JPH03154456A - Pulse detection circuit - Google Patents

Pulse detection circuit

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JPH03154456A
JPH03154456A JP29380189A JP29380189A JPH03154456A JP H03154456 A JPH03154456 A JP H03154456A JP 29380189 A JP29380189 A JP 29380189A JP 29380189 A JP29380189 A JP 29380189A JP H03154456 A JPH03154456 A JP H03154456A
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pulse
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bit error
period
flip
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Koji Suzuki
浩司 鈴木
Koji Senba
仙波 浩司
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Oki Electric Industry Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To surely detect production of a pulse to be detected by avoiding duplicate of generating timing when a generating timing of a pulse to be detected and a generating timing of a detection timing pulse are in duplicate and detecting each timing. CONSTITUTION:The time axis of the system is corrected so that a bit error pulse BEP is synchronized for a period of a clock signal CK being at a logical L and an alarm collection pulse ACP is synchronized for a period of the clock signal CK being at a logical H. Thus, the logical H period of a bit error pulse CBEP after the correction and that of an alarm collection pulse CACP are not overlapped. Thus, the bit error pulse BEP is surely converted into a bit error alarm BEA and outputted.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、被検出パルスの発生を検出タイミングパルス
のタイミングに基づいて検出するパルス検出回路に関し
、例えば、伝送信号におけるピッ1へエラーを検出する
ビットエラー検出回路に適用し得るものである。
Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention relates to a pulse detection circuit that detects the occurrence of a pulse to be detected based on the timing of a detection timing pulse. This can be applied to a bit error detection circuit.

[従来の技術] 従来、あるパルスの発生を他のパルスのタイミングで検
出するパルス検出回路が種々の回路や装置で用いられて
いる。例えば、故障やエラーの監視装置に用いられてい
る。このような監視装置では、監視対象が複数存在する
ことが多い。そのため、故障やエラーが発生した監視対
象から監視装置本体に故障やエラーの発生を示すパルス
を監視装置本体の処理状態に無関係に送出するようにす
ると、その検出パルスが受は付けられないことや監視装
置本体がその時点で行なっている処理を乱すなどの不都
合を生じることが多い。そのため、故障やエラーを示す
パルスの発生を保持し、監視装置本体から収集パルスが
与えられたときに、故障やエラーを示すパルスを監視装
置本体に与えるようにすることが多くの監視装置で採用
されている。
[Prior Art] Conventionally, pulse detection circuits that detect the occurrence of a certain pulse at the timing of another pulse have been used in various circuits and devices. For example, it is used in failure and error monitoring devices. In such a monitoring device, there are often multiple objects to be monitored. Therefore, if a pulse indicating the occurrence of a failure or error is sent from a monitoring target where a failure or error has occurred to the monitoring device itself, regardless of the processing status of the monitoring device itself, the detected pulse may not be received. This often causes inconveniences such as disrupting the processing that the monitoring device itself is currently doing. For this reason, many monitoring devices use a method that retains the generation of pulses that indicate failures or errors, and then sends pulses that indicate failures or errors to the monitoring device itself when collection pulses are given from the monitoring device itself. has been done.

第2図には、このような監視方法を採用している伝送信
号のビットエラー検出回路を示す。第2図において、こ
のビットエラー検出回路は伝送信号処理回路1とパルス
検出回路2とで構成されている。
FIG. 2 shows a transmission signal bit error detection circuit that employs such a monitoring method. In FIG. 2, this bit error detection circuit is composed of a transmission signal processing circuit 1 and a pulse detection circuit 2.

伝送信号処理回路1は、受信した伝送信号を適宜処理す
ると共に、例えばパリティピットに基づいて伝送信号の
ビットエラーを検出しており、ビットエラーを検出した
ときにビットエラーパルスBEPをパルス検出回路2に
出力する。
The transmission signal processing circuit 1 processes the received transmission signal as appropriate, and also detects bit errors in the transmission signal based on parity pits, for example. When a bit error is detected, a bit error pulse BEP is sent to the pulse detection circuit 2. Output to.

パルス検出回路2は、RSSフリツブフロ1回路3及び
Dフリツブフロ9プ回路4でなる。ビットエラーパルス
BEPは、RSSフリツブフロ1回路3のセット端子に
与えられてフリップフロップ回路3をセット動作させる
。RSSフリツブフロ1回路3のQ出力端子は、Dフリ
ツブフロ9プ回路4のデータ入力端子に接続されている
。このDフリップフロップ回路4のクロック入力端子に
は、図示しない監視装置本体からアラーム収集パルスA
CPが与えられている。Dフリップフロツ7プ回128
4のQ出力端子はビットエラーアラームを出力する端子
となっている。
The pulse detection circuit 2 consists of an RSS flipflop 1 circuit 3 and a D flipflop 9 circuit 4. The bit error pulse BEP is applied to the set terminal of the RSS flip-flop circuit 1 circuit 3 to set the flip-flop circuit 3. The Q output terminal of the RSS flipflop 1 circuit 3 is connected to the data input terminal of the D flipflop 9 circuit 4. The clock input terminal of this D flip-flop circuit 4 receives an alarm collection pulse A from the monitoring device main body (not shown).
CP is given. D flip flop 7 times 128
The Q output terminal 4 is a terminal for outputting a bit error alarm.

