the like to detect the above-mentioned hitting the bottom or the edge. It is possible.

反応容器11内に試料を注入し終わったサンプリングノ
ズル5はノズル洗浄槽26により洗浄されて再び使用さ
れる。
The sampling nozzle 5 that has finished injecting the sample into the reaction vessel 11 is cleaned by the nozzle cleaning tank 26 and used again.

第4図は従来の上記サンプルラック1の一例を示す図で
ある。種々の形状の試料容器が様々の方法で設置されて
いる。
FIG. 4 is a diagram showing an example of the conventional sample rack 1. As shown in FIG. Sample containers of various shapes are installed in various ways.

第4図(A)はサンプルラック1上に試験管4が置かれ
、更にその上に試料6を収容する試料容器3が設置され
た場合、同図(B)はサンプルラック1上に試料6を収
容する試料容器3が直接設置された場合、同図(C)は
サンプルラック1上に試料6を収容する試験管4が設置
された場合である。
FIG. 4(A) shows a case where a test tube 4 is placed on the sample rack 1 and a sample container 3 containing a sample 6 is placed above it, and FIG. (C) shows a case where a test tube 4 containing a sample 6 is installed on the sample rack 1.

[発明が解決しようとする課題] 上記従来の自動分析装置においては、サンプルノズル5
の下降中に1例えば障害検出器35が誤動作して警報を
発すると、自動分析装置の動作は停止し、誤動作を確認
してから、はじめの手順に戻ってやり直す必要があった
。即ち、サンプルノズル5を洗浄し、再び試料を注入し
ていた。このため、時間が無駄になることの他に、貴重
な試料を無駄にするという問題があった。
[Problems to be Solved by the Invention] In the above conventional automatic analyzer, the sample nozzle 5
If, for example, the failure detector 35 malfunctions and issues an alarm during the descent of the automatic analyzer, the operation of the automatic analyzer stops, and after confirming the malfunction, it is necessary to return to the initial procedure and start over. That is, the sample nozzle 5 was cleaned and the sample was injected again. For this reason, there is a problem that not only time is wasted but also valuable samples are wasted.

また、従来装置では上記誤動作の発生確率を低減するた
め、サンプルラック1内の試料容器3の種類、即ち試料
容器の底の位置に対応して、サンプルリングノズル5の
最大下降量を制限するようにしていた。不必要に降下で
きるようにすると上記誤動作の確率も高くなるからであ
る。しかし、これに伴い異なる試料容器毎に1例えばモ
ードスイッチにより上記最大下降量を切り替える必要が
生じので、操作が煩雑となり、また操作を誤るという問
題が発生していた。このため、実際上は一つのサンプル
ラック内には同一機種の試料容器のみを挿入するように
して上記切替え回数を抑えるようにしていた。
Furthermore, in order to reduce the probability of occurrence of the above-mentioned malfunction, in the conventional device, the maximum descending amount of the sample ring nozzle 5 is limited depending on the type of sample container 3 in the sample rack 1, that is, the position of the bottom of the sample container. I was doing it. This is because if it is allowed to descend unnecessarily, the probability of the above-mentioned malfunction increases. However, as a result of this, it is necessary to switch the maximum descending amount for each different sample container using, for example, a mode switch, which causes problems such as complicated operations and erroneous operations. For this reason, in practice, only sample containers of the same model are inserted into one sample rack to suppress the number of times of switching.

上記従来技術では、試料容器の種類に応じてその都度サ
ンプリングノズルの最大の下降量を設定する必要があり
、操作が煩雑であり、また操作を誤ってサンプリングノ
ズルを破損する危険があった。
In the above-mentioned conventional technology, it is necessary to set the maximum amount of descent of the sampling nozzle each time depending on the type of sample container, which is complicated to operate, and there is a risk of damaging the sampling nozzle due to incorrect operation.

