JPH03172732A - Multi-spot measuring instrument and multi-spot measuring method using same - Google Patents

Multi-spot measuring instrument and multi-spot measuring method using same

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Publication number
JPH03172732A
JPH03172732A JP31076189A JP31076189A JPH03172732A JP H03172732 A JPH03172732 A JP H03172732A JP 31076189 A JP31076189 A JP 31076189A JP 31076189 A JP31076189 A JP 31076189A JP H03172732 A JPH03172732 A JP H03172732A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fluid path
measurement
sampling
fluid
measuring device
Prior art date
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Pending
Application number
JP31076189A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Keizo Goto
後藤 慶蔵
Kyoichi Nakano
恭一 中野
Masaharu Iwamiya
岩宮 正治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toyo Netsu Kogyo Kaisha Ltd
Original Assignee
Toyo Netsu Kogyo Kaisha Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Toyo Netsu Kogyo Kaisha Ltd filed Critical Toyo Netsu Kogyo Kaisha Ltd
Priority to JP31076189A priority Critical patent/JPH03172732A/en
Publication of JPH03172732A publication Critical patent/JPH03172732A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To eliminate the production of particulates such as metal scraps at the time of measuring operation and to easily and accurately take a measurement at low cost by providing a clean room with plural tubes, sampling air, and switching the path where the air flows. CONSTITUTION:An HEPA filter 2 is installed at the ceiling part of the clean room 1 and clean air is supplied from the filter 2. Air vents 4 are formed in the floor surface 3 and the clean air is discharged to below the floor. Plural sampling tubes 11 are provided in the room 1 at desired measurement positions and the tips of the tubes 11 are opened so as to sample the clean air by suction. The tubes 11 are formed of soft synthetic resin so that internal hollow parts are easily blocked with external pressure. The other-end sides of the tubes 11 are connected to a fluid path switching device 12 and the sampled air flows to a gathering header device 13 through the switching operation of the device 12. The device 13 specifies one of plural fluid passages, so particulates can be measured by one light scatter particulate meter 14.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、半導体装置の製造工程や病院等に設けられて
いるクリーンルームについてエヤーノ清浄度を計測する
際に用いて好適な多点計測装置、及び多点計測方法に関
するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention provides a multi-point measuring device suitable for use in measuring air cleanliness in semiconductor device manufacturing processes, clean rooms provided in hospitals, etc. and a multi-point measurement method.

[従来の技術] IC,、LSI等の半導体装置は、超微細化加工によっ
て製造されるものであり、塵が付着すると製品不良が生
じるので、エヤーを清浄化したクリーンルーム内で各種
作業が行われる。尚、クリーンルームの構造等について
は、特開昭61−72947号等にその一例が開示され
ている。
[Prior art] Semiconductor devices such as ICs and LSIs are manufactured through ultra-fine processing, and if dust adheres to them, product defects occur, so various operations are performed in clean rooms with purified air. . An example of the structure of a clean room is disclosed in Japanese Patent Laid-Open No. 72947/1983.

前記のようなりリーンルームは、その使用目的に鑑み、
クリーンルーム内の清浄度を測定する必要がある。測定
に際し、エヤーに含まれる度等の微粒子がどのように拡
散してゆくか、を直接測定しようとすれば、クリーンル
ーム内に多数の微粒子計を設置し、種々の位置で同時に
計測する必要がある。
As mentioned above, in consideration of the purpose of use of lean rooms,
It is necessary to measure the cleanliness inside the clean room. In order to directly measure how particles such as particles contained in air diffuse, it is necessary to install many particle meters in a clean room and measure them simultaneously at various locations. .

又、クリーンルーム内の複数位置について微粒子濃度の
モニタリングを行おうとすれば、各測定位置にエヤーを
採取する配管とバルブとを設け、手動または自動により
バルブを制御して採取してエヤーについて測定するか、
或いは測定しようとする位置毎に微粒子計を設置し、測
定データを集めにまわったり、通信手段によりデータを
一箇所にまとめる必要がある。
Also, if you want to monitor the concentration of particulates at multiple locations in a clean room, you should install piping and valves to sample air at each measurement location, and then manually or automatically control the valves to sample and measure the air. ,
Alternatively, it is necessary to install a particle meter at each location to be measured and go around collecting measurement data, or to collect the data in one place using communication means.

