JPH0269846A - Error detection and correction device - Google Patents
Error detection and correction deviceInfo
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- Detection And Correction Of Errors (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、NビットのワードデータにMビットの冗長ワ
ードを付加することによりにビットのエラー検出やΩビ
ットのエラー訂正を行なうエラー検出訂正装置に関し、
特に、エラー検出訂正の論理の正誤を判定し、エラー検
出訂正論理の誤動作を検出することによってさらにデー
タの信NM度を向上せしめるエラー検出訂正論理診断機
能付エラー検出訂正装置に関する。Detailed Description of the Invention [Field of Industrial Application] The present invention is an error detection and correction method that detects bit errors and corrects Ω-bit errors by adding an M-bit redundant word to N-bit word data. Regarding the equipment,
In particular, the present invention relates to an error detection and correction device with an error detection and correction logic diagnostic function that further improves data reliability by determining whether error detection and correction logic is correct and detecting malfunctions of the error detection and correction logic.
[従来の技術]
エラーの発生し易い環境条件でのシステムや、高信頼度
が要求されるシステムなとでは、データの信頼度向上の
ため、エラー検出訂正装置が使用されている。[Prior Art] In systems that operate under environmental conditions where errors are likely to occur or systems that require high reliability, error detection and correction devices are used to improve data reliability.
第5図は、従来のエラー検出訂正装置のブロック図であ
る。FIG. 5 is a block diagram of a conventional error detection and correction device.
同図において、lはNビットのデータワードとMビット
の冗長ワード(ただし、N、 Mは自然数である。)を
記憶するメモリ回路である。また、2はにビットのデー
タのエラー検出をしたり、Qビットのエラーを訂正する
エラー検出訂正回路である。このエラー検出訂正回′l
@2は、NビットのデータワードにMビットの冗長ワー
ドを付加することにより、1(ビットまでのエラーを検
出し、さらに、Qビットまではエラーを正しいデータに
訂正する。従って、メモリ回路lとエラー検出訂正回路
2間にエラーが発生し易い環境や、メモリ回路1に放射
線などに起因するビット反転のソフトエラーが起こり易
い環境、あるいは宇宙開発用や航空管制などの高信頼度
が要求されるようなシステムにおいて、Nビットのデー
タワードを正しい値に維持する働きをする。In the figure, l is a memory circuit that stores an N-bit data word and an M-bit redundancy word (N and M are natural numbers). Further, numeral 2 is an error detection and correction circuit that detects errors in 2-bit data and corrects Q-bit errors. This error detection and correction circuit'l
@2 adds an M-bit redundancy word to an N-bit data word to detect errors up to 1 (bit) and further correct errors to correct data up to Q bits. Therefore, the memory circuit l and the error detection and correction circuit 2, environments where the memory circuit 1 is prone to bit-flipping soft errors caused by radiation, or environments where high reliability is required such as for space development or air traffic control. It serves to maintain an N-bit data word at the correct value in such systems.
また、この際のにビットのエラー検出機能やQビットの
エラー訂正機能は、符号化回路3と復号化回路4の論理
によって行なわれる。Further, at this time, the error detection function of the Q bit and the error correction function of the Q bit are performed by the logic of the encoding circuit 3 and the decoding circuit 4.
次に、このエラー検出訂正回路2の動作を説明する。Next, the operation of this error detection and correction circuit 2 will be explained.
まず、入力データバス5から入力されたNヒツトのデー
タワードDW= (DB8. ・・・、 DB・・
・、DB、−1)(ただし、lはl≦N−1なる自然数
である。)を符号化回路3がラッチする。そして、符号
化回路3は、Nビットのデータからある論理でエラーを
検出したり訂正するためのMビットの冗長ワードCW=
(CB8. ・・・、CB・・・、 CB□、)
を作成した後、データワードDWについては、そのまま
無処理でデータワードバス6へ出力し、作成された冗長
ワーF’ CWについては、冗長ワードバス7へ出力す
る。また、メモリ回路lは、この(N+M)ビットのデ
ータ、すなわち、NビットのデータワードDWとMビッ
トの冗長ワードCWを記憶する。First, N data words DW= (DB8. . . . , DB . . .