本発明の目的は上記液面高さの異なる試料を上記サンプ
リングノズル5の最大下降量を切替えることなく分析で
きる自動分析装置のサンプリング方法を提供することに
なる。
An object of the present invention is to provide a sampling method for an automatic analyzer that can analyze samples having different liquid level heights without changing the maximum descending amount of the sampling nozzle 5.

[課題を解決するための手段] 本発明は上記の目的を達成するために、少なくとも、上
記サンプリングノズルの全参勤行程を正常領域と異常領
域に区分して記憶し、上記サンプリングノズルが上記異
常領域内に存在するとき、上記障害検出器の出力を発生
されるようにする。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, the present invention stores at least the entire attendance stroke of the sampling nozzle divided into a normal area and an abnormal area, and the sampling nozzle is stored in a normal area and an abnormal area. When the fault detector is present in the fault detector, the output of the fault detector is generated.

さらに、上記正常領域を上記試料容器内に予定される試
料存在領域とし、上記異常領域を上記試料存在領域以外
の部分とするようにする。
Further, the normal region is a sample existing region expected in the sample container, and the abnormal region is a portion other than the sample existing region.

[作用] 以上のように構成した本発明の自動分析装置および方法
は、試料容器の試料存在予定領域、すなわち上記正常領
域内で上記障害検知動作を中止する。
[Operation] The automatic analyzer and method of the present invention configured as described above suspends the failure detection operation in the area where the sample is expected to exist in the sample container, that is, within the normal area.

さらに、上記正常領域の幅を、上記サンプリングノズル
が上記試料容器に底当たりしても破損しない範囲に設定
する。
Furthermore, the width of the normal region is set within a range that will not cause damage even if the sampling nozzle hits the sample container at the bottom.

[実施例コ 第1図は本発明による自動分析装置のサンプリング方法
の一実施例を説明する図である。
[Example 1] FIG. 1 is a diagram illustrating an example of a sampling method for an automatic analyzer according to the present invention.

第1図においては第4図と同様に(A)、(B)、(C
)で示す三種類の試料容器が示されている。
In Figure 1, as in Figure 4, (A), (B), (C
) Three types of sample containers are shown.

100はコンピュータ等の制御装置が記憶する仮想のス
ケールを表わしている。仮想スケール100内の30.
21.32等はそれぞれ、試験管4゜試料容器31.3
2内に予定される試料液面から試料容器の底迄が入る範
囲を示し、これらを正常領域と呼ぶことにする。27.
28.29等は上記30〜32以外の領域を示しこれら
を以上領域と呼ぶことにする。上記27〜32迄を合わ
せた全領域がサンプリングノズル5の可動範囲である。
100 represents a virtual scale stored in a control device such as a computer. 30 within the virtual scale 100.
21.32 etc. are test tube 4゜sample container 31.3 respectively.
The range from the expected sample liquid level to the bottom of the sample container is shown in FIG. 2 and is referred to as the normal region. 27.
28, 29, etc. indicate areas other than the above-mentioned 30 to 32, and these will be referred to as the above areas. The entire range from 27 to 32 mentioned above is the movable range of the sampling nozzle 5.

サンプリングノズル5はモードスイッチにより試料容器
の種類に対応した最大下降量を指定されることなく下降
し、最初の正常領域32に達すると液面検出をおこない
、液面があればそこで停止し、無なれば次の正常領域3
1まで下降し、同様の動作を繰り返す。正常領域30に
ついても同様である。
The sampling nozzle 5 descends without being specified by the mode switch to the maximum descending amount corresponding to the type of sample container, and when it reaches the first normal region 32, it detects the liquid level, and if there is a liquid level, it stops there, and no If so, the next normal area 3
Descend to 1 and repeat the same operation. The same applies to the normal region 30.

