JPH03128457A - 反射特性目視方法 - Google Patents
反射特性目視方法Info
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- JPH03128457A JPH03128457A JP2012740A JP1274090A JPH03128457A JP H03128457 A JPH03128457 A JP H03128457A JP 2012740 A JP2012740 A JP 2012740A JP 1274090 A JP1274090 A JP 1274090A JP H03128457 A JPH03128457 A JP H03128457A
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、パルスエコ一方法による中実物体の超音波試
験の結果の分析および評価に関する。材料および溶接さ
れた接合部の内部欠陥の正確な位置、説明および程度は
重要な構造および装置のための安全性および適合性に最
重要な問題である。
験の結果の分析および評価に関する。材料および溶接さ
れた接合部の内部欠陥の正確な位置、説明および程度は
重要な構造および装置のための安全性および適合性に最
重要な問題である。
超音波試験技術においては、材料および溶接された接合
部の欠陥の位置および寸法付けのための改良された装置
、とくに内部欠陥の容易に読み取り可能な画像を発生す
るための装置を開発することに多くの努力がなされた。
部の欠陥の位置および寸法付けのための改良された装置
、とくに内部欠陥の容易に読み取り可能な画像を発生す
るための装置を開発することに多くの努力がなされた。
多くの装置において、これはエコーデータの記憶のため
に電子マトリクスメモリを含んでいるデジタル計算手段
の使用により可能となり、エコーデータは分析され、グ
レー・スケールまたはカラー画像としてビデオモニタに
表示され、そして永続的に磁気記録手段または永久プリ
ントにより記録される。
に電子マトリクスメモリを含んでいるデジタル計算手段
の使用により可能となり、エコーデータは分析され、グ
レー・スケールまたはカラー画像としてビデオモニタに
表示され、そして永続的に磁気記録手段または永久プリ
ントにより記録される。
先行の２つの特許出願、すなわち、ルンド等の国際特許
比Ｈ８７１０７０２６号およびルンド等のアメリカ合衆
国特許出願２２３，０１４／８４号において、我には非
常に改善された精度および鮮明度の欠陥画像を示す部分
的な（断面の）かつ投影図を提供する超音波試験の装置
および方法を開示した。
比Ｈ８７１０７０２６号およびルンド等のアメリカ合衆
国特許出願２２３，０１４／８４号において、我には非
常に改善された精度および鮮明度の欠陥画像を示す部分
的な（断面の）かつ投影図を提供する超音波試験の装置
および方法を開示した。
前記先行の発明によれば、少なくとも１つの超音波プロ
ーブが試験される物体の表面にわたって移動され、予め
定めた時間間隔で、少なくとも１つの短かいパルスの超
音波エネルギを物体に伝送する。音響ビームの入射点に
ついての、音響ビームの中心軸線の方向についての、異
質性からのエコーパルスの振幅についての、および音響
ビームの対応する通路長さについての情報を含んでいる
信号が測定され、デジタル化され、記憶されかつ物体内
部の異質性の明瞭かつ鮮明な画像を示すビデオ断面（部
分的）および投影図を作るのに使用される。かかる画像
は次いで記録されかつ後での表示、分析および評価のた
めにグレイ・スケール（無彩色スケール）およびカラー
において印刷される。前記先行発明による装置は実際の
試験において断面および投影画像の品質および精度にお
いて劇的な増加を導き、３次元におけるすべての異質性
の正確かつ精密な位置および評価を許容する。
ーブが試験される物体の表面にわたって移動され、予め
定めた時間間隔で、少なくとも１つの短かいパルスの超
音波エネルギを物体に伝送する。音響ビームの入射点に
ついての、音響ビームの中心軸線の方向についての、異
質性からのエコーパルスの振幅についての、および音響
ビームの対応する通路長さについての情報を含んでいる
信号が測定され、デジタル化され、記憶されかつ物体内
部の異質性の明瞭かつ鮮明な画像を示すビデオ断面（部
分的）および投影図を作るのに使用される。かかる画像
は次いで記録されかつ後での表示、分析および評価のた
めにグレイ・スケール（無彩色スケール）およびカラー
において印刷される。前記先行発明による装置は実際の
試験において断面および投影画像の品質および精度にお
いて劇的な増加を導き、３次元におけるすべての異質性
の正確かつ精密な位置および評価を許容する。
しかしながら、１つの問題が解決されるべく残っている
。音響パルスが材料に伝送されかつ異質性から反射され
るとき、音響は幾つかの異なる通路に沿って走行しかつ
その方法で異質性に対してかつそれからモード変換を受
けるかも知れない。
。音響パルスが材料に伝送されかつ異質性から反射され
るとき、音響は幾つかの異なる通路に沿って走行しかつ
その方法で異質性に対してかつそれからモード変換を受
けるかも知れない。
この事実は１つのかつ同一の異質性の多重画像の形成、
および他の異質性からの反射による「ゴースト画像」に
至る。その場合に、最終決定が試験の結果の正確な説明
についてなされることができる前に、このようなエコー
を追跡しかつ評価するかまたは除去することが面倒なか
つ時間のかかる仕事である。
および他の異質性からの反射による「ゴースト画像」に
至る。その場合に、最終決定が試験の結果の正確な説明
についてなされることができる前に、このようなエコー
