JPH0280945A - ガスの露点測定方法および装置 - Google Patents

ガスの露点測定方法および装置

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JPH0280945A
JPH0280945A JP1200425A JP20042589A JPH0280945A JP H0280945 A JPH0280945 A JP H0280945A JP 1200425 A JP1200425 A JP 1200425A JP 20042589 A JP20042589 A JP 20042589A JP H0280945 A JPH0280945 A JP H0280945A
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    • G01N25/00Investigating or analyzing materials by the use of thermal means
    • G01N25/56Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content
    • G01N25/66Investigating or analyzing materials by the use of thermal means by investigating moisture content by investigating dew-point

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、測定されるガスが冷却ガスにより露点まで
冷却され、発生された霧が光学的に検出される、異なっ
たガス中の露点の測定方法に関する。
この発明はまた、そのような方法を実行するための装置
に関する。
[従来の技術] 乾燥処理の条件を最適化することによって工業プセスに
おいてエネルギを顕著に節約することが可能である。露
点はこれらのプロセスに関係する主要なパラメータの−
っである。4−1定された露点は、例えば製紙機械のド
ライヤーフードからの排気の露点、或いは石炭加熱パワ
ープラントの煙道ガスの酸性露点等である。
露点のdllJ定には現在いくつかの異なった方法が使
用されている。最も普通の形式の光学的露点測定装置は
″チルドミラー″検出器であり、それにおいては冷たい
、鏡面研磨された平面上に沈殿する湿度は光学的測定信
号に変化を生じさせる。この装置はIR浄な状態では非
常に正確であるが、プロセスで使用されるような実際の
汚染環境には適合できない。露点の直接ΔIlj定はま
たキャパシタンスまたは抵抗の変化を使用することがで
きる。しかしこれらの方法はチルドミラーと同様に19
染の問題によって障害を受ける。
露点の間接的な光学的Δp1定は蒸気のUV(紫外線)
またはIR(赤外線)帯域における吸収に基づいている
。測定は絶対水蒸気含有量を与え、それから露点が計算
される。メダ染と高い処理温度のためにこれらの種類の
方法は工業的には信頼性の低いものである。絶対湿度測
定に使用される他の方法はマイクロ波および音響放射の
利用に基づくものである。前者の方法はマイクロ波吸収
および、または水蒸気によって生じる空気の誘電率にお
ける変化に基づいている。マイクロ波法は実現性のある
解決方法であるけれども設備に費用がかかる欠点がある
。音響放射に基づくトランスジューサは大型になる欠点
があり、相関技術に高いコストが必要である。
露点はまたセンサ温度が知られているならば相対湿度a
l11定装置を使用して決定することができる。
その場合露点は計算変数となる。結論として露点の直接
の測定はよりよい代替手段を与える。それは間接的71
1J定装置はトランスジューサが不完全であるときでさ
えも計算露点を出力することができるからである。
[発明の解決すべき課題] この発明は、工業的な露点測定において従来の技術にお
けるセンサに勝る湿度センサを提供することを目的とす
るものである。
[課題解決のための手段] この発明は、冷たいガスを利用してプロセスガスをその
露点まで冷却し、発生した霧からの光の散乱または発生
した霧を通過した光によって露点を決定するものである
すなわぢ、この発明の方法は、冷却ガスがプロセスの外
部から測定領域に導かれ、i’lFI定領域への導入に
先立って冷却ガスが411定されるガスの露点より下の
温度にされ、測定されるガスの冷却中に発生される霧が
、光源により測定領域を照射し、霧により散乱された光
および、または霧を通過した光を光検出装置によってΔ
p1定することによって検出されることを特徴とする。
さらにこの発明による装置は、冷却ガスを測定領域に導
くコアパイプと、冷却ガスをコアパイプに導(第1のサ
イドパイプと、測定されるガスをflll鎮定に導く第
2のサイドパイプと、7Ipj定偵域を照明する発光源
と、測定領域から再放射された光を検出する光検出装置
と、ΔPj定領域の温度を検出することのできる温度セ
ンサとを具備している異なったガス中の露点の測定装置
において、冷却ガスが胛1定されるガスの露点より下の
適切な温度にされることができるように設けられた加熱
または冷却素子を具備し、API定領域かコアパイプの
端部に位置し、そこに71′llj定されるガスを冷却
ガスと混合するために第2のサイドパイプが導かれてい
ることを特徴とする。
[発明の効果] この発明による装置は、いくつかの異なったガス中の露
点を71p1定することができる。工業的プロセスにお
いて決定されるべき露点は例えば水蒸気の露点または酸
性蒸気露点であっても良い。装置は厳しい動作環境に適
合するような材料から構成することができ、同時に装置
を通過する空気が装置を清浄にする。これはもっとも汚
染の厳しいプロセス状態に設備することを可能にする。
装置の光学的部分は漂桑の部品で構成することができる
。適当な光源はいわゆるスーパールミネセントLEDで
あり、−力検出器は漂fI型のフォトダイオードでよい
。霧の発生区域内の温度は1個または数個のサーモカッ
プルまたは他の適当なセンサを使用してall+定する
ことができる。
この発明の動作原理およびこの発明による装置の構造に
ついて以下詳細に説明する。
[実施例] この発明の装置の動作原理は第1図に示されている。熱
いプロセスガスは冷たい空気と混合することによって冷
却され、それによって霧のiff< mが形成される。
霧の発生区域は高い強度の光1によって照射され、霧に
よって散乱された光2、または霧を透過した光3が検出
される。霧の液滴の集中度が増加するにしたがって、散
乱される光2の強度は増加し、一方透過した光3の強度
は減少する。
第2図は装置の動作原理および構造を示す。装置のコア
パイプ4は分離壁12を貫通して測定されるべきプロセ
スまで導かれている。請浄な空気はサイドパイプ5を通
ってコアパイプ4中へ導かれている。コアパイプ4中の
空気の流れはほは一定に維持される。熱い、湿ったプロ
セスガスは第2のサイドパイプロによって装置中に導か
れる。加熱または冷却素子11によって清浄な空気は必
要に応じて適当な温度に冷却、または加熱される。その
温度はプロセスガスの露点温度よりも低い。サイトバイ
ブロによって装置中に導かれるプロセスガスは7IFJ
定領域7中で冷たいガスと混合され、それによってこの
地点で霧の液滴が形成される。測定領域7は発光ダイオ
ード8によって照明され、霧の液滴によって散乱された
光または霧を透過した光は光検出器9によって検出され
る。光はダイオード8から領域7へ投射され、領域7か
ら光ファイバ13によって光検出器9に送られる。Δl
lS定領域7の温度は低い熱容量を有する1個または複
数個のサーモカップルlOまたはその他の温度センサに
よってaPJ定される。
発光ダイオード8、光検出器9、加熱または冷却素子1
1、およびサイドパイプ5は実際のプロセスの外部に配
置される。発光ダイオード8および光検出器9はコアパ
イプ4の中に配置される。サイドパイプ5は発光ダイオ
ード8および光検出器9に続いてコアパイプ4に取り付
けられる。加熱または冷却索子IIはサイドパイプ5と
分離壁I2との間でコアパイプ4の周囲に配置される。
実際のプロセス環境にはipJ定領域7を構成するヘッ
ドI4、サイドパイプロ、ならびに光ファイバ13およ
びサーモカップル10の一部を含むコアパイプ4の一部
のみしか挿入されない。サーモカップル10および光フ
ァイバ13は分離壁12を通ってコアパイプ4内のプロ
セス環境に導かれる。コアパイプ4のヘッド14は実際
のコアパイプ4に垂直に、サイドパ・rプロと平行に配
置されている。
上記実施例と異なる、別の構成の実施例もこの発明の技
術的範囲内で可能である。すなわち発光ダイオード8、
光検出器9およびサーモカップルIOの接続はコアパイ
プ4の外側の別の装置中に配置されることもできる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による方法および装置の動作原理を示
し、第よ図はこの発明による装置の構成の概要を示す。 I・・・光、2・・・散乱光、3・・・透過光、4・・
・コアパイプ、5.6・・・サイドパイプ、7・・・測
定区域、8・・・発光ダイオード、9・・・光検出器、
10・・・サーモカップル、If・・・加熱または冷却
素子、I2・・・分離壁、I3・・・光ファイバ。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 Fig、2

