JPH03135507A - ガルバノメータミラーの調整装置 - Google Patents

ガルバノメータミラーの調整装置

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JPH03135507A
JPH03135507A JP1274370A JP27437089A JPH03135507A JP H03135507 A JPH03135507 A JP H03135507A JP 1274370 A JP1274370 A JP 1274370A JP 27437089 A JP27437089 A JP 27437089A JP H03135507 A JPH03135507 A JP H03135507A
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JP
Japan
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time
adjustment
galvanometer mirror
signal
light beam
Prior art date
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Pending
Application number
JP1274370A
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English (en)
Inventor
Akira Yamaguchi
晃 山口
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Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明はガルバノメータミラーの調整装置に関し、−層
詳細には、被走査体をガルバノメータミラーによって偏
向された光ビームにより走査して画像等の読取あるいは
記録を行う光ビーム走査装置に組み込まれるガルバノメ
ータミラーのオフセット並びに速度の調整装置に関する
[従来の技術] 従来から、光偏向器であるガルバノメータミラーによっ
て一次元方向に偏向された光ビームにより被走査体を主
走査するとともに、この被走査体を主走査方向と略直交
する方向(副走査方向)に相対的に移動して被走査体を
二次元的に走査するよう構成した光ビーム走査装置が各
種記録装置または読取装置として広汎に使用されている
例えば、放射線画像情報が蓄積記録された蓄積性蛍光体
シートをレーザ光等の励起光により走査し放射線画像情
報を有する輝尽発光光を生じさせ、この輝尽発光光をフ
ォトマルチプライヤ等の光電検出手段を用いて光電的に
検出することにより画像信号を得るように構成した放射
線画像情報読取装置がその好例と謂えよう。なお、ここ
で、蓄積性蛍光体とは、放射線(X線、α線、β線、γ
線、電子線および紫外線等)を照射するとこの放射線エ
ネルギの一部を蓄積し、後に可視光等の励起光を照射す
ることにより蓄積されたエネルギに応じて輝尽発光光を
生じる蛍光体をいい、また、蓄積性蛍光体シートとは当
該蓄積性蛍光体からなる層を有するシートをいう。
ところで、前記放射線画像情報読取装置においては、蓄
積性蛍光体シートを主走査する光ビームの走査線毎の読
取開始位置並びに主走査速度(読取速度)は一定である
ことが望ましい。
すなわち、走査線毎の読取開始位置(以下、単に読取開
始位置という)が一定であれば、常に、前記蓄積性蛍光
体シートの所定の位置からの画像情報が正確に得られ、
一方、主走査速度が一定であれば、画像情報の1画素あ
たりのサンプリング時間が均等となり、画像情報をむら
なく読み取ることが出来るからである。そして、これら
読取開始位置並びに主走査速度は、夫々、光ヒームを偏
向するガルバノメータミラーの位置オフセット並びに偏
向速度に依存して変化する。
ところが、前記ガルバノメータミラーは機械的可動部分
が多い構成であるため、周囲温度等の環境条件の変動に
よって、その位置オフセットおよび偏向範囲が機械的に
僅かにずれる場合がある。この場合、機械的な僅かなず
れ、例えば、ミラーのアライメントの僅かな位置ずれ等
であっても、蓄積性蛍光体シート上の読取開始位置並び
に光ビームの走査速度は相当に変化する。
そこで、この環境条件による読取開始位置・走査速度の
変動を除去するために、次のような調整作業が遂行され
ている。すなわち、先ず、走査用の光ビームをハーフミ
ラ−等により分割し、この分割した同期用の光ビームを
光透過部と非透過部(反射部)とが交互に配設されてな
る明暗パターンを有する光学格子(以下、グリッドとい
う)に導いて走査することでパルス光を生成する。次い
で、このパルス光から得られるグリッド信号に基づいて
同期信号を発生し、この同期信号を用いてガルバノメー
タミラーを駆動するのこぎり波状の電気信号(以下、の
こぎり波信号という)の直流オフセットおよび速度に対
応する傾斜(単位時間あたりの電流または電圧の変化量
、以下、単に走査速度という)を可変とし、ガルバノメ
ータミラーのオフセットおよび速度を調整している。
このようにオフセット並びに速度を調整する場合、前記
蓄積性蛍光体シートの読取開始位置を決定する基準信号
が必要である。この基準信号を得る方策として、従来は
前記グリッドの端部に配設される非透過部を幅広に形成
し、この幅広非透過部を同期用光ビームで走査した後に
最初に発生するパルス光を基準信号とする方法あるいは
蓄積性蛍光体シートの読取開始位置に対応して同期用光
ビームの走査区域の先端位置近傍に光検出センサを配設
し、この光検出センサから得られるパルス光を基準信号
とする方策等が採用されている。
[発明が解決しようとする課題] 然しながら、このような方策を選択した場合においても
、前記したガルバノメータミラーの位置オフセットのず
れは相当に大きいため、結局、同期用光ビームの走査域
が前記グリッド上の幅広な非透過部あるいは読取開始位
置に対応して配設した光検出センサから外れる場合が生
ずる。この場合においては、最早、オフセット並びに走
査速度を調整をするための基準信号が発生しないのでガ
ルバノメータミラーの自動調整が出来ないという欠点が
内在している。
本発明は前記の不都合を克服するためになされたもので
あって、前記グリッドに明暗パターンの位相変調部分を
複数個所形成し、グリッド上を同期用の光ビームで走査
する際、先ず、走査あたりの位相変調部分の検出数が所
定の数となるようにガルバノメータミラーを駆動するの
こぎり波信号のオフセットを調整し、次いで、前記位相
変調部分に係るパルス発生の後、グリッド信号の所定の
パルス数を発生する時間が予め設定した所定の時間にな
るようにガルバノメータミラーを駆動するのこぎり波信
号の傾斜を調整することによって、ガルバノメータミラ
ーのオフセット並びに速度を自動的に調整することを可
能とするガルバノメータミラーの調整装置を提供するこ
とを目的とする。
なお、本発明と同一の目的を有する従来技術として、本
出願人の出願に係る特開平第1−144012号公報に