従来装置ではモードスイッチにより試料容器の種類毎に
それぞれの最大下降量が規定されるので、例えば第1図
(A)の試料容器32から試料を抽出する場合には、サ
ンプリングノズル5は正常領域32の下側に行くことが
ないようレニなっていた。
In the conventional device, the mode switch determines the maximum descending amount for each type of sample container, so for example, when extracting a sample from the sample container 32 in FIG. Leni had to go to the bottom side.

しかし、上記モードスイッチを省略すると、たとえば、
試料容器内の試料量が極端に少ないような場合に、液面
センサ25が液面を検出するまえに、障害検知器35が
試料容器の底を検知して下降を停止せしめるというよう
な不都合が発生する。
However, if you omit the mode switch above, for example,
When the amount of sample in the sample container is extremely small, there is an inconvenience that the failure detector 35 detects the bottom of the sample container and stops the descent before the liquid level sensor 25 detects the liquid level. Occur.

そこで本発明では、正常領域30〜31内では障害検知
器35の動作を停止するようにする。この間、サンプリ
ングノズル5の底当たりを検出できなくなるので下げす
ぎてこれを破損する危険を生じる。しかし、次の異常領
域に達すると再び。
Therefore, in the present invention, the operation of the failure detector 35 is stopped within the normal areas 30 to 31. During this time, it becomes impossible to detect whether the sampling nozzle 5 hits the bottom, so there is a risk of lowering it too much and damaging it. But once you reach the next abnormal area.

障害検知器35が動作し始めるので、底当たりのまま次
の障害領域内をさらに降下しない。この際、次の異常領
域の上縁位置を、サンプリングノズル5が破損しない程
度の位置に設定しておくようにする。サンプリングノズ
ル5は通常、弾力的に取り付けられているので、上記の
ように底当たり後に多少押し下げられても破損すること
はない。
Since the fault detector 35 begins to operate, the vehicle will not continue descending into the next fault area while remaining at the bottom. At this time, the upper edge position of the next abnormal area is set to a position that will not damage the sampling nozzle 5. Since the sampling nozzle 5 is normally attached elastically, it will not be damaged even if it is pushed down a little after hitting the bottom as described above.

試料容器内に試料が存在しない場合、次の異常領域の上
縁で障害検知器35が警報を発生するので、サンプリン
グノズル5はその位置で停止する。
If there is no sample in the sample container, the fault detector 35 will generate an alarm at the upper edge of the next abnormal area, and the sampling nozzle 5 will stop at that position.

正常領域内に試料容器がない場合はサンプリングノズル
5が底当たりしていないので1次の異常領域に入っても
障害検知器35は警報を発生せず、そのまま、上記異常
領域を通過して次の正常領域に入り、上記の動作を繰り
返す。
If there is no sample container in the normal area, the sampling nozzle 5 has not touched the bottom, so even if it enters the first abnormal area, the fault detector 35 will not issue an alarm, and the sample will continue to pass through the abnormal area and proceed to the next one. enters the normal region and repeats the above operations.

以上の動作を要約すると、本発明では、異常領域内では
従来装置と同様に異常を検出は、正常領域内では障害検
知器35が働かないものの、異常がある場合にはサンプ
リングノズル5を破損しない範囲で、その下降を停止す
ることができるということになる。従来装置では、本発
明と同様の動作を行なわせるためにモードスイッチを設
け、試料容器の高さに応じて最大下降量をその都度設定
するようにしていた。本発明により上記モードスイッチ
を省略することができるのである。
To summarize the above operation, in the present invention, an abnormality is detected in the abnormal area as in the conventional device, but the failure detector 35 does not work in the normal area, but if there is an abnormality, the sampling nozzle 5 is not damaged. It follows that the descent can be stopped within that range. In the conventional apparatus, a mode switch was provided to perform the same operation as the present invention, and the maximum descending amount was set each time according to the height of the sample container. According to the present invention, the mode switch described above can be omitted.

