JPH0275221A - 電圧保持回路 - Google Patents
電圧保持回路Info
- Publication number
- JPH0275221A JPH0275221A JP63227003A JP22700388A JPH0275221A JP H0275221 A JPH0275221 A JP H0275221A JP 63227003 A JP63227003 A JP 63227003A JP 22700388 A JP22700388 A JP 22700388A JP H0275221 A JPH0275221 A JP H0275221A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- power supply
- pulse
- switching element
- power
- mos
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- Pending
Links
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 abstract description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 229910000473 manganese(VI) oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は半導体集積回路装置に適用可能な電圧−保持回
路に関するものである。
路に関するものである。
従来の技術
第4図は従来の電圧保持回路の構成図であり、1は抵抗
、3は記、憶特性を有するスイッチング素子たとえば、
MNO8型トランジスタである。
、3は記、憶特性を有するスイッチング素子たとえば、
MNO8型トランジスタである。
第4図の構成において、電源電圧vDDが抵抗1の一端
から印加されると、MNO8型トランジスタ3に記憶さ
れた導通状態または非導通状態の別によって、抵抗1お
よびMNO3型トランジスタ3に流れる電流値が変化し
、ノードOUTの電位が決定される。
から印加されると、MNO8型トランジスタ3に記憶さ
れた導通状態または非導通状態の別によって、抵抗1お
よびMNO3型トランジスタ3に流れる電流値が変化し
、ノードOUTの電位が決定される。
発明が解決しようとする課題
しかしながら、上記の従来例の構成ではMNO3型トラ
ンジスタ3が導通状態の場合、電源電流が流れつづける
という問題点を有していた。本発明は上記従来の問題点
を解決するもので、電源電流を低減できる電圧保持回路
を提供することを目的とする。
ンジスタ3が導通状態の場合、電源電流が流れつづける
という問題点を有していた。本発明は上記従来の問題点
を解決するもので、電源電流を低減できる電圧保持回路
を提供することを目的とする。
課題を解決するための手段
この目的を達成するために、本発明は、インピーダンス
素子、記憶特性を有する第1のスイッチング素子および
記憶特性を有しない第2のスイッチング素子を各ハ、直
列接続し、前記第1のスイッチング素子を導通状態とす
る信号を電源電圧の立ち」−がり時または立ち」二かり
直後に一時的に発生ずるパルス発生回路ならびに、前記
第2のスイッチング素子が導通状態のときに、前記イン
ピーダンス素子と前記第1のスイッチング素子との間の
ノードの電位をラッチするラッチ回路を備えている。
素子、記憶特性を有する第1のスイッチング素子および
記憶特性を有しない第2のスイッチング素子を各ハ、直
列接続し、前記第1のスイッチング素子を導通状態とす
る信号を電源電圧の立ち」−がり時または立ち」二かり
直後に一時的に発生ずるパルス発生回路ならびに、前記
第2のスイッチング素子が導通状態のときに、前記イン
ピーダンス素子と前記第1のスイッチング素子との間の
ノードの電位をラッチするラッチ回路を備えている。
作用
この構成によって電源の立ち上がり時または立ち上がり
直後に一時的に記憶特性を有するスイッチング素子の導
通状態または非導通状態によって電流値が決定され、そ
の電流値によって抵抗と記憶特性を有するスイッチング
素子の間のノートの電位が決定され、同時にこの電位が
ラッチ回路にラッチされ、記憶特性を有しないスイッチ
ング素子が非導通状態となった後は電源電流は流れず、
ラッチ回路によって記憶特性を有しないスイッチング素
子が導通状態であったときの抵抗と記憶特性を有するス
イッチング素子の間のノートの電位を保持することかて
きる。
直後に一時的に記憶特性を有するスイッチング素子の導
通状態または非導通状態によって電流値が決定され、そ
の電流値によって抵抗と記憶特性を有するスイッチング
素子の間のノートの電位が決定され、同時にこの電位が
ラッチ回路にラッチされ、記憶特性を有しないスイッチ
ング素子が非導通状態となった後は電源電流は流れず、
ラッチ回路によって記憶特性を有しないスイッチング素
子が導通状態であったときの抵抗と記憶特性を有するス
イッチング素子の間のノートの電位を保持することかて
