JPH03133427A - Ｍｒｉ装置 - Google Patents
Ｍｒｉ装置Info
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- JPH03133427A JPH03133427A JP1271087A JP27108789A JPH03133427A JP H03133427 A JPH03133427 A JP H03133427A JP 1271087 A JP1271087 A JP 1271087A JP 27108789 A JP27108789 A JP 27108789A JP H03133427 A JPH03133427 A JP H03133427A
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- pulse
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- 238000003384 imaging method Methods 0.000 title claims description 10
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 description 8
- 238000002592 echocardiography Methods 0.000 description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 210000000056 organ Anatomy 0.000 description 1
Landscapes
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（産業上の利用分野）
本発明は磁気共鳴現象を利用して被検体を画像化するＭ
Ｒイメージング方法に関し、更に詳しくは、複数の異な
るコントラストの画像を同時に得られるＭＲイメージン
グ方法に関する。
Ｒイメージング方法に関し、更に詳しくは、複数の異な
るコントラストの画像を同時に得られるＭＲイメージン
グ方法に関する。
（従来の技術）
原子核を静磁場中におくと、原子核は磁界の強さと原子
核の種類によって異なる定数に比例した角速度で歳差運
動をする。この静磁場に垂直な軸に前記の周波数の高周
波回転磁場を印加すると磁気共鳴がおこり、前記定数を
有する特定の原子核の集団は共鳴条件を満足する高周波
磁場によって準位間の遷移を生じ、エネルギー学位の高
い方の準位に遷移する。共鳴後高い準位に励起された原
子核は低い準位に戻ってエネルギーの放射を行う。
核の種類によって異なる定数に比例した角速度で歳差運
動をする。この静磁場に垂直な軸に前記の周波数の高周
波回転磁場を印加すると磁気共鳴がおこり、前記定数を
有する特定の原子核の集団は共鳴条件を満足する高周波
磁場によって準位間の遷移を生じ、エネルギー学位の高
い方の準位に遷移する。共鳴後高い準位に励起された原
子核は低い準位に戻ってエネルギーの放射を行う。
ＭＨＩはこの特定の原子核による核磁気共鳴（以下ＮＭ
Ｒという）現象を観察して被検体の断層像を撮像する装
置である。
Ｒという）現象を観察して被検体の断層像を撮像する装
置である。
ＭＨＩにおいてフーリエ変換法に用いる高周波磁場及び
勾配磁場印加のパルスシークエンスを第４図に示す。期
間１において、９０″パルス１とスライス勾配２により
ｚ−０を中心とする２方向に垂直なスライス面内のスピ
ンが選択的に励起される。期間２のリフェーズ勾配３は
スライス勾配２により乱れたスピンの位相を元に戻すた
めのものである。同じ期間２のデイフェーズ勾配４はデ
ータ読み出し期間４の時間的中心にＳＥ信号５の中心が
一致するようにスピンに場所に応じた位相差を与えるた
めのものである。期間２では更にｙ方向の位置に比例し