第5図は上記本発明の動作を実現する一実施例のブロッ
ク図である。同図で信号の流れを明快にするため例えば
液面センサ25用のアナログ・デジタル変換器、パルス
モータである上下動モータ19の駆動回路等の常識的な
要素は省略している。
FIG. 5 is a block diagram of an embodiment for realizing the operation of the present invention described above. In the figure, common-sense elements such as the analog-to-digital converter for the liquid level sensor 25 and the drive circuit for the vertical motion motor 19, which is a pulse motor, are omitted to make the signal flow clear.

制御装置であるCPU41に起動信号が入力されると、
上下動モータ(パルスモータ)19にパルス信号が送ら
れがサンプリングノズル5の下降を開始する。同時にレ
ジスタ43には第1図に示した第1の異常領域29の長
さに相当するパルス数が設定され、これとパルスカウン
タ42が計数する上下動モータ19に送られたパルス数
を比較器44により比較し、両者が一致するまではスイ
ッチ45を閉じてCPU31は障害検知器35の信号を
受は付けるようにする。また、液面センサ25の信号は
常時骨は付けられる。
When a start signal is input to the CPU 41, which is a control device,
A pulse signal is sent to the vertical movement motor (pulse motor) 19, and the sampling nozzle 5 starts to descend. At the same time, the register 43 is set with the number of pulses corresponding to the length of the first abnormal area 29 shown in FIG. 44, and until the two match, the switch 45 is closed and the CPU 31 accepts the signal from the fault detector 35. Further, the signal from the liquid level sensor 25 is always reflected.

比較器44がカウンタ42とレジスタ43の出力の一致
信号を発生すると、CPU41は第1図の第1の異常領
域29と第1の正常領域32の和に相当する数値をレジ
スタ43に送りその内容を入れ替え、比較器44の次の
一致信号までスイッチ45を開き、障害検知器35から
の信号を遮断する。
When the comparator 44 generates a match signal between the outputs of the counter 42 and the register 43, the CPU 41 sends a numerical value corresponding to the sum of the first abnormal area 29 and the first normal area 32 in FIG. 1 to the register 43 and its contents. , the switch 45 is opened until the next matching signal from the comparator 44, and the signal from the fault detector 35 is cut off.

さらに、比較器44の次の一致イa号によりレジスタ4
3の内容を異常領域29と正常領域32と異常領域28
の和に相当する数値に入れ替え、スイッチ45を閉じる
ようにする。
Furthermore, due to the next match a of the comparator 44, the register 4
The contents of 3 are divided into abnormal area 29, normal area 32, and abnormal area 28.
, and the switch 45 is closed.

以後、同様の動作を各領域数に応じて繰り返す。Thereafter, similar operations are repeated for each number of areas.

CPU41は、液面センサ25が液面検出信号を発生し
たときは上下動モータを止めて、試料を抽出する制御を
行ない、その後、再び、上記の動作に戻り、また、スイ
ッチ45が閉じており、障害検知器35が障害検知信号
を発生した場合には、上下動モータを止め、必要に応じ
て警報を発生する。
When the liquid level sensor 25 generates a liquid level detection signal, the CPU 41 stops the vertical movement motor and performs control to extract the sample, and then returns to the above operation again, and when the switch 45 is closed. , When the fault detector 35 generates a fault detection signal, the vertical movement motor is stopped and an alarm is generated as necessary.

なお、第5図におけるカウンタ42、レジスタ43、比
較器45、およびスイッチ45等は、CPU41の中に
取り込むことができる。
Note that the counter 42, register 43, comparator 45, switch 45, etc. in FIG. 5 can be incorporated into the CPU 41.

[発明の効果コ 以上詳述したように本発明を適用すると、従来装置にお
けるモードスイッチを省略することができ、これにより
、モードスイッチの誤操作や誤動作等によるサンプリン
グノズルその他の破損自己や、試料の無駄等を防止する
ことができる。
[Effects of the Invention] As detailed above, by applying the present invention, the mode switch in the conventional device can be omitted, thereby preventing damage to the sampling nozzle and other parts due to incorrect operation or malfunction of the mode switch, and damage to the sample. Waste etc. can be prevented.

