JPH0291944A - 金バンプ用金合金細線 - Google Patents

金バンプ用金合金細線

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野コ 本発明は、ワイヤレスボンディングにおいてバンプ(金
属突起)を形成するために用いられる金バンプ用金合金
細線に関する。
[従来の技術] 近年、ICチップの多極化に伴い、ICチップをリード
フレームに接続する方法として、経済性および接続の信
頼性の要請からこれまで用いられていたワイヤーボンデ
ィング方式に代えて、金属細線を使用しないワイヤレス
ボンディング方式が採用されつつある。
ちなみに、現在確立されている主なワイヤレスボンディ
ング方式としては、第3図に示すようにICチップlの
電極部にバンブ2・・・を形成し、これを基板3上の導
体層4に圧着せしめるフリップチップ法や、第4図に示
すようにICデツプ1上に形成したバンプ2・・・をS
nめっきしたCuリード5の一端部に圧着し、次いで上
記リード5の他端部を基板3上の導体層4に圧着せしめ
ろフィルムキャリヤ法等がある。
この場合において、上記ワイヤレスボンディング方式に
おいては、いずれもチップl上にバンブ2・・・を形成
する必要がある。そこで、これまではチップiの電極部
に銅ボールを圧着させろことにより、あるいはハンダ蒸
着によって上記チップl上にバンプ2・・・を形成して
いた。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、上述した銅ボールを圧着したバンブ2に
あっては、金属安定性の点で好ましくなく、しかも硬度
が高いためチップlへの圧着時にチップクラックを発生
する危険性があるという欠点があった。また、ハンダ蒸
着によるバンプ形成にあっては、複数の工程を要して長
時間を要し、製造効率が極めて悪いという欠点があった
このため、上記欠点を解消すべく、一般のワイヤーボン
ディング方式に用いられている金合金細線によってバン
プを形成する方法ら提案されている。ところが、上記従
来の金合金細線にあっては、この端部に電気トーチによ
りボールを形成してICチップに圧着した後、ワイヤ部
分をクランパで把持して上記ボールを引きちぎると、第
2図に示すようにICチップ状に残されたボール(バン
プ)2の切断部(ネック部)6上に、接続不良の主たる
原因となるテール7が残ってしまうという問題点があっ
た。
本発明は、上記従来の金バンプ用金合金細線のもつ問題
点を解決すべくなされたもので、常にネック部から破断
されて正常なバンプを形成することができる金バンブ用
金合金細線を提供することを目的とするものである。
[問題点を解決するための手段] 本発明の金バンプ用金合金細線は、Pdを0.5〜10
重量%含有し、さらにL a、 Ce、 Caのうち1
種または2種以上をo、ooot〜0.02重量%含有
し、残部がAuおよび不可避不純物からなる組成によっ
て構成したものである。
[作用] 上記構成の金バンプ用金合金細線にあっては、AuにP
dを添加した結果Au単独の場合に比べてその引張り強
さが向上する。さらに、L a、 Ce。
Caのうち1種または2種以上を加えることにより、A
uおよびPdとの共存下において特に軟化温度が高めら
れる。換言すれば、端部に電気トーチの放電によりボー
ルを形成する際に、引張り強さが低下するネック部の熱
影響長さ(再結晶領域)が極めて短い範囲内に抑えられ
るのである。
したがって、上記PdおよびLa等を添加することによ
り本発明の金バンプ用金合金細線によれば、バンプを形
成時に先ず電気トーチにより端部にボールを形成すると
、結晶粒度の粗い再結晶領域がネック部の短い範囲内に
のみ形成される。次いで、このボールを超音波熱圧着に
よりチップの電気部に圧着した後に、ワイヤ上部をクラ
ンパで把持して引っ張ると、ワイヤ部分の引張り強さが
大きいためワイヤ部分で切断されることがなく、さらに
引張り強さに劣るネック部の再結晶領域が狭いため、確
実にボール上の上記ネック部で切断されることになる。
この結果上記チップ上には、第1図に示すように、常に
ネック部6で切断されて有害なテールが残ることがない
正常なバンプが形成される。
次ぎに、上記作用との関連に基づいて、本発明の金バン
ブ用金合金細線において、その成分組成を上記範囲に限
定した理由について説明する。
(イ)  Pdについて : Pdの含有量を0.5〜10重量%の範囲内に限定した
のは、この含有量が0.5重里%に満たないと引張り強
さの向上が十分に得られず、ワイヤ部分で切断されるこ
とによってテール残りが発生し易くなってしまい、他方
上記含有量が10重量%を越えると逆にボール部分にお
ける硬度が高くなり過ぎて、チップクラック等のチップ
へのダメージが発生するため、いずれも不適当だからで
ある。
(o)La、、Ce、Caについて: これらの成分の含有量を0.0001〜0.02重置火
の範囲内に限定したのは、これらの含有量h(0,00
01重量%に満たないと、上記作用を十分に奏すること
ができずに再結晶領域が広がってバンプ上にテール残り
を発生してしまい、他方上記含有量が0.02重量%を
越えると、ボールの表面に酸化皮膜が形成され易くなり
、圧着時に十分な接合強度が得られなくなるおそれがあ
るため、いずれも不適当だからである。
[実施例] 次ぎに、本発明の金バンプ用金合金細線について、実施
例に基づき具体的に説明する。
通常の溶解法により、それぞれ表に示された成分組成を
有する金合金溶湯を調整し、鋳造した後公知の溝型圧延
機を用いて圧延し、次いで線引き加工を行うことにより
、それぞれ線径25μmの従来の金合金細線および本願
発明に係る金バンブ用金合金細線を製造した。
次ぎに、得られた従来の金合金細線および本願発明に係
る金バンプ用金合金細線を用いてバンブの形成を行い、
各々1000個のバンブを形成した際に発生したテール
残りの数を顕微鏡を用いて調べるとともに、接合状懇を
調べるためにシャー強度を測定した。表は、これらの結
果を示すものである。なお、表中のシャー強度の合否の
基準については、50g以上のものを合格として示して
いる。
表に示す結果から、明らかに本願発明に係る金バンプ用
金合金細線1−12は、いずれもテール残りがなく、常
に正常なバンブの形成が可能であるとともに、接合強度
についても従来のものと比較して優れていることが判る
(以下、余白) [発明の効果] 以上説明したように本発明の金バンブ用金合金細線は、
Pdを0.5〜10重量%含有し、さらにL a、 C
e、 Caのうち1種または2 FJ以上を0.000
1〜0.02重量%含有し、残部がAuおよび不可避不
純物からなる組成により構成したので、ワイヤレスホン
ディングにおいて常にテール残りがなく、しかも接合強
度に優れた正常なバンブ形成を行うことができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の金バンブ用金合金細線によって形成さ
れたバンブを示す斜視図、第2図は従来の金合金細線に
よって形成されたバンブを示す斜視図、第3図はフリッ
プチップ法によるチップの接続図、第4図はフィルムキ
ャリヤ法によるチップの接続図である。 1・・・・・ICチップ、2・・・・・・バンブ(金属
突起)、3・・・・・・基板、4・・・・・・配線(導
体層)、5・・・・・・リード、6・・・・・・切断部
(ネック部)、  7・・・・・・テール。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. Pdを0.5〜10重量%含有し、さらにLa、Ce、
    Caのうち1種または2種以上を0.0001〜0.0
    2重量%含有し、残部がAuおよび不可避不純物からな
    ることを特徴とする金バンプ用金合金細線。
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