きる。
実施例
以下本発明の実施例について図面を参照しながら説明す
る。
る。
第1図は本発明の一実施例回路の構成を示すものである
。第1図において、1は抵抗、2は記憶特性を有しない
MO8型I・ランシスタ、3はし7きい値電圧に記憶特
性を有するM N OS型l・ランシスタ、4は電流電
圧の立ち−Lがり時に第2図のタイミング図に示すパル
スを発生ずる回路、5はラッチ回路、6はラッチ回路が
入力をラッチするタイミングを与えるための信号線であ
る。電流電圧立ち上げ時にパルス発生回路から発生され
るパルスによってMOS型[・ランシスタ2が導通状態
となる。このときM N OS型トランジスタ3に記憶
されているしきい値がO■より低ければMNO3型トラ
ンジスタ3は導通状態となり電源から電流が流れる。こ
のとき抵抗1による電子降下によってノート7の電位か
低下し、この電位によってラッチ回路5のラッチ状態か
決定される。電源立ち上げ時のパルスが終了したあとは
MO8型l・ランジスタ2は非導通状態となり電源電流
は流れない。
。第1図において、1は抵抗、2は記憶特性を有しない
MO8型I・ランシスタ、3はし7きい値電圧に記憶特
性を有するM N OS型l・ランシスタ、4は電流電
圧の立ち−Lがり時に第2図のタイミング図に示すパル
スを発生ずる回路、5はラッチ回路、6はラッチ回路が
入力をラッチするタイミングを与えるための信号線であ
る。電流電圧立ち上げ時にパルス発生回路から発生され
るパルスによってMOS型[・ランシスタ2が導通状態
となる。このときM N OS型トランジスタ3に記憶
されているしきい値がO■より低ければMNO3型トラ
ンジスタ3は導通状態となり電源から電流が流れる。こ
のとき抵抗1による電子降下によってノート7の電位か
低下し、この電位によってラッチ回路5のラッチ状態か
決定される。電源立ち上げ時のパルスが終了したあとは
MO8型l・ランジスタ2は非導通状態となり電源電流
は流れない。
以」−のように本実施例によれば、抵抗1とMNOS型
[・ランシスタ3とMO8型トランジスタ2々を各々、
直列接続し、MOS型トランジスタ2のゲートに電源立
ち上げ時にパルスを入れることにより電源電流を低減す
ることができる。
[・ランシスタ3とMO8型トランジスタ2々を各々、
直列接続し、MOS型トランジスタ2のゲートに電源立
ち上げ時にパルスを入れることにより電源電流を低減す
ることができる。
つぎに、本発明の他の実施例について図面を参照しなが
ら説明する。第3図は本発明の他の実施例回路の構成を
示すものである。第3図において1は抵抗、2は記憶特
性を有しないMO8型トランジスタ、10は集積回路」
二に作り込まれた溶断ヒユーズ、4は電源立ち」二げ時
にパルスを発生ずる回路、5はラッチ回路、6はラッチ
回路が入力をラッチするタイミングを与えるための信号
線、8は電源、9はラッチ回路の出力である。
ら説明する。第3図は本発明の他の実施例回路の構成を
示すものである。第3図において1は抵抗、2は記憶特
性を有しないMO8型トランジスタ、10は集積回路」
二に作り込まれた溶断ヒユーズ、4は電源立ち」二げ時
にパルスを発生ずる回路、5はラッチ回路、6はラッチ
回路が入力をラッチするタイミングを与えるための信号
線、8は電源、9はラッチ回路の出力である。
電源電圧立ち上げ時にパルス発生回路4から発生される
パルスによってMOS型トランジスタ2が導通状態とな
る。このとき溶断ヒユーズ10が−5= 溶断されていなければ電源8から抵抗1.MO3型トラ
ンジスタ2.溶断ヒユーズ10を通して電流か流れる。
パルスによってMOS型トランジスタ2が導通状態とな
る。このとき溶断ヒユーズ10が−5= 溶断されていなければ電源8から抵抗1.MO3型トラ
ンジスタ2.溶断ヒユーズ10を通して電流か流れる。
このとき抵抗1による電圧降下によってノーF 7の電
位か低下し、このときの電位がラッチ回路5にラッチさ
れる。電源立ち上がり時のパルスが終了したあとはMO
8型l・ランジスタ2は非導通状態となり電源電流は流
れず、しかもラッチ回路5の出力はパルス印加時の電位
を保ちつづける。
位か低下し、このときの電位がラッチ回路5にラッチさ
れる。電源立ち上がり時のパルスが終了したあとはMO
8型l・ランジスタ2は非導通状態となり電源電流は流
れず、しかもラッチ回路5の出力はパルス印加時の電位
を保ちつづける。
以上のように本実施例によれば、抵抗1と溶断ヒユーズ
10と直列にMOS型トランジスタ2を接続し、MO8
型トランジスタ2のゲートに電源立ち上がり時にパルス
を入れることにより、電源電流を低減することができる
。
10と直列にMOS型トランジスタ2を接続し、MO8
型トランジスタ2のゲートに電源立ち上がり時にパルス
を入れることにより、電源電流を低減することができる
。
発明の効果
本発明によれば、抵抗成分を含むインピーダンスと記憶
特性を有するスイッチング素子と直列に記憶特性を有し
ないスイッチング素子を接続し、前記記憶特性を有しな
いスイッチング素子を電源の立ち上げ時に、−時的に導
通状態にすることに−6= よって電源電流が一時的にしか流れず、消費電力を低減
