JPH0258730A - Magnetic disk substrate - Google Patents

Magnetic disk substrate

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JPH0258730A
JPH0258730A JP21122688A JP21122688A JPH0258730A JP H0258730 A JPH0258730 A JP H0258730A JP 21122688 A JP21122688 A JP 21122688A JP 21122688 A JP21122688 A JP 21122688A JP H0258730 A JPH0258730 A JP H0258730A
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JP
Japan
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magnetic disk
magnetic
treatment
liquid
solution
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JP21122688A
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Japanese (ja)
Inventor
Fumio Goto
文男 後藤
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To prevent the attraction of a magnetic head and to obtain a magnetic disk having excellent durability by forming a magnetic disk substrate of a base body and many fine particles stuck on the surface of the base body. CONSTITUTION:The magnetic disk substrate 1 is made into the structure consisting of the base body and the many fine particles 2 stuck on the base body surface, by which the many microprojections are formed on the surface. The height of the microprojections are preferably smaller than the floating amt. of the head in order to avert the collision of the disk and the head and is larger than the film thickness of a lubricating agent in order to avert the tight contact of the head and the disk. The fine particles to be used are preferably the fine noble metal particles and the treatment to stick the fine noble metal particles onto the base body is preferably executed by a method of immersing the base body into a treating liquid dissolved mainly with the noble metal salt of palladium, gold, silver, etc., to stick the noble metal particles to the base body. The attraction of the disk to the magnetic head is prevented and the magnetic disk having the excellent durability is obtd.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、磁気記録装置の1つである磁気ディスク装置
に用いられる磁気ディスクの磁気ディスク基板に関する
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a magnetic disk substrate for a magnetic disk used in a magnetic disk device, which is one type of magnetic recording device.

(従来の技術) 近年、ファイル記憶装置における磁気ディスク装置の重
要性が増大し、その記録密度は年々、著しい向上か図ら
れつつある。これまで磁気記録媒体としては、酸化鉄磁
性粉と有機樹脂バインダーの混合物を基体上に塗布後研
摩したいわゆる塗布型ディスクが広く用いられてきた。
(Prior Art) In recent years, the importance of magnetic disk devices in file storage devices has increased, and the recording density thereof has been significantly improved year by year. Hitherto, so-called coated disks, in which a mixture of iron oxide magnetic powder and an organic resin binder is coated on a substrate and then polished, have been widely used as magnetic recording media.

塗布型ディスクでは、磁性粉と有機樹脂バインダーの混
錬層中に潤滑剤を含有させ得ることのほかに、磁性層が
0.511m以上と厚く表面粗さRmaxもこの一割程
度の0.0511m前後(RaはRmaxの数分の−の
0.0111m程度)と比較的大きいため、ヘッド吸着
なしに十分な膜厚の潤滑膜を賦与することができ、磁気
ヘッドとの接触・摺動に対し耐久性が優れている。しか
し、今後さらに高記録密度化を達成するには磁気記録層
の薄膜化が必要であり、塗布型ディスクではこの点が不
利となる。そこで、高密度磁気記録体として、めっき法
、スパッタ法、蒸着法等によって形成された磁性薄膜を
磁気記録層とする薄膜磁気ディスクが用いられ始めた。
In coated type disks, in addition to being able to contain a lubricant in the kneaded layer of magnetic powder and organic resin binder, the magnetic layer is thick at 0.511 m or more and the surface roughness Rmax is 0.0511 m, which is about 10% of this. Since the front and back (Ra is about 0.0111m, which is a few minutes of Rmax) are relatively large, it is possible to provide a sufficiently thick lubricating film without the head adsorption, and prevent contact and sliding with the magnetic head. Excellent durability. However, in order to achieve even higher recording densities in the future, it will be necessary to make the magnetic recording layer thinner, which is a disadvantage for coated disks. Therefore, thin-film magnetic disks whose magnetic recording layer is a magnetic thin film formed by plating, sputtering, vapor deposition, or the like have begun to be used as high-density magnetic recording bodies.

薄膜磁気ディスクの基板としては、従来アルミニウム合
金基板等の基体上にNi合金めっき膜を形成して研磨し
たものが用いられている。通常、この基板は、アルミニ
ウム合金基板上に数pmないし数十pmの厚さのNi合
金めっき膜をめっき後、ラッピング、ポリシング等の研
磨方法により表面粗さRa O,004pm程度以下に
鏡面研磨して使用される(電気通信研究所研究実用化報
告26−2.471頁、1977)。
Conventionally, as a substrate for a thin film magnetic disk, a substrate such as an aluminum alloy substrate on which a Ni alloy plating film is formed and polished is used. Usually, this substrate is made by plating a Ni alloy plating film with a thickness of several pm to several tens of pm on an aluminum alloy substrate, and then mirror-polishing it to a surface roughness of about RaO,004 pm or less by polishing methods such as lapping and polishing. (Telecommunication Research Institute Research and Practical Application Report 26-2, p. 471, 1977).

ところが、この基板に磁性薄膜を形成した場合、通常塗
布型ディスクの磁気記録層の数分の−の膜厚の磁性薄膜
は平滑かつ一様であり、磁気ディスク表面に潤滑剤の滞
留場所がないために極めて少量の潤滑剤しか保持できず
、磁気ヘッドのC55(コンタクト・スタートストップ
)耐久性が劣るという問題が生じる。また、鏡面研磨し
た磁気ディスク表面に液体潤滑剤を塗布した場合、平滑
な表面性を有する磁気へラドスライダ面との間に吸着を
生じ、ディスク起動時に損傷を起こしやすい欠点があっ
た このため、前記の様に鏡面研磨したNi合金めっき基板
を回転させながら研磨砥粒を含有したテープを接触させ
て同心円状の細い筋(テクスチャ)を形成する方法や、
Ni合金めっき基板を一度細かい研磨砥粒で鏡面研磨し
た後、粗い研磨砥粒で研磨して表面粗さを増す方法が提
案されている。
However, when a magnetic thin film is formed on this substrate, the thickness of the magnetic thin film, which is several times smaller than that of the magnetic recording layer of a typical coated disk, is smooth and uniform, and there is no place for lubricant to accumulate on the magnetic disk surface. Therefore, only a very small amount of lubricant can be held, resulting in a problem that the C55 (contact start/stop) durability of the magnetic head is poor. In addition, when a liquid lubricant is applied to the surface of a mirror-polished magnetic disk, adhesion occurs between the smooth surface of the magnetic disk and the slider surface, which tends to cause damage when starting the disk. A method in which a mirror-polished Ni alloy plated substrate is rotated and brought into contact with a tape containing abrasive grains to form concentric thin stripes (texture), such as
A method has been proposed in which a Ni alloy plated substrate is mirror-polished with fine abrasive grains and then polished with coarse abrasive grains to increase the surface roughness.

(発明が解決しようとする課題) しかし、この様な機械加工により粗面を形成する方法で
は、研磨砥粒中の比較的大きな砥粒や研磨時に混入する
異物等によって信号エラーの原因となる太い研磨筋を生
じやすく、ディスク全面にわたって一様に適度な粗面を
得ることは困難である。こうした不均一な研磨筋は磁性
層の特性に影響を与え、再生出力エンベロープ、S/N
、ビットエラーなどの記録再生特性およびサーボ信号品
質の劣化を招くという問題があった。さらに、機械加工
では、得られる表面粗さが、用いる研磨砥粒の大きさに
よってほぼ決まってしまうため、表面粗さを細かく制御
することができず、研磨筋の密度を高めることが困難で
あった。従って、ヘッド吸着を防ぎ、十分な膜厚の潤滑
膜を賦与するためには、表面粗さを相当大きくする必要
があり、電磁変換特性の低下を招く問題があった。また
、このような精密機械加工は一括多量生産が難しく、生
産性にも問題があった。
(Problem to be Solved by the Invention) However, in this method of forming a rough surface by machining, relatively large abrasive grains in the polishing abrasive grains and foreign matter mixed in during polishing can cause signal errors. Polishing streaks are likely to occur, and it is difficult to obtain a uniformly moderately rough surface over the entire surface of the disk. These non-uniform polishing streaks affect the characteristics of the magnetic layer, resulting in the reproduction output envelope, S/N
However, there has been a problem in that recording/reproducing characteristics such as bit errors and servo signal quality deteriorate. Furthermore, in machining, the surface roughness obtained is almost determined by the size of the abrasive grains used, making it impossible to finely control the surface roughness and making it difficult to increase the density of the polishing streaks. Ta. Therefore, in order to prevent head adsorption and provide a lubricating film of sufficient thickness, it is necessary to considerably increase the surface roughness, which poses a problem of deterioration of electromagnetic conversion characteristics. In addition, such precision machining is difficult to mass-produce at once, and there are also problems with productivity.

本発明の目的は、ビットエラーの増加や再出力エンベロ
ープ、S/Nなどの記録再生特性およびサーボ信号品質
の低下がなく、磁気ヘッドとの吸着を防止して耐久性に
優れた磁気ディスクを得るための磁気ディスク基板とそ
の製造方法を提供することにある。
An object of the present invention is to obtain a magnetic disk that does not increase bit errors, reduce re-output envelope, recording/reproducing characteristics such as S/N, and servo signal quality, and has excellent durability by preventing adhesion with a magnetic head. An object of the present invention is to provide a magnetic disk substrate and a method for manufacturing the same.

(問題点を解決するための手段) 本発明による磁気ディスク基板は、基体と、この基体表
面上に付着された多数の微粒子からなることを特徴とし
ている。
(Means for Solving the Problems) The magnetic disk substrate according to the present invention is characterized by comprising a base and a large number of fine particles adhered to the surface of the base.

本発明による磁気ディスク基板の基本的な構造より本発
明の目的が達せられる。本発明の構成をさらに詳しく述
べる。
The object of the present invention can be achieved through the basic structure of the magnetic disk substrate according to the present invention. The configuration of the present invention will be described in more detail.