[発明が解決しようとする課題] しかし、前記微粒子計(光散乱微粒子計)は高価であり
、同時計測のため複数の光散乱微粒子計を設置すること
は経済的に困難である。又、前記配管とバルブを用いた
計測を行うため、現在はブロワ−により多点、即ち複数
位置からサンプリングエヤーを吸引し、ロータリーバル
ブによって流体経路を切り替え、光散乱微粒子計により
計測する多点計測システムが提案されているが、非常に
高価である。
[Problems to be Solved by the Invention] However, the particle meter (light scattering particle meter) is expensive, and it is economically difficult to install a plurality of light scattering particle meters for simultaneous measurement. In addition, in order to perform measurements using the piping and valves mentioned above, currently, sampling air is sucked in from multiple points using a blower, the fluid path is switched using a rotary valve, and multi-point measurement is performed using a light scattering particle meter. Systems have been proposed but are very expensive.

そして、前記多点計測システムについては、配管と流体
経路切り換えに電磁弁が使用されているが、サンプリン
グエヤーの流体経路となる配管を清浄状態に施工するこ
とが非常に困難である上に、電磁弁の開閉時、換言すれ
ばオン状態・オフ状態に切替駆動する際に金属クズが発
生する。このように、電磁弁自体が発塵性を有している
ので、正確な計測が困難になるばかりか、金属クズが光
散乱微粒子計の光学系に吸引されて故障の原因になり、
又電磁弁の構造上、デッドスペースが大きく、さらに−
度汚染されると影響が長びく、その上抵抗損失が大きく
、微粒子計の吸引ポンプや微粒子計測システム全体に悪
影響を与える等の不都合があった。
As for the multi-point measurement system, solenoid valves are used to switch the piping and fluid paths, but it is extremely difficult to construct the piping that serves as the fluid path for the sampling air in a clean state, and the electromagnetic valves Metal scraps are generated when a valve is opened and closed, in other words, when it is switched between an on state and an off state. In this way, the solenoid valve itself generates dust, which not only makes accurate measurements difficult, but also causes metal scraps to be sucked into the optical system of the light scattering particle meter, causing malfunctions.
Also, due to the structure of the solenoid valve, there is a large dead space, and -
If contaminated, the effects will last for a long time, and the resistance loss will be large, which will adversely affect the particle meter's suction pump and the entire particle measurement system.

本発明は前記実状に鑑みてなされたものであり、計測時
に金属クズ等の微粒子の発生がなく、しかも構成が簡単
で安価かつ正確な計測を行い得る多点計測装置、及び多
点計測方法を提供することにある。
The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and provides a multi-point measuring device and a multi-point measuring method that do not generate fine particles such as metal scraps during measurement, have a simple configuration, and can perform inexpensive and accurate measurements. It is about providing.

[課題を解決するための手段] 本発明に係る前記目的は、クリ−ンルーム等の所望空間
内に複数の管体、換言すればチニーブを設けてエヤーを
サンプリングするとともに、サンプリングしたエヤーが
流れる流体経路を流体経路切替装置によって切り替える
ようになし、更に集合ヘッダ装置によって流体経路を1
/N本にして、最終流体経路において1の光散乱微粒子
計により微粒子計測を行い、計測結果を前記流体経路切
替装置及び光散乱微粒子計を制御するコンピュータの記
憶手段に記憶することにより達成される。
[Means for Solving the Problems] The object of the present invention is to sample air by providing a plurality of pipes, in other words, chinives, in a desired space such as a clean room, and to provide a fluid through which the sampled air flows. The fluid path is switched by a fluid path switching device, and the fluid path is changed to one by a collective header device.
/N number of particles, one light-scattering particle meter measures particles in the final fluid path, and the measurement results are stored in a storage means of a computer that controls the fluid path switching device and the light-scattering particle meter. .