, DB, -1) (where l is a natural number such that l≦N-1) is latched by the encoding circuit 3. Then, the encoding circuit 3 uses an M-bit redundancy word CW=
(CB8...., CB..., CB□,)
After creating the data word DW, the data word DW is output to the data word bus 6 without any processing, and the created redundant word F' CW is output to the redundant word bus 7. Furthermore, the memory circuit 1 stores this (N+M) bit data, that is, an N-bit data word DW and an M-bit redundancy word CW.
一方、メモリ回路lからデータが出力されるときには、
復号化回路4がデータワードバス6からNビットの出力
されるデータワードDWをラッチし、かつ、冗長ワード
バス7から出力されるMビットの冗長ワードCWをラッ
チする。そして、符号化回路3てMビットの冗長ワード
CWを作成したときと逆の論理で復号化する。この際、
(N+M)ビットのデータは、エラービット総数l(ビ
ットまで正しくエラー検出され、エラービット数に’(
k’はに′≦になる自然数である。)をエラー検出信号
としてエラー検出信号線8へ出力する。さらに、定めら
れた論理に従っであるビットQまでは正しくエラー訂正
をし、訂正されたデータを人出力データバス3へ出力す
る。On the other hand, when data is output from the memory circuit l,
The decoding circuit 4 latches the N-bit data word DW output from the data word bus 6 and also latches the M-bit redundancy word CW output from the redundancy word bus 7. Then, the encoding circuit 3 decodes the M-bit redundant word CW using the reverse logic. On this occasion,
(N+M) bits of data are correctly detected errors up to the total number of error bits l(bit, and the number of error bits is '(
k' is a natural number such that '≦. ) is output to the error detection signal line 8 as an error detection signal. Further, errors are correctly corrected up to a certain bit Q according to a predetermined logic, and the corrected data is output to the human output data bus 3.
従来のエラー検出訂正装置は、以上のような処理を行な
っていた。Conventional error detection and correction devices perform the processing described above.
[解決すべき問題点]
上述した従来のエラー検出訂正装置は、次のような問題
点があった。[Problems to be Solved] The conventional error detection and correction device described above has the following problems.
■エラー検出訂正回路内の冗長ビットを作成する符号化
回路やエラーの検出訂正をする復号化回路に故障が発生
し、符号化または復号化の論理が誤ったときに、出力デ
ータが誤って訂正されたり、誤ったエラー検出がされる
など、システムの信頼度が著しく低下する。■When a failure occurs in the encoding circuit that creates redundant bits in the error detection and correction circuit or the decoding circuit that detects and corrects errors and the encoding or decoding logic is incorrect, the output data may be incorrectly corrected. The reliability of the system is significantly lowered due to errors being detected or false errors being detected.
■エラー検出信号のモニターだけでは、メモリ回路の故
障か、エラー検出回路の故障かの判断が難しい。■It is difficult to determine whether the failure is in the memory circuit or the error detection circuit just by monitoring the error detection signal.
本発明は、上記問題点にかんがみてなされたもので、簡
易な回路構成によってエラー検出訂正論理の正誤を診断
することが可能なエラー検出訂正装置の提供を目的とす
る。The present invention has been made in view of the above problems, and it is an object of the present invention to provide an error detection and correction device capable of diagnosing the correctness of error detection and correction logic using a simple circuit configuration.