本発明による磁気ディスク基板を用いたディスクの表面
粗さ(特に、表面の微小突起の高さ、大きさ、形状、密
度等)などの要求条件は、その磁気ディスクが使用され
る条件によってそれぞれ異なる。ヘッドの種類、構造お
よび材質、ヘッドの浮上量、潤滑剤および保護膜の種類
、膜厚などのヘッド・ディスク条件によって、磁気ヘッ
ドとの吸着を防止して耐久性に優れた磁気ディスクを得
るための微小突起の高さ、形状などの条件が各場合に応
じて選択されるが、発明者の検討によれば、以下のこと
が明らかとなった。微小突起の高さは、ディスクとヘッ
ドの衝突を避けるためヘッド浮上量よりも小さく、ヘッ
ドとディスクの密着を避けるための潤滑剤の膜厚よりも
大きいことが望ましい。ヘッド浮上量は、通常0.6p
m以下、最近のディスク装置では0.311m以下、高
密度のディスク装置では0.2pm以下に設定される潤
滑剤の膜厚は、薄い場合には単分子層の数人から、厚い
場合の数十、数百穴の間で場合に応じて用いられる。磁
気ヘッドとの吸着を防止して耐久性を向上するためには
、微小突起の高さとしては、数Å以上0.6pm以下、
好ましくは十数Å以上0.2pm以下が用いられる。現
在の高密度ディスク装置(線密度2万BPI(ビットパ
ーインチ)以上)の諸条件を考慮すれば、数十Å以上0
.1pm以下が好ましいことが分かった。微小突起の大
きさは、それが影響を与える記録再生特性の許容度によ
って異なるが、良好な特性を維持するには小さいほうが
好ましい。現在機械的な研磨によって基板表面を荒らす
ことが行なわれているが、これに用いられる研磨砥粒径
は数pmないし0.8pm程度の場合が多く、加工表面
にはこのような形状が反映される。このため研磨によっ
て表面を荒らした場合、記録再生特性を劣化させること
が多い。しかし、微小突起を形成する場合、その大きさ
を0.7pm以下、好ましくは0.4pm以下にするこ
とにより記録再生特性に殆ど影響を与えないことが明か
となった。磁気ヘッドとの吸着を防止して耐久性を向上
するためには、微小突起の高さが大きいほうが良いが、
微小突起の高さが比較的小さくても微小突起の密度が大
きければ顕著な効果が認められる。微小突起の密度が大
きいほど耐久性に良好な結果が得られた。具体的には、
微小突起の高さがO,11pm以上の場合1011m2
当たり1個以上、好ましくは5pm2当たり1個以上、
微小突起の高さが0.1pm以下の場合5pm2当たり
1個以上、好ましくは311m”当たり1個以上の密度
にすることにより、磁気ヘッドとの吸着防止と耐久性の
向上に顕著な効果があった。磁気ディスク基板上の表面
の微小突起に求められる高さ、大きさ、形状、密度等す
なわち表面粗さは、磁気ディスク基板上に形成される磁
性層、保護層等によって変化する場合には、それに応じ
て上記主旨に沿って増減される。
Requirements such as surface roughness (in particular, height, size, shape, density, etc. of microprotrusions on the surface) of a disk using the magnetic disk substrate according to the present invention vary depending on the conditions under which the magnetic disk is used. . In order to prevent adhesion to the magnetic head and obtain a magnetic disk with excellent durability, depending on the head/disk conditions such as the type, structure and material of the head, flying height of the head, type of lubricant and protective film, and film thickness. Although conditions such as the height and shape of the microprotrusions are selected depending on each case, the inventor's study revealed the following. The height of the microprotrusions is desirably smaller than the flying height of the head to avoid collision between the disk and the head, and greater than the film thickness of the lubricant to avoid close contact between the head and the disk. Head flying height is usually 0.6p
The lubricant film thickness, which is set to 0.311 m or less for recent disk devices and 0.2 pm or less for high-density disk devices, ranges from a few monomolecular layers for thin cases to several layers for thick cases. Tens to hundreds of holes are used depending on the situation. In order to prevent adsorption with the magnetic head and improve durability, the height of the microprotrusions should be several angstroms or more and 0.6 pm or less,
Preferably, the thickness is more than ten angstroms and less than 0.2 pm. Considering the conditions of current high-density disk devices (linear density of 20,000 BPI (bits per inch) or more), the
.. It was found that 1 pm or less is preferable. The size of the microprotrusions varies depending on the tolerance of the recording/reproduction characteristics that they affect, but smaller protrusions are preferable in order to maintain good characteristics. Currently, substrate surfaces are roughened by mechanical polishing, but the abrasive grains used for this are often in the range of several pm to 0.8 pm in diameter, and this shape is not reflected in the processed surface. Ru. For this reason, when the surface is roughened by polishing, the recording and reproducing characteristics often deteriorate. However, it has been found that when forming microprotrusions, the recording and reproducing characteristics are hardly affected by setting the size to 0.7 pm or less, preferably 0.4 pm or less. In order to prevent adhesion with the magnetic head and improve durability, it is better for the height of the microprotrusions to be large.
Even if the height of the microprotrusions is relatively small, a significant effect can be observed if the density of the microprotrusions is large. The higher the density of microprotrusions, the better the durability was obtained. in particular,
1011m2 if the height of microprotrusions is O,11pm or more
1 or more pieces per 2 pm, preferably 1 or more pieces per 5 pm2,
When the height of the microprotrusions is 0.1 pm or less, the density of one or more microprotrusions per 5 pm2, preferably one or more per 311 m2, has a remarkable effect on preventing adhesion to the magnetic head and improving durability. The height, size, shape, density, etc. required for microprotrusions on the surface of the magnetic disk substrate, that is, the surface roughness, may vary depending on the magnetic layer, protective layer, etc. formed on the magnetic disk substrate. , and will be increased or decreased accordingly in accordance with the above principles.

本発明の磁気ディスク基板において用いられる基体とし
ては、基板、または基板上に種々の付加的皮膜が被覆さ
れたもの、例えば基板上に下地厚膜が被覆されたもの、
さらにこの上に下地薄膜が被覆されたものなどがある。
The substrate used in the magnetic disk substrate of the present invention includes a substrate, or a substrate coated with various additional films, such as a substrate coated with a thick base film,
Furthermore, there are those that are coated with a base thin film.

基板としては、通常アルミニウム合金、銅、黄銅、リン
青銅、鉄、チタン等の金属基板か用いられるが、これら
の表面を酸化処理、クロメート処理したものや適当な活
性化処理によりガラス、セラミックス、樹脂等の非金属
基板ないしこれらの複合材料からなる基板なども適用で
きる一下地厚膜、下地薄膜としては、NiPまたはNi
Bの無電解めっき膜を用いることが好ましいが、電気め
っき膜やスパッタ法、蒸着法などによる乾式めっき膜を
用いるこ、ともできる。さらに、NiP、またはNiB
膜にMn、 Fe、 Co、 AI。
Metal substrates such as aluminum alloy, copper, brass, phosphor bronze, iron, and titanium are usually used as substrates, but these can also be made of glass, ceramics, or resin by oxidizing, chromating, or appropriately activating the surface. As a base thick film or base thin film that can be applied to non-metallic substrates such as NiP or Ni
Although it is preferable to use the electroless plated film of B, it is also possible to use an electroplated film, a dry plated film by sputtering, vapor deposition, or the like. Furthermore, NiP or NiB
The film contains Mn, Fe, Co, and AI.

Ta、 Li、 Mg、 Ti、 V、 Cr、 Cu
、 Zn、 Ge、 Y、 Zr、 Nb、 Mo、 
Ru。
Ta, Li, Mg, Ti, V, Cr, Cu
, Zn, Ge, Y, Zr, Nb, Mo,
Ru.

Rh、 Pd、 Ag、 Au、 Sn、 Sb、 T
e、 Cs、 W、 Re、 Pb、 Bi、 La、
 Ce。
Rh, Pd, Ag, Au, Sn, Sb, T
e, Cs, W, Re, Pb, Bi, La,
Ce.

Pr、 Nd、 Ac、 Ba、 Pt、 Smなどの
少なくとも1種の元素が含有されていてもよく、さらに
これにP、 B、 C,N。
It may contain at least one element such as Pr, Nd, Ac, Ba, Pt, or Sm, and further contains P, B, C, or N.

0、 S、 As、 Na、 K、 F、 C1,Br
、 I、 Caなどの非金属が含まれていてもよい。ま
た、下地厚膜、下地薄膜としては、Ni合金膜に限定さ
れることはなく、W、 Mo。
0, S, As, Na, K, F, C1, Br
, I, Ca, and other non-metals may be included. Further, the base thick film and base thin film are not limited to Ni alloy films, and may include W, Mo, etc.

Cu、 Sn、 Zn、 Re、 Mn、 Fe、 C
r、 Co、 Au、 Ag、 AI、 Ta、 Ti
、 V。
Cu, Sn, Zn, Re, Mn, Fe, C
r, Co, Au, Ag, AI, Ta, Ti
, V.

Siなどの少なくとも1種の元素からなる膜であっても
よく、さらにこれにP、 B、 C,N、 O,S、 
As、 Na、、に、 F。
The film may be made of at least one element such as Si, and further include P, B, C, N, O, S,
As, Na,, F.

CI、 Br、 I、 Caなどの非金属が含まれてい
てもよい。
Nonmetals such as CI, Br, I, and Ca may also be included.

また、下地厚膜、下地薄膜は各々単層である必要はなく
、金属または各種合金膜との多層であってもよい。下地
厚膜は、平滑な表面精度を得るため、通常、1〜50p
m、好ましくは10〜30)1m程度の膜厚の皮膜を形
成した後、研磨加工される。下地薄膜は、通常、下地厚
膜以下の膜厚であり、その上の磁性膜の特性の制御、磁
性膜への基板の影響の除去などを目的に形成される。
Further, the thick base film and the thin base film do not need to each be a single layer, but may be multilayers with metal or various alloy films. The base thick film is usually 1 to 50p in order to obtain a smooth surface precision.
m, preferably 10 to 30) After forming a film with a thickness of about 1 m, it is polished. The base thin film is usually less than the thick base film, and is formed for the purpose of controlling the characteristics of the magnetic film thereon, eliminating the influence of the substrate on the magnetic film, and the like.

本発明の磁気ディスク基板において用いられる微粒子は
貴金属微粒子が好ましく、例えば下記の様な方法で基体
表面上に多数付着される。貴金属微粒子付着処理として
は、パラジウム、金、銀などの貴金属塩を主として溶解
した処理液に基体を浸漬し、貴金属粒子を吸着させる方
法が好ましいが、湿式あるいは乾式のめっき法即ち、無
電解めっき、電気めっき、スパッタ、蒸着、イオンブレ
ーティング、クラスタイオンビーム蒸着等の処理方法で
パラジウム、金、銀、白金、ロジウム、ルテニウム、銅
などの貴金属を付着させてもよい。磁気ディスクは、基
板から保護膜・潤滑膜に至るまで、これら貴金属よりも
イオン化傾向の大きい金属(卑な金属)を成分とする多
層構造をしている場合が殆どである。従って貴金属の微
小突起による粗面化された状態は安定であり、その後の
膜形成により溶出したり、変質したりする可能性が少な
い。また、これら貴金属は非磁性であり磁気記録体の記
録再生特性に影響を与えることも殆どない。このため貴
金属が選定されたが、磁気ディスりを構成する各層より
もイオン化傾向が小さく、磁性の低い金属、合金、化合
物も用いることができる。
The fine particles used in the magnetic disk substrate of the present invention are preferably noble metal fine particles, and are deposited in large numbers on the substrate surface, for example, by the following method. Preferable methods for adhering precious metal particles include a method in which the substrate is immersed in a treatment solution containing mainly dissolved noble metal salts such as palladium, gold, and silver, and the noble metal particles are adsorbed; however, wet or dry plating methods, such as electroless plating, Noble metals such as palladium, gold, silver, platinum, rhodium, ruthenium, copper, etc. may be deposited by electroplating, sputtering, vapor deposition, ion blating, cluster ion beam deposition, or other processing methods. Most magnetic disks have a multilayer structure, from the substrate to the protective film and lubricating film, containing metals (base metals) that have a greater ionization tendency than these noble metals. Therefore, the roughened state of the precious metal due to the minute protrusions is stable, and there is little possibility that it will be eluted or altered by subsequent film formation. Furthermore, these noble metals are non-magnetic and have little effect on the recording and reproducing characteristics of the magnetic recording medium. For this reason, noble metals were selected, but metals, alloys, and compounds with lower ionization tendency and lower magnetism than the layers constituting the magnetic disk may also be used.