更に、本発明に係る前記以外の目的は、前記構成の多点
計測装置を用いて多点計測を行うに際し、複数のサンプ
リング位置のうち第1のサンプリング位置に対応した流
体経路を開状態に制御して計測が終了した後、第2のサ
ンプリング位置に対応した流体経路を開状態になし、所
定時間経過後に前記第1のサンプリング位置に対応した
流体経路を遮断して、前記第2のサンプリング位置から
得られる流体の計測を行うことにより達成される。
Furthermore, another object of the present invention is to control a fluid path corresponding to a first sampling position among a plurality of sampling positions to an open state when performing multipoint measurement using the multipoint measurement device having the above configuration. After the measurement is completed, the fluid path corresponding to the second sampling position is opened, and after a predetermined period of time, the fluid path corresponding to the first sampling position is closed, and the fluid path corresponding to the second sampling position is opened. This is achieved by measuring the fluid obtained from the

[作用] 前記のように構成された多点計測装置によれば、複数の
サンプリング位置に対応した流体経路の選択が複数本の
管体の開閉により行われ、しかも流体経路が1に集合さ
れるので、集合位置により1の光散乱微粒子計により計
測を行うことができ、流体経路中における金属クズ等の
発生を防止し得るとともに、安価な装置になすことがで
きる。
[Operation] According to the multi-point measurement device configured as described above, selection of fluid paths corresponding to a plurality of sampling positions is performed by opening and closing a plurality of pipe bodies, and moreover, the fluid paths are collected into one. Therefore, measurement can be performed using one light scattering particle meter depending on the gathering position, and the generation of metal debris in the fluid path can be prevented, and the device can be made at low cost.

更に、計測にあたっては、第1のサンプリング位置に対
応した流体の影響が無くなってから、第2のサンプリン
グ位置に対応した流体について計測を行うので、極めて
正確な計測を行うことができる。
Furthermore, in the measurement, the fluid corresponding to the second sampling position is measured after the influence of the fluid corresponding to the first sampling position has disappeared, so that extremely accurate measurement can be performed.

[実施例] 以下、図面を参照して本発明を適用した多点計測装置及
び多点計測方法の一実施例を説明する。
[Example] Hereinafter, an example of a multi-point measuring device and a multi-point measuring method to which the present invention is applied will be described with reference to the drawings.

先ず、第1図及び第2図を参照して多点計測装置の全体
構成と計測系を説明する。
First, the overall configuration and measurement system of the multi-point measurement device will be explained with reference to FIGS. 1 and 2.

クリーンルーム1の天井部分にはHEPAフィルタ2が
設置され、該HEPAフィルタ2から矢印へに示すよう
に清浄なエヤーが供給される。そして、床面3には通気
孔4が開口され、クリーンエヤーは床下に排出される。
A HEPA filter 2 is installed on the ceiling of the clean room 1, and clean air is supplied from the HEPA filter 2 as shown by the arrow. A ventilation hole 4 is opened in the floor surface 3, and clean air is discharged under the floor.

一方、クリーンルーム1内には、本発明でいう複数の管
体に相当するサンプリングチューブ11が所望計測位置
に設けられ、各サンリングチューブ11の先端はクリー
ンエヤーを吸気によりサンプリングし得るように開口さ
れている。尚、各サンプリングチューブ11は、外部か
らの押圧により内部中空部を容易に閉塞し得るように、
軟性合成樹脂等により形成されている。
On the other hand, in the clean room 1, sampling tubes 11 corresponding to a plurality of tube bodies in the present invention are provided at desired measurement positions, and the tip of each sampling tube 11 is opened so that clean air can be sampled by suction. ing. It should be noted that each sampling tube 11 has a structure in which the internal hollow part can be easily closed by external pressure.
It is made of soft synthetic resin or the like.

各サンプリングチューブ11の他端は流体経路切替装置
12に接続され、該切替装置12の切替動作によりサン
プリングエヤーが順次、或は所望位置からサンプリング
されたエヤーが集合ヘッダ装置13に流される。集合ヘ
ッダ装置13は、複数の流体経路を例えばlの流体経路
に集合するものであり、該集合ヘッダ装置13を設ける
ことにより、複数Nの流体経路を流れるサンプリングエ
ヤーを例えば1の流体経路に特定することができる。従
って、サンプリング位置が複数であっても、微粒子の計
測を行う光散乱微粒子計14は一台で足りるようになる
。尚、前記流体経路切替装置12、集合ヘッダ装置13
の構造については、後に第3図及び第4図を参照して詳
細に説明する。
The other end of each sampling tube 11 is connected to a fluid path switching device 12, and the switching operation of the switching device 12 causes sampling air to flow sequentially or air sampled from a desired position to a collection header device 13. The collection header device 13 collects a plurality of fluid paths into, for example, l fluid paths, and by providing the collection header device 13, sampling air flowing through a plurality of N fluid paths can be specified to, for example, one fluid path. can do. Therefore, even if there are a plurality of sampling positions, only one light scattering particle meter 14 for measuring particles is sufficient. Note that the fluid path switching device 12 and the collective header device 13
The structure will be explained in detail later with reference to FIGS. 3 and 4.