を追跡しかつ評価するかまたは除去することが面倒なか
つ時間のかかる仕事である。
本発明による方法は、欠陥画像の複雑なかつ重なり合っ
たパターンを発生した超音波試験の結果の説明および評
価の新規かつ申し分のない方法を提供することにより従
来技術の欠点を克服することを目的として開発された。
たパターンを発生した超音波試験の結果の説明および評
価の新規かつ申し分のない方法を提供することにより従
来技術の欠点を克服することを目的として開発された。
本発明によれば、方法は、選ばれた位置を示す画素にお
いて生じかつ前記位置での到来超音波パルスの部分的平
面（断面）上の投射方向に引き出される線部分の長さと
して物体を通る断面の画像における前記位置からのエコ
ー振幅の見本を示すことにより、他の方法では均質な物
体のパルスエコー超音波試験によって突きとめられる反
射異質性の反射特性を目視することについて開示される
。
いて生じかつ前記位置での到来超音波パルスの部分的平
面（断面）上の投射方向に引き出される線部分の長さと
して物体を通る断面の画像における前記位置からのエコ
ー振幅の見本を示すことにより、他の方法では均質な物
体のパルスエコー超音波試験によって突きとめられる反
射異質性の反射特性を目視することについて開示される
。
開示された方法により、選ばれた位置で生ずる種々のエ
コー振幅のすべての明瞭に目視し得る画像を作ることが
可能となり、それにより−すべての顕著なエコーの説明
および使用そして擬似反射を示すエコーの除去の作業を
非常に容易にする。
コー振幅のすべての明瞭に目視し得る画像を作ることが
可能となり、それにより−すべての顕著なエコーの説明
および使用そして擬似反射を示すエコーの除去の作業を
非常に容易にする。
本発明を実現する第１の方法によれば、少なくとも１つ
の超音波プローブが物体の表面上を移動し、予め定めた
時間間隔で少な（とも１つの短かいパルスの超音波エネ
ルギを伝送し少なくとも１つの短かいパルスを受信し、
デジタル計算手段が入射点の対応する連続位置および音
響ビームの中心軸線の方向についての情報およびエコー
パルスの受信時、前記エコーパルスの振幅についてのか
つ前記入射点からエコーパルスを生じる反射点への音響
通路の長さについての情報を含んでいるデジタル信号を
記憶するようになされ、そして前記デジタル信号が、前
記影像部分画像（ビデオ断面画像）に重畳された前記線
部分を示すことにより、物体を通る部分的平面（断面）
の影像（ビデオ画像）を表示するのに使用される。
の超音波プローブが物体の表面上を移動し、予め定めた
時間間隔で少な（とも１つの短かいパルスの超音波エネ
ルギを伝送し少なくとも１つの短かいパルスを受信し、
デジタル計算手段が入射点の対応する連続位置および音
響ビームの中心軸線の方向についての情報およびエコー
パルスの受信時、前記エコーパルスの振幅についてのか
つ前記入射点からエコーパルスを生じる反射点への音響
通路の長さについての情報を含んでいるデジタル信号を
記憶するようになされ、そして前記デジタル信号が、前
記影像部分画像（ビデオ断面画像）に重畳された前記線
部分を示すことにより、物体を通る部分的平面（断面）
の影像（ビデオ画像）を表示するのに使用される。
この方法により、試験の間中記憶され、異質性が突きと
められた画像の点から生じるすべての有用なエコーが明
瞭に示されることで、検討中の異質性の画像の正しい説
明に重要であるエコーを見、理解しかつ評価することを
容易にする。
められた画像の点から生じるすべての有用なエコーが明
瞭に示されることで、検討中の異質性の画像の正しい説
明に重要であるエコーを見、理解しかつ評価することを
容易にする。
本発明を実施する第２の方法によれば、上述した同一の
段階が行なわれるが、この場合にエコー振幅を示す線部
分が少なくとも１つの別個の影像部分的画像（ビデオ断
面画像）において示され、選ばれた画素が画像の中心に
置かれ、そして線部分が位置において到来する超音波パ
ルスの前記断面（部分的平面）上の投射に対応する方向
に引き出される。
段階が行なわれるが、この場合にエコー振幅を示す線部
分が少なくとも１つの別個の影像部分的画像（ビデオ断
面画像）において示され、選ばれた画素が画像の中心に
置かれ、そして線部分が位置において到来する超音波パ
ルスの前記断面（部分的平面）上の投射に対応する方向
に引き出される。
この場合に、欠陥エコーの目視はさらに他の研究のため
に永続的に記録されかつ／または印刷されることができ
る１またはそれ以上のエコー振幅画像において個別に行
なわれる一方、対応する欠陥画像は最初のビデオ断面画
像に重畳される。
に永続的に記録されかつ／または印刷されることができ
る１またはそれ以上のエコー振幅画像において個別に行
なわれる一方、対応する欠陥画像は最初のビデオ断面画
像に重畳される。
上述された第２の方法によれば、一定の特徴の状態にお
ける本発明の適用を具現することが可能となり、そして
２つの平面および平行表面を有する物体をカバーするそ
のような１２個の代表的な状態がより詳細に説明された
。超音波試験の技術において十分に熟練した者には、２
重プローブ、タンデムプローブ、または多重配列プロー
ブの使用、ならびに、本発明が結果の説明および評価を
同様に容易にする場合に、Ｔ−継手、クラツド鋼、パイ
プ接続および同様により複雑な状態をカバーするように
これらの説明を拡大することは容易である。
ける本発明の適用を具現することが可能となり、そして
２つの平面および平行表面を有する物体をカバーするそ
のような１２個の代表的な状態がより詳細に説明された
。超音波試験の技術において十分に熟練した者には、２