処理液を用いた貴金属微粒子付着処理としては、プラス
チックめっき等の前処理である活性化処理法を転用する
ことができる。これには、酸性領域で行う塩化すず溶液
による感受性化処理と塩化パラジウム溶液による活性化
処理の2段階活性化処理法、酸性領域で行うすずlパラ
ジウムコロイド触媒溶液と酸・アルカリ溶液を用いた促
進化処理からなる1段階活性化処理法、アルカリ性領域
で行うすずlパラジウム錯体触媒溶液を用いた1段階活
性化処理法、酸性、アルカリ性、中性のいずれでも行え
る貴金属塩溶液による活性化処理方法などがある。
As the noble metal fine particle adhesion treatment using a treatment liquid, an activation treatment method that is a pretreatment for plastic plating or the like can be used. This involves a two-step activation treatment method consisting of sensitization treatment using a tin chloride solution in an acidic region and activation treatment using a palladium chloride solution, and promotion using a tin-palladium colloidal catalyst solution and an acid/alkaline solution in an acidic region. One-step activation treatment method consisting of chemical treatment, one-step activation treatment method using tin-palladium complex catalyst solution performed in alkaline region, activation treatment method using noble metal salt solution that can be performed in acidic, alkaline, or neutral conditions, etc. There is.

従来より広く行われている2段階処理法は、米国特許2
702253号に示されているように5nC1□溶液か
らなるセンシタイザ−液による感受性化処理、それに続
< Pd、 Au、 Agなどの貴金属イオンを有する
アクチベーター液による活性化処理の工程であり、この
処理により基板表面にはめっき反応の触媒作用をもつP
d、 Au、 Agなどの微粒子が付着する。処理液組
成の例としては、金属表面技術講座9「無電解メツキ」
、石橋知者、朝食書店、1968年発行に見られるよう
な、 Narcus液(酸性) : SSnC12Lo/l、
HCI 40m1/l。
The two-step treatment method that has been widely used in the past is described in U.S. Pat.
As shown in No. 702253, this process includes sensitization treatment with a sensitizer solution consisting of a 5nC1□ solution, followed by activation treatment with an activator solution containing noble metal ions such as Pd, Au, and Ag. As a result, P, which has a catalytic effect on the plating reaction, is deposited on the substrate surface.
Fine particles such as d, Au, and Ag adhere to the surface. As an example of the treatment liquid composition, see Metal Surface Technology Course 9 "Electroless Plating"
Narcus liquid (acidic): SSnC12Lo/l, as seen in , Chika Ishibashi, Breakfast Shoten, published in 1968.
HCI 40ml/l.

Narcus液(アルカリ性) : 5nC1□100
g/l 1 ロッシェル塩175g/l、NaOH15
0g/IWeiss液:5nS0425〜40g/11
H2S045〜20m1/1、アルコール150〜25
0m1/l、キノール5〜15m1/l、水600〜1
0100O/I Walker液: Sn01290g/l、HCI 5
5m1/1などのセンシタイザ−液、 Pd処理液(1) : PdC1□2g/l、HCI 
20m1/l、Pd処理液(2) : PdC1□0.
15〜0.25g/l、HCI 2.5ml/1、Au
処理液:塩化金酸1g/l、HCI 2ml/1、Ag
処理液:硝酸銀1.5g/l、アンモニア1.2ml/
1などのアクチベーター液を用いることができる。
Narcus solution (alkaline): 5nC1□100
g/l 1 Rochelle salt 175g/l, NaOH15
0g/IWeiss liquid: 5nS0425~40g/11
H2S045~20m1/1, alcohol 150~25
0ml/l, quinol 5-15ml/l, water 600-1
0100O/I Walker liquid: Sn01290g/l, HCI 5
Sensitizer liquid such as 5m1/1, Pd treatment liquid (1): PdC1□2g/l, HCI
20ml/l, Pd treatment liquid (2): PdC1□0.
15-0.25g/l, HCI 2.5ml/1, Au
Treatment liquid: chloroauric acid 1g/l, HCI 2ml/1, Ag
Treatment liquid: silver nitrate 1.5g/l, ammonia 1.2ml/
An activator liquid such as No. 1 can be used.

また、市販液の1例として日本カニゼン社製、ピンクシ
ューマー(センシタイザ−液)、レッドシューマー(ア
クチベーター液)などを用いることができる。
Further, as examples of commercially available liquids, Pink Schumer (sensitizer liquid), Red Schumer (activator liquid), etc. manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd. can be used.

近年、より均一な触媒化法として米国特許301192
0号、3532518号、3650913号に示されて
いるようにすずlパラジウムコロイド触媒溶液による触
媒化処理と酸ないしはアルカリ溶液による促進化処理液
からなる1段階処理法が行われるようになった。処理液
組成の例としては、ティ・オオサカ他(T、 0sak
a et al)、ジャーナル・オブ・エレクトロケミ
カル、ソサイアティ(J、 Electrochemi
cal 5ociety)。
In recent years, US Patent No. 301192 has been developed as a more uniform catalytic method.
As shown in No. 0, No. 3,532,518, and No. 3,650,913, a one-step treatment method consisting of a catalytic treatment using a tin-l-palladium colloidal catalyst solution and an acceleration treatment solution using an acid or alkaline solution has been carried out. As an example of the treatment liquid composition, T. Osaka et al.
a et al), Journal of Electrochemistry, Society (J, Electrochemi
cal 5ociety).

127巻、5号、1980年、1021頁にあるように
AjTt : HCl 60m1/1→水→PdC1□
1g→5nC122H2022ρ順で調製し、水を加え
て10100Oとしたコロイド液、B液: HCI 6
0m1/1−+水→PdCl20.25→5nC122
H2012ff)順で調製し、水を加えて10100O
としたコロイド液、 C液: HCl 300m1−+水−+PdC1□Ig
−+Na25nO31,5g−+5nC122H203
7,5の順で加えて調製したコロイド液、 n夜:HCl320m1−+水→PdCl21g+5n
C1□22H2O4!7))頃で加え1日熟成後5nC
122H2046gを加えて調製したコロイド液など、 市販液ではE液:日立化成製塩酸ベースコロイド液H8
l0IB、 E’液ニジプレイファイ−スト製塩酸ベー
スコロイド液キャタリスト9F、 F液ニジプレイファ
イ−スト製塩ベースコロイド液キャタポジット44など
の触媒溶液と、 ティ・オオサカ他(T、 0saka et al)、
ジャーナル・オブ・エレクトロケミカル・ソサイアティ
(J。
As stated in Volume 127, No. 5, 1980, page 1021, AjTt: HCl 60m1/1 → Water → PdC1□
Colloidal solution prepared in the order of 1g→5nC122H2022ρ and made to 10100O by adding water, Solution B: HCI 6
0m1/1-+water→PdCl20.25→5nC122
H2012ff) and add water to 10100O
Colloidal liquid, Solution C: HCl 300ml + Water - + PdC1□Ig
-+Na25nO31,5g-+5nC122H203
Colloidal solution prepared by adding in the order of 7 and 5, n night: 320 ml of HCl + water → 1 g of PdCl + 5 n
Added around C1□22H2O4!7)) and 5nC after aging for 1 day.
Commercially available solutions such as colloidal solution prepared by adding 2046g of 122H are Solution E: Hydrochloric acid-based colloidal solution H8 manufactured by Hitachi Chemical Co., Ltd.
Catalyst solutions such as 10IB, E' liquid, hydrochloric acid-based colloidal liquid Catalyst 9F manufactured by Niji Playfast, and F liquid, salt-based colloidal liquid Cataposit 44 manufactured by Niji Playfiest, and T. Osaka et al. ,
Journal of the Electrochemical Society (J.

Electrochemical 5ociety)、
127巻、11号、1980年、2343頁にあるよう
に、G液: NaOH1mol/l、H液:HCI 6
mol/1、■液: H2So41.12mol/I、
 J液:アンモニア1mol/l、 K液: NH4B
F41mol/1など、市販液ではL液:日立化成製A
DP201、M液ニジプレイファイ−スト製アクセレレ
ータ19などの促進化処理液を用いることができる。
Electrochemical 5ociety),
As stated in Vol. 127, No. 11, 1980, p. 2343, G solution: NaOH 1 mol/l, H solution: HCI 6
mol/1, ■Liquid: H2So41.12mol/I,
J solution: ammonia 1 mol/l, K solution: NH4B
Commercially available liquids such as F41 mol/1, L liquid: Hitachi Chemical A
Accelerating treatment liquids such as DP201 and M liquid Niji Play First's Accelerator 19 can be used.

さらに最近アルカリ性領域で行うすすlパラジウム錯体
触媒溶液が使用されるようになった。市販液としてはシ
ェーリング社製アクチベーターネオガント834がある
More recently, soot/palladium complex catalyst solutions that operate in the alkaline region have come into use. A commercially available solution is Activator Neogant 834 manufactured by Schering.

酸性、アルカリ製ないしは中性領域で行う貴金属塩溶液
による粗面化処理方法としては、前記アクチベーター液
のPd処理液(1)、Pd処理液(2)、Au処理液、
Ag処理液などを用いることができる。
As a surface roughening treatment method using a noble metal salt solution carried out in an acidic, alkaline or neutral region, the activator liquid Pd treatment liquid (1), Pd treatment liquid (2), Au treatment liquid,
Ag treatment liquid or the like can be used.

PdC1□濃度としては0.0001〜50g/l、好
ましくは0.005〜15g/lの範囲が、塩化金酸濃
度としては0.001〜30g/l、好ましくは0.1
〜IOg/Iの範囲が、硝酸銀濃度としては0.001
〜35g/l、好ましくは0.1〜15g/lの範囲が
用いられる。HCI濃度としては、0.001〜500
m1/1、好ましくは0.1〜100m1/lの範囲が
、アンモニア濃度としては、0.005〜600m1/
l、好ましくは0.1〜150m1/lの範囲が用いら
れる。貴金属としては、Au、 Ag、 Pdのほかに
Pt、 Rh、 Ru、 Reなとの元素も用いること
ができ、貴金属塩としては、塩化塩のほかに硫酸塩、硝
酸塩、有機酸塩なども用いることができる。また使用す
る酸も塩酸のほかに、硫酸、硝酸、有機酸等を用いるこ
とができる。そのほか、pH緩衝剤、錯化剤の作用を与
えるコハク酸、酢酸などの有機酸、界面活性剤などの添
加剤が加えられることがある。市販液としては、酸性液
には日本カニゼン社製の活性液1、アルカリ性液には同
じく日本カニゼン社製の活性液2.3などがある。処理
法としては、処理温度0〜95°C1好ましくは15〜
800Cの範囲、浸漬処理時間1秒〜100分、好まし
くは5秒〜15分間の範囲で行われる。処理液pHは、
HCI酸性では通常1以下のことが多いが14以上のア
ルカリ性あるいはその間のpH範囲で行われることがあ
り特に限定されない。
The PdC1□ concentration is in the range of 0.0001 to 50 g/l, preferably 0.005 to 15 g/l, and the chloroauric acid concentration is in the range of 0.001 to 30 g/l, preferably 0.1
~IOg/I range is 0.001 as silver nitrate concentration
A range of from 0.1 to 15 g/l is used, preferably from 0.1 to 15 g/l. HCI concentration is 0.001 to 500
m1/1, preferably in the range of 0.1 to 100 m1/l, and the ammonia concentration is 0.005 to 600 m1/l.
l, preferably in the range from 0.1 to 150 m1/l. As noble metals, in addition to Au, Ag, and Pd, elements such as Pt, Rh, Ru, and Re can be used, and as noble metal salts, in addition to chlorides, sulfates, nitrates, organic acid salts, etc. can be used. be able to. In addition to hydrochloric acid, sulfuric acid, nitric acid, organic acids, etc. can also be used. In addition, additives such as pH buffering agents, organic acids such as succinic acid and acetic acid that act as complexing agents, and surfactants may be added. Commercially available liquids include Activated Liquid 1 manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd. for acidic liquids and Activated Liquid 2.3 manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd. for alkaline liquids. As a treatment method, the treatment temperature is 0 to 95°C, preferably 15 to 95°C.
The immersion treatment is carried out at a temperature of 800C and an immersion treatment time of 1 second to 100 minutes, preferably 5 seconds to 15 minutes. The pH of the treatment solution is
In the case of HCI acidity, the pH is usually 1 or less, but it may be carried out in alkaline pH of 14 or more, or in the pH range therebetween, and is not particularly limited.