また、同時に試料容器の種類にかかわりなく自動的に分
析を行なうことができる。
At the same time, analysis can be performed automatically regardless of the type of sample container.

さらに、サンプリングノズルが障害に突き当たった場合
とか、試料容器の底に当たりうる場合における、サンプ
リングノズルの破損を防止することができる。
Furthermore, damage to the sampling nozzle can be prevented in the event that the sampling nozzle hits an obstacle or hits the bottom of the sample container.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明により導入されたサンプリングノズルの
下降領域区分を説明する図、第2図は従来の自動分析装
置の全体を示す図、第3図は従来の自動分析装置のサン
プリング機構の斜視図、第4図は種々の私利用容器の断
面図、第5図は本発明の制御ブロック図である。 1・・・サンプルラック、3・・・試料容器、4・・・
試験管、5・・・サンプルリングノズル、7・・・ラッ
クサンプラ、8・・ラインサンプラ、9・・・サンプリ
ング機構、1o・・・反応テーブル、11・・・反応容
器、12・・・第1試薬ノズル、13・・・第2試薬ノ
ズル、14・・・攪拌機構、15・・・分光器、16・
・・洗浄機構、17・・・恒温槽、18・・・回動モー
タ、19・・・上下動モータ、20・・・伝達軸、21
・・・サンプリングアーム、22・・・センサアーム、
23・・・検知板、24・・・検知器、25・・・液面
センサ、26・・・ノズル洗浄槽、27・・・異常領域
、30・・・正常領域、35・・・障害検知器、41・
・・CPU、42・・・カウンタ、43・・・レジスタ
、44・・・比較器、45・・・スイッチ、100・・
・仮想スケール。 第 図 第 4 図 (・〜) (Bl (C) 第 図
[BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS] Fig. 1 is a diagram illustrating the descending area division of the sampling nozzle introduced by the present invention, Fig. 2 is a diagram showing the entire conventional automatic analyzer, and Fig. 3 is a diagram illustrating the descending area division of the sampling nozzle introduced by the present invention. FIG. 4 is a perspective view of the sampling mechanism of the analyzer, FIG. 4 is a sectional view of various containers for personal use, and FIG. 5 is a control block diagram of the present invention. 1...sample rack, 3...sample container, 4...
Test tube, 5... Sample ring nozzle, 7... Rack sampler, 8... Line sampler, 9... Sampling mechanism, 1o... Reaction table, 11... Reaction container, 12... No. 1 reagent nozzle, 13... second reagent nozzle, 14... stirring mechanism, 15... spectrometer, 16.
...Cleaning mechanism, 17... Constant temperature bath, 18... Rotation motor, 19... Vertical movement motor, 20... Transmission shaft, 21
...Sampling arm, 22...Sensor arm,
23... Detection plate, 24... Detector, 25... Liquid level sensor, 26... Nozzle cleaning tank, 27... Abnormal area, 30... Normal area, 35... Fault detection Vessel, 41・
...CPU, 42...Counter, 43...Register, 44...Comparator, 45...Switch, 100...
・Virtual scale. Figure 4 Figure 4 (・~) (Bl (C) Figure

