JPH03151930A - 電子内視鏡装置 - Google Patents
電子内視鏡装置Info
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- JPH03151930A JPH03151930A JP1291586A JP29158689A JPH03151930A JP H03151930 A JPH03151930 A JP H03151930A JP 1291586 A JP1291586 A JP 1291586A JP 29158689 A JP29158689 A JP 29158689A JP H03151930 A JPH03151930 A JP H03151930A
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Landscapes
- Instruments For Viewing The Inside Of Hollow Bodies (AREA)
- Endoscopes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は、内視鏡像を適正な明るさで観察できるように
制御する電子内視鏡装置に関する。
制御する電子内視鏡装置に関する。
[従来の技術]
近年、体腔内に細長の挿入部を挿入することにより、体
腔内臓器等を観察したり、必要に応じ処置具チャンネル
内に挿通した処置具を用いて各種治療処置のできる内視
鏡が広く利用されている。
腔内臓器等を観察したり、必要に応じ処置具チャンネル
内に挿通した処置具を用いて各種治療処置のできる内視
鏡が広く利用されている。
また、電荷結合素子(COD)等の固体撮像索子を11
111手段に用いた電子内視鏡も種々提案されている。
111手段に用いた電子内視鏡も種々提案されている。
前記電子内視鏡の自動調光制御では、従来より、平均値
測光とピーク値測光とを、被写体により使い分けていた
。平均値測光は、被写体の*ri分布が−様な場合に用
いられ、撮像素子からの出力を積分し、その積分鎗が設
定値と等しくなるように光鹸を制御している。一方、ピ
ーク値測光は、被写体の輝度差が大きい場合(例えば、
ポリープ等の観察時)において用いられ、撮像素子から
の出力のピーク値を検出し、そのピーク値が設定値と等
しくなるように光間1IilI@シていた。このように
、ピーク値測光は輝度、差の大きい被写体の、高輝度部
分に注目領域がある場合に有効な測光方式であり、平均
値測光は全体の輝度差ががあまり大きくない場合に有効
な測光方式である。
測光とピーク値測光とを、被写体により使い分けていた
。平均値測光は、被写体の*ri分布が−様な場合に用
いられ、撮像素子からの出力を積分し、その積分鎗が設
定値と等しくなるように光鹸を制御している。一方、ピ
ーク値測光は、被写体の輝度差が大きい場合(例えば、
ポリープ等の観察時)において用いられ、撮像素子から
の出力のピーク値を検出し、そのピーク値が設定値と等
しくなるように光間1IilI@シていた。このように
、ピーク値測光は輝度、差の大きい被写体の、高輝度部
分に注目領域がある場合に有効な測光方式であり、平均
値測光は全体の輝度差ががあまり大きくない場合に有効
な測光方式である。
[発明が解決しようとする課題]
ところで、最近の内視鏡は、第7図に示すように、内視
鏡内に設けられたチャンネル15と呼ばれる空洞内を通
して、処置具16を挿入し、例えば胃内の細胞を採取す
る等、様々な処置具を利用することができるようになっ
ている。この処置具16は、第7図に示すように内視鏡
先端部から突出され、このときのモニタ画面は、第9図
に示すようになる。第7図に示1ように、処置具16は
、ライトガイド17に近いため、特に内視鏡先端部から
離れた所を処置しようとづる場合においては、処置具の
輝度が大きくなり、平均値測光時においても注目領域で
ある処首先端部近傍が暗くなってしまう場合があった。
鏡内に設けられたチャンネル15と呼ばれる空洞内を通
して、処置具16を挿入し、例えば胃内の細胞を採取す
る等、様々な処置具を利用することができるようになっ
ている。この処置具16は、第7図に示すように内視鏡
先端部から突出され、このときのモニタ画面は、第9図
に示すようになる。第7図に示1ように、処置具16は
、ライトガイド17に近いため、特に内視鏡先端部から
離れた所を処置しようとづる場合においては、処置具の
輝度が大きくなり、平均値測光時においても注目領域で
