JPH0277630A - 半導体レーザの発振周波数安定化方法及び装置 - Google Patents
半導体レーザの発振周波数安定化方法及び装置Info
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- JPH0277630A JPH0277630A JP22852588A JP22852588A JPH0277630A JP H0277630 A JPH0277630 A JP H0277630A JP 22852588 A JP22852588 A JP 22852588A JP 22852588 A JP22852588 A JP 22852588A JP H0277630 A JPH0277630 A JP H0277630A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
概 要
光ＦＤＭ伝送方式に適した、光干渉計及びそれを使用し
た半導体レーザの発振周波数安定化方法に関し、 温度変化による干渉スペクトルの変化が著しくない光干
渉計の提供を目的とし、 温度変化に対する屈折率の変化の係数が負の値である光
学媒質を用いて光干渉計を構成する。
た半導体レーザの発振周波数安定化方法に関し、 温度変化による干渉スペクトルの変化が著しくない光干
渉計の提供を目的とし、 温度変化に対する屈折率の変化の係数が負の値である光
学媒質を用いて光干渉計を構成する。
産業上の利用分野
本発明は、光ＦＤＭ伝送方式に適した、光干渉計及びそ
れを使用した半導体レーザの発振周波数安定化方法に関
する。
れを使用した半導体レーザの発振周波数安定化方法に関
する。
光ファイバを伝送路とする光通信又は光伝送の分野にお
いて、単一伝送路光たりの伝送容量を増大するためには
、波長分割多重（ＷＤＭ）伝送方式が有効である。近年
、ＤＦＢレーザ等の狭線幅な単一縦モードスペクトルを
有する半導体レーザ（ＬＤ）が開発されたことに伴い、
高密度なＷＤＭ伝送が可能となった。高密度化を進め波
長間隔がＩＡ以下になると、波長間隔を周波数間隔とし
てとらえた方が理解しやすいので、本願明細書中では光
信号を数ＧＨｚ乃至数十ＧＨｚの周波数間隔で多重化し
て伝送する方式を特に光周波数分割多重（光ＦＤＭ）伝
送方式と称することにする。この方式の実施に際して送
信側光源に要求されることは、前述したように発振スペ
クトルが狭線幅な単−縦モードであること及びその中心
周波数が経時的に安定していることである。本発明はこ
れらのうち後者の要求に応するものである。
いて、単一伝送路光たりの伝送容量を増大するためには
、波長分割多重（ＷＤＭ）伝送方式が有効である。近年
、ＤＦＢレーザ等の狭線幅な単一縦モードスペクトルを
有する半導体レーザ（ＬＤ）が開発されたことに伴い、
高密度なＷＤＭ伝送が可能となった。高密度化を進め波
長間隔がＩＡ以下になると、波長間隔を周波数間隔とし
てとらえた方が理解しやすいので、本願明細書中では光
信号を数ＧＨｚ乃至数十ＧＨｚの周波数間隔で多重化し
て伝送する方式を特に光周波数分割多重（光ＦＤＭ）伝
送方式と称することにする。この方式の実施に際して送
信側光源に要求されることは、前述したように発振スペ
クトルが狭線幅な単−縦モードであること及びその中心
周波数が経時的に安定していることである。本発明はこ
れらのうち後者の要求に応するものである。
従来の技術
第７図は光ＦＤＭ伝送方式の説明図である。光送信機３
１−ａ、ｂ、ｃ、・・・から出力された周波数がそれぞ
れｆ、、 ｆ、、 ｆｃ、・・・の出射光は、合成
されて光伝送路８２゛に送出される。光伝送路８２によ
り伝送された光ＦＤＭ信号光は、光タップ８３．８４に
よって分岐されて複数の端末の光受信機８５，８６．・
・・で受信される。
１−ａ、ｂ、ｃ、・・・から出力された周波数がそれぞ
れｆ、、 ｆ、、 ｆｃ、・・・の出射光は、合成
されて光伝送路８２゛に送出される。光伝送路８２によ
り伝送された光ＦＤＭ信号光は、光タップ８３．８４に
よって分岐されて複数の端末の光受信機８５，８６．・
・・で受信される。
