JPH03171067A - 画像形成装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〈産業上の利用分野〉 この発明は、中間調画像を形成することのできる画像形
成装置に関するものである。

く従来の技術〉 この発明に興味ある従来技術の１つに、特開昭６３−２
４０５６８号公報に記載の電子写真装置がある。

この公報に記載の電子写真装置は、露光後の感光体表面
の残留電位を測定し、測定値に従って現像バイアスを制
御することにより、現像された像の濃度を、残留電位に
かかわらず一定濃度とすることができるものである。

また、他の先行技術として、特開昭６３−２９３５６６
号公報に記載の装置がある。

この公報に記載の装置では、感光体上に形成された像の
明部電位を検出し、感光体の感度変化を補正するために
、明部電位に基づいてレーザ出力を制御するものである
。このような構成にすることにより、安定した階調表現
が可能になる。

く発明が解決しようとする課題〉 上記従来装置のうち、前者は、黒白の２値画像の形成時
に、画像濃度を一定にするための構成である。したがっ
て、中間調画像を形成する際に、感光体の感度差等に起
因してばらつく中間調再現性を補正できるものではない
。

一方、後者の装置は、感光体の感度変化を補正するため
にレーザ出力を制御するものではあるけれども、感光体
上に形成された像の明部電位に基づいてレーザ出力を制
御するため、中間調の再現性を良好に補正することは困
難である。なぜならば、明部電位に基づいてレーザ出力
を制御した場合、白レベル近傍の階調表現は安定するけ
れども、中間調全体の再現性が補正されるとは限らない
からである。

それゆえこの発明は、従来技術では行えなかった中間調
再現性が良好な画像形成装置を提供することを目的とす
る。

く課題を解決するための手段〉 この発明は、光導電性表面を有する感光体と、この感光
体の表面を一様に帯電させるための帯電手段と、帯電し
た感光体表面を露光して静電潜像を形成するための先ビ
ーム出力手段と、感光体表面に形威された静電潜像に現
像剤を付与して可視像化するための現像手段と、現像手
段の付与する現像剤付与量を調整するための現像バイア
ス調整手段とを含む画像形成装置において、中間調再現
性を確認するために、光ビーム出力手段の出力エネルギ
を予め定める複数段階の中間調再現エネルギからなる第
１中間調再現エネルギに制御する第１ビーム制御手段と
、露光された感光体の表面電位を検出する電位検出゛手
段と、露光エネルギと感光体の表面電位との関係を表わ
すＥ−Ｖ特性が予め記憶された記憶手段と、複数段階の
第１中間調再現エネルギおよびそれに対応して検出され
た感光体表面電位の関係をそれぞれ記憶手段に記憶され
ているＥ−Ｖ特性と比較し、それらがＥ−Ｖ特性とずれ
ている場合に、そのずれの平均値を求め、ずれの平均値
が補正されるように、光ビーム出力手段および帯電手段
のいずれかを制御する第１フィードバック補正制御手段
と、第１フィードバック補正制御手段で補正された後の
中間調再現性を確認するために、光ビーム出力手段の出
力エネルギを第２中間調再現エネルギに制御する第２ビ
ーム制御手段と、第２中間調再現エネルギおよびそれに
対応して検出された感光体表面電位の関係を記憶手段に
記憶されているＥ−Ｖ特性と比較し、その関係がＥ−Ｖ
特性とずれている場合に、そのずれが補正されるように
、光ビーム出力手段、現像バイアス：Ａ！１手段および
帯電手段のいずれか１つであって、第１フィードバック
補正制御手段によって制御がされていないものに対して
制御をする第２フィードバック補正制御手段とを含むこ
とを特徴とする画像形成装置である。

また、この発明は、前記画像形成装置において、第１フ
ィードバック補正制御手段は、先ビーム出力手段を制御
するものであり、第２フィードバック捕正制御手段は、
現像バイアス調整手段を制御するものである。

さらにまた、この発明は、前記画像形成装置において、
第１フィードバック補正制御手段は、光ビーム出力手段
を制御するものであり、第２フィードバック補正制御手
段は、蜀雷手段を制御するものである。

