JPH0259485A - 結晶成長方法 - Google Patents
結晶成長方法Info
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- JPH0259485A JPH0259485A JP21023688A JP21023688A JPH0259485A JP H0259485 A JPH0259485 A JP H0259485A JP 21023688 A JP21023688 A JP 21023688A JP 21023688 A JP21023688 A JP 21023688A JP H0259485 A JPH0259485 A JP H0259485A
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Landscapes
- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
- Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
この発明は、■−■族化合物のパルり単結晶の成長方法
に関する。
に関する。
従来の技術
第2図に従来例である高圧ブリッジマン法の概略図を示
す。融液からの成長であり、大型の単結晶を得られると
いう利点がある。■−■族化合物においては、構成元素
の蒸気圧が高いという特徴を持つため、単に高温下に置
いても融液とはならないために、高圧とする必要があり
、数10気圧のアルゴンガス13の雰囲気とする。先端
部に絞りを有するルツボ11にn−VI族化合物の原料
を入れ、アルゴンガス4で数10気圧に加圧する。
す。融液からの成長であり、大型の単結晶を得られると
いう利点がある。■−■族化合物においては、構成元素
の蒸気圧が高いという特徴を持つため、単に高温下に置
いても融液とはならないために、高圧とする必要があり
、数10気圧のアルゴンガス13の雰囲気とする。先端
部に絞りを有するルツボ11にn−VI族化合物の原料
を入れ、アルゴンガス4で数10気圧に加圧する。
これをグラファイトヒータ12で加熱し、■−■族化合
物を溶かして原料溶液1oとする。第2図に温度分布も
示しであるが、平坦部(高温部)で■−■族化合物は溶
液状態とし、ルツボの先端部に降温部を設けておく。ル
ツボ全体を回転させながら、降温部方向にゆっくシと下
降させると、ルツボの絞りの先端部から単結晶が析出し
ていく。
物を溶かして原料溶液1oとする。第2図に温度分布も
示しであるが、平坦部(高温部)で■−■族化合物は溶
液状態とし、ルツボの先端部に降温部を設けておく。ル
ツボ全体を回転させながら、降温部方向にゆっくシと下
降させると、ルツボの絞りの先端部から単結晶が析出し
ていく。
析出の初期過程においては、さまざまな方位の核が形成
されるが、これらの核のうち、ひとつの方位の核が優先
的に成長し、析出が進むにつれて、単結晶が得られるよ
うになる。高圧ブリッジマン法では比較的大型の単結晶
が得られるという点で有利であるが、成長温度が高いた
めに、容器との接触による不純物汚染が避けられない。
されるが、これらの核のうち、ひとつの方位の核が優先
的に成長し、析出が進むにつれて、単結晶が得られるよ
うになる。高圧ブリッジマン法では比較的大型の単結晶
が得られるという点で有利であるが、成長温度が高いた
めに、容器との接触による不純物汚染が避けられない。
しかも、高圧下の成長となるため、積層欠陥を含む場合
が多く、高品位の単結晶を得ることが困難である。
が多く、高品位の単結晶を得ることが困難である。
高圧ブリッジマン法の他に、溶液成長法という方法があ
る。溶液成長法は溶質の溶媒に対する溶解度が温度によ
り変わることを利用し、飽和状態の溶液を徐冷、若しく
は、温度勾配のある炉の中を移動させることにより、結
晶を析出させる方法である。溶液成長法の特長として、
(1) sso℃程度の比較的低温で、しかも熱平衡
状態を保ちながら結晶を育成できること、(2)不純物
の偏析効果により育成される結晶への不純物の取り込み
をおさえられること、などが挙げられる。しかし、溶媒
にBi、Sn、In、5b−Be合金など特定の金属を
用い、また溶媒に用いられる金属が育成される結晶に取