光散乱微粒子計14は、サンプリングエヤーを吸気する
ためのエヤーポンプを内臓するとともに、サンプリング
エヤーについて光学的に微粒子計測を行い、且つ計測デ
ータをコンピュータ15に送信し得るように構成されて
いる。コンピュータ15は、前記流体経路切替装置12
の切り替え駆動、光散乱微粒子計14の自動計測を制御
するものであり、計測データの記憶手段を内臓している
。尚、コンピュータ15の機能は、当業者間でパソコン
と称されている程度のものでよい。
The light scattering particle meter 14 includes an air pump for sucking the sampling air, and is configured to optically measure particles in the sampling air and transmit measurement data to the computer 15. The computer 15 controls the fluid path switching device 12.
It controls the switching drive of the light scattering particle meter 14 and the automatic measurement of the light scattering particle meter 14, and has built-in means for storing measurement data. Note that the functions of the computer 15 may be equivalent to what is called a personal computer among those skilled in the art.

次ぎに、第3図を参照して前記流体経路切替装置12の
構造を説明する。
Next, the structure of the fluid path switching device 12 will be explained with reference to FIG.

流体経路切替装置12は、当業者間でいうプランジャー
ソレノイドを利用したものであり、枠体21内にソレノ
イドコイル22、該ソレノイドコイル22から発生した
磁気により往復動するステム(プランジャー)23、ス
テム23に直交するように設けられた開閉部材24、枠
体21の固定に利用される側板25に形成した前記開閉
部材24のガイド溝26等からなる。そして、開閉部材
24と枠体21との間にはサンプリングチコープ11が
位置決めされている。
The fluid path switching device 12 utilizes what is known as a plunger solenoid among those skilled in the art, and includes a solenoid coil 22 within a frame 21, a stem (plunger) 23 that reciprocates due to the magnetism generated from the solenoid coil 22, It consists of an opening/closing member 24 provided perpendicular to the stem 23, a guide groove 26 of the opening/closing member 24 formed on a side plate 25 used for fixing the frame 21, and the like. The sampling tip 11 is positioned between the opening/closing member 24 and the frame 21.

前記構成の流体切替装置12において、前記コンピュー
タ15の指令に基づきソレノイドコイル22に直流電圧
を供給すると、発生した磁気によりステム23が第3図
で下方に付勢され、開閉部材24がサンプリングチュー
ブ11を枠体21の外側面に押し付け、内部中空部を閉
塞する。従って、第2図のように各サンプリングチュー
ブ11毎に流体経路切替装置12を設けることにより、
サンプリングエヤーの集合ヘッダ装置13への流れを制
御することができる。
In the fluid switching device 12 configured as described above, when a DC voltage is supplied to the solenoid coil 22 based on a command from the computer 15, the stem 23 is urged downward in FIG. is pressed against the outer surface of the frame 21 to close the internal hollow part. Therefore, by providing a fluid path switching device 12 for each sampling tube 11 as shown in FIG.
The flow of sampling air to the collection header device 13 can be controlled.

次に、第4図を参照して集合ヘッダ装置13について説
明する。
Next, the set header device 13 will be explained with reference to FIG.

集合ヘッダ装置13は、第4図(A)に示すようにほぼ
7字形に形成したガラス管3Iをサンプリングエヤーの
流れ方向に重ね接続することにより構成されている。即
ち、ガラス管31のうち2本の枝管は、2本のサンプリ
ングチューブ11を接続する接続管部に相当し、1本の
枝管は排出管部に相当する。
As shown in FIG. 4(A), the collective header device 13 is constructed by stacking and connecting glass tubes 3I formed in a substantially 7-shape in the flow direction of the sampling air. That is, two branch pipes of the glass tube 31 correspond to a connecting pipe section that connects the two sampling tubes 11, and one branch pipe corresponds to a discharge pipe section.