なお、アラーム収集パルスACPは、RSSフリツブフ
ロ1回路3のリセット入力端子にも与えられるようにな
されており、次のアラーム収集パルスACPの発生まで
の間に生じたとットエラーパルスBEPによって再度セ
ット動作を行なうことができるようになされている。
Note that the alarm collection pulse ACP is also applied to the reset input terminal of the RSS flip flow 1 circuit 3, and the set operation can be performed again by the hit error pulse BEP that occurs before the next alarm collection pulse ACP is generated. It is made possible to do so.

第3図はこのパルス検出回路2の動作を示すタイミング
チャートである。時点t1でビットエラーパルスBEP
が生じると、その時点t1でRSフリップフロッ1回路
3のQ出力Q3が論理Hとなる。その後、時点t2でア
ラーム収集パルスACPが論理Hになって収集を指示す
ると、この時点t2ではRSSフリツブフロ1回路3の
Q出力信号Q3が論理Hとなっているので、Dフリツブ
フロ9プ回路4のQ出力信号であるビットエラーアラー
ムBEAも論理Hになってビットエラーの発生を出力す
る。また、この時点t2ではフリップフロ91回FI!
43がリセットされて次のビットエラーパルスBEPを
受付けられる状態になる。
FIG. 3 is a timing chart showing the operation of this pulse detection circuit 2. Bit error pulse BEP at time t1
When this occurs, the Q output Q3 of the RS flip-flop 1 circuit 3 becomes logic H at the time t1. After that, at time t2, the alarm collection pulse ACP becomes logic H to instruct collection. At this time t2, the Q output signal Q3 of the RSS flip-flop 1 circuit 3 is logic H, so the D flip-flop 9 circuit 4 The bit error alarm BEA, which is a Q output signal, also becomes logic H and outputs the occurrence of a bit error. Also, at this point t2, flip-flop 91 times FI!
43 is reset and becomes ready to accept the next bit error pulse BEP.

その後、ビットエラーパルスBEPが生じる前に、時点
t3でアラーム収集パルスACPが再度論理Hになって
収集を檜示すると、ビットエラーアラームBEAも論理
りになって監視待機状態に戻る。
Thereafter, before the bit error pulse BEP occurs, at time t3, the alarm collection pulse ACP becomes logic H again to indicate collection, and the bit error alarm BEA also becomes logic logic and returns to the monitoring standby state.

このようにしてビットエラーパルスBEPの発生によっ
て、前後のアラーム収集パルスACP間の期間t2〜t
3に引き伸ばされたビットエラーアラームBEAが出力
される。
In this way, the generation of the bit error pulse BEP causes the period t2 to t between the preceding and succeeding alarm collection pulses ACP to
A bit error alarm BEA expanded to 3 is output.

[発明が解決しようとする課題] しかしながら、ビットエラーパルスBEPとアラーム収
集パルスACPとは、上述したように非同期かつ無関係
に発生するものである。従って、第4図に示すように、
ビットエラーパルスBEPの発生期間がアラーム収集パ
ルスACPの論理H期間と重複することも生じる。この
場合のRSSフリツブフロ1回路3の動作状態は一義的
に定まっていないために不安定に動作し、第4図に示す
ように、ビットエラーパルスBEPが生じてもビ、ット
エラーアラームBEAが論理Hとならないことがあった
。すなわち、ビットエラーの発生を正確に伝えることが
できないことも生じていた。
[Problems to be Solved by the Invention] However, as described above, the bit error pulse BEP and the alarm collection pulse ACP are generated asynchronously and independently. Therefore, as shown in Figure 4,
It also happens that the period of occurrence of the bit error pulse BEP overlaps with the logic H period of the alarm collection pulse ACP. In this case, the operating state of the RSS flip flow 1 circuit 3 is not uniquely determined, so it operates unstablely, and as shown in FIG. There were times when the logic H was not achieved. In other words, it has sometimes been impossible to accurately report the occurrence of a bit error.

かかる問題は、とットエラー検出回路にパルス検出回路
を適用した場合に生じる問題ではなく、パルス検出回路
自体が有する問題である。
This problem is not a problem that occurs when a pulse detection circuit is applied to a hit error detection circuit, but a problem that occurs in the pulse detection circuit itself.

本発明は、以上の点を考慮してなされたものであり、検
出タイミングパルスの発生タイミングに関係なく、被検
出パルスの発生を確実に検出することができるパルス検
出回路を提供しようとするものである9 [課題を解決するための手段] かかる課題を解決するため、本発明においては、被検出
パルスの発生を保持回路で保持し、検出タイミングパル
スのタイミングで保持されている被検出パルスを出力す
ると共に、保持回路の保持状態をクリアするパルス検出
回路に、以下の回路を設けた。
The present invention has been made in consideration of the above points, and it is an object of the present invention to provide a pulse detection circuit that can reliably detect the occurrence of a pulse to be detected, regardless of the timing of occurrence of the detection timing pulse. 9 [Means for Solving the Problem] In order to solve the problem, in the present invention, the generation of the detected pulse is held in a holding circuit, and the held detected pulse is output at the timing of the detection timing pulse. At the same time, the following circuit was installed in the pulse detection circuit that clears the held state of the holding circuit.