上記のような各種処理条件を選ぶことによって貴金属微
粒子の高さ、大きさ、密度等を変化させることができる
。通常、浸漬処理時間か長いほど、処理液濃度(特に貴
金属塩濃度)が濃いほど貴金属微粒子の高さ、大きさが
増加する。
By selecting various processing conditions as described above, the height, size, density, etc. of the noble metal fine particles can be changed. Generally, the longer the immersion treatment time and the higher the concentration of the treatment solution (particularly the concentration of noble metal salt), the greater the height and size of the noble metal fine particles.

以上の処理方法によって必ずしも本発明の目的とする貴
金属微粒子が付着されて微小突起が形成されるとは限ら
ない。この処理を行う表面の状態との関係が重要であり
、前処理として表面改質を行なっておくことが望ましい
。表面改質を行う調整処理には、酸処理、アルカリ処理
などが用いられる。その後の粗面化処理が酸性であれば
酸処理、アルカリ性であればアルカリ処理、が用いられ
、塩酸、硫酸、硝酸、有機酸などの各種酸やアンモニア
、苛性ソーダのどの各種アルカリの種類、濃度、浸漬時
間などの調整処理条件は所要の貴金属微粒子の形態、表
面粗さや用いる貴金属微粒子付着処理に応じて選定され
る。
The above processing method does not necessarily result in the attachment of noble metal fine particles and the formation of microprotrusions, which is the object of the present invention. The relationship with the state of the surface to which this treatment is performed is important, and it is desirable to perform surface modification as a pretreatment. Acid treatment, alkali treatment, etc. are used for surface modification treatment. If the subsequent surface roughening treatment is acidic, acid treatment is used; if alkaline, alkali treatment is used. Adjustment treatment conditions such as immersion time are selected depending on the required form of noble metal fine particles, surface roughness, and noble metal fine particle adhesion treatment to be used.

得られる磁気ディスクの表面の状態および組成は、透過
型電子顕微鏡、二次電子線顕微鏡、表面粗さ計、分析電
子顕微鏡、走査型オージェ電子分析装置、X線マイクロ
アナライザーなどを用いて調べることができる。このよ
うな湿式あるいは乾式の処理法により、パラジウム、金
、銀、白金、ロジウム、ルテニウム、銅などの少なくと
も1種の貴金属を主成分とする貴金属微粒子が形成でき
る。
The state and composition of the surface of the obtained magnetic disk can be investigated using a transmission electron microscope, a secondary electron beam microscope, a surface roughness meter, an analytical electron microscope, a scanning Auger electron analyzer, an X-ray microanalyzer, etc. can. By such a wet or dry treatment method, noble metal fine particles containing at least one noble metal such as palladium, gold, silver, platinum, rhodium, ruthenium, copper, etc. as a main component can be formed.

この貴金属微粒子には、本発明の効果を損なわない範囲
において、C1、C10の少なくとも1種を含有する場
合がある。この貴金属微粒子には、本発明の効果を損わ
ない範囲において、さらに、Mn、 Fe。
The noble metal fine particles may contain at least one of C1 and C10 within a range that does not impair the effects of the present invention. The noble metal fine particles further contain Mn and Fe within a range that does not impair the effects of the present invention.

Co、 AI、 Ta、 Li、 Mg、 Ti、 V
、 Cr、 Zn、 Ge、 Y、 Zr、 Nb、 
Mo。
Co, AI, Ta, Li, Mg, Ti, V
, Cr, Zn, Ge, Y, Zr, Nb,
Mo.

Sn、 Sb、 Te、 Cs、 W、 Pb、 Bi
、 La、 Ce、 Pr、 Nd、 Ac、 Ba、
 Pt。
Sn, Sb, Te, Cs, W, Pb, Bi
, La, Ce, Pr, Nd, Ac, Ba,
Pt.

8mなどの少なくとも1種の元素が含有されていてもよ
く、さらにこれにP、 B、 N、 S、 As、 N
a、 K、 F、 Br、 I。
At least one element such as 8m may be contained, and further P, B, N, S, As, N
a, K, F, Br, I.

Caなどの非金属が含まれていてもよい。こうした貴金
属微粒子は基体表面に付着し微小突起となるが、前述の
表面の微小突起の高さ、大きさ、形状、密度等の所要条
件に応じたものを形成することが可能であった。
Non-metals such as Ca may also be included. These noble metal fine particles adhere to the surface of the substrate and form microprotrusions, and it was possible to form microprotrusions on the surface according to the required conditions such as height, size, shape, density, etc.

本発明の磁気ディスク基板上には、磁性層、保護層、潤
滑層などが順次形成され、磁気ディスクが作成される。
A magnetic layer, a protective layer, a lubricant layer, and the like are sequentially formed on the magnetic disk substrate of the present invention to produce a magnetic disk.

磁気ディスク基板上に形成される磁性層は、少なくとも
Co、 Ni、 Feを含有する磁性膜であるが、さら
にP、 Bなどの添加元素を含有した合金膜であっても
よく、0を含有した酸化物膜や、Nを含有した窒化物膜
であってもよい。用いられる磁性膜のその他の添加元素
としては、特に限定される必要はないが、Re、 Mn
、 W、 Li、 Be、 Mg、 AI。
The magnetic layer formed on the magnetic disk substrate is a magnetic film containing at least Co, Ni, and Fe, but may also be an alloy film containing additional elements such as P and B. An oxide film or a nitride film containing N may be used. Other additive elements for the magnetic film used are not particularly limited, but include Re, Mn
, W, Li, Be, Mg, AI.

Ru、 Si、 Mo、 Zn、 Sr、 Y、 Zr
、 Nb、 Cd、 In、 Sb、 Ta、 Ir、
 Hg。
Ru, Si, Mo, Zn, Sr, Y, Zr
, Nb, Cd, In, Sb, Ta, Ir,
Hg.

Tl、 Ti、 V、 Cr、 Cu、 Ga、 Ge
、 Tc、 Rb、 Ra、 Hf、 Rh、 Pd、
 Ag。
Tl, Ti, V, Cr, Cu, Ga, Ge
, Tc, Rb, Ra, Hf, Rh, Pd,
Ag.

Au、 Pt、 Sn、 Te、 Ba、 Cs、 O
s、 Sc、 Se、 Pb、 Bi 、およびランタ
ン系列希土類元素等の元素が含まれていてもよい。磁性
膜中にはこれらの元素のほか、C,S、 As。
Au, Pt, Sn, Te, Ba, Cs, O
Elements such as s, Sc, Se, Pb, Bi, and lanthanum series rare earth elements may be included. In addition to these elements, the magnetic film also contains C, S, and As.

Na、 K、 F、 CI、 Br、 I、 Caなど
の非金属が含まれていてもよい。磁性膜中には、C01
Ni、 Feは10%以上含まれているが、好ましくは
50%以上含まれる。P、Bは最大30%程度含有され
るが、好ましくは15%以下の範囲で含有される。磁性
膜厚は0.003〜311mの範囲が用いられるが、高
密度記録用には0.5pm以下が好ましい。磁性層は1
層または2層以上で用いられる。2層以上の場合、同一
または組成、磁気特性が異なる磁性膜を直接ないし非磁
性膜を介して積層される。これらの膜は、無電解めっき
法、電気めっき法などの湿式めっき法またはスパッタ法
、蒸着法、イオンブレーティング法などの乾式めっき法
によって形成される。通常これらは薄膜媒体と呼ばれ、
めっきディスク、金属スパッタディスク、フェライトス
パッタディスク、蒸着ディスクなどに使用される。用い
られる保護層としては、薄膜保護膜、または薄膜保護膜
の下およびまたは上に種々の付加的皮膜が形成されたも
の、例えば上地薄膜上に薄膜保護膜が被覆されたもの、
さらにこの上に潤滑膜が被覆されたもの、あるいは上地
薄膜上に付加的皮膜が被覆されさらに薄膜保護膜が被覆
されたもの、さらにこの上に潤滑膜が被覆されたものな
どがある。これらの膜は、各々1層、もしくは多層であ
ってもよい。薄膜保護膜としては、石英ガラス、珪酸ガ
ラス、燐酸塩ガラス、非晶質アルミナなど一般にガラス
状物質と呼ばれる非晶質の半金属酸化物およびテトラヒ
ドロキシシランの縮合化合物であるポリ珪酸などの非晶
質無機酸化物膜あるいは炭素膜を用いることが好ましい
が、Si3N4などの珪素化合物膜、Rh、 Agなど
の金属膜、Co酸化物、CoNi酸化物などの酸化膜等
も使用されることがある。これらの膜は、適宜スパッタ
法、蒸着法、プラズマCVD法、プラズマインジェクシ
ョンCVD法イオンブレーティング法などの乾式めっき
法、無電解めっき法、電気めっき法などの湿式めっき法
、塗布法、溶液中酸化処理法、熱酸化法などの方法によ
って形成される。
Nonmetals such as Na, K, F, CI, Br, I, and Ca may be included. In the magnetic film, C01
Ni and Fe are contained in an amount of 10% or more, preferably 50% or more. P and B are contained in a maximum amount of about 30%, but preferably in a range of 15% or less. The magnetic film thickness is preferably in the range of 0.003 to 311 m, but is preferably 0.5 pm or less for high-density recording. The magnetic layer is 1
Used in a layer or two or more layers. In the case of two or more layers, magnetic films having the same or different compositions and magnetic properties are laminated directly or via a nonmagnetic film. These films are formed by wet plating methods such as electroless plating and electroplating, or dry plating methods such as sputtering, vapor deposition, and ion blating. Usually these are called thin film media,
Used for plating disks, metal sputter disks, ferrite sputter disks, vapor deposition disks, etc. The protective layer used is a thin protective film, or one in which various additional films are formed under and/or on the thin protective film, for example, a thin protective film coated on a top thin film;
Furthermore, there are those that have a lubricating film coated thereon, those that have an additional film coated on the top thin film and are further coated with a thin protective film, and those that have a lubricating film further coated thereon. Each of these films may have one layer or multiple layers. The thin protective film can be made of amorphous metalloid oxides generally called glassy substances such as quartz glass, silicate glass, phosphate glass, and amorphous alumina, and amorphous materials such as polysilicic acid, which is a condensation compound of tetrahydroxysilane. Although it is preferable to use a pure inorganic oxide film or a carbon film, a silicon compound film such as Si3N4, a metal film such as Rh or Ag, or an oxide film such as Co oxide or CoNi oxide may also be used. These films can be formed by sputtering, vapor deposition, plasma CVD, plasma injection CVD, dry plating such as ion blating, electroless plating, wet plating such as electroplating, coating, or oxidation in solution. It is formed by a method such as a processing method or a thermal oxidation method.

