JPH027032B2 - - Google Patents
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- JPH027032B2 JPH027032B2 JP55023451A JP2345180A JPH027032B2 JP H027032 B2 JPH027032 B2 JP H027032B2 JP 55023451 A JP55023451 A JP 55023451A JP 2345180 A JP2345180 A JP 2345180A JP H027032 B2 JPH027032 B2 JP H027032B2
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- Japan
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- phase
- leakage current
- insulation
- wire
- circuit
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- 238000009413 insulation Methods 0.000 claims description 22
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 7
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000018199 S phase Effects 0.000 description 2
- 239000002131 composite material Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
- G01R31/52—Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Description
一般に自家用電気設備には、動力用として三相
三線式のトランスが設置され、かつ電灯用として
単相三線式のトランスが設置される。それらの漏
れ電流の測定は各々のトランスの第二種接地線で
測定することが多い。 この場合、三相三線式のものは、ベクトル的に
見ても活線側２線が絶縁劣化を起した場合、120
度の角度で加算されるが、単相三線式のものは、
第１図示のようにＰ，Ｑ点で絶縁劣化が起ると、
第二種接地線E2の漏れ電流I〓qは、 I〓q＝Ｖ／Rq1−Ｖ／Rq2 となり、Rq1≒Rq2の時、Rq1、Rq2が各々低い絶
縁抵抗値を示していながらもI〓qは小さい値を示
す。 これは、単相三線式回路において、接地線E2
で漏れ電流を測定すると、負荷の絶縁劣化が検出
できないこともありうることを示している。 そこで、単相三線式回路から単相二線式回路に
分岐されたところで測定すれば、上記の問題点は
解決される。しかしながら、実際上分岐回路は数
多くあることと、測定が困難な個所が多いことか
ら、上記分岐点での測定は無理である。 本発明は、上記の問題点を全て解決し、かつ価
格的にも安価な絶縁測定装置を製作するのに適し
た単相三線式回路用絶縁測定方法を提供しようと
するものである。 以下図面第２図ないし第７図にもとずいて本発
明の実施例を説明すると、第２図には、本発明方
法を実施する場合の単相三線式回路絶縁測定装置
Ａが示してあり、これは第３図示のように電路１
にインダクタンス素子Ｌと零相変流器ZCTとを
挿入し、インダクタンス素子Ｌに電路１に供給さ
れている周波数の励磁電流を流す前後で漏れ電流
を検出する検出部と、インダクタンス素子Ｌに抵
抗２を通して上記励磁電流を正逆切り換えて流す
スイツチ部とからなる変換部３を接続し、変換部
３には漏れ電流を表示するメーター部４を接続し
て成る。 上記回路におけるインダクタンス素子Ｌと零相
変流器ZCTは第４図示のように第二種接地線E2
に挿入して絶縁測定することもある。 上記回路における零相変流器ZCTによりいつ
でも比較的大きな漏れ電流が検出できるようにす
るとともに、時間ごとに、例えば１日に１回〜２
回タイマーなどにより変換部３におけるスイツチ
部を正に入れてインダクタンス素子Ｌに励磁電流
を流したたときに変換部３における漏れ電流検出
部に検出される漏れ電流値又は上記スイツチ部を
逆に入れてインダクタンス素子Ｌに励磁電流を流
