JPH0257961A

JPH0257961A - 電解質分析装置

Info

Publication number: JPH0257961A
Application number: JP63208400A
Authority: JP
Inventors: Miyoko Watanabe; 渡辺　美代子; Isao Shindo; 勲夫進藤
Original assignee: Hitachi Ltd
Current assignee: Hitachi Ltd
Priority date: 1988-08-24
Filing date: 1988-08-24
Publication date: 1990-02-27

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】〔産業上の利用分野〕本発明は、電解質分析装置に係り、特に、イオン選択電
極を応用した電解質測定に好適な電解質分析装置に関す
る。

〔従来の技術〕

イオン選択電極を用いた電解質分析装置は、般に、複数
の試料を保持する試料保持部と、この試料保持部に保持
された試料を選択的に採取してイオン選択電極まで吸引
し電解質を定量分析する分析部と、定量分析により得ら
れたデータを処理する処理部とから構成される。このよ
うな電解質分析装置において、イオン選択電極膜や測定
流路内にタンパクや汚れが付着すると、電極感度（スロ
ープ）の低下やバラツキが生じる。このため、測定流路
内を適宜の周期で洗浄する必要がある。

そこで、緊急検査対応の装置では、試料測定毎に洗浄液
を洗浄ボトルから吸引して測定流路を洗浄し、通常、２
時間毎に測定流路の較正を行うようにしている。また、
全試料測定後に、シリンジを用いて洗浄ボ１〜ルより洗
浄液を吸引し、測定流路を洗浄するようにしたものもあ
る。

〔発明が解決しようとする課題〕

しかし、前者の装置では、試料測定毎に洗浄操作を行う
ため、１検体あたりの測定時間がかかり過ぎたうえ、較
正を頻繁（２時間毎）に行いすぎるため試薬の無駄が多
いという問題がある。一方、後者の装置では、洗浄液を
ボトルから吸引するためにシリンジを設けなければなら
ず、流路系が複雑になったうえ、洗浄液の品質が不安定
であったり、洗浄力が強すぎた等の理由によって、洗浄
による電極への悪影１！！！！（スロープ低下等）がし
ばしば発生するという問題があった。

本発明の目的は、測定時間の長期化と試薬の無駄使いを
防止し、しかも電極へ悪影響を与えることなく測定流路
を洗浄することができる飽解質分祈装置を提供すること
にある。

〔課題を解決するための手段〕

上記目的は、試料保持部に保持された試料のうち洗浄液
を一定量分取し、イオン選択電極流路内に流入した後、
内部標準液を一定量吸引し、イオン選択電極流路内を洗
浄する操作を複数回実行させるシーケンスを処理部に設
けたことにより、達成される。

〔作用〕

洗浄動作の実行を指示すると、試料保持部におかれた容
器から洗浄液が分取され、適宜に希釈された後、一般試
料と同様な手法で測定流路に流入される。そして、測定
流路内で数秒保持された後、廃棄される。これによって
、分注流路、電極測定流路および廃液流路までの各流路
が洗浄される。

ここで、洗浄液の流れる速度は一般試料が流れる速度と
同じなので、イオン電極膜に過激な影響を与えることが
ない。

〔実施例〕

第１図は、本発明の一実施例を示す構成図である。

第１図において、サンプルディスク１上の所定の位置に
洗浄液の入ったカップ２と較正溶液（Ｌｏｖ液、Ｈｉｇ
ｈ液）の入ったカップ３とを置く。

次に操作パネル４上の洗浄キー５を押すと、サンプリン
グディスク１上の洗浄液カップ２の位置までサンプリン
グノズル７が移動し、洗浄液を吸引し、希釈槽８内に吐
出する。同時に、ダブル逆止弁１１と電磁弁１０．１２
とシリンジ９が作動し、希釈液１３を希釈槽８内に吐出
する。希釈された洗浄液は、電磁弁１６とシリンジ１７
が作動することにより、ノズル１４からフローセル内の
電極部（ナトリウム、カリウム、クロール）１５まで吸
引される。そこで、数秒保持された後、逆止弁１８とシ
リンジ１７と電磁弁１９が作動することにより、廃液ボ
トル２０内に排出される。

希釈槽８内の残液は、電磁弁２６．２７と真空タンク２
９と真空ポンプ３０とが作動することにより、廃液ノズ
ル２５から廃液容器２８に一旦吸引された後、電磁弁３
１が開くことにより廃液タンクに排出される。

この洗浄液の吸引、排出動作を複数回（５〜１０回）繰
返したならば、逆止弁２１と電磁弁２２とシリンジ２３
とが動作し、内部標準液２４を希釈槽内８に吐出し、ノ
ズル１４から電極部１５に吸引し、排出する。希釈槽８
からの試料吸引、排出動作は、洗浄液の場合と同様に行
い、複数回（１０回程度）繰返したならば、最後の内部
標準液の吸引の際に、電磁弁３８が開き、比較電極液３
７が比較電極３９に吸引され、内部標準液の電位が測定
される。この検出値は、アンプ基板３２を通り、ＡＤ変
換器３３でディジタル量に変換されてマイクロコンピュ
ータ３４に送られる。

