JPH03127208U - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPH03127208U JPH03127208U JP3624690U JP3624690U JPH03127208U JP H03127208 U JPH03127208 U JP H03127208U JP 3624690 U JP3624690 U JP 3624690U JP 3624690 U JP3624690 U JP 3624690U JP H03127208 U JPH03127208 U JP H03127208U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- stylus
- displacement
- sample
- measured
- photodetector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims 3
- 241001422033 Thestylus Species 0.000 claims 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
第1図は本考案に係るレーザピツクアツプの断
面図、第2図は信号処理回路のブロツク回路図、
第3図はフオーカスエラー信号のSカーブの測定
例を示す線図、第4図は本考案に係る計測装置を
備えたAFMによる側定例を示す線図である。 1……半導体レーザ、3……ビームスプリツタ
、8……フオトデイテクタ、10……差動増幅器
。
面図、第2図は信号処理回路のブロツク回路図、
第3図はフオーカスエラー信号のSカーブの測定
例を示す線図、第4図は本考案に係る計測装置を
備えたAFMによる側定例を示す線図である。 1……半導体レーザ、3……ビームスプリツタ
、8……フオトデイテクタ、10……差動増幅器
。
Claims (1)
- 試料に接触する触針を弾発力が極めて小さいス
プリングで支持し、前記触針の変位を計測して試
料の表面を原子レベルで測定する原子間力顕微鏡
において、前記触針の変位を計測する機構を、半
導体レーザ及びその光路系並びに反射光を受光す
る四分割したフオトデイテクタを一体構成したレ
ーザピツクアツプと、このレーザピツクアツプの
前記フオトデイテクタからの各信号に基づいてフ
オーカスエラー信号を生成する信号処理回路とか
ら構成したことを特徴とする原子間力顕微鏡の変
位計測装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3624690U JPH03127208U (ja) | 1990-04-04 | 1990-04-04 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP3624690U JPH03127208U (ja) | 1990-04-04 | 1990-04-04 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03127208U true JPH03127208U (ja) | 1991-12-20 |
Family
ID=31542315
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP3624690U Pending JPH03127208U (ja) | 1990-04-04 | 1990-04-04 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH03127208U (ja) |
-
1990
- 1990-04-04 JP JP3624690U patent/JPH03127208U/ja active Pending
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
Quercioli et al. | Monitoring of an atomic force microscope cantilever with a compact disk pickup | |
JP3073268B2 (ja) | 微小変位検出方法 | |
KR950010270B1 (ko) | 광디스크 픽업장치 | |
JPH03127208U (ja) | ||
JPS62212507A (ja) | レ−ザ干渉計で校正を不要とした触針式表面形状検出器 | |
JPH04366711A (ja) | 変位検出装置 | |
JPH07110212A (ja) | 変位検出装置 | |
JP2609606B2 (ja) | 光ピツクアツプの対物レンズ位置検出装置 | |
JPH0766548B2 (ja) | フオ−カス検出装置 | |
JPH0648574Y2 (ja) | 光ピックアップ検査装置 | |
JPH0729452Y2 (ja) | 変位測定装置 | |
JP3125844B2 (ja) | 電圧測定装置 | |
JPH052807Y2 (ja) | ||
JP3044225B1 (ja) | 光反射方式角度検出計の感度またはダイナミックレンジの制御方法 | |
JPH02281103A (ja) | 原子間力顕微鏡 | |
Zhang et al. | A compact optical vibration transducer with photo IC | |
JPH033176B2 (ja) | ||
JP2869675B2 (ja) | 微小間隔の測定方法 | |
JPS6217607A (ja) | 光学式傾き検出装置 | |
JPH0452704Y2 (ja) | ||
JPH01158904U (ja) | ||
KR0144181B1 (ko) | 홀로그램 모듈 | |
NL1007179C2 (nl) | Optisch opneemstelsel. | |
JPS59210304A (ja) | 変位測定装置 | |
JPH0829434A (ja) | 走査型プローブ顕微鏡 |