開示された技術を掲げることが出来る。本発明はこの技
術に関連してなされたものであって、さらに、オフセッ
トと速度の正確性および調整の際の安定性等を高めたも
のである。
[課題を解決するための手段] 前記の課題を解決するために、本発明に係るガルバノメ
ータミラーの調整装置の第1発明は第1図のように構成
されている。
同図において、のこぎり波信号発生手段(10)によっ
て駆動されるガルバノメータミラー(12)により光ビ
ーム発生手段(13)から発生された光ビーム<L)を
−次元方向に偏向し、当該偏向された光ビーム(L)で
被走査体を主走査するとともに、該被走査体を主走査方
向と略直交する方向に相対的に移動して被走査体を二次
元的に走査し文字情報、画像情報等の記録あるいは読取
を行うにあたり、(N)個の位相変調部を有する明暗パ
ターンが形成されたグリッド(14)を同期用光ビーム
(L b)により主走査方向に走査し、該グリッド(1
4)を通過した光ビーム(L b)を光電検出手段(1
6)により光電的に検出した後、波形整形手段(18)
により波形整形してグリッド信号を得、当該グリッド信
号を所定逓倍して同期信号を得る光ビーム走査装置にお
けるガルバノメータミラーの調整装置であって、 ガルバノメータミラー(12)を駆動するのこぎり波信
号の周期に対応した周期の第1クロックパルスを発生す
る第1クロックパルス発生手段(20)と、 前記第1クロックパルスに同期して第1遅延時間(td
1)後に第1ゲートパルスを発生する第1ゲートパルス
発生手段(22)と、前記第1クロックパルスに同期し
て第2遅延時間(t 、+z)後(ta2> td1)
に第2ゲートパルスを発生する第2ゲートパルス発生手
段(24)と、 前記波形整形手段(18)に接続され、当該波形整形手
段(18)から導入されるグリッド信号から前記位相変
調部に対応する第2のクロックパルスを発生する第2ク
ロックパルス発生手段(26)と、 前記第1クロックパルスによって計数値が零値とされた
後、前記第1ゲートパルス発生期間に存する第2クロッ
クパルスの数(n、)を計数する第1計数手段(28)
と、 前記第1クロックパルスによって計数値が零値とされた
後、前記第2ゲートパルス発生期間に存する第2クロッ
クパルスの数(n2)を計数する第2計数手段(30)
と、 前記第1クロックパルスの発生時点から前記第1ゲート
パルス発生期間に存する第2クロックパルスの中、先頭
となるクロックパルスが発生する時点までの第1調整時
間(jno+)を計時する第1計時手段(32)と、 前記第1クロックパルスの発生時点から前記第2ゲート
パルス発生期間内に存する第2クロックパルスの中、先
頭となるクロックパルスが発生する時点までの第2調整
時間(tHo2)を計時する第2計時手段(34)と、 前記第1計数手段(28)によって計数される第2クロ
ックパルスの数(n1)、(n2)を、夫々、(n+ 
=N) 、(na =N  1 )とし、前記第1計時
手段(32)および第2計時手段(34)によって計時
される第1調整時間(tH[11)および第2調整時間
(tHD□)を、夫々、予め定められた設定時間(T)
IDl ±ΔTHDI>、(Tイ。2±ΔTHoz)内
となるよう前記のこぎり波信号発生手段(10)から出
力されるのこぎり波信号のオフセット量を制御する制御
手段(36)と、 を備えることを特徴とする。
また、本発明に係るガルバノメータミラーの調整装置の
第2発明は、さらに前記第1ゲートパルス発生期間に存
する第2クロックパルスの中の所定の2個のクロックパ
ルス間の時間差である第3調整時間(tV)を測定する
第3計時手段(38)を含み、前記制御手段(36)は
前記第3調整時間(tv)が予め定められた設定時間(
TV土ΔTv)内となるよう前記のこぎり波信号発生手
段(10)から出力されるのこぎり波信号の傾斜量を制
御することを特徴とする。
[作用] 以上のように構成される本発明に係るガルバノメータミ
ラーの調整装置にかかる第1の発明では、ガルバノメー
タミラー(12)を駆動するのこぎり波信号を発生する
のこぎり波信号発生手段(10)、レーザ光源等からな
る光ビーム発生手段(13)、N個の位相変調部を有す
る明暗パターンが形成されたグリッド(14)、受光素
子等からなる光電検出手段(16)および比較器等から
なる波形整形手段(18)を含み、さらに第1クロック
パルス発生手段(20)と、第1ゲートパルス発生手段
(22)と、第2ゲートパルス発生手段(24)と、第
2クロックパルス発生手段(26)と、第1計数手段(
28)と、第2計数手段(30)と、第1計時手段(3
2)と、第2計時手段(34)と、制御手段(36)と
を有している。
前記第1クロックパルス発生手段(20)は、例えば、
水晶発振器から構成され、ガルバノメータミラー(12
)に供給されるのこぎり波信号の周期に対応する周期の
第1クロックパルスを発生し、前記第1、第2ゲートパ
ルス発生手段(22)、り24)と、前記第1、第2計
時手段(32)、(34)と、制御手段(36)とに導
入するものである。
前記第1ゲートパルス発生手段(22)は、例えば、ワ
ンショットマルチバイブレータから構成され、前記第1
クロックパルスに同期して遅延時間(td1)後に第1
ゲートパルスを発生し、カウンタ等からなる第1計数手
段(28)の入力端子に導入するものである。
また、前記第2ゲートパルス発生手段(24)は、例え
ば、ワンショットマルチバイブレークから構成され、前
記第1クロックパルスに同期して遅延時間(t=+z)
後(tdl<td2)に第2ゲートパルスを発生し、当
該第2ゲートパルスをカウンタ等からなる第2計数手段
(30)の入力端子に導入するものである。
さらに、前記第2クロックパルス発生手段(26)はタ
イマ等からなり、ガルバノメータミラー(12)により
偏向された光ビーム(L b)によって走査される(N
)個の位相変調部を有するグリッド(14)を透過した
光ビームを基に光電検出手段(16)および波形整形手
段(18)によって生成されたグリッド信号から、前記
位相変調部に対応する第2のクロックパルスを発生し、
当該第2クロックパルスを前記第1計数手段(28)、
第2計数手段(30)、タイマ等からなる第1計時手段
(32)、同様に、タイマ等からなる第2計時手段(3
4)の一方の入力端子に導入するものである。
前記第1計数手段(28)は前記第1クロックパルスに
よって計数値が零値とされた後、前記第1ゲートパルス
発生期間内に到来する前記位相変調部に対応して発生す
る第2クロックパルスの数(n1)を計数してマイクロ
プロセッサ等からなる制御手段(36)に送給するもの
である。
前記第2計数手段(30)は前記第1クロックパルスに
よって計数値が零値とされた後、前記第2ゲートパルス
発生期間内に到来する前記位相変調部に対応して発生す
る第2クロックパルスの数(n2)を計数して制御手段
(36)に送給するものである。
さらに、前記第1計時手段(32)は前記第1ゲートパ
ルス発生期間に到来する第2クロックパルスの中、先頭
のクロックパルスが発生する時点までの第1調整時間(
tune)を計時して制御手段(36)に送給するもの
である。