もし、この内部標準液の測定値が一定範囲（第１表参照
）を越えた場合は、そのアラーム内容をＣＲＴ画面３５
上に表示し、自動で較正を実施する。較正結果は、プリ
ンタ３６の印刷出力により報知する。この際、電極スロ
ープ値が使用範囲（第２表参照）を越えた場合は、電極
準備（ＥＬ、ＰＲＥＰ）のアラームをＣＲＴ３５上に表
示する。さらに、電極情報（電極使用日数、処理検体、
スロープ日差変動等）についても、ＣＲＴ３５上での表
示およびプリンタ３６での印刷出力を行う。ＣＲＴ３５
での表示例を第２図（ａ）〜（Ｑ）に示す。

第　　１　　表第　　２　　表このように本実施例によれば、一連の洗浄操作および電
極のスロープ管理が全自動で短時間に行える効果がある
。さらに、洗浄液シリンジ等を設けることなく、分注部
、電極部および廃液部と試料通過流路全域を洗浄できる
効果がある。また、電極部に希釈された洗浄液が吸引さ
れた後、内部標準液が一定量吸引されるため、電極膜が
短時間で元の状態に戻り、洗浄直後でも測定可能となる
効果がある。また、電極に関する正確な情報が自動で提
示されるので、顧客が自ら管理する手間が省け、かつ信
頼性の高い測定が確保される効果がある。

次に、第１図の実施例の応用として、洗浄後の較正を自
動もしくは半自動どちらでも選択可能な洗浄手法につい
て第３図のシーケンス図に従って説明する。

まず、操作パネル４上の洗浄キー５を押した場合は、洗
浄後内部標準液の電位レベルが一定範囲を越えた際にそ
の校正を自動で行うが、洗浄キー６を押した場合は較正
実施のアラームをＣＲＴ３５上に表示するのみとする。

従って、この場合は、較正用溶液（Ｌｏｖ液、　Ｈｉｇ
ｈ液）の入ったカップ３をサンプリングディスク１上に
置き、較正用キー４０を押すことにより、較正を実施す
る。電極情報の表示は、第１図の実施例と同様とする。

なお、第３図においては、洗浄キー５による洗浄動作は
洗浄Ａとして示し、洗浄キー６による洗浄動作は洗浄Ｂ
として示している。この洗浄方法に要する時間として、
内部標準液の電位に異常がない場合は１３分、異常があ
って較正を実施する場合は、洗ｉＡ：２３分、洗浄Ｂ：
２６分と、較正液セツティング等で３分の無駄が生じる
。しかし、実使用上、電極保証寿命内では、洗浄後の較
正の必要性はほとんどないため、洗浄毎に較正用溶液を
セツティングせずに洗浄操作のみを自動で行えることも
可能になり、試薬の無駄がないという効果がある。

次に、第４図の実施例について説明する。

第４図において、前試料測定終了後、もしくは測定前に
洗浄液が入ったカップ４１を洗浄用ラック４２に置き、
ラックサンプラ４３にセツティングすると、駆動機構（
図示せず）によりラックサンプル４３が作動、洗浄用ラ
ック４２がサンプリング位置４４まで到達する。ここで
、フォトカブラ４５によって洗浄用ラック４２であるこ
とが検知され、コンピュータ制御部４８にその情報が伝
達されると、次の１般試料用ラツクの輸送は１旦ストッ
プする（洗浄ロック）。サンプリング機構５１によりサ
ンプリング位置４４にあるラックから洗浄液をピペッタ
５６で必要量分取し、次に希釈チェノ７２にサンプリン
グノズル５２が回転し、希釈容器７４内に希釈液６３と
ともに吐出する。

希釈液６３の吸引、吐出は、デイスペンサ５７により行
う。洗浄液の分取が終了したラックは、ラックレシーバ
４６に収納される。希釈された洗浄液が入った希釈容器
７４は、エンドレスに配置された希釈チェノ７２で一定
時間毎に順次反時計方向に回転し、吸引ノズル５３の位
置７５まで移動した後、ジッパシリンジ５８が作動し、
電極セット部６０に希釈された洗浄液が吸引される。電
極セット部６０には血清電解質（ナトリウム、カリウム
、クロール）分析用の３種のイオン選択電極。

比較電極、接地電極がある。吸引された洗浄液は、イオ
ン選択電極部５９内で数秒保持された後、ジッパシリン
ジ５８で廃液三方管７１まで吐出され、ドレインへ排出
される。吸引の終了した希釈容器７５を希釈容器洗浄部
７６の位置に移動させ、吸引ノズル５４にて残試料を吸
引する。吸引は真空ポンプ６９にて負圧にした真空タン
ク６８で電磁弁７０を一定時間開くことにより行い、廃
液容器６６に溜めた廃液を三方管６７より装置外に排出
する。