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)測定されるガスが冷却ガスにより露点まで冷却さ
    れ、発生された霧が光学的に検出される、異なったガス
    中の露点の測定方法において、冷却ガスがプロセスの外
    部から測定領域に導かれ、 測定領域への導入に先立って冷却ガスが測定されるガス
    の露点より下の温度にされ、 測定されるガスの冷却中に発生される霧が、光源により
    測定領域を照射し、霧により散乱された光および、また
    は霧を通過した光を光検出装置によつて測定することに
    よつて検出されることを特徴とする異なったガス中の露
    点の測定方法。
  2. (2)冷却ガスを測定領域に導くためのコアパイプと、 冷却ガスをコアパイプに導くための第1のサイドパイプ
    と、 測定されるガスを測定領域に導くための第2のサイドパ
    イプと、 測定領域を照明する発光源と、 測定領域から再放射された光を検出する光検出装置と、 測定領域の温度を検出することのできる温度センサとを
    具備している異なったガス中の露点の測定装置において
    、 冷却ガスが測定されるガスの露点より下の適切な温度に
    されることができるように設けられた加熱または冷却素
    子を具備し、 測定領域がコアパイプの端部に位置し、そこに測定され
    るガスを冷却ガスと混合するために第2のサイドパイプ
    が導かれていることを特徴とする露点の測定装置。
  3. (3)加熱または冷却素子がコアパイプの周囲に配置さ
    れていることを特徴とする特許請求の範囲第2項記載の
    測定装置。
  4. (4)コアパイプの端部および第2のサイドパイプがコ
    アパイプの軸に垂直に整列されていることを特徴とする
    特許請求の範囲第2項記載の測定装置。
JP1200425A 1988-08-03 1989-08-03 ガスの露点測定方法および装置 Expired - Lifetime JP2760586B2 (ja)

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FI883637 1988-08-03

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