第８図は一般的な光受信機の構成側説明図であって、（
ａ）はコヒーレント光通信方式におけるヘテロゲイン又
はホモダイン検波方式、ら）は通常の直接検波方式を示
すものである。（ａ）において光伝送路９１により伝送
された光ＦＤＭ信号光及び局部発振光源９２からの局部
発振光は、混合器９３で混合されてフォトダイオード等
の光検波器９４に入射される。このとき、各光ＦＤＭ信
号光の信号成分は、光検波器９４の二乗特性によって各
信号光の周波数と局部発振光の周波数との差の周波数（
例えば数ＧＨｚ）の中間周波信号（ヘテロゲイン検波の
場合）として取り出されるから、局部発振光の周波数を
変化させてチューニングすることによって、帯域フィル
タ９５においてそれぞれの多重信号成分に分離すること
ができる。この方式によれば、受信感度の向上を期待で
きるので、光伝送路における中継間隔の拡大もしくは中
継器数の削減又は分岐数の増大が可能となるばかりでな
く、高密度な周波数多重が期待できるので、光伝送路を
経済的に構成することが可能となる。一方、ら）におい
て、光伝送路１０１により伝送された光ＦＤＭ信号光は
、高精度な光分波器１０２によって光の段階でそれぞれ
の信号光に分離され、分離された信号光は、それぞれ受
光素子１０３−’ａ、ｂ。
ａ）はコヒーレント光通信方式におけるヘテロゲイン又
はホモダイン検波方式、ら）は通常の直接検波方式を示
すものである。（ａ）において光伝送路９１により伝送
された光ＦＤＭ信号光及び局部発振光源９２からの局部
発振光は、混合器９３で混合されてフォトダイオード等
の光検波器９４に入射される。このとき、各光ＦＤＭ信
号光の信号成分は、光検波器９４の二乗特性によって各
信号光の周波数と局部発振光の周波数との差の周波数（
例えば数ＧＨｚ）の中間周波信号（ヘテロゲイン検波の
場合）として取り出されるから、局部発振光の周波数を
変化させてチューニングすることによって、帯域フィル
タ９５においてそれぞれの多重信号成分に分離すること
ができる。この方式によれば、受信感度の向上を期待で
きるので、光伝送路における中継間隔の拡大もしくは中
継器数の削減又は分岐数の増大が可能となるばかりでな
く、高密度な周波数多重が期待できるので、光伝送路を
経済的に構成することが可能となる。一方、ら）におい
て、光伝送路１０１により伝送された光ＦＤＭ信号光は
、高精度な光分波器１０２によって光の段階でそれぞれ
の信号光に分離され、分離された信号光は、それぞれ受
光素子１０３−’ａ、ｂ。
Ｃ１・・・及び電気回路１０４−ａ、ｂ、ｃ、・・・に
よって各電気的な信号成分に変換される。この方式はそ
のまま通常の強度変調方式に適用することができ、光伝
送路の経済的な構成が可能になる。光分波器１０２とし
ては、例えばマツハツエンダ干渉計を用いてなるものが
使用される。
よって各電気的な信号成分に変換される。この方式はそ
のまま通常の強度変調方式に適用することができ、光伝
送路の経済的な構成が可能になる。光分波器１０２とし
ては、例えばマツハツエンダ干渉計を用いてなるものが
使用される。
上述した光ＦＤＭ伝送方式を実現するためには、送信側
で多数の光源を所定の周波数位置に安定化することが必
要となる。必要とされる周波数安定度は、周波数間隔の
１％程度である。このため、周波数間隔が５ ＧＨｚ程
度であるとすれば、光源を５０Ｍ）Ｉｚ程度の制度で安
定化する必要があり、光源を何らかの周波数基準に対し
て安定化する方法が用いられる。
で多数の光源を所定の周波数位置に安定化することが必
要となる。必要とされる周波数安定度は、周波数間隔の
１％程度である。このため、周波数間隔が５ ＧＨｚ程
度であるとすれば、光源を５０Ｍ）Ｉｚ程度の制度で安
定化する必要があり、光源を何らかの周波数基準に対し
て安定化する方法が用いられる。
第９図乃至第１１図は、従来の周波数安定化方法を説明
するための図である。ＬＤｌｌｌからの光は、光干渉計
１１２を介して受光器１１３により受光される。光干渉
計１１２は、例えば第１０図に示すように、石英ブロッ
クの両端面を平行研磨し、研磨面に使用波長域で高反射