そして、最先端、換言すれば第4図(B)の右側にa列
で示したガラス管31には、それぞれ2本のサンプリン
グチューブ11が接続され、a列で示したガラス管31
の排出管部はチューブ32を介してb列のガラス管31
の接続管部に接続される。この接続はb列からC列名の
間も同様に行われるので、本実施例では2のべき乗で流
体経路が減少し、最終的には1本の流体経路が形成され
る。従って、前記のように流体経路切替装置12を駆動
しサンプリングエヤーの流れを制御することにより、最
終の1本のチューブ33に、所望サンプリング位置から
吸気されたサンプリングエヤーが流れるようになる。
Two sampling tubes 11 are connected to each of the glass tubes 31 shown in row a on the right side of FIG. 4(B), and the glass tubes 31 shown in row a on the right side of FIG.
The discharge pipe section is connected to the glass tube 31 of row b via the tube 32.
Connected to the connecting pipe section. This connection is made in the same way between column B and column C, so in this embodiment, the number of fluid paths is reduced by a power of two, and one fluid path is finally formed. Therefore, by driving the fluid path switching device 12 and controlling the flow of the sampling air as described above, the sampling air taken in from the desired sampling position flows into the final tube 33.

そして、光散乱微粒子計14は、所望サンプリング位置
のサンプリングエヤーについて計測を行い、計測データ
をコンピュータ15に送信し、コンビ二一夕は記憶手段
に格納して次のサンプリング位置の計測を開始する。
Then, the light scattering particulate meter 14 measures the sampling air at the desired sampling position, transmits the measurement data to the computer 15, stores it in the storage means, and starts measurement at the next sampling position.

次ぎに、前記多点計測装置を用いた多点計測方法を説明
する。
Next, a multi-point measuring method using the multi-point measuring device will be explained.

計測開始にあたっては、コンピュータ15により流体経
路切替回路12を駆動し、全サンプリングチスーブ11
を開状態に制御する。次に、第1のサンプリング位置に
配置されたサンプリングチューブ11を開状態にして、
他のサンプリングチューブによる流体経路を全て閉状態
に制御する。
To start measurement, the computer 15 drives the fluid path switching circuit 12 and all sampling stations 11
Controls the open state. Next, the sampling tube 11 placed at the first sampling position is opened,
All fluid paths using other sampling tubes are controlled to be closed.

この結果、最終チューブ33には第1のサンプリング位
置で吸気されたクリーンエヤーが流れるようになる。
As a result, the clean air taken in at the first sampling position flows through the final tube 33.

この状態で約3秒程度待機し、次いで光散乱微粒子計1
4により第1のサンプリング位置がら吸気したサンプリ
ングエヤーの計測を行う。光散乱微粒子計14は計測デ
ータを1サンプリング位置毎にコンビ二−タ15に送信
して計測を終了するが、1回の計測は約10秒程度で終
了する。
Wait in this state for about 3 seconds, then light scattering particle meter 1
4, the sampling air taken in from the first sampling position is measured. The light scattering particle meter 14 transmits measurement data to the combinator 15 for each sampling position and completes the measurement, and one measurement is completed in about 10 seconds.

次ぎに、コンピュータ15は計測データを記憶手段、例
えばフロッピーディスク等に記憶せしめる。そして、第
1のサンプリング位置の計測終了を検出した後、第1の
サンプリング位置の流体経路を開状態に保持したまま、
第2のサンプリング位置に設置したサンプリングチュー
ブ11によって形成される流体経路を開状態に制御し、
この状態を約3秒間にわたって継続する。
Next, the computer 15 stores the measurement data in a storage means, such as a floppy disk. After detecting the end of the measurement at the first sampling position, while keeping the fluid path at the first sampling position open,
controlling the fluid path formed by the sampling tube 11 installed at the second sampling position in an open state;
This state is continued for about 3 seconds.