り込まれやすいという欠点を持つ。また、育成される結
晶のサイズは数n角と小さく、形状も一定していない。
る。溶液成長法は溶質の溶媒に対する溶解度が温度によ
り変わることを利用し、飽和状態の溶液を徐冷、若しく
は、温度勾配のある炉の中を移動させることにより、結
晶を析出させる方法である。溶液成長法の特長として、
(1) sso℃程度の比較的低温で、しかも熱平衡
状態を保ちながら結晶を育成できること、(2)不純物
の偏析効果により育成される結晶への不純物の取り込み
をおさえられること、などが挙げられる。しかし、溶媒
にBi、Sn、In、5b−Be合金など特定の金属を
用い、また溶媒に用いられる金属が育成される結晶に取
り込まれやすいという欠点を持つ。また、育成される結
晶のサイズは数n角と小さく、形状も一定していない。
上記方法の他に、ヨウ素輸送法がある。この成長法では
ヨウ素を輸送材として用い、封管にて単結晶を成長させ
る。原料には、粉末状の■−■族化合物とヨウ素を用い
る。上記原料を先端部に絞りを有する石英製カプセルに
封入し、温度勾配を持つ炉の中に配設する。原料を高温
部に、単結晶を育成させる先端部を低温部に配置する。
ヨウ素を輸送材として用い、封管にて単結晶を成長させ
る。原料には、粉末状の■−■族化合物とヨウ素を用い
る。上記原料を先端部に絞りを有する石英製カプセルに
封入し、温度勾配を持つ炉の中に配設する。原料を高温
部に、単結晶を育成させる先端部を低温部に配置する。
石英カプセル内では次のような可逆反応が生じる。(■
−V+族化合物が硫化亜鉛(ZnS)の場合を用いて説
明する。) 高温 → 1 ZnS+I ZnI +−32o 22
2 低温 高温部では、ZnI2.S2 という揮発性のガスとな
9、低温部に運ばれ、低温部でZnSと工。となシ、Z
nS 結晶が析出される。この方法では、多結晶となる
事が多く、また、輸送速度が遅いために、大型結晶を得
るために時間がかかりすぎるという欠点がある。また、
輸送材であるヨウ素が育成される結晶内に取り込まれる
ため、n型の結晶となる。
−V+族化合物が硫化亜鉛(ZnS)の場合を用いて説
明する。) 高温 → 1 ZnS+I ZnI +−32o 22
2 低温 高温部では、ZnI2.S2 という揮発性のガスとな
9、低温部に運ばれ、低温部でZnSと工。となシ、Z
nS 結晶が析出される。この方法では、多結晶となる
事が多く、また、輸送速度が遅いために、大型結晶を得
るために時間がかかりすぎるという欠点がある。また、
輸送材であるヨウ素が育成される結晶内に取り込まれる
ため、n型の結晶となる。
発明が解決しようとする課題
このように■−■族化合物の単結晶を得るために、さま
ざまな方法が試みられて員るが、欠陥および不純物汚染
が少なく、面方位の定まった大型のn−vi族化合物単
結晶を作製することは困難である。
ざまな方法が試みられて員るが、欠陥および不純物汚染
が少なく、面方位の定まった大型のn−vi族化合物単
結晶を作製することは困難である。
本発明は、欠陥および不純物汚染の少ない、面方位の定
まった大型のII−VI族化合物単結晶を効率よく育成
させることを目的とする。
まった大型のII−VI族化合物単結晶を効率よく育成
させることを目的とする。
課題を解決するための手段
この目的を達成するために、この発明は次のような方法
による。
による。
ガス導入口および排水口を有する開管式の炉心管におい
て、室温〜20071:の低温部abと急峻な温度勾配
の昇温部bcと760℃〜1000’Cの高温部と急峻
な温度勾配の降温部と室温〜200℃の低温部の5つの
温度領域を構成する。ガス導入口から不活性ガスを導入
し、ガス排水口から排気して炉心管内を1Torr〜5
0Torr の不活性ガス雰囲気とする。このように配
設した炉の中を、棒状に加工した多結晶u−■族化合物
をo、 1m/day〜10肩w/dayの速度で移動
させる。ここで、前記高温部cdの温度が1oOo℃程
度と高い場合は、移動させる速度を速くし、750℃程
度と低い場合は、移動させる速度を遅くする。移動に伴
い、多結晶n−■族化合物は、低温部→昇温部→高温部
→降温部→低温部の順で通過する。高温部にさしかかる
際にゾーンアニーリングすることによシ、棒状に加工し