率を有する反射膜１２１．１２２を設けてなるファブリ
ペロ干渉計である。このような干渉計は第１１図に示す
ように、光強度が周波数の変化に対して周期的に変化す
るような干渉スペクトルを有しているので、該スペクト
ルの適当な位置に発振周波数を安定化することができる
。即ち、例えば受光器１１３の出力電圧を制御回路１１
４において適当な基準電源と比較する等により駆動回路
１１５を制御して、ＬＤＩＩＩの発振周波数を光干渉計
１１２の干渉スペクトルに対して安定化することができ
る。
するための図である。ＬＤｌｌｌからの光は、光干渉計
１１２を介して受光器１１３により受光される。光干渉
計１１２は、例えば第１０図に示すように、石英ブロッ
クの両端面を平行研磨し、研磨面に使用波長域で高反射
率を有する反射膜１２１．１２２を設けてなるファブリ
ペロ干渉計である。このような干渉計は第１１図に示す
ように、光強度が周波数の変化に対して周期的に変化す
るような干渉スペクトルを有しているので、該スペクト
ルの適当な位置に発振周波数を安定化することができる
。即ち、例えば受光器１１３の出力電圧を制御回路１１
４において適当な基準電源と比較する等により駆動回路
１１５を制御して、ＬＤＩＩＩの発振周波数を光干渉計
１１２の干渉スペクトルに対して安定化することができ
る。
発明が解決しようとする課題
第１０図に示されるファブリペロ干渉計の光学媒質の屈
折率をｎ１共振器長を１１光速をＣとすると、共振ピー
クの周波数軸上での間＠（フリースベクトルレンジ）Ｆ
ＳＲは、 Ｆ Ｓ Ｒ＝ ｃ ／ ２ ｎ ｊ！で表され、共振
器長がｄβ変化したときの共振周波数の変化Δｆは、光
の波長をλ。とすると、Δｆ＝（、ｄＲ／λｏ／２ｎ）
ＦＳＲ となり、共振器長がλ。／ ２ ｎ変化すると、ＦＳＲ
に相当する周波数変化（例えばｊｌ！＝１０ｍｍ、ｎ＝
１．５のときに、ＦＳＲ＝１０ＧＨ２） が生じる。
折率をｎ１共振器長を１１光速をＣとすると、共振ピー
クの周波数軸上での間＠（フリースベクトルレンジ）Ｆ
ＳＲは、 Ｆ Ｓ Ｒ＝ ｃ ／ ２ ｎ ｊ！で表され、共振
器長がｄβ変化したときの共振周波数の変化Δｆは、光
の波長をλ。とすると、Δｆ＝（、ｄＲ／λｏ／２ｎ）
ＦＳＲ となり、共振器長がλ。／ ２ ｎ変化すると、ＦＳＲ
に相当する周波数変化（例えばｊｌ！＝１０ｍｍ、ｎ＝
１．５のときに、ＦＳＲ＝１０ＧＨ２） が生じる。
このためファブリペロ干渉計に多少なりとも温度変化が
与えられると、共振光路長が変化し、干渉スペクトルが
周波数軸上で著しくずれ、つまり、共振周波数が著しく
変化し、ＬＤの発振周波数を一定周波数に安定化するこ
とが困難になるという問題を生ずる。
与えられると、共振光路長が変化し、干渉スペクトルが
周波数軸上で著しくずれ、つまり、共振周波数が著しく
変化し、ＬＤの発振周波数を一定周波数に安定化するこ
とが困難になるという問題を生ずる。
そこで、本発明は、温度変化による干渉スペクトルの変
化が著しくない光干渉計の提供を目的としている。
化が著しくない光干渉計の提供を目的としている。
又、この光干渉計を使用してＬＤの発振周波数を安定化
することを目的としている。
することを目的としている。
課題を解決するための手段
光干渉計の光学媒質として使用する光学ガラスのなかに
は、その組成によって温度変化に対する屈折率の変化の
係数を負の値とすることができるものがあり、このよう
な光学媒質を用いて光干渉計を構成することによって、
一般に正の値である線熱膨張係数による干渉スペクトル
のずれを相殺して、光路長をほぼ一定に保つことができ
、温度に対して安定な周波数基準として使用することが
できる。
は、その組成によって温度変化に対する屈折率の変化の
係数を負の値とすることができるものがあり、このよう
な光学媒質を用いて光干渉計を構成することによって、
一般に正の値である線熱膨張係数による干渉スペクトル
のずれを相殺して、光路長をほぼ一定に保つことができ
、温度に対して安定な周波数基準として使用することが
できる。
この光干渉計を使用してＬＤの発振周波数を安定化する
場合には、第１図（ａ）に示すように、ＬＤＩからの光
