JPH0290990A - 低電導度水の濾過方法 - Google Patents
低電導度水の濾過方法Info
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- JPH0290990A JPH0290990A JP24035988A JP24035988A JPH0290990A JP H0290990 A JPH0290990 A JP H0290990A JP 24035988 A JP24035988 A JP 24035988A JP 24035988 A JP24035988 A JP 24035988A JP H0290990 A JPH0290990 A JP H0290990A
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Landscapes
- Separation Using Semi-Permeable Membranes (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は低電導度水の濾過方法に関する。
近年、精密濾過膜の各種工業用水諸過分野への展開が加
速され、電子産業における超純水製造、発電所等の各種
用水濾過、食品、医薬等の分野において精密濾過膜が多
く周込られており、たとえばポリオレフィン、フッ素化
ポリオレフィンポリスルホン等の素材よりなる本のが知
られている。
速され、電子産業における超純水製造、発電所等の各種
用水濾過、食品、医薬等の分野において精密濾過膜が多
く周込られており、たとえばポリオレフィン、フッ素化
ポリオレフィンポリスルホン等の素材よりなる本のが知
られている。
かかる多孔質膜による水の濾過、浄化に於て対象となる
水としては超純水に代表される比較的清浄度の高い低”
ｔｉ度の水と食品等に代表される比較的汚濁度の高い高
電導度の水に大別される。特に電子産業等を中心として
近年比較的清浄度の高い低電導度水の浄化釦精密濾過膜
の適用が急速に展開している。かかる低電導度水の濾過
における主要な濾過物質としては配管由来の鉄錆が挙げ
られる。
水としては超純水に代表される比較的清浄度の高い低”
ｔｉ度の水と食品等に代表される比較的汚濁度の高い高
電導度の水に大別される。特に電子産業等を中心として
近年比較的清浄度の高い低電導度水の浄化釦精密濾過膜
の適用が急速に展開している。かかる低電導度水の濾過
における主要な濾過物質としては配管由来の鉄錆が挙げ
られる。
しかしながら本発明者らが種々の多孔質膜を用いてかか
る鉄鋼を含む低電導度の水の濾過を行なったところ、鉄
鋼の濾過除去に関しては優れた結果が得られ九が、その
際多孔質膜の透過側膜面に酸化鉄を主成分とする無機結
晶が析出するという現象が生じた。このような透過側膜
表面への析出物は膜面洗浄による除去が困難なため膜の
再生使用による長寿命化が図れない点が問題となる。又
、この析出物が剥離して処理水に混入し処理水の水質低
下をもたらす虞れもある。
る鉄鋼を含む低電導度の水の濾過を行なったところ、鉄
鋼の濾過除去に関しては優れた結果が得られ九が、その
際多孔質膜の透過側膜面に酸化鉄を主成分とする無機結
晶が析出するという現象が生じた。このような透過側膜
表面への析出物は膜面洗浄による除去が困難なため膜の
再生使用による長寿命化が図れない点が問題となる。又
、この析出物が剥離して処理水に混入し処理水の水質低
下をもたらす虞れもある。
本発明者らはかかる問題点を解消すべく鋭意検討した結
果、かかる無機結晶の析出現象は鉄イオンを主体とした
微量の金属イオンを含有する低電導度の水が膜の微細孔
を透過する際に生じる層界面の電気化学反応に起因する
ものであり膜の界面１！気化学特性が重要であることを
見出し本発明に到達したものである。
果、かかる無機結晶の析出現象は鉄イオンを主体とした
微量の金属イオンを含有する低電導度の水が膜の微細孔
を透過する際に生じる層界面の電気化学反応に起因する
ものであり膜の界面１！気化学特性が重要であることを
見出し本発明に到達したものである。
即ち、本発明の要旨とするところは流動電位測定によシ
求められるｐＨ７Ｋおけるζ電位が一２０ｍＶ以上であ
る多孔質膜を用いる低電導度水の濾過方法にある。
求められるｐＨ７Ｋおけるζ電位が一２０ｍＶ以上であ
る多孔質膜を用いる低電導度水の濾過方法にある。
膜のζ電位は膜の表面を構成する物質の化学構造で決ま
る値であり、膜を構成する素材のみならず膜表面に存在
する表面改質剤、不純物、添加剤等の影響を受けるもの