た多結晶■−■族化合物の先端部から再結晶化が進み、
高温部を通過した部分は単結晶となっていく。
て、室温〜20071:の低温部abと急峻な温度勾配
の昇温部bcと760℃〜1000’Cの高温部と急峻
な温度勾配の降温部と室温〜200℃の低温部の5つの
温度領域を構成する。ガス導入口から不活性ガスを導入
し、ガス排水口から排気して炉心管内を1Torr〜5
0Torr の不活性ガス雰囲気とする。このように配
設した炉の中を、棒状に加工した多結晶u−■族化合物
をo、 1m/day〜10肩w/dayの速度で移動
させる。ここで、前記高温部cdの温度が1oOo℃程
度と高い場合は、移動させる速度を速くし、750℃程
度と低い場合は、移動させる速度を遅くする。移動に伴
い、多結晶n−■族化合物は、低温部→昇温部→高温部
→降温部→低温部の順で通過する。高温部にさしかかる
際にゾーンアニーリングすることによシ、棒状に加工し
た多結晶■−■族化合物の先端部から再結晶化が進み、
高温部を通過した部分は単結晶となっていく。
高温部の温度が1000℃以上の高層温度では、構成元
素の蒸気圧が高いだめに、n−VI族化合物の昇華が著
しく、大きな結晶は得られない。750℃以下の低い温
度では、再結晶化が進行せず、単・結晶が得にくい。ま
た、0.1 m/ day以下の速度での成長では、長
時間、高温部に在るため昇華が進行してしまい良くない
。1o1nI/day以上の速度では、再結晶化する前
に高温部cdを通過してしまう恐れがある。したがって
、高温部の温度は、750〜1oOo℃、移動速度は、
o、1txm/ day〜10ff、/cta7が望ま
しい。
素の蒸気圧が高いだめに、n−VI族化合物の昇華が著
しく、大きな結晶は得られない。750℃以下の低い温
度では、再結晶化が進行せず、単・結晶が得にくい。ま
た、0.1 m/ day以下の速度での成長では、長
時間、高温部に在るため昇華が進行してしまい良くない
。1o1nI/day以上の速度では、再結晶化する前
に高温部cdを通過してしまう恐れがある。したがって
、高温部の温度は、750〜1oOo℃、移動速度は、
o、1txm/ day〜10ff、/cta7が望ま
しい。
不活性ガスは、多結晶■−■族化合物の昇華をおさえる
ために用いる。全く不活性ガスが存在しない真空中で成
長を行なった場合、棒状に加工した多結晶■−■族化合
物は全て昇華してしまう。
ために用いる。全く不活性ガスが存在しない真空中で成
長を行なった場合、棒状に加工した多結晶■−■族化合
物は全て昇華してしまう。
少なくとも1 Torx以上の不活性ガスが必要となる
。
。
この成長に用いられる多結晶n−VI族化合物は結晶粒
のサイズが揃っていなければならない。
のサイズが揃っていなければならない。
棒状に加工した多結晶■−■族化合物の先端部での初期
核生成時点において、さまざまな方位の核が形成される
。先端部が前記高温部cclにさしかかる前に、エネル
ギービーム、例えばレーザビームを照射することにより
、1個の核のみを優先的に成長させ、そこから、再結晶
化が進行し単結晶■−■族化合物を得ることができる。
核生成時点において、さまざまな方位の核が形成される
。先端部が前記高温部cclにさしかかる前に、エネル
ギービーム、例えばレーザビームを照射することにより
、1個の核のみを優先的に成長させ、そこから、再結晶
化が進行し単結晶■−■族化合物を得ることができる。
作 用
室温〜2o○℃の低温部と急峻な温度勾配の昇温部be
と7sot::〜1ooO℃の高温部と急峻な温度勾配
の降温部と室温〜200℃の低温部の5つの温度領域を
有する炉心管において、ガス導入口から不活性ガスを導
入し、I Torr以上の不活性ガス雰囲気とする。上
記炉心管内をo、1aw/day〜1omt/dayの
割合で棒状に加工した多結晶■−■族化合物を移動させ
る。多結晶■−■族化合物が高温部cdにさしかかった
時、先端部より再結晶化が起こり、単結晶となる。先端
部での初期核生成時点においては、さまざまな方位の核
が形成される。これらの核のうち、ひとつの方位の核が
優先的に成長し、多結晶n−■族化合物の移動に伴い、
単結晶化が進行する。初期核生成時に、ひとつの核のみ
を効率的に形成させるために、レーザビーム等のエネル