即ち、3秒間については、最緒チ二−ブ33から第1及
び第2のサンプリング位置のエヤーが光散乱微粒子計1
4に供給されるが、この間は光散乱微粒子計14は待機
状態に制御され、計測を行わない。そして、約3秒間経
過後、第1のサンプリング位置に設置されたサンプリン
グチューブを閉塞状態に制御し、更に約3秒経過した後
に第2のサンプリング位置から吸気したサンプリングエ
ヤーについて前記同様の計測を行う。
That is, for 3 seconds, the air from the first chimney 33 to the first and second sampling positions is transmitted to the light scattering particulate meter 1.
However, during this time, the light scattering particle meter 14 is controlled to be in a standby state and does not perform measurement. Then, after about 3 seconds have elapsed, the sampling tube installed at the first sampling position is controlled to be in a closed state, and after about 3 seconds have elapsed, the same measurement as described above is performed on the sampling air taken in from the second sampling position. .

このような計測を行うことにより、第1のサンプリング
エヤーの微粒子濃度の影響を受けることなく、第2のサ
ンプリングエヤーの計測を行うことができる。前記計測
と待機は、コンピュータ15の制御によりまったく自動
的に行われ、コンピュータ15のフロッピーディスクに
は各サンプリング位置の計測結果が全て記憶される。従
って、計測が行われている間、全部の流体経路が閉塞さ
れることはなく、クリーンルーム1の各位置における微
粒子濃度の計測と記イ、キとが、極めて短時間のうちに
簡単に行われることになる。
By performing such measurements, the second sampling air can be measured without being affected by the particle concentration of the first sampling air. The measurement and standby are performed completely automatically under the control of the computer 15, and the floppy disk of the computer 15 stores all measurement results at each sampling position. Therefore, all the fluid paths are not blocked while the measurement is being performed, and the measurement and recording of the particulate concentration at each location in the clean room 1 can be easily performed in an extremely short time. It turns out.

以上の如く、本実施例における多点計測装置及び多点計
測方法は、各サンプリング位置に対応したエヤーは、そ
れぞれ個別のサンプリングチューブを流れるので、サン
プリングチューブの汚れによる影響を低減することがで
きる。又、サンプリングチューブが同時に閉塞状態に制
御されることがないので、光散乱微粒子計を保護するこ
とができる。更に、計測にかかる以前に、管体内をクリ
ーンエヤーが充分に流れてパージ作用を行うので、計測
誤差が少ない。
As described above, in the multi-point measuring device and multi-point measuring method of this embodiment, the air corresponding to each sampling position flows through separate sampling tubes, so that the influence of dirt on the sampling tubes can be reduced. Furthermore, since the sampling tube is not controlled to be closed at the same time, the light scattering particle meter can be protected. Furthermore, since the clean air sufficiently flows through the tube to perform a purge action before starting measurement, measurement errors are small.

集合ヘッダ装置をガラス管で形成することにより、流体
に対する抵抗を低減することができ、しかも微粒子沈着
を低減することもできる。
By forming the collecting header device from glass tubing, the resistance to the fluid can be reduced and particulate deposition can also be reduced.

そして、構造が簡単であるので、軽量化が容易になり、
キャスター等にセットして移動容易に構成することがで
きる。更に、パソコンで計測と制御とを行い、且つデー
タの記憶を行い得るので、データ解析等を容易に行い得
るようになる。
And since the structure is simple, it is easy to reduce the weight.
It can be easily moved by setting it on casters. Furthermore, since measurements and control can be performed and data can be stored using a personal computer, data analysis and the like can be easily performed.

以上に本発明の一実施例を説明したが、本発明は前記に
限定されるものではない。
Although one embodiment of the present invention has been described above, the present invention is not limited to the above.

例えば、前記集合ヘッダ装置は7字形、換言すれば三叉
路のガラス管にて形成されているが、接続管部の数を更
に増した構造であってもよい。
For example, although the collective header device is formed of a seven-shaped, in other words, three-way glass tube, it may have a structure in which the number of connecting tube portions is further increased.