すなわち、被検出パルスの期間と検出タイミングパルス
の期間との重複をなくすように、被検出パルス又は検出
タイミングパルスの少なくとも一方を修正するパルス重
複除去回路を保持回路の前段に設けた。
That is, in order to eliminate the overlap between the period of the detected pulse and the detected timing pulse, a pulse duplication removal circuit that corrects at least one of the detected pulse or the detected timing pulse is provided upstream of the holding circuit.

[作用] 被検出パルスの発生を保持回路で保持し、検出タイミン
グパルスのタイミングで保持されている被検出パルスを
出力すると共に、保持回路の保持状態をクリアするパル
ス検出回路にあっては、被検出パルスと検出タイミング
パルスの期間の重複が問題となる。
[Function] A pulse detection circuit that holds the generation of the detected pulse in a holding circuit, outputs the held detected pulse at the timing of the detection timing pulse, and clears the held state of the holding circuit. The problem is that the periods of the detection pulse and the detection timing pulse overlap.

そうであるのならば、保持回路以降の構成部分にこれら
パルスを与える段階で重複期間をなくしておけば良い。
If so, the overlapping period should be eliminated at the stage of applying these pulses to the components after the holding circuit.

そこで、パルス重複除去回路を保持回路の前段に設け、
被検出パルスの期間と検出タイミングパルスの期間との
重複をなくすように、被検出パルス又は検出タイミング
パルスの少なくとも一方を修正するようにした。
Therefore, a pulse duplication removal circuit is provided before the holding circuit.
At least one of the detected pulse and the detected timing pulse is modified so as to eliminate the overlap between the period of the detected pulse and the detected timing pulse.

[実施例] 策上天豊凹 まず、本発明の第1実施例を図面を参照しながら説明す
る。なお、この第1実施例をビットエラー検出回路にお
けるパルス検出回路に適用したとして説明する。
[Embodiment] First, a first embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. Note that this first embodiment will be described as being applied to a pulse detection circuit in a bit error detection circuit.

ここで、第1図はこの第1実施例を示すブロック図、第
5図は第1実施例の各部タイミングチャートである。
Here, FIG. 1 is a block diagram showing this first embodiment, and FIG. 5 is a timing chart of each part of the first embodiment.

この第1実施例は、ビットエラーパルスBEPの発生期
間とアラーム収集パルスACPの論理H期間との重複に
関係なく、これら期間の時間軸上の位置を修正して期間
の重複を回避した修正ビットエラーパルスCBEP及び
修正アラーム収集パルスCACPを形成するパルス時間
軸修正回路10を設けている。
In this first embodiment, regardless of the overlap between the generation period of the bit error pulse BEP and the logic H period of the alarm collection pulse ACP, the corrected bit corrects the position of these periods on the time axis to avoid the overlap of the periods. A pulse time base correction circuit 10 is provided which forms an error pulse CBEP and a corrected alarm acquisition pulse CACP.

パルス時間軸修正回路10は、Dフリップ70ツブ回路
11、ノア回路12、Dフリップフロラ1回路13、イ
ンバータ回路14及びアンド回路15でなる。
The pulse time axis correction circuit 10 includes a D flip 70 tube circuit 11, a NOR circuit 12, a D flip Flora 1 circuit 13, an inverter circuit 14, and an AND circuit 15.

Dフリップフロップ回路11のデータ入力端子には、ビ
ットエラーパルスBEPが直接与えられる。図示しない
クロック発生回路が出力したクロック信号CKがDフリ
ップフロップ回路11のクロック入力端子に与えられる
。Dフリップフロップ回路11からのQ出力信号に対す
る反転出力信号(以下、QN出力信号と呼ぶ>QNII
は、ノア回路12に与えられる。このノア回路12には
上述のタロツク信号CKも与えられる。このノア回路1
2からの出力信号は、上述した時間軸が修正されたビッ
トエラーパルスCBEPとして出力される。なお、修正
されたビットエラーパルスCBEPはクロック信号CK
の論理り期間内で論理Hをとるものであるが、このこと
については動作の説明で詳述する。
A bit error pulse BEP is directly applied to the data input terminal of the D flip-flop circuit 11. A clock signal CK output from a clock generation circuit (not shown) is applied to a clock input terminal of the D flip-flop circuit 11. An inverted output signal for the Q output signal from the D flip-flop circuit 11 (hereinafter referred to as the QN output signal>QNII
is applied to the NOR circuit 12. This NOR circuit 12 is also supplied with the above-mentioned tally clock signal CK. This Noah circuit 1
The output signal from 2 is output as the bit error pulse CBEP whose time axis has been corrected. Note that the corrected bit error pulse CBEP is the clock signal CK
The logic level is set to H within the logic period of , and this will be explained in detail in the explanation of the operation.

