JPH0266445A - クロマトグラフ用電子捕獲型検出器 - Google Patents
クロマトグラフ用電子捕獲型検出器Info
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- JPH0266445A JPH0266445A JP21803788A JP21803788A JPH0266445A JP H0266445 A JPH0266445 A JP H0266445A JP 21803788 A JP21803788 A JP 21803788A JP 21803788 A JP21803788 A JP 21803788A JP H0266445 A JPH0266445 A JP H0266445A
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- gas
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Landscapes
- Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、ガスクロマトグラフに適した電子捕獲型検出
器に関する。
器に関する。
(従来技術)
ハロゲン化合物やニトロ化合物等の親電子化合物の検出
には、第6図に示したように放射゛i同位元素を封入し
た小容積のイオン化室へにイオン化電流検出用電極Bを
収容するとともに、被測定ガス流入口C、ガス排出口D
、及びパージガス供給口Eを設けてなる電子捕獲型検出
器が用いられでいる。なお、図中符号Fは、キャピラリ
ーカラムを示す。
には、第6図に示したように放射゛i同位元素を封入し
た小容積のイオン化室へにイオン化電流検出用電極Bを
収容するとともに、被測定ガス流入口C、ガス排出口D
、及びパージガス供給口Eを設けてなる電子捕獲型検出
器が用いられでいる。なお、図中符号Fは、キャピラリ
ーカラムを示す。
この検出器によれば、キャリアガスだけを流した状態で
はこれが放射性同位元素によりイオン化されて、適当な
電圧が印加されているイオン化電流検出電極に一定のイ
オン電流が流れる。
はこれが放射性同位元素によりイオン化されて、適当な
電圧が印加されているイオン化電流検出電極に一定のイ
オン電流が流れる。
この状態においで、キャピラリーカラムFから排出され
た親電子性の分子や原子が被測定ガス流入口Cを介して
イオン化室Aに侵入してくると、これか周囲の自由電子
を容易に吸着して負のイオンとなるため、陽イオンとの
再結合の度合いが増加し、結果として電極Bのイオン電
流が減少するために被測定ガスの濃度を測定することが
できる。
た親電子性の分子や原子が被測定ガス流入口Cを介して
イオン化室Aに侵入してくると、これか周囲の自由電子
を容易に吸着して負のイオンとなるため、陽イオンとの
再結合の度合いが増加し、結果として電極Bのイオン電
流が減少するために被測定ガスの濃度を測定することが
できる。
(解決すべき課題)
ところで、特に分析条件を時間とともに変化させる昇温
型ガスクロマトグラフや、超臨界流体クロマトグラフに
あってはカラム温度を時間とともに変化させるため、メ
イクアップガスの不純物濃度が温度、つまり時間ととも
に補償量変化を来すようなりロマトグラフィに電子捕獲
型検出器を適用した場合には、検出器自体の感度が高い
ため、クロマトグラムのベースラインが温度とともにド
リフトを起こし、検出感度やS/Hの低下を招くという
問題がある。
型ガスクロマトグラフや、超臨界流体クロマトグラフに
あってはカラム温度を時間とともに変化させるため、メ
イクアップガスの不純物濃度が温度、つまり時間ととも
に補償量変化を来すようなりロマトグラフィに電子捕獲
型検出器を適用した場合には、検出器自体の感度が高い
ため、クロマトグラムのベースラインが温度とともにド
リフトを起こし、検出感度やS/Hの低下を招くという
問題がある。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであっ
て、その目的とするところは、カラム温度の変化に開わ
つなくベースラインのドリフトをできるだけ防止するこ