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、複数の試料容器を順次搬送し、サンプリングノズル
により上記試料容器内の試料を反応容器内に打つして分
析し、また、液面センサにより上記試料容器内の試料の
液面を検出し、障害検出器により上記サンプリングノズ
ルに体する障害物を検出する自動分析装置において、少
なくとも、上記サンプリングノズルの移動行程を正常領
域と異常領域に区分して記憶する記憶装置と、上記サン
プリングノズルの移動量を検出する移動量検出器と、比
較回路と、上記障害検出器の出力を制御する障害出力制
御回路とを備え、上記比較回路により上記規約装置の出
力と、上記サンプリングノズルの移動量を比較して得ら
れる信号により、上記障害出力制御回路を制御するよう
にしたことを特徴とする自動分析装置のサンプリング装
置。 2、請求項1において、上記正常領域を上記試料容器内
に予定される試料存在領域とし、上記異常領域を上記試
料存在領域以外の部分としたことを特徴とする自動分析
装置のサンプリング装置。 3、請求項1および2において、上記障害検出器の出力
信号が上記異常領域内で出力されるように、上記障害出
力制御回路を上記比較器により制御するようにしたこと
を特徴とする自動分析装置のサンプリング装置。 4、複数の試料容器を順次搬送し、サンプリングノズル
により上記試料容器内の試料を反応容器内に打つして分
析し、また、液面センサにより上記試料容器内の試料の
液面を検出し、障害検出器により上記サンプリングノズ
ルに体する障害物を検出する自動分析方法において、少
なくとも、上記サンプリングノズルの移動行程を正常領
域と異常領域に区分して記憶し、上記サンプリングノズ
ルの移動量を上記正常領域と異常領域のそれぞれと比較
し、上記比較結果により上記障害検出器の出力を制御す
るようにしたことを特徴とする自動分析装置のサンプリ
ング方法。 5、請求項4において、上記正常領域を七記試料容器内
に予定される試料存在領域とし、上記異常領域を上記試
料存在領域以外の部分としたことを特徴とする自動分析
装置のサンプリング装置。 6、請求項4および5において、上記障害検出器の出力
信号が上記異常領域内で出力されるようにしたことを特
徴とする自動分析装置のサンプリング方法。
[Claims] 1. A plurality of sample containers are sequentially transported, a sampling nozzle is used to inject the sample in the sample container into a reaction container for analysis, and a liquid level sensor is used to detect the sample in the sample container. An automatic analyzer that detects a liquid level and detects an obstacle to the sampling nozzle using an obstacle detector, at least a storage device that stores the movement stroke of the sampling nozzle divided into a normal region and an abnormal region; A movement amount detector that detects the movement amount of the sampling nozzle, a comparison circuit, and a failure output control circuit that controls the output of the failure detector, and the comparison circuit detects the output of the regulation device and the sampling nozzle. A sampling device for an automatic analyzer, characterized in that the fault output control circuit is controlled by a signal obtained by comparing the amount of movement of the . 2. A sampling device for an automatic analyzer according to claim 1, wherein the normal region is a sample existing region expected in the sample container, and the abnormal region is a portion other than the sample existing region. 3. The automatic analysis according to claims 1 and 2, characterized in that the fault output control circuit is controlled by the comparator so that the output signal of the fault detector is output within the abnormal region. Equipment sampling device. 4. Sequentially transporting a plurality of sample containers, using a sampling nozzle to strike the sample in the sample container into a reaction container for analysis, and detecting the liquid level of the sample in the sample container using a liquid level sensor; In an automatic analysis method for detecting an obstacle on the sampling nozzle using an obstacle detector, at least the movement stroke of the sampling nozzle is divided into a normal region and an abnormal region and stored, and the amount of movement of the sampling nozzle is divided into the normal region and the abnormal region. A sampling method for an automatic analyzer, characterized in that the output of the failure detector is controlled based on the comparison result by comparing the area and the abnormal area. 5. A sampling device for an automatic analyzer according to claim 4, wherein the normal region is a sample existing region expected in the sample container, and the abnormal region is a portion other than the sample existing region. 6. A sampling method for an automatic analyzer according to claims 4 and 5, characterized in that the output signal of the fault detector is output within the abnormal region.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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WO2012111287A1 (en) * 2011-02-14 2012-08-23 富士フイルム株式会社 Specimen container and nozzle tip volume regulator
JP2016017775A (en) * 2014-07-04 2016-02-01 株式会社東芝 Automatic analyzer

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