なお、クロック信号CKはビットエラーパルスBEP及
び後述するアラーム収集パルスACPに非同期に、かつ
、所定周期で発生される。
Note that the clock signal CK is generated asynchronously with the bit error pulse BEP and the alarm collection pulse ACP, which will be described later, and at a predetermined period.

他方のDフリップフロラ1回路13のデータ入力端子に
は、アラーム収集パルスACPが直接与えられる。上述
のクロック信号CKは、インバータ回路1.4を介して
反転されてDフリップフロラ1回路13のクロック入力
端子に与えられる。Dフリップフロップ回路11からの
Q出力信号Q13はアンド回路15に与えられる。この
アンド回路15には上述のタロツク信号CKも与えられ
ており、このアンド回路15からの出力信号が、上述し
た時間軸が修正されたアラーム収集パルスCACPとし
て出力される。なお、修正されたアラーム収集パルスC
ACPはクロック信号CKの論理H期間内で論理Hをと
るものであるが、このことについては動作の説明で詳述
する。
The alarm collection pulse ACP is directly applied to the data input terminal of the other D-flip Flora 1 circuit 13. The above-mentioned clock signal CK is inverted via the inverter circuit 1.4 and applied to the clock input terminal of the D flip processor 1 circuit 13. Q output signal Q13 from D flip-flop circuit 11 is applied to AND circuit 15. This AND circuit 15 is also supplied with the above-mentioned tally clock signal CK, and the output signal from this AND circuit 15 is outputted as the above-mentioned alarm collection pulse CACP whose time axis has been corrected. In addition, the modified alarm collection pulse C
ACP takes the logic H level within the logic H period of the clock signal CK, and this will be explained in detail in the explanation of the operation.

このような論理H期間が修正されたビットエラーパルス
CBEP及びアラーム収集パルスCACPに基づいて、
ビットエラーパルスBEPを検出してアラームを発生す
る構成は、従来と同様である。
Based on the bit error pulse CBEP and alarm collection pulse CACP with such logic H period modified,
The configuration for detecting the bit error pulse BEP and generating an alarm is the same as the conventional one.

すなわち、RSフリップフロップ回路20及びDフリッ
プフロラ1回路21を備え、フリップフロップ回路20
のセット入力端子に修正されたビットエラーパルスCB
EPを入力し、フリップフロップ回路24のリセット入
力端子及びフリップフロップ回路21のクロック入力端
子に修正されたアラーム収集パルスCACPを入力し、
フリップフロップ回路21のデータ入力端子にフリップ
フロップ回路20のQ出力信号Q20を入力し、フリッ
プフロップ回路21のQ出力端子からビットエラーアラ
ームBEAを出力するように構成されている。
That is, the flip-flop circuit 20 includes an RS flip-flop circuit 20 and a D flip-flop circuit 21.
Corrected bit error pulse CB to the set input terminal of
EP and input the modified alarm collection pulse CACP to the reset input terminal of the flip-flop circuit 24 and the clock input terminal of the flip-flop circuit 21;
The Q output signal Q20 of the flip-flop circuit 20 is input to the data input terminal of the flip-flop circuit 21, and the bit error alarm BEA is output from the Q output terminal of the flip-flop circuit 21.

なお、この第1実施例では、少なくともアラーム収集パ
ルスACPは、そのパルス幅が1クロック周期程度であ
ることが好ましい。
In this first embodiment, it is preferable that at least the alarm collection pulse ACP has a pulse width of about one clock cycle.

次に、以上の構成を有する第1実施例の動作を第5図を
用いて説明する。
Next, the operation of the first embodiment having the above configuration will be explained using FIG.

第5図において、時点t10で同図(B)に示すアラー
ム収集パルスACPが論理Hになり、その直後の時点t
11で同図(A>に示すビットエラーパルスBEPが論
理Hになり、その後の時点t12で同図(C)に示すク
ロック信号CKが論理りに変化し、この時点t12から
1/2クロック周期だけ経過した時点t13より僅かに
遅れた時点t14でビットエラーパルスBEPが論理り
に変化し、さ、らに、その後の時点t15でアラーム収
集パルスACPも論理りに変化したとする。
In FIG. 5, the alarm collection pulse ACP shown in FIG. 5(B) becomes logic H at time t10, and the immediately following time t
At 11, the bit error pulse BEP shown in FIG. Assume that the bit error pulse BEP changes logically at time t14, which is slightly delayed from time t13, and that the alarm collection pulse ACP also changes logically at the subsequent time t15.

ビットエラーパルスBEPが与えられるDフリップフロ
フグ回路11のクロック入力端子にはクロック信号CK
が直接与えられるので、クロック信号CKの立ち上がり
が問題となる。ビットエラーパルスBEPの論理Hの期
間では、時点t13でタロツク信号CKが立ち上がり、
この時点t13がら1クロック周期だけ経過した時点t
17ではビットエラーパルスBEPは既に論理りに立ち
下がっている。従って、Dフリップフロップ回路11の
QN出力信号QNIIは第5図(D>に示すように時点
t13〜t17の期間の間だけ論理しに立ち下がってい
るものとなる。
A clock signal CK is input to the clock input terminal of the D flip-flop circuit 11 to which the bit error pulse BEP is applied.
Since the clock signal CK is directly applied, the rise of the clock signal CK becomes a problem. During the logic H period of the bit error pulse BEP, the tarock signal CK rises at time t13.
Time t when one clock period has elapsed since this time t13
At 17, the bit error pulse BEP has already fallen to the logical level. Therefore, the QN output signal QNII of the D flip-flop circuit 11 logically falls only during the period from time t13 to time t17, as shown in FIG.