を光干渉計２に人力し、この光干渉計２で干渉して出力
された光を受光器３で受光しておき、同図（ｂ）に示す
ように、ＬＤＩの発振周波数が光干渉計２の干渉スペク
トル４のピーク強度５又は所定強度６を与える周波数と
一致するように制御する。
場合には、第１図（ａ）に示すように、ＬＤＩからの光
を光干渉計２に人力し、この光干渉計２で干渉して出力
された光を受光器３で受光しておき、同図（ｂ）に示す
ように、ＬＤＩの発振周波数が光干渉計２の干渉スペク
トル４のピーク強度５又は所定強度６を与える周波数と
一致するように制御する。
作 用
光干渉計における光学媒質の屈折率をｎ１光路長く例え
ば共振器長）をｌとするときに、温度（Ｔ）の変化に対
する共振光の波長λ０又は周波数νの変化の割合は、 のように表される。光学媒質の線熱膨張係数に相当する
ａｌ、／ａＴは一般に正の値を有するから、温度変化に
対する屈折率の変化の係数θｎ／θＴを適当な負の値と
することによって、θｌ／θＴを相殺して、光干渉計の
光路長変化を抑制することができ、その結果、温度変化
に対して安定な光干渉計を提供することができる。
ば共振器長）をｌとするときに、温度（Ｔ）の変化に対
する共振光の波長λ０又は周波数νの変化の割合は、 のように表される。光学媒質の線熱膨張係数に相当する
ａｌ、／ａＴは一般に正の値を有するから、温度変化に
対する屈折率の変化の係数θｎ／θＴを適当な負の値と
することによって、θｌ／θＴを相殺して、光干渉計の
光路長変化を抑制することができ、その結果、温度変化
に対して安定な光干渉計を提供することができる。
このように本発明の光干渉計では、温度変化による干渉
スペクトルの周波数軸上でのずれが小さいから、第１図
に示すようにＬＤの発振周波数を干渉スペクトルに対し
て安定化することによって、高い発振周波数の安定度を
得ることができる。
スペクトルの周波数軸上でのずれが小さいから、第１図
に示すようにＬＤの発振周波数を干渉スペクトルに対し
て安定化することによって、高い発振周波数の安定度を
得ることができる。
尚、第１図に示される発振周波数安定化方法において、
ＬＤの発振周波数が干渉スペクトルのピーク強度又は所
定強度を与える周波数と一致するように制御する、とし
ているのは、同期検波を用いて発振周波数がピーク強度
を与える周波数に一致するように制御する方法又は基準
電源を用いて発振周波数が所定強度を与える周波数に一
致するように制御する方法を想定しているからであり、
これについては実施例で詳しく説明する。
ＬＤの発振周波数が干渉スペクトルのピーク強度又は所
定強度を与える周波数と一致するように制御する、とし
ているのは、同期検波を用いて発振周波数がピーク強度
を与える周波数に一致するように制御する方法又は基準
電源を用いて発振周波数が所定強度を与える周波数に一
致するように制御する方法を想定しているからであり、
これについては実施例で詳しく説明する。
実 施 例
以下本発明の実施例を図面に基づいて説明する。
第２図は、本発明の詳細な説明するための、ファブリペ
ロ干渉計の具体的構成例を示す図である。同図（ａ）に
示されるバルク型の干渉計では、光ファイバ１１から出
射された光をレンズ１２により概略コリメート光とし、
このコリメート光を、光学媒質１３とその人出射面に形
成された反射膜１４．１５とからなる光共振器に透過さ
せて、再びレンズ１６により集束して光ファイバ１７又
は図示しない受光素子に入射させるようにしている。
ロ干渉計の具体的構成例を示す図である。同図（ａ）に
示されるバルク型の干渉計では、光ファイバ１１から出
射された光をレンズ１２により概略コリメート光とし、
このコリメート光を、光学媒質１３とその人出射面に形
成された反射膜１４．１５とからなる光共振器に透過さ
せて、再びレンズ１６により集束して光ファイバ１７又
は図示しない受光素子に入射させるようにしている。
光学媒質１３としては、例えばＨＯＹＡ社製のガラスＡ
ＤＣＩを使用することができる。このガラスの線熱膨張
係数が一３０℃〜＋７０℃の範囲において１０９ Ｘ
１０−’であり、温度変化に対する屈折率の変化の係数