上地薄膜としては、Ni合金ないしはクロム化合物、ジ
ルコニウム化合物などの薄膜を用いることが好ましいが
、前記下地厚膜、下地薄膜と同様の材質を使用すること
もできる。潤滑膜としては、非極性固体潤滑剤、極性固
体潤滑剤、液体潤滑剤などが使用される(第46回応用
磁気学会研究資料、46−5.1986年)。また、磁
気ディスクの構成には種々のバリエイジョンも考えられ
る。−例としては、磁気記録層の磁気特性、結晶構造の
制御や作製の容易さ等の目的で磁性層の下にクロム、モ
リブデン、チタン、シリコン、金等の前処理層を形成し
たもの、磁気記録特性の向上やデータ情報とサーボ情報
を多重すること等の目的で磁気記録層を直接または非磁
性層を介して多層にしたもの、耐候性をより向上させる
ために保護膜の多層の多層構造にしたものなどが挙げら
れる。
As the upper thin film, it is preferable to use a thin film of Ni alloy, chromium compound, zirconium compound, etc., but the same materials as the above-mentioned thick base film and thin base film can also be used. As the lubricating film, non-polar solid lubricants, polar solid lubricants, liquid lubricants, etc. are used (46th Japan Society of Applied Magnetics Research Materials, 46-5, 1986). Furthermore, various variations are possible in the configuration of the magnetic disk. - Examples include those in which a pretreatment layer of chromium, molybdenum, titanium, silicon, gold, etc. is formed under the magnetic layer for the purpose of controlling the magnetic properties and crystal structure of the magnetic recording layer, and making it easier to manufacture. Multi-layered magnetic recording layer directly or via a non-magnetic layer for the purpose of improving recording characteristics or multiplexing data information and servo information, etc., and a multi-layered structure with multiple protective films to further improve weather resistance. Examples include those made by

(作用) 高密度磁気記録体として磁性薄膜を媒体に用いた磁気デ
ィスクでは、表面が平滑で潤滑剤の滞留場所がないため
磁気ヘッドとのC8S耐久性に劣り、潤滑剤の量を増す
と磁気へラドスライダ面との間に吸着を生じるという問
題があった。このため、平滑なディスク基板面に機械加
工によってテクスチャと呼ばれる筋をつけることが広く
行われている。しかし、このような機械加工により粗面
を形成する方法では、研磨粗さの不均一によって信号エ
ラーを生じやすいほか、粗さを細かく制御できないため
研磨筋の密度を高めることが困難であった。ヘッド吸着
を防ぎ十分な膜厚の潤滑膜を賦与するためには、表面粗
さを相当大きくする必要があり、電磁変換特性の低下を
招く問題があった。
(Function) In a magnetic disk that uses a magnetic thin film as a medium for high-density magnetic recording, the surface is smooth and there is no place for lubricant to accumulate, so the C8S durability with the magnetic head is poor, and if the amount of lubricant is increased, the magnetic There was a problem that adsorption occurred between the Herad slider and the surface. For this reason, it is widely practiced to create lines called texture by machining on the smooth disk substrate surface. However, this method of forming a rough surface by machining tends to cause signal errors due to non-uniform polishing roughness, and it is difficult to increase the density of polishing streaks because the roughness cannot be precisely controlled. In order to prevent head adsorption and provide a sufficiently thick lubricating film, it is necessary to considerably increase the surface roughness, which poses a problem of deterioration of electromagnetic conversion characteristics.

発明者らは、ディスク表面の粗さ・形状が、ヘッド吸着
、耐久性、電磁変換特性などに与えられる影響を詳細に
検討した結果、機械加工よりも物理的あるいは化学的表
面処理によって微粒子を付着する方法の方がはるかに微
細で密な表面形状が得られしかもその制御が容易なこと
、機械加工によって形成される研磨筋(凹部)よりも物
理的あるいは化学的表面処理によって形成した微粒子に
よる微小突起(凸部)の方がヘッド吸着防止効果が格段
に太きいことが明かとなった。物理的あるいは化学的表
面処理による微小突起は微細かつ緻密に形成できるため
小さい表面粗さで十分であり、耐久性、電磁変換特性な
どに良好な結果が得られることも明かとなった。磁気ヘ
ッドとの吸着を防止して耐久性に優れた磁気記録体を得
るための微小突起の高さ、形状などの条件はヘッド・デ
ィスク条件に応じて選択されるが、微小突起の高さより
も微小突起の量(微小突起の密度)の影響がより顕著で
あった。
The inventors conducted a detailed study on the effects of the roughness and shape of the disk surface on head adsorption, durability, electromagnetic characteristics, etc., and found that fine particles could be attached by physical or chemical surface treatment rather than machining. This method provides a much finer and denser surface shape and is easier to control. It has become clear that the protrusions (protrusions) are much more effective in preventing head adsorption. It has also been revealed that microprotrusions produced by physical or chemical surface treatment can be formed finely and densely, so a small surface roughness is sufficient, and good results can be obtained in terms of durability, electromagnetic conversion characteristics, etc. Conditions such as the height and shape of the microprotrusions are selected depending on the head and disk conditions in order to prevent adsorption with the magnetic head and obtain a magnetic recording medium with excellent durability. The effect of the amount of microprojections (density of microprojections) was more significant.

また、所要の形態に微小突起を制御することは極めて重
要であるが、微粒子を付着する処理条件を変える・こと
によって表面粗さを容易に制御することができることが
明かとなった。本発明は、このような知見を得たことに
よりもたらされたものである。
Furthermore, although it is extremely important to control the microprotrusions into the desired shape, it has become clear that the surface roughness can be easily controlled by changing the processing conditions for adhering the microparticles. The present invention was brought about by obtaining such knowledge.

[実施例] (実施例1) アルミ合金基板(内径100mm外径210mm)上に
、公知の前処理(洗浄、亜鉛置換処理等)を行った後、
上材工業(株)装態電解NLPめっき液にムデンHDX
)を用いて膜厚20pmの非磁性N1−P下地厚膜をめ
っきした。次に下地厚膜表面を鏡面研磨し良好な表面精
度(Ra O,0012pm 、 TIR≦19pm、
加速度≦1.9G)を得た。次に、調整処理を行ないこ
の表面上に下記の条件で貴金属微粒子付着処理を行ない
、第1図に示す構造の磁気ディスク基板を形成した。
[Example] (Example 1) After performing known pretreatment (cleaning, zinc substitution treatment, etc.) on an aluminum alloy substrate (inner diameter 100 mm outer diameter 210 mm),
Uezai Kogyo Co., Ltd. Muden HDX in electrolytic NLP plating solution
) was used to plate a nonmagnetic N1-P base thick film with a film thickness of 20 pm. Next, the surface of the underlying thick film was mirror-polished to obtain good surface precision (RaO, 0012pm, TIR≦19pm,
Acceleration≦1.9G) was obtained. Next, an adjustment process was carried out, and noble metal fine particles were attached on the surface under the following conditions to form a magnetic disk substrate having the structure shown in FIG.

貴金属微粒子付着処理(1) センシタイザ−液(Sn0125g/l、HCl25r
nl/1.25°C)に0.5分間浸漬後、アクチベー
ター液(PdC120,05g/l、HCl 0.5m
l/1.35°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (1) Sensitizer liquid (Sn0125g/l, HCl25r
After soaking for 0.5 minutes in activator solution (PdC120,05g/l, HCl 0.5m
l/1.35°C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(2) センシタイザ−液(SnC1255g/l 1 ロッシ
ェル塩100g/l、NaOH90g/l、30°C)
に1分間浸漬後アクチベーター液(塩化金酸0.5g/
l、HCI 1ml/1130°C)に1.5分間浸漬
Precious metal fine particle adhesion treatment (2) Sensitizer liquid (SnC1255g/l 1 Rochelle salt 100g/l, NaOH90g/l, 30°C)
After 1 minute immersion in activator solution (chloroauric acid 0.5g/
1 ml of HCI/1130°C) for 1.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(3) センシタイザ−液(SnC1s+ 7g/l、HCI 
35m/l/l、40°C)に1分間浸漬後、アクチベ
ーター液(硝酸銀0.5g/l、アンモニア1ml/1
.50°C)に1.5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (3) Sensitizer liquid (SnC1s+ 7g/l, HCI
After 1 minute immersion in 35 m/l/l, 40°C), activator solution (silver nitrate 0.5 g/l, ammonia 1 ml/1
.. 50°C) for 1.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(4) センシタイザ−液(日本カニゼン社製ピンクシューマー
、10倍希釈、30°C)に0.5分間浸漬後、アクチ
ベーター液印本カニゼン社製レッドシューマー、10倍
希釈、30°C)に0.5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (4) After immersing in sensitizer liquid (Pink Schumer, manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd., 10 times diluted, 30°C) for 0.5 minutes, activator liquid stamp was applied. Soak in C) for 0.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(5) 触媒化処理液(A液: HCI 60m1/l−+水→
PdPdC12l+5nC1□22H2O22の順で調
整し、水を加えて10100Oとしたコロイド液、25
°C)に70秒間浸漬後、促進化処理液(K液: NH
4BF41mol/l、40°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (5) Catalytic treatment liquid (Liquid A: HCI 60ml/l-+water→
Colloidal liquid prepared in the order of PdPdC12l + 5nC1□22H2O22 and adjusted to 10100O by adding water, 25
°C) for 70 seconds, then add the acceleration treatment solution (K solution: NH
4BF41mol/l, 40°C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(6) 触媒化処理液(D液: HCI 320m1→水→Pd
C1□1g→5nC1□22H2O4の順で加え1日熟
成後SSnCl22H2O46を加えて調製したコロイ
ド液、25°C)に0.5分間浸漬後、促進化処理液(
K液: NH4BF41mol/1.50°C)に3分
間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (6) Catalytic treatment liquid (D liquid: HCI 320ml → Water → Pd
After adding 1 g of C1□→5nC1□22H2O4 and aging for 1 day, the colloidal solution prepared by adding SSnCl22H2O46 (25°C) was immersed for 0.5 minutes, and then the acceleration treatment solution (
K solution: Immersed in NH4BF41mol/1.50°C for 3 minutes.