さらにまた、この発明は、前記画像形成装置において、
ｍｌフィードバック補正制御手段は、帯電手段を制御す
るものであり、第２フィードバック捕正制御手段は、現
像バイアス調整手段を制御するものである。

また、この浄明は、光導電性表面を有する感光体と、こ
の感光体の表面を一様に帯電させるための帯電手段と、
帯電した感光体表面を露光して静電潜像を形成するため
の光ビーム出力手段と、感光体表面に形威された静電潜
像に現像剤を付与して可視像化するための現像手段と、
現像手段の付与する現像剤付与量を調整するための現像
バイアス調整手段とを含む画像形成装置において、中間
調再現性を確認するために、光ビーム出力手段の出力エ
ネルギを予め定める複数段階の中間調再現エネルギから
なる第１中間調再現エネルギに制御することのできる第
１ビーム制御手．段と、露光された感光体の表面電位を
検出する電位検出手段と、露光エネルギと感光体の表面
電位との関係を表わすＥ−Ｖ特性が予め記憶された記憶
手段と、複数段階の第１中間調再現エネルギおよびそれ
に対応して検出された感光体表面電位の関係をそれぞれ
記憶手段に記憶されているＥ−Ｖ特性と比較し、それら
がＥ−Ｖ特性とずれている場合に、そのずれの平均値を
求め、ずれの平均値が補正されるように、光ビーム出力
手段を制御する第１フィードバック補正制御手段と、第
１フィードバック補正制御手段で補正された後の中間調
再現性を確認するために、光ビーム出力手段の出力エネ
ルギを第２中間調再現エネルギに制御することのできる
第２ビーム制御手段と、第２中間調再現エネルギおよび
それに対応して検出された感光体表面電位の関係を記憶
手段に記憶されているＥ−Ｖ特性と比較し、その関係が
Ｅ−Ｖ特性とずれている場合に、そのずれが補正される
ように、帯電手段を制御する第２フィードバック補正制
御手段と、第１および第２フィードバック捕正制御手段
で補正された後の中開調再現性を確認するために、光ビ
ーム出力手段の出力エネルギを第３中間調再現エネルギ
に制御することのできる第３ビーム制御手段と、第３中
間調再現エネルギおよびそれに対応して検出された感光
体表面電位の関係を記憶手段に記憶されているＥ−Ｖ特
性と比較し、その関係がＥ−■特性とずれている場合に
、そのずれが補正されるように、現像バイアス調整手段
を制御する第３フィードバック補正制御手段とを含むこ
とを特徴とする画像形成装置である。

また、この発明は、前記いずれかに記載の画像形成装置
において、光ビーム出力手段は、パルス幅変調によって
、出力エネルギを段階的に変化させることを特徴とする
ものである。

く作用〉 中間調再現エネルギで感光体を露光して感光体の表面電
位を検出し、それをＥ−Ｖ特性と比較すすることによっ
て、感光体の感度のばらつきを検出して捕正する。

そのために、まず複数段階の中間調再現エネルギからな
る第１中間調再現エネルギで露光された感光体表面電位
を検出し、それがＥ−Ｖ特性とずれている場合に、その
ずれの平均値を主として補正するために、画像濃度に関
与する感光体帯電電圧および光ビーム出力エネルギのい
ずれかを第１フィードバック補正制御する。そして、該
補正制御後に、第２中間調再現エネルギで感光体を露光
してその表面電位を検出し、それがＥ−Ｖ特性とずれて
いる場合には、そのずれを補助的に補正するだめに、画
像濃度に関与する感光体帯電電圧、光ビーム出力エネル
ギおよび現像バイアスの内、第１フィードバック補正制
御されていないいずれか１つを、さらに第２フィードバ
ック補正制御する。

より具体的には、光ビーム出力手段を主補正し、現像バ
イアス調整手段を補助的に補正するか、光ビーム出力手
段を主袖正し、帯電手段を補助的に補正するか、または
帯電手段を主補正し、現像バイアス調整手段を補助的に
捕正するのがよい。