でき、さらにインピーダンス素子と記憶特性を有するス
イッチング素子の間のノードの電位をラッチ回路を設け
ることによって保持することができ、優れた半導体集積
回路装置を実現できるものである。
特性を有するスイッチング素子と直列に記憶特性を有し
ないスイッチング素子を接続し、前記記憶特性を有しな
いスイッチング素子を電源の立ち上げ時に、−時的に導
通状態にすることに−6= よって電源電流が一時的にしか流れず、消費電力を低減
でき、さらにインピーダンス素子と記憶特性を有するス
イッチング素子の間のノードの電位をラッチ回路を設け
ることによって保持することができ、優れた半導体集積
回路装置を実現できるものである。
第1図は本発明の一実施例における半導体集積回路装置
の構成図、第2図は本発明の一実施例における電源電圧
の立ち上がりとパルス発生回路の出力のタイミング図、
第3図は本発明の他の実施例の構成図、第4図は従来の
半導体集積回路装置の構成図である。 1・・・・・・抵抗、2・・・・・・記憶特性を有しな
いMO3型トランジスタ、3・・・・・・MNO3型ト
ランジスタ、4・・・・・・電源立ち上げ時パルス発生
回路、5・・・・・・ラッチ回路、6・・・・・・ラッ
チ回路のラッチタイミングを与える信号線、8・・・・
・・電源、9・・・・・・ラッチ回路出力、10・・・
・・・溶断ヒユーズ。
の構成図、第2図は本発明の一実施例における電源電圧
の立ち上がりとパルス発生回路の出力のタイミング図、
第3図は本発明の他の実施例の構成図、第4図は従来の
半導体集積回路装置の構成図である。 1・・・・・・抵抗、2・・・・・・記憶特性を有しな
いMO3型トランジスタ、3・・・・・・MNO3型ト
ランジスタ、4・・・・・・電源立ち上げ時パルス発生
回路、5・・・・・・ラッチ回路、6・・・・・・ラッ
チ回路のラッチタイミングを与える信号線、8・・・・
・・電源、9・・・・・・ラッチ回路出力、10・・・
・・・溶断ヒユーズ。
Claims (1)
- 抵抗成分を含む少なくとも1個のインピーダンス素子と
、導通または非導通状態を記憶する特性を有する少なく
とも1個の第1のスイッチング素子と、少なくとも1個
の第2のスイッチング素子とを直列し、上記直列接続の
一端を電源の一端に接続し、その他端を同電源の他端に
接続し、前記第1のスイッチング素子を前記電源の立ち
上げ時または立ち上げ直後に一時的に導通状態にするパ
ルス発生手段および前記インピーダンス素子と前記第1
のスイッチング素子の間のノードの電位をラッチする回
路をそなえた電圧保持回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63227003A JPH0275221A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 電圧保持回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63227003A JPH0275221A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 電圧保持回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0275221A true JPH0275221A (ja) | 1990-03-14 |
Family
ID=16853987
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63227003A Pending JPH0275221A (ja) | 1988-09-09 | 1988-09-09 | 電圧保持回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0275221A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04170821A (ja) * | 1990-11-05 | 1992-06-18 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置 |
JPH04170820A (ja) * | 1990-11-05 | 1992-06-18 | Nec Kyushu Ltd | 半導体集積回路装置 |
-
1988
- 1988-09-09 JP JP63227003A patent/JPH0275221A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04170821A (ja) * | 1990-11-05 | 1992-06-18 | Nec Kyushu Ltd | 半導体装置 |
JPH04170820A (ja) * | 1990-11-05 | 1992-06-18 | Nec Kyushu Ltd | 半導体集積回路装置 |
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