貴金属微粒子付着処理(7) 触媒化処理液(E’液ニジプレイファイ−スト製塩酸ベ
ースコロイド液キャタリスト9F1容、塩酸2容、水4
容の溶液、20°C)に90秒間浸漬後、促進化処理液
(M液ニジプレイファイ−スト製アクセレレータ19.
25°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (7) Catalytic treatment liquid (E' liquid Hydrochloric acid-based colloidal liquid Catalyst 9F made by Niji Play Feast 1 volume, 2 volumes of hydrochloric acid, 4 volumes of water)
After immersing it in a solution with a volume of 20°C for 90 seconds, the accelerator 19.
25°C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(8) 触媒化処理液(F液:水840m1につきキャタリスト
404を270g溶かした液に、シブレイファイ−スト
製塩ベースコロイド液キャタボジット44を15m1/
lの添加割合で加えた溶液、45°C)に90秒間浸漬
後、促進化処理液(M液ニジプレイファイ−スト製アク
セレ゛レータ19.30°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (8) Catalytic treatment liquid (F solution: 270 g of Catalyst 404 dissolved in 840 ml of water, mixed with 15 ml of salt-based colloidal liquid Catabosite 44 made by Sibley Fist)
After dipping for 90 seconds in a solution added at an addition rate of 100 ml (45°C), it was immersed for 1 minute in an accelerator solution (M solution, Niji Play Fist accelerator, 19.30°C).

貴金属微粒子付着処理(9) アクチベーター液(PdC120,01g/l、HCI
 10m1/1.80°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (9) Activator liquid (PdC120.01g/l, HCI
10m1/1.80°C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(10) アクチベーター液(塩化金酸0.3g/l、 HCI 
4ml/l。
Precious metal fine particle adhesion treatment (10) Activator liquid (chloroauric acid 0.3 g/l, HCI
4ml/l.

40’C)に1.5分間浸漬。40'C) for 1.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(11) アクチベーター液(硝酸銀0.4g/l、アンモニア0
.9ml/l、40°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (11) Activator liquid (silver nitrate 0.4g/l, ammonia 0
.. 9ml/l, 40°C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(12) アクチベーター液(日本カニゼン社製酸性活性液1.1
0倍希釈、35°C)に30秒間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (12) Activator liquid (acidic activation liquid 1.1 manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd.)
0x dilution, 35°C) for 30 seconds.

貴金属微粒子付着処理(13) アクチベーター液(日本カニゼン社製アルカリ性活性液
3.4倍希釈、35°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (13) Immersed in activator solution (Nippon Kanigen Co., Ltd. alkaline activator solution 3.4 times diluted, 35°C) for 1 minute.

こうして得られた磁気ディスク基板の番号を、貴金属微
粒子付着処理番号に対応して磁気ディスク基板1〜磁気
デイスク基板13とする。
The magnetic disk substrates obtained in this way are numbered magnetic disk substrate 1 to magnetic disk substrate 13 in correspondence with the noble metal fine particle adhesion treatment number.

得られた磁気ディスク基板の表面の電子顕微鏡観察(S
EMおよびTEM)を行なった結果、高さ0.015p
m〜0.025pmの微小突起が0.711m2当たり
1個以上の密度で形成されていることが認められた。
Electron microscopic observation of the surface of the obtained magnetic disk substrate (S
As a result of performing EM and TEM), the height was 0.015p.
It was observed that microprotrusions with a diameter of m to 0.025 pm were formed at a density of one or more per 0.711 m2.

微小突起の大きさは0.04〜0.07pmであり、や
や扁平の半球を伏せた形状をしていた。微小突起は、高
さ、大きさおよび形状がそろっており、磁気ディスク基
板表面に一様に密に形成されていた。
The size of the microprotrusions was 0.04 to 0.07 pm, and had the shape of a slightly flattened hemisphere. The microprotrusions were uniform in height, size, and shape, and were uniformly and densely formed on the surface of the magnetic disk substrate.

(実施例2) 実施例1と同様に磁気ディスク基板を作製したが、本実
施例では貴金属微粒子付着処理を下記の条件で行ない、
第1図に示す構造の磁気ディスク基板を形成した。
(Example 2) A magnetic disk substrate was produced in the same manner as in Example 1, but in this example, noble metal fine particle adhesion treatment was performed under the following conditions.
A magnetic disk substrate having the structure shown in FIG. 1 was formed.

貴金属微粒子付着処理(14) センシタイザ−液(SnC1□5g/l 、 HCI 
25m1/1.30°C)に1.5分間浸漬後、アクチ
ベーター液(PdC120,05g/l、HCI 0.
5ml/l、 40°C)に4分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (14) Sensitizer liquid (SnC1□5g/l, HCI
After immersion for 1.5 minutes in 25ml/1.30°C), the activator solution (PdC120,05g/l, HCI 0.
5ml/l, 40°C) for 4 minutes.

貴金属微粒子付着処理(15) センシタイザ−液(Sn01□55g/l、ロッシェル
塩100g/l、NaOH90g/l、30°C)に2
分間浸漬後、アクチベーター液(塩化金酸0.5g/I
、HCI 1ml/1.30°C)に5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (15) Sensitizer liquid (Sn01□55g/l, Rochelle salt 100g/l, NaOH90g/l, 30°C)
After soaking for a minute, activator solution (chloroauric acid 0.5g/I
, HCI 1ml/1.30°C) for 5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(16) センシタイザ−液(SnC1□7g/l、HCI 35
m/1/l、40°C)に2分間浸漬後、アクチベータ
ー液(硝酸銀0.5g/l、アンモニア1ml/l、6
0°C)に4分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (16) Sensitizer liquid (SnC1□7g/l, HCI 35
m/1/l, 40°C) for 2 minutes, then activator solution (silver nitrate 0.5 g/l, ammonia 1 ml/l, 6
0°C) for 4 minutes.

貴金属微粒子付着処理(17) センシタイザ−液(日本カニゼン社製ピンクシューマー
、10倍希釈、35°C)に1.5分間浸漬後、アクチ
ベーター液印本カニゼン社製レッドシューマー、10倍
希釈、30°C)に5゛分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (17) After immersing in sensitizer liquid (Pink Schumer, manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd., 10 times diluted, 35°C) for 1.5 minutes, activator liquid stamp was applied. Soak in C) for 5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(18) 触媒化処理液(A液: HCI 60m1/l→水→P
dCl21g→5nC1□22H2O22の順で調製し
、水を加えて10100Oとしたコロイド液、30°C
)に4分間浸漬後、促進化処理液(K液: NH4BF
41mol/1.40°C)に1.5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (18) Catalytic treatment liquid (Liquid A: HCI 60ml/l → Water → P
Colloidal liquid prepared in the order of dCl21g → 5nC1□22H2O22 and made to 10100O by adding water, 30°C
) for 4 minutes, then add the acceleration treatment solution (K solution: NH4BF
41mol/1.40°C) for 1.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(19) 触媒化処理液(D液: HCl 320m1−+水−+
PdPdC12l+5nC122H204gの順で加え
1日熟成後SSnCl22H2O46を加えて調整した
コロイド液、30°C)に4分間浸漬後、促進化処理液
(K液:NH4BF41mol/1.50°C)に2.
5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (19) Catalytic treatment liquid (D solution: HCl 320ml−+water−+
PdPdC12l + 5nC122H204g were added in this order and aged for 1 day, then immersed for 4 minutes in a colloidal solution (30°C) prepared by adding SSnCl22H2O46, and then 2.
Soak for 5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(20) 触媒化処理液(E’液ニジプレイファイ−スト製塩酸ベ
ースコロイド液キャタリスト9F1容、塩酸2容、水4
容の溶液、35°C)に4.5分間浸漬後、促進化処理
液(M液ニジプレイファイ−スト製□アクセレレータ1
9.30°C)に2分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (20) Catalytic treatment liquid (E' liquid Hydrochloric acid-based colloidal liquid Catalyst 9F manufactured by Niji Play First 1 volume, 2 volumes of hydrochloric acid, 4 volumes of water)
After soaking for 4.5 minutes in the same solution (35°C), apply the accelerator 1
9. Soak at 30°C for 2 minutes.

貴金属微粒子付着処理(21) 触媒化処理液(F液:水840m1につきキャタリスト
404を270g溶かした液に、シブレイファイ−スト
製塩ベースコロイド液キャタボジット44を15m1/
1の添加割合で加えた溶液、50°C)に3.5分間浸
漬後、促進化処理液(M液ニジプレイファイ−スト製ア
クセレレータ19.30°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (21) Catalyst treatment liquid (F solution: 270 g of Catalyst 404 dissolved in 840 ml of water, mixed with 15 ml of salt-based colloidal liquid Catabosite 44 made by Sibley Fist)
After immersing for 3.5 minutes in a solution added at an addition ratio of 1.1 at 50°C, it was then immersed for 1 minute in an accelerator solution (M solution Niji Play Fist Accelerator, 19.30°C).

貴金属微粒子付着処理(22) アクチベーター液(PdC120,01g/l、HCI
 10m1.70°C)に6分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (22) Activator liquid (PdC120.01g/l, HCI
10ml (1.70°C) for 6 minutes.

貴金属微粒子付着処理(23) アクチベーター液(塩化金酸0.3g/l、HCI  
4ml、45°C)に5.5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (23) Activator liquid (chloroauric acid 0.3 g/l, HCI
4ml, 45°C) for 5.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(24) アクチベーター液(硫酸銀0.4g/l、アンモニア0
.9ml、 40°C)に6.5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (24) Activator liquid (silver sulfate 0.4 g/l, ammonia 0
.. 9ml, 40°C) for 6.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(25) アクチベーター液(日本カニゼン社製1.10倍希釈、
45°C)に4分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (25) Activator liquid (manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd., 1.10 times diluted,
45°C) for 4 minutes.

貴金属微粒子付着処理(26) アクチベーター液(日本カニゼン社製のアルカリ性活性
液3.4倍希釈、40°C)に4.5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (26) Immersed in activator solution (3.4 times diluted with alkaline activator solution manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd., 40°C) for 4.5 minutes.

こうして得られた磁気ディスク基板の番号を、貴金属微
粒子付着処理番号に対応して磁気ディスク基板17〜磁
気デイスク基板26とする。
The numbers of the magnetic disk substrates thus obtained are designated as magnetic disk substrates 17 to 26 in correspondence with the noble metal fine particle adhesion processing numbers.

得られた磁気ディスク基板の表面の電子顕微鏡観察(S
EMおよびTEM)を行なった結果、高さ0.08pm
〜0.1pmの微小突起が511m2当たり3個以上の
密度で形成されていることが認められた。微小突起の大
きさは0.18〜0.23pmであり、やや扁平の半球
を伏せた形状をしていた。微小突起は、高さ、大きさお
よび形状がそろっており、磁気ディスク基板表面に一様
に密に形成されていた。
Electron microscopic observation of the surface of the obtained magnetic disk substrate (S
As a result of performing EM and TEM), the height was 0.08 pm.
It was observed that microprotrusions of ~0.1 pm were formed at a density of 3 or more per 511 m2. The size of the microprotrusions was 0.18 to 0.23 pm, and had the shape of a slightly flattened hemisphere. The microprotrusions were uniform in height, size, and shape, and were uniformly and densely formed on the surface of the magnetic disk substrate.