とができる新規な電子捕獲型検出器を提供することにあ
る。
て、その目的とするところは、カラム温度の変化に開わ
つなくベースラインのドリフトをできるだけ防止するこ
とができる新規な電子捕獲型検出器を提供することにあ
る。
(課題を解消するための手段)
このような問題を解消するため、本発明においては小室
内に放射性同位元素、及びイオン化電流検出用電極を収
容したイオン化室に被測定ガス供給口、ガス排出口、及
びパージガス供給口を備えるとともに、前記パージガス
供給口の近傍にガス温度を一定に維持するガス温調手段
を設けた。
内に放射性同位元素、及びイオン化電流検出用電極を収
容したイオン化室に被測定ガス供給口、ガス排出口、及
びパージガス供給口を備えるとともに、前記パージガス
供給口の近傍にガス温度を一定に維持するガス温調手段
を設けた。
(作用)
メイクアップガス供給源からのガスが検出器に流入する
直前に、ガス温調手段により一定温度に調整するため、
メイクアップガス供給源から検出器までの管路から揮散
した不純物か時nに間わりなくほぼ一定となり、ベース
ラインのドリフトを可及的の防止して検出感度、及びS
/N比が向上する。
直前に、ガス温調手段により一定温度に調整するため、
メイクアップガス供給源から検出器までの管路から揮散
した不純物か時nに間わりなくほぼ一定となり、ベース
ラインのドリフトを可及的の防止して検出感度、及びS
/N比が向上する。
(実施例)
そこで、以下に本発明の詳細を図示した実施例に基づい
て説明する。
て説明する。
第1図は、本発明の詳細を示すものであって図中符号1
は、検出器保温ブロック2に埋設された電子捕獲型検出
器で、試料流入端にはキャピラリーカラムFの排出端が
、またガス排出口D、及びパージガス供給口Eにはそれ
ぞれ管路3.4が接続されて系外に連通している。
は、検出器保温ブロック2に埋設された電子捕獲型検出
器で、試料流入端にはキャピラリーカラムFの排出端が
、またガス排出口D、及びパージガス供給口Eにはそれ
ぞれ管路3.4が接続されて系外に連通している。
5は、恒温槽で、一端か管路4によりパーシロEに、他
端がメイクアップガス供給源、及びパージガス供給源に
接続された温調用客器6を収容し、ヒータ7により一定
温度に維持するように構成されている。
端がメイクアップガス供給源、及びパージガス供給源に
接続された温調用客器6を収容し、ヒータ7により一定
温度に維持するように構成されている。
この実施例において、メイクアップガスを供給すると、
このガスは、恒温槽5で一定温度に維持されている温調
用容器6においで一定温度に調整された後、電子捕獲型
検出器1に流入する。これにより、メイクア・ンブガス
供給源から恒温槽5に至る管路表面から揮散した不純物
は恒温槽6の温度により決る濃度となって検出器1に流
入するとともに、イオン化室の温度を可及的に一定に保
つことに、なる、一方、キヤとラリ−カラムFからキャ
リアガスとともに流入した成分は、その濃度に応じてイ
オン化室内の自由電子を捕獲して電気信号に変換される
。これにより、分析条件の変動に関わりなく不純物濃度
が一定とされたメイクアップガスによる検出が可能とな
り、ベースラインのドリフトが可及的に抑えられること
になる。
このガスは、恒温槽5で一定温度に維持されている温調
用容器6においで一定温度に調整された後、電子捕獲型
検出器1に流入する。これにより、メイクア・ンブガス
供給源から恒温槽5に至る管路表面から揮散した不純物
は恒温槽6の温度により決る濃度となって検出器1に流
入するとともに、イオン化室の温度を可及的に一定に保
つことに、なる、一方、キヤとラリ−カラムFからキャ
リアガスとともに流入した成分は、その濃度に応じてイ
オン化室内の自由電子を捕獲して電気信号に変換される
。これにより、分析条件の変動に関わりなく不純物濃度
が一定とされたメイクアップガスによる検出が可能とな
り、ベースラインのドリフトが可及的に抑えられること
になる。
なお、この実施例においては、温調用容器を空容器とし
ているが、不純物を発生しない材料、例えば石英等の粒
子を充填することにより、メイクアップガスの温調効果
を高めることができ、さらには不純物を吸収するシリカ
ゲルやモレキュラシーブの粒子を充填することにより温