である。従って文献等にみられるポリマー素材のζ電位
と膜としてのζ電位が異なることもある。
る値であり、膜を構成する素材のみならず膜表面に存在
する表面改質剤、不純物、添加剤等の影響を受けるもの
である。従って文献等にみられるポリマー素材のζ電位
と膜としてのζ電位が異なることもある。
流動電位は通常の方法（例えば、北原文雄、渡辺昌共著
「界面電気現象」共立出版（１９７２年）参照）で測定
可能であり、下記の（１）式よりζ電位が求められる。
「界面電気現象」共立出版（１９７２年）参照）で測定
可能であり、下記の（１）式よりζ電位が求められる。
ａｏ ６８ △Ｐ
尚、（１）式において各々の符号は以下のように定義さ
れる。
れる。
ε０ ；真空中の誘電率
１ｓ；液体の誘電率
η ；液体の粘度
λ ；液体の電気伝導度
△Ｐ ；差圧
ΔＶ ；流動電位
本発明においてζ電位は液体としてｐＨ７の水を用いイ
オン強度を５ Ｘ １０−” （ＮｔｓＯＨ／ＨｃＬ
’＞とした時Ｋ（１）式から求められる値をいう。
オン強度を５ Ｘ １０−” （ＮｔｓＯＨ／ＨｃＬ
’＞とした時Ｋ（１）式から求められる値をいう。
又、本発明が対象とする低電導度水とは電気室導度がお
よそ１０μｓ／画以下の領域の水をいう。
よそ１０μｓ／画以下の領域の水をいう。
本発明において用いられるζ電位が一２０ｍＶ以上の多
孔質膜は、ζ電位が−２０ｍＶ以上の素材からなる多孔
質膜であってもよく、あるいはこれより低ζ電位の素材
からなる多孔質膜の細孔表面を高ζ軍位の物質で吸着・
コーティング等によって被覆処理したものであってもよ
い。
孔質膜は、ζ電位が−２０ｍＶ以上の素材からなる多孔
質膜であってもよく、あるいはこれより低ζ電位の素材
からなる多孔質膜の細孔表面を高ζ軍位の物質で吸着・
コーティング等によって被覆処理したものであってもよ
い。
多孔質膜のζ電位が高い程析出物の抑制効果が高まるが
ζ電位は−２０ｍＶ以上であれば充分な効果が期待され
る。尚、ζ電位が−２０ｍＶ以上とけ−２０ｍＶ〜Ｏｍ
Ｖの値及びＯｍＶ より大きい値をいう。
ζ電位は−２０ｍＶ以上であれば充分な効果が期待され
る。尚、ζ電位が−２０ｍＶ以上とけ−２０ｍＶ〜Ｏｍ
Ｖの値及びＯｍＶ より大きい値をいう。
本発明で用いられる多孔質膜の形態、膜性能としては％
に制限はないが膜厚がおよそ２０〜５００μ程度、空孔
率がおよそ２０〜９０チ程度、細孔径がα０１〜５μｍ
程度のものであれば良く水透過率としてα００１〜１０
Ｌ／ｍ”・ｈｒ・−Ｈｇ 程度のものを挙げることが
できる。又、形態は平膜、チューブ膜、中空糸膜いずれ
でも良いが単位容積当シの膜面積が大きいことから中空
糸膜が好ましく用いられる。
に制限はないが膜厚がおよそ２０〜５００μ程度、空孔
率がおよそ２０〜９０チ程度、細孔径がα０１〜５μｍ
程度のものであれば良く水透過率としてα００１〜１０
Ｌ／ｍ”・ｈｒ・−Ｈｇ 程度のものを挙げることが
できる。又、形態は平膜、チューブ膜、中空糸膜いずれ
でも良いが単位容積当シの膜面積が大きいことから中空
糸膜が好ましく用いられる。
以下実施例で本発明を更に具体的に説明する。
実施例１
溶融紡糸、延伸多孔質化により得られた幅Ｑ、５μｍ、
長さ２．０メンスリツト状細孔を有し、空孔率６２チ、
膜厚７０μｍ、内径２５０μｍ、アＭコール親水化後の
水透過率が１． Ｏ１７ｍ”・ｈｒ・ｌｌｌｌＨｇのポ
リエチレン製多孔質中空糸膜のζ電位を測定したところ
−３９ｍＶであった。
長さ２．０メンスリツト状細孔を有し、空孔率６２チ、
膜厚７０μｍ、内径２５０μｍ、アＭコール親水化後の
水透過率が１． Ｏ１７ｍ”・ｈｒ・ｌｌｌｌＨｇのポ
リエチレン製多孔質中空糸膜のζ電位を測定したところ
−３９ｍＶであった。
この中空糸膜をジアセトンアクリルアミド／Ｎ−ヒドロ
キシメチルアクリルアミド／ベンゾイルバーオギサイド
／アセトン＝１００１５／１／９００（重量比）の組成
の処理溶液に１０秒間浸漬して溶液を中空糸膜に含浸さ
せた後１０分間風乾した。引き続き窒素雰囲気下６５℃
で６０分子ｔｆｌ加熱処理し、ついで水／エタノール５
０１５０ （重量比）混合溶媒に５分浸漬後温水中で２
分間超音波洗浄するととＫよシ水可溶性成分を洗浄除去
した。次に熱風乾燥により乾燥シ、ジアセトンアクリル
アミドとＮ−ヒドロキシメチルアクリルアミドよシなる
架橋重合体が保持された多孔質中空糸膜を得た。重合体
の保持量は１１．５重量％であった。かくして得られた
重合体が保持された中空糸膜のζ電位を測定したところ