その結果、このQN出力信号QNIIとクロック信号C
Kとが与えられるノア回路12からは、第5図(E)に
示すように、時点t16〜t17の1/2クロック周期
の期間だけ論理Hに立ち上がっている、時間軸が修正さ
れたビットエラーパルスCBEPが出力される。
As a result, this QN output signal QNII and clock signal C
From the NOR circuit 12 to which K is given, as shown in FIG. Pulse CBEP is output.

他方、アラーム収集パルスACPが与えられるDフリッ
プフロッ1回路13のクロック入力端子にはクロック信
号CKが反転されて与えられているので、クロック信号
CKの立ち下がりが問題となる。アラーム収集パルスA
CPの論理Hの期間では、時点t12でクロック信号C
Kが立ち下がり、この時点t12から1クロック周期だ
け経過した時点t16ではアラーム収集パルスACPは
既に論理りに立ち下がっている。従って、Dフリップフ
ロフジ回路13のQ出力信号Q13は第5図(F)に示
すように時点t12〜t16の期間の間だけ論理Hに立
ち上がっているものとなる。
On the other hand, since the clock signal CK is inverted and supplied to the clock input terminal of the D flip-flop circuit 13 to which the alarm collection pulse ACP is supplied, the fall of the clock signal CK poses a problem. Alarm collection pulse A
During the logic H period of CP, the clock signal C at time t12
At time t16 when K falls and one clock cycle has passed from time t12, the alarm collection pulse ACP has already logically fallen. Therefore, the Q output signal Q13 of the D flip-flop circuit 13 rises to logic H only during the period from time t12 to time t16, as shown in FIG. 5(F).

その結果、このQ出力信号Q13とクロック信号CKと
が与えられるアンド回路15からは、第5図(G)に示
すように、時点t15〜t16の1/2クロック周期の
期間だけ論理Hに立ち上がっている時間軸が修正された
アラーム収集パルスCAcpが出力される。
As a result, the AND circuit 15 to which the Q output signal Q13 and the clock signal CK are applied rises to logic H for a period of 1/2 clock cycle from time t15 to t16, as shown in FIG. 5(G). An alarm collection pulse CAcp whose time axis has been corrected is output.

従って、修正されたビットエラーパルスCBEP及びア
ラーム収集パルスCACPによって動作する第5図(H
)に示すRSSフリツブフロ1回路20のQ出力信号Q
20は時点tl&で立ち上がる。しかし、第5図(I)
に示すビットエラーアラームBEAはこの前後の期間で
は論理りのままとなる。
Therefore, FIG. 5 (H
Q output signal Q of the RSS flip flow 1 circuit 20 shown in )
20 rises at time tl&. However, Fig. 5 (I)
The bit error alarm BEA shown in FIG. 1 remains logical during the period before and after this period.

やがて、アラーム収集パルスACPが、第5図の時点t
18〜t21の期間だけ論理Hをとって収集を再度指示
するようになった場合にも、上述と同様に動作してクロ
ック信号CKと同期化されて時点t20〜t22の1/
2クロック周期の期間だけ論理F(に立ち上がっている
時間軸が修正されたアラーム収集パルスCACPがアン
ド回路15から出力される。かくして、時点t20でR
SSフリツブフロ9回F!!20がリセットされ、ビッ
トエラーアラームBEAがアラーム状態になる。
Eventually, the alarm collection pulse ACP reaches time t in FIG.
Even in the case where the acquisition is instructed again by taking the logic H level during the period from t20 to t21, it operates in the same way as described above, and is synchronized with the clock signal CK, and the data is output from 1/1 of the period from t20 to t22.
The AND circuit 15 outputs an alarm collection pulse CACP whose time axis has been corrected by rising to the logic F (for a period of two clock cycles. Thus, at time t20, R
SS Fritsubflo 9th F! ! 20 is reset and the bit error alarm BEA goes into alarm state.

従って、この第1実施例では、ビットエラーパルスBE
Pをクロック信号CKの論理り期間に同期化し、アラー
ム収集パルスACPをクロック信号CKの論理H期間に
同期化させるように時間軸を修正させたので、修正後の
ビットエラーパルスCBEPとアラーム収集パルスCA
CPとは論理H期間が重複することがなくなり、とット
エラーバルスBEPを確実にビットエラーアラームBE
Aに変換して出力することができる。
Therefore, in this first embodiment, the bit error pulse BE
Since the time axis was modified to synchronize P with the logic period of the clock signal CK and synchronize the alarm collection pulse ACP with the logic H period of the clock signal CK, the corrected bit error pulse CBEP and alarm collection pulse CA
The logic H period no longer overlaps with CP, and the bit error pulse BEP is reliably set to the bit error alarm BE.
It can be converted to A and output.