ある処首先端部近傍が暗くなってしまう場合があった。
また、処置具の反射率は一般に人体組織の反射率よりも
高いため、処置具の領域の輝度が画面全体の輝度の大部
分を占める場合があり、注目領域が暗くなってしまう。
高いため、処置具の領域の輝度が画面全体の輝度の大部
分を占める場合があり、注目領域が暗くなってしまう。
ずなわら、輝度差のある被写体の低輝度部分に注目領域
がある場合には、従来の平均値測光では、注目領域が暗
くなる。このような場合には、露光の設定値を高く設定
し直す必要があり、操作が煩雑になっていた。
がある場合には、従来の平均値測光では、注目領域が暗
くなる。このような場合には、露光の設定値を高く設定
し直す必要があり、操作が煩雑になっていた。
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、処置
具使用時等、輝度差の大きい被写体の低輝度側に注目領
域がある場合にも、その注目領域を適正な明るさで観察
できるようにした電子内視鏡装置を提供することを目的
している。
具使用時等、輝度差の大きい被写体の低輝度側に注目領
域がある場合にも、その注目領域を適正な明るさで観察
できるようにした電子内視鏡装置を提供することを目的
している。
〔課題を解決するための手段]
本発明の電子内視鏡装置は、被写体像を電気信号に変換
する手段からの信号のレベルを検出する検出手段と、前
記検出手段からの信すと設定値とを比較して被写体像の
明るさをtiIJIllするIll m手段とを備えた
ものにおいて、前記検出手段への入力信号の高輝度部分
を、調整可能なクリップレベルでクリップするクリップ
手段を設けたものである。
する手段からの信号のレベルを検出する検出手段と、前
記検出手段からの信すと設定値とを比較して被写体像の
明るさをtiIJIllするIll m手段とを備えた
ものにおいて、前記検出手段への入力信号の高輝度部分
を、調整可能なクリップレベルでクリップするクリップ
手段を設けたものである。
[作用]
本発明では、被写体像を電気信号に変換する手段からの
信号は、クリップ手段にて、調整可能なクリップレベル
で高輝度部分がクリップされた後、検出手段に入力され
、この検出手段にて入力信号のレベルが検出され、この
検出手段からの信号と設定値とを比較して明るさが制御
される。
信号は、クリップ手段にて、調整可能なクリップレベル
で高輝度部分がクリップされた後、検出手段に入力され
、この検出手段にて入力信号のレベルが検出され、この
検出手段からの信号と設定値とを比較して明るさが制御
される。
[実施例1
以下、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図ないし第7図は本発明の第1実施例に係り、第1
図は本実施例の概要を示すブロック図、第2図(a)及
び(b)はクリップ回路におけるクリップレベルの設定
を説明するための波形図、第3図はクリップ回路がない
場合の平均値検出回路への入力を示す波形図、第4図(
a)はクリップ回路への入力を示寸波形図、第4図(b
)は平均値検出回路への入力を示す波形図、第5図は本
実施例の構成を示すブロック図、第6図は内視鏡装置の
全体を示す側面図、第7図は内視鏡の先端部を示す説明
図である。
図は本実施例の概要を示すブロック図、第2図(a)及
び(b)はクリップ回路におけるクリップレベルの設定
を説明するための波形図、第3図はクリップ回路がない
場合の平均値検出回路への入力を示す波形図、第4図(
a)はクリップ回路への入力を示寸波形図、第4図(b
)は平均値検出回路への入力を示す波形図、第5図は本
実施例の構成を示すブロック図、第6図は内視鏡装置の
全体を示す側面図、第7図は内視鏡の先端部を示す説明
図である。
まず、第1図ないし第4図を参照して、本実施例の概要
を説明する。
を説明する。
本実施例における明るさ制御は、内視鏡用光源装置内の
絞り1を制wJするものであり、絞り1は絞り制御装置
2によって制御されるようになっている。前記絞り制御
l装置2には、明るさの設定値を発生する設定値発生回
路3と平均値検出回路4とが接続されている。被写体像
を搬像して得られた映像信号は、クリップ回路5を経て
、前記平均値検出回路4に入力されるようになっている
。また、前記設定値発生回路3は、前記クリップ回路5
でクリップするレベルも設定づるようになっている。
絞り1を制wJするものであり、絞り1は絞り制御装置
2によって制御されるようになっている。前記絞り制御
l装置2には、明るさの設定値を発生する設定値発生回