一１８ｍＶであった。この中空糸膜から膜面積２．５×
１０″″Ｓｍ２の膜モジュールを製作し、電気伝導度１
１μＳ ７ｃｍの酸化鉄分散液の濾過を行なった。
キシメチルアクリルアミド／ベンゾイルバーオギサイド
／アセトン＝１００１５／１／９００（重量比）の組成
の処理溶液に１０秒間浸漬して溶液を中空糸膜に含浸さ
せた後１０分間風乾した。引き続き窒素雰囲気下６５℃
で６０分子ｔｆｌ加熱処理し、ついで水／エタノール５
０１５０ （重量比）混合溶媒に５分浸漬後温水中で２
分間超音波洗浄するととＫよシ水可溶性成分を洗浄除去
した。次に熱風乾燥により乾燥シ、ジアセトンアクリル
アミドとＮ−ヒドロキシメチルアクリルアミドよシなる
架橋重合体が保持された多孔質中空糸膜を得た。重合体
の保持量は１１．５重量％であった。かくして得られた
重合体が保持された中空糸膜のζ電位を測定したところ
一１８ｍＶであった。この中空糸膜から膜面積２．５×
１０″″Ｓｍ２の膜モジュールを製作し、電気伝導度１
１μＳ ７ｃｍの酸化鉄分散液の濾過を行なった。
酸化鉄分散液としては、鉄粉１ｆを水５０〇−に分散し
、１に夜装置したものの上澄を使用した。送液ポンプに
は■イワキ製電磁定量ポンプを、又送液チューブにはポ
リエチレンチューブを使用し、室温下３ Ｘ １０−”
ｄ／α２・ｅθＣの速度で中空糸膜の外側から内側へ
濾過を行なった。
、１に夜装置したものの上澄を使用した。送液ポンプに
は■イワキ製電磁定量ポンプを、又送液チューブにはポ
リエチレンチューブを使用し、室温下３ Ｘ １０−”
ｄ／α２・ｅθＣの速度で中空糸膜の外側から内側へ
濾過を行なった。
透過液中には酸化鉄は殆ど検出されず酸化鉄の除去性は
極で良好であった。かかる濾過を８０日間継続した後、
中空糸膜の透過側表面、即ち内側表面を肉眼及び走査型
電子顕微鏡（８ＫＭ）観察を行なったところ、肉眼観察
では何ら着色物は認められず、Ｆ３ｍＭＢＩＸでも析出
物は殆ど認められなかった。
極で良好であった。かかる濾過を８０日間継続した後、
中空糸膜の透過側表面、即ち内側表面を肉眼及び走査型
電子顕微鏡（８ＫＭ）観察を行なったところ、肉眼観察
では何ら着色物は認められず、Ｆ３ｍＭＢＩＸでも析出
物は殆ど認められなかった。
比較例１
実施例１で用すた未処理の多孔質中空糸膜（ζ電位−３
９ｍＶ）を用いて実施例１と同様の条件で酸化鉄分散液
の濾過を８０日間継続して行なった。酸化鉄の除去性は
極めて良好であったが、中空糸膜の透過側表面を肉眼観
察したところ黄褐色の着色物が認められ８ＫＭ観察では
１μｍ程度の結晶の析出が認められた。
９ｍＶ）を用いて実施例１と同様の条件で酸化鉄分散液
の濾過を８０日間継続して行なった。酸化鉄の除去性は
極めて良好であったが、中空糸膜の透過側表面を肉眼観
察したところ黄褐色の着色物が認められ８ＫＭ観察では
１μｍ程度の結晶の析出が認められた。
本発明の濾過方法によれば多孔質膜の透過側表面への析
出物の発生が著しく低減されるため、多孔質膜の目詰ま
りＫよる圧損上昇の際には原水側の膜面のみを洗浄する
ことＫよって多孔質膜の再生が可能であシ膜寿命を長く
することができる。又、本発明の方法によれば透過側膜
表面に析出物が殆ど発生しないので処理水の水質低下の
虞れがなり０ 特許出願人 三菱レイヨン株式会社 代理人 弁理士 吉 澤 敏 夫
出物の発生が著しく低減されるため、多孔質膜の目詰ま
りＫよる圧損上昇の際には原水側の膜面のみを洗浄する
ことＫよって多孔質膜の再生が可能であシ膜寿命を長く
することができる。又、本発明の方法によれば透過側膜
表面に析出物が殆ど発生しないので処理水の水質低下の
虞れがなり０ 特許出願人 三菱レイヨン株式会社 代理人 弁理士 吉 澤 敏 夫
Claims (1)
- 流動電位測定によつて求められるｐＨ７におけるζ電位
が−２０ｍＶ以上である多孔質膜を用いる低電導度水の
濾過方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24035988A JPH0290990A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 低電導度水の濾過方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP24035988A JPH0290990A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 低電導度水の濾過方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0290990A true JPH0290990A (ja) | 1990-03-30 |