墓λ叉施] 次に、本発明の第2実施例を図面を用いて説明する。第
6図がこの第2実施例の構成を示すものであり、第7図
が第2実施例の各部タイミングチャートである。
[Grave Lambda] Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. FIG. 6 shows the configuration of this second embodiment, and FIG. 7 is a timing chart of each part of the second embodiment.

第6図において、この第2実施例は、アンド回路30、
インバータ回路31、JKフリップフロップ回路32及
びDフリップフロップ回路33からなる。
In FIG. 6, this second embodiment includes an AND circuit 30,
It consists of an inverter circuit 31, a JK flip-flop circuit 32, and a D flip-flop circuit 33.

ビットエラーパルスBEPはJKフリップフロップ回路
32のJ入力端子に与えられ、アラーム収集パルスAC
Pはアンド回路30を介して所定条件に該当する期間だ
け修正されてJKフリップフロップ回路32のに入力端
子に与えられる。このJKフリップフロップ回路32は
、修正されたアラーム収集パルスCACPが論理りであ
る期間中に到来したクロック信号CKの立ち上がり時点
で、ビットエラーパルスBEPが論理HであるときにQ
出力信号Q32を論理Hとする。
The bit error pulse BEP is applied to the J input terminal of the JK flip-flop circuit 32, and the alarm collection pulse AC
P is modified by the AND circuit 30 for a period corresponding to a predetermined condition and is applied to the input terminal of the JK flip-flop circuit 32. This JK flip-flop circuit 32 outputs a Q signal when the bit error pulse BEP is at a logic H level at the rising edge of the clock signal CK which arrives during a period when the modified alarm collection pulse CACP is at a logic logic level.
The output signal Q32 is set to logic H.

アンド回路30には、ビットエラーパルスBEPがイン
バータ回路31を介して反転されているので、アンド回
路30がアラーム収集パルスACPの論理H状態を通過
させる条件は、ビットエラーパルスBEPが論理りであ
ることである。言い換えるならば、ビットエラーパルス
BEP及びアラーム収集パルスACPが共に論理Hの場
合には、アンド回路30によって、その重複期間の間だ
け、アラーム収集パルスACPの論理Hは強制的に論理
りに変換されてJKフリップフロップ回路32に与えら
れる。
In the AND circuit 30, the bit error pulse BEP is inverted via the inverter circuit 31, so the condition for the AND circuit 30 to pass the logic H state of the alarm collection pulse ACP is that the bit error pulse BEP is logic. That's true. In other words, when the bit error pulse BEP and the alarm collection pulse ACP are both logic H, the AND circuit 30 forcibly converts the logic H of the alarm collection pulse ACP to logic logic only during the overlapping period. and is applied to the JK flip-flop circuit 32.

JKフリップフロップ回路32のQ出力信号Q32は、
Dフリップフロップ回路33のデータ入力端子に与えら
れる。JKフリップフロップ回路32のクロック入力端
子にはアラーム収集パルスACPが与えられる。このフ
リップフロラ1回路33のQ出力信号Q33がビットエ
ラーアラームBEAとして送出される。
The Q output signal Q32 of the JK flip-flop circuit 32 is
It is applied to the data input terminal of the D flip-flop circuit 33. An alarm collection pulse ACP is applied to the clock input terminal of the JK flip-flop circuit 32. The Q output signal Q33 of this flip-flora 1 circuit 33 is sent out as a bit error alarm BEA.

次に、以上の構成を有する第2実施例の動作を第7図を
用いて説明する。
Next, the operation of the second embodiment having the above configuration will be explained using FIG.

第7図において、時点t30でアラーム収集パルスAC
Pが論理Hになり、その直後の時点t31でビットエラ
ーパルスBEPが論理Hになり、その後の時点t32で
クロック信号CKが論理Hに立ち上がり、この時点t3
2より僅かに遅れた時点t33でビットエラーパルスB
EPが論理りに変化し、さらに、その後の時点t34で
アラーム収集パルスACPも論理りに変化したとする。
In FIG. 7, at time t30, the alarm collection pulse AC
P becomes logic H, the bit error pulse BEP becomes logic H at time t31 immediately after that, clock signal CK rises to logic H at time t32, and at this time t3
Bit error pulse B occurs at time t33, which is slightly later than 2.
Assume that EP changes logically, and furthermore, at a subsequent time point t34, the alarm collection pulse ACP also changes logically.

このようにビットエラーパルスBEP及びアラーム収集
パルスACPの一部期間し31〜t33が重複していて
も、ビットエラーパルスBEPは何等の処理を施される
ことなく、JKフリップフロップ回路32のJ入力端子
に与えられる。
In this way, even if the bit error pulse BEP and the alarm collection pulse ACP partially overlap from 31 to t33, the bit error pulse BEP is not subjected to any processing and is passed to the J input of the JK flip-flop circuit 32. given to the terminal.