Y字形ガラス管をチューブにより重ね接続した例を示し
たが、これに代えて第5図に示すように所望段数をガラ
ス管にて一体に形成した方が更に良好である。即ちその
方が、つぎ手部分が少なく抵抗が小さく、汚染される可
能性も少い。又一体の方がコンパクトに作れ、さらにピ
ンホールなどの検査も十分に行える。かつ清浄状態で作
成できる。
Although an example has been shown in which Y-shaped glass tubes are stacked and connected by tubes, it is even better to form a desired number of stages of glass tubes in one piece instead of this as shown in FIG. That is, there are fewer joints, less resistance, and less possibility of contamination. In addition, an integrated structure can be made more compactly, and inspection for pinholes and the like can be performed satisfactorily. And it can be created in a clean state.

[発明の効果コ 以上に説明したように、本発明を適用した多点計測装置
は、サンプリングした流体を光散乱微粒子計に供給する
流体経路が、流体経路となるチューブの抑圧と押圧解除
により開閉されるので、前記流体経路中に不所望な腹等
が発生することがない。更に本発明を適用した多点計測
方法は、第1のサンプリング位置に対応した流体につい
て計測を終了した後、第2のサンプリング位置に対応し
た流体経路を開状態になし、所定時間経過後に第2のサ
ンプリング位置に対応した流体の計測を行うのであるか
ら、第1の流体が第2の流体に影響せず、正確な計測を
行い得る。
[Effects of the Invention] As explained above, in the multi-point measurement device to which the present invention is applied, the fluid path that supplies the sampled fluid to the light scattering particle meter opens and closes by suppressing and releasing the pressure on the tube that serves as the fluid path. Therefore, no undesirable antinode or the like is generated in the fluid path. Furthermore, in the multi-point measurement method to which the present invention is applied, after the measurement of the fluid corresponding to the first sampling position is completed, the fluid path corresponding to the second sampling position is opened, and after a predetermined period of time has passed, the fluid path corresponding to the second sampling position is opened. Since the fluid corresponding to the sampling position is measured, the first fluid does not affect the second fluid and accurate measurement can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図〜第5図は本発明の一実施例を示すものであって
、 第1図は多点計測装置全体の構成図、 第2図は流体の流れを示す構成図、 第3図は流体経路切替装置の構成図、 第4図は集合ヘッダ装置の外観図及び接続図、第5図は
集合ヘッダをガラスY字管で一体に成形した図である。 図中の符号 1・・・クリーンルーム、 2・・・HEPAフィルタ、 3・・・床、 11・・・サンプリングチューブ、 12・・・流体経路切り換え装置、 13・・・集合ヘッダ装置、 4 ・ 5 ・ 2 ・ 3 ・ 4 ・ 5 ・ 6 ・ 光散乱微粒子計、 パーソナルコンピュータ、 枠体、 ソレノイドコイル、 ステム、 開閉部材、 側板、 ガイド溝、 Y字形ガラス管。 第 1 図 ワ 第 図 第 図 第 図
Figures 1 to 5 show an embodiment of the present invention, in which Figure 1 is a block diagram of the entire multi-point measuring device, Figure 2 is a block diagram showing fluid flow, and Figure 3 is a block diagram showing the flow of fluid. A configuration diagram of the fluid path switching device, FIG. 4 is an external view and a connection diagram of the collective header device, and FIG. 5 is a diagram showing the collective header integrally formed with a glass Y-shaped tube. Reference numerals in the figure 1...Clean room, 2...HEPA filter, 3...Floor, 11...Sampling tube, 12...Fluid path switching device, 13...Collection header device, 4/5・ 2 ・ 3 ・ 4 ・ 5 ・ 6 ・ Light scattering particle meter, personal computer, frame, solenoid coil, stem, opening/closing member, side plate, guide groove, Y-shaped glass tube. Figure 1