さらにまた、前記第2計時手段(34)は前記第1クロ
ックパルスの発生時点から前記第2ゲートパルス発生期
間内に到来する第2クロックパルスの中、先頭となるク
ロックパルスが発生する時点までの第2調整時間(t 
HO2)を計時して制御手段(36)に送給するもので
ある。
数nl、n2にかかる計数値および第1調整時間(tH
ot)、第2調整時間(、too2)を受けた制御手段
(36)は、数(n、)が(N)となり、数(n2)が
(N−1>となるようにのこぎり波信号発生手段(10
)に送給するオフセット量を調整し、さらに前記第1調
整時間(t 1!111)および第2調整時間(tH+
12)が、夫々、予め定められた設定時間(’Ltp、
±ΔT)+01)、(T □。2±△T u n 2 
)となるように前記のこぎり波信号発生手段(10)に
送給するオフセット量を調整するものである。
本発明に係るガルバノメータミラーの調整装置の第2発
明では、さらにカウンタ等からな、る第3計時手段(3
8)を有し、当該第3計時手段(38)においては前記
第1ゲートパルス発生期間に存する第2クロックパルス
の中、所定の2個のクロックパルス間の時間差である第
3調整時間(t、)を測定して制御手段(36)に送給
するものである。
制御手段(36)は前記第3調整時間(t、)が予め定
められた設定時間(T、±ΔTV)内となるように前記
のこぎり波信号発生手段(10)に供給する傾斜量を調
整するものである。
以上、第1の発明によってオフセットが調整され、第2
の発明によって速度が正確に調整される。
[実施例コ 次に、本発明に係るガルバノメータミラーの調整装置に
ついて実施例を挙げ、添付の図面を参照しながら説明す
る。
第2図において、参照符号50は本実施例に係るガルバ
ノメータミラーの調整装置を組み込む放射線画像情報読
取装置を示す。当該放射線画像情報読取装置50には放
射線画像情報が記録された被走査体、例えば、副走査方
向(矢印入方向)に搬送される蓄積性蛍光体シー)Sを
光ビームLaにより走査するレーザ走査部52と、前記
光ビームLaによる走査で得られた画像情報を有する光
を光電変換する画像読取部54と、光ビームLbの走査
位置を検出し同期信号を発生する同期信号発生部56と
、ガルバノメータミラー58を駆動するガルバノメータ
ミラー駆動部60と、前記画像読取部54からの信号を
同期信号に基づきデジタル画像情報に変換して図示しな
い画像メモリに蓄積する信号処理部62とから基本的に
a成される。
そこで、レーザ走査部52のレーザ光源64から発せら
れた光ビームLはビームエキスパンタロ6を通過して所
望の太さのビーム径に形成された後、矢印B方向に揺動
動作して光ビームLを反射するガルバノメータミラー5
8に入射して反射偏向される。ガルバノメータミラー5
8の揺動動作により反射偏向された光ビームLは光路中
に配設されたfθレンズ等の走査レンズ68を通過した
後、光路上に主走査方向に延在して配設されたハーフミ
ラ−70に入射する。このハーフミラ−70は入射した
光ビームLの中、走査に必要な量の光ビームを走査用の
光ビームLaとして反射し、残りの光ビームを同期用の
光ビームLbとして透過させる。前記ハーフミラ−70
により反射された光ビームLaは光路上に配設された蓄
積性蛍光体シートS上で集束し、蓄積性蛍光体シー)S
上を主走査方向く矢印C方向)に走査する。
前記画像読取部54は光ビームLaによって励起された
蓄積性蛍光体シートSから発生される輝尽発光光を集光
する光ガイド72と、集光された輝尽発光光を光電変換
するフォトマルチプライヤ74とを含む。この場合、光
ガイド72における輝尽発光光の受光面は蓄積性蛍光体
シートSに近接してその主走査方向に沿って配置されて
いる。前記フォトマルチプライヤ74の光電変換後の電
気信号は前記信号処理部62の中、ログアンプ76を介
してA/D変換器7日の信号入力端子に導入される。
一方、同期信号発生部56は前記ハーフミラ−70を通
過した光ビームLbを透過させる透過部80a(第3図
a参照)、前記透過部80aに比較して位相変調部に係
る幅広の透過部80cおよびこの光ビームLbを反射さ
せる反射部80bからなる明暗パターン82が前記光ビ
ームLbの走査方向(矢印り方向)に沿って交互に配設
されてなるグリッド84と、前記グリッド84の後方に
沿って配設される光電検出手段を構成する円柱状の光ガ
イド86と、前記光ガイド86の両端部に設けられグリ
ッド84から透過した光ビームLbを検出する光電検出
手段を構成し、且つ受光素子である光センサ88a、8
8bと、当該光センサ88a、88bから出力される基
準グリッド信号GRを波形整形する波形整形回路90と
、この波形整形回路90からの波形整形後の出力信号で
あるグリッド信号G、に基づいて同期信号TRを発生す
る同期信号発生回路92とから構成される。
前述のように、前記走査用の光ビームLaは蓄積性蛍光
体シートS上において主走査方向Cの所定の位置から実
質的な読取を行う主走査(以下、有効走査という)を開
始する必要があり、各走査線毎に有効走査の始点が同一
位置に制御される必要がある。そこで、当該放射線画像
情報読取装置50においては、前記グリッド84の明暗
パターン82を第3図aに示す特徴的な構成として始点
制御を行うようにしている。
すなわち、グリッド84の明暗パターン82は基本的に
は同期用光ビームLbを透過させる標準幅の透過部80
aと同期用光ビームLbを反射する非透過部である反射
ago bが一定のピッチで交互に形成され、そして、
適当な所定間隔毎にこれらの部分とはピッチが異なる、
所謂、位相変調部である幅広のN個の透過部80cが形
成される構成となっている。なお、本実施例において、
前記幅広透過部80Cの数Nは6個としている。この幅
広透過部80Cの数Nは最低限2個必要である。また、
前記グリッド84の端部には幅広の反射部80bが形成
されている。
前記同期信号発生回路92からの同期信号Tiは前記A
/D変換器78の同期信号入力端子および第2クロック
パルス発生手段としての変調検出部98に導入される。
この場合、前記同期信号発生回路92は、例えば、PL
L周波数逓倍シンセサイザから構成され、グリッド信号
G、を所定倍に逓倍した、所謂、画素クロックに対応す
る同期信号T、を発生する。
前記ガルバノメータミラー駆動部6oは、第1クロック
パルス発生手段としてのクロック発生器100と、第1
、第2ゲートパルス発生手段としてのワンショットマル
チバイブレーク1o2.104と、アンド回路10G 
とカウンタ10g とから構成される第1計数手段とし
てのカウンタ110と、同様に、アンド回路112とカ
ウンタ114とから構成される第2計数手段としてのカ
ウンタ116と、第1乃至第3計時手段としてのタイマ
118.120.122 と、CPUSROM、RAM
インタフェース等からなる制御手段としてのコントロー
ラ124と、当該コントローラ124から出力されるオ
フセラ)lデータD。f、を導入するD/A変換器12
G、前記コントローラ124から出力される傾斜量デー
タD l n cを導入するD/A変換器I28、積分
器130 、加算器132、増幅器133からなるのこ
ぎり波信号発生手段としてののこぎり波発生回路136
とから構成される。
本実施例に係るガルバノメータミラーの調整装置を組み
込む放射線画像情報読取装置は基本的には以上のように
構成されるものであり、次にその動作について説明する
本実施例に係るガルバノメータミラー調整装置では、ガ
ルバノメータミラー58に係る読取開始位置E、  (
第2図参照)と、当該読取開始位置E、から読取終了位
置E2に至るまでの走査速度v1を決定する。この場合
、読取開始位置E1並びに走査速度VaLの決定はガル
バノメータミラー58に供給される繰返しのこぎり波信
号W(第3図す参照)の調整によって可能である。
すなわち、のこぎり波信号Wの振幅変化wA(以下、単
に振幅WAという)が全走査区間E3(第2図参照)に
対応することを考慮すれば、のこぎり波信号Wの直流オ
フセラ)WBの調整によって読取開始位置E1が決定出
来、のこぎり波信号Wの傾斜、すなわち、前記全走査区
間E2に対応する走査期間T。(第3図す参照)内の振
幅WAを調整することによって所定の走査速度V#Lが
決定出来る。なお、本実施例に係るガルバノメータミラ
ーの調整装置においては、最初に直流オフセットWBに
係るオフセット量データD。、「の粗調整が行われ、次
いで、当該直流オフセットW、に係るオフセット量デー
タD。rrの微調整が行われる。次に、走査速度VeL
に係る傾斜量データD lhcの粗調整が行われ、最後
に走査速度V1に係る傾斜量データD l haの微調
整が行われる。
前記のこぎり波信号Wは、前記クロック発生器100か
ら出力される第1クロックパルスC5(第3図C参照)
毎に発生する。そこで、先ず、前記コントローラ124
において直流オフセットW、と振幅WAの初期値にかか
るオフセット量データD。rrと傾斜量データD1nc
とが適当に設定され、当該設定値に係るのこぎり波信号
Wがのこぎり波信号発生回路136からガルバノメータ
ミラー58に供給されるものとする。
すなわち、オフセット量データD。ffがD/A変換器
によって直流のアナログオフセット量とされ、一方、傾
斜量データD IncがD/A変換器128、積分器1
30によってアナログのこぎり波信号とされ、この直流
のアナログオフセット量とアナログのこぎり波信号が加
算器132によって加算され、増幅器134によって増
幅されることで、直流オフセットW3、振幅WAである
のこぎり波信号Wがのこぎり波信号発生回路136から
ガルバノメータミラー58に供給される。
第2図において、レーザ光源64から発せられた光ビー
ムLは前記のこぎり波信号Wが供給されたガルバノメー
タミラー58によって矢印B方向に偏向される。このよ
うに偏向された光ビームLの中、走査レンズ68、ハー
フミラ−70を通過した光ビームLbはグリッド84上
を矢印り方向に走査する。この場合、グリッド84の標
準幅の透過部80a並びに幅広透過部80cを通過した
光ビームLbが光ガイド86に入射し、光ガイド86の
光ビームLbの入射側と反対側に形成されている拡散帯
(図示せず)により種々の異なる方向に拡散され、光ガ
イド86内を全反射を繰り返した光ビームLbは光セン
サ88a、88bに到達し光電変換され、基準グリッド
信号G、が生成される。この基準グリッド信号GRは雑
音等を含む立ち上がり時間、立ち下がり時間のゆるやか
なパルス信号であるのでタイミング信号として利用すべ
く、比較器を含み比較動作を行う波形整形回路90によ
り波形の立ち上がり部および立ち下がり部の急峻な方形
波信号であるグリッド信号Ga  (第3図g参照〉に
変換して変調検出部98および同期信号発生回路92に
導入する。
前記同期信号発生回路92では入力されるグリッド信号
G、に基づいてこれを所定逓倍した同期信号Tm(第3
図g参照)を前記A/D変換器78の同期信号入力端子
および変調検出部98に出力する。
前記変調検出部98は図示しないカウンタとタイマとか
ら構成され、第3図dに示すグリッド信号G、を構成す
る透過部80aに対応する標準パルスP、および幅広透
過部80cに対応する幅広パルスP、の発生期間(ハイ
レベル)中に発生する同期信号T、のパルスPcの数が
所定個数以上の数であるパルスのみを幅広パルスP。
として選択することにより幅広の透過部80cにかかる
位相変調部分を検出出来、これを第2クロックパルスC
L2(第3図g参照)として出力し、前記カウンタ11
0.116を構成するアンド回路106.112の一方
の入力端子に導入する。
この場合、前記アシド回路106および112の他方の
入力端子にはクロック発生器100から発生する第1ク
ロックパルスC日に同期してワンショットマルチバイブ
レーク102から遅延時間tdl後に発生する第1ゲー
トパルスG、1(第3図g参照)およびワンショットマ
ルチバイブレーク104から遅延時間tdW後に発生す
る第2ゲートハルスGpz(第3図り参照)が導入され
ている。
ここで、前記第1ゲートパルスGPIは第1クロックパ
ルスCLIの発生時点t、と、第2クロックパルスCL
2を構成する第1パルスP□がオフセットのm調整終了
後にはその時点から発生するであろうと予測される時点
t、との中間時点tcで発生するように予め決定されて
いる。また、第2ゲートパルスGP2は、第1パルスP
)I+がオフセットの微調整終了後にはその時点から発
生するであろうと予測される時点t。
と第2パルスP4□がオフセットの微調整終了後にはそ
の時点から発生するであろうと予測される時点tdとの
略中央時点t8で発生するように予め定められている。
従って、遅延時間td2は遅延時間t、1よりも大きい
(第3図g参照、g、h参照)。
前記カウンタ108.114は、夫々、第1クロックパ
ルスCL Iが導入されることによってその計数値が零
値、所謂、リセットされ、新たな計数を開始する。従っ
て、カウンタ108は第1ゲートパルスGPIの発生期
間T、(第3図g参照)内に存在する第2クロックパル
スCL2の数n2を計数し、一方、カウンタ114は第
2ゲートパルスGP20発生期間T2(第3図り参照)
内の第2クロックパルスCL2の数n2を計数するもの
であり、計数値である数n、 、n2をコントローラ1
24に送給する。
さらに、タイマ118.120は前記第1クロックパル
スCLIの発生時点taから、前記第1ゲートパルス発
生期間T1内に存する第2クロックパルスCL 2の中
、先頭となるクロックパルスPI!1乃至P118のい
ずれか、またはその他の雑音性パルス(本実施例ではP
8□)が発生する時点tr  (第3図f、g参照)ま
での第1の調整時間tHDl  (第3図g参照)を計
時するものであり、タイマ120は前記第1クロックパ
ルスCL 1の発生時点t、から、前記第2ゲートパル
ス発生期間T2内に存する第2クロックパルスCL2の
中、先頭となるクロックパルスPR+乃至PI!8のい
ずれか、またはその他の雑音性パルス(本実施例ではP
H2)が発生する時点1.(第3図f、h参照)までの
第2m整時間t、1o2(第3図g参照)を計時するも
のである。
さらに、タイマ122は前記第1ゲートパルスGPIの
発生期間T、内に発生する先頭となるパルスPH1の発
生時点t、と最後尾となるパルスPusの発生時点th
間の時間差である第3調整時間tv  (第3図g参照
)を測定するものである。なお、タイマ122で計測す
る時間は、この時間に限られるものではなく、第1ゲー
トパルス発生期間T+ に存する第2クロックパルスC
L2を構成するパルスPH1乃至PH8の中、所定の2
個のパルス間の時間差であればよい。さらには、タイマ
122に同期信号T、を導入するような構成として、前
記同期信号TRを構成するパルスP。を所定個計数する
時間としてもよい。
このようにしてコントローラ124には第1ゲートパル
ス発生期間T、内に存在する第2クロックパルスCL2
の数n1と、第2ゲートパルス発生期間T2内に存在す
る第2クロックパルスCL2の数n2−と、前記第1ク
ロックパルスCLIの発生時点t6から前記第1ゲート
パルス発生期間T+ 内に存在する第2クロックパルス
CL 2の中、先頭となるクロックパルスが発生する時
点1.までの第1調整時間tl(DI と、前記第1ク
ロックパルスCLIの発生時点t、から前記第2ゲート
パルス発生期間T2内に存する第2クロックパルスCL
 2の中、先頭のクロックパルスが発生する時点までの
第2調整時間tHD2 と、前記第1ゲートパルス発生
期間T1内に存在する第2クロックパルスCL2の中、
先頭と最後尾となるクロックパルス間の時間差である第
3調整時間t、が供給される。
コントローラ124は入力された前記数n1、n2と第
1調整時間tHDIおよび第2調整時間t HO2およ
び第3調整時間t、に係るデータに基づきのこぎり波信
号Wに与えるべき直流オフセットWa に対応するオフ
セット量データD01.と、のこぎり波信号Wの傾斜に
対応する傾斜量データD lhcを出力する。この場合
、直流オフセットWn に対応するオフセット量データ
D。イと、のこぎり波信号Wの傾斜量に対応する傾斜量
データD I Rcの出力処理は前記入力されたデータ
 (nl % n2 %  jHI]I N  しHO
25tv)に基づき予めコントローラ124を構成する
ROMに記録されたプログラムを参照してCPUが実行
する。
前記ROM内に記録されたプログラムに対応するフロー
チャートを第4図A乃至C1第5図ASB、第6図およ
び第7図A、Bに示す。ここで、第4図A乃至Cに示す
フローチャートはオフセットの粗調整にかかるものであ
り、第5図A、Bに示すフローチャートはオフセットの
微調整にかかるものであり、第6図に示すフローチャー
トはのこぎり波Wの傾斜量に対応する走査速度V1の粗
調整にかかるものであり、第7図A、Bに示すフローチ
ャートは走査速度■、、の微調整にかかるものである。
以下、このフローチャートに基づき説明する。
先ス、コントローラ124は第1ゲートパルス発生期間
T1内に存在する第2クロックパルスCL 2の数n、
をカウンタ108から取り込む(STP 1)。
次いで、当該数n、が所定の数N(本実施例では“6”
)であるか否かが判定される(STP2)。
数n、が′6″であった場合には、次に第2ゲート発生
期間T2に存する第2クロックパルスCL2の数n2を
カウンタ116から取り込む(STP3)。
次に、前記数n2が数(N−1)(本実施例では“5″
)であるか否かが比較される(STP4)。数n2が“
5”である場合には、前記グリッド84上を走査する同
期用光ビームLbの偏向範囲(走査範囲)がさほどには
ずれていないということが理解される。
そこで、次に、第1クロックパルスCL Iの発生時点
taから第1ゲートパルス発生期間T。
内に存する先頭のパルスP)11の発生時点t、までの
第1!11整時間tHD+をタイマ118から取り込む
(STP5)。
この第1調整時間tllDIが予め定められた第1設定
時間(Ton+ ±ΔTll1)I)内の時間であるか
否かが判定される(STP6)。
前記第1調整時間tllDIが第1設定時間(THD、
±ΔT、In+)の範囲内であった場合には、第1クロ
ックパルスCL Iの発生時点t、から第2ゲートパル
ス発生期間T2内に存する先頭のパルスP、l□までの
第2調整時間t)i02をタイマ120から取り込む(
STP7)。
コントローラ124によって当該第2調整時間t)II
ll、が予め設定された第2設定時間(T )ID 2
±ΔT HD 2 )内の時間であるか否かが判定され
る(STP8)。この判定が成立した場合には粗調整は
完了し、第5図A、Bのフローチャートに示すオフセッ
ト微調整ルーチンに進む(STP9)。
前記第4ステツプにおける判定において、数n2が数(
N−1)に等しくない場合には、数n2は数Nより大き
な値となっている。通常、n、が“6”(第2ステツプ
参照)でn2が“6″を超える値であることはあり得な
いので、ノイズ等によって数n2が大になっているもの
と想定される。そのため、直流オフセラ)Wn、換言す
れば、オフセット量データD。r、を所定量、例えば、
4単位分だけ大きくする(STPlo)。そして、第2
ステツプに戻る。
なお、直流オフセットWaを大きくするということは、
のこぎり波信号Wに起因するガルバノメータミラー58
による光ビームLbの走査範囲が、グリッド84上、主
走査方向り方向(第2図参照)にずれることを意味する
。換言すれば、第1クロックパルスCLIの発生時点t
aと’121’ロックパルスCL2の第1パルスPil
+の発生時点1.間の時間、すなわち、第1調整時間t
llDIを短くすることを意味する。従って、直流オフ
セットW8を小さくするということは、ガルバノメータ
ミラー58による光ビームLbの走査範囲が、グリッド
84上、主走査方向りと反対方向にずれることを意味し
、換言すれば、前記第1調整時間t■o1を長くするこ
とを意味する。
また、オフセット量データD。rrを4単位分大きくす
るということ、第4図への表示上は、Doff←Dor
r + 4にするということは、次に設定すべきオフセ
ット量データD。frを現在設定されているオフセット
量データDart に、例えば、10進数の4を加えた
データにするという意味である。
前記第6ステツプにおいて、第1調整時間tHDIが設
定時間(Tun、±△THI)1)の範囲外であった場
合には、第1Iステツプによる判定がなされ(STPI
I) 、第1調整時間CHDlが設定時間(T)1.+
ΔTHI11)よりも大きいときにはオフセット量デー
タD。f、が現在値から1単位だけ増加され(STP1
2) 、第1調整時間tHDI が設定時間(T)l1
)1 +ΔToo1)よりも小さい場合にはオフセット
量データDoff は現在値から1単位だけ減らされて
(STP13) 、再び第1ステツプ乃至第6ステツプ
の処理が行われる。
例えば、第8図に示すように、今、第1ステツプの処理
回数(繰り返し回数)がm+1回目であるとした場合に
、第2ステツプの判定が成立し、しかも第6ステツプの
判定が成立している場合には、m+1回目の繰り返し回
数における第1調整時間tRDlが設定時間(T)Io
l ±ΔTI(I]、)範囲内の近傍にあることになる
ので、1単位のみ増加させるように制御するのである。
それによって、m+2回目の処理後には第1調整時間t
HDlが、通常は、さらに設定時間(THIII ±Δ
THo、)の中央値’root側に近づく。
なお、設定時間の中央値TI(Dlよりも現在の第1調
整時間tHO+が相当ずれていると判断される場合には
、4単位変化するように制御するのである。
さらに、前記第8ステツプにおける判定が成立しないと
いうことは、通常、あり得ないので、この場合において
は図示しないブザー等を付勢すべく警告信号を出力して
当該調整動作を終了する(STP14)。
前記第2ステツプにおいて、数n1が“6”でない場合
(n+ ≠N)には、第15ステツプに示すように、数
n1が“6″より大きいか否かが判定され、数助が“6
”より大きい場合には数n2の取り込みがなされ(ST
P16) 、次いで、数n2が“5” (Ni)である
か否かが判定される(STP17)。
一般に、数n2が“6″より大きい場合、例えば、“7
#、“8”、“9”等の場合には、同期信号発生回路9
2を構成する図示しないPLL周波数逓倍シンセサイザ
が安定していなくて、変調検出部98において誤検出が
なされる場合であり、第2クロックパルスCL、2の中
、第1パルスpHl付近で誤検出に係るパルスが発生す
る。なお、この場合には、第2パルスPH2付近におい
ては、若干の時間経過があることからPLL周波数逓倍
シンセサイザが安定するので、数n、は、通常、“5″
となる。そこで、数n2が“5″であった場合には、次
に、第2調整時間t、In2が取り込まれ(STP18
) 、次いで、第2調整時間tHD2が第2設定時間の
中央値THD2より大きいか否かが判定される(STP
19)。この判定が成立する場合にはオフセット量デー
タD。目が小さ過ぎるので、オフセラ)51データD。
f、の現在値に4単位加算して第1ステツプに戻る(S
TP20)。若し、第19ステツプにおける判定が成立
しない場合には、さらに、第2調整時間toozが第2
設定時間の中央値T HD 2より小さいか否かが判定
される(STP21)。通常、第19ステツプの判定が
成立しない場合には第21ステツプの判定が成立し、そ
の場合にはオフセラ)lデータD。(fを4単位引算し
て第1ステツプに戻る(STP22)。
なお、第21ステツプの判定が成立しない場合には警告
信号が出力されて動作が終了する(STP23)。
一方、前記第17ステツプにおける判定が成立しない場
合には、数n2が“6”を超えるか否かが判定され(S
TP24) 、この判定が成立した場合にはオフセット
量データD、、、に4単位が加えられて第1ステツプに
戻る(STP25)。
なお、次に、再び第2ステツプの判定が成立せず、しか
も、第17ステツプの判定が成立せず、且つ第24ステ
ツプの判定が成立しない場合には、第1調整時間tや旧
が不定である回数を1回目として記憶しておき(STP
26) 、オフセット量データD02.を現在値から4
単位減らして再び第1ステツプに戻る(STP27)。
さらに、第2、第17、第24および第26ステツプの
判定が成立しなかった場合には、第1調整時間jHD+
が不定である回数を2回目ということにして(STP2
8) 、オフセット量データD。f、を現在値に対して
4単位増やして再測定する(STP29)。
このようにして再び第2、第17、第24、第26およ
び第28ステツプの判定がいずれも成立しなかった場合
にはオフセット量データDorrの調整は不能と判定し
て警告信号を出力する(STP30)。
前記第15ステツプの判定が成立しない場合、すなわち
、数n、が“6”よりも小さい場合には数n2を取り込
む(STP31)。そして、数n2が(N−1)、すな
わち、′5”であるか否かが判定される(STP32)
。この判定が成立した場合には第2調整時間tMD2の
取り込みが行われ(STP33) 、次いで、この第2
調整時間tHD2が設定時間の中央値T Ho 2より
も大きいか否かが判定される(STP34)。この判定
が成立した場合にはオフセット量データDoffは現在
値に対しで4単位加算されて第1ステツプに戻る(ST
P35)。
前記第34ステツプにおける判定が成立しない場合には
、次に、第2調整時間t)Inzが中央値T HD 2
よりも小さいか否かが判定される(STP36)。この
判定が成立した場合にはオフセット量データD o r
 tは現在値から4単位減らされた値とされて第1ステ
ツプに戻る(STP37)。
前記第36ステツプにおける判定が成立しない場合には
、通常、あり得ないことであることから警告信号が発生
される(STP38)。
前記第32ステツプの判定が成立しない場合には、数n
2が“5”より小さいか否かが判定される(STP39
)。この判定が成立する場合には現在のオフセット量デ
ータDoffに4単位が加算されて前記第1ステツプに
戻る(STP40)。
若し、第39ステツプにおける判定が成立しない場合に
は、前記第27乃至第31ステツプと同様に、1回目で
あるか否かが判定され(STP41) 、1回目であっ
た場合にはオフセットlデータD、、、が現在値から4
単位引算されて第1ステツプに戻り(STP42) 、
前記第2、第15、第32、第39および第41ステツ
プのいずれの判定も成立しない場合には、前記第28、
第29および第30ステツプと同様に、2回目であるか
否かを判定しく5TP43) 、2回目である場合には
現在のオフセット量データD a t rに4単位加算
した新たなオフセット量データD。2.として第1ステ
ツプに戻り(STP44) 、そうでない場合には警告
信号を発生する(STP45)。
このようにして前記第8ステツプにおける判定が成立し
た場合のみ、すなわち、オフセット量データDoffの
粗調整が終了した場合にのみ、第5図A、Bのフローチ
ャートに示すオフセットの微調整ルーチンに入る。なお
、本実施例においては、第1ステツプを通過する回数が
m+2回で、オフセット量データD。1.の粗調整時間
tHDIが設定時間(THo+ ±ΔTl(DI)内の
値になったものとする(第8図参照)。
前記オフセット調整の微調整は、第8図に示すように、
第1關整時間tHDIが設定時間(TI4D1 ±ΔT
HDI)の範囲内に入った(m+2回目)後に、中央値
THDIをn回(本実施例では3回)横切った場合、あ
るいは第1調整時間t!If11が中央値T)+01 
に合致した場合に微調整が終了する。この微調整に係る
ルーチンが第5図Aおよび已に示されている。
この場合、コントローラ124を構成するRAM内に前
記中央値THDIを横切る回数の設定値Cが、3”とし
て設定される(STPI)。
そこで、第1調整時間tl(DI を取り込む(STP
II>。
次に、この第1調整時間tHDlが中央値THO+より
大きいか否かが判定される(STPIII)。
当該判定が成立した場合にはオフセラl−1データD。
tfの現在値に1単位を加算しくSTP■)、再び第1
關整時間tlll11の取り込みを行う  (STPV
)  。
そこで、今度は、当該第1調整時間tHII+が中央値
T、、、よりも小さいか否かが判定される(STPVI
)。
この判定が成立した場合には、第1調整時間tHI]l
が中央値THnlを大きい側から小さい側に1回横切る
ことになるので、前記設定値Cを(C−1)にする(S
TP■、第8図、微調整1回目参照)。
次に、設定値Cが“0″か否かを判定する(STP■)
。この値が“0”であった場合には微調整がなされたも
のとして調整が終了する。
なお、前記第■ステップにおいて判定が成立しなかった
場合には、第1調整時間tint と中央値THD+ 
とが等しいか否かが判定される(STPIX)。この判
定が成立する場合、すなわち、第1調整時間t、、1 
と中央値Tool とが合致した場合には調整は終了す
る。一方、この判定が成立しない場合にはさらに第Xス
テップに戻り、現在のオフセット量データD。rrに1
単位が加算され再び第■ステップ乃至第■ステップを行
う。
また、前記第Xステップにおける判定が成立しなかった
場合には、第1調整時間tHDIが中央値THDI よ
りも小さいか否かが判定される(STPX)。この判定
が成立しない場合には第1調整時間tHDl と中央値
T)IflI が等しいことになるので調整は終了する
。第Xステップにふける判定が成立し、且つ前記第Xス
テップにおける判定が成立しない場合にはオフセット量
データD。reが現在値から1単位引算され(STPX
I)、再び第1調整時間t。lの取り込みがなされる(
STPXn)。
そこで、第1調整時間tHDIが中央値T、、。
より大きいか否かが判定される(STPXI[I)。
この判定が成立しない場合には第1調整時間tHDlが
中央値THDI と等しいか否かが判定され(STPX
rV) 、等しい場合には微調整が終了する。一方、等
しくない場合には、前記第Xステップに戻る。
前記第Xステップにおける判定が成立した場合には第1
調整時間T’uo+が中央値TIIo+を小さい側から
大きい側に1回横切ったことになるので、前記設定値C
を(C−1>としく5TPXV) 、設定値Cが“0”
か否かが判定される(STPXVI)。第8図において
は、微調整の2回目に対応する。
この後、前記第■ステップ乃至第Xl’V’ステップに
略対応する第X■ステップ乃至第XXVIステップを実
行する(STPX■乃至5TPXXVI)。ここで、前
記第XXVステップの判定が成立した場合には、設定値
Cを“1”減少させる(STPXX■)。次いで、横切
る回数に係る設定値Cが“0”であるか否かが判定され
る(STPXX■)。この場合、通常は“0”になって
おり、オフセット量データD。rrの微調整作業が終了
する。第8図においては、微調整3回目に対応する。若
し、設定値Cが“0”でない場合には警告信号を発生す
る(STPXXIX)。このようにしてオフセット調整
の微調整作業は終了する。すなわち、第1調整時間to
ol は、中央値T)1111 に極めて近い値になっ
ているか、あるいは同値になっている。
次に、第6図のフローチャートに示す速度調整の粗調整
が行われる。今、オフセット量データD a t rの
調整作業が終了しているので、第1ゲートパルス発生区
間Tl (第3図g参照〉内に第2クロックパルスCL
2を構成する第1乃至第6パルスPH1乃至PH6が全
て入っている。
そこで、第2クロックパルスCL2の中、第1パルスP
H1の立ち上がり時点1.から第6バルスPa18の立
ち上がり時点t、、までの時間、すなわち、第3調整時
間tvがタイマ122からコントローラ124に取り込
まれる(STPa)。
そこで、前記第3調整時間t、が設定時間(T v+Δ
T、)内であるか否かが判定される(STPb)。
この判定が成立した場合には速度調整の粗調整は終了し
、速度微調整ルーチンに進む(STPc)。若し、判定
が成立しない場合には、第3調整時間tvが設定時間(
T、+ΔT、 )より大きいか否かが判定され(STP
d) 、大きい場合には傾斜量データD l h cの
現在値に対して1単位だけ加算されて新たな傾斜量デー
タD l h cとされて第Xステップに戻る(STP
e)。前記第Xステップにおける判定が成立する場合、
すなわち、第3調整時間t、が設定時間(T v+ΔT
v )より小さい場合には、第Xステップに示すように
、傾斜量データDineの現在値から1単位加算された
新たな傾斜量データD l n c とされてさらに第
Cステップに戻る(STPf)。このようにして第Cス
テップの判定が成立すると第Cステップの速度微調整ル
ーチンに至る。
速度V&調整ルーチンは、第9図の()内に記入して示
すように、第3調整時間tvが設定時間(TV+ΔTv
)の範囲に入った後、すなわち、速度の粗調整が終了後
に中央値Tvを3回横切った場合に正確に調整がなされ
たものとする。従って、第7図A、Bに示される速度調
整の微調整ルーチンは、第5図A、Bに示されるオフセ
ット調整の微調整ルーチンと全く同様なプログラム構造
となり、その詳細な説明は省略する。
以上のようにしてのこぎり波信号Wが適切に調整された
後、蓄積性蛍光体シートSを設定し画像の読取を開始す
る(第2図参照)。この場合、前記蓄積性蛍光体シート
Sの表面にはレーザ光源64から射出される光ビームL
aが、直流オフセットWB並びに走査速度V1.の調整
が終了したガルバノメータミラー58によって偏向され
た後、光ビームLaとして主走査方向Cに照射される。
そして、前記蓄積性蛍光体シートSに記録された被写体
の画像情報が輝尽発光光として取り出される。この場合
、光ビームLaは、図ニ示す読取開始位置E+から有効
走査を開始し、読取終了位置E2で有効走査を終了し、
また、その間を走査する際の走査速度VaLは所定の一
定速度とされている。従って、蓄積性蛍光体シートsの
所定の位置、この場合、読取開始位置E1から画像情報
が正確に得られ、画像情報の1画素あたりのサンプリン
グ時間が均等であるから、画像情報をむらなく読み取る
ことが出来る。
前記輝尽発光光は蓄積性蛍光体シートSの主走査方向C
に配設された光ガイド72を介してフォトマルチプライ
ヤ74に入射し電気信号に変換される。そして、フォト
マルチプライヤ74からの電気信号がログアンプ76を
介してA/D変換器78の信号入力端子に加えられ、こ
の信号が前記同期信号Tmの各パルス毎にA/D変換さ
れる。このようにして得られた画像信号は図示しない信
号処理器によって階調処理、周波数処理等の信号処理が
施された後、フィルム等の画像記録担体にあるいはCR
T (図示せず)等の表示器上に可視像として再生され
る。
なお、上記実施例は光ビーム走査装置により読取を行う
装置について説明したが、光ビーム走査によりフィルム
等の画像記録担体上に画像記録を行う装置にも適用出来
ることは勿論である。
[発明の効果] 以上のように、本発明によれば、位相変調部分を複数個
所形成したグリッドを同期用の光ビームで走査し、先ず
、位相変調部分に係るパルスの数が所定の数となるよう
にガルバノメータミラーのオフセットを調整し、次に、
位相変調部分に係るパルスのパルス間隔に対応する時間
等が予め設定した時間になるよう調整している。
このため、ガルバノメータミラーのオフセット並びに速
度を正確に調整出来る。従って、このように調整された
ガルバノメータミラーを用いて被走査体を走査した場合
、画像情報をむらなく読取あるいは記録出来、その結果