てスピンの位相をずらせてやるためのワーブ勾配６を印
加しており、ワーブ勾配６は毎周期その強度を変えて印
加されている。
勾配磁場印加のパルスシークエンスを第４図に示す。期
間１において、９０″パルス１とスライス勾配２により
ｚ−０を中心とする２方向に垂直なスライス面内のスピ
ンが選択的に励起される。期間２のリフェーズ勾配３は
スライス勾配２により乱れたスピンの位相を元に戻すた
めのものである。同じ期間２のデイフェーズ勾配４はデ
ータ読み出し期間４の時間的中心にＳＥ信号５の中心が
一致するようにスピンに場所に応じた位相差を与えるた
めのものである。期間２では更にｙ方向の位置に比例し
てスピンの位相をずらせてやるためのワーブ勾配６を印
加しており、ワーブ勾配６は毎周期その強度を変えて印
加されている。
その後１８０’パルス７を与えて磁気モーメントを揃え
、その後に現れるＳＥ信号５を観察する。
、その後に現れるＳＥ信号５を観察する。
期間４ではＸ軸にリード勾配８を印加する。これにより
、デイフェーズ勾配４で与えられた位相差は、期間４の
リード勾配８の時間的中心で相殺されＳＥ信号５が現れ
る。このシークエンスをビューといい、パルス繰り返し
周期ＴＲ後に再び９０°パルス１を加えて、次のビュー
を開始する。
、デイフェーズ勾配４で与えられた位相差は、期間４の
リード勾配８の時間的中心で相殺されＳＥ信号５が現れ
る。このシークエンスをビューといい、パルス繰り返し
周期ＴＲ後に再び９０°パルス１を加えて、次のビュー
を開始する。
上記のようなＭＨＩにおいて、通常のシークエンスで行
うと１スキヤンに約４〜５分を要するが、動いている器
官のイメージングや、被検体自身の動きを止めることが
困難な場合のイメージングにおいて、イメージングする
部分における動きの影響を少なくするために、パルスの
繰り返し周期を短くする高速スキャン法が用いられてい
る。
うと１スキヤンに約４〜５分を要するが、動いている器
官のイメージングや、被検体自身の動きを止めることが
困難な場合のイメージングにおいて、イメージングする
部分における動きの影響を少なくするために、パルスの
繰り返し周期を短くする高速スキャン法が用いられてい
る。
その方法としては、例えばｐ Ａ Ｓ Ｔ ＣＰｏｕｒ
ｌｅｒＡｃｑｕｉｒｅｄ ５ｔｅａｄｙ−ｓｔａｔｅ
Ｔｅｃｈｎｉｑｕｅ）、 Ｆ Ｉ Ｓ Ｐ（Ｆａｓｔ
Ｉｍａｇｌｎｇ ｖｌｔｈ ５ｔｅａｄｙ Ｐｒｅｃｅ
ｓｓｉｏｎ）。
ｌｅｒＡｃｑｕｉｒｅｄ ５ｔｅａｄｙ−ｓｔａｔｅ
Ｔｅｃｈｎｉｑｕｅ）、 Ｆ Ｉ Ｓ Ｐ（Ｆａｓｔ
Ｉｍａｇｌｎｇ ｖｌｔｈ ５ｔｅａｄｙ Ｐｒｅｃｅ
ｓｓｉｏｎ）。
ＣＥ −Ｆ Ａ Ｓ Ｔ （Ｃｏｎｔｒａｓｔ Ｅｎｈ
ａｎｓｅｄ ＦＡＳＴ）等がある。これらのスキャンシ
ークエンスはいずれも１種類のフリップ角のＲＦパルス
を用いており、ＦＡＳＴシークエンスはＲＦパルス直後
のＦＩＤ信号を、ＣＥ−ＦＡＳＴシークエンスはＲＦ直
前（前回のＲＦパルスによるエコーが次のＲＦパルス直
前に現れる。）のＳＥ信号５を観測するもので、それら
の画像のコントラストは全く異っている。
ａｎｓｅｄ ＦＡＳＴ）等がある。これらのスキャンシ
ークエンスはいずれも１種類のフリップ角のＲＦパルス
を用いており、ＦＡＳＴシークエンスはＲＦパルス直後
のＦＩＤ信号を、ＣＥ−ＦＡＳＴシークエンスはＲＦ直
前（前回のＲＦパルスによるエコーが次のＲＦパルス直
前に現れる。）のＳＥ信号５を観測するもので、それら
の画像のコントラストは全く異っている。
（発明が解決しようとする課題）
ところで、前記のスキャン法はいずれも１スキヤン当た
り１種類のコントラストを持つ画像しか得られない。こ
れに対し、上記２種類のコントラストを同時に得るシー
クエンスとして、ＦＡＤＥ（Ｐａｓｔ Ａｃｑｕｉｓｉ
ｔｉｏｎ Ｄｏｕｂｌｅ Ｅｃｈｏ）と呼ばれる方法が
提案されているが、これも同じフリップ角を持つＲＦパ