調効果と不純物除去効果を一層高めることができる。
ているが、不純物を発生しない材料、例えば石英等の粒
子を充填することにより、メイクアップガスの温調効果
を高めることができ、さらには不純物を吸収するシリカ
ゲルやモレキュラシーブの粒子を充填することにより温
調効果と不純物除去効果を一層高めることができる。
第2図は、本発明の第2実施例を示すもので、符号10
は、電子捕獲型検出器1のパージガス供給口Eとメイク
アップガス供給源、及びパージガス供給源に連通するチ
ューブで、その検出器寄りを延長して検出器1の外周に
複数回巻回して温調用容器として構成され、検出器ブロ
ック2に埋め込まれでいる。
は、電子捕獲型検出器1のパージガス供給口Eとメイク
アップガス供給源、及びパージガス供給源に連通するチ
ューブで、その検出器寄りを延長して検出器1の外周に
複数回巻回して温調用容器として構成され、検出器ブロ
ック2に埋め込まれでいる。
この実施例によれば、一定温度に維持されでいる検出器
ブロック2の熱を積極的に利用してメイクアップガスの
温度を一定温度に維持するため、構造の簡素化を図るこ
とができる。
ブロック2の熱を積極的に利用してメイクアップガスの
温度を一定温度に維持するため、構造の簡素化を図るこ
とができる。
第3図は、本発明の第3実施例を示すものであって1図
中符号12は検出器ブロック2に埋め込まれた温調用容
器で、一端が検出器1のパージガス供給口Eに、他端が
メイクアップガス供給源、及びパージガス供給源に接続
されたもので、必要に応じて石英等の粒子や吸着剤室な
る粒子が収容されでいる。
中符号12は検出器ブロック2に埋め込まれた温調用容
器で、一端が検出器1のパージガス供給口Eに、他端が
メイクアップガス供給源、及びパージガス供給源に接続
されたもので、必要に応じて石英等の粒子や吸着剤室な
る粒子が収容されでいる。
この実施例においても、前述の実施例と同様に特別な恒
温槽を不要として構造の簡素化を図ることができる。
温槽を不要として構造の簡素化を図ることができる。
[実施例]
上述した第2実施例に示した装置を使用して、キャピラ
リーカラムの温度を75℃から300℃まで毎分20℃
の速度で昇温した時の検出器からの出力を測定したとこ
ろ、第4図に示したように時間、つまり温度に対してド
リフトか可及的に防止されたベースライン出力を得るこ
とができた。
リーカラムの温度を75℃から300℃まで毎分20℃
の速度で昇温した時の検出器からの出力を測定したとこ
ろ、第4図に示したように時間、つまり温度に対してド
リフトか可及的に防止されたベースライン出力を得るこ
とができた。
一方、比較のため、メイクアップガスに温調を施すこと
なく上述と同一の条件により検出器出力を測定したとこ
ろ、第5図に示したよう(こ極めて大きなドリフトをも
った信号が出力した。
なく上述と同一の条件により検出器出力を測定したとこ
ろ、第5図に示したよう(こ極めて大きなドリフトをも
った信号が出力した。
これらのことから、メイクアップガスを一定温度に調温
してがら検出器に流入させることが、ベースラインのド
リフトを防止する上で極めて有効な手法であることが確
認できた。
してがら検出器に流入させることが、ベースラインのド
リフトを防止する上で極めて有効な手法であることが確
認できた。
なお、この実施例においては、キャピラリーカラムを用
いた分析に例を採って説明したが、液化炭酸ガスを用い
た超臨界流体クロマトグラフィに適用することができる
。
いた分析に例を採って説明したが、液化炭酸ガスを用い
た超臨界流体クロマトグラフィに適用することができる
。
また、この実施例においては、メイクアップガスを昇温
させて一定温度に維持する場合を例に採って説明したが
、冷却するようにしても同様の作用を奏することは明ら
かである。
させて一定温度に維持する場合を例に採って説明したが
、冷却するようにしても同様の作用を奏することは明ら
かである。
(効果)
以上説明したように、小室内に放射性同位元素、及びイ
オン化電流検出用電極を収容したイオン化室に被測定ガ
ス供給口、ガス排出口、及びパージガス供給口を備える
とともに、前記パージガス供給口の近傍にガス温度を一
定に維持するガス温調手段を設けたので、メイクアップ