重プローブ、タンデムプローブ、または多重配列プロー
ブの使用、ならびに、本発明が結果の説明および評価を
同様に容易にする場合に、Ｔ−継手、クラツド鋼、パイ
プ接続および同様により複雑な状態をカバーするように
これらの説明を拡大することは容易である。
本発明の他の目的および利点は添付図面に関連してなさ
れる以下の説明から容易に明らかとなる。
れる以下の説明から容易に明らかとなる。
第１図は平らな表面３を有する物体２内の異質性ｌの画
像を発生しかつ記録するための従来の超音波装置および
方法を略示する。超音波プローブ４は走査通路５に沿っ
て移動され、中心軸線６を有する音響ビームにおいて物
体に短かいパルスの超音波エネルギを伝送する。位置信
号発生手段７゜８は連続する入射点９の位置および物体
に対して固定関係の座標系（ｘ、ｙ、ｚ）における軸線
６の方向についての情報を含んでいるデジタル信号を伝
送するようになされている。エコーパルスの受信時、超
音波装置１０はエコーパルスの振幅についての、かつ入
射点９から反射点１つの音響通路１１の長さについての
情報を含んでいるデジタルエコー信号を発生する。
像を発生しかつ記録するための従来の超音波装置および
方法を略示する。超音波プローブ４は走査通路５に沿っ
て移動され、中心軸線６を有する音響ビームにおいて物
体に短かいパルスの超音波エネルギを伝送する。位置信
号発生手段７゜８は連続する入射点９の位置および物体
に対して固定関係の座標系（ｘ、ｙ、ｚ）における軸線
６の方向についての情報を含んでいるデジタル信号を伝
送するようになされている。エコーパルスの受信時、超
音波装置１０はエコーパルスの振幅についての、かつ入
射点９から反射点１つの音響通路１１の長さについての
情報を含んでいるデジタルエコー信号を発生する。
接続された位置およびエコーパルス信号は試験によって
発生されたデータ用の１またはそれ以上のメモリ１３，
１９，２２．２５を含んでいるデジタル計算および制御
手段１２に運ばれる。ビデオスクリーン端末１６は超音
波プローブの走査運動および超音波装置およびデジタル
計算および制御手段１２の作動を制御し、そしてマトリ
クスメモリ１３，１９，２２．２５に記憶されたデータ
から引き出された画像を表示する。記録手段１７はマト
リクスメモリに記憶されたデータおよびスクリーン端末
１６に表示された画像の永続的な、電子的に読取り可能
な記録を発生するために設けられる。印刷手段１８はス
クリーン端末に表示された画像の永続的な印刷を生ずる
ために設けられる。
発生されたデータ用の１またはそれ以上のメモリ１３，
１９，２２．２５を含んでいるデジタル計算および制御
手段１２に運ばれる。ビデオスクリーン端末１６は超音
波プローブの走査運動および超音波装置およびデジタル
計算および制御手段１２の作動を制御し、そしてマトリ
クスメモリ１３，１９，２２．２５に記憶されたデータ
から引き出された画像を表示する。記録手段１７はマト
リクスメモリに記憶されたデータおよびスクリーン端末
１６に表示された画像の永続的な、電子的に読取り可能
な記録を発生するために設けられる。印刷手段１８はス
クリーン端末に表示された画像の永続的な印刷を生ずる
ために設けられる。
第２図はさらに、物体２を通る断面１４の画像（Ｂ走査
デイスプレィ）を発生するときの従来の試験の作動を略
示する。プローブ４は物体の表面上で連続位置９．９ａ
、９ｂ、・・・・・・９ｅに移動される。各位置に関し
て、エコーパルス振幅を示すデータ（もしもあるならば
）が記憶されかつビデオスクリーン端末１６に通常の完
全な断面画像を表示するのに使用される。
デイスプレィ）を発生するときの従来の試験の作動を略
示する。プローブ４は物体の表面上で連続位置９．９ａ
、９ｂ、・・・・・・９ｅに移動される。各位置に関し
て、エコーパルス振幅を示すデータ（もしもあるならば
）が記憶されかつビデオスクリーン端末１６に通常の完
全な断面画像を表示するのに使用される。
留意されるべきことは、平らな表面３は例としてのみ示
されるということである。原則として、表面は如何なる
形状、例えば筒状または球状を、表面の形状が座標（ｘ
、ｙ、ｚ）に関連して幾何的に十分に定義されるならば
、有することができ、そしてデジタル計算および制御手
段はしたがってプログラムされている。
されるということである。原則として、表面は如何なる
形状、例えば筒状または球状を、表面の形状が座標（ｘ
、ｙ、ｚ）に関連して幾何的に十分に定義されるならば
、有することができ、そしてデジタル計算および制御手
段はしたがってプログラムされている。
物体に存在する異質性１は第３図の断面画像３０におい
て符号３３で示される。第３図はさらに、超音波プロー
ブの対応する位置９．９ａ。
て符号３３で示される。第３図はさらに、超音波プロー
ブの対応する位置９．９ａ。
９ｂ、９ｃにおいて得られたエコー振幅値を示す線部分
３２．３２ａ、３２ｂ、３２ｃの重畳された画像を示し
、そして選択された画素３６からの同一の振幅値３５．
３５ａ、３５ｂ、３５ｃはさらに別個の断面画像３４に
示される。線部分は個別のカラーにおいて太い線として
示されることができる一方、音響通路は細い線３１，３
１ａ。
３２．３２ａ、３２ｂ、３２ｃの重畳された画像を示し
、そして選択された画素３６からの同一の振幅値３５．
３５ａ、３５ｂ、３５ｃはさらに別個の断面画像３４に
示される。線部分は個別のカラーにおいて太い線として
示されることができる一方、音響通路は細い線３１，３
１ａ。
３１ｂ、３１ｃによって示されることができる。
画素が研究のために選択されるごとに、調査はエコー振
幅値の完全な記憶によって開始される。
幅値の完全な記憶によって開始される。
各距離１１．ｌｌａ、ｌｌｂ、Ｉｌｃに関して、調査は