ルスを繰り返し印加するだけなので、画像のコントラス
トの付は方の自由度が少なく、しかも２種類のコントラ
ストを持つ画像しか得られない。
り１種類のコントラストを持つ画像しか得られない。こ
れに対し、上記２種類のコントラストを同時に得るシー
クエンスとして、ＦＡＤＥ（Ｐａｓｔ Ａｃｑｕｉｓｉ
ｔｉｏｎ Ｄｏｕｂｌｅ Ｅｃｈｏ）と呼ばれる方法が
提案されているが、これも同じフリップ角を持つＲＦパ
ルスを繰り返し印加するだけなので、画像のコントラス
トの付は方の自由度が少なく、しかも２種類のコントラ
ストを持つ画像しか得られない。
本発明は上記の点に鑑みてなされたもので、その目的は
、多種類のコントラストを持つ画像を同時に得ることの
できる高速ＭＲイメージング方法を実現することにある
。
、多種類のコントラストを持つ画像を同時に得ることの
できる高速ＭＲイメージング方法を実現することにある
。
（課題を解決するための手段）
前記の課題を解決する本発明は、静磁場内に設置された
被検体中のスピンを定常状態にし、該被検体のスライス
方向、ワーブ方向、リード方向の各方向に予め定めたシ
ークエンスに従って１繰り返し周期中に複数の勾配磁場
及びＲＦパルスを印加し、スライス面からの複数のＭＲ
倍信号検出して被検体の断層像を得る高速ＭＲイメージ
ング方法において、１繰り返し周期中に印加するフリッ
プ角の異なる複数のＲＦパルスのうち同一フリップ角又
は異なるフリップ角のＲＦパルスを任意に組み合わせて
印加し、前記スライス方向及びワーブ方向の各勾配磁場
を前記ＲＦパルス印加周期内で時間積分が零になるよう
に印加すると共に、リード方向に異なる高速スキャンシ
ークエンスのための異なる波形の読み出し勾配磁場を各
ＲＦパルス印加周期毎にその面積が等しく保たれるよう
に印加し、前記読み出し勾配磁場はそれぞれ異なる波形
の勾配磁場又は同じ波形の勾配磁場を任意に組み合わせ
て印加することを特徴とするものである。
被検体中のスピンを定常状態にし、該被検体のスライス
方向、ワーブ方向、リード方向の各方向に予め定めたシ
ークエンスに従って１繰り返し周期中に複数の勾配磁場
及びＲＦパルスを印加し、スライス面からの複数のＭＲ
倍信号検出して被検体の断層像を得る高速ＭＲイメージ
ング方法において、１繰り返し周期中に印加するフリッ
プ角の異なる複数のＲＦパルスのうち同一フリップ角又
は異なるフリップ角のＲＦパルスを任意に組み合わせて
印加し、前記スライス方向及びワーブ方向の各勾配磁場
を前記ＲＦパルス印加周期内で時間積分が零になるよう
に印加すると共に、リード方向に異なる高速スキャンシ
ークエンスのための異なる波形の読み出し勾配磁場を各
ＲＦパルス印加周期毎にその面積が等しく保たれるよう
に印加し、前記読み出し勾配磁場はそれぞれ異なる波形
の勾配磁場又は同じ波形の勾配磁場を任意に組み合わせ
て印加することを特徴とするものである。
（作用）
１繰り返し周期中に複数の異なるフリップ角又は等しい
フリップ角のＲＦパルスを適宜組み合わせて用い、読み
出し勾配磁場を各ＲＦパルス周期毎に異なる高速スキャ
ンシークエンスの波形又は同じ高速スキャンシークエン
スの波形を適宜組み合わせて用いることにより複数個の
異ったコントラストの画像を得ることができる。
フリップ角のＲＦパルスを適宜組み合わせて用い、読み
出し勾配磁場を各ＲＦパルス周期毎に異なる高速スキャ
ンシークエンスの波形又は同じ高速スキャンシークエン
スの波形を適宜組み合わせて用いることにより複数個の
異ったコントラストの画像を得ることができる。
（実施例）
以下、図面を参照して本発明の実施例を詳細に説明する
。
。
第１図は本発明の一実施例のパルスシークエンスの図で
ある。図において、１１はフリップ角がα！、α２．α
３．・・・、α。という具合にそれぞれが等しい値や、
異なる値を自由に選ばれるＲＦパルスで、各ＲＦパルス
１１の間隔をτ（≦Ｔ、、Ｔ２ ：Ｔ、は縦緩和時間、