Claims (10)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)所望空間の所望位置にそれぞれの開口部が実質的
に臨むように設けた複数本の管体と、前記複数本の管体
により形成される流体経路を選択する流体経路切替装置
と、前記複数本の管体を1/N本に集合した流体経路を
形成する集合ヘッダ装置と、前記集合ヘッダ装置により
形成された1/Nの流体経路中を通過する流体につき所
望の計測を行う計測器と、前記流体経路切替装置及び前
記計測器の駆動を制御する制御装置とを具備してなる多
点計測装置。
(1) a plurality of tubes provided so that each opening substantially faces a desired position in a desired space; and a fluid path switching device that selects a fluid path formed by the plurality of tubes; A collection header device that forms a fluid path in which the plurality of pipe bodies are collected into 1/N, and a measurement that performs a desired measurement on the fluid passing through the 1/N fluid path formed by the collection header device. A multi-point measuring device comprising: a fluid path switching device, and a control device that controls driving of the fluid path switching device and the measuring device.
(2)前記流体切替装置は、ソレノイドコイルの通電に
より駆動されるステムに前記流体経路の開閉をなすため
の開閉部材を設けるとともに、前記開閉部材のガイド機
構と前記流体経路となる管体の把持機構とを設けてなる
請求項(1)記載の多点計測装置。
(2) The fluid switching device includes an opening/closing member for opening/closing the fluid path on a stem driven by energization of a solenoid coil, and a guide mechanism for the opening/closing member and gripping of a tube serving as the fluid path. The multi-point measuring device according to claim 1, further comprising a mechanism.
(3)前記集合ヘッダ装置は、前記複数の管体を接続す
る複数の接続管部と、該接続管部から導入された流体を
排出する排出管部とからなり、該構成の集合ヘッダ装置
を所望数につき重ね接続することにより1/Nの流体経
路を形成するようにした請求項(1)記載の多点計測装
置。
(3) The collective header device includes a plurality of connecting pipe portions that connect the plurality of pipe bodies, and a discharge pipe portion that discharges the fluid introduced from the connecting pipe portions, and the collective header device with this configuration is 2. The multi-point measuring device according to claim 1, wherein a 1/N fluid path is formed by connecting a desired number of connections in a stacked manner.
(4)前記計測器は、前記制御装置により自動計測可能
に駆動されるように構成した光散乱微粒子計よりなる請
求項(1)記載の多点計測装置。
(4) The multi-point measuring device according to claim (1), wherein the measuring device is a light scattering particle meter configured to be driven by the control device to enable automatic measurement.
(5)前記制御装置は、前記計測器を駆動するとともに
、前記流体経路切替回路を選択的に駆動するシーケンス
を有し、且つ前記計測器による計測結果を記憶する記憶
手段を具備するコンピュータよりなる請求項(1)記載
の多点計測装置。
(5) The control device includes a computer having a sequence for driving the measuring device and selectively driving the fluid path switching circuit, and having a storage means for storing measurement results by the measuring device. A multi-point measuring device according to claim (1).
(6)前記流体経路切替装置は、ソレノイドコイルへの
直流電源の供給、遮断により駆動される電磁機構からな
る請求項(1)記載の多点計測装置。
(6) The multi-point measurement device according to claim (1), wherein the fluid path switching device comprises an electromagnetic mechanism driven by supplying and cutting off DC power to a solenoid coil.
(7)前記流体経路切替装置内の流体経路を軟性合成樹
脂にて構成した請求項(1)記載の多点計測装置。
(7) The multi-point measurement device according to claim (1), wherein the fluid path within the fluid path switching device is made of soft synthetic resin.
(8)前記集合ヘッダ装置をY字型一体成型ガラス管に
て構成した請求項(1)記載の多点計測装置。
(8) The multi-point measuring device according to claim (1), wherein the collective header device is constructed of a Y-shaped integrally molded glass tube.
(9)複数のサンプリング位置のうち、第1のサンプリ
ング位置の流体経路を開状態に制御して計測を行い、計
測終了後に第2のサンプリング位置の流体経路を開状態
に制御し、所定時間経過後に前記第1のサンプリング位
置の流体経路を遮断して前記第2のサンプリング位置か
ら得た流体について計測を行う多点計測方法。
(9) Measurement is performed by controlling the fluid path at the first sampling position to be open among the plurality of sampling positions, and after the measurement is completed, the fluid path at the second sampling position is controlled to be open, and a predetermined period of time has elapsed. A multi-point measurement method in which the fluid path at the first sampling position is later blocked and the fluid obtained from the second sampling position is measured.
(10)前記第1のサンプリング位置から第2のサンプ
リング位置に移行する制御をn箇所のサンプリング位置
について順次行う請求項(9)記載の多点計測方法。
(10) The multi-point measurement method according to claim (9), wherein the control for shifting from the first sampling position to the second sampling position is performed sequentially for n sampling positions.
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