[問題点の解決手段]
上記目的を達成するため、本発明のエラー検出訂正装置
は、 (N+M+1)ビットのメモリ回路と、kビッ
トエラー検出およびQビットエラー訂正を行なうエラー
検出訂正回路と、上記メモリ回路とエラー検出訂正回路
間のデータバス上において、上記メモリ回路へのデータ
書き込み時に入力データの一ビットを反転した反転ビッ
トを付加して出力するとともに、上記メモリ回路へのデ
ータ読み込み時には、上記反転ビットを含まない正常デ
ータと上記反転ビットで正常データを置換した反転デー
タとを選択して出力する双方向バッファと、上記メモリ
回路からのデータ読み込み時に」1記正常データと上記
反転データとを入力し、エラー検出訂正論理の正誤を診
断する診断回路とを備えた構成としである。[Means for Solving Problems] In order to achieve the above object, the error detection and correction device of the present invention includes an (N+M+1) bit memory circuit, an error detection and correction circuit that performs k-bit error detection and Q-bit error correction, and the above-mentioned. On the data bus between the memory circuit and the error detection and correction circuit, when writing data to the memory circuit, an inverted bit, which is one bit of the input data, is added and output, and when reading data to the memory circuit, the above bit is added and output. A bidirectional buffer that selects and outputs normal data that does not include an inverted bit and inverted data that replaces the normal data with the inverted bit, and a bidirectional buffer that selects and outputs normal data that does not include the inverted bit and inverted data that replaces the normal data with the inverted bit, and 1. The normal data and the inverted data as described in 1. The configuration includes a diagnostic circuit that inputs the input signal and diagnoses whether the error detection and correction logic is correct or incorrect.
かかる構成とすることにより、メモリにデータを書き込
むときに一ビツト反転させたビットも合わせて書き込み
、読み込み時は正常データのエラー検出訂正処理と一ビ
ツト反転データのエラー検出訂正処理とを時分割に行な
い、診断回路によってそれぞれの値を比較してエラー検
出訂正論理の正誤を判定している。With this configuration, when data is written to the memory, a bit that has been inverted by one bit is also written, and when reading, error detection and correction processing for normal data and error detection and correction processing for one-bit inverted data are performed in a time-sharing manner. A diagnostic circuit compares each value to determine whether the error detection and correction logic is correct.
[実施例] 以下、図面にもとづいて本発明の詳細な説明する。[Example] Hereinafter, the present invention will be explained in detail based on the drawings.
第1図は、本発明の一実施例に係るエラー検出訂正装置
のブロック図、第2図は、第1図のエラー検出訂正装置
におけるデータ処理を示す図、第3図は、第1図のエラ
ー検出訂正装置における診断回路のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of an error detection and correction device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing data processing in the error detection and correction device of FIG. 1, and FIG. 3 is a diagram of the error detection and correction device of FIG. FIG. 3 is a block diagram of a diagnostic circuit in the error detection and correction device.
なお、従来例と共通または対応する部分については同一
の符号で表す。Note that parts common to or corresponding to those of the conventional example are denoted by the same reference numerals.
第1図において、lは(N+M+1)ビットのワードを
記憶するメモリ回路、2はにビットのエラー検出機能と
Qビットのエラー訂正機能を有するエラー検出訂正回路
である。このエラー検出訂正回路2は、入力データバス
5から入力されたNビットのデータワードDWを内部回
路である符号化回路3がラッチし、ある定められた論理
にもとづいてデータワードDWの各ビットに対応してエ
ラー検出訂正用のMビット冗長ワードCWを作成する。In FIG. 1, 1 is a memory circuit for storing (N+M+1) bit words, and 2 is an error detection and correction circuit having a 2-bit error detection function and a Q-bit error correction function. In this error detection and correction circuit 2, an encoding circuit 3, which is an internal circuit, latches an N-bit data word DW input from an input data bus 5, and converts each bit of the data word DW based on a certain predetermined logic. Correspondingly, an M-bit redundancy word CW for error detection and correction is created.
そして、冗長ワードCW作成後、入力されたデータワー
ドDWをそのままの状態でデータワードバス6へ出力し
、作成された冗長ワードCWを冗長ワードバス7に出力
する。After creating the redundant word CW, the input data word DW is output as is to the data word bus 6, and the created redundant word CW is output to the redundant word bus 7.
一方、エラー検出訂正回路2がデータをメモリ回路lか
ら受は取る際には、復号化回路7がデータワードバス6
と冗長ワードバス7の(+’J+M)ビットのデータを
ラッチし、符号化と逆の論理で復号化する。すなわち、
工(ビット以内のエラーは検出し、Qビット以内のエラ
ーは訂正して人出力データバス3へ出力する。また、仮
にに′ビットのエラーが検出されたとすると、rk’
ビット数のエラー有り」の情報をエラー検出信号線8へ
出力する。On the other hand, when the error detection and correction circuit 2 receives data from the memory circuit l, the decoding circuit 7
and the (+'J+M) bit data of the redundant word bus 7 are latched and decoded using the reverse logic of encoding. That is,
(errors within bits are detected, errors within Q bits are corrected and output to the human output data bus 3. Also, if a 'bit error is detected, rk'
Information indicating that there is an error in the number of bits is output to the error detection signal line 8.
次に、9は双方向バッファであり、データワードバス6
上の任意のビット1と接続されている。Next, 9 is a bidirectional buffer, and data word bus 6
Connected to any bit 1 above.
そして、メモリ回路lが書き込みモートのときに、入力
データピッ)DB について、同一の信号をデータワ
ードバス6のDB、信号線へ出力し、反転信号DB
を診断用ビット線10へ出力させる。When the memory circuit 1 is in the write mode, the same signal is output to the DB signal line of the data word bus 6 for the input data pin DB, and an inverted signal DB is output.
is output to the diagnostic bit line 10.
また、メモリ回路lが読み出しモードのときは、DB
信号線または診断用ビット線lOのいずれかのみと接
続する機能を有している。Furthermore, when the memory circuit l is in the read mode, the DB
It has a function of connecting only to either the signal line or the diagnostic bit line IO.
この双方向バッファ9により、メモリ回路lの読み出し
モード時に、次の処理がなされる。すなわち、DB
信号線と接続したときは、復号化回路7でデータワード
DW= (DB、、−、DB、。This bidirectional buffer 9 performs the following processing when the memory circuit 1 is in the read mode. That is, D.B.
When connected to the signal line, the decoding circuit 7 outputs the data word DW=(DB,,-,DB,.
・・・、 DBN−1)をラッチし、診断用ビット線
10と接続したときは、復号化回路7でDW=(DBe
。..., DBN-1) is latched and connected to the diagnostic bit line 10, the decoding circuit 7 sets DW=(DBe
.
・・・、DB、、・・・、DBN−4)をラッチするこ
とになる。..., DB, ..., DBN-4).
このように、双方向バッファ9はエラー検出訂正回路2
のエラー検出訂正論理の正誤の診断をするために、−ビ
ットエラーを作成する回路であり、故意に一ビット誤ら
せたデータワードと正常なデータの切替機能を有してい
る。そして、時分割に正常データと一ビットエラーデー
タ(反転データ)をエラー検出訂正回路2へ送出する機
能を有している。In this way, the bidirectional buffer 9 is connected to the error detection and correction circuit 2.
This circuit creates a -bit error in order to diagnose the correctness of the error detection and correction logic of the circuit, and has the function of switching between a data word with an intentional one-bit error and normal data. It also has a function of time-divisionally sending normal data and 1-bit error data (inverted data) to the error detection and correction circuit 2.
また、11は制御信号線であり、メモリ回路lの読み出
しモード時に双方向バッファ9がビット信号線DB
と診断用ビット線lOのどちらと接続するかを制御する
制御信号を伝達する。Further, 11 is a control signal line, and the bidirectional buffer 9 is connected to the bit signal line DB in the read mode of the memory circuit l.
A control signal is transmitted to control which of the diagnostic bit line 10 and the diagnostic bit line IO is connected.
そして、12はエラー検出訂正回路2におけるエラー検
出訂正の論理の正誤を判定する診断回路であり、診断の
結果を診断信号線13へ出力する。A diagnostic circuit 12 determines whether the logic of error detection and correction in the error detection and correction circuit 2 is correct or incorrect, and outputs the result of the diagnosis to the diagnostic signal line 13.
さて、第2図はビットエラー発生がない場合のメモリ回
路1とエラー検出訂正回路2のデータ処理を示している
。Now, FIG. 2 shows data processing in the memory circuit 1 and the error detection and correction circuit 2 when no bit error occurs.
ここで、入力データ21は、人出力データバス5から入
力され、符号化回路3でラッチされるNビットのデータ
ワードDWである。次に、メモリ書き込みデータ22は
、メモリ回路lへ書き込まれる(N+M+ 1> ビ
ットのデータワードであり、NビットのデータワードD
Wと符号化回路3で作成されたNビットの冗長ワーF’
CWと、双方向バッファ9によってDB、が反転され
たDB、とからなる。また、メモリ読み出しデータワー
ド23は、双方向バッファ9がビット信号線DB、と接
続されたときに読み出されたデータワードである。Here, the input data 21 is an N-bit data word DW input from the human output data bus 5 and latched by the encoding circuit 3. The memory write data 22 is then written to the memory circuit l (a data word of N+M+ 1> bits and a data word of N bits D
W and the N-bit redundant word F' created by the encoding circuit 3
It consists of CW and DB which is inverted from DB by the bidirectional buffer 9. Further, the memory read data word 23 is a data word read when the bidirectional buffer 9 is connected to the bit signal line DB.
そして、エラー検出訂正出力データワート24は、復号
化回路4てメモリ読み出しデータ23をチエツク検査し
た後のデータワードである。The error detection and correction output data word 24 is the data word after the memory read data 23 is checked by the decoding circuit 4.
一方、診断用データ読み出しワード25は、双方向バッ
ファ9が診断用ビット線10と接続されたときのデータ
ワードである。この診断用データ読み出しワード25中
の冗長ワードCWは、入力データワードDW= (DB
8. ・・・、DB、、 ・・・DBN−1) 21に
対して作成されたものであるから、診断用データ読み出
しワードDW= (DB8゜・・・、DB、、 ・・
・、DB、、)25のデータワードには、−ビットのエ
ラーがあることとなる。On the other hand, the diagnostic data read word 25 is a data word when the bidirectional buffer 9 is connected to the diagnostic bit line 10. The redundant word CW in this diagnostic data read word 25 is the input data word DW=(DB
8. ..., DB,, ...DBN-1) Since it was created for 21, the diagnostic data read word DW= (DB8゜..., DB,, ...
. . , DB, . ) 25 data words will have a - bit error.
従って、診断用データ読み出しワード25が復号化回路
4に入力されると、DB、のビットエラーが検出され、
エラー検出信号線8には一ビツトエラー検出信号が送出
される。そして、DB、はDB へエラー訂正され、
エラー検出訂正後データワード16となって人出力デー
タバス5へ出力される。Therefore, when the diagnostic data read word 25 is input to the decoding circuit 4, a bit error in DB is detected,
A one-bit error detection signal is sent to the error detection signal line 8. Then, DB is error-corrected to DB,
After error detection and correction, the data word 16 is output to the human output data bus 5.
さて、第3図は、診断回路12の構成を示している。Now, FIG. 3 shows the configuration of the diagnostic circuit 12.
同図において、31はエラー検出訂正出力データワード
をラッチするNビットのラッチ回路(ラッチA)、32
はエラー検出訂正後データ26をラッチするラッチ回路
(ラッチB)である。また、33は制御信号線11を用
いてラッチ31とラッチ32のラッチタイミングを作る
ラッチ制御回路であり、ラッチ31とラッチ32のラッ
チタイミングは、それぞれラッチ制御信号34とラッチ
制御信号35として出力される。In the figure, 31 is an N-bit latch circuit (latch A) that latches the error detection and correction output data word;
is a latch circuit (latch B) that latches the data 26 after error detection and correction. Further, 33 is a latch control circuit that uses the control signal line 11 to create latch timings for the latch 31 and latch 32, and the latch timings for the latch 31 and latch 32 are output as a latch control signal 34 and a latch control signal 35, respectively. Ru.
一方、ラッチ31とラッチ32にデータがともにラッチ
されると、ラッチA出力データ線36とラッチB出力デ
ータ線37を介してそれぞれNビットのデータが判定回
路38へ入力される。また、エラー検出信号線8を介し
てラッチ31のデータのエラー検出ビット数に、とラッ
チ32の検出ピッ) I k Bも入力される。そして
、判定回路38では、第4図の表に示す論理でエラー検
出訂正回路2におけるエラー検出訂正の論理の正誤を判
定する。On the other hand, when data is latched in both the latch 31 and the latch 32, N-bit data is input to the determination circuit 38 via the latch A output data line 36 and the latch B output data line 37, respectively. Further, the number of error detection bits of the data in the latch 31 and the detection pitch I k B of the latch 32 are also input via the error detection signal line 8 . Then, the determination circuit 38 determines whether the error detection and correction logic in the error detection and correction circuit 2 is correct or incorrect based on the logic shown in the table of FIG.
つまり、エラー検出訂正回路3のエラー訂正か能ビット
数はQであるため、(Q−1)以下のときはエラーは完
全に訂正されるはずである。従って、ラッチ31とラッ
チ32の値が同一でないときは、エラー訂正機能に異常
が発生したとして診断信号線13に「訂正機能異常」情
報を出力する。In other words, since the number of error correction bits of the error detection and correction circuit 3 is Q, errors should be completely corrected when the number is (Q-1) or less. Therefore, when the values of the latch 31 and the latch 32 are not the same, it is determined that an error has occurred in the error correction function, and "correction function error" information is output to the diagnostic signal line 13.
また、検出可能ビット数はkであるから、(k−1)以
下のエラー発生のときはエラー検出信号がエラー検出信
号線8より送られてくるはずである。Furthermore, since the number of detectable bits is k, an error detection signal should be sent from the error detection signal line 8 when (k-1) or less errors occur.
従って、検出信号がないときは「エラー検出機能異常」
として診断信号線13へ出力する。Therefore, when there is no detection signal, there is an "error detection function abnormality".
It is output to the diagnostic signal line 13 as a signal.
このように本実施例では、故意に反転させたビットを追
加してメモリ回路に書き込み、反転させたビットを含む
ワードと正常のビットを含むワードを時分割で読み出し
、同一のエラー検出訂正回路でエラー検出訂正を行ない
、それぞれの結果を比較することによって、エラー検出
訂正回路のエラー検出訂正論理の正誤を効果的に診断で
きる。In this way, in this embodiment, intentionally inverted bits are added and written into the memory circuit, and a word containing the inverted bits and a word containing normal bits are read out in a time-sharing manner using the same error detection and correction circuit. By performing error detection and correction and comparing the respective results, it is possible to effectively diagnose whether the error detection and correction logic of the error detection and correction circuit is correct.
このため、エラー検出訂正回路の論理異常が発生しても
いち早く検出でき、誤って復号化(訂正)されたデータ
を出力したり、データのエラー異常が放置されるなとの
問題が減少する。Therefore, even if a logic abnormality occurs in the error detection and correction circuit, it can be detected quickly, and problems such as outputting erroneously decoded (corrected) data or leaving data error abnormalities unattended are reduced.
なお、本発明は上記実施例に限定されるものでなく、要
旨の範囲内における種々変形例を含むものである。例え
は、上述の実施例では、診断のために反転するビットを
データビットDB、とじているが、双方向バッファ9を
冗長ワードバス6上に配置してCB、をCB、と反転し
ても(図示省略)、診断回路は同一のものでよく、同一
の診断機能が得られる。It should be noted that the present invention is not limited to the above embodiments, but includes various modifications within the scope of the gist. For example, in the above embodiment, the bits to be inverted for diagnosis are referred to as data bits DB, but it is also possible to arrange the bidirectional buffer 9 on the redundant word bus 6 and invert CB to CB. (not shown), the diagnostic circuit may be the same, and the same diagnostic function can be obtained.
[発明の効果]
以上説明したように本発明は、簡易な回路構成によって
データの信頼性の向上を図り、システムの故障、停止、
誤動作なとの悪影響を効果的に防止することが可能なエ
ラー検出訂正装置を提供できるという効果がある。[Effects of the Invention] As explained above, the present invention improves data reliability with a simple circuit configuration, and prevents system failures, stoppages,
This has the advantage that it is possible to provide an error detection and correction device that can effectively prevent the adverse effects of malfunctions.
また、診断用エラー情報である反転ビットは、メモリ回
路に記憶されているため、同じ診断を何度も実行可能で
あり、診断結果の信頼度を高めることができ、不良時の
メモリ回路とエラー検出訂正回路の故障の切り分けにも
大いに効果がある。In addition, since the inversion bit, which is error information for diagnosis, is stored in the memory circuit, the same diagnosis can be executed many times, increasing the reliability of the diagnosis result, It is also very effective in isolating failures in detection and correction circuits.
第1図は本発明の一実施例に係るエラー検出訂正装置の
ブロック図、第2図は第1図のエラー検出訂正装置にお
けるデータ処理を示す図、第3図は第1図のエラー検出
訂正装置における診断回路のブロック図、第4図は第1
図のエラー検出訂正装置の論理を示す表、第5図は従来
のエラー検出訂正装置のブロック図である。
l:メモリ回路
2:エラー検出訂正回路
9:双方向バッファ
13:診断回路FIG. 1 is a block diagram of an error detection and correction device according to an embodiment of the present invention, FIG. 2 is a diagram showing data processing in the error detection and correction device of FIG. 1, and FIG. 3 is a block diagram of an error detection and correction device of FIG. A block diagram of the diagnostic circuit in the device, Figure 4 is the first
A table showing the logic of the error detection and correction device shown in FIG. 5 is a block diagram of a conventional error detection and correction device. l: Memory circuit 2: Error detection and correction circuit 9: Bidirectional buffer 13: Diagnostic circuit
Claims (1)
ー検出およびlビットエラー訂正を行なうエラー検出訂
正回路と、上記メモリ回路とエラー検出訂正回路間のデ
ータバス上において、上記メモリ回路へのデータ書き込
み時に入力データの一ビットを反転した反転ビットを付
加して出力するとともに、上記メモリ回路へのデータ読
み込み時には、上記反転ビットを含まない正常データと
上記反転ビットで正常データを置換した反転データとを
選択して出力する双方向バッファと、上記メモリ回路か
らのデータ読み込み時に上記正常データと上記反転デー
タとを入力し、エラー検出訂正論理の正誤を診断する診
断回路とを具備することを特徴とするエラー検出訂正装
置。An (N+M+1) bit memory circuit, an error detection and correction circuit that performs k-bit error detection and l-bit error correction, and an input on a data bus between the memory circuit and the error detection and correction circuit when writing data to the memory circuit. An inverted bit, which is one bit of data inverted, is added and output, and when data is read into the memory circuit, normal data that does not include the inverted bit and inverted data that replaces the normal data with the inverted bit are selected. and a diagnostic circuit that inputs the normal data and the inverted data when reading data from the memory circuit and diagnoses whether the error detection and correction logic is correct. correction device.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63221324A JPH0269846A (en) | 1988-09-06 | 1988-09-06 | Error detection and correction device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63221324A JPH0269846A (en) | 1988-09-06 | 1988-09-06 | Error detection and correction device |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0269846A true JPH0269846A (en) | 1990-03-08 |
Family
ID=16765018
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63221324A Pending JPH0269846A (en) | 1988-09-06 | 1988-09-06 | Error detection and correction device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0269846A (en) |
-
1988
- 1988-09-06 JP JP63221324A patent/JPH0269846A/en active Pending
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