Ｔ２は横緩和時間）とし、ｎ個のＲＦパルスにより１繰
り返し周期（ＩＴＲ）を構成している。従って、ＴＲ−
ｎ・τである。１２はスピンを選択的に励起する面を決
定するスライス勾配で、その前後に印加した負パルスの
リフェーズ勾配置３によってスライス方向に印加される
１τ時間当たりの勾配磁場の積分値を零とし、スピンを
定常状態にしている。
ある。図において、１１はフリップ角がα！、α２．α
３．・・・、α。という具合にそれぞれが等しい値や、
異なる値を自由に選ばれるＲＦパルスで、各ＲＦパルス
１１の間隔をτ（≦Ｔ、、Ｔ２ ：Ｔ、は縦緩和時間、
Ｔ２は横緩和時間）とし、ｎ個のＲＦパルスにより１繰
り返し周期（ＩＴＲ）を構成している。従って、ＴＲ−
ｎ・τである。１２はスピンを選択的に励起する面を決
定するスライス勾配で、その前後に印加した負パルスの
リフェーズ勾配置３によってスライス方向に印加される
１τ時間当たりの勾配磁場の積分値を零とし、スピンを
定常状態にしている。
ワーブ軸にはＴＲ毎に１ステツプだけ振幅を変化させる
ワーブ勾配置４が印加され、ワーブ方向の位相情報を与
えている。このワープ勾配置４は振幅が等しく、方向が
反対のフープ勾配置５を次のＲＦパルス１１の直前に印
加することによって、ワーブ方向に印加される１τ時間
当たりの勾配磁場面積の積分値を零とし、スピンを定常
状態にしている。
ワーブ勾配置４が印加され、ワーブ方向の位相情報を与
えている。このワープ勾配置４は振幅が等しく、方向が
反対のフープ勾配置５を次のＲＦパルス１１の直前に印
加することによって、ワーブ方向に印加される１τ時間
当たりの勾配磁場面積の積分値を零とし、スピンを定常
状態にしている。
１６はエコー信号を観測するための読み出し勾配で、Ｒ
１＋ Ｒ２＋・・・ Ｒ、のようにＲＦパルス１１間に
それぞれ等しい値や、異なる波形の勾配を任意に選んで
印加されている。読み出し勾装置６の波形の例を第２図
に示す。図において、（イ）図はＦＡＳＴシークエンス
における読み出し勾装置６の波形ａで、ＲＦパルス１１
直後のＦＩＤ信号１８をフィールドエコーの形で観測す
るものである。ＲＦパルス直前に現れるＳＥ倍信号生じ
ないようにするため、成るいは、他の勾配波形との面積
調整のためにデータサンプリング後にスポイラ１７を入
れてもよい。（ロ）図は、ＣＥ−ＦＡＳＴシークエンス
の場合の読み出し勾配波形すで、ＲＦパルス１１直前の
ＳＥ信号５をフィールドエコーの形で観測するものであ
る。この場合も、ＲＦパルス１１直後のＦＩＤ信号１８
を生じないようにするため、成るいは他の勾配波形との
面積調整のためスポイラ１７を入れてもよい。
１＋ Ｒ２＋・・・ Ｒ、のようにＲＦパルス１１間に
それぞれ等しい値や、異なる波形の勾配を任意に選んで
印加されている。読み出し勾装置６の波形の例を第２図
に示す。図において、（イ）図はＦＡＳＴシークエンス
における読み出し勾装置６の波形ａで、ＲＦパルス１１
直後のＦＩＤ信号１８をフィールドエコーの形で観測す
るものである。ＲＦパルス直前に現れるＳＥ倍信号生じ
ないようにするため、成るいは、他の勾配波形との面積
調整のためにデータサンプリング後にスポイラ１７を入
れてもよい。（ロ）図は、ＣＥ−ＦＡＳＴシークエンス
の場合の読み出し勾配波形すで、ＲＦパルス１１直前の
ＳＥ信号５をフィールドエコーの形で観測するものであ
る。この場合も、ＲＦパルス１１直後のＦＩＤ信号１８
を生じないようにするため、成るいは他の勾配波形との
面積調整のためスポイラ１７を入れてもよい。
（ハ）図はＦＴＳＰシークエンスの読み出し勾配波形Ｃ
で上記ＦＩＤ信号１８とＳＥ信号５を重ね合わせて同時
に観測するものである。この波形Ｃは合計の面積を零に
することが本質的であり、従って、他の勾配波形と共に
用いることは不可能で、第１図のＲ，−Ｒ２−Ｒ３−・
・・−Ｒ，−ｃとしなければならない。つまり変えられ
るのはＲＦパルス１１の組だけである。（ニ）図はＦＡ