ガス供給源からのガスが検出器に流入する直前に、ガス
温調手段により一定温度に調整して、イオン化室の温度
を一定に維持するとともに、メイクアップガス供給源か
ら検出器までの管路から揮散した不純物濃度を、カラム
温度に開わつなくほぼ一定とすることができて、ベース
ラインのドリフトを可及的の防止して検出感度、及びS
/N比の向上を図ることかできる。
オン化電流検出用電極を収容したイオン化室に被測定ガ
ス供給口、ガス排出口、及びパージガス供給口を備える
とともに、前記パージガス供給口の近傍にガス温度を一
定に維持するガス温調手段を設けたので、メイクアップ
ガス供給源からのガスが検出器に流入する直前に、ガス
温調手段により一定温度に調整して、イオン化室の温度
を一定に維持するとともに、メイクアップガス供給源か
ら検出器までの管路から揮散した不純物濃度を、カラム
温度に開わつなくほぼ一定とすることができて、ベース
ラインのドリフトを可及的の防止して検出感度、及びS
/N比の向上を図ることかできる。
第1図は本発明の一実施例を示す断面図、第2.3図は
、それぞれ本発明の他の実施例を示す断面図、第4図は
、第2図装置におけるベースラインを示す図、第5図は
従来装置におけるベースラインを示す図、及び第6図は
電子捕獲型検出器の一例を示す断面図である。 ]・・・電子捕獲型検出器 2・・・検出器ブロック 5・・・恒温槽 6・・・温調用容器7・
・・ヒータ 10・・・チューブ12・・
・温調用容器 A・・・イオン化室B・・・イオ
ン化電流検出電極 C・・・被測定ガス流入口 D・・・ガス排出口 巳・・・パージガス供給口 F・・・キャピラリーチューブ
、それぞれ本発明の他の実施例を示す断面図、第4図は
、第2図装置におけるベースラインを示す図、第5図は
従来装置におけるベースラインを示す図、及び第6図は
電子捕獲型検出器の一例を示す断面図である。 ]・・・電子捕獲型検出器 2・・・検出器ブロック 5・・・恒温槽 6・・・温調用容器7・
・・ヒータ 10・・・チューブ12・・
・温調用容器 A・・・イオン化室B・・・イオ
ン化電流検出電極 C・・・被測定ガス流入口 D・・・ガス排出口 巳・・・パージガス供給口 F・・・キャピラリーチューブ
Claims (1)
- 小室内に放射性同位元素、及びイオン化電流検出用電極
を収容したイオン化室に被測定ガス供給口、ガス排出口
、及びパージガス供給口を備えるとともに、前記パージ
ガス供給口の近傍にガス温度を一定に維持するガス温調
手段を設けてなるクロマトグラフ用電子捕獲型検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21803788A JPH0266445A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | クロマトグラフ用電子捕獲型検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21803788A JPH0266445A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | クロマトグラフ用電子捕獲型検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0266445A true JPH0266445A (ja) | 1990-03-06 |
Family
ID=16713655
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21803788A Pending JPH0266445A (ja) | 1988-08-31 | 1988-08-31 | クロマトグラフ用電子捕獲型検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0266445A (ja) |
-
1988
- 1988-08-31 JP JP21803788A patent/JPH0266445A/ja active Pending
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