また、光ビーム出力手段を主制御し、現像バイアス調整
手段および帯電手段を補助的に補正制御し、さらにそれ
に加えて、現像バイアス調整手段を補助的に補正制御し
てもよい。

く実施例〉 以下には、図面を参照して、この発明の一実施例として
、ディジタル複写機を例にとって説明をする。

第１図は、この実施例にかかるディジタル複写機の主要
部の構成を示すブロック図である。ディジタル複写機に
は、光導電性表面を有する感光体ドラム１ならびにこの
感光体ドラム１の表面を一様に帯電させるための帯電チ
ャージャ２および帯電電圧発生回路３が備えられている
。帯電電圧発生回路３は、予め定められた帯電電圧を帯
電チャージャ２へ印加し、感光体ドラム１表面を一様に
一定の電位、たとえば７００ｖに帯電させる。

原稿画像は図示しない光学系を介してＣＣＤセンサ４で
読取られ、信号処理回路５で処理されて、レーザ駆動回
路６へ与えられる。レーザ駆動回路６は信号処理回路５
からの信号を変調成分として半導体レーザ７を駆動する
。半導体レーザ７から出力されるレーザビームは回転す
るポリゴンミラ−８で走査されて感光体ドラム１へ照射
され、感光体ドラム１を露光する。

感光体ドラム１は、レーザビームにより露光されると、
露光部の電荷が除去される。よって、露光内容に応じた
静電潜像が形成される。感光体ドラム１の回転方向（矢
印Ａ１方向で示す方向）下流側には現像装置１０が配置
されていて、現像装置１０によって現像剤としてのトナ
ーが静電潜像に付与され、静電潜像はトナー像に可視像
化される。この付与されるトナー量を制御するために、
現像装置１０には現像バイアス調整回路１１が接続され
ていている。現像バイアス調整回路１１は、予め定めら
れたバイアス電圧を現像装置１０へ印加するものである
。

なお、トナー像は、図示しない公知の機構によって用紙
に転写される。

感光体ドラム１の回転方向Ａ１に対して、レーザビーム
による露光位置よりも下流側で、現像装置ＩＯの配置位
置よりも上流側には、感光体ドラム１の表面に対向する
ように電位センサ１２が配置されている。電位センサ１
２は、露光された後の感光体ドラム１の表面電位を検出
するためのものであり、当該電位センサ１２によって検
出された電位はフィードバック制御部１３へ与えられる
。

フィードバック制御部１３には、後述するＥ−Ｖ特性記
憶部１４が備えられている。

さらに、中間調画像信号出力部１５が設けられていて、
この出力部１５から出力される中間調画像信号は、レー
ザ駆動回路６へ与えられ、レーザ駆動回路６は与えられ
る中間調画像信号を変調成分として半導体レーザ７を駆
動する。

このときの、レーザ駆動回路６の出力は、フィードバッ
ク制御部１３へも与えられるようになっている。

この実施例では、レーザ駆動回路６は、パルス幅変調に
より半導体レーザ７を駆動して、レーザビーム出力時間
をたとえば５段階に変化させ、１画素を多値化すること
によって中間調表現を行う。

第２図を参照して、より具体的に説明すると、半導体レ
ーザ７から出力される１画素分のレーザビームエネルギ
は、パルス幅変調により、たとえば（４／４）Ｅ，（３
／４）Ｅ，（２／４）Ｅもしくは（１／４）Ｅまたはレ
ーザ光が出力されない（０／４）Ｈのいずれかにされる
。

ところで、一定電位に帯電された感光体ドラム１がレー
ザビームで露光される場合、レーザビームの照射エネル
ギＥと露光後の感光体ドラム１の表面電位Ｖとの間には
、第３図に示すＥ−Ｖ特性曲線（実線で示す曲線）で表
わす関係がある。つまり、レーザビームの照射エネルギ
を（４　／４　）Ｅ，（３／４）Ｅ，（２／４）Ｅ，（
１／４）Ｅ，（０／４）Ｅと減らしていけば、それに応
じて感光体ドラム１の表面電位もｖ４、■，、ｖ２、Ｖ
１、Ｖｏと大きくなる。そして付着するトナー量は表面
電位の大小に比例する。よって、中間調表現が可能なわ
けである。

ところが、感光体ドラム１の感度のばらつき、周囲の雰
囲気変化等によって、実際の照射エネルギＥと表面電位
■との関係が、第３図のＥ−Ｖ特性曲線（実線）ではな
く、破線で表わす関係のようにずれる場合がある。

このずれを補正しなければ、中間調再現性が劣化する。

そこでこの実施例は、第１図に示す構成において、第４
図に示すフローチャートのような制御動作を行なってい
る。次に、第１図および第４図を参照して説明する。

中間調画像信号出力部１５から補正したい第１中間調画
像信号（１／４）Ｄをレーザ駆動回路６へ与える（ステ
ップＳｌ）。レーザ駆動回路６は、第１中間調画像信号
（１／４）Ｄに基づいて、半導体レーザ７から出力され
るレーザビームの照射エネルギが１画素あたり（１／４
）Ｈになるようにパルス幅変調する（ステップＳ２）。

このときのレーザ駆動回路６の変調信号はフィードバッ
ク制御部１３へも与えられる。

感光体ドラム１の表面が（１／４）Ｈの照射エネルギで
露光された後の表面電位ＶＭ，が電位センサ１２でｉｌ
Ｐｊ定され、フィードバック制御部１３へ与えられる（
ステップＳ３）。

フィードバック制御部１３においては、（１／４）Ｅと
■Ｍ，との関係を、Ｅ−Ｖ特性記憶部・１４に記憶され
た第３図に示すようなＥ−Ｖ特性曲線と比較し、ずれ電
圧Δｖ，”ＶＭＩ　　ＶＤＩを求める（ステップＳ４）
。そして、ずれ電圧ΔＶ，を補正するように、レーザ駆
動回路６へ制御信号を与え、半導体レーザ７から出力さ
れるレーザビームの照射エネルギＥをＥ゛に補正させる
（ステップＳ５）。

上述の実施例では、ずれ電圧ΔＶ，を補正するために、
レーザ駆動回路６を制御するようにしたが、これに代え
、現像バイアス調整回路１１のバイアス電圧を補正制御
してもよい。

次いで、中間調画像信号出力部１５から補正したい第２
中間調画像信号（３／４）Ｄをレーザ駆動回路６へ与え
る（ステップＳ６）。レーザ駆動回路６は、第２中間調
画像信号（３／４）Ｄに基づいて、半導体レーザ７から
出力されるビームの照射エネルギを制御する。

この場合において、レーザ駆動回路６は、ステップＳ５
で説明したフィードバック補正制御を受けているため、
レーザビームの照射エネルギが１画素当たり（３／４）
Ｅ−になるようにパルス幅変調する（ステップＳ７）。

なお、この時のレーザ駆動回路６の変調信号はフィード
バック制御部１３へも与えられる。

そして、感光体ドラム１の表面が（３／４）Ｅ′の照射
エネルギで露光された後の表面電位ｖＭ２が電位センサ
１２で測定され、フィードバック制御部１３へ与えられ
る（ステップＳ８）。

フィードバック制御部１３においては、（３／４）Ｅ（
Ｅ−ではなくＥである。）と測定電位ＶＭ２との関係を
、Ｅ−Ｖ特性記憶部１４に記憶された第３図に示すよう
なＥ−Ｖ特性曲線と比較し、ずれ電圧Δｖ２　＝ｖＭ２
　　ＶＤ２を求める（ステップＳ９）。そして、このず
れ電圧Δｖ１を補正するように、帯電電圧発生回路３へ
制御信号を与え、帯電電圧を補正制御する（ステップＳ
１０）。

このような制御を行うことにより、中間調再現性が主と
してレーザビーム出力により改善され（ステップＳ５）
、さらに、白地に近い中間調再現性が、帯電電圧によっ
て捕助的に改善される。

なお、ステップＳ５において、ずれ電圧ΔＶ，を補正す
るために、帯電電圧発生回路３へ制御信号を与えた場合
においては、このステップＳ１０におけるフィードバッ
ク制御は、現像バイアス調整回路１１に対して行えばよ
い。

また、ステップＳ５において、ずれ電圧Δｖ１を補正す
るためのフィードバック補正制御をレーザ駆動回路６に
対して行った場合において、ステップ５１０におけるフ
ィードバック補正制御は、現像バイアス：Ａｕ回路１１
に対して行ってもよい。

さらにまた、ステップ８６〜ＳＩＯとほぼ同様の制御を
もう１度繰返し、補正したい第３中間調画ｆ象ｆＪ号に
赳づいて感光体ドラム１の感度のばらつきが補正される
ように、現像バイアス調整回路１１をフィードバック補
正制御してもよい。

このように、３種類の中間調再現エネルギで感光体ドラ
ム１を露光し、各場合における露光後の表面電位を検出
して、それに基づいてフィードバック補正制御をする場
合においては、まず、第１中間調再現エネルギによる照
射に基づいて、レーザビームの照１・１エネルギＥをＥ
゛に主補正し、第２の中間調再現エネルギに基づいて補
助的に帯電電圧を補正し、さらに第３の中間調再現エネ
ルギに基づいて補助的に現像バイアスを補正するのが好
ましい。

なお、係る場合、主補正を帯電電圧を補正することで行
い、第２の補助補正をレーザビームの照射エネルギを補
正することで行ってもよい。しかし、現像バイアスの補
正は、電位センサ１２の出力に表われないから、必ず最
後にする必要がある。

ところで、半導体レーザ７から出力されるレーザビーム
をパルス幅変調によって５段階に制御する場合において
は、第３図に示すように、（１／４）Ｈの照射エネルギ
で露光した場合、感光体ドラム１の表面電位Ｖ１は、元
の電位Ｖ。のほぼ１／２になる。このように表面電位が
１７２あたりが中間誠表現における重要な部分で、かつ
基準となるＥ−Ｖ特性と実際のＥ−Ｖ特性との間のずれ
が最も大きくなりやすい電位であることが多い。

そこで、この実施例では、中間調画像信号出力部１５か
ら出力される最初に補正したい第１中間調画像信号（１
／４）Ｄは、半導体レーザ７から出力されるレーザビー
ムの照射エネルギが（１／４）Ｅになるような信号にさ
れている。

なお、Ｅ−Ｖ特性記憶部に記憶されている基準？なるＥ
−Ｖ特性は、たとえば計算で算出されたものでもよいし
、工場出荷前の、感光体ドラムが初期状態のときに実測
されたものでもよい。

また、上記のように、最初に補正したい第１中間調画像
信号（１／４）Ｄを一種類にせず、たとえば３段階の信
号（１／４）Ｄ，（２／４）Ｄおよび（３／４）Ｄにし
、半導体レーザ７から出力されるレーサビームの照射エ
ネルギを、３段階の信号に応じてそれぞれ（１／４）Ｅ
，（２／４）Ｅおよび（３／４）Ｅの３段階に変化させ
る。そして、各段階ごとの魚射エネルギで露光された感
光体ドラム１の表面電位を電位センサ１２で順に検出し
、フィードバック制御部１３において、理論上のＥ−Ｖ
特性と実際のＥ−Ｖ特性との間のずれの平均値ａｖΔＶ
を算出するようにしてもよい。

すなわち、式で表わせば △Ｖ　Ｉ　ｌ　”　Ｖ　Ｍ　Ｉ　Ｉ　　Ｖ　Ｉ　１ΔＶ
１■一ＶＭ１■−■，２ ΔＶ　，３ｍ　Ｖ，，３　−　Ｖ　，３ａｖΔＶ−（Δ
Ｖ．＋ΔＶ１２＋ΔＶ＋ｓ）／３？求める。但し、 ＶＭ■ｌ　　：　　（１／４）Ｈのエネルギで露光され
た時に検出された表面電位 ＶＭＩ■：　　（２／４）Ｈのエネルギで露光された時
に検出された表面電位 ＶＭｌ３　　：　　（３／４）Ｈのエネルギで露光され
た時に検出された表面電位 である。