ギービームを先端部に照射する。レーザビームの径をで
きるだけ絞り、先端部のごく小さい部分のみをレーザビ
ームで加熱することにより、効率的に核を形成させるこ
とができる。
と7sot::〜1ooO℃の高温部と急峻な温度勾配
の降温部と室温〜200℃の低温部の5つの温度領域を
有する炉心管において、ガス導入口から不活性ガスを導
入し、I Torr以上の不活性ガス雰囲気とする。上
記炉心管内をo、1aw/day〜1omt/dayの
割合で棒状に加工した多結晶■−■族化合物を移動させ
る。多結晶■−■族化合物が高温部cdにさしかかった
時、先端部より再結晶化が起こり、単結晶となる。先端
部での初期核生成時点においては、さまざまな方位の核
が形成される。これらの核のうち、ひとつの方位の核が
優先的に成長し、多結晶n−■族化合物の移動に伴い、
単結晶化が進行する。初期核生成時に、ひとつの核のみ
を効率的に形成させるために、レーザビーム等のエネル
ギービームを先端部に照射する。レーザビームの径をで
きるだけ絞り、先端部のごく小さい部分のみをレーザビ
ームで加熱することにより、効率的に核を形成させるこ
とができる。
使用される棒状の多結晶■−■族化合物は、結晶粒のサ
イズが揃っている必要がある。もし、結晶粒のサイズの
大きい物が含まされていると、これが核となり、さまざ
まな方位に単結晶化が進行し、棒状の多結晶n−■族化
合物全体が単結晶とならない恐れがある。
イズが揃っている必要がある。もし、結晶粒のサイズの
大きい物が含まされていると、これが核となり、さまざ
まな方位に単結晶化が進行し、棒状の多結晶n−■族化
合物全体が単結晶とならない恐れがある。
実施例
本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。
第1図は本発明の結晶成長方法の一実施例を示す図であ
る。ガス導入口4とガス排水口3を有する開管式の炉心
管1において、ヒータ2を用いて極部的に加熱する。ヒ
ータ2により、室温〜200℃の低温部abと急峻な温
度勾配の昇温部bCと750tr〜10oO℃の高温部
cdと急峻な温度勾配の降温部deと室温〜200 ”
Cの低温部efを作製する。高温部cdはa sot:
程度が望ましい。1000℃以上の高い温度では、構成
元素の蒸気圧が高いために、■−■族化合物の昇華が著
しく、大きな結晶は得られない。7tso℃以下の低い
温度では、再結晶′化が進行せず、単結晶が得にくい。
る。ガス導入口4とガス排水口3を有する開管式の炉心
管1において、ヒータ2を用いて極部的に加熱する。ヒ
ータ2により、室温〜200℃の低温部abと急峻な温
度勾配の昇温部bCと750tr〜10oO℃の高温部
cdと急峻な温度勾配の降温部deと室温〜200 ”
Cの低温部efを作製する。高温部cdはa sot:
程度が望ましい。1000℃以上の高い温度では、構成
元素の蒸気圧が高いために、■−■族化合物の昇華が著
しく、大きな結晶は得られない。7tso℃以下の低い
温度では、再結晶′化が進行せず、単結晶が得にくい。
できるだけ狭い範囲でゾーンアニーリング全有効的に行
なうだめに、昇温部bcおよび降温部deは可能な限り
急峻な方が望ましく、また、低温部abおよびefはで
きるだけ低い方が良い。例えば、cdの距離は1Qff
程度で、bθの距離は50 xm程度が望ましい。狭い
範囲で加熱するために、ヒータ2には高周波加熱を用い
るのが良い。
なうだめに、昇温部bcおよび降温部deは可能な限り
急峻な方が望ましく、また、低温部abおよびefはで
きるだけ低い方が良い。例えば、cdの距離は1Qff
程度で、bθの距離は50 xm程度が望ましい。狭い
範囲で加熱するために、ヒータ2には高周波加熱を用い
るのが良い。
すなわち、炉心管1の外側に、カーボン製あるいはニッ
ケル製等のリングを配置し、その外側に高周波コイルを
配設する。実際の装置では、高温部cdを平坦に設ける
ことは不可能で、凸型の温度分布となる。
ケル製等のリングを配置し、その外側に高周波コイルを
配設する。実際の装置では、高温部cdを平坦に設ける
ことは不可能で、凸型の温度分布となる。
前記炉心管1において、ガス導入口4からアルボンガス
5等の不活性ガスを注入し、ガス排水口3から排気して