したときに変換部３における漏れ電流検出部に検
出される漏れ電流値と、インダクタンス素子Ｌに
上記各励磁電流を流す前に変換部３における漏れ
電流検出部に検出される漏れ電流値との差を検出
し、それを数倍に増巾してメーター部４に表示さ
せることにより、単相三線式回路の絶縁測定を
し、電路に絶縁劣化があるか否かを調べるように
する。 次に、本発明方法を理論的に説明すると、第５
図の回路、すなわちスイツチＳが開かれたとき
は、V〓1＝V〓2の時、Rq1＝Rq2の場合I〓q＝０となり、
この場合当然V〓1＝V〓3＝V〓2＝V〓4である。 第６図の回路、すなわちスイツチＳが閉じられ
たときは、I〓0の励磁電流がV〓2の起電力からＶ−
R0−Ｔ−Ｗを通つて流れる。電路１では負荷電
流とベクトル的に加算される。 上記励磁電流I〓0により磁束Φ〓0が発生し、Ｕ−
Ｒ、Ｖ−Ｓ、Ｗ−Ｔ間に各電圧が誘起される。こ
の電圧をv〓とすると V〓UR＝V〓US＝V〓WT＝v〓となる。 この場合線間電圧は、 V〓3＝ｖ〓＋V〓1−v〓＝V〓1 V〓4＝v〓＋V〓2−v〓
＝V〓2 V〓1
＝V〓2より V〓3＝V〓4＝V〓1＝V〓2となり電圧降下は生せず、負
荷機器に電圧変化を与えない。 対地電圧はV〓OR→＝V〓1＋v〓 V〓OT→＝v〓−V〓2
とな
り、 Rq1＝Rq2のとき、I〓q′はI〓q′＝I〓q1′＋I〓q2′
となり I〓q′は I〓q′＝V1＋ｖ／Rq1＋ｖ−V2／Rq2＝2v／Rq1となる。 I〓q′はRq1の函数となる。 Rq1≠Rq2の時は、 I〓q′＝（Ｖ＋ｖ／Rq1＋ｖ−V2／Rq2）＝（V1／Rq1−V
2／Rq2）＋ｖ （１／Rq1＋１／Rq2）である。 ここで初項はスイツチＳが開のとき漏れ電流の
値であり、第２項はスイツチＳが閉になつたとし
何算された値である。 v〓の項は電路１の絶縁抵抗値の合成値の逆数
で、メガ一測定値の逆数値と一致する。 この場合、初項がマイナスになると、v〓項は常
にプラスのため、初項の絶対値｜I〓q｜と｜I〓q′が
一致することがあるので、スイツチＳはＲ、Ｔ相
交互に切換える必要がある。 スイツチＳが閉じた後のメーター表示は
三線式のトランスが設置され、かつ電灯用として
単相三線式のトランスが設置される。それらの漏
れ電流の測定は各々のトランスの第二種接地線で
測定することが多い。 この場合、三相三線式のものは、ベクトル的に
見ても活線側２線が絶縁劣化を起した場合、120
度の角度で加算されるが、単相三線式のものは、
第１図示のようにＰ，Ｑ点で絶縁劣化が起ると、
第二種接地線E2の漏れ電流I〓qは、 I〓q＝Ｖ／Rq1−Ｖ／Rq2 となり、Rq1≒Rq2の時、Rq1、Rq2が各々低い絶
縁抵抗値を示していながらもI〓qは小さい値を示
す。 これは、単相三線式回路において、接地線E2
で漏れ電流を測定すると、負荷の絶縁劣化が検出
できないこともありうることを示している。 そこで、単相三線式回路から単相二線式回路に
分岐されたところで測定すれば、上記の問題点は
解決される。しかしながら、実際上分岐回路は数
多くあることと、測定が困難な個所が多いことか
ら、上記分岐点での測定は無理である。 本発明は、上記の問題点を全て解決し、かつ価
格的にも安価な絶縁測定装置を製作するのに適し
た単相三線式回路用絶縁測定方法を提供しようと
するものである。 以下図面第２図ないし第７図にもとずいて本発
明の実施例を説明すると、第２図には、本発明方
法を実施する場合の単相三線式回路絶縁測定装置
Ａが示してあり、これは第３図示のように電路１
にインダクタンス素子Ｌと零相変流器ZCTとを
挿入し、インダクタンス素子Ｌに電路１に供給さ
れている周波数の励磁電流を流す前後で漏れ電流
を検出する検出部と、インダクタンス素子Ｌに抵
抗２を通して上記励磁電流を正逆切り換えて流す
スイツチ部とからなる変換部３を接続し、変換部
３には漏れ電流を表示するメーター部４を接続し
て成る。 上記回路におけるインダクタンス素子Ｌと零相
変流器ZCTは第４図示のように第二種接地線E2
に挿入して絶縁測定することもある。 上記回路における零相変流器ZCTによりいつ
でも比較的大きな漏れ電流が検出できるようにす
るとともに、時間ごとに、例えば１日に１回〜２
回タイマーなどにより変換部３におけるスイツチ
部を正に入れてインダクタンス素子Ｌに励磁電流
を流したたときに変換部３における漏れ電流検出
部に検出される漏れ電流値又は上記スイツチ部を