、常に、精緻な再生画像を得ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明のガルバノメータミラーの調整装置に係
る請求項対応図、 第2図は本発明の一実施例に係るガルバノメータミラー
の調整装置を組み込む放射線画像情報読取装置の概略構
成図、 第3図は第2図に示す放射線画像情報読取装置の動作を
説明するタイムチャート、 第4図A乃至Cはガルバノメータミラーのオフセット粗
調整に係るフローチャート、第5図ASBはガルバノメ
ータミラーのオフセット微調整に係るフローチャート、 第6図はガルバノメータミラーの速度粗調整に係るフロ
ーチャート、 第7図A、Bはガルバノメータミラーの速度微調整に係
るフローチャート、 第8図はガルバノメータミラーのオフセットおよび速度
の調整に係る動作説明図である。 50・・・放射線画像情報読取装置 52・・・レーザ走査部     54・・・画像読取
部56・・・同期信号発生部 58・・・ガルバノメータミラー 60・・・駆動部6
2・・・信号処理部      64・・・レーザ光源
66・・・ビームエキスパンダ  68・・・走査レン
ズ70・・・ハーフミラ−72・・・光ガイド74・・
・フォトマルチプライヤ 78・・・A/D変換器80
a・・・透過部       80b・・・反射部80
c・・・幅広透過部     84・・・グリッド86
・・・光ガイド 88 a 、 88 b・・・光センサ   90・・
・波形整形回路100・・・クロック発生器 102.104・・・ワンショットマルチバイブレータ
110.116 ・・・カウンタ 118.120.122・・・タイマ 124・・・コントローラ    132・・・加X5
CLI・・・第1クロックパルス Cl3・・・第2クロックパルス D o r f・・・オフセット量データD ir+c
・・・傾斜量データ Gc・・・グリッド信号 GPI・・・第1ゲートパルス GP2・・・第2ゲートパルス S・・・蓄積性蛍光体シート G、・・・基準グリッド信号  TR La・・・走査用光ビーム Lb・・・同期用光ビーム W・・・のこぎり波信号    WA・・・振幅Wa・
・・直流オフセット ・・・同期信号 FIG、6 FIG、8 相生−二一一」を

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)のこぎり波信号発生手段によって駆動されるガル
    バノメータミラーにより光ビーム発生手段から発生され
    た光ビームを一次元方向に偏向し、当該偏向された光ビ
    ームで被走査体を主走査するとともに、該被走査体を主
    走査方向と略直交する方向に相対的に移動して被走査体
    を二次元的に走査し文字情報、画像情報等の記録あるい
    は読取を行うにあたり、(N)個の位相変調部を有する
    明暗パターンが形成されたグリッドを同期用光ビームに
    より主走査方向に走査し、該グリッドを通過した光ビー
    ムを光電検出手段により光電的に検出した後、波形整形
    手段により波形整形してグリッド信号を得、当該グリッ
    ド信号を所定逓倍して同期信号を得る光ビーム走査装置
    におけるガルバノメータミラーの調整装置であって、 ガルバノメータミラーを駆動するのこぎり波信号の周期
    に対応した周期の第1クロックパルスを発生する第1ク
    ロックパルス発生手段と、前記第1クロックパルスに同
    期して第1遅延時間(t_d_1)後に第1ゲートパル
    スを発生する第1ゲートパルス発生手段と、前記第1ク
    ロックパルスに同期して第2遅延時間(t_d_2)後
    (t_d_2>t_d_1)に第2ゲートパルスを発生
    する第2ゲートパルス発生手段と、前記波形整形手段に
    接続され、当該波形整形手段から導入されるグリッド信
    号から前記位相変調部に対応する第2のクロックパルス
    を発生する第2クロックパルス発生手段と、 前記第1クロックパルスによって計数値が零値とされた
    後、前記第1ゲートパルス発生期間に存する第2クロッ
    クパルスの数(n_1)を計数する第1計数手段と、 前記第1クロックパルスによって計数値が零値とされた
    後、前記第2ゲートパルス発生期間に存する第2クロッ
    クパルスの数(n_2)を計数する第2計数手段と、 前記第1クロックパルスの発生時点から前記第1ゲート
    パルス発生期間に存する第2クロックパルスの中、先頭
    となるクロックパルスが発生する時点までの第1調整時
    間(t_H_D_1)を計時する第1計時手段と、 前記第1クロックパルスの発生時点から前記第2ゲート
    パルス発生期間内に存する第2クロックパルスの中、先
    頭となるクロックパルスが発生する時点までの第2調整
    時間(t_H_D_2)を計時する第2計時手段と、 前記第1計数手段によって計数される第2クロックパル
    スの数(n_1)、(n_2)を、夫々、(n_1=N
    )、(n_2=N−1)とし、前記第1計時手段および
    第2計時手段によって計時される第1調整時間(t_H
    _D_1)および第2調整時間(t_H_D_2)を、
    夫々、予め定められた設定時間(T_H_D_1±ΔT
    _H_D_1)、(T_H_D_2±ΔT_H_D_2
    )内となるよう前記のこぎり波信号発生手段から出力さ
    れるのこぎり波信号のオフセット量を制御する制御手段
    と、 を備えることを特徴とするガルバノメータミラーの調整
    装置。
  2. (2)請求項1記載のガルバノメータミラーの調整装置
    において、 当該ガルバノメータミラーの調整装置は、さらに前記第
    1ゲートパルス発生期間に存する第2クロックパルスの
    中、所定の2個のクロックパルス間の時間差である第3
    調整時間(t_V)を測定する第3計時手段を含み、前
    記制御手段は前記第3調整時間(t_V)が予め定めら
    れた設定時間(T_V±ΔT_V)内となるよう前記の
    こぎり波信号発生手段から出力されるのこぎり波信号の
    傾斜量を制御することを特徴とするガルバノメータミラ
    ーの調整装置。
JP1274370A 1989-10-20 1989-10-20 ガルバノメータミラーの調整装置 Pending JPH03135507A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100392466B1 (ko) * 2000-02-29 2003-07-22 주식회사 이오테크닉스 갈바노미터 스캐너를 제어하기 위한 장치 및 방법

Cited By (1)

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KR100392466B1 (ko) * 2000-02-29 2003-07-22 주식회사 이오테크닉스 갈바노미터 스캐너를 제어하기 위한 장치 및 방법

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