炉心管1内を不活性ガス雰囲気とする。不活性ガスは、
多結晶n−VI族化合物の外扉をおさえるために用いる
。全く不活性ガスの存在しない真空中での成長では、棒
状に加工した多結晶■−■族化合物は昇華してしまう。
5等の不活性ガスを注入し、ガス排水口3から排気して
炉心管1内を不活性ガス雰囲気とする。不活性ガスは、
多結晶n−VI族化合物の外扉をおさえるために用いる
。全く不活性ガスの存在しない真空中での成長では、棒
状に加工した多結晶■−■族化合物は昇華してしまう。
少なくとも1Toxr以上の不活性ガスが必要で、6
Torr程度の圧力が良い。
Torr程度の圧力が良い。
このように準備された炉心管1内に棒状に加工した多結
晶n−■族化合物を置く。II−VI族化合物には、Z
nS、Zn5e、ZnTe 等がある。ZnSの場合に
ついて説明する。多結晶ZnS 6のサイズは1例え
ば10mx10g薯xBow程度である。
晶n−■族化合物を置く。II−VI族化合物には、Z
nS、Zn5e、ZnTe 等がある。ZnSの場合に
ついて説明する。多結晶ZnS 6のサイズは1例え
ば10mx10g薯xBow程度である。
ここで、ヒータ2を0,1 tm/ day 〜10m
/dayの速度で移動させ、多結晶ZnS 6の先端
部9から順次、加熱していく。移動速度が0.1m/d
ayの場合、長時間、高温部cdにさらされるだめ、昇
華が進行してしまい良くない。また、10vI/day
以上の速度では、再結晶化を起こす前に、高温部cdを
通過してしまう恐れがある。移動速度は、1 Ill/
day程度が良い。多結晶ZnS 6の結晶粒のサ
イズは、できるだけ揃っており、小さい方がよい。ヒー
タ2を移動させると述べたが、多結晶ZnS 6を移
動させても構わない。ただし、ヒータ2を移動させた方
が装置が簡便である。
/dayの速度で移動させ、多結晶ZnS 6の先端
部9から順次、加熱していく。移動速度が0.1m/d
ayの場合、長時間、高温部cdにさらされるだめ、昇
華が進行してしまい良くない。また、10vI/day
以上の速度では、再結晶化を起こす前に、高温部cdを
通過してしまう恐れがある。移動速度は、1 Ill/
day程度が良い。多結晶ZnS 6の結晶粒のサ
イズは、できるだけ揃っており、小さい方がよい。ヒー
タ2を移動させると述べたが、多結晶ZnS 6を移
動させても構わない。ただし、ヒータ2を移動させた方
が装置が簡便である。
ヒータ2の移動に伴い、多結晶ZnS 6は、低温部
ab→昇温部bC→高温部cd→降温部d。
ab→昇温部bC→高温部cd→降温部d。
→低温部efの順で通過する。高温部cdにさしかかる
部分が再結晶化し単結晶となる。これは、多結晶ZnS
eは多量の歪エネルギーを含んでおシ、この歪エネル
ギーを発散させることにより単結晶化が進行していくと
いう経径による。
部分が再結晶化し単結晶となる。これは、多結晶ZnS
eは多量の歪エネルギーを含んでおシ、この歪エネル
ギーを発散させることにより単結晶化が進行していくと
いう経径による。
ゾーンアニーリングの効果は、再結晶化だけではない。
帯域精製により、多結晶ZnS 6に含まれていた揮発
性のドナーあるいはアクセプター不純物は結晶外に抽出
される。排出された不純物は、ガス導入口4から導入さ
れ、ガス排出口3から排気されるアルゴンガス6によっ
て運ばれ、炉心管1外に除去される。したがって、得ら
れる単結晶は高品位のものであると言える。
性のドナーあるいはアクセプター不純物は結晶外に抽出
される。排出された不純物は、ガス導入口4から導入さ
れ、ガス排出口3から排気されるアルゴンガス6によっ
て運ばれ、炉心管1外に除去される。したがって、得ら
れる単結晶は高品位のものであると言える。
棒状に加工された多結晶ZnS 6の先端部9での初期
核生成時点において、さまざまな方位の核が形成される
。先端部9が高温部cdにさしかかる前に、レーザビー
ム8を照射することにより、1個の核のみを優先的に成
長させ、この核を中心として再結晶化が進行する。レー
ザビーム8は例えばNd:YAGレーザーにより得られ
るが、そのビーム径はできるだけ小さい方が良い。
核生成時点において、さまざまな方位の核が形成される
。先端部9が高温部cdにさしかかる前に、レーザビー
ム8を照射することにより、1個の核のみを優先的に成
長させ、この核を中心として再結晶化が進行する。レー
ザビーム8は例えばNd:YAGレーザーにより得られ
るが、そのビーム径はできるだけ小さい方が良い。
発明の効果
本発明は、ガス導入口および排出口を有する開管式の炉
心管にて多結晶n−VI族化合物を再結晶化させ単結晶
■−■族化合物を成長させる方法において、前記炉心管
内に室温〜200℃の低温部abと昇温部bcと温度が
760℃〜10oO℃の高温部cdと降温部dθと室温
〜2oot:の低温部e1とからなる温度分布を配設し
、前記ガス導入口から不活性ガスを導入して炉心管内を
1Toxr以上の不活性ガス雰囲気とし、棒状に加工し
た多結晶n−VI族化合物を上記温度分布内をo、1m
/day〜10n/dayの速度で移動させることによ
り、多結晶■−■族化合物を再結晶化させ、単結晶「−
■族化合物を作製することを特徴とする結晶成長方法で
ある。この発明により、不純物を含まない高品位の10
ffX10朋X50+u程度の大きさの■−■族化合物
単結晶を得ることができる。結晶成長温度が比較的低く
、ま7+I Torr 〜10Toxrと低圧力である
ため、積層欠陥が約10” cm−3程度と低く、不純
物の混入をおさえることができる。
心管にて多結晶n−VI族化合物を再結晶化させ単結晶
■−■族化合物を成長させる方法において、前記炉心管
内に室温〜200℃の低温部abと昇温部bcと温度が
760℃〜10oO℃の高温部cdと降温部dθと室温
〜2oot:の低温部e1とからなる温度分布を配設し
、前記ガス導入口から不活性ガスを導入して炉心管内を
1Toxr以上の不活性ガス雰囲気とし、棒状に加工し
た多結晶n−VI族化合物を上記温度分布内をo、1m
/day〜10n/dayの速度で移動させることによ
り、多結晶■−■族化合物を再結晶化させ、単結晶「−
■族化合物を作製することを特徴とする結晶成長方法で
ある。この発明により、不純物を含まない高品位の10
ffX10朋X50+u程度の大きさの■−■族化合物
単結晶を得ることができる。結晶成長温度が比較的低く
、ま7+I Torr 〜10Toxrと低圧力である
ため、積層欠陥が約10” cm−3程度と低く、不純
物の混入をおさえることができる。
また、帯域精製の効果により、揮発性の残留不純物は除
去することが可能である。作製される単結晶は、比抵抗
が1o10Ω・1 以上と高抵抗である。
去することが可能である。作製される単結晶は、比抵抗
が1o10Ω・1 以上と高抵抗である。
【図面の簡単な説明】
第1図aは本発明の一実施例の結晶成長方法に用いる装
置の概略断面図、同すは同aの温度分布図、第2図aは
従来例のひとつである高圧ブリッジマン法に用いる装置
の概略図、同すは同aの温度分布図である。 1・・・・・・炉心管、2・・・・・・ヒータ、3・・
・・・・ガス排出口、4・・・・・・ガス導入口、6・
・・・・・アルゴンガス、6・・・・・・多結晶ZnS
、7・・・・・・のぞき窓、8・・・・・・レ−ザ
ビーム、 9・・・・・・先端部。
置の概略断面図、同すは同aの温度分布図、第2図aは
従来例のひとつである高圧ブリッジマン法に用いる装置
の概略図、同すは同aの温度分布図である。 1・・・・・・炉心管、2・・・・・・ヒータ、3・・
・・・・ガス排出口、4・・・・・・ガス導入口、6・
・・・・・アルゴンガス、6・・・・・・多結晶ZnS
、7・・・・・・のぞき窓、8・・・・・・レ−ザ
ビーム、 9・・・・・・先端部。
Claims (2)
- (1)ガス導入口および排出口を有する開管式の炉心管
にて多結晶II−VI族化合物を再結晶化させ単結晶II−V
I族化合物を成長させる方法において、前記炉心管内に
室温〜200℃の低温部と昇温部と温度が750℃〜1
000℃の高温部と降温部と室温〜200℃の低温部と
からなる温度分布を配設し、前記ガス導入口から不活性
ガスを導入して炉心管内を1Torr以上の不活性ガス
雰囲気とし、棒状に加工した多結晶II−VI族化合物を上
記温度分布内を0.1mm/day〜10mm/day
の速度で移動させることにより、多結晶II−VI族化合物
を再結晶化させ、単結晶II−VI族化合物を作製すること