他方、アラーム収集パルスACPは、アンド回路30に
よって一部重複期間が強制的に論理りになるようにゲー
トされる。すなわち、ビットエラーパルスBEPをイン
バータ回路31を介してアンド回路30に与え、期間t
31〜t33のようにビットエラーパルスBEPが論理
Hのときのアラーム収集パルスAePの論理H状態の通
過を阻止する。このように重複期間が強制的に論理りに
変換されたアラーム収集パルスCACPがJKフリップ
フロップ回路32のに入力端子に与えられる。
On the other hand, the alarm collection pulse ACP is gated by the AND circuit 30 so that the partially overlapping period is forced to be logical. That is, the bit error pulse BEP is applied to the AND circuit 30 via the inverter circuit 31, and the period t
31 to t33, the alarm collection pulse AeP is prevented from passing through the logic H state when the bit error pulse BEP is logic H. The alarm collection pulse CACP whose overlapping period has been forcibly converted into a logic logic in this manner is applied to the input terminal of the JK flip-flop circuit 32.

すなわち、この収集タイミングでは時点t30〜t31
の期間、及び、時点t33〜t34の期間だけ論理Hを
とるアラーム収集パルスA、CPかに入力端子に与えら
れる。
That is, at this collection timing, time t30 to t31
Alarm collection pulses A and CP are applied to the input terminals, which take a logic H level only during the period t33 and time t34.

かくして、時点t32でクロック信号CKが立ち上がっ
たときに、JKフリップフロッ1回路32のQ出力信号
は論理Hに立ち上がる。しかし、オリジナルのアラーム
収集パルスACPが時点t30に立ち上がっているので
JKフリップフロップ回路32のQ出力が立ち上がって
もこの前後の期間では、Dフリップフロラプ回li′8
33のQ出力信号であるビットエラーアラームBEAは
論理Hとはならない。
Thus, when the clock signal CK rises at time t32, the Q output signal of the JK flip-flop 1 circuit 32 rises to logic H. However, since the original alarm collection pulse ACP rises at time t30, even if the Q output of the JK flip-flop circuit 32 rises, in the period before and after this, the D flip-flop circuit li'8
The bit error alarm BEA, which is the Q output signal of No. 33, does not become logic H.

これ以降、ビットエラーパルスBEPもアラーム収集パ
ルスACPも論理りが続いていると、クロック信号CK
が立ち上がってもJKフリップフロップ回路32はQ出
力の論理レベルを変更せず、Dフリップフロップ回路3
3のQ出力状態を変更しない。
After this, if the bit error pulse BEP and alarm collection pulse ACP continue to be logical, the clock signal CK
rises, the JK flip-flop circuit 32 does not change the logic level of the Q output, and the D flip-flop circuit 3
Do not change the Q output status of 3.

やがて、時点t35でアラーム収集パルスACPが再度
論理Hに立ち上がると、この時点t35でビットエラー
アラームBEAが論理Hに立ち上がってビットエラーの
発生を伝える。この時点t35からのアラーム収集パル
スACPの論理H状態はアンド回路30をそのまま通過
してJKフリップフロップ回路32に与えられ、その後
最初のクロック信号CKの立ち上がり時点t36でJK
フリップフロップ回路32のQ出力信号は論理りどなる
Eventually, at time t35, the alarm collection pulse ACP rises to logic H again, and at this time t35, the bit error alarm BEA rises to logic H, reporting the occurrence of a bit error. The logic H state of the alarm collection pulse ACP from this time t35 passes through the AND circuit 30 as it is and is applied to the JK flip-flop circuit 32, and then at the first rise time t36 of the clock signal CK, the JK
The Q output signal of flip-flop circuit 32 becomes a logic high.

すなわち、次に発生するビットエラーパルスBEPで論
理Hになり得る状態に復帰される。
That is, it is restored to a state where it can become logic H with the next generated bit error pulse BEP.

従って、この第2実施例では、ビットエラーパルスBE
Pとアラーム収集パルスACPとが共に論理Hの場合に
、重複する期間だけアラーム収集パルスACPの論理レ
ベルを強制的に論理りにす、るように修正したので、修
正後では、ビットエラーパルスBEPとアラーム収集パ
ルスCACPとで論理H期間が重複することがなくなり
、ビットエラーパルスBEPを確実にビットエラーアラ
ームBEAに変換して出力することができる。
Therefore, in this second embodiment, the bit error pulse BE
When both P and alarm collection pulse ACP are logic H, the logic level of alarm collection pulse ACP is forcibly set to logic low only during the overlapping period, so after the modification, bit error pulse BEP The logic H periods of the signal and the alarm collection pulse CACP do not overlap, and the bit error pulse BEP can be reliably converted into the bit error alarm BEA and output.

應O実施倒 本発明はビットエラー検出回路だけでなく、被検出パル
スの発生をタイミングパルスの発生タイミングで検出す
る構成を必要とする各種の回路や装置に適用することが
できる。
The present invention can be applied not only to bit error detection circuits but also to various circuits and devices that require a configuration for detecting the generation of a pulse to be detected at the timing of generation of a timing pulse.

また、上述の実施例では、アクチイブハイでの構成を示
したが、アクチイブロウで構成することも勿論可能であ
る。
Further, in the above-described embodiment, an active high configuration is shown, but an active low configuration is of course possible.