路3と平均値検出回路4とが接続されている。被写体像
を搬像して得られた映像信号は、クリップ回路5を経て
、前記平均値検出回路4に入力されるようになっている
。また、前記設定値発生回路3は、前記クリップ回路5
でクリップするレベルも設定づるようになっている。
このような構成において、映像信号は、クリップ回路5
にて高輝度部分がクリップされる。クリップレベルは、
設定値発生回路3によって設定される。前記クリップ回
路5の出力は、平均値検出回路4に入力されて積分され
、平均値が求められる。絞り制御回路2は、設定値発生
回路3で設定された設定値と平均値検出回路4の出力が
一致するように、絞り1を制御する。これにより、内祝
鏡像が一定の明るさに保たれる。
にて高輝度部分がクリップされる。クリップレベルは、
設定値発生回路3によって設定される。前記クリップ回
路5の出力は、平均値検出回路4に入力されて積分され
、平均値が求められる。絞り制御回路2は、設定値発生
回路3で設定された設定値と平均値検出回路4の出力が
一致するように、絞り1を制御する。これにより、内祝
鏡像が一定の明るさに保たれる。
本実施例では、クリップ回路5でクリップするレベルは
、−様な被写体を搬像した場合に得られる第2図(a)
に示すような映像信号のピーク値yの1〜2倍の値に設
定される。尚、第2図ないし第4図は、1水平走査期間
の映像信号を示している。従って、−様な被写体を撮像
した場合の映像信号がクリップ回路5を経て平均値検出
回路4に入力される場合、第2図(b)に示すように、
平均値検出回路4の入力は、クリップ回路5の入力と同
じになる。
、−様な被写体を搬像した場合に得られる第2図(a)
に示すような映像信号のピーク値yの1〜2倍の値に設
定される。尚、第2図ないし第4図は、1水平走査期間
の映像信号を示している。従って、−様な被写体を撮像
した場合の映像信号がクリップ回路5を経て平均値検出
回路4に入力される場合、第2図(b)に示すように、
平均値検出回路4の入力は、クリップ回路5の入力と同
じになる。
ここで、第3図に、クリップ回路5がない場合の平均値
検出四路4への入力信号の一例を示す。
検出四路4への入力信号の一例を示す。
また、第4図(a>に、クリップ回路5へ入力される高
輝度部分を有する映像信号を示し、第4図(b)に、そ
の信号がクリップ回路5を経て平均値検出回路4へ入力
されるとぎの信号を示す。第3図と第4図(b)の信号
は、どちらも積分値は同じであるが、低輝度部分の輝度
が、第3図に比べて第4図(b)の方が高くなっている
。第4図(b)の状態では、高輝度部分はハレーション
となって観察不能となるが、注目領域である低輝度部分
が明るくなり、観察可能となφ。
輝度部分を有する映像信号を示し、第4図(b)に、そ
の信号がクリップ回路5を経て平均値検出回路4へ入力
されるとぎの信号を示す。第3図と第4図(b)の信号
は、どちらも積分値は同じであるが、低輝度部分の輝度
が、第3図に比べて第4図(b)の方が高くなっている
。第4図(b)の状態では、高輝度部分はハレーション
となって観察不能となるが、注目領域である低輝度部分
が明るくなり、観察可能となφ。
次に、第5図ないし第7図を用いて本実施例について詳
細に説明する。
細に説明する。
第6図に示ずように、内視鏡装置は電子内視鏡31を備
えている。この電子内祝1131は、細長で例えば可撓
性の挿入部32を有し、この挿入部32の後端に太径の
操作部33が連設されている。
えている。この電子内祝1131は、細長で例えば可撓
性の挿入部32を有し、この挿入部32の後端に太径の
操作部33が連設されている。
前記操作部33の後端部からは側方に可撓性のユニバー
サルコード34が延設され、このユニバーサルコード3
4の先端部にコネクタ35が設けられている≦前記電子
内祝1131は、前記コネクタ35を介して、光源装置
及び信号処理回路が内蔵されたビデオプロセッサ36に
接続されるようになっている。更に、前記ビデオプロセ
ッサ36には、モニタ37が接続されるようになってい
る。
サルコード34が延設され、このユニバーサルコード3
4の先端部にコネクタ35が設けられている≦前記電子
内祝1131は、前記コネクタ35を介して、光源装置
及び信号処理回路が内蔵されたビデオプロセッサ36に
接続されるようになっている。更に、前記ビデオプロセ
ッサ36には、モニタ37が接続されるようになってい
る。
前記挿入部32の先端側には、硬性の先端部39が設け
られ、この先端部39に隣接する後方側に、湾曲可能な