記憶された値の間で実施されかつエコーが調査された距
離に見い出されるならば、断面画像３０および／または
３４内の線部分として表示され、そして対応する欠陥画
像３３が断面画像３０に重畳されて示される。
記憶された値の間で実施されかつエコーが調査された距
離に見い出されるならば、断面画像３０および／または
３４内の線部分として表示され、そして対応する欠陥画
像３３が断面画像３０に重畳されて示される。
振幅線部分が試験の結果を評価するのに如何に大きな助
けとなることができるかが明らかに理解される。冬型の
異質性はエコー振幅の個々のパターン、例えば欠陥平面
に対して直角の平面欠陥を表示し、一方すべての方向に
均一に反射する傾向を含んでいる。
けとなることができるかが明らかに理解される。冬型の
異質性はエコー振幅の個々のパターン、例えば欠陥平面
に対して直角の平面欠陥を表示し、一方すべての方向に
均一に反射する傾向を含んでいる。
第４図は異質性ｌから反射されたエコーの調査を略示す
る。各距離３７，３７ａ、３７ｂ、３７Ｃに関して調査
は記憶されたエコー値の間で実施され、そしてエコーが
調査された距離に見い出されるならば、断面画像４０内
の選択された画素３９からの線部分３８．３８ａ、３８
ｂ、３８ｃとして表示され、かつ対応する欠陥画像４１
が断面画像４２に重畳されて示される。調査された音響
通路を示す細い線３１．３１ａ、３１ｂ、３１Ｃおよび
４３．４３ａ、４３ｂ、４３ｃは試験の結果を分析する
段階の間中の情報のために保持されることができる。
る。各距離３７，３７ａ、３７ｂ、３７Ｃに関して調査
は記憶されたエコー値の間で実施され、そしてエコーが
調査された距離に見い出されるならば、断面画像４０内
の選択された画素３９からの線部分３８．３８ａ、３８
ｂ、３８ｃとして表示され、かつ対応する欠陥画像４１
が断面画像４２に重畳されて示される。調査された音響
通路を示す細い線３１．３１ａ、３１ｂ、３１Ｃおよび
４３．４３ａ、４３ｂ、４３ｃは試験の結果を分析する
段階の間中の情報のために保持されることができる。
第５図は第１の超音波角度プローブから伝送されかつ前
記超音波プローブからの超音波ビームの入射点４７に直
接異質性４６から反射される超音波パルス４５の断面図
４４を示す。これは通常求められる第１の有用なエコー
であり、そして線部分５０として対応する画素４９から
別個の断面図４８に示される。
記超音波プローブからの超音波ビームの入射点４７に直
接異質性４６から反射される超音波パルス４５の断面図
４４を示す。これは通常求められる第１の有用なエコー
であり、そして線部分５０として対応する画素４９から
別個の断面図４８に示される。
第６図は物体の背部壁から長手方向波（縦波）５３とし
て最初に反射される長手方向波として第１の超音波角度
プローブから伝送される超音波パルス５２の断面図５１
を示す。波の一部は超音波プローブに同一方法で異質性
から反射される。対応する画素５６からの別個の断面図
５６においてこの反射されたエコーは線部分５７として
示され、そして欠陥画像５１は次いで画像４４上に重畳
されることができる。
て最初に反射される長手方向波として第１の超音波角度
プローブから伝送される超音波パルス５２の断面図５１
を示す。波の一部は超音波プローブに同一方法で異質性
から反射される。対応する画素５６からの別個の断面図
５６においてこの反射されたエコーは線部分５７として
示され、そして欠陥画像５１は次いで画像４４上に重畳
されることができる。
第７図は物体の背部壁から横方向波（横波）６０として
最初に反射される長手方向波として第１の超音波角度プ
ローブから伝送される超音波パルス５９の断面図５８を
示す。波の一部は同じ方法で超音波プローブに異質性６
１から反射される。対応する画素６３からの別個の断面
図６２において、この反射されたエコーは線部分６４と
して示され、そして欠陥画像５８は次いで画像４４上に
重畳されることができる。
最初に反射される長手方向波として第１の超音波角度プ
ローブから伝送される超音波パルス５９の断面図５８を
示す。波の一部は同じ方法で超音波プローブに異質性６
１から反射される。対応する画素６３からの別個の断面
図６２において、この反射されたエコーは線部分６４と
して示され、そして欠陥画像５８は次いで画像４４上に
重畳されることができる。
第８図および第９図は物体の背部壁から横方向波６９ま
たは長手方向波７０として反射される横方向波として第
１の超音波角度プローブから伝送される。波の一部は同
一方法で超音波プローブに異質性７１．７２から反射さ
れる。対応する画素７５．７６からの別個の図７３．７
４において、反射されたエコーは線部分７７．７８とし
て示され、かつ欠陥画像６５．６６は次いで画像４４上
に重畳されることができる。
たは長手方向波７０として反射される横方向波として第
１の超音波角度プローブから伝送される。波の一部は同
一方法で超音波プローブに異質性７１．７２から反射さ
れる。対応する画素７５．７６からの別個の図７３．７
４において、反射されたエコーは線部分７７．７８とし
て示され、かつ欠陥画像６５．６６は次いで画像４４上
に重畳されることができる。
エコー画像が試験の結果の説明に如何に大きな助けとな
るかが全く明らかであり、かつ同様に、欠陥画像４４が
従来技術において無視される欠陥画像５４，６１．７１
および７２に重要な情報を付加することにより如何に改
善されることができるかが明らかである。
るかが全く明らかであり、かつ同様に、欠陥画像４４が
従来技術において無視される欠陥画像５４，６１．７１
および７２に重要な情報を付加することにより如何に改
善されることができるかが明らかである。