ＤＥの読み出し勾配波形ｄで、ＲＦパルス１１直後のＦ
ＩＤ信号１８と、ＲＦパルス１１直前のＳＥ信号５をフ
ィールドエコーの形で同時に観測するものである。前後
の２つのエコーをより明確に分離するため、成るいは、
他の勾配波形との面積調整のためにスポイラ１０を入れ
てもよい。（ホ）図はＭＥ−ＦＡＳＴ （マルチエコー
ＦＡＳＴ）シークエンスの読み出し勾配の波形ｅで、デ
ータサンプリング後のデイフェーズ量を大きくすること
で、ＳＥ信号５、スティミュレーテッド・エコー（３回
のＲＦパルスによって得られるエコー）又は更に多くの
履歴のエコーをフィールドエコーの形で観ｎ１するもの
である。この時も、ＲＦパルス１１直後のＦＥＤ信号１
８を生じないようにするため、成るいは他の勾配波形と
の面積調整のためスポイラ１７を入れてもよい。
で上記ＦＩＤ信号１８とＳＥ信号５を重ね合わせて同時
に観測するものである。この波形Ｃは合計の面積を零に
することが本質的であり、従って、他の勾配波形と共に
用いることは不可能で、第１図のＲ，−Ｒ２−Ｒ３−・
・・−Ｒ，−ｃとしなければならない。つまり変えられ
るのはＲＦパルス１１の組だけである。（ニ）図はＦＡ
ＤＥの読み出し勾配波形ｄで、ＲＦパルス１１直後のＦ
ＩＤ信号１８と、ＲＦパルス１１直前のＳＥ信号５をフ
ィールドエコーの形で同時に観測するものである。前後
の２つのエコーをより明確に分離するため、成るいは、
他の勾配波形との面積調整のためにスポイラ１０を入れ
てもよい。（ホ）図はＭＥ−ＦＡＳＴ （マルチエコー
ＦＡＳＴ）シークエンスの読み出し勾配の波形ｅで、デ
ータサンプリング後のデイフェーズ量を大きくすること
で、ＳＥ信号５、スティミュレーテッド・エコー（３回
のＲＦパルスによって得られるエコー）又は更に多くの
履歴のエコーをフィールドエコーの形で観ｎ１するもの
である。この時も、ＲＦパルス１１直後のＦＥＤ信号１
８を生じないようにするため、成るいは他の勾配波形と
の面積調整のためスポイラ１７を入れてもよい。
第１図に戻り、読み出し勾装置６のＲ，、Ｒ２・・・、
Ｒｏに第２図に示した各種スキャンシークエンスの読み
出し勾装置６の波形を用いてもよい。
Ｒｏに第２図に示した各種スキャンシークエンスの読み
出し勾装置６の波形を用いてもよい。
又、この読み出し勾装置６は第２図の読み出し勾装置６
の波形に制限されることなく、ＲＦバルス１１間に印加
される波形の面積が等しければ、どのような波形のもの
を用いてもよい。又、ＩＴＲ間に印加されるスライス勾
配面２、リフェーズ勾配面３、ワーブ勾配面４はＲＦパ
ルス１１間では勾配面積は一定とするものである。ただ
し、ワーブ勾配はＴＲ毎に１ステツプずつ増やして印加
する。通常、この勾配面積はその積分値を零とするのが
よいが、必要に応じてスポイラ１７を入れてもよい。
の波形に制限されることなく、ＲＦバルス１１間に印加
される波形の面積が等しければ、どのような波形のもの
を用いてもよい。又、ＩＴＲ間に印加されるスライス勾
配面２、リフェーズ勾配面３、ワーブ勾配面４はＲＦパ
ルス１１間では勾配面積は一定とするものである。ただ
し、ワーブ勾配はＴＲ毎に１ステツプずつ増やして印加
する。通常、この勾配面積はその積分値を零とするのが
よいが、必要に応じてスポイラ１７を入れてもよい。
読み出し勾配面６（Ｒ＋、・・・、Ｒ，）の選び方は上
記のように自由であり、順序も自由である。
記のように自由であり、順序も自由である。
更に重複して用いても差し支えない。例えばＲ１＝ （
ａ）、Ｒ２−（ｂ）、Ｒ３−（ｄ）でよく、又、Ｒ，５
−（ａ）、Ｒ２−（ａ）、Ｒ３＝（ｂ）。
ａ）、Ｒ２−（ｂ）、Ｒ３−（ｄ）でよく、又、Ｒ，５
−（ａ）、Ｒ２−（ａ）、Ｒ３＝（ｂ）。
Ｒ４−（ｂ）でもよい。更に、Ｒ，−Ｒ２−Ｒ。
−・・・−Ｒ６とすべて同じ波形であってもよい。ただ
し、各読み出し勾配面６間の波形が異なる場合は、その
面積を同じにするためにスポイラ１７の大きさを調整す