が一２０℃〜＋２０℃の範囲において−６，６Ｘ １０
−’／ｌ：、＋２０℃〜＋６０℃の範囲に右いて−６，
５Ｘ １０−’／ｌ：であるので、これらに伴う共振周
波数の変化を相殺することができ、温度変化に対する干
渉スペクトルの周波数軸上でのずれを小さくすることが
できる。
ＤＣＩを使用することができる。このガラスの線熱膨張
係数が一３０℃〜＋７０℃の範囲において１０９ Ｘ
１０−’であり、温度変化に対する屈折率の変化の係数
が一２０℃〜＋２０℃の範囲において−６，６Ｘ １０
−’／ｌ：、＋２０℃〜＋６０℃の範囲に右いて−６，
５Ｘ １０−’／ｌ：であるので、これらに伴う共振周
波数の変化を相殺することができ、温度変化に対する干
渉スペクトルの周波数軸上でのずれを小さくすることが
できる。
温度変化に対する屈折率の変化の係数が負の値であるガ
ラスとしては、上述したものの他に、同社製ＦＫ５、Ｆ
Ｃ５、ＦＳＸＩＯｌＦＣＤｌ ０等がある。
ラスとしては、上述したものの他に、同社製ＦＫ５、Ｆ
Ｃ５、ＦＳＸＩＯｌＦＣＤｌ ０等がある。
第２図（ｂ）に示される導波路型の干渉計では、導波路
を構成している低屈折率部２１及び高屈折率部２２を上
述のような光学媒質から形成し、高屈折率部２２の両端
面に適当な反射膜２３．２４を設けている。
を構成している低屈折率部２１及び高屈折率部２２を上
述のような光学媒質から形成し、高屈折率部２２の両端
面に適当な反射膜２３．２４を設けている。
第２図（Ｃ）に示されるファイバ型の光干渉計では、コ
ア３１及びクラッド３２からなる所定長さの光ファイバ
を上述したような光学媒質から形成し、その両端面に反
射膜３３．３４を設け、スプライシング等の技術により
光伝送路としての光ファイバ３５．３６と接続している
。これら導波路型又はファイバ型の光干渉計にあっても
、バルク型と同様に温度変化に対する干渉スペクトルの
周波数軸上でのずれを防止することができる。
ア３１及びクラッド３２からなる所定長さの光ファイバ
を上述したような光学媒質から形成し、その両端面に反
射膜３３．３４を設け、スプライシング等の技術により
光伝送路としての光ファイバ３５．３６と接続している
。これら導波路型又はファイバ型の光干渉計にあっても
、バルク型と同様に温度変化に対する干渉スペクトルの
周波数軸上でのずれを防止することができる。
第３図は、ＬＤの発振周波数を、ファブリペロ干渉計の
干渉スペクトルにおける所定強度を与える周波数に一致
するようにしたＬＤの発振周波数安定化装置のブロック
図である。バイアス回路４１により駆動されるＬＤ４２
の出射光は、光カプラ４３で概略三等分されて、一方は
直接第１の受光器４４に入射され、他方はファブリペロ
干渉計４５を介して第２の受光器４６に入射される。第
１及び第２の受光器４４．４６の出力は除算器４７に入
力され、その出力電圧ｖ０ は、比較器４８において基
準電源４９からの電圧出力Ｖ、と比較される。そして、
比較器４８の出力信号に基づいてＰＩＤ制御回路５０に
よりＬＤ４２の駆動電流がフィードバック制御される。
干渉スペクトルにおける所定強度を与える周波数に一致
するようにしたＬＤの発振周波数安定化装置のブロック
図である。バイアス回路４１により駆動されるＬＤ４２
の出射光は、光カプラ４３で概略三等分されて、一方は
直接第１の受光器４４に入射され、他方はファブリペロ
干渉計４５を介して第２の受光器４６に入射される。第
１及び第２の受光器４４．４６の出力は除算器４７に入
力され、その出力電圧ｖ０ は、比較器４８において基
準電源４９からの電圧出力Ｖ、と比較される。そして、
比較器４８の出力信号に基づいてＰＩＤ制御回路５０に
よりＬＤ４２の駆動電流がフィードバック制御される。
第４図は、除算器の出力Ｖｏ とＬＤ４２の発振周波数
との関係を示すグラフである。この干渉スペクトルは、
上述したファブリペロ光干渉計の構成により極めて再現
性良く得ることができるから、スペクトルピークの肩Ｐ
に発振周波数を安定化すべく基準電源４９の電圧出力Ｖ
ｓ を設定することにより、ＬＤ４２の発振周波数をＶ
ｓ に対応したｆ、に安定化することができる。