湾曲部40が設けられている。また、前記操作部33に
は、湾曲操作ノブ41が設けられ、この湾曲操作ノブ4
1を回動操作することにより、前記湾曲部40を上下/
左右方向に湾曲できるようになっている。また、前記操
作部33には、前記挿入部32内に設けられた処置具チ
ャンネルに連通する挿入口42が設けられている。
られ、この先端部39に隣接する後方側に、湾曲可能な
湾曲部40が設けられている。また、前記操作部33に
は、湾曲操作ノブ41が設けられ、この湾曲操作ノブ4
1を回動操作することにより、前記湾曲部40を上下/
左右方向に湾曲できるようになっている。また、前記操
作部33には、前記挿入部32内に設けられた処置具チ
ャンネルに連通する挿入口42が設けられている。
第7図に示すように、電子内視!1141の挿入部32
内には、照明光を伝達するライトガイド17が挿通され
ている。このライトガイド17の先端面は、挿入部32
の先端部39に設けられた配光レンズ18に対向してお
り、この配光レンズ18を通して、先端部39から照明
光を出射できるようになっている。また、前記ライトガ
イド17の入射端側は、ユニバーサルコード34内を挿
通されてコネクタ35に接続されている。また、前記先
端部39には、対物レンズ系19が設けられ、この対物
レンズ系19の結像位置に、COD等の固体1lilI
!素子を用いた撮像素子8が配設されている。尚、カラ
ーN像方式として同時式を用いた場合には、前記撮像索
子8の前面にカラーフィルタアレイが設けられる。前記
撮像索子8には、信号ケーブル20が接続され、この信
号ケーブル20は、前記挿入部32及びユニバーサルコ
ード34内を挿通されて前記コネクタ35に接続されて
いる。
内には、照明光を伝達するライトガイド17が挿通され
ている。このライトガイド17の先端面は、挿入部32
の先端部39に設けられた配光レンズ18に対向してお
り、この配光レンズ18を通して、先端部39から照明
光を出射できるようになっている。また、前記ライトガ
イド17の入射端側は、ユニバーサルコード34内を挿
通されてコネクタ35に接続されている。また、前記先
端部39には、対物レンズ系19が設けられ、この対物
レンズ系19の結像位置に、COD等の固体1lilI
!素子を用いた撮像素子8が配設されている。尚、カラ
ーN像方式として同時式を用いた場合には、前記撮像索
子8の前面にカラーフィルタアレイが設けられる。前記
撮像索子8には、信号ケーブル20が接続され、この信
号ケーブル20は、前記挿入部32及びユニバーサルコ
ード34内を挿通されて前記コネクタ35に接続されて
いる。
また、挿入部32内には、処置具16を挿通可能な処置
具チャンネル15が設けられている。
具チャンネル15が設けられている。
一方、第5図に示すように、前記ビデオプロセッサ36
内には、ランプ21が設けられ、このランプ21から出
射された照明光は、レンズ22で集光され、絞り1で光
曇調節され、前記ライトガイド17の入射端に入射され
るようになっている。
内には、ランプ21が設けられ、このランプ21から出
射された照明光は、レンズ22で集光され、絞り1で光
曇調節され、前記ライトガイド17の入射端に入射され
るようになっている。
また、前記撮像索子8の出力信号は、内祝&1131内
の信号ケーブル20を通して、ビデオプロセッサ36内
の信号処理回路(1)9に入力されるようになっている
。この信号処理回路(1)9では、II素子8の出力の
キャリア除去、輝度信号1色付号の分離等が行われる。
の信号ケーブル20を通して、ビデオプロセッサ36内
の信号処理回路(1)9に入力されるようになっている
。この信号処理回路(1)9では、II素子8の出力の
キャリア除去、輝度信号1色付号の分離等が行われる。
これらの信号は、信号処理回路(2)10へ送られ、N
TSC信号への変換等が行われ、モニタ37へ出力され
るようになっている。
TSC信号への変換等が行われ、モニタ37へ出力され
るようになっている。
また、前記信号処理回路(1)9の出力のうち、輝度信
号は、調光用信号としてクリップ回路4とピーク値検出
回路6とに入力されるようになっている。前記クリップ
回路4の出力は、平均値検出回路5に入力されるように
なっている。また、切換スイッチ24にて、平均値検出
回路5の出力とピーク値検出回路6の出力の一方が選択
されて、絞り制御回路2に入力されるようになっている
。
号は、調光用信号としてクリップ回路4とピーク値検出
回路6とに入力されるようになっている。前記クリップ