る必要がある。
し、各読み出し勾配面６間の波形が異なる場合は、その
面積を同じにするためにスポイラ１７の大きさを調整す
る必要がある。
読み出し勾配面６の組み合わせは上記の通りであるが、
ＲＦパルス１１のフリップ角の組み合わせも自由に選択
することができる。即ち、α、≠α２≠・・・≠α、で
もよく、α、■α２≠α、箇α４≠（Ｚ、１１１１１α
６≠・・・α７−１讃α、でもよく、更にα、−α２−
・・・−α７のようにすべてのＲＦパルス１１にフリッ
プ角の等しいものを用いてもよい。
ＲＦパルス１１のフリップ角の組み合わせも自由に選択
することができる。即ち、α、≠α２≠・・・≠α、で
もよく、α、■α２≠α、箇α４≠（Ｚ、１１１１１α
６≠・・・α７−１讃α、でもよく、更にα、−α２−
・・・−α７のようにすべてのＲＦパルス１１にフリッ
プ角の等しいものを用いてもよい。
ただし、読み出し勾配面６がすべて等しく、ＲＦパルス
のフリップ角もすべて等しい場合は全く変化がないので
、いずれか一方のどれか１つは異なるものである必要が
ある。
のフリップ角もすべて等しい場合は全く変化がないので
、いずれか一方のどれか１つは異なるものである必要が
ある。
第３図は上記の原理に基づいた具体例を示す図である。
図において、第１図と同等の部分には同一の符号を付し
である。この例では、フリップ角がαとβの２つの異な
るＲＦパルス１１を印加し、２個のＲＦパルス１１によ
りＩＴＲ（ＴＲ−２τ）を構成し、読み出し勾配面６に
は第２図の波形ａと波形すを組み合わせて用いている。
である。この例では、フリップ角がαとβの２つの異な
るＲＦパルス１１を印加し、２個のＲＦパルス１１によ
りＩＴＲ（ＴＲ−２τ）を構成し、読み出し勾配面６に
は第２図の波形ａと波形すを組み合わせて用いている。
即ち、このパルスシークエンスは、前半部には読み出し
勾配面６の波形ａを用い、後半部には波形すを用いたも
のである。得られる信号は、前半部でＲＦパルス１１直
後のＦＩＤ信号１８を、後半部でＲＦパルス１１直前の
ＳＥ信号５を共にフィールドエコーの形で観測するもの
である。このパルスシークエンスでは、前半部でＲＦパ
ルス１１直前のＳＥ信号５を生じないようにするためと
、後半部でＲＦパルス１１直後のＦＩＤ信号１８を生じ
ないようにするためにスポイラ１７を入れており、且つ
、前半と後半で面積が等しくなるようにしておく。
勾配面６の波形ａを用い、後半部には波形すを用いたも
のである。得られる信号は、前半部でＲＦパルス１１直
後のＦＩＤ信号１８を、後半部でＲＦパルス１１直前の
ＳＥ信号５を共にフィールドエコーの形で観測するもの
である。このパルスシークエンスでは、前半部でＲＦパ
ルス１１直前のＳＥ信号５を生じないようにするためと
、後半部でＲＦパルス１１直後のＦＩＤ信号１８を生じ
ないようにするためにスポイラ１７を入れており、且つ
、前半と後半で面積が等しくなるようにしておく。
このようにすることで、前半部と後半部でコントラスト
の異なる２種類の画像を同時に得ることができる。又、
ＲＦパルス１１のフリップ角α、βを調整することによ
り、コントラストを変える自由度を大きくすることがで
きる。
の異なる２種類の画像を同時に得ることができる。又、
ＲＦパルス１１のフリップ角α、βを調整することによ
り、コントラストを変える自由度を大きくすることがで
きる。
以上説明したように本実施例によれば、任意のフリップ
角を持つ複数のＲＦパルスの組み合わせと、異なるタイ
プのエコーを観測する複数の勾配波形の組み合わせを適
当に選択することで、コントラストの異なる複数画像を
同時に得ることができるようになる。更に、ＲＦパルス
のフリップ角の大きさを変え、又、その組み合わせを変
えることによって、コントラストを変える自由度が非常
に大きくなる。
角を持つ複数のＲＦパルスの組み合わせと、異なるタイ
プのエコーを観測する複数の勾配波形の組み合わせを適