との関係を示すグラフである。この干渉スペクトルは、
上述したファブリペロ光干渉計の構成により極めて再現
性良く得ることができるから、スペクトルピークの肩Ｐ
に発振周波数を安定化すべく基準電源４９の電圧出力Ｖ
ｓ を設定することにより、ＬＤ４２の発振周波数をＶ
ｓ に対応したｆ、に安定化することができる。
第５図はＬＤの発振周波数を、干渉スペクトルのピーク
強度を与える周波数と一致するようにしたＬＤの発振周
波数安定化装置のブロック図である。駆動回路６１によ
り駆動されているＬＤ６２の出射光は、伝送情報のビッ
トレートよりも充分に低い周波数ｆで発振する発振器６
３の出力信号により周波数変調され、この周波数変調光
は、ファブリペロ干渉計６４を介して受光器６５により
受光されている。そして、周波数変調に応じた受光レベ
ルの変化は、ロックインアンプ６６に右いて発振器６３
からの分岐出力により同期検波され、その検波出力に基
づいたＰＩＤ制御回路６７の動作により、駆動回路６１
がフィードバック制御されるようになっている。
強度を与える周波数と一致するようにしたＬＤの発振周
波数安定化装置のブロック図である。駆動回路６１によ
り駆動されているＬＤ６２の出射光は、伝送情報のビッ
トレートよりも充分に低い周波数ｆで発振する発振器６
３の出力信号により周波数変調され、この周波数変調光
は、ファブリペロ干渉計６４を介して受光器６５により
受光されている。そして、周波数変調に応じた受光レベ
ルの変化は、ロックインアンプ６６に右いて発振器６３
からの分岐出力により同期検波され、その検波出力に基
づいたＰＩＤ制御回路６７の動作により、駆動回路６１
がフィードバック制御されるようになっている。
第６図において、７１で示されるのは、ファブリペロ干
渉計６４の干渉スペクトルであり、７２で示されるのは
その一次微分曲線、即ちロックインアンプ６６の出力特
性である。このように、ＬＤを周波数変調するとともに
これにともなう受光レベルの変化を同期検波することに
より、−次微分曲線７２のリニアな部分を用いて周波数
弁別を行うことができるので、ＬＤ６２の発振周波数を
フィードバック制御することができる。
渉計６４の干渉スペクトルであり、７２で示されるのは
その一次微分曲線、即ちロックインアンプ６６の出力特
性である。このように、ＬＤを周波数変調するとともに
これにともなう受光レベルの変化を同期検波することに
より、−次微分曲線７２のリニアな部分を用いて周波数
弁別を行うことができるので、ＬＤ６２の発振周波数を
フィードバック制御することができる。
上述した光学媒質を用いてファブリペロ干渉計を構成す
ることで、第３図乃至第６図に示される実施例において
従来と同様の温度制御を行ったときに、ＬＤの発振周波
数の安定度を一桁以上高めることができた。
ることで、第３図乃至第６図に示される実施例において
従来と同様の温度制御を行ったときに、ＬＤの発振周波
数の安定度を一桁以上高めることができた。
ところで、第２図に示されるようなファブリペロ干渉計
を実際に使用する場合、これらの干渉計が大気中に開放
されていると大気圧変動により共振器の光路長変化を生
じることになる。このため、干渉計を気密封止するとと
もにその内部の気圧を一定に保つことで、安定度をさら
に高めることが可能になる。
を実際に使用する場合、これらの干渉計が大気中に開放
されていると大気圧変動により共振器の光路長変化を生
じることになる。このため、干渉計を気密封止するとと
もにその内部の気圧を一定に保つことで、安定度をさら
に高めることが可能になる。
以上の実施例においては、特にＬＤの発振周波数安定化
装置におけるファブリペロ干渉計について説明したが、
同装置におけるリング干渉計についても本発明は有効で
ある。又、本発明をマツノ＼ツエンダ型光干渉計に適用
することによって、例えば第８図（従来例図）に示され
る光合分波器１０２の通過帯域特性を温度変化に対して
極めて安定なものとすることができる。
装置におけるファブリペロ干渉計について説明したが、
同装置におけるリング干渉計についても本発明は有効で