逆に入れてインダクタンス素子Ｌに励磁電流を流
したときに変換部３における漏れ電流検出部に検
出される漏れ電流値と、インダクタンス素子Ｌに
上記各励磁電流を流す前に変換部３における漏れ
電流検出部に検出される漏れ電流値との差を検出
し、それを数倍に増巾してメーター部４に表示さ
せることにより、単相三線式回路の絶縁測定を
し、電路に絶縁劣化があるか否かを調べるように
する。 次に、本発明方法を理論的に説明すると、第５
図の回路、すなわちスイツチＳが開かれたとき
は、V〓1＝V〓2の時、Rq1＝Rq2の場合I〓q＝０となり、
この場合当然V〓1＝V〓3＝V〓2＝V〓4である。 第６図の回路、すなわちスイツチＳが閉じられ
たときは、I〓0の励磁電流がV〓2の起電力からＶ−
R0−Ｔ−Ｗを通つて流れる。電路１では負荷電
流とベクトル的に加算される。 上記励磁電流I〓0により磁束Φ〓0が発生し、Ｕ−
Ｒ、Ｖ−Ｓ、Ｗ−Ｔ間に各電圧が誘起される。こ
の電圧をv〓とすると V〓UR＝V〓US＝V〓WT＝v〓となる。 この場合線間電圧は、 V〓3＝ｖ〓＋V〓1−v〓＝V〓1 V〓4＝v〓＋V〓2−v〓
＝V〓2 V〓1
＝V〓2より V〓3＝V〓4＝V〓1＝V〓2となり電圧降下は生せず、負
荷機器に電圧変化を与えない。 対地電圧はV〓OR→＝V〓1＋v〓 V〓OT→＝v〓−V〓2
とな
り、 Rq1＝Rq2のとき、I〓q′はI〓q′＝I〓q1′＋I〓q2′
となり I〓q′は I〓q′＝V1＋ｖ／Rq1＋ｖ−V2／Rq2＝2v／Rq1となる。 I〓q′はRq1の函数となる。 Rq1≠Rq2の時は、 I〓q′＝（Ｖ＋ｖ／Rq1＋ｖ−V2／Rq2）＝（V1／Rq1−V
2／Rq2）＋ｖ （１／Rq1＋１／Rq2）である。 ここで初項はスイツチＳが開のとき漏れ電流の
値であり、第２項はスイツチＳが閉になつたとし
何算された値である。 v〓の項は電路１の絶縁抵抗値の合成値の逆数
で、メガ一測定値の逆数値と一致する。 この場合、初項がマイナスになると、v〓項は常
にプラスのため、初項の絶対値｜I〓q｜と｜I〓q′が
一致することがあるので、スイツチＳはＲ、Ｔ相
交互に切換える必要がある。 スイツチＳが閉じた後のメーター表示は
【式】としたとき、Ｋ倍すれば各線の絶縁抵
抗より生じた漏れ電流の加算値がわかる。
対地電位をベクトル的に表わすと、第７図に示
した通りになる。 本発明は、叙上の構成より成るものであるた
め、次のような諸効果を発揮することができる。 １ 停電しないで連続の絶縁状態がわかる。 ２ 温度、湿度により絶縁抵抗値が大巾に変化す
るものがある場合、運転中に測定できるので、
実際の状態がわかる。 ３ リレー類が使用されている電路では、メガー
に比べ測定結果として信頼性が高い。 ４ 単相三線式回路の２線に絶縁劣化が起きて
も、メーターに各漏れ電流の絶対値の和が表示
されるので、既述従来の漏れ電流測定による問
題点がなくなる。 ５ 接地相が絶縁劣化を起しても表示される。 ６ 他電源を重畳しない方法なので、負荷機器に
対する心配がない。 ７ 電路電圧に変動を来さないので、負荷機器に
対する心配がない。 ８ 全て分割形にし、取付けが容易であり、構造
も簡単で故障の少い絶縁測定装置が製作でき
る。 ９ 接地線に取付けても、インピーダンスが数ミ
リΩなので、第２接地抵抗値の上昇を気にする
ことがない。 10 電気的、機械的にも、簡単になるため、従来
装置に比し価格の安い絶縁測定装置が製作でき
る。 11 消費電力が殆んどなく、省エネルギー型の絶
縁測定装置が製作できる。
した通りになる。 本発明は、叙上の構成より成るものであるた
め、次のような諸効果を発揮することができる。 １ 停電しないで連続の絶縁状態がわかる。 ２ 温度、湿度により絶縁抵抗値が大巾に変化す
るものがある場合、運転中に測定できるので、
実際の状態がわかる。 ３ リレー類が使用されている電路では、メガー
に比べ測定結果として信頼性が高い。 ４ 単相三線式回路の２線に絶縁劣化が起きて
も、メーターに各漏れ電流の絶対値の和が表示
されるので、既述従来の漏れ電流測定による問
題点がなくなる。 ５ 接地相が絶縁劣化を起しても表示される。 ６ 他電源を重畳しない方法なので、負荷機器に
対する心配がない。 ７ 電路電圧に変動を来さないので、負荷機器に
対する心配がない。 ８ 全て分割形にし、取付けが容易であり、構造
も簡単で故障の少い絶縁測定装置が製作でき
る。 ９ 接地線に取付けても、インピーダンスが数ミ