第１θ図は第１の超音波クリープ波角度プローブからの
音響ビームの入射点８２に物体の表面においてまたはそ
の直ぐ下に欠陥８１から直接反射されるクリープ波とし
て前記超音波プローブから伝送される超音波パルス８０
の断面図７９を示す。
音響ビームの入射点８２に物体の表面においてまたはそ
の直ぐ下に欠陥８１から直接反射されるクリープ波とし
て前記超音波プローブから伝送される超音波パルス８０
の断面図７９を示す。
これは再び最初に求められる有用なエコーであり、そし
て線部分８５として対応する画素８４からの別個の断面
図８３において示される。
て線部分８５として対応する画素８４からの別個の断面
図８３において示される。
超音波クリープ波角度プローブはまた物体の背部壁から
２次横方向波８８の超音波パルスの断面図８７を示す第
１１図に示されるような２次横方向波８６を伝送する。
２次横方向波８８の超音波パルスの断面図８７を示す第
１１図に示されるような２次横方向波８６を伝送する。
波の一部は超音波プローブに物体の表面においてまたは
その直ぐ下で欠陥８９から反射される。対応する画素９
１からの別個の断面図９０においてこの反射されたエコ
ーは線部分９２として示され、そして欠陥画像８７は次
いで画像７９上に重畳されることができる。
その直ぐ下で欠陥８９から反射される。対応する画素９
１からの別個の断面図９０においてこの反射されたエコ
ーは線部分９２として示され、そして欠陥画像８７は次
いで画像７９上に重畳されることができる。
第１２図および第１３図は２つの異なる方法において反
射された、横方向波９５および９６を示す断面図９３お
よび９４を示す。第１２図において横方向波９５はクリ
ープ波９７に変化される。
射された、横方向波９５および９６を示す断面図９３お
よび９４を示す。第１２図において横方向波９５はクリ
ープ波９７に変化される。
背面の欠陥９８において、波は音響ビームの入射点１０
１に鏡面反射される横方向波１００として前面において
反射される横方向波９９に変化される。対応する画素１
（１３からの別個の断面図１０２において、この反射さ
れた波は線部分１（１４として示される。
１に鏡面反射される横方向波１００として前面において
反射される横方向波９９に変化される。対応する画素１
（１３からの別個の断面図１０２において、この反射さ
れた波は線部分１（１４として示される。
第１３図において横方向波９６は音響ビームの入射点１
０９に戻って長手方向波１０８に欠陥１０７において変
えられる横方向波１（１５および１０６として２回反射
される。対応する画素１１１からの別個の断面図１１０
において、この反射されたエコーは線部分１１２として
示され、そして欠陥画像９４は次いで欠陥画像９３上に
重畳されることができる。
０９に戻って長手方向波１０８に欠陥１０７において変
えられる横方向波１（１５および１０６として２回反射
される。対応する画素１１１からの別個の断面図１１０
において、この反射されたエコーは線部分１１２として
示され、そして欠陥画像９４は次いで欠陥画像９３上に
重畳されることができる。
超音波クリープ波角度プローブはまた、音響ビームの入
射点１１６に直接欠陥１１５から反射される２次長手方
向波１１４の超音波パルスの断面図１１３を示す第１４
図に示されるような２次長手方向波を伝送する。対応す
る画素１１Ｂからの別個の断面図１１７において、この
反射されたエコーは線部分１１９として示され、そして
欠陥画像が再び欠陥画像９３に重畳されることができる
。
射点１１６に直接欠陥１１５から反射される２次長手方
向波１１４の超音波パルスの断面図１１３を示す第１４
図に示されるような２次長手方向波を伝送する。対応す
る画素１１Ｂからの別個の断面図１１７において、この
反射されたエコーは線部分１１９として示され、そして
欠陥画像が再び欠陥画像９３に重畳されることができる
。
第１５図はクリープ波角度プローブからのクリープ波１
２１が突き合せ溶接１２２の縁部において横方向波１２
３にどのように変えられることができるかを断面図１２
０において示す。これらの波は次いで音響ビームの入射
点１２５に戻って物体の背面においてまたはその直ぐ下
で欠陥１２４から反射される。対応する画素１２７から
の別個の断面図１２６において反射された波は線部分１
２Ｂによって識別される。
２１が突き合せ溶接１２２の縁部において横方向波１２
３にどのように変えられることができるかを断面図１２
０において示す。これらの波は次いで音響ビームの入射
点１２５に戻って物体の背面においてまたはその直ぐ下
で欠陥１２４から反射される。対応する画素１２７から
の別個の断面図１２６において反射された波は線部分１
２Ｂによって識別される。
最後に、第１６図は、超音波角度プローブからの超音波
１３０が超音波１３２として異質性１３１から最初に反
射され、かつ次いで音響ビームの入射点１３５に戻って
超音波１３４として他の異質性１３３から次に反射され
るかを断面図１２９において例として示す。この凝（以
反射は線部分１３Ｂとして対応する画素１３７からの別
個の断面図１３６に示される。この方法において擬似の
、反射されたエコーおよび断面図１２９内のそれらに対
応する「ゴースト画像」を識別しかつ無視することがで
きる。
１３０が超音波１３２として異質性１３１から最初に反
射され、かつ次いで音響ビームの入射点１３５に戻って
超音波１３４として他の異質性１３３から次に反射され
るかを断面図１２９において例として示す。この凝（以
反射は線部分１３Ｂとして対応する画素１３７からの別
個の断面図１３６に示される。この方法において擬似の
、反射されたエコーおよび断面図１２９内のそれらに対
応する「ゴースト画像」を識別しかつ無視することがで
きる。
上記例においては、振幅線部分が、試験中のオンライン
でかつ反射されたエコーの識別および擬似エコーの無視
における後処理において、どのように非常に強力な道具
であることができるかが明瞭に示されている。同時に、
直接画像として同一方法の画像向上およびろ過を受ける
ことができる欠陥画像の重畳は従来技術において無視さ
れる重要な情報を付加することができる。
でかつ反射されたエコーの識別および擬似エコーの無視
における後処理において、どのように非常に強力な道具
であることができるかが明瞭に示されている。同時に、
直接画像として同一方法の画像向上およびろ過を受ける
ことができる欠陥画像の重畳は従来技術において無視さ
れる重要な情報を付加することができる。
理解されることは、開示された方法の幾つかの変更およ
び変形が本発明の新規な概念の精神および範囲を逸脱す
ることなく加えられることができるということである。
び変形が本発明の新規な概念の精神および範囲を逸脱す
ることなく加えられることができるということである。
第１図は本発明の背景を構成する従来技術の超音波試験
装置を一部を等川口としてかつ一部をブロック図として
示す概略図、 第２図は第１図の従来装置によるビデオ断面画像（Ｂ走
査表示）の発生を示す概略図、第３図はそれ自体断面画
像に重畳されかつ追加の断面画像として振幅線部分を示
す、第２図において得られたビデオ断面画像の概略図、
第４図は物体の背部壁から反射されたエコーパルスによ
って発生された他の断面画像の第３図への追加を示す概
略図、 第５図は直接反射異質性の画像の発生を示す概略図、 第６図、第７図、第８図、第９図は第５図に示した異質
性の４つの考え得る間接反射を示す概略図、 第１０図、第１１図、第１２図、第１３図、第１４図、
第１５図はクリープ波角度プローブを使用するときの考
え得る反射を示す概略図、第１６図は同−断面内に置か
れた他の異質性からの「ゴースト反射」を示す概略図で
ある。 図中、符号１，４６，５４，６１，１３１は異質性、２
は物体、４は超音波プローブ、１１は音響通路、１２は
デジタル計算および制御手段、１３．１９，２２．２５
はメモリ、１６はスクリーン端末、１７は記録手段、Ｉ
８は印刷手段、３０．３４．４０は断面画像、３６は画
素、５３は長手方向波、６０は横方向波、６４．７７゜
７８．８５は線部分、１２２は突き合せ溶接である。 図面の浄書（内容に変更なし） 手 続 主甫 正 占（方式） ％式％ １、事件の表示 平成２年特許願第１２７ ４０号 ２、発明の名称 フィテンス力ベール、 スフェジェセントラーレン ４゜ 代 理 人 （ほか３名） ５゜ 補正命令の日付 平成２年３月２９日 （発送日：平成２年４月２４日） ６、補正の対象
装置を一部を等川口としてかつ一部をブロック図として
示す概略図、 第２図は第１図の従来装置によるビデオ断面画像（Ｂ走
査表示）の発生を示す概略図、第３図はそれ自体断面画
像に重畳されかつ追加の断面画像として振幅線部分を示
す、第２図において得られたビデオ断面画像の概略図、
第４図は物体の背部壁から反射されたエコーパルスによ
って発生された他の断面画像の第３図への追加を示す概
略図、 第５図は直接反射異質性の画像の発生を示す概略図、 第６図、第７図、第８図、第９図は第５図に示した異質
性の４つの考え得る間接反射を示す概略図、 第１０図、第１１図、第１２図、第１３図、第１４図、
第１５図はクリープ波角度プローブを使用するときの考
え得る反射を示す概略図、第１６図は同−断面内に置か
れた他の異質性からの「ゴースト反射」を示す概略図で
ある。 図中、符号１，４６，５４，６１，１３１は異質性、２
は物体、４は超音波プローブ、１１は音響通路、１２は
デジタル計算および制御手段、１３．１９，２２．２５
はメモリ、１６はスクリーン端末、１７は記録手段、Ｉ
８は印刷手段、３０．３４．４０は断面画像、３６は画
素、５３は長手方向波、６０は横方向波、６４．７７゜
７８．８５は線部分、１２２は突き合せ溶接である。 図面の浄書（内容に変更なし） 手 続 主甫 正 占（方式） ％式％ １、事件の表示 平成２年特許願第１２７ ４０号 ２、発明の名称 フィテンス力ベール、 スフェジェセントラーレン ４゜ 代 理 人 （ほか３名） ５゜ 補正命令の日付 平成２年３月２９日 （発送日：平成２年４月２４日） ６、補正の対象
Claims (15)
- （１）選ばれた位置からのエコー振幅の見本が物体を通
る断面のビデオ画像において前記位置を示す画素におい
て生ずる線部分の長さとして示される、他の方法で均質
な物体のパルスエコー超音波試験によって突きとめられ
る反射異質性の反射特性を目視する反射特性目視方法に
おいて、 前記線部分の長さが前記位置において到来する超音波パ
ルスの前記断面上で投射方向に引き出されることを特徴
とする反射特性目視方法。 - （２）少なくとも１つの超音波プローブが物体の表面上
を移動し、予め定めた時間間隔で少なくとも１つの短か
いパルスの超音波エネルギを伝送しかつ内部異質性から
エコーパルスを受信し、デジタル計算手段が入射点の対
応する連続位置および音響ビームの中心軸線の方向につ
いての情報およびエコーパルスの受信時、前記エコーパ
ルスの振幅についてかつ前記入射点からエコーパルスを
生じる反射点への音響通路の長さについての情報を含ん
でいるデジタル信号を記憶するようになされ、そして前
記デジタル信号が前記物体を通る断面のビデオ欠陥画像
を表示するのに使用されるものであって、前記線部分が
前記断面ビデオ欠陥画像に重畳されて示されることを特
徴とする請求項１に記載の反射特性目視方法。 - （３）少なくとも１つの超音波プローブが物体の表面上
を移動し、予め定めた時間間隔で少なくとも１つの短か
いパルスの超音波エネルギを伝送しかつ内部異質性から
エコーパルスを受信し、デジタル計算手段が入射点の対
応する連続位置および音響ビームの中心線の方向につい
ての情報およびエコーパルスの受信時、前記エコーパル
スの振幅についてかつ前記入射点からのエコーパルスを
生じる反射点への音響通路の長さについての情報を含ん
でいるデジタル信号を記憶するようになされ、そして前
記デジタル信号が物体を通る断面の第１のビデオ欠陥画
像を表示するのに使用されるものであって、前記線部分
が少なくとも１つの第２の別個の影像部分的画像におい
て示され、選ばれた画素が前記画像の中心に置かれ、そ
して前記線部分が前記位置において到来する超音波パル
スの前記断面上の投射に対応する方向に引き出されるこ
とを特徴とする請求項１に記載の反射特性目視方法。 - （４）前記超音波プローブによって伝送された超音波パ
ルスは前記超音波プローブから音響ビームの入射点に対
して直接反射されることを特徴とする請求項３に記載の
反射特性目視方法。 - （５）前記超音波プローブから伝送されるパルスが最初
に物体の背部から長手方向波として反射される長手方向
波からなり、前記長手方向波は次いで内部異質性から前
記超音波プローブに同一方法で反射され、そして反射波
の振幅が予め定めたレベルを超えるならば、かくして発
生された断面欠陥画像が前記第１の断面欠陥画像に重畳
されて示されることを特徴とする請求項３に記載の反射
特性目視方法。 - （６）前記超音波プローブから伝送されたパルスが物体
の背部から横方向波として最初に反射される長手方向波
からなり、前記長手方向波は次いで内部の異質性から前
記超音波プローブへ同一方法で反射され、そして反射さ
れた波の振幅が予め定めたレベルを超えるとき、かくし
て発生された断面欠陥画像が前記最初の断面欠陥画像に
重畳されて示されることを特徴とする請求項３に記載の
反射特性目視方法。 - （７）前記超音波プローブから伝送されたパルスは物体
の背部から横方向波として最初に反射される横方向波か
らなり、前記横方向波は次いで内部異質性から前記超音
波プローブに同一方法で反射され、そして反射された波
の振幅が予め定めたレベルを超えるならば、かくして発
生された断面欠陥画像が前記最初の断面欠陥画像に重畳
されて示されることを特徴とする請求項３に記載の反射
特性目視方法。 - （８）前記超音波プローブから伝送されるパルスは物体
の背部から長手方向波として最初に反射される横方向波
からなり、前記横方向波は次いで内部異質性から前記超
音波プローブへ同一方法で反射され、そして反射された
波の振幅が予め定めたレベルを超えるならば、かくして
発生された断面欠陥画像は前記最初の断面欠陥画像に重
畳されて示されることを特徴とする請求項３に記載の反
射特性目視方法。 - （９）超音波クリープ波角度プローブから伝送される超
音波パルスは物体の前面でのまたはその直ぐ下の欠陥か
ら直接クリープ波として反射される請求項３に記載の反
射特性目視方法。 - （１０）超音波クリープ波角度プローブから伝送される
パルスは物体の背部から横方向波として最初に反射され
る横方向波からなり、前記横方向波は次いで同一方法で
前記プローブに物体の前面でのまたはその直ぐ下の欠陥
から反射され、そして反射された波の振幅が予め定めた
レベルを超えるならば、このようにして発生された断面
欠陥画像は前記最初の断面欠陥画像に重畳されて示され
ることを特徴とする請求項３に記載の反射特性目視方法
。 - （１１）横方向波として超音波クリープ波角度プローブ
から伝送される超音波は物体の前面から第２の時間で反
射される横方向波として背部壁面におけるまたはその直
ぐ下の欠陥から反射され、かつ前記超音波プローブの入
射点において最終的に受信される横方向波として背部壁
から第３の時間で反射されるクリープ波に前記背部壁面
において変化され、そして、反射された波の振幅が予め
定めたレベルを超えるならば、このようにして発生され
た断面欠陥画像は前記最初の断面欠陥画像に重畳されて
示されることを特徴とする請求項３に記載の反射特性目
視方法。 - （１２）横方向波として超音波クリープ波角度プローブ
から伝送される超音波パルスは最初に前面に横方向波と
して反射され、次いで背部壁面におけるまたは直ぐ下の
欠陥が前記超音波プローブの入射点において最後に受信
される長手方向波としてパルスを反射するならば、前記
背部壁面に横方向波として反射され、そして反射された
波の振幅が予め定めたレベルを超えるならば、このよう
にして発生された断面欠陥画像は前記最初の断面欠陥画
像に重畳されて示されることを特徴とする請求項３に記
載の反射特性目視方法。 - （１３）長手方向波として超音波クリープ波角度プロー
ブから伝送される超音波パルスは前記超音波プローブの
入射点に直接長手方向波と背部壁面におけるまたはその
直ぐ下の欠陥から反射され、そして反射波の振幅が予め
定めたレベルを超えるならば、このようにして発生され
た断面欠陥画像は前記最初の断面欠陥画像に重畳されて
示されることを特徴とする請求項３に記載の反射特性目
視方法。 - （１４）物体の前面に沿ってクリープ波として超音波ク
リープ波角度プローブから伝送される超音波パルスは突
き合せ溶接の縁部において、前記超音波プローブの入射
点で最終的に受信される長手方向波と背部壁面における
またはその直ぐ下の欠陥から反射される横方向波に変化
され、そして反射波の振幅が予め定めたレベルを超える
ならば、このようにして発生された断面欠陥画像は前記
最初の断面欠陥画像に重畳されて示されることを特徴と
する請求項３に記載の反射特性目視方法。 - （１５）超音波プローブによって伝送される超音波パル