ある。又、本発明をマツノ＼ツエンダ型光干渉計に適用
することによって、例えば第８図（従来例図）に示され
る光合分波器１０２の通過帯域特性を温度変化に対して
極めて安定なものとすることができる。
発明の効果
以上詳述したように、本発明によれば、温度変化による
干渉スペクトルの変化が著しくない光干渉計を提供する
ことが可能になるという効果を奏する。又、この光干渉
計を使用してＬＤの発振周波数を安定化する場合には、
高い周波数安定度を得ることが可能になるという効果も
ある。
干渉スペクトルの変化が著しくない光干渉計を提供する
ことが可能になるという効果を奏する。又、この光干渉
計を使用してＬＤの発振周波数を安定化する場合には、
高い周波数安定度を得ることが可能になるという効果も
ある。
第１図は本発明の原理図、
第２図は本発明の実施例図であって、ファブリペロ干渉
計の具体的構成例を示す図、 第３図は本発明の実施例を示すＬＤの発振周波数安定化
装置のブロック図、 第４図は第３図に示される装置の動作説明図、第５図は
本発明の他の実施例を示すＬＤの発振周波数安定化装置
のブロック図、 第６図は第５図に示される装置の動作説明図、第７図乃
至第１１図は従来技術を説明するための図である。 １．４２．６２・・・ＬＤ（半導体レーザ）、２・・・
光干渉計、 ３．４４，４６．６５・・・受光器、 ４５．６４・・・ファブリペロ干渉計。 （ｂ） １≦塔 ９月のカ一種口 第１図 亥方２イゲＩｊ 図 （光干千亥ヤ）第２図 第３図 第４図 ８１−ａ、ｂ、ｃ −光ｍ（Ｌ二（：二Ｍ−８５、８
６： 光受偵橡゛ イメ〔、米 イｆ＋Ｊ 図 第７図
計の具体的構成例を示す図、 第３図は本発明の実施例を示すＬＤの発振周波数安定化
装置のブロック図、 第４図は第３図に示される装置の動作説明図、第５図は
本発明の他の実施例を示すＬＤの発振周波数安定化装置
のブロック図、 第６図は第５図に示される装置の動作説明図、第７図乃
至第１１図は従来技術を説明するための図である。 １．４２．６２・・・ＬＤ（半導体レーザ）、２・・・
光干渉計、 ３．４４，４６．６５・・・受光器、 ４５．６４・・・ファブリペロ干渉計。 （ｂ） １≦塔 ９月のカ一種口 第１図 亥方２イゲＩｊ 図 （光干千亥ヤ）第２図 第３図 第４図 ８１−ａ、ｂ、ｃ −光ｍ（Ｌ二（：二Ｍ−８５、８
６： 光受偵橡゛ イメ〔、米 イｆ＋Ｊ 図 第７図
Claims (2)
- （１）温度変化に対する屈折率の変化の係数が負の値で
ある光学媒質を用いて構成されることを特徴とする光干
渉計。 - （２）半導体レーザ（１）からの光を請求項１記載の光
干渉計（２）に入力し、 この光干渉計（２）で干渉して出力された光を受光器（
３）で受光し、 上記半導体レーザ（１）の発振周波数が上記光干渉計（
２）の干渉スペクトル（４）のピーク強度（５）又は所
定強度（６）を与える周波数と一致するように制御する
ことを特徴とする半導体レーザの発振周波数安定化方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63228525A JP2564622B2 (ja) | 1988-09-14 | 1988-09-14 | 半導体レーザの発振周波数安定化方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP63228525A JP2564622B2 (ja) | 1988-09-14 | 1988-09-14 | 半導体レーザの発振周波数安定化方法及び装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0277630A true JPH0277630A (ja) | 1990-03-16 |
| JP2564622B2 JP2564622B2 (ja) | 1996-12-18 |
Family
ID=16877783