回路4の出力は、平均値検出回路5に入力されるように
なっている。また、切換スイッチ24にて、平均値検出
回路5の出力とピーク値検出回路6の出力の一方が選択
されて、絞り制御回路2に入力されるようになっている
。
そして、この絞り制御回路2にて、前記較り1がLll
[1されるようになっている。また、明るさの設定値を
発生する設定値発生回路3が設けられ、この設定値発生
回路3は、絞り制御回路2とクリップ回路4とに設定値
を送るようになっている。また、フロントパネル7によ
って、前記切換スイッチ24の切換と、設定値発生回路
3が発生する設定値の設定が可能になっている。
[1されるようになっている。また、明るさの設定値を
発生する設定値発生回路3が設けられ、この設定値発生
回路3は、絞り制御回路2とクリップ回路4とに設定値
を送るようになっている。また、フロントパネル7によ
って、前記切換スイッチ24の切換と、設定値発生回路
3が発生する設定値の設定が可能になっている。
前記ピーク値検出回路6は、1フイ一ルド間の輝度信号
のピークを、次の1フイ一ルド間保持する回路である。
のピークを、次の1フイ一ルド間保持する回路である。
一方、前記クリップ回路4は、フロントパネル7による
設定に応じて設定値発生回路3で作成した信号レベルに
連動したクリップレベルを作成し、このクリップレベル
以上の信号をクリップする。例えば、フロントパネル7
の設定が、平均値測光選択で且つ設定範囲の中央のとき
設定値発生回路3の絞り制御回路2に対する出力がX
[V (ボルト)]とすると、絞りの制御可能範囲内(
光量が充分とれている範囲内)では、平均値検出回路5
の出力もx[V]となっている。
設定に応じて設定値発生回路3で作成した信号レベルに
連動したクリップレベルを作成し、このクリップレベル
以上の信号をクリップする。例えば、フロントパネル7
の設定が、平均値測光選択で且つ設定範囲の中央のとき
設定値発生回路3の絞り制御回路2に対する出力がX
[V (ボルト)]とすると、絞りの制御可能範囲内(
光量が充分とれている範囲内)では、平均値検出回路5
の出力もx[V]となっている。
この状態で、輝度分布が−様な被写体を撮像した場合の
クリップ回路4への信号入力のレベルを第2図(a)に
示すようにyとすると、クリップレベルはこのyの1〜
2倍となるように設定される。
クリップ回路4への信号入力のレベルを第2図(a)に
示すようにyとすると、クリップレベルはこのyの1〜
2倍となるように設定される。
設定値発生回路3の出力Xとyは比例関係にあるので、
クリップレベルもXに比例することになり、フロントパ
ネル7による明るさの設定に連動したクリップレベルが
作成される。このことにより、フロントパネル7の設定
が明るくても暗くても、同様の効果を得ることができる
ようになっている。
クリップレベルもXに比例することになり、フロントパ
ネル7による明るさの設定に連動したクリップレベルが
作成される。このことにより、フロントパネル7の設定
が明るくても暗くても、同様の効果を得ることができる
ようになっている。
次に、本実施例の動作について説明する。
ランプ21から出射された照明光は、レンズ22で集光
され較り1で光Wi調節され、ライトガイド17.配光
レンズ18を経て被写体に照射される。対物レンズ系1
9にて結像された被写体像は、撮像素子8にて光電変換
され、このrimli4子8の出力信号は、信号処理回
路(1)9.信号処理回路(2)10にて信号処理され
てモニタ37に出力され、このモニタ37に被写体像が
表示される。
され較り1で光Wi調節され、ライトガイド17.配光
レンズ18を経て被写体に照射される。対物レンズ系1
9にて結像された被写体像は、撮像素子8にて光電変換
され、このrimli4子8の出力信号は、信号処理回
路(1)9.信号処理回路(2)10にて信号処理され
てモニタ37に出力され、このモニタ37に被写体像が
表示される。
また、信号処理回路(1)9からの輝度信号は、クリッ
プ回路4とピーク値検出回路6とに入力される。フロン
トパネル7で平均値測光を選択した場合には、クリップ
回路4にて高輝度部分がクリップされた輝度信号が平均
値検出回路5にて積分されこの積分値が絞り制御回路2
に入力される。
プ回路4とピーク値検出回路6とに入力される。フロン
トパネル7で平均値測光を選択した場合には、クリップ
回路4にて高輝度部分がクリップされた輝度信号が平均
値検出回路5にて積分されこの積分値が絞り制御回路2
に入力される。
ここで、輝度差の少ない被写体を撮像した場合には、ク
リップレベルを超える信号がないため、被写体の輝度全
体の積分値が設定値発生回路3の設定値Xと等しくなる
ように、絞り制御回路2にて絞り1が動作される。一方
、処置具16の使用等、第4図(a)に示づように輝度
差の大きい被写体を撮像した場合には、クリップレベル
以下の輝度の積分値がXと等しくなるように絞り1が動
作する。すなわち、クリップレベル以上の高輝度部分を
無視するよう動作し、クリップ回路4がない場合に比べ
て全体に明るい画像となる。そのため、低輝度部分が明
るくなり観察可能となる。
リップレベルを超える信号がないため、被写体の輝度全
体の積分値が設定値発生回路3の設定値Xと等しくなる
ように、絞り制御回路2にて絞り1が動作される。一方
、処置具16の使用等、第4図(a)に示づように輝度
差の大きい被写体を撮像した場合には、クリップレベル
以下の輝度の積分値がXと等しくなるように絞り1が動
作する。すなわち、クリップレベル以上の高輝度部分を
無視するよう動作し、クリップ回路4がない場合に比べ
て全体に明るい画像となる。そのため、低輝度部分が明
るくなり観察可能となる。
一方、フロントパネル7でピーク値測光を選択した場合
には、ピーク値検出回路6にて検出されたピーク値が設
定発生回路3の設定値と等しくなるように絞り1が動作
し、高輝匪部分が適正な明るさとなる。
には、ピーク値検出回路6にて検出されたピーク値が設
定発生回路3の設定値と等しくなるように絞り1が動作
し、高輝匪部分が適正な明るさとなる。
以上説明したように、本実施例によれば、輝度差の少な
い被写体、及び処置具使用時等の、輝度差の大きい被写
体で且つ低輝度部分に注目領域がある被写体の場合には
、平均値測光を選択することで、明るさの設定値を変え
る等の煩雑な操作なしに、処置具先端近傍等の注目領域
について適正な明るさを得ることができる。また、1f
iIf差の大きい被写体で且つ高輝度部分に注目領域が
ある場合にはピーク値測光を選択することで注目領域に
ついて適正な明るさを得ることができる。
い被写体、及び処置具使用時等の、輝度差の大きい被写
体で且つ低輝度部分に注目領域がある被写体の場合には
、平均値測光を選択することで、明るさの設定値を変え
る等の煩雑な操作なしに、処置具先端近傍等の注目領域
について適正な明るさを得ることができる。また、1f
iIf差の大きい被写体で且つ高輝度部分に注目領域が
ある場合にはピーク値測光を選択することで注目領域に
ついて適正な明るさを得ることができる。
このようにして、平均値測光とピーク値測光を切換える
ことにより、全ての被写体に対して適正な明るさを得る
ことが可能となる。
ことにより、全ての被写体に対して適正な明るさを得る
ことが可能となる。
また、明るさの設定に連動して、求める明るさに適した
クリップレベルが設定されるので、明るさの設定レベル
によらず同様の効果が得られ、注目領域を求める明るさ
で観察づることが可能となる。
クリップレベルが設定されるので、明るさの設定レベル
によらず同様の効果が得られ、注目領域を求める明るさ
で観察づることが可能となる。
尚、クリップレベルを、明るさの設定に連動させずに手
動に(調整可能にしても良い。
動に(調整可能にしても良い。
第8図は本発明の第2実施例における内視鏡装置の構成
を示すブロック図である。
を示すブロック図である。
本実施例は、第1実施例に対して、自動利得制m<以下
、AGCと記す。)手段51を付加したものである。す
なわら、信号処理回路(1)9と信号処理回路(2)1
0の間に、ゲイン可変アンプ12が設けられている。ま
た、このゲイン可変アンプ12の出力は、クリップ回路
54とピーク値検出回路56とに人力されるようになっ
ている。
、AGCと記す。)手段51を付加したものである。す
なわら、信号処理回路(1)9と信号処理回路(2)1
0の間に、ゲイン可変アンプ12が設けられている。ま
た、このゲイン可変アンプ12の出力は、クリップ回路
54とピーク値検出回路56とに人力されるようになっ
ている。
前記クリップ回路54の出力は、平均値検出回路55に
入力されるようになっている。また、切換スイッチ52
にて、平均値検出回路55の出力とピーク値検出回路5
6の出力の一方が選択されて、ゲイン制御信号として前
記ゲイン可変アンプ12に入力されるようになっている
。そして、検出回路55または56の出力が一定になる
ようにゲイン可変アンプ12のゲインが制御される。ま
た、設定値発生回路3から前記クリップ回路54に設定
値が送られるようになっている。また、フロントパネル
7によって、前記切換スイッチ52の切換が可能になっ
ている。
入力されるようになっている。また、切換スイッチ52
にて、平均値検出回路55の出力とピーク値検出回路5
6の出力の一方が選択されて、ゲイン制御信号として前
記ゲイン可変アンプ12に入力されるようになっている
。そして、検出回路55または56の出力が一定になる
ようにゲイン可変アンプ12のゲインが制御される。ま
た、設定値発生回路3から前記クリップ回路54に設定
値が送られるようになっている。また、フロントパネル
7によって、前記切換スイッチ52の切換が可能になっ
ている。
このAGC手段51によれば、絞り制御と同様に、平均
値測光を選択すると、クリップレベル以上の高m度部分
を無視するよう動作して、輝度差の少ない被写体及び輝
度差の大きい被写体で且つ低輝度部分に注目領域がある
被写体の場合に、注目領域について適正な明るさを得る
ことができる。
値測光を選択すると、クリップレベル以上の高m度部分
を無視するよう動作して、輝度差の少ない被写体及び輝
度差の大きい被写体で且つ低輝度部分に注目領域がある
被写体の場合に、注目領域について適正な明るさを得る
ことができる。
また、ピーク値測光を選択すると、輝度差の大きい被写
体で且つへi’pm部分に注目領域がある場合に注目領
域について適正な明るさを得ることができる。
体で且つへi’pm部分に注目領域がある場合に注目領
域について適正な明るさを得ることができる。
本実施例のように絞りを制御する自動光量制御(ALC
)とAGCとを併用することにより、例えば、絞り1が
開ききって、ALCが動作限界に達した後も、AGCの
動作により明るさを一定に保つことができる。
)とAGCとを併用することにより、例えば、絞り1が
開ききって、ALCが動作限界に達した後も、AGCの
動作により明るさを一定に保つことができる。
その他の構成1作用及び効果は第1実施例と同様である
。
。
尚、本発明は、上記各実施例に限定されず、例えば、被
写体像の明るさを制御−46制御手段としてAGCのみ
を有する装置にも適用することができる。
写体像の明るさを制御−46制御手段としてAGCのみ
を有する装置にも適用することができる。
また、本発明が適用される内視鏡は、先端に固体撮像素
子を右づるタイプでも、光学ファイバによるイメージガ
イドを経由して被観察物の外部に像を導いてから撮像素
子で搬像するタイプのいずれでも良い。また、l[E1
方式としては、同時式でb面順次式でし良い。
子を右づるタイプでも、光学ファイバによるイメージガ
イドを経由して被観察物の外部に像を導いてから撮像素
子で搬像するタイプのいずれでも良い。また、l[E1
方式としては、同時式でb面順次式でし良い。
[発明の効果]
以上説明したように本発明によれば、高輝度部分がクリ
ップされた後の信号のレベルと設定値とを比較して明る
さを制60するようにしたので、処置具使用時等、輝度
差の大きい被写体の低輝度側に注目領域がある場合にも
、その注目領域を適正な明るさで観察することが可能に
なるという効果がある。
ップされた後の信号のレベルと設定値とを比較して明る
さを制60するようにしたので、処置具使用時等、輝度
差の大きい被写体の低輝度側に注目領域がある場合にも
、その注目領域を適正な明るさで観察することが可能に
なるという効果がある。
第1図ないし第7図は本発明の第1実施例に係り、第1
図は本実施例の概要を示すブロック図、第2図(a)及
び(b)はクリップ回路におけるクリップレベルの設定
を説明するための波形図、第3図はクリップ回路がない
場合の平均値検出回路への入力を示す波形図、第4図(
a)はクリップ回路への入力を示づ波形図、第4図(b
)は平均値検出回路への入力を示す波形図、第5図は本
実施例の構成を示すブロック図、第6図は内視鏡装置の
全体を示す側面図、第7図は内視鏡の先端部を示−J
、W明図、第8図は本発明の第2実施例における内視鏡
装置の構成を示すブロック図、第9図は処置具使用時の
モニタ画面を示す説明図である。 1・・・絞り 2・・・絞り制御回路3・・
・設定値発生回路 4・・・クリップ回路5・・・平均
値検出回路 6・・・ピーク値検出回路8・・・II像
素子 第5図 第1図 HD 第3図 HD 第72
図は本実施例の概要を示すブロック図、第2図(a)及
び(b)はクリップ回路におけるクリップレベルの設定
を説明するための波形図、第3図はクリップ回路がない
場合の平均値検出回路への入力を示す波形図、第4図(