そして、このずれの平均値ａｖΔＶを主フィードバック
補正するために、現像バイアスを加減するか、帯電電圧
発生回路３の出力電圧を加減するか、またはレーザ駆動
回路６の照射エネルギを調整するようにしてもよい。

そして、その後は、第４図で説明したステップ８６〜Ｓ
１０と同じ制御を行い、補助的なフィードバック補正制
御を主フィードバック補正制御を行ったもの以外の残り
の２つのいずれか、または残りの２つに対して行うわけ
である。

以上の実施例では、半導体レーザ７から出力されるレー
ザビームをパルス幅変調によって５段階に制御する場合
を例にとって説明したが、レーザビームはパルス幅変調
によって中間調表現が可能な複数段階に制御すればよい
。

また、レーザビームの制御の仕方は、パルス幅変調以外
にパルス振幅変調を用いてもよい。

なお、原稿画像がたとえば黒寄りの中間調を多く含んで
いる場合、あるいは白寄りの中間調を多く含んでいる場
合等には、原稿画像に合わせて、補正したい中間調画像
信号、すなわちレーザビームの照射エネルギを変えても
よい。

以上の実施例では、中間調画像信号出力部１５から直接
レーザ駆動回路６へ中間調画像信号を与えるようにした
が、ＣＣＤ４によって予め定める中間調画像原稿を読取
り、その出力を信号処理回路５を経てレーザ駆動回路６
へ与えるようにしてもよい。