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP63228525A Expired - Fee Related JP2564622B2 (ja) | 1988-09-14 | 1988-09-14 | 半導体レーザの発振周波数安定化方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2564622B2 (ja) |
Cited By (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0479118A2 (de) * | 1990-10-04 | 1992-04-08 | Dornier Gmbh | Vorrichtung zur Frequenzstabilisierung einer Laserdiode |
| US5189677A (en) * | 1990-12-14 | 1993-02-23 | Carl-Zeiss-Stiftung | Arrangement having two laser diodes for generating light having two wavelengths |
| JP2000353856A (ja) * | 1999-06-11 | 2000-12-19 | Nec Corp | 半導体レーザモジュ−ル |
| US6788717B2 (en) | 2000-03-10 | 2004-09-07 | Nec Corporation | Wavelength stabilized laser module |
| JP2005259001A (ja) * | 2004-03-15 | 2005-09-22 | Omron Corp | 電子機器ケースのパネル取付構造 |
| JP2009212434A (ja) * | 2008-03-06 | 2009-09-17 | Nec Corp | 制御装置及び制御方法 |
| JP2011123058A (ja) * | 2009-12-13 | 2011-06-23 | Honeywell Internatl Inc | 共振器光ファイバジャイロスコープにおけるレーザ位相雑音を低減するシステム及び方法 |
| JP2011145283A (ja) * | 2009-12-13 | 2011-07-28 | Honeywell Internatl Inc | 光位相雑音誤差低減器 |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59137344A (ja) * | 1983-01-28 | 1984-08-07 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 屈折率の温度補償用ガラス |
| JPS60117694A (ja) * | 1983-11-30 | 1985-06-25 | Fujitsu Ltd | 光周波数安定化装置 |
| JPH0268501A (ja) * | 1988-09-05 | 1990-03-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | ソリッドエタロン |
| JPH0274909A (ja) * | 1988-09-12 | 1990-03-14 | Yokohama Kokuritsu Univ | 光導波路 |
-
1988
- 1988-09-14 JP JP63228525A patent/JP2564622B2/ja not_active Expired - Fee Related
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| JP2011145283A (ja) * | 2009-12-13 | 2011-07-28 | Honeywell Internatl Inc | 光位相雑音誤差低減器 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2564622B2 (ja) | 1996-12-18 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |