JPH0267610A - 基準電圧発生回路 - Google Patents
基準電圧発生回路Info
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- JPH0267610A JPH0267610A JP63220117A JP22011788A JPH0267610A JP H0267610 A JPH0267610 A JP H0267610A JP 63220117 A JP63220117 A JP 63220117A JP 22011788 A JP22011788 A JP 22011788A JP H0267610 A JPH0267610 A JP H0267610A
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- JP
- Japan
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- voltage
- transistor
- terminal
- power supply
- reference voltage
- Prior art date
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- 239000006185 dispersion Substances 0.000 abstract 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 5
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Control Of Electrical Variables (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は基準電圧発生回路に関し、特に集積回路におい
て、外部からの電源電圧の変動に依存しない所定の基準
電圧を発生する基準電圧発生回路に関するものである。
て、外部からの電源電圧の変動に依存しない所定の基準
電圧を発生する基準電圧発生回路に関するものである。
従来、この種の基準電圧発生回路は、第3図に示すよう
に、抵抗素子R3とPチャネルMO3型のトランジスタ
Q31〜Q35が電源端子間に直列接続された構成が一
般的であった。
に、抵抗素子R3とPチャネルMO3型のトランジスタ
Q31〜Q35が電源端子間に直列接続された構成が一
般的であった。
今、PチャネルMO3型のトランジスタQ3□〜Q35
のしきい値電圧をV、31とすると、出力端子To3に
は5VT31の電圧VO3が発生する。
のしきい値電圧をV、31とすると、出力端子To3に
は5VT31の電圧VO3が発生する。
この電圧Vo3はしきい値電圧V73Hのみによって決
まるので、電源端子に印加される電圧Vcoには依存し
ないが、出力電圧はV7Hの整数倍に限られる。
まるので、電源端子に印加される電圧Vcoには依存し
ないが、出力電圧はV7Hの整数倍に限られる。
第4図はNチャネルMO3型のトランジスタQ41〜Q
45を使用したときの他の従来例である。
45を使用したときの他の従来例である。
この回路の出力電圧(■o4)も同様に、これらトラン
ジスタQ41〜Q45のしきい値電圧のみで決まる。
ジスタQ41〜Q45のしきい値電圧のみで決まる。
上述した従来の基準電圧発生回路は、それぞれトランジ
スタQ31〜Q 3 s r Q 41〜Q45を直列
接続して個々のしきい値電圧の和を出力電圧としている
ので、製造条件の変動によって個々のしきい値電圧はば
らつき、また温度により変動し、出力電圧(VO31V
O4)は大きく変動するという欠点がある。
スタQ31〜Q 3 s r Q 41〜Q45を直列
接続して個々のしきい値電圧の和を出力電圧としている
ので、製造条件の変動によって個々のしきい値電圧はば
らつき、また温度により変動し、出力電圧(VO31V
O4)は大きく変動するという欠点がある。
今、仮にトランジスタQ31〜Qs5のしきい値電圧v
T、1を0.8±0.15Vとした場合では、通常、近
接した部分につくられるので、これらのしきい値電圧V
T31の変動のずれ方向は同一であり、しきい値電圧7
丁3、の変動が相殺されることはなく、製造ばらつきの
変動分は必ず加算される。従って、出力電圧(VO3)
は4.0±0.75Vとなり、基準電圧を4.0■とし
て設計した場合でも製造ばらつきのために所望の電圧を
安定して得られることができない。
T、1を0.8±0.15Vとした場合では、通常、近
接した部分につくられるので、これらのしきい値電圧V
T31の変動のずれ方向は同一であり、しきい値電圧7
丁3、の変動が相殺されることはなく、製造ばらつきの
変動分は必ず加算される。従って、出力電圧(VO3)
は4.0±0.75Vとなり、基準電圧を4.0■とし
て設計した場合でも製造ばらつきのために所望の電圧を
安定して得られることができない。
また、出力電圧(VO3,VO4)はしきい値電圧の整
数倍となり、自由度がないという欠点がある。
数倍となり、自由度がないという欠点がある。
本発明の目的は、しきい値電圧のばらつきの影響を低減
して安定した基準電圧を得ることができ、かつ任意の基
準電圧を得ることができる基準電圧発生回路を提供する
ことにある。
して安定した基準電圧を得ることができ、かつ任意の基
準電圧を得ることができる基準電圧発生回路を提供する
ことにある。
本発明の基準電圧発生回路は、一端を第1の電源端子と
接続する抵抗素子と、この抵抗素子の他端と第2の電源
端子との間に接続された第1のしきい値電圧をもつ第1
のトランジスタと、ゲートをこの第1のトランジスタと
前記抵抗素子との接続点に接続し前記第2の電源端子と
出力端子との間に接続された第2のしきい値電圧をもつ
第2のトランジスタと、ゲートを前記第1の電源端子と
接続しこの第1の電源端子と前記出力端子との間に接続
された第3のしきい値電圧をもつ第3のトランジスタと
を有している。
接続する抵抗素子と、この抵抗素子の他端と第2の電源
端子との間に接続された第1のしきい値電圧をもつ第1
のトランジスタと、ゲートをこの第1のトランジスタと
前記抵抗素子との接続点に接続し前記第2の電源端子と
出力端子との間に接続された第2のしきい値電圧をもつ
第2のトランジスタと、ゲートを前記第1の電源端子と
接続しこの第1の電源端子と前記出力端子との間に接続
された第3のしきい値電圧をもつ第3のトランジスタと
を有している。
次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。
。
第1図は本発明の第1の実施例を示す回路図である。
この実施例は、一端を第1の電源端子である接地端子と
接続する抵抗素子R1と、ゲートを抵抗素子R1の他端
と接続しこの抵抗素子Rsの他端と第2の電源端子TP
との間に接続された第1のしきい値電圧V↑■をもつエ
ンハンスメントPチャネルMOS型の第1のトランジス
タQt+と、ゲートをこのトランジスタQltと抵抗素
子R1との接続点と接続し電源端子TPと出力端子T。
接続する抵抗素子R1と、ゲートを抵抗素子R1の他端
と接続しこの抵抗素子Rsの他端と第2の電源端子TP
との間に接続された第1のしきい値電圧V↑■をもつエ
ンハンスメントPチャネルMOS型の第1のトランジス
タQt+と、ゲートをこのトランジスタQltと抵抗素
子R1との接続点と接続し電源端子TPと出力端子T。
1との間に接続された第2のしきい値電圧V 712を
もつエンハンスメントPチャネルMO8型の第2のトラ
ンジスタQ12と、ゲートを接地端子と接続しこの接地
端子と出力端子To1との間に接続された第3のしきい
値電圧V↑1.をもつエンハンスメントPチャネルMO
3型の第3のトランジスタQ13とを備えた構成となっ
ている。
もつエンハンスメントPチャネルMO8型の第2のトラ
ンジスタQ12と、ゲートを接地端子と接続しこの接地
端子と出力端子To1との間に接続された第3のしきい
値電圧V↑1.をもつエンハンスメントPチャネルMO
3型の第3のトランジスタQ13とを備えた構成となっ
ている。
今、トランジスタQ目〜Q13の導電係数をそれぞれβ
!〜β3とし、トランジスタQllと抵抗素子R1との
接続点の電圧をVlとして全トランジスタQ■〜Q13
が飽和領域で動作するものとすれば、電源電圧がVcc
のとき、トランジスタQ12゜Qxiのドレイン電流I
DSは、 β3 = (VOI VT13 ) 2−(1)と
なる。ここで■。1は出力端子Telの出力電圧である
。
!〜β3とし、トランジスタQllと抵抗素子R1との
接続点の電圧をVlとして全トランジスタQ■〜Q13
が飽和領域で動作するものとすれば、電源電圧がVcc
のとき、トランジスタQ12゜Qxiのドレイン電流I
DSは、 β3 = (VOI VT13 ) 2−(1)と
なる。ここで■。1は出力端子Telの出力電圧である
。
ここで、抵抗素子R1の抵抗値が大きいとき、トランジ
スタQstのドレイン電流は非常に小さいので、電圧V
1は V t = V cc+ V r目−(2)となる、す
なわち、出力端子T’otに発生する電圧(Vos)は ・・・(3)7 となる。
スタQstのドレイン電流は非常に小さいので、電圧V
1は V t = V cc+ V r目−(2)となる、す
なわち、出力端子T’otに発生する電圧(Vos)は ・・・(3)7 となる。
この(3)式に示すように、出力電圧■。1はトランジ
スタQ1□〜Q13のしきい値と電圧■1.1〜VH3
と導電係数β1〜β3とで決まり、電源電圧V。0の変
動の影響を受けないことがかわる。
スタQ1□〜Q13のしきい値と電圧■1.1〜VH3
と導電係数β1〜β3とで決まり、電源電圧V。0の変
動の影響を受けないことがかわる。
さらに本実施例は、温度や製造条件の変動の影響が小さ
くなる。すなわち、これらトランジスタQll〜Q13
は通常、集積回路の近接した部分に形成されるので温度
や製造条件による変動に対して、しきい値電圧V丁、、
、V月2の変動は同一方向となり、これらしきい値電圧
VTII 、 VT12の差をとることによって相殺さ
れ、出力電圧V。1は非常に安定したものとなる。
くなる。すなわち、これらトランジスタQll〜Q13
は通常、集積回路の近接した部分に形成されるので温度
や製造条件による変動に対して、しきい値電圧V丁、、
、V月2の変動は同一方向となり、これらしきい値電圧
VTII 、 VT12の差をとることによって相殺さ
れ、出力電圧V。1は非常に安定したものとなる。
今、仮に、Vt++ ” 1.6 V±0.2 V、
v丁、□Vo+=4.0±0.35Vとなる。
v丁、□Vo+=4.0±0.35Vとなる。
なお、R2,R3のばらつきは、トランジスタQ+2.
Q13 等をそれぞれ全く同一形状、同一方向にレイ
アウトされた単位MOSトランジスタで構成することな
どによって低減可能である。
Q13 等をそれぞれ全く同一形状、同一方向にレイ
アウトされた単位MOSトランジスタで構成することな
どによって低減可能である。
数とすることができ、任意の出力電圧V。1が得られる
。
。
また、たとえばチャネル長の異なる2つのトランジスタ
をQ rt、 Q 12として用いると、しきい値電圧
の異なるトランジスタが容易に得られ、特に全く同一の
製造工程によって形成できるため、この両者のしきい値
電圧のばらつきはほぼ同程度とすることができる。
をQ rt、 Q 12として用いると、しきい値電圧
の異なるトランジスタが容易に得られ、特に全く同一の
製造工程によって形成できるため、この両者のしきい値
電圧のばらつきはほぼ同程度とすることができる。
また、第1の電源端子VPと接地端子とに印加する電圧
の極性を逆にし、エンハンスメントNチャネルMOS型
トランジスタを使用すれば、同様の効果が得られる。
の極性を逆にし、エンハンスメントNチャネルMOS型
トランジスタを使用すれば、同様の効果が得られる。
第2図は本発明の第2の実施例の回路図である。
この第2の実施例においては、第1の実施例の抵抗素子
R,をエンハンスメント型PチャネルMO3型のトラン
ジスタQ22に置き換えたものである。
R,をエンハンスメント型PチャネルMO3型のトラン
ジスタQ22に置き換えたものである。
トランジスタQ2□のドレイン電流を微小にするなめに
トランジスタQ22の導電係数βを小さくすると、トラ
ンジスタQ211Q22の接続点の電圧V2は、 V 2 == V cc+ V T21となり、第1の
実施例と同様の効果が得られる。
トランジスタQ22の導電係数βを小さくすると、トラ
ンジスタQ211Q22の接続点の電圧V2は、 V 2 == V cc+ V T21となり、第1の
実施例と同様の効果が得られる。
ここでVT2.はトランジスタQ21のしきい値電圧で
ある。
ある。
この第2の実施例は抵抗素子をトランジスタで形成して
いるので、半導体基板上に占める基準電圧発生回路の面
積を大幅に小さくすることができるという利点がある。
いるので、半導体基板上に占める基準電圧発生回路の面
積を大幅に小さくすることができるという利点がある。
以上説明したように本発明は、第1及び第2の電源端子
間に、第1のしきい値電圧をもつ第1のトランジスタと
抵抗素子とを直列接続し、これと並列に第2のしきい値
電圧をもつ第2のトランジスタと第3のしきい値電圧を
もつ第3のトランジスタとを直列接続し、第2のトラン
ジスタのゲートを第1のトランジスタと抵抗素子との接
続点に接続し、第3のトランジスタのゲートを第2の電
源端子に接続し、出力端子を第2及び第3のトランジス
タの接続点に接続する構成とすることにより、しきい値
電圧のずれが相殺されるので、しきい値電圧のばらつき
の影響を低減して安定した基準電圧を得ることができ、
かつ任意の基準電圧を得ることができる効果がある。
間に、第1のしきい値電圧をもつ第1のトランジスタと
抵抗素子とを直列接続し、これと並列に第2のしきい値
電圧をもつ第2のトランジスタと第3のしきい値電圧を
もつ第3のトランジスタとを直列接続し、第2のトラン
ジスタのゲートを第1のトランジスタと抵抗素子との接
続点に接続し、第3のトランジスタのゲートを第2の電
源端子に接続し、出力端子を第2及び第3のトランジス
タの接続点に接続する構成とすることにより、しきい値
電圧のずれが相殺されるので、しきい値電圧のばらつき
の影響を低減して安定した基準電圧を得ることができ、
かつ任意の基準電圧を得ることができる効果がある。
第1図及び第2図はそれぞれ本発明の第1及び第2の実
施例を示す回路図、第3図及び第4図はそれぞれ従来の
基準電圧発生回路の第1及び第2の例を示す回路図であ
る。 R1・・・抵抗素子、Ql+〜Q+31Q21〜Q24
゜Q 31〜Q 35. Q 41〜Q 45− トラ
ンジスタ、Tol〜To4・・・出力端子、TP・・・
電源端子。 代理人 弁理士 内 原 晋 Q、n〜Qts Fつ)ジにγ rr Qzr−(h* ト’);TK? 厭 示
施例を示す回路図、第3図及び第4図はそれぞれ従来の
基準電圧発生回路の第1及び第2の例を示す回路図であ
る。 R1・・・抵抗素子、Ql+〜Q+31Q21〜Q24
゜Q 31〜Q 35. Q 41〜Q 45− トラ
ンジスタ、Tol〜To4・・・出力端子、TP・・・
電源端子。 代理人 弁理士 内 原 晋 Q、n〜Qts Fつ)ジにγ rr Qzr−(h* ト’);TK? 厭 示
Claims (1)
- 一端を第1の電源端子と接続する抵抗素子と、この抵
抗素子の他端と第2の電源端子との間に接続された第1
のしきい値電圧をもつ第1のトランジスタと、ゲートを
この第1のトランジスタと前記抵抗素子との接続点に接
続し前記第2の電源端子と出力端子との間に接続された
第2のしきい値電圧をもつ第2のトランジスタと、ゲー
トを前記第1の電源端子と接続しこの第1の電源端子と
前記出力端子との間に接続された第3のしきい値電圧を
もつ第3のトランジスタとを有することを特徴とする基
準電圧発生回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63220117A JPH0267610A (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 基準電圧発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP63220117A JPH0267610A (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 基準電圧発生回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0267610A true JPH0267610A (ja) | 1990-03-07 |
Family
ID=16746184
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP63220117A Pending JPH0267610A (ja) | 1988-09-01 | 1988-09-01 | 基準電圧発生回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0267610A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5646516A (en) * | 1994-08-31 | 1997-07-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Reference voltage generating circuit |
US6043638A (en) * | 1998-11-20 | 2000-03-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Reference voltage generating circuit capable of generating stable reference voltage independent of operating environment |
-
1988
- 1988-09-01 JP JP63220117A patent/JPH0267610A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5646516A (en) * | 1994-08-31 | 1997-07-08 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Reference voltage generating circuit |
US6043638A (en) * | 1998-11-20 | 2000-03-28 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Reference voltage generating circuit capable of generating stable reference voltage independent of operating environment |
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