く発明の効果〉 この発明は、以上のように構成されているので、感光体
の感度差や周囲雰囲気の変化等による中間調再現性のば
らつきを補正して、良好にかつ安定した中間調階調再現
の行える画像形成装置とすることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、この発明の一実施例にかかるディジタル複写
機の要部構或を示すブロック図である。 第２図は、半導体レーザをパルス幅変調した場合の５段
階のレーザビーム出力を表わす波形図である。 第３図は、レーザビームの照射エネルギＥとその照射エ
ネルギＥで露光された感光体の表面電位Ｖとの関係を表
わすＥ−Ｖ特性曲線を示す図である。 第４図は、この実施例の特徴となる制御動作を表わすフ
ローチャートである。 図において、１・・・感光体ドラム、２・・・帯電チャ
ージャ、３・・・帯電電圧発生回路、６・・・レーザ駆
動回路、７・・・半導体レーザ、１０・・・現像装置、
１１・・・現像バイアス調整回路、１２・・・電位セン
サ、１３・・・フィードバック制御部、１４・・・Ｅ−
Ｖ特性記憶部、ｌ５・・・中間調画像信号出力部、を示
す。 第 ２ 図 第 ３ 図 ■ 露 第 ４ 図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １、光導電性表面を有する感光体と、この 感光体の表面を一様に帯電させるための 帯電手段と、帯電した感光体表面を露光 して静電潜像を形成するための光ビーム 出力手段と、感光体表面に形成された静 電潜像に現像剤を付与して可視像化する ための現像手段と、現像手段の付与する 現像剤付与量を調整するための現像バイ アス調整手段とを含む画像形成装置にお いて、 中間調再現性を確認するために、光ビ ーム出力手段の出力エネルギを予め定め る複数段階の中間調再現エネルギからな る第１中間調再現エネルギに制御する第 １ビーム制御手段と、 露光された感光体の表面電位を検出す る電位検出手段と、 露光エネルギと感光体の表面電位との 関係を表わすＥ−Ｖ特性が予め記憶され た記憶手段と、 複数段階の第１中間調再現エネルギお よびそれに対応して検出された感光体表 面電位の関係をそれぞれ記憶手段に記憶 されているＥ−Ｖ特性と比較し、それら がＥ−Ｖ特性とずれている場合に、その ずれの平均値を求め、ずれの平均値が補 正されるように、光ビーム出力手段およ び帯電手段のいずれかを制御する第１フ ィードバック補正制御手段と、 第１フィードバック補正制御手段で補 正された後の中間調再現性を確認するた めに、光ビーム出力手段の出力エネルギ を第２中間調再現エネルギに制御する第 ２ビーム制御手段と、 第２中間調再現エネルギおよびそれに 対応して検出された感光体表面電位の関 係を記憶手段に記憶されているＥ−Ｖ特 性と比較し、その関係がＥ−Ｖ特性とず れている場合に、そのずれが補正される ように、光ビーム出力手段、現像バイア ス調整手段および帯電手段のいずれか１ つであって、第１フィードバック補正制 御手段によって制御がされていないもの に対して制御をする第２フィードバック 補正制御手段と、 を含むことを特徴とする画像形成装置。 ２、請求項第１項記載の画像形成装置において、 第１フィードバック補正制御手段は、 光ビーム出力手段を制御するものであり、 第２フィードバック補正制御手段は、 現像バイアス調整手段を制御するもので ある。 ３、請求項第１項記載の画像形成装置において、 第１フィードバック補正制御手段は、 光ビーム出力手段を制御するものであり、 第２フィードバック補正制御手段は、 帯電手段を制御するものである。 ４、請求項第１項記載の画像形成装置において、 第１フィードバック補正制御手段は、 帯電手段を制御するものであり、 第２フィードバック補正制御手段は、 現像バイアス調整手段を制御するもので ある。 ５、光導電性表面を有する感光体と、この 感光体の表面を一様に帯電させるための 帯電手段と、帯電した感光体表面を露光 して静電潜像を形成するための光ビーム 出力手段と、感光体表面に形成された静 電潜像に現像剤を付与して可視像化する ための現像手段と、現像手段の付与する 現像剤付与量を調整するための現像バイ アス調整手段とを含む画像形成装置にお いて、 中間調再現性を確認するために、光ビ ーム出力手段の出力エネルギを予め定め る複数段階の中間調再現エネルギからな る第１中間調再現エネルギに制御するこ とのできる第１ビーム制御手段と、 露光された感光体の表面電位を検出す る電位検出手段と、 露光エネルギと感光体の表面電位との 関係を表わすＥ−Ｖ特性が予め記憶され た記憶手段と、 複数段階の第１中間調再現エネルギお よびそれに対応して検出された感光体表 面電位の関係をそれぞれ記憶手段に記憶 されているＥ−Ｖ特性と比較し、それら がＥ−Ｖ特性とずれている場合に、その ずれの平均値を求め、ずれの平均値が補 正されるように、光ビーム出力手段を制 御する第１フィードバック補正制御手段 と、 第１フィードバック補正制御手段で補 正された後の中間調再現性を確認するた めに、光ビーム出力手段の出力エネルギ を第２中間調再現エネルギに制御するこ とのできる第２ビーム制御手段と、 第２中間調再現エネルギおよびそれに 対応して検出された感光体表面電位の関 係を記憶手段に記憶されているＥ−Ｖ特 性と比較し、その関係がＥ−Ｖ特性とず れている場合に、そのずれが補正される ように、帯電手段を制御する第２フィー ドバック補正制御手段と、 第１および第２フィードバック補正制 御手段で補正された後の中間調再現性を 確認するために、光ビーム出力手段の出 力エネルギを第３中間調再現エネルギに 制御することのできる第３ビーム制御手 段と、 第３中間調再現エネルギおよびそれに 対応して検出された感光体表面電位の関 係を記憶手段に記憶されているＥ−Ｖ特 性と比較し、その関係がＥ−Ｖ特性とず れている場合に、そのずれが補正される ように、現像バイアス調整手段を制御す る第３フィードバック補正制御手段と、 を含むことを特徴とする画像形成装置。 ６、請求項第１項ないし第６項のいずれか に記載の画像形成装置において、 光ビーム出力手段は、パルス幅変調に よって、出力エネルギを段階的に変化さ せることを特徴とするものである。