リΩなので、第２接地抵抗値の上昇を気にする
ことがない。 10 電気的、機械的にも、簡単になるため、従来
装置に比し価格の安い絶縁測定装置が製作でき
る。 11 消費電力が殆んどなく、省エネルギー型の絶
縁測定装置が製作できる。
第１図は単相三線式回路の２相絶縁劣化の説明
図、第２図は本発明方法を実施する場合の絶縁測
定装置の接続図、第３図は同装置の内部回路図、
第４図は接地線に取付けた場合の内部回路図、第
５図及び第６図は第３図及び第４図の回路の動作
を理論的に説明する図で、第５図はＳ相、Ｔ相間
においてスイツチを開いた状態の説明図、第６図
はＳ相、Ｔ相間においてスイツチを閉じた状態の
説明図、第７図ａ，ｂは対地電位の変化をベクト
ル的に表わした図である。 Ｌ…インダクタンス素子、ZCT…零相変流器、
３…変換部、４…メーター部。
図、第２図は本発明方法を実施する場合の絶縁測
定装置の接続図、第３図は同装置の内部回路図、
第４図は接地線に取付けた場合の内部回路図、第
５図及び第６図は第３図及び第４図の回路の動作
を理論的に説明する図で、第５図はＳ相、Ｔ相間
においてスイツチを開いた状態の説明図、第６図
はＳ相、Ｔ相間においてスイツチを閉じた状態の
説明図、第７図ａ，ｂは対地電位の変化をベクト
ル的に表わした図である。 Ｌ…インダクタンス素子、ZCT…零相変流器、
３…変換部、４…メーター部。
Claims (1)
- １ 単相三線式回路の電路もしくは接地線に零相
変流器とインダクタンス素子とを挿入し、インダ
クタンス素子に上記電路に供給されている周波数
の励磁電流を流す前の漏れ電流と上記励磁電流を
流した後の漏れ電流との差を検出して測定するこ
とを特徴とする単相三線式回路用絶縁測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2345180A JPS56119860A (en) | 1980-02-28 | 1980-02-28 | Insulation measuring method for single-phase three-wire circuit |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2345180A JPS56119860A (en) | 1980-02-28 | 1980-02-28 | Insulation measuring method for single-phase three-wire circuit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS56119860A JPS56119860A (en) | 1981-09-19 |
| JPH027032B2 true JPH027032B2 (ja) | 1990-02-15 |
Family
ID=12110856
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2345180A Granted JPS56119860A (en) | 1980-02-28 | 1980-02-28 | Insulation measuring method for single-phase three-wire circuit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS56119860A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007121028A (ja) * | 2005-10-26 | 2007-05-17 | Hitachi Building Systems Co Ltd | 絶縁抵抗診断装置 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4933750A (ja) * | 1972-07-31 | 1974-03-28 |
-
1980
- 1980-02-28 JP JP2345180A patent/JPS56119860A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS56119860A (en) | 1981-09-19 |
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