当に選択することで、コントラストの異なる複数画像を
同時に得ることができるようになる。更に、ＲＦパルス
のフリップ角の大きさを変え、又、その組み合わせを変
えることによって、コントラストを変える自由度が非常
に大きくなる。
（発明の効果）
以上詳細に説明したように本発明によれば、多種類のコ
ントラストを持つ画像を同時に得ることができるように
なり、実用上の効果は大きい。
ントラストを持つ画像を同時に得ることができるように
なり、実用上の効果は大きい。
第１図は本発明の一実施例のパルスシークエンスの図、
第２図は各種シークエンスに用いられる読み出し勾配の
波形図で、（イ）図はＦＡＳＴシークエンス、（ロ）図
はＣＥ−ＦＡＳＴシークエンス、（ハ）図はＦＩＳ’Ｐ
シークエンス、（ニ）図はＦＡＤＥシークエンス、（ホ
）図はＭＥ−ＦＡＳＴシークエンスの読み出し勾配の波
形図、第３図は本発明の実施例の具体例のパルスシーク
エンスの図、 第４図は従来のＭＨＩのパルスシークエンスの図である
。 １・・・９０″パルス ２．１２・・・スライス勾配 ３，１３・・・リフェーズ勾配 ５・・・ＳＥ倍信 号、１４．１５・・・ワーブ勾配
波形図で、（イ）図はＦＡＳＴシークエンス、（ロ）図
はＣＥ−ＦＡＳＴシークエンス、（ハ）図はＦＩＳ’Ｐ
シークエンス、（ニ）図はＦＡＤＥシークエンス、（ホ
）図はＭＥ−ＦＡＳＴシークエンスの読み出し勾配の波
形図、第３図は本発明の実施例の具体例のパルスシーク
エンスの図、 第４図は従来のＭＨＩのパルスシークエンスの図である
。 １・・・９０″パルス ２．１２・・・スライス勾配 ３，１３・・・リフェーズ勾配 ５・・・ＳＥ倍信 号、１４．１５・・・ワーブ勾配
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 静磁場内に設置された被検体中のスピンを定常状態にし
、該被検体のスライス方向、ワープ方向、リード方向の
各方向に予め定めたシークエンスに従って１繰り返し周
期中に複数の勾配磁場及びＲＦパルスを印加し、スライ
ス面からの複数のＭＲ信号を検出して被検体の断層像を
得る高速ＭＲイメージング方法において、 １繰り返し周期中に印加するフリップ角の異なる複数の
ＲＦパルスのうち同一フリップ角又は異なるフリップ角
のＲＦパルスを任意に組み合わせて印加し、 前記スライス方向及びワープ方向の各勾配磁場を前記Ｒ
Ｆパルス印加周期内で時間積分が零になるように印加す
ると共に、 リード方向に異なる高速スキャンシークエンスのための
異なる波形の読み出し勾配磁場を各ＲＦパルス印加周期
毎にその面積が等しく保たれるように印加し、前記読み
出し勾配磁場はそれぞれ異なる波形の勾配磁場又は同じ
波形の勾配磁場を任意に組み合わせて印加することを特
徴とする高速ＭＲイメージング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1271087A JP2916929B2 (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | Ｍｒｉ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1271087A JP2916929B2 (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | Ｍｒｉ装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03133427A true JPH03133427A (ja) | 1991-06-06 |
| JP2916929B2 JP2916929B2 (ja) | 1999-07-05 |
Family
ID=17495184