次に、シリンジ６２と逆止弁６１にて、内部標準液６４
をノズル７８より希釈容器に注入する。

一般試料の場合は、希釈容器の洗浄としてこの時吸引さ
れた内部標準液は排出されるが、洗浄液が吸引された場
合は、排出せずに約１チエン分（希釈容器２４個分）内
部標準液を注入し、吸引ノズル５３の位置まで移動させ
、前述と同動作で電極部５９に吸引、排出する。最終（
２４回目）の内部標準液吸引の際に、同時に比較電極液
６５も比較電極内に吸引し、内部標準液の電圧を測定す
る。

この検出値は、アンプ基板４７を通りＡＤ変換器４８で
ディジタル量に変換されてマイクロコンピュータ４９に
送られる。この内部標準液の測定結果が一定範囲（第１
表参照）を越えた場合は、そのアラーム内容をＣＲＴ画
面７３上に表示する。

これにより、較正用ラックに較正溶液（Ｌｏｗ液。

Ｈｉ　ｇ　ｈ液）の入ったカップを置き、ラックサンプ
ラ４３にセツティングし、洗浄ロックを解除した後、駆
動機構により、ラックサンプラ４３が作動し、較正を実
施する。較正結果は、プリンタ５０で印字出力する。ま
た、第１図の実施例と同様に、電極準備（ＥＬ、ＰＲＦ
Ｐ）のアラームや、電極情報の表示も行う。

この実施例によれば、洗浄キーを特別に設けることなく
、また装置を停止させることなくラック検知により、一
連の洗浄操作を自動で行えるという効果がある６また、
洗浄液のラックを試料測定中に流しても洗浄ロックがか
かり、一般試料用ラツクは輸送されないため、試料によ
るデータへの影響を考慮する必要がないという効果があ
る。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明によれば、一連の洗浄操作を
全自動で行うことができるので時間と労力を大幅に削減
できるうえ、測定時間の長期化と試薬の無駄使いを防止
し、しかも電極へ悪影響を与えることなく測定流路を洗
浄することができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例を示す構成図、第２図は電極
スロープの日差変動の表示例を示す図、第３図は本発明
の他の実施例を示す２の洗浄動作シーケンス図、第４図
は本発明のさらに他の実施例を示す構成図である。１・・・サンプルディスク、２，４１・・・洗浄成人カ
ップ、３・・・較正成人カップ、４・・・操作パネル、
５・・・洗浄キー、６・・・洗浄キー、７・・・サンプ
リングノズル、８・・・希釈槽、９，１７，２３，６２
・・・シリンジ、１０，１２，１６，１９，２２，２６
，２７゜３１．３８，５５．７０・・・電磁弁、１１，
１８゜２１．６］・・・逆止弁、１３，６３・・・希釈
液ボトル、１４・・・吸上げノズル、１５・・・電極測
定部、２４゜６４・・・内部標準液ボトル、２５・・・
廃液ノズル、２８．６６・・・廃液容器、２９．６８・
・・真空タンク、３０．６９・・真空ポンプ、３２．４
７・・・アンプ基板、３３．４８・・・ＡＤ変換器、３
４．４９・・・マイクロコンピュータ、３５．７３・・
・ＣＲＴ画面、３６．５０・・・プリンタ、３７．６５
・・・比較電極液ボトル、３９・・・比較電極、４０・
・・較正キー、４２・・洗浄用ラック、４３・・・ラッ
クサンプラ、４５・・・フォトカップラ、４６・・・ラ
ックレシーバ、５１・・サンプリング機構、５２・・・
サンプリングノズル、５３．５４・・・吸引ノズル、５
６・・ピペッタ、５７・・・デイスペンサ、５８・・・
ジッパシリンジ、５９・・・イオン選択電極部、６０・
・・電極セット部、６７゜７１・・・三方管、７２・・
・希釈チェノ、７４，７５゜７６．７７・・・希釈容器
。鍍Ｉ図第霞（ｆｃ召冑）

Claims

【特許請求の範囲】１、洗浄液および内部標準液を含む複数の試料を保持す
る試料保持部と、この試料保持部に保持された試料を選
択的に採取してイオン選択電極まで吸引し電解質を定量
分析する分析部と、定量分析により得られたデータを処
理する処理部とから構成される電解質分析装置において
、前記試料保持部に保持された試料のうち洗浄液を一定
量分取し、イオン選択電極流路内に流入した後、内部標
準液を一定量吸引し、イオン選択電極流路内を洗浄する
操作を複数回実行させるシーケンスを前記処理部に設け
たことを特徴とする電解質分析装置。２、イオン選択電極流路内の洗浄後、内部標準液の電位
変化の有無を検知し、較正による電極スロープ値の確認
を実行するシーケンスを備えたことを特徴とする請求項
１記載の電解質分析装置。３、洗浄液として１Ｎ−水酸化ナトリウム溶液を用いる
ことを特徴とする請求項１または２記載の電解質分析装
置。