(実施例3) 実施例1と同様に磁気ディスク基板を作製したが、本実
施例では貴金属微粒子付着処理を下記の条件で行ない、
第1図に示す構造の磁気ディスク基板を形成した。
(Example 3) A magnetic disk substrate was produced in the same manner as in Example 1, but in this example, noble metal fine particle adhesion treatment was performed under the following conditions.
A magnetic disk substrate having the structure shown in FIG. 1 was formed.

貴金属微粒子付着処理(27) センシタイザ−液(SnC1□l1g/l 、 HCI
 45m1/l、35°C)に1分間浸漬後、アクチベ
ーター液(PdC120,35g/l、HCl  15
m1/1.40°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (27) Sensitizer liquid (SnC1□l1g/l, HCI
After 1 minute immersion in activator solution (PdC 120, 35 g/l, HCl 15
m1/1.40°C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(28) センシタイザ−液(SnC1□75g/l、ロッシェル
塩110g/l、NaOH95g/I、30°C)に2
分間浸漬後、アクチベーター液(塩化金酸2.5g/l
、HCI 5ml/1.45°C)に1.5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (28) Sensitizer liquid (SnC1□75g/l, Rochelle salt 110g/l, NaOH95g/I, 30°C)
After soaking for a minute, activator solution (chloroauric acid 2.5 g/l)
, HCI 5ml/1.45°C) for 1.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(29) センシタイザ−液(SnC1210g/l、HCI 3
5m1/1.45°C)に1分間浸漬後、アクチベータ
ー液(硝酸銀2g/l、アンモニア4ml/l、60°
C)に1.5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (29) Sensitizer liquid (SnC1210g/l, HCI 3
Activator solution (silver nitrate 2 g/l, ammonia 4 ml/l, 60°
Soak in C) for 1.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(30) センシタイザ−液(日本カニゼン社製ピンクシューマー
、7倍希釈、35°C)に0.5分間浸漬後アクチベー
ター液(日本カニゼン社製レッドシューマー、2.5倍
希釈、30°C)に0.5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (30) After immersing in sensitizer solution (Pink Schumer, manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd., 7 times diluted, 35°C) for 0.5 minutes, activator solution (Red Schumer, manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd., diluted 2.5 times, 30°C) for 0.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(31) 触媒化処理液(A液:HCl90m1/l→水→PdC
1□2.5g+SSnCl22H2O29の順で調製し
、水を加えて10100Oとしたコロイド液、30’C
)に70秒間浸漬後、促進化処理液(K液:NH4BF
41mol/l、40’C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (31) Catalytic treatment liquid (Liquid A: HCl 90ml/l → Water → PdC
1□ Colloidal liquid prepared in the order of 2.5g + SSnCl22H2O29 and adjusted to 10100O by adding water, 30'C
) for 70 seconds, then add the acceleration treatment solution (K solution: NH4BF
41 mol/l, 40'C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(32) 触媒化処理液(D液:HCl 370m1/1−+水−
+PdCl22g→5nC1□2H2H2O6順で加え
た1日熟成後SSnCl22H2O48を加えた調製し
たコロイド液、25°C)に0.5分間浸漬のち、促進
処理液(K液:NH4BF41mol/l 。
Precious metal fine particle adhesion treatment (32) Catalytic treatment liquid (D solution: HCl 370ml 1/1- + water-
+PdCl22g → 5nC1□2H2H2O6 After aging for 1 day, SSnCl22H2O48 was added in the prepared colloidal solution (25°C) for 0.5 minutes, and then the acceleration treatment solution (K solution: NH4BF41 mol/l) was added.

40°C)に3分間浸漬。40°C) for 3 minutes.

貴金属微粒子付着処理(33) 触媒化処理液(E’液ニジプレイファイ−スト製塩酸ベ
ースコロイド液キャタリスト9F3容、塩酸1容、水2
容の溶液、30°C)に90秒間浸漬後、促進化処理液
(M液ニジプレイファイ−スト製アクセレレータ19.
30°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (33) Catalytic treatment liquid (E' liquid Hydrochloric acid-based colloidal liquid Catalyst 9F manufactured by Niji Play First 3 volumes, hydrochloric acid 1 volume, water 2
After immersing it in a solution of 30°C for 90 seconds, the accelerator 19.
30°C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(34) 触媒化処理液(F液:水840m1につきキャタリスト
404を270g溶がした液にシブレイファイ−スト製
塩ベースコロイド液キャタボジット44を45m1/l
の添加割合で加えた溶液、50’C)に90秒間浸漬後
、促進化処理液(M液ニジプレイファイ−スト製アクセ
レレータ19.30°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (34) Catalytic treatment liquid (F solution: 270g of Catalyst 404 dissolved in 840ml of water, and 45ml/l of salt-based colloidal liquid Catabosite 44 manufactured by Sibley Fyst)
The sample was immersed for 90 seconds in a solution added at the addition rate of 50'C), and then immersed in an acceleration treatment solution (M solution Niji Play Fist Accelerator, 19.30°C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(35) アクチベーター液(PdC1z0.6g/l、HCI 
 30rnl/l、60°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (35) Activator liquid (PdC1z0.6g/l, HCI
30rnl/l, 60°C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(36) アクチベーター液(塩化金酸1.3g/l、HCI 4
ml/1.55°C)に1.5分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (36) Activator liquid (chloroauric acid 1.3 g/l, HCI 4
ml/1.55°C) for 1.5 minutes.

貴金属微粒子付着処理(37) アクチベーター液(硝酸銀2.1g/l、アンモニア3
ml/l、40°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (37) Activator liquid (silver nitrate 2.1 g/l, ammonia 3
ml/l, 40°C) for 1 minute.

貴金属微粒子付着処理(38) アクチベーター液(日本カニゼン社製の酸性活性液1.
3倍希釈、50°C)に30秒間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (38) Activator liquid (acidic activating liquid manufactured by Nippon Kanigen Co., Ltd. 1.
3-fold dilution, 50°C) for 30 seconds.

貴金属微粒子付着処理(39) アクチベーター液田本カニゼン社製の酸性活性液3.1
倍希釈、60°C)に1分間浸漬。
Precious metal fine particle adhesion treatment (39) Activator liquid Acidic activation liquid 3.1 manufactured by Tamoto Kanigen Co., Ltd.
1-fold dilution, 60°C) for 1 minute.

こうして得られた磁気ディスク基板の番号を貴金属微粒
子付着処理番号に対応して磁気ディスク基板27〜磁気
デイスク基板39とする。
The numbers of the magnetic disk substrates thus obtained are designated as magnetic disk substrates 27 to 39 in correspondence with the noble metal fine particle adhesion processing numbers.

得られた磁気ディスク基板の表面の電子顕微鏡観察(S
EMおよびTEM)を行なった結果、高さ0.0611
m〜0.08pmの微小突起が111m2当たり1個以
上の密度で形成されていることが認められた。微小突起
の大きさは0.14〜0.17pmであり、やや扁平の
半球を伏せた形状をしていた。。微小突起は、高さ、大
きさおよび形状がそろっており、磁気ディスク基板表面
に一様に密に形成されていた。
Electron microscopic observation of the surface of the obtained magnetic disk substrate (S
As a result of performing EM and TEM), the height was 0.0611
It was observed that microprotrusions with a diameter of m to 0.08 pm were formed at a density of one or more per 111 m2. The size of the microprotrusions was 0.14 to 0.17 pm, and had the shape of a slightly flattened hemisphere. . The microprotrusions were uniform in height, size, and shape, and were uniformly and densely formed on the surface of the magnetic disk substrate.

(比較例1) 実施例3と同様の手順で磁気ディスク基板の作製を行な
ったが、本比較例では下地厚膜表面を鏡面研磨した表面
上に行った各貴金属微粒子付着処理の形成を省略した。
(Comparative Example 1) A magnetic disk substrate was manufactured using the same procedure as in Example 3, but in this comparative example, the formation of each noble metal fine particle adhesion treatment performed on the mirror-polished base thick film surface was omitted. .

こうして得られた磁気ディスク基板の番号を(Hl)と
する。
Let the number of the magnetic disk substrate thus obtained be (Hl).

得られた磁気ディスク基板の表面の電子顕微鏡観察およ
び表面粗さの測定を行なった結果、微小突起はなく極め
て平滑な表面であった。
Electron microscopic observation of the surface of the obtained magnetic disk substrate and measurement of surface roughness revealed that the surface was extremely smooth with no microprotrusions.

(比較例2) 比較例1と同様の手順で磁気ディスク基板の作製を行な
ったが、本比較例では下地厚膜表面を鏡面研磨した後、
各種研磨砥粒(メデイボールN35、N13、NO8・
・・・粒の粒径は、順に3.5pm、1.3pm、0.
8pmである)を用い表面を研磨し表面粗さを変化させ
た。こうして得られた磁気ディスク基板の番号を(順に
、H2、H3、H4)とする。
(Comparative Example 2) A magnetic disk substrate was manufactured in the same manner as in Comparative Example 1, but in this comparative example, after mirror polishing the surface of the base thick film,
Various abrasive grains (Mediball N35, N13, NO8,
...The grain sizes are 3.5 pm, 1.3 pm, 0.
8 pm) to change the surface roughness. Let the numbers of the magnetic disk substrates thus obtained be (in order: H2, H3, H4).

得られた磁気ディスク基板の表面粗さを表面粗さ計で測
定したところ、研磨砥粒が大きくなるにしたがって粗さ
が増大していた。しかし、得られた磁気ディスク基板の
表面電子顕微鏡(倍率1万倍以上)を行なった結果、表
面に各種研磨砥粒に応じた太さの研磨筋がまばらに乱雑
にあり、そこでは溝となっていたが、微小突起は認めら
れなかった。
When the surface roughness of the obtained magnetic disk substrate was measured using a surface roughness meter, it was found that the roughness increased as the size of the abrasive grains increased. However, as a result of performing a surface electron microscope (magnification of 10,000 times or more) on the surface of the obtained magnetic disk substrate, it was found that the surface had scattered and disordered polishing streaks with thicknesses corresponding to various polishing abrasive grains, which became grooves. However, no microprotrusions were observed.

実施例および比較例で得られた磁気ディスク基板上に、
無電解めっき法によりめっき浴(1)を用いて膜厚0.
08pmの磁性薄膜を形成した。
On the magnetic disk substrates obtained in Examples and Comparative Examples,
A film with a thickness of 0.0 mm was formed by electroless plating using plating bath (1).
A magnetic thin film of 0.08 pm was formed.