スは最初に第１の内部異質性によって反射され、第２の
内部異質性から第２時間に反射され、かつ最後に前記超
音波角度プローブの入射点において反射されることを特
徴とする請求項３に記載の反射特性目視方法。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US30093489A | 1989-01-24 | 1989-01-24 | |
| US300,934 | 1989-01-24 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH03128457A true JPH03128457A (ja) | 1991-05-31 |
| JP2935122B2 JP2935122B2 (ja) | 1999-08-16 |
Family
ID=23161227
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2012740A Expired - Lifetime JP2935122B2 (ja) | 1989-01-24 | 1990-01-24 | 反射特性目視方法 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| EP (1) | EP0380436B1 (ja) |
| JP (1) | JP2935122B2 (ja) |
| DE (1) | DE69010926T2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997036175A1 (fr) * | 1996-03-28 | 1997-10-02 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Detecteur de defauts par ultrasons et procede de detection de defauts par ultrasons |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102006028364A1 (de) * | 2006-06-19 | 2007-12-27 | Aluminium Norf Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Zustandsüberwachung von Walzen |
| GB2588102B (en) | 2019-10-04 | 2023-09-13 | Darkvision Tech Ltd | Surface extraction for ultrasonic images using path energy |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3792613A (en) * | 1972-05-19 | 1974-02-19 | Krautkramer Branson | Pulse-echo ultrasonic test apparatus with cathode ray tube digital display |
| DK151239C (da) * | 1973-09-05 | 1988-05-16 | Akad Tekn Videnskaber | Apparat til ultralydundersoegelse |
| JPS5311473B2 (ja) * | 1974-07-03 | 1978-04-21 | ||
| EP0276205B1 (en) * | 1986-05-05 | 1990-09-12 | Akademiet For De Tekniske Videnskaber, Svejsecentralen | System for ultrasonic examination |
-
1990
- 1990-01-17 EP EP90610006A patent/EP0380436B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1990-01-17 DE DE1990610926 patent/DE69010926T2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-01-24 JP JP2012740A patent/JP2935122B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997036175A1 (fr) * | 1996-03-28 | 1997-10-02 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Detecteur de defauts par ultrasons et procede de detection de defauts par ultrasons |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2935122B2 (ja) | 1999-08-16 |
| EP0380436A1 (en) | 1990-08-01 |
| EP0380436B1 (en) | 1994-07-27 |
| DE69010926T2 (de) | 1994-12-22 |
| DE69010926D1 (de) | 1994-09-01 |
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