Family
ID=17058317
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP24035988A Pending JPH0290990A (ja) | 1988-09-26 | 1988-09-26 | 低電導度水の濾過方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0290990A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997034686A1 (fr) * | 1996-03-18 | 1997-09-25 | Nitto Denko Corporation | Membrane d'osmose inverse composite, et procede de traitement de l'eau par osmose inverse a l'aide de ladite membrane |
| WO2001065248A3 (en) * | 2000-03-02 | 2002-01-03 | Accentus Plc | Chemical sensor |
| US6413425B1 (en) | 1997-04-10 | 2002-07-02 | Nitto Denko Corporation | Reverse osmosis composite membrane and reverse osmosis treatment method for water using the same |
| JP2003519561A (ja) * | 2000-01-14 | 2003-06-24 | マイクロリス・コーポレイシヨン | 中性フィルタ材料に基づく液体濾過のためのシステムおよび方法 |
| KR100861325B1 (ko) * | 2007-08-29 | 2008-10-02 | 주식회사 유진로봇 | 휠과 플리퍼의 탈부착이 가능한 이동로봇 |
-
1988
- 1988-09-26 JP JP24035988A patent/JPH0290990A/ja active Pending
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO1997034686A1 (fr) * | 1996-03-18 | 1997-09-25 | Nitto Denko Corporation | Membrane d'osmose inverse composite, et procede de traitement de l'eau par osmose inverse a l'aide de ladite membrane |
| US6177011B1 (en) | 1996-03-18 | 2001-01-23 | Nitto Denko Corporation | Composite reverse osmosis membrane having a separation layer with polyvinyl alcohol coating and method of reverse osmotic treatment of water using the same |
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| JP2003519561A (ja) * | 2000-01-14 | 2003-06-24 | マイクロリス・コーポレイシヨン | 中性フィルタ材料に基づく液体濾過のためのシステムおよび方法 |
| JP4705744B2 (ja) * | 2000-01-14 | 2011-06-22 | インテグリス・インコーポレーテッド | 中性フィルタ材料に基づく液体濾過のための方法 |
| WO2001065248A3 (en) * | 2000-03-02 | 2002-01-03 | Accentus Plc | Chemical sensor |
| KR100861325B1 (ko) * | 2007-08-29 | 2008-10-02 | 주식회사 유진로봇 | 휠과 플리퍼의 탈부착이 가능한 이동로봇 |
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