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1271087A Expired - Fee Related JP2916929B2 (ja) | 1989-10-18 | 1989-10-18 | Ｍｒｉ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2916929B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002136499A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-05-14 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメージング装置及び磁気共鳴イメージング方法 |
| EP1363136A2 (en) * | 2002-05-15 | 2003-11-19 | General Electric Company | Method for MRI with steady-state free precession pulse sequences |
| WO2007145193A1 (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-21 | Hitachi Medical Corporation | 磁気共鳴イメージング装置 |
-
1989
- 1989-10-18 JP JP1271087A patent/JP2916929B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2002136499A (ja) * | 2000-10-30 | 2002-05-14 | Toshiba Corp | 磁気共鳴イメージング装置及び磁気共鳴イメージング方法 |
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| JP2004000610A (ja) * | 2002-05-15 | 2004-01-08 | General Electric Co <Ge> | 定常状態自由歳差運動パルス・シーケンスによるｍｒｉ方法 |
| EP1363136A3 (en) * | 2002-05-15 | 2005-07-06 | General Electric Company | Method for MRI with steady-state free precession pulse sequences |
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| JP4675551B2 (ja) * | 2002-05-15 | 2011-04-27 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 磁気共鳴イメージングのための励起パルス発生方法及び磁気共鳴イメージングシステム |
| WO2007145193A1 (ja) * | 2006-06-16 | 2007-12-21 | Hitachi Medical Corporation | 磁気共鳴イメージング装置 |
| US7868618B2 (en) | 2006-06-16 | 2011-01-11 | Hitachi Medical Corporation | Magnetic resonance imaging apparatus |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2916929B2 (ja) | 1999-07-05 |
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|---|---|---|---|
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