めっき浴(1) めっき浴組成 硫酸コバルト 硫酸ニッケル 次亜リン酸ナトリウム 0.07mol/1 0.03mol/1 0.21mol/1 マロン酸ナトリウム    0.4mol/1リンゴ酸
ナトリウム    0.3mol/1コハク酸ナトリウ
ム    0.4mol/1硫酸アンモニウム    
 0.3mol/1めっき条件 浴温82°C めっき浴のpH9,3 (室温にてアンモニア水でpH調節) めっき液の容量  1001 次にこの上に珪酸モノマーを回転塗布し、190°Cで
20時間焼成して膜厚0.08pmの珪酸重合体を主成
分とする薄膜保護膜を形成し、更にこの上に液体潤滑剤
(パーフロロアルキルポリエーテル)からなる潤滑層を
形成し磁気ディスクを作製した。こうして得られた磁気
ディスクの番号を、磁気ディスク基板の番号に対応して
、磁気ディスク1〜磁気デイスク39および磁気ディス
クH1〜磁気ディスクH4とする。
Plating bath (1) Plating bath composition Cobalt sulfate Nickel sulfate Sodium hypophosphite 0.07 mol/1 0.03 mol/1 0.21 mol/1 Sodium malonate 0.4 mol/1 Sodium malate 0.3 mol/1 succinic acid Sodium 0.4mol/1 ammonium sulfate
0.3 mol/1 plating condition Bath temperature 82°C Plating bath pH 9.3 (pH adjusted with aqueous ammonia at room temperature) Plating solution volume 1001 Next, silicic acid monomer was spin-coated on top of this, and the silicic acid monomer was coated at 190°C for 20 A thin protective film mainly composed of silicic acid polymer with a film thickness of 0.08 pm is formed by baking for a time, and a lubricating layer made of a liquid lubricant (perfluoroalkyl polyether) is further formed on this to create a magnetic disk. did. The numbers of the magnetic disks thus obtained are designated as magnetic disks 1 to 39 and magnetic disks H1 to H4, corresponding to the numbers of the magnetic disk substrates.

次に、これらの磁気ディスクについて、3350型Mn
−Znフェライト磁気ヘッドを用いてヘッド吸着の有無
を検討した。磁気ヘッドと各ディスクをドライブに設定
し、放置前後の摩擦係数を測定した。
Next, regarding these magnetic disks, 3350 type Mn
-The presence or absence of head adsorption was investigated using a Zn ferrite magnetic head. A magnetic head and each disk were set up in a drive, and the coefficient of friction was measured before and after being left unused.

実施例の磁気ディスク基板を用いた磁気ディスク1〜磁
気デイスク39については、放置前の摩擦係数は0.2
0〜0.30の範囲にあった。微小突起の高さが大きく
表面粗さが大きいほど、摩擦係数が減少する傾向があっ
たが、0.20〜0.30という小さな値はいずれも実
用上良好な値である。100時間放置後の摩擦係数の値
は0.21〜0.28の範囲にあり、磁気ディスク基板
を用いた磁気ディスクについてはヘッド吸着に関しなん
ら問題がなかった。比較例の磁気ディスク基板を用いた
磁気ディスクについては、放置前の摩擦係数は磁気ディ
スクH1で0.93、磁気ディスクH2で0.39、磁
気ディスクH3で0.46、磁気ディスクH4で0.7
4であった。摩擦係数が最も大きい磁気ディスクH1の
場合は放置前においてもヘッド吸着が問題となった。1
00時間放置後の摩擦係数を調べると、磁気ディスクH
1〜磁気ディスクH4のいずれも1.0以上に増加しヘ
ッド吸着現象を生じていた。また、実施例および比較例
の磁気ディスク基板をを用いた磁気ディスクについて、
C350型Mn−Znフェライト磁気ヘッドを用いてC
55(接触・始動・停止)試験を行ない表面に傷が発生
するまでのC8S回数を調べた。この回数が2万回以上
であれば実用上十分な耐久性をもつと考えられる。比較
例の磁気ディスク基板を用いた磁気ディスクH1で数百
回で表面に傷が発生し、磁気ディスクH2でC8838
00回、磁気ディスクH3でC882400回、磁気デ
ィスクH4でC881500回でヘッドクラッシュに至
った。実施例の磁気ディスク基板を用いた磁気ディスク
1〜磁気デイスク39については、C888万回後にお
いてもディスク表面に傷の発生は認められず、耐久性が
著しく向上していた。さらに実施例および比較例の磁気
ディスク基板を用いた磁気ディスクについて、記録再生
特性の比較を行なった。比較例の磁気ディスク基板を用
いた磁気ディスクH1は鏡面研磨したディスク基板を用
いているため良好な記録再生特性が得られ、この場合基
準となる標準ディスクと考えらえれる。実施例の磁気デ
ィスク基板を用いた磁気ディスク1〜磁気デイスク39
については、出力値、出力エンベロープのモジュレーシ
ョン、分解能、オーバーライド、S/N、ピークシフト
、ビットエラーのいずれも特性も標準ディスクと同等の
値を示し、実施例において微/h突起を磁気ディスク基
板に形成したことによる影響は認められなかった。しか
し、粗い研磨砥粒によって表面粗さを大きくした比較例
2の磁気ディスク基板を用いた磁気ディスクH2〜磁気
ディスクH4では、標準ディスクに比べて記録再生特性
の各値が著しく劣っていた。研磨粗さが大きくなるほど
記録再生特性が劣化する傾向があった。記録再生特性の
各値の中でも、出力エンベロープのモジュレーション、
S/N、 ビットエラーにおいて顕著であった。2万B
PI(ビットパーインチ)、1000TPI()ラック
パーインチ)での記録再生特性についてみると、標準デ
ィスクにおいて S/N34〜35dB、1面当りのビットエラー10個
以下であるのに対して、例えば磁気ディスクH2ではS
/N20〜22dB、1面当りのビット−r−クー55
0〜900個と劣っていた。比較例でほぼ円周方向に研
磨筋を(ト)) 入れるテクスチャ加工について触れなかったが、研磨筋
の方向が異なるだけで基本的にヘッド吸着、耐久性、記
録再生特性等に与える影響は同様であった。すなわち研
磨加工粗さを比較例と同程度の粗さにした場合は、緒特
性に比較例と同程度の劣化が認められた。
For the magnetic disks 1 to 39 using the magnetic disk substrate of the example, the coefficient of friction before being left is 0.2.
It was in the range of 0 to 0.30. The coefficient of friction tended to decrease as the height of the microprotrusions increased and the surface roughness increased, but any small value of 0.20 to 0.30 is a good value for practical use. The value of the coefficient of friction after being left for 100 hours was in the range of 0.21 to 0.28, and the magnetic disk using the magnetic disk substrate had no problem with respect to head adsorption. Regarding the magnetic disks using the magnetic disk substrate of the comparative example, the coefficient of friction before being left unused was 0.93 for the magnetic disk H1, 0.39 for the magnetic disk H2, 0.46 for the magnetic disk H3, and 0.0 for the magnetic disk H4. 7
It was 4. In the case of the magnetic disk H1 having the largest coefficient of friction, head adsorption became a problem even before it was left standing. 1
Examining the coefficient of friction after leaving it for 00 hours, it was found that the magnetic disk H
All of magnetic disks 1 to H4 increased to 1.0 or more, causing a head attraction phenomenon. Furthermore, regarding magnetic disks using the magnetic disk substrates of Examples and Comparative Examples,
C using C350 type Mn-Zn ferrite magnetic head
55 (contact/start/stop) test was conducted to determine the number of C8S cycles until scratches appeared on the surface. If this number of times is 20,000 times or more, it is considered to have sufficient durability for practical use. A scratch occurred on the surface of the magnetic disk H1 using the magnetic disk substrate of the comparative example after several hundred times, and C8838 occurred on the magnetic disk H2 using the magnetic disk substrate of the comparative example.
00 times, a head crash occurred at C882,400 times with magnetic disk H3, and C881,500 times with magnetic disk H4. Regarding magnetic disks 1 to 39 using the magnetic disk substrate of the example, no scratches were observed on the disk surface even after C8.88 million cycles, and the durability was significantly improved. Furthermore, the recording and reproducing characteristics of the magnetic disks using the magnetic disk substrates of Examples and Comparative Examples were compared. Since the magnetic disk H1 using the magnetic disk substrate of the comparative example uses a mirror-polished disk substrate, good recording and reproducing characteristics are obtained, and in this case, it can be considered as a standard disk serving as a reference. Magnetic disks 1 to 39 using magnetic disk substrates of examples
The characteristics of the output value, output envelope modulation, resolution, override, S/N, peak shift, and bit error are all the same as those of standard disks, and in the example, fine/h protrusions were added to the magnetic disk substrate. No effect was observed due to the formation. However, magnetic disks H2 to H4 using the magnetic disk substrate of Comparative Example 2 in which the surface roughness was increased by coarse abrasive grains were significantly inferior in each value of recording and reproducing characteristics compared to the standard disk. The recording and reproducing characteristics tended to deteriorate as the polishing roughness increased. Among the various values of recording and playback characteristics, output envelope modulation,
It was noticeable in S/N and bit errors. 20,000B
Looking at the recording and reproducing characteristics at PI (bits per inch) and 1000 TPI (racks per inch), standard disks have an S/N of 34 to 35 dB and less than 10 bit errors per side, whereas magnetic discs, for example, S on disk H2
/N20~22dB, bit-r-coo per side 55
It was inferior at 0 to 900 pieces. In the comparative example, we did not mention the texture processing in which polishing streaks are placed approximately in the circumferential direction (g), but the effect on head adsorption, durability, recording and playback characteristics, etc. is basically the same, just because the direction of the polishing streaks is different. Met. That is, when the polishing roughness was made to be the same as that of the comparative example, the same degree of deterioration in the mechanical properties as that of the comparative example was observed.

実施例では磁性薄膜をめっき法で形成し、保護膜を珪酸
モノマーを回転塗布して形成しためっきディスクについ
てのみ述べたが、磁性薄膜をスパッタ法で形成した金属
スパッタディスクやフェライトスパッタディスク、保護
膜にカーボンやSiO2をスパッタで形成したディスク
についても同様の検討を行なった結果、実施例と同様な
本願発明の効果が認められた。
In the examples, only a plated disk was described in which a magnetic thin film was formed by plating and a protective film was formed by spin coating a silicate monomer, but metal sputter disks, ferrite sputter disks, and protective films in which magnetic thin films were formed by sputtering were also described. Similar studies were conducted on disks in which carbon or SiO2 was sputtered, and as a result, the same effects of the present invention as in the examples were found.

(発明の効果) 以上、実施例および比較例で示されたように、本発明に
よれば、磁気ディスク基板を、基体と基体表面上に付着
された多数の微粒子とからなる構造とすることによって
、表面に多数の微小突起が形成され、磁気ディスクに必
要な表面粗さを得る、、−;(4o) ことができる。これによって、記録再生特性を損うこと
なく(すなわち信号エラーの増加やS/Nの低下などを
ともなうことなく)、磁気ヘッドとの吸着を防止して耐
久性に優れた磁気ディスクが得られる。
(Effects of the Invention) As shown above in the Examples and Comparative Examples, according to the present invention, a magnetic disk substrate is formed into a structure consisting of a base body and a large number of fine particles adhered to the surface of the base body. , many minute protrusions are formed on the surface, and the surface roughness required for the magnetic disk can be obtained. -; (4o). As a result, it is possible to obtain a magnetic disk with excellent durability by preventing adhesion to the magnetic head without impairing recording/reproducing characteristics (that is, without increasing signal errors or decreasing S/N).

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の磁気ディスク基板の断面模式図である
。 1・・・・基板、2・・・・・微粒子。
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of a magnetic disk substrate of the present invention. 1... Substrate, 2... Fine particles.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 基板と、この基体表面上に付着された多数の微粒子から
なることを特徴とする磁気ディスク基板。
A magnetic disk substrate comprising a substrate and a large number of fine particles attached to the surface of the substrate.
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Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60117414A (en) * 1983-11-29 1985-06-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd Thin film type magnetic recording medium
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