[発明の効果] 以上のように、本発明によれば、被検出パルスの発生タ
イミングと、検出タイミングパルスの発生タイミングと
が重なったときに、これら発生タイミングの重複を避け
るようにした後、検出動作するようにしたので、被検出
パルスの発生を確実に検出することができる。
[Effects of the Invention] As described above, according to the present invention, when the generation timing of the detected pulse and the generation timing of the detection timing pulse overlap, the detection is performed after avoiding the overlap of these generation timings. Since it is made to operate, it is possible to reliably detect the occurrence of the pulse to be detected.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明によるパルス検出回路の第1実施例を示
すブロック図、第2図は従来のパルス検出回路を適用し
たビットエラー検出回路を示すブロック図、第3図は第
2図の各部タイミングチャート、第4図は従来の欠点を
説明するための第2図の各部タイミングチャート、第5
図は第1実施例の各部タイミングチャート、第6図は本
発明の第2実施例のブロック図、第7図は第2実施例の
各部タイミングチャートである。 11.13.21.33・・・Dフリップフロップ回路
、12・・・ノア回路、14.31・・・インバータ回
路、15.30・・・アンド回路、20・・・RSフリ
ップフロップ回路、32・・・JKフリップフロップ回
路。 10八“ルλ時間軸修正回路 l−−−J 第1実施例のフ゛ロッグ図 第1図 従来回路の7゛ロフク 第1実施例の各部タイミン9”fr) 第5図 EP 1 t! 3 第2図回路のタイミング゛チャート 第3図 従来回路の欠点説明用タイミング゛チi−ト第4図 第6図 0 ss 第2実施例の各部タイミングチ!−ト 第7図
FIG. 1 is a block diagram showing a first embodiment of a pulse detection circuit according to the present invention, FIG. 2 is a block diagram showing a bit error detection circuit to which a conventional pulse detection circuit is applied, and FIG. 3 shows each part of FIG. 2. Timing chart, Fig. 4 is a timing chart of each part of Fig. 2 to explain the conventional drawbacks, Fig. 5
The figure is a timing chart of each part of the first embodiment, FIG. 6 is a block diagram of a second embodiment of the present invention, and FIG. 7 is a timing chart of each part of the second embodiment. 11.13.21.33...D flip-flop circuit, 12...NOR circuit, 14.31...Inverter circuit, 15.30...AND circuit, 20...RS flip-flop circuit, 32 ...JK flip-flop circuit. 108" λ time axis correction circuit l --- J Figure 1: Block diagram of the first embodiment. Figure 1: 7" of the conventional circuit. Timing of each part of the first embodiment: 9" fr) Figure 5: EP 1 t! 3 Fig. 2: Timing chart of the circuit Fig. 3: Timing chart for explaining the drawbacks of the conventional circuit Fig. 4: Fig. 6: 0 ss Timing chart of each part of the second embodiment! -Figure 7

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)被検出パルスの発生を保持回路で保持し、検出タ
イミングパルスのタイミングで保持されている被検出パ
ルスを出力すると共に、保持回路の保持状態をクリアす
るパルス検出回路において、被検出パルスの期間と検出
タイミングパルスの期間との重複をなくすように、被検
出パルス又は検出タイミングパルスの少なくとも一方を
修正するパルス重複除去回路を上記保持回路の前段に設
けたことを特徴とするパルス検出回路。
(1) In a pulse detection circuit that holds the generation of the detected pulse in a holding circuit, outputs the held detected pulse at the timing of the detection timing pulse, and clears the holding state of the holding circuit, A pulse detection circuit characterized in that a pulse duplication removal circuit for correcting at least one of the detected pulse or the detection timing pulse is provided at a stage upstream of the holding circuit so as to eliminate the overlap between the period and the period of the detection timing pulse.
(2)上記パルス重複除去回路が、 クロック信号が一方の論理レベルをとるときだけに被検
出パルスを通過させる被検出パルス修正部と、 上記クロック信号が他方の論理レベルをとるときだけに
検出タイミングパルスを通過させる検出タイミングパル
ス修正部とでなることを特徴とした請求項第1項に記載
のパルス検出回路。
(2) The pulse duplication removal circuit includes a detected pulse modification unit that passes the detected pulse only when the clock signal takes one logic level, and a detection timing that passes the detected pulse only when the clock signal takes the other logic level. 2. The pulse detection circuit according to claim 1, further comprising a detection timing pulse correction section for passing a pulse.
(3)上記パルス重複除去回路が、上記検出タイミング
パルスにおける重複期間の論理レベルを強制的に反転さ
せることで期間の重複をなくすものであることを特徴と
した請求項第1項に記載のパルス検出回路。
(3) The pulse according to claim 1, wherein the pulse duplication removal circuit eliminates period overlap by forcibly reversing the logic level of the overlap period in the detection timing pulse. detection circuit.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5943780A (en) * 1982-09-07 1984-03-10 株式会社東芝 Method of controlling explosion preventive elevator
JPH031610A (en) * 1989-05-29 1991-01-08 Sumitomo Electric Ind Ltd Signal detection circuit

Patent Citations (2)

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JPH031610A (en) * 1989-05-29 1991-01-08 Sumitomo Electric Ind Ltd Signal detection circuit

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