を特徴とする結晶成長方法。 - (2)特許請求の範囲第1項に記載の方法において、棒
状に加工した多結晶II−VI族化合物を上記温度分布内を
移動させ再結晶化させる初期過程で、多結晶II−VI族化
合物の端部にエネルギービームを照射することを特徴と
する結晶成長方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21023688A JPH0259485A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 結晶成長方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP21023688A JPH0259485A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 結晶成長方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0259485A true JPH0259485A (ja) | 1990-02-28 |
Family
ID=16586038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP21023688A Pending JPH0259485A (ja) | 1988-08-24 | 1988-08-24 | 結晶成長方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0259485A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5027937A (en) * | 1990-03-16 | 1991-07-02 | Mid-South Enterprises | Liquid diverting coin chute |
JP2015038035A (ja) * | 2006-09-07 | 2015-02-26 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | アニールによるii−vi族の半導体材料中の沈殿物を除去するための方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63230599A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-27 | Seisan Gijutsu Shinko Kyokai | ZnSe単結晶作製法 |
JPH0193497A (ja) * | 1987-09-30 | 1989-04-12 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ZnSe単結晶作製法 |
-
1988
- 1988-08-24 JP JP21023688A patent/JPH0259485A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63230599A (ja) * | 1987-03-18 | 1988-09-27 | Seisan Gijutsu Shinko Kyokai | ZnSe単結晶作製法 |
JPH0193497A (ja) * | 1987-09-30 | 1989-04-12 | Sumitomo Electric Ind Ltd | ZnSe単結晶作製法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5027937A (en) * | 1990-03-16 | 1991-07-02 | Mid-South Enterprises | Liquid diverting coin chute |
JP2015038035A (ja) * | 2006-09-07 | 2015-02-26 | コミッサリア ア レネルジー アトミーク エ オ ゼネルジ ザルタナテイヴ | アニールによるii−vi族の半導体材料中の沈殿物を除去するための方法 |
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