a)はクリップ回路への入力を示づ波形図、第4図(b
)は平均値検出回路への入力を示す波形図、第5図は本
実施例の構成を示すブロック図、第6図は内視鏡装置の
全体を示す側面図、第7図は内視鏡の先端部を示−J
、W明図、第8図は本発明の第2実施例における内視鏡
装置の構成を示すブロック図、第9図は処置具使用時の
モニタ画面を示す説明図である。 1・・・絞り 2・・・絞り制御回路3・・
・設定値発生回路 4・・・クリップ回路5・・・平均
値検出回路 6・・・ピーク値検出回路8・・・II像
素子 第5図 第1図 HD 第3図 HD 第72
Claims (1)
- 被写体像を電気信号に変換する手段からの信号のレベル
を検出する検出手段と、前記検出手段からの信号と設定
値とを比較して被写体像の明るさを制御する制御手段と
を備えた電子内視鏡装置において、前記検出手段への入
力信号の高輝度部分を、調整可能なクリップレベルでク
リップするクリップ手段を設けたことを特徴とする電子
内視鏡装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1291586A JPH07108278B2 (ja) | 1989-11-08 | 1989-11-08 | 電子内視鏡装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1291586A JPH07108278B2 (ja) | 1989-11-08 | 1989-11-08 | 電子内視鏡装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03151930A true JPH03151930A (ja) | 1991-06-28 |
JPH07108278B2 JPH07108278B2 (ja) | 1995-11-22 |
Family
ID=17770856
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1291586A Expired - Lifetime JPH07108278B2 (ja) | 1989-11-08 | 1989-11-08 | 電子内視鏡装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH07108278B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05168590A (ja) * | 1991-12-26 | 1993-07-02 | Olympus Optical Co Ltd | 内視鏡装置 |
JPH05211996A (ja) * | 1992-02-03 | 1993-08-24 | Toshiba Corp | スコープ画像の均一性補正方法 |
JP2017153968A (ja) * | 2015-07-13 | 2017-09-07 | ソニー株式会社 | 医療用観察装置、医療用観察装置の作動方法、内視鏡システム、及び手術用顕微鏡システム |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4503931B2 (ja) * | 2003-03-05 | 2010-07-14 | オリンパス株式会社 | 電子内視鏡装置 |
-
1989
- 1989-11-08 JP JP1291586A patent/JPH07108278B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05168590A (ja) * | 1991-12-26 | 1993-07-02 | Olympus Optical Co Ltd | 内視鏡装置 |
JPH05211996A (ja) * | 1992-02-03 | 1993-08-24 | Toshiba Corp | スコープ画像の均一性補正方法 |
JP2017153968A (ja) * | 2015-07-13 | 2017-09-07 | ソニー株式会社 | 医療用観察装置、医療用観察装置の作動方法、内視鏡システム、及び手術用顕微鏡システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH07108278